WO2006038609A1 - 電子部品ピックアップ方法および電子部品搭載方法ならびに電子部品搭載装置 - Google Patents

電子部品ピックアップ方法および電子部品搭載方法ならびに電子部品搭載装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2006038609A1
WO2006038609A1 PCT/JP2005/018332 JP2005018332W WO2006038609A1 WO 2006038609 A1 WO2006038609 A1 WO 2006038609A1 JP 2005018332 W JP2005018332 W JP 2005018332W WO 2006038609 A1 WO2006038609 A1 WO 2006038609A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
electronic component
light irradiation
holding tool
light
chip
Prior art date
Application number
PCT/JP2005/018332
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Mitsuru Ozono
Hiroshi Haji
Teruaki Kasai
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. filed Critical Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
Priority to US11/576,386 priority Critical patent/US20090202333A1/en
Publication of WO2006038609A1 publication Critical patent/WO2006038609A1/ja

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67144Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67132Apparatus for placing on an insulating substrate, e.g. tape

Definitions

  • the present invention relates to an electronic component pick-up method, an electronic component mounting method, and an electronic component mounting apparatus for picking up an electronic component bonded and held on a carrier.
  • a die bonding apparatus that mounts individual semiconductor chips cut out from a semiconductor wafer to a substrate such as a lead frame is a semiconductor chip held in an adhesive state on a sheet used as a carrier. It is equipped with a pickup device that can be removed from the machine.
  • a pickup device that can be removed from the machine.
  • this pickup device as a method for peeling the bonded semiconductor chip from the sheet, a method using ultraviolet irradiation has been put into practical use in place of the conventionally used push-up method using an ejector pin (for example, Patent Documents). 1).
  • an adhesive having a property of reducing the adhesive strength by ultraviolet irradiation is used as an adhesive for adhering the semiconductor chip to the sheet, and the semiconductor is applied to the sheet by irradiating the semiconductor chip with ultraviolet rays.
  • the adhesive force for holding the chip is reduced, and the semiconductor chip can be easily picked up by the suction collet.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-288318
  • the present invention provides an electronic component pickup method and an electronic component mounting method capable of stably and highly efficiently picking up an electronic component adhered and held on a carrier. It is an object to provide a method and an electronic component mounting apparatus.
  • the electronic component pick-up method of the present invention is an electronic component pick-up method for picking up an electronic component that is adhered and held on the upper surface of a light-transmitting carrier by an adhesive substance that generates gas when irradiated with light.
  • the holding tool is brought into contact with the upper surface of the electronic component in a state where the gas generated from the adhesive substance by the irradiation process exists between the upper surface of the carrier and the back surface of the electronic component, and then the holding tool is raised. And a holding tool raising / lowering step of picking up the electronic component.
  • the electronic component mounting method of the present invention is an electronic component mounting method for picking up an electronic component that is adhered and held on the upper surface of a light-transmitting carrier by an adhesive material that generates gas when irradiated with light.
  • the holding tool is brought into contact with the upper surface of the electronic component in a state where the gas generated by the adhesive substance force by the light irradiation process exists between the upper surface of the carrier and the back surface of the electronic component, and then the holding tool.
  • An electronic component mounting apparatus includes a component supply stage that supports a light-transmitting carrier in which a plurality of electronic components are bonded and held on an upper surface by an adhesive material that generates gas when irradiated with light.
  • a light irradiation unit for generating the adhesive substance force gas by irradiating the adhesive substance located on the back side of the electronic component to be picked up with the lower surface side force light of the carrier, the component supply stage, and the Move relative to the light irradiation unit A relative movement mechanism for aligning the light irradiation range of the light irradiation unit with the lower surface of the electronic component to be picked up, a substrate holding stage for holding the substrate on which the electronic component is mounted, and an electron on the carrier Holding tool to pick up and hold parts
  • a component mounting mechanism for mounting the electronic component on the substrate by reciprocating the holding tool between the component supply stage and the substrate holding stage, and an electronic device for recognizing the position of the electronic component held by the holding tool.
  • a component recognition unit ; and a control unit that controls operations of the light irradiation unit, the relative movement mechanism, the component mounting mechanism, and the electronic component recognition unit.
  • the relative irradiation mechanism performs the alignment process for positioning the light irradiation unit, and the adhesive material force gas is generated by irradiating the adhesive material on the back surface of the electronic component with the bottom surface light of the carrier.
  • the light irradiation step is performed on the light irradiation unit, and the gas generated from the adhesive substance in the light irradiation step exists between the upper surface of the carrier and the back surface of the electronic component.
  • the holding tool is brought into contact with the upper surface of the electronic component, and then the holding tool is lifted to pick up the electronic component.
  • An electronic component recognition process for recognizing the position of the electronic component is performed by the electronic component recognition unit, and the electronic component held on the holding tool is aligned with the substrate reflecting the recognition result in the electronic component recognition step.
  • a mounting operation processing unit that causes the component mounting mechanism to perform an electronic component mounting step of mounting the aligned electronic component on the substrate.
  • the adhesive substance force generated by irradiating the adhesive substance located on the back side of the electronic component to be picked up with the lower surface side force light of the carrier is generated.
  • the electronic component can be easily peeled off by holding the holding tool in contact with the upper surface of the electronic component in the state of being between the back surface of the component and picking up the electronic component.
  • the pick-up work can be performed stably and with high productivity.
  • FIG. 1 is a side view of an electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a control system of the electronic component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is an operation flowchart of the electronic component mounting method according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is an explanatory diagram of operation timing in the electronic component pickup device of one embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is an operation explanatory diagram of an electronic component pickup method according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is an operation explanatory diagram of an electronic component pickup method according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is an operation explanatory diagram of an electronic component pickup method according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is an operation explanatory diagram of an electronic component pickup method according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 is an operation explanatory diagram of an electronic component pickup method according to an embodiment of the present invention.
  • the component supply stage 2 is on the base 1. Is arranged.
  • the component supply stage 2 includes a jig holder 3, and the jig holder 3 detachably holds the jig 4 on which the sheet 5 is mounted.
  • a semiconductor chip 6 (hereinafter simply referred to as “chip 6”), which is an electronic component, is bonded and held in a state of being separated into individual pieces.
  • the sheet 5 used as a carrier of the chip 6 is formed by shaping a light-transmitting material such as transparent resin into a sheet shape, and an adhesive (adhesive substance) having the following properties is formed on the upper surface of the sheet 5.
  • an adhesive adheresive substance
  • the pressure-sensitive adhesive is a compound that generates gas when irradiated with light (for example, a compound that decomposes when irradiated with ultraviolet rays such as an azide group and generates nitrogen gas) (see JP 2001-200234 A). ) -Containing adhesive is used.
  • the sheet 5 is a light-transmitting carrier in which a plurality of chips 6 are bonded and held on the upper surface by an adhesive substance that generates gas when irradiated with light.
  • the sheet 5 mounted on the jig 4 is supported by the jig holder 3.
  • the sheet 5 having such an adhesive layer 5a as a carrier for holding the chip 6 by the adhesive layer 5a the chip 6 when picking up the chip 6 from the sheet 5 as described later is used. Peeling can be facilitated.
  • a light irradiation unit 8 is disposed so as to be horizontally movable by a light irradiation unit moving mechanism 7 including an X-axis table 7X and a Y-axis table 7Y.
  • the light irradiation unit 8 includes a cylindrical light guide unit 8a that contacts the lower surface of the sheet 5, and a UV light source unit 8b (see FIG. 6) built under the light guide unit 8a. The ultraviolet rays projected upward are applied to the lower surface of the sheet 5 through the inside of the light guide portion 8a.
  • a contact plate 9 having a structure in which the periphery of a light transmitting body 9a provided at the center is surrounded by a light blocking body 9b is mounted on the upper surface of the light guide section 8a.
  • the ultraviolet rays projected from the UV light source unit 8b pass through the light transmitting body 9a and are irradiated on the lower surface of the sheet 5.
  • the light projecting body 9a is sized so that the irradiation range of ultraviolet rays is limited to only one chip 6.
  • the light irradiation unit 8 is moved horizontally by the moving mechanism 7 and the alignment operation is performed so that the translucent member 9a is located immediately below the chip 6 to be picked up.
  • the UV light source unit 8b is turned on to pick up the light. Irradiate the lower surface of the sheet 5 just below the chip 6 with ultraviolet rays.
  • the ultraviolet rays pass through the sheet 5 and are applied to the adhesive layer 5a, and nitrogen gas is generated from the adhesive layer 5a.
  • the generated nitrogen gas stays at the bonding interface between the chip 6 and the adhesive layer 5a to form a gas layer, so that the holding force for the adhesive layer 5a to adhere and hold the chip 6 is greatly reduced, and the chip 6 Peeling from the sheet 5 becomes easy.
  • the light irradiation unit 8 irradiates the adhesive layer 5a located on the back surface of the chip 6 to be picked up with ultraviolet rays from the lower surface side of the sheet 5 to thereby generate nitrogen gas from the adhesive layer 5a. It has a function to generate.
  • the light irradiation unit moving mechanism 7 moves the component supply stage 2 and the light irradiation unit 8 relative to each other, thereby aligning the light irradiation range of the light irradiation unit 8 with the lower surface of the chip 6 to be picked up. It is a moving mechanism.
  • the chip 6 can be more stably peeled from the sheet 5 described later.
  • the substrate holding stage 10 has a structure in which a substrate holding table 11 is placed on a base portion 10a, and the substrate holding table 11 holds a substrate 12 on which a chip 6 is mounted. Loading / unloading of the substrate 12 to / from the substrate holding table 11 is performed by the substrate transfer mechanism 21 (see FIG. 2).
  • a horizontal upper frame 15 is installed on support posts la that are erected on both ends of the upper surface of the base 1.
  • a first camera 17 is mounted on the upper frame 15 with a first camera moving mechanism. 16 is arranged so as to be horizontally movable. By moving the first camera 17 by the first camera moving mechanism 16, the first camera 17 is positioned above an arbitrary chip 6 held on the sheet 5 and images the chip 6.
  • the imaging result is recognized by the first component recognition unit 23b (see FIG. 2) of the control unit 23, whereby the position of an arbitrary chip 6 is recognized.
  • a component holding head 19 is disposed on the upper frame 15 so as to be horizontally movable by a component holding head moving mechanism 18.
  • the holding tool 20 is attached to the lower part of the component holding head 19 By moving the component holding head 19 onto the component supply stage 2 and aligning the holding tool 20 with the chip 6 to be picked up and lowering, the holding tool 20 comes into contact with the upper surface of the chip 6, and this The chip 6 is held by vacuum suction.
  • the component holding head 19 holding the chip 6 is moved above the board holding stage 10, and the holding rail 20 is moved up and down with respect to the board 12 held on the board holding table 11. Accordingly, the chip 6 held by the holding tool 20 is mounted on the substrate 12.
  • the component holding head moving mechanism 18 and the component holding head 19 include a holding tool 20 that picks up and holds the chip 6 on the sheet 5, and reciprocates between the component supply stage 2 and the substrate holding stage 10. It is a component mounting mechanism that mounts chip 6 on board 12.
  • a second camera 13 is disposed below the movement path in which the component holding head 19 moves from the component supply stage 2 to the substrate holding stage 10, and the second camera 13 is held by the holding tool 20.
  • the chip 6 is imaged with a downward force.
  • the imaging result is recognized by the second component recognition unit 23c, whereby the position of the chip 6 in the state held by the holding tool 20 is recognized.
  • the position recognition of the chip 6 with respect to the board 12 is performed by reflecting the position recognition result.
  • the control unit 23 is provided as an internal function operation processing unit 23a, first component recognition unit 23b, second component recognition unit 23c, and storage unit 23d. From the component holding head 19 and the component holding head moving mechanism 18 The operation and processing of the component mounting mechanism, the light irradiation unit 8, the light irradiation unit moving mechanism 7 which is a relative movement mechanism, and the substrate transfer mechanism 21 are controlled.
  • the operation 'input unit 22 is an input means such as a keyboard and inputs various data such as operation commands and time parameters Tl and T2.
  • the mounting operation processing unit 23a controls each part of the component holding head 19, the component holding head moving mechanism 18, the light irradiation unit 8, the light irradiation unit moving mechanism 7, and the substrate transport mechanism 21 to The electronic component mounting operation described below is executed.
  • the first component recognition unit 23b recognizes the position of the chip 6 held on the sheet 5 in the component supply stage 2 by recognizing the imaging result of the first camera 17.
  • the second component recognition unit 23c is connected to the second camera 13. By recognizing the imaging result, the position of the chip 6 held by the component holding head 19 is recognized.
  • the second camera 13 and the second component recognition unit 23c are electronic component recognition units that recognize the position of the chip 6 held by the holding tool 20.
  • the control unit 23 is configured to control the operations of the light irradiation unit 8, the relative movement mechanism, the component mounting mechanism, and the electronic component recognition unit.
  • the storage unit 23d stores time parameters Tl and T2.
  • the time parameters Tl and T2 are set in order to realize an operation condition that can surely obtain the effect of easily removing the chip 6 in the electronic component mounting operation described later.
  • the time parameter T1 indicates the time from the lighting timing ta of the UV light source section 8b to the lighting timing tb.
  • the time required to generate a sufficient amount of nitrogen gas from the adhesive layer 5a by UV irradiation is set as the time parameter T1.
  • the time parameter T2 indicates the time from the lighting timing ta of the UV light source section 8b to the holding tool lowering process start timing tc. That is, the time parameter T2 is set in anticipation that the timing force for picking up the chip 6 on the sheet 5 with the holding tool 20 is formed after the gas layer is sufficiently formed by the generated nitrogen gas.
  • the time parameter T2 By appropriately setting the time parameter T2, the chip 6 can be picked up by the holding tool 20 after a sufficiently large gas layer is formed on the bonding interface between the back surface of the chip 6 and the adhesive layer 5a.
  • the holding tool 20 contacts the chip 6 after a predetermined operation time required for the holding tool 20 to descend.
  • the electronic component mounting operation will be described along the flow of FIG. 3 with reference to each drawing.
  • the chip 6 adhered and held on the upper surface of the light-transmitting sheet 5 by the adhesive layer 5a that generates nitrogen gas when irradiated with ultraviolet rays is held by the holding tool 20 from the sheet 5.
  • a first electronic component recognition step is executed (ST1). That is, in Figure 5 As shown, the first camera 17 is positioned above the chip 6 to be picked up, the chip 6 is imaged, and the imaging result is recognized by the first component recognition unit 23b, thereby recognizing the position of the chip 6. To do. In this state, the light irradiator 8 is not correctly aligned with the chip 6 to be picked up, and the translucent member 9a is in a position shifted with respect to the center of the chip 6.
  • the alignment process is executed (ST2). That is, based on the recognition result in the first electronic component recognition step, the above-described positional deviation is corrected and the light irradiation unit 8 is correctly aligned below the chip 6 to be picked up.
  • the translucent member 9a is positioned immediately below the chip 6, and the light irradiation step is executed in this state (ST3). That is, as shown in FIG. 6, the UV light source portion 8b is turned on and the adhesive layer 5a positioned on the back surface of the chip 6 to be picked up is irradiated with ultraviolet rays from the lower surface side of the sheet 5, thereby causing the adhesive layer 5a. To generate nitrogen gas.
  • This light irradiation is continuously executed for a predetermined time T1 set in advance as a time parameter T1, and during this time, the first camera 17 is retracted from above the chip 6 to be picked up and the component holding head 19 is moved. Place it above this chip 6.
  • the time T2 is then monitored by a timer (ST4), and the predetermined time T2 is timed up, and a sufficient amount of nitrogen gas generated from the adhesive layer 5a is present at the adhesive interface between the chip 6 and the adhesive layer 5a.
  • the holding tool lowering step is executed (ST5). That is, as shown in FIG. 8, the holding tool 20 is lowered and brought into contact with the upper surface of the chip 6, and the chip 6 is held by vacuum suction.
  • a holding tool raising step is executed (ST6), and as shown in FIG. 9, the holding tool 20 is raised together with the chip 6, and the chip 6 is peeled from the sheet 5 and picked up.
  • the nitrogen gas generated from the adhesive layer 5a by the light irradiation process exists in the interface between the upper surface of the sheet 5 and the rear surface of the chip 6.
  • the holding tool 20 is brought into contact with the upper surface of the chip 6, and then the holding tool 20 is moved up to pick up the chip 6.
  • the holding tool lowering step the holding tool 20 is lowered after a predetermined time T2 has elapsed as described above. .
  • the holding tool ascending process can be performed at high speed, and the pickup operation as a whole can be performed at high speed.
  • the second electronic component recognition process is executed (ST7).
  • the component holding head 19 is moved above the second camera 13, the chip 6 held by the holding tool 20 is imaged by the second camera 13, and the imaging result is recognized and processed.
  • the position of the chip 6 held by the component holding head 19 is recognized.
  • nitrogen gas is generated before the holding tool 20 contacts the chip 6, it is considered that the chip 6 moves to cause a positional shift. Therefore, when the chip 6 is mounted on the substrate 12, it is necessary to recognize the position of the chip 6 held by the holding tool 20.
  • the component holding head 19 moves to the substrate holding stage 10 and executes an electronic component positioning step (ST8). That is, the component holding head moving mechanism 18 is controlled by reflecting the recognition result in the electronic component recognition process, and the chip 6 held by the holding tool 20 and the substrate 12 are aligned. Next, an electronic component mounting process is executed (ST9), and the aligned chip 6 is mounted on the substrate 12.
  • control unit 23 is a mounting operation processing unit 23a that controls each of the component holding head 19, the component holding head moving mechanism 18, the light irradiation unit 8, the light irradiation unit moving mechanism 7, and the substrate transport mechanism 21.
  • the mounting operation processing unit 23a controls each unit to perform the following operation process so that the electronic component mounting apparatus executes the above-described series of electronic component mounting operations. It is composed.
  • the light irradiation unit moving mechanism 7 performs an alignment process for positioning the light irradiation unit 8 below the chip 6 to be picked up, and the lower surface force of the sheet 5 against the adhesive layer 5a on the back surface of the chip 6 UV .
  • the light irradiating unit 8 is caused to perform a light irradiation process for generating nitrogen gas from the adhesive layer 5a. Then, in a state where the nitrogen gas generated from the adhesive layer 5a in the light irradiation process exists at the interface between the upper surface of the sheet 5 and the back surface of the chip 6, the holding tool 20 is brought into contact with the upper surface of the chip 6, and then the holding tool 20 is moved.
  • the component mounting mechanism composed of the component holding head moving mechanism 18 and the component holding head 19 performs the lifting / lowering process of the holding tool that lifts and picks up the chip 6.
  • an electronic component recognition step of recognizing the position of the chip 6 picked up and held by the holding tool 20 is performed by an electronic component recognition unit including the second camera 13 and the second component recognition unit 23c. Reflecting the recognition result in the electronic component recognition process, the electronic component alignment process for aligning the chip 6 held by the holding tool 20 and the substrate 12 and the electronic component for mounting the aligned chip 6 on the substrate 12 The mounting process is performed by the aforementioned component mounting mechanism.
  • the electronic component pickup device shown in the present embodiment by using an adhesive that generates nitrogen gas when irradiated with ultraviolet rays, nitrogen gas is generated at the interface between the semiconductor chip and the sheet.
  • the semiconductor chip can be taken out with the gas layer interposed, and the semiconductor chip can be easily removed from the sheet and the force can be peeled off in a short time. This realizes high-speed pick-up operation of the semiconductor chip without increasing the frequency of occurrence of defects such as cracks and chipping of the semiconductor chip, and stabilizes the pick-up work of the semiconductor chip adhered and held on the sheet. And can be performed with high productivity.
  • the electronic component pickup device, the electronic component pickup method, and the electronic component mounting device according to the present invention stably perform the pickup operation of the electronic component that is bonded and held on the carrier. If it can be carried out with high productivity, it has a good effect, and is useful for applications in which an electronic component held on an adhesive sheet is picked up and mounted on a substrate by using a die bonding apparatus.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Dicing (AREA)

Abstract

 キャリアに接着保持された電子部品のピックアップ作業を安定して高い生産性で行うことができる電子部品ピックアップ方法および電子部品搭載方法ならびに電子部品搭載装置を提供することを目的とする。  シート5に粘着層5aによって接着保持されたチップ6を保持ツール20によってピックアップする電子部品ピックアップ方法において、粘着層5aとして、紫外線を照射することにより窒素ガスを発生する化合物を含有した粘着剤を用いる。ピックアップ動作においては、ピックアップすべきチップ6の下方に光照射部8を位置させてこのチップ6の裏面側に位置する粘着層5aに対してシート5の下面側から紫外線を照射し、粘着層5aから発生した窒素ガスがチップ6の裏面と粘着層5aとの接合界面にガス層Gを形成した状態で、保持ツール20をチップ6の上面に接触させてピックアップする。

Description

明 細 書
電子部品ピックアップ方法および電子部品搭載方法ならびに電子部品搭 載装置
技術分野
[0001] 本発明は、キャリアに接着保持された電子部品をピックアップする電子部品ピックァ ップ方法および電子部品搭載方法ならびに電子部品搭載装置に関するものである。 背景技術
[0002] 半導体ウエノ、から切り出された個片の半導体チップをリードフレームなどの基板に 実装するダイボンディング装置は、キャリアとして用いられるシートに接着状態で保持 された半導体チップを、個片ごとにシートから剥がして取り出すピックアップ装置を備 えている。このピックアップ装置において、接着状態の半導体チップをシートから剥離 する方法として、従来用いられていたェジェクタピンによる突き上げ方式に替えて、紫 外線照射による方式が実用化されるようになっている(例えば特許文献 1参照)。この 方式は、半導体チップをシートに接着する接着剤として、紫外線照射によって粘着力 が低減する特性を備えた接着剤を用いるものであり、半導体チップの取り出しに際し 紫外線を照射することによって、シートに半導体チップを保持する粘着力を低減させ 、吸着コレットによる半導体チップのピックアップを容易にして 、る。
特許文献 1:特開平 8 - 288318号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0003] し力しながら、上述の特許文献例に示す方式では、紫外線照射による粘着力低減 効果にばらつきが避けられず、半導体チップのピックアップを安定して行うことが難し かった。特に薄型の半導体チップに対しては、ピックアップ動作の不具合による割れ や欠けなどのダメージの発生を有効に防止することが困難で、紫外線照射方式によ るシート剥離を安定して高い生産性で実用化することができな力つた。
[0004] そこで本発明は、キャリアに接着保持された電子部品のピックアップ作業を安定し て高い生産性で行うことができる電子部品ピックアップ方法および電子部品搭載方 法ならびに電子部品搭載装置を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段
[0005] 本発明の電子部品ピックアップ方法は、光を照射することにより気体を発生する接 着性物質によって光透過性のキャリアの上面に接着保持された電子部品をキャリア 力 ピックアップする電子部品ピックアップ方法であって、ピックアップすべき電子部 品の裏面側に位置する接着性物質に対して前記キャリアの下面側力 光を照射する ことによりこの接着性物質から気体を発生させる光照射工程と、前記光照射工程によ つて前記接着性物質から発生した気体が前記キャリアの上面と前記電子部品の裏面 との間に存在する状態で保持ツールをこの電子部品の上面に接触させ、その後前記 保持ツールを上昇させて前記電子部品をピックアップする保持ツール昇降工程とを 含む。
[0006] 本発明の電子部品搭載方法は、光を照射することにより気体を発生する接着性物 質によって光透過性のキャリアの上面に接着保持された電子部品をキャリア力 ピッ クアップする電子部品の搭載方法であって、ピックアップすべき電子部品の裏面側に 位置する接着性物質に対して前記キャリアの下面側力 光を照射することによりこの 接着性物質から気体を発生させる光照射工程と、前記光照射工程によって前記接 着性物質力 発生した気体が前記キャリアの上面と前記電子部品の裏面との間に存 在する状態で保持ツールをこの電子部品の上面に接触させ、その後前記保持ツー ルを上昇させて前記電子部品をピックアップする保持ツール昇降工程と、前記保持 ツールによってピックアップされて保持された電子部品の位置を認識する電子部品 認識工程と、前記電子部品認識工程での認識結果を反映させて前記保持ツールに 保持された電子部品と基板との位置合わせ行う電子部品位置合わせ工程と、位置合 わせされた電子部品を前記基板に搭載する電子部品搭載工程とを含む。
[0007] 本発明の電子部品搭載装置は、光を照射することにより気体を発生する接着性物 質によって上面に複数の電子部品を接着保持した光透過性のキャリアを支持する部 品供給ステージと、ピックアップすべき電子部品の裏面側に位置する接着性物質に 対して前記キャリアの下面側力 光を照射することによりこの接着性物質力 気体を 発生させる光照射部と、前記部品供給ステージと前記光照射部とを相対的に移動さ せることにより前記光照射部の光の照射範囲をピックアップすべき電子部品の下面に 位置合わせする相対移動機構と、前記電子部品が搭載される基板を保持する基板 保持ステージと、前記キャリア上の電子部品をピックアップして保持する保持ツールと
、前記保持ツールを前記部品供給ステージと前記基板保持ステージとの間を往復移 動させて電子部品を基板に搭載する部品搭載機構と、前記保持ツールに保持され た電子部品の位置を認識する電子部品認識部と、前記光照射部、前記相対移動機 構、前記部品搭載機構および前記電子部品認識部の動作を制御する制御部とを備 え、この制御部は、ピックアップすべき電子部品の下方に前記光照射部を位置させる ァライメント工程を前記相対移動機構に行わせ、前記電子部品の裏面の接着性物質 に対して前記キャリアの下面力 光を照射することによりこの接着性物質力 気体を 発生させる光照射工程を前記光照射部に行わせ、前記光照射工程において接着性 物質から発生した気体が前記キャリアの上面と前記電子部品の裏面との間に存在す る状態で保持ツールをこの電子部品の上面に接触させ、その後前記保持ツールを 上昇させて電子部品をピックアップする保持ツール昇降工程を前記部品搭載機構に 行わせ、前記保持ツールにピックアップされて保持された電子部品の位置を認識す る電子部品認識工程を前記電子部品認識部に行わせ、前記電子部品認識工程に おける認識結果を反映して前記保持ツールに保持された電子部品と基板とを位置合 わせする電子部品位置合わせ工程および位置合わせされた電子部品を基板に搭載 する電子部品搭載工程を前記部品搭載機構に行わせる搭載動作処理部を含む。 発明の効果
[0008] 本発明によれば、ピックアップすべき電子部品の裏面側に位置する接着性物質に 対してキャリアの下面側力 光を照射することによって接着性物質力 発生した気体 力 キャリアの上面と電子部品の裏面との間に存在する状態で保持ツールを電子部 品の上面に接触させてピックアップすることにより、電子部品をキャリア力 容易に剥 離させることができ、キャリアに接着保持された電子部品のピックアップ作業を安定し て高 、生産性で行うことができる。
図面の簡単な説明
[0009] [図 1]本発明の一実施の形態の電子部品搭載装置の側面図 [図 2]本発明の一実施の形態の電子部品搭載装置の制御系の構成を示すブロック 図
[図 3]本発明の一実施の形態の電子部品搭載方法の動作フロー図
[図 4]本発明の一実施の形態の電子部品ピックアップ装置における動作タイミングの 説明図
[図 5]本発明の一実施の形態の電子部品ピックアップ方法の動作説明図
[図 6]本発明の一実施の形態の電子部品ピックアップ方法の動作説明図
[図 7]本発明の一実施の形態の電子部品ピックアップ方法の動作説明図
[図 8]本発明の一実施の形態の電子部品ピックアップ方法の動作説明図
[図 9]本発明の一実施の形態の電子部品ピックアップ方法の動作説明図 符号の説明
[0010] 2 部品供給ステージ
5 シート
5a 粘着層
6 チップ
7 光照射部移動機構
8 光照射部
10 基板保持ステージ
12 基板
13 第 2のカメラ
16 第 1のカメラ移動機構
17 第 1のカメラ
18 部品保持ヘッド移動機構
19 部品保持ヘッド
20 保持ツール
発明を実施するための最良の形態
[0011] 次に本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。まず図 1を参照して、電子 部品搭載装置の構造を説明する。図 1において、基台 1上には部品供給ステージ 2 が配設されている。部品供給ステージ 2は治具ホルダ 3を備えており、治具ホルダ 3は 、シート 5が装着された治具 4を着脱自在に保持する。シート 5には、電子部品である 半導体チップ 6 (以下、単に「チップ 6」と略記。)が個片に分離された状態で接着保 持されている。
[0012] チップ 6のキャリアとして用いられるシート 5は、透明榭脂など光透過性材質をシート 状に整形したものであり、シート 5の上面には、以下の性質を有する粘着剤 (接着性 物質)を薄膜状にした粘着層 5aが形成されている。粘着剤としては、光を照射するこ とにより気体を発生する性質を有する化合物 (例えばアジド基など紫外線照射により 分解して窒素ガスを発生する性質を有するもの(特開 2001— 200234号公報参照) )を含有した組成の粘着剤が用いられる。
[0013] すなわちシート 5は、光を照射することにより気体を発生する接着性物質によって上 面に複数のチップ 6を接着保持した光透過性のキャリアとなっており、部品供給ステ ージ 2は、治具 4に装着されたシート 5を治具ホルダ 3によって支持する。このようにチ ップ 6を粘着層 5aによって保持するキャリアとしてこのような粘着層 5aを有するシート 5を用いることにより、後述するように、チップ 6をシート 5からピックアップする際のチッ プ 6の剥離を容易にすることができる。
[0014] 治具ホルダ 3に保持されたシート 5の下方には、光照射部 8が X軸テーブル 7X、 Y 軸テーブル 7Yよりなる光照射部移動機構 7によって水平移動自在に配設されている 。光照射部 8は、シート 5の下面に当接する筒状の導光部 8aおよび導光部 8aの下方 に内蔵された UV光源部 8b (図 6参照)を備えており、 UV光源部 8bから上方に投射 された紫外線を導光部 8aの内部を介してシート 5の下面に照射する。
[0015] 図 6に示すように、導光部 8aの上面には中央部に設けられた透光体 9aの周囲を遮 光体 9bによって囲んだ構造の当接板 9が装着されている。 UV光源部 8bから投射さ れた紫外線は、透光体 9aを透過してシート 5の下面に照射される。ここで投光体 9a は紫外線の照射範囲が 1つのチップ 6のみに限定されるような大きさとなっており、光 照射部 8をピックアップ対象のチップ 6に位置合わせすることにより、このチップ 6の裏 側に位置する粘着層 5aのみに紫外線が照射される。
[0016] チップ 6を部品供給ステージ 2から取り出すピックアップ動作にぉ 、ては、光照射部 移動機構 7によって光照射部 8を水平移動させて透光体 9aがピックアップ対象となる チップ 6の直下に位置するようにァライメント動作を行い、この状態で UV光源部 8bを 点灯して、ピックアップ対象のチップ 6の直下に位置するシート 5の下面に対して紫外 線を照射する。これにより、紫外線はシート 5を透過して粘着層 5aに照射され、粘着 層 5aから窒素ガスが発生する。そして発生した窒素ガスがチップ 6と粘着層 5aとの接 着界面に滞留してガス層を形成することにより、粘着層 5aがチップ 6を接着保持する 保持力が大幅に低下し、チップ 6のシート 5からの剥離が容易となる。
[0017] すなわち上記構成において、光照射部 8は、ピックアップすべきチップ 6の裏面に 位置する粘着層 5aに対してシート 5の下面側から紫外線を照射することにより、粘着 層 5aから窒素ガスを発生させる機能を有している。光照射部移動機構 7は、部品供 給ステージ 2と光照射部 8とを相対的に移動させることにより、光照射部 8の光の照射 範囲をピックアップすべきチップ 6の下面に位置合わせする相対移動機構となってい る。なお光照射部 8にシート 5を下面側から吸着保持する吸着機構を設けることにより 、後述するシート 5からのチップ 6の剥離をより安定して行うことができる。
[0018] 基台 1上には、部品供給ステージ 2に隣接して第 2のカメラ 13および基板保持ステ ージ 10が配設されている。基板保持ステージ 10はベース部 10aに基板保持テープ ル 11を載置した構成となっており、基板保持テーブル 11はチップ 6が搭載される基 板 12を保持する。基板保持テーブル 11を対象とした基板 12の搬入'搬出は、基板 搬送機構 21 (図 2参照)によって行われる。
[0019] 基台 1上面の両端部に立設された支持ポスト laには、水平な上部フレーム 15が架 設されており、上部フレーム 15には第 1のカメラ 17が第 1のカメラ移動機構 16によつ て水平移動自在に配設されている。第 1のカメラ移動機構 16によって第 1のカメラ 17 を移動させることにより、第 1のカメラ 17はシート 5に保持された任意のチップ 6の上方 に位置し、このチップ 6を撮像する。そしてこの撮像結果を制御部 23の第 1の部品認 識部 23b (図 2参照)によって認識処理することにより、任意のチップ 6の位置が認識 される。
[0020] 上部フレーム 15には部品保持ヘッド 19が部品保持ヘッド移動機構 18によって水 平移動自在に配設されている。部品保持ヘッド 19の下部には保持ツール 20が装着 されており、部品保持ヘッド 19を部品供給ステージ 2上に移動させて保持ツール 20 をピックアップ対象のチップ 6に位置合わせさせて下降させることにより、保持ツール 20はチップ 6の上面に接触し、このチップ 6を真空吸着により保持する。
[0021] このピックアップ動作によりチップ 6を保持した部品保持ヘッド 19を基板保持ステー ジ 10の上方に移動させ、基板保持テーブル 11に保持された基板 12に対して保持ッ ール 20を昇降させることにより、保持ツール 20に保持されたチップ 6は基板 12に搭 載される。部品保持ヘッド移動機構 18および部品保持ヘッド 19は、シート 5上のチッ プ 6をピックアップして保持する保持ツール 20を備え、部品供給ステージ 2と基板保 持ステージ 10との間を往復移動してチップ 6を基板 12に搭載する部品搭載機構とな つている。
[0022] 部品保持ヘッド 19が部品供給ステージ 2から基板保持ステージ 10へ移動する移動 経路の下方には第 2のカメラ 13が配設されており、第 2のカメラ 13は保持ツール 20 に保持されたチップ 6を下方力ゝら撮像する。そしてこの撮像結果を第 2の部品認識部 23cによって認識処理することにより、保持ツール 20に保持された状態におけるチッ プ 6の位置が認識される。部品保持ヘッド 19によってチップ 6を基板 12に搭載する際 には、この位置認識結果を反映して、チップ 6の基板 12に対する位置合わせが行わ れる。
[0023] 次に図 2を参照して、制御系の構成を説明する。制御部 23は、内部機能として搭載 動作処理部 23a、第 1の部品認識部 23b、第 2の部品認識部 23c、記憶部 23dを備 えており、部品保持ヘッド 19、部品保持ヘッド移動機構 18より成る部品搭載機構、 光照射部 8、相対移動機構である光照射部移動機構 7、基板搬送機構 21の動作や 処理を制御する。操作'入力部 22はキーボードなどの入力手段であり、操作指令や 時間パラメータ Tl, T2などの各種データを入力する。
[0024] ここで、搭載動作処理部 23aが、部品保持ヘッド 19、部品保持ヘッド移動機構 18、 光照射部 8、光照射部移動機構 7、基板搬送機構 21の各部を制御することにより、後 述する電子部品搭載動作が実行される。第 1の部品認識部 23bは、第 1のカメラ 17 による撮像結果を認識処理することにより、部品供給ステージ 2においてシート 5に保 持されたチップ 6の位置を認識する。また第 2の部品認識部 23cは、第 2のカメラ 13に よる撮像結果を認識処理することにより、部品保持ヘッド 19によって保持された状態 のチップ 6の位置を認識する。第 2のカメラ 13および第 2の部品認識部 23cは、保持 ツール 20に保持されたチップ 6の位置を認識する電子部品認識部となって 、る。こ のように制御部 23は、光照射部 8、相対移動機構、部品搭載機構および電子部品認 識部の動作を制御する構成となって 、る。
[0025] 記憶部 23dには、時間パラメータ Tl, T2が記憶されている。時間パラメータ Tl, T 2は、後述する電子部品搭載動作において、チップ 6の剥離を容易にする効果が確 実に得られるような動作条件を実現するために設定される。図 4に示すように、時間 パラメータ T1は、 UV光源部 8bの点灯タイミング taから消灯タイミング tbまでの時間 を示している。すなわち UV照射によって粘着層 5aから十分な量の窒素ガスの発生 が見込まれる必要な時間を時間パラメータ T1として設定する。時間パラメータ T1を 適正に設定することにより、 UV光源部 8bが点灯状態にある動作時間の無駄を排除 することができる。
[0026] また時間パラメータ T2は、 UV光源部 8bの点灯タイミング taから保持ツール下降ェ 程開始タイミング tcまでの時間を示している。すなわち、保持ツール 20でシート 5上 のチップ 6をピックアップするタイミング力 発生した窒素ガスによるガス層が十分に形 成された後となることを見込んで時間パラメータ T2を設定する。時間パラメータ T2を 適正に設定することにより、十分な大きさのガス層をチップ 6の裏面と粘着層 5aの接 着界面に形成した後で保持ツール 20によるチップ 6のピックアップを行うことができる 。これにより、保持ツール 20によってチップ 6を保持してシート 5から剥離する際の、 窒素ガスによる剥離促進効果を確実なものとすることができる。そして保持ツール下 降工程開始タイミング tc以降、保持ツール 20の下降に要する所定の動作時間の後 に、保持ツール 20はチップ 6に接触する。
[0027] 次に電子部品搭載動作について、図 3のフローに沿って各図を参照しながら説明 する。この電子部品搭載動作は、紫外線を照射することにより窒素ガスを発生する粘 着層 5aによって光透過性のシート 5の上面に接着保持されたチップ 6を、保持ツール 20によって保持してシート 5からピックアップする電子部品の搭載方法を構成する。
[0028] 図 3において、まず第 1の電子部品認識工程を実行する(ST1)。すなわち、図 5に 示すように、第 1のカメラ 17をピックアップすべきチップ 6の上方に位置させてチップ 6 を撮像し、撮像結果を第 1の部品認識部 23bによって認識処理することにより、チップ 6の位置を認識する。なおこの状態においては、光照射部 8はピックアップすべきチッ プ 6に対して正しく位置合わせされておらず、の透光体 9aはチップ 6の中心に対して 位置ずれした状態にある。
[0029] ついでァライメント工程を実行する(ST2)。すなわち、第 1の電子部品認識工程で の認識結果に基づ!、て上述の位置ずれを補正し、光照射部 8をピックアップすべき チップ 6の下方に正しく位置合わせする。これにより、図 6に示すように透光体 9aがこ のチップ 6の直下に位置し、この状態で光照射工程が実行される(ST3)。すなわち 図 6に示すように、 UV光源部 8bを点灯して、ピックアップすべきチップ 6の裏面に位 置する粘着層 5aに対してシート 5の下面側から紫外線を照射することにより、粘着層 5aから窒素ガスを発生させる。この光照射は予め時間パラメータ T1として設定された 所定の時間 T1だけ «続して実行され、この間にピックアップすべきチップ 6の上方か ら第 1のカメラ 17を退避させるとともに、部品保持ヘッド 19をこのチップ 6の上方に位 置させる。
[0030] そしてタイマによって時間 T2の経過を監視し(ST4)、所定の時間 T2がタイムアツ プして粘着層 5aから発生した窒素ガスがチップ 6と粘着層 5aとの接着界面に十分な 量で溜まり、図 7に示すようにガス層 Gが形成されたならば、保持ツール下降工程を 実行する(ST5)。すなわち図 8に示すように、保持ツール 20を下降させてチップ 6の 上面に接触させ、真空吸着によりチップ 6を保持する。次いで保持ツール上昇工程を 実行し (ST6)、図 9に示すように、保持ツール 20をチップ 6とともに上昇させて、チッ プ 6をシート 5から剥離してピックアップする。
[0031] 換言すれば上述の保持ツール下降工程および保持ツール上昇工程は、光照射ェ 程によって粘着層 5aから発生した窒素ガスがシート 5の上面とチップ 6の裏面との界 面に存在する状態で保持ツール 20をチップ 6の上面に接触させ、その後保持ツール 20を上昇させてチップ 6をピックアップする保持ツール昇降工程に相当する。そして 保持ツール下降工程においては、前述のように光照射工程における光照射開始タイ ミンダカ 所定の時間 T2が経過した後に、保持ツール 20を下降させるようにして 、る 。これにより、保持ツール上昇工程を高速で行うことが可能となり、全体としてピックァ ップ動作を高速ィ匕できる。
[0032] チップ 6をピックアップしたならば、第 2の電子部品認識工程を実行する(ST7)。す なわち部品保持ヘッド 19を第 2のカメラ 13の上方に移動させ、保持ツール 20によつ て保持されたチップ 6を第 2のカメラ 13によって撮像し、撮像結果を認識処理すること により、部品保持ヘッド 19に保持された状態のチップ 6の位置を認識する。上述の光 照射工程では、保持ツール 20がチップ 6に接触する前に窒素ガスが発生するので、 チップ 6が移動して位置ずれを起こすことが考えられる。よって、チップ 6を基板 12へ 実装するときは、保持ツール 20に保持されたチップ 6の位置を認識することが必要で ある。
[0033] この後、部品保持ヘッド 19は基板保持ステージ 10へ移動し、電子部品位置合わせ 工程を実行する(ST8)。すなわち、電子部品認識工程での認識結果を反映させて 部品保持ヘッド移動機構 18を制御し、保持ツール 20に保持されたチップ 6と基板 12 との位置合わせ行う。ついで電子部品搭載工程を実行し (ST9)、位置合わせされた チップ 6を基板 12に搭載する。
[0034] 制御部 23は前述のように、部品保持ヘッド 19、部品保持ヘッド移動機構 18、光照 射部 8、光照射部移動機構 7、基板搬送機構 21の各部を制御する搭載動作処理部 23aを機能要素として含んでおり、搭載動作処理部 23aが各部を制御して以下の動 作工程を行わせることにより、電子部品搭載装置によって上述の一連の電子部品搭 載動作が実行されるように構成されて 、る。
[0035] すなわち、ピックアップすべきチップ 6の下方に光照射部 8を位置させるァライメント 工程を光照射部移動機構 7に行わせ、チップ 6の裏面の粘着層 5aに対してシート 5 の下面力 紫外線を照射することにより、粘着層 5aから窒素ガスを発生させる光照射 工程を光照射部 8に行わせる。そして光照射工程において粘着層 5aから発生した窒 素ガスがシート 5の上面とチップ 6の裏面との界面に存在する状態で、保持ツール 20 をチップ 6の上面に接触させ、その後保持ツール 20を上昇させてチップ 6をピックアツ プする保持ツール昇降工程を、部品保持ヘッド移動機構 18、部品保持ヘッド 19より 成る部品搭載機構に行わせる。 [0036] そしてさらに保持ツール 20にピックアップされて保持されたチップ 6の位置を認識 する電子部品認識工程を、第 2のカメラ 13および第 2の部品認識部 23cよりなる電子 部品認識部に行わせ、電子部品認識工程における認識結果を反映して保持ツール 20に保持されたチップ 6と基板 12とを位置合わせする電子部品位置合わせ工程お よび位置合わせされたチップ 6を基板 12に搭載する電子部品搭載工程を、前述の部 品搭載機構に行わせる。
[0037] このような構成を採用することにより、半導体チップのピックアップに際し紫外線を照 射することによって、キャリアに半導体チップを保持する粘着力を低減させる構成の 従来の電子部品ピックアップ装置おける課題を解決することが可能となっている。す なわち従来装置においては紫外線照射による粘着力低減効果のばらつきに起因し てピックアップ動作を安定して行うことが困難で、特に薄型の半導体チップに対して は、ピックアップ動作の不具合による割れや欠けなどのダメージの発生を有効に防止 することが困難であった。
[0038] これに対し、本実施の形態に示す電子部品ピックアップ装置にお!、ては、紫外線 照射によって窒素ガスを発生する粘着剤を用いることにより、半導体チップとシートと の界面に窒素ガスの気体層が介在した状態で半導体チップを取り出すことができ、 半導体チップをシートから容易にし力も短時間で剥離することが可能となって 、る。こ れにより、半導体チップの割れや欠けなどの不具合の発生頻度を高めることなく半導 体チップのピックアップ動作の高速ィヒが実現され、シートに接着保持された半導体チ ップのピックアップ作業を安定して高い生産性で行うことができる。
[0039] 本発明を詳細にまた特定の実施態様を参照して説明したが、本発明の精神と範囲 を逸脱することなく様々な変更や修正を加えることができることは当業者にとって明ら かである。
本出願は、 2004年 10月 4日出願の日本特許出願 (特願 2004— 291239)に基づくも のであり、その内容はここに参照として取り込まれる。
産業上の利用可能性
[0040] 本発明の電子部品ピックアップ装置および電子部品ピックアップ方法ならびに電子 部品搭載装置は、キャリアに接着保持された電子部品のピックアップ作業を安定して 高 、生産性で行うことができると!/、う効果を有し、ダイボンディング装置にぉ 、て粘着 シートに保持された電子部品をピックアップして基板に搭載する用途に有用である。

Claims

請求の範囲
[1] 光を照射することにより気体を発生する接着性物質によって光透過性のキャリアの 上面に接着保持された電子部品をキャリア力 ピックアップする電子部品ピックアップ 方法であって、
ピックアップすべき電子部品の裏面側に位置する接着性物質に対して前記キャリア の下面側力 光を照射することによりこの接着性物質力 気体を発生させる光照射ェ 程と、前記光照射工程によって前記接着性物質力 発生した気体が前記キャリアの 上面と前記電子部品の裏面との間に存在する状態で保持ツールをこの電子部品の 上面に接触させ、その後前記保持ツールを上昇させて前記電子部品をピックアップ する保持ツール昇降工程とを含むことを特徴とする電子部品ピックアップ方法。
[2] 前記光照射工程における光照射開始タイミング力も所定の時間が経過した後に、 前記保持ツールを下降させることを特徴とする請求項 1記載の電子部品ピックアップ 方法。
[3] 光を照射することにより気体を発生する接着性物質によって光透過性のキャリアの 上面に接着保持された電子部品をキャリア力 ピックアップする電子部品搭載方法で あって、
ピックアップすべき電子部品の裏面側に位置する接着性物質に対して前記キャリア の下面側力 光を照射することによりこの接着性物質力 気体を発生させる光照射ェ 程と、前記光照射工程によって前記接着性物質力 発生した気体が前記キャリアの 上面と前記電子部品の裏面との間に存在する状態で保持ツールをこの電子部品の 上面に接触させ、その後前記保持ツールを上昇させて前記電子部品をピックアップ する保持ツール昇降工程と、前記保持ツールによってピックアップされて保持された 電子部品の位置を認識する電子部品認識工程と、前記電子部品認識工程での認識 結果を反映させて前記保持ツールに保持された電子部品と基板との位置合わせ行う 電子部品位置合わせ工程と、位置合わせされた電子部品を前記基板に搭載する電 子部品搭載工程とを含むことを特徴とする電子部品搭載方法。
[4] 前記光照射工程における光照射開始タイミング力も所定の時間が経過した後に、 前記保持ツールを下降させることを特徴とする請求項 4記載の電子部品搭載方法。 光を照射することにより気体を発生する接着性物質によって上面に複数の電子部 品を接着保持した光透過性のキャリアを支持する部品供給ステージと、ピックアップ すべき電子部品の裏面側に位置する接着性物質に対して前記キャリアの下面側から 光を照射することによりこの接着性物質から気体を発生させる光照射部と、前記部品 供給ステージと前記光照射部とを相対的に移動させることにより前記光照射部の光 の照射範囲をピックアップすべき電子部品の下面に位置合わせする相対移動機構と 、前記電子部品が搭載される基板を保持する基板保持ステージと、前記キャリア上の 電子部品をピックアップして保持する保持ツールと、前記保持ツールを前記部品供 給ステージと前記基板保持ステージとの間を往復移動させて電子部品を基板に搭載 する部品搭載機構と、前記保持ツールに保持された電子部品の位置を認識する電 子部品認識部と、前記光照射部、前記相対移動機構、前記部品搭載機構および前 記電子部品認識部の動作を制御する制御部とを備え、
この制御部は、ピックアップすべき電子部品の下方に前記光照射部を位置させるァ ライメント工程を前記相対移動機構に行わせ、前記電子部品の裏面の接着性物質に 対して前記キャリアの下面力 光を照射することによりこの接着性物質力 気体を発 生させる光照射工程を前記光照射部に行わせ、前記光照射工程において接着性物 質から発生した気体が前記キャリアの上面と前記電子部品の裏面との間に存在する 状態で保持ツールをこの電子部品の上面に接触させ、その後前記保持ツールを上 昇させて電子部品をピックアップする保持ツール昇降工程を前記部品搭載機構に行 わせ、前記保持ツールにピックアップされて保持された電子部品の位置を認識する 電子部品認識工程を前記電子部品認識部に行わせ、前記電子部品認識工程にお ける認識結果を反映して前記保持ツールに保持された電子部品と基板とを位置合わ せする電子部品位置合わせ工程および位置合わせされた電子部品を基板に搭載す る電子部品搭載工程を前記部品搭載機構に行わせる搭載動作処理部を含むことを 特徴とする電子部品搭載装置。
PCT/JP2005/018332 2004-10-04 2005-10-04 電子部品ピックアップ方法および電子部品搭載方法ならびに電子部品搭載装置 WO2006038609A1 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/576,386 US20090202333A1 (en) 2004-10-04 2005-10-04 Electronic component pickup method, electronic component mounting method and electronic component mounting apparatus

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004-291239 2004-10-04
JP2004291239A JP2006108280A (ja) 2004-10-04 2004-10-04 電子部品ピックアップ方法および電子部品搭載方法ならびに電子部品搭載装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2006038609A1 true WO2006038609A1 (ja) 2006-04-13

Family

ID=36142682

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2005/018332 WO2006038609A1 (ja) 2004-10-04 2005-10-04 電子部品ピックアップ方法および電子部品搭載方法ならびに電子部品搭載装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20090202333A1 (ja)
JP (1) JP2006108280A (ja)
TW (1) TW200618131A (ja)
WO (1) WO2006038609A1 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8167523B2 (en) * 2007-07-12 2012-05-01 Asm Assembly Automation Ltd Singulation handler comprising vision system
US8544165B2 (en) * 2010-03-29 2013-10-01 Hong Kong Applied Science & Technology Research Institute Co., Ltd. Apparatus for aligning electronic components
EP3234992B1 (de) * 2016-01-29 2018-09-26 JENOPTIK Optical Systems GmbH Verfahren und vorrichtung zum herauslösen eines mikro-chips aus einem wafer und aufbringen des mikro-chips auf ein substrat

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003077942A (ja) * 2001-09-06 2003-03-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品実装装置および電子部品実装方法
JP2004134517A (ja) * 2002-10-09 2004-04-30 Disco Abrasive Syst Ltd 半導体チップのピックアップ方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000114204A (ja) * 1998-10-01 2000-04-21 Mitsubishi Electric Corp ウエハシート及びこれを用いた半導体装置の製造方法並びに半導体製造装置
US6425971B1 (en) * 2000-05-10 2002-07-30 Silverbrook Research Pty Ltd Method of fabricating devices incorporating microelectromechanical systems using UV curable tapes

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003077942A (ja) * 2001-09-06 2003-03-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品実装装置および電子部品実装方法
JP2004134517A (ja) * 2002-10-09 2004-04-30 Disco Abrasive Syst Ltd 半導体チップのピックアップ方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006108280A (ja) 2006-04-20
TW200618131A (en) 2006-06-01
US20090202333A1 (en) 2009-08-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI445067B (zh) The method of expansion of the workpiece
WO2006038610A1 (ja) 電子部品ピックアップ方法および電子部品搭載方法ならびに電子部品搭載装置
JP5572353B2 (ja) 保護テープ剥離方法およびその装置
KR101212365B1 (ko) 지지판 분리 장치 및 이를 이용한 지지판 분리 방법
KR101441692B1 (ko) 자외선 조사 방법 및 이것을 사용한 장치
JP6086763B2 (ja) コレットクリーニング方法及びそれを用いたダイボンダ
US20030088959A1 (en) Wafer transfer apparatus
JP5253996B2 (ja) ワーク分割方法およびテープ拡張装置
JP7233079B2 (ja) 部品実装システム、部品供給装置および部品実装方法
CN108428643B (zh) 半导体制造装置和半导体器件的制造方法
JP2010219219A (ja) 電子部品剥離装置及び電子部品剥離方法
WO2006038609A1 (ja) 電子部品ピックアップ方法および電子部品搭載方法ならびに電子部品搭載装置
KR20060044663A (ko) 초박 칩의 제조 프로세스 및 제조장치
JP2006324373A (ja) チップのピックアップ装置およびピックアップ方法
JP4529672B2 (ja) チップピックアップ装置およびチップピックアップ方法
JP3870803B2 (ja) チップ部品供給装置
CN112795878A (zh) 成膜装置及埋入处理装置
CN114730714A (zh) 部件安装系统、部件供给装置以及部件安装方法
JP5847410B2 (ja) ダイボンダ及び半導体製造方法
JP4968849B2 (ja) レーザ加工方法
JP2005167040A (ja) 電子部品搭載装置
JP2007220905A (ja) 板状物品のピックアップ装置
JP2002353253A (ja) 半導体チップ供給装置及び供給方法
JP2024045793A (ja) 半導体製造装置、剥離ユニットおよび半導体装置の製造方法
CN115394712A (zh) 激光剥离装置及激光剥离方法

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BW BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DE DK DM DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS KE KG KM KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV LY MA MD MG MK MN MW MX MZ NA NG NI NO NZ OM PG PH PL PT RO RU SC SD SE SG SK SL SM SY TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): BW GH GM KE LS MW MZ NA SD SL SZ TZ UG ZM ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IS IT LT LU LV MC NL PL PT RO SE SI SK TR BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 11576386

Country of ref document: US

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase