WO2006025454A1 - 画像表示装置 - Google Patents

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WO2006025454A1
WO2006025454A1 PCT/JP2005/015926 JP2005015926W WO2006025454A1 WO 2006025454 A1 WO2006025454 A1 WO 2006025454A1 JP 2005015926 W JP2005015926 W JP 2005015926W WO 2006025454 A1 WO2006025454 A1 WO 2006025454A1
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WO
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substrate
spacer
electron beam
beam passage
passage holes
Prior art date
Application number
PCT/JP2005/015926
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Sachiko Hirahara
Satoko Oyaizu
Satoshi Ishikawa
Kentaro Shimayama
Original Assignee
Kabushiki Kaisha Toshiba
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kabushiki Kaisha Toshiba filed Critical Kabushiki Kaisha Toshiba
Priority to EP05781527A priority Critical patent/EP1786019A1/en
Publication of WO2006025454A1 publication Critical patent/WO2006025454A1/ja
Priority to US11/681,239 priority patent/US20070181892A1/en

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/02Electrodes; Screens; Mounting, supporting, spacing or insulating thereof
    • H01J29/028Mounting or supporting arrangements for flat panel cathode ray tubes, e.g. spacers particularly relating to electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2329/00Electron emission display panels, e.g. field emission display panels
    • H01J2329/86Vessels
    • H01J2329/8625Spacing members
    • H01J2329/863Spacing members characterised by the form or structure

Definitions

  • the present invention relates to an image display device including substrates disposed opposite to each other and spacers disposed between the substrates.
  • CTRs cathode ray tubes
  • SED surface conduction electron-emitting device
  • FED field emission device
  • This SED includes a first substrate and a second substrate arranged to face each other at a predetermined interval, and these substrates are joined together with peripheral portions through rectangular side walls to form a vacuum envelope. Is configured. A phosphor layer of three colors and a metal back are formed on the inner surface of the first substrate, and a large number of electron-emitting devices corresponding to each pixel are arranged on the inner surface of the second substrate as an electron source for exciting the phosphor. It has been.
  • the space between the first substrate and the second substrate that is, the inside of the vacuum envelope, be maintained at a high degree of vacuum. If the degree of vacuum is low, the lifetime of the electron-emitting device, and thus the lifetime of the device, will be reduced.
  • the vacuum since the vacuum is between the first substrate and the second substrate, atmospheric pressure acts on the first substrate and the second substrate. Therefore, in order to support the atmospheric pressure load acting on these substrates and maintain a gap between the substrates, a large number of plate-like or columnar spacers are arranged between the two substrates.
  • the spacer structure having a large number of spacers as described above it is difficult to form all the spacers at the same height, and the height of the spacers may vary. There is. If the spacer height varies, it becomes difficult to stably support the atmospheric pressure load acting on the first and second substrates with the spacer, and the atmospheric pressure resistance of the envelope decreases. To do. A large load acts on the spacer which is high, and the spacer may be damaged. In this case, the strength of the spacer structure itself is lowered. Conversely, when a spacer with a low height exists, a gap is formed between the tip of the spacer and the substrate, which can cause discharge.
  • the present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide an image display device that suppresses the occurrence of discharge and has improved atmospheric pressure resistance.
  • an image display device is provided with a first substrate on which a phosphor screen is formed, and opposed to the first substrate with a gap therebetween.
  • An envelope having a second substrate on which a plurality of electron emission sources for emitting electrons toward the phosphor screen are disposed, and disposed between the first and second substrates and facing the first substrate
  • a support substrate having a first surface, a second surface facing the second substrate, and a plurality of electron beam passage holes facing the electron emission source; a second surface of the support substrate; and the second substrate And a plurality of columnar spacers that support atmospheric pressure acting on the first and second substrates,
  • the support substrate has a plurality of height relaxing portions that are in contact with the spacers and are elastically deformable in the height direction of the spacers. It has a recess formed on the first surface facing the spacer, and a plurality of grooves formed on the second surface and positioned around the spacer, respectively.
  • An image display device is provided with a first substrate on which a phosphor screen is formed, and opposed to the first substrate with a gap therebetween, and facing the phosphor screen.
  • An envelope having a second substrate on which a plurality of electron emission sources for emitting electrons are arranged, and a first surface disposed between the first and second substrates and facing the first substrate, A second surface facing the second substrate; and a plurality of electron beam passage holes facing the electron emission source.
  • a plurality of columnar spacers that are installed between the second surface of the support substrate and the second substrate and support atmospheric pressure acting on the first and second substrates;
  • the support substrate has a plurality of height relaxing portions that are in contact with the spacers and are elastically deformable in the height direction of the spacers.
  • FIG. 1 is a perspective view showing an SED according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a perspective view of the SED broken along the line II II in FIG.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view in the first direction showing the SED in an enlarged manner.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view in the second direction showing the SED in an enlarged manner.
  • FIG. 5 is a plan view showing a second surface side of a spacer structure in the SED.
  • FIG. 6 is a plan view showing a first surface side of the spacer structure.
  • FIG. 7 is an enlarged perspective view showing a part of the spacer structure.
  • FIG. 8 is an enlarged sectional view of the SED in the second direction in a state where the height relaxation portion of the spacer structure is deformed.
  • FIG. 9 is a plan view showing a spacer structure of an SED according to a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 10 is a plan view showing a spacer structure of an SED according to a third embodiment of the present invention.
  • FIG. 11 is a plan view showing a spacer structure of an SED according to a fourth embodiment of the present invention.
  • the SED includes a first substrate 10 and a second substrate 12, each of which is made of a rectangular glass plate, and these substrates have a gap of about 1.0 to 2. Omm. Opposed.
  • the first substrate 10 and the second substrate 12 are rectangular side walls 14 having a glass force.
  • a flat rectangular vacuum envelope 15 is constructed in which the peripheral portions are joined to each other through the inside and the inside is maintained in a vacuum.
  • the side wall 14 functioning as a bonding member is sealed to the peripheral edge of the first substrate 10 and the peripheral edge of the second substrate 12 by, for example, a sealing material 20 such as low-melting glass or low-melting metal. Are joined.
  • a phosphor screen 16 that functions as a phosphor screen is formed on the inner surface of the first substrate 10 over almost the entire surface.
  • the phosphor screen 16 is configured by arranging phosphor layers R, G, and B that emit light in red, blue, and green, and a light shielding layer 11, and these phosphor layers are formed in a stripe shape or a dot shape.
  • a metal back layer 17 and a getter film 19 made of aluminum or the like are sequentially formed.
  • a number of surface conduction electron-emitting devices 1 8 each emitting an electron beam as an electron emission source for exciting the phosphor layers R, G, and B of the phosphor screen 16. Is provided. These electron-emitting devices 18 are arranged in a plurality of columns and a plurality of rows corresponding to each pixel. Each electron-emitting device 18 includes an electron-emitting portion (not shown) and a pair of device electrodes for applying a voltage to the electron-emitting portion. Further, on the inner surface of the second substrate 12, a large number of wirings 21 for supplying a potential to the electron-emitting devices 18 are provided in a matrix shape, and the ends thereof are bowed out to the outside of the vacuum envelope 15. RU
  • the SED includes a spacer structure 22 disposed between the first substrate 10 and the second substrate 12.
  • the spacer structure 22 includes a support substrate 24 made of a metal plate, and a large number of columnar spacers 30 that stand integrally on the support substrate.
  • the support substrate 24 is formed in a rectangular shape corresponding to the phosphor screen 16, and has a first surface 24a facing the inner surface of the first substrate 10 and a second surface 24b facing the inner surface of the second substrate 12. These are arranged in parallel with these substrates.
  • the support substrate 24 is formed with a thickness of 0.1 to 0.25 mm using, for example, an iron-nickel metal plate.
  • a plurality of electron beam passage holes 26 are formed in the support substrate 24 by etching or the like. As will be described later, the electron beam passage hole 26 is formed in a rectangular shape of 0.15 to 0.25 mm ⁇ 0.15 to 0.25 mm, for example, except for a part.
  • the electron beam passage hole 26 has a predetermined direction along the first direction X.
  • the direction Y is arranged at a pitch larger than the pitch in the first direction X.
  • the phosphor layers R, G, and B of the phosphor screen 16 formed on the first substrate 10 and the electron-emitting devices 18 on the second substrate 12 have electron beams in the first direction X and the second direction Y, respectively. They are arranged at the same pitch as the through holes 26 and face the electron beam through holes, respectively.
  • the first and second surfaces 24a and 24b of the support substrate 24 and the inner wall surface of each electron beam passage hole 26 are insulating materials mainly composed of glass or the like, for example, Li-based alkali borosilicate glass Furthermore, it is covered with an insulating layer 37 having a thickness of about 40 m.
  • the support substrate 24 is provided such that the first surface 24 a is in contact with the getter film 19 of the first substrate 10 via the insulating layer 37.
  • the electron beam passage hole 26 provided in the support substrate 24 faces the phosphor layers R, G, and B of the phosphor screen 16 and the electron-emitting device 18 on the second substrate 12. Thus, each electron-emitting device 18 is opposed to the corresponding phosphor layer through the electron beam passage hole 26.
  • a large number of spacers 30 are erected on the second surface 24 b of the support substrate 24.
  • the extended end of each spacer 30 is in contact with the inner surface of the second substrate 12, here, the wiring 21 provided on the inner surface of the second substrate 12.
  • the spacers 30 are positioned between the electron beam passage holes 26 aligned in the second direction Y, respectively.
  • the plurality of spacers 30 are provided side by side with a predetermined pitch in the second direction Y, and are provided side by side with a pitch larger than the predetermined pitch in the first direction X! /.
  • Each of the spacers 30 is formed in a tapered shape in which the diameter of the support substrate 24 side force is also reduced toward the extension end.
  • the spacer 30 is formed with a height of about 1.8 mm.
  • the cross section of the spacer 30 along the direction parallel to the surface of the support substrate 24 is substantially elliptical.
  • Each of the spacers 30 is mainly made of a spacer forming material mainly composed of glass as an insulating material.
  • the support substrate 24 has a plurality of height relaxing portions 54 formed at the standing positions of the spacers 30 respectively.
  • Each height relaxing portion 54 has a recess 56 formed on the first surface 24a side of the support substrate 24, and is thinner than the thickness of the other part of the support substrate, for example, a thickness of 1/2 or less. Is formed.
  • Each first spacer 30 a is erected on the height relaxing portion 54 on the second surface 24 b of the support substrate 24 and faces the recess 56.
  • Each recess 56 is formed in a shape similar to the end surface of the spacer 30 on the support substrate 24 side, that is, the contact surface, and the area thereof is larger than the area of the contact surface of the spacer 30.
  • each recess 56 extends in the second direction Y over a length including one electron beam passage hole 26 located on each side of the spacer 30, and the first direction In the direction X, it extends over a length including a plurality of, for example, four electron beam passage holes 26 located on each side of the spacer 30.
  • each height relaxing portion 54 is formed to be elastically deformable in a direction substantially perpendicular to the first surface 24a, that is, in the height direction of the spacer 30.
  • Each height relaxing portion 54 has a plurality of grooves formed on the second surface 24 b of the support substrate 24 and positioned around the spacer 30. These grooves include a pair of first grooves 58a located on both sides of the spacer 30 in the first direction X, and a plurality of second grooves 58b located on both sides of the spacer 30 in the second direction Y. Contains. Each first groove 58a extends in the second direction Y and communicates with two electron beam passage holes 26 arranged in the second direction. The plurality of second grooves 58b extend in the first direction X and communicate with the two electron beam passage holes 26 arranged in the first direction. The first and second grooves 58a and 58b are provided to face the recess 56 and are formed symmetrically in the first direction X and the second direction Y with the spacer 30 as the center.
  • the support substrate 24 is fetched. Accordingly, the recess 56 and the first and second grooves 58a and 58b can be easily and simultaneously processed. Further, the recess 56 and the first and second grooves 58a and 58b may be formed by machining such as press working.
  • the surface of the support substrate 24 is covered with an insulating layer 37 including the recess 56 and the inner surfaces of the first and second grooves 58a and 58b.
  • the electron beam passage holes 26a located on both sides of the spacer 30 along the second direction Y are long in the first direction X. Is longer than the length of the other electron beam passage hole 26.
  • the two electron beam passage holes 26a located on one side of the spacer 30 are formed as long holes. These electron beam passage holes 26a are also formed symmetrically in the first direction X and the second direction Y about the spacer 30. Yes.
  • each height relaxing portion 54 has the first and second grooves 58a and 58b provided so as to surround the spacer 30, so that the height direction of the spacer 30 is increased. It is possible to easily elastically deform along the surface, and it is possible to prevent deformation and distortion around the height relaxing portion 54 when elastically deforming. Furthermore, by making the electron beam passage holes 26a located on both sides of the spacer 30 larger than the other electron beam passage holes 26, twisting can be more easily and easily caused without any influence. The height relaxing portion 54 can be deformed.
  • the support substrate 24 contacts the first substrate 10, and the extended end of the spacer 30 contacts the inner surface of the second substrate 12.
  • the atmospheric pressure load applied to these substrates is supported, and the distance between the substrates is maintained at a predetermined value.
  • the SED includes a voltage supply unit (not shown) that applies a voltage to the support substrate 24 and the metal back layer 17 of the first substrate 10. For example, a voltage of 8 kV is applied to the support substrate and a voltage of 10 kV is applied to the metal back layer. Is done.
  • the electron-emitting device 18 when displaying an image, the electron-emitting device 18 is driven, an arbitrary electron-emitting device force emits an electron beam, and an anode voltage is applied to the phosphor screen 16 and the metal back layer 17.
  • the electron beam emitted from the electron-emitting device 18 is accelerated by the anode voltage, passes through the electron beam passage hole 26 of the support substrate 24, and then collides with the phosphor screen 16. As a result, the phosphor layer of the phosphor screen 16 is excited to emit light and display an image.
  • a metal plate having a thickness of 0.12 mm containing Fe-50% N is degreased, washed, and dried, and then a resist film is formed on both sides. Subsequently, both sides of the metal plate are exposed, developed and dried to form a resist pattern. Thereafter, an electron beam passage hole 26 is formed at a predetermined position of the metal plate by etching. At the same time, a predetermined position on the first surface side of the metal plate, that is, the surface facing the first substrate 10 is fetched once to form a plurality of recesses 56.
  • a predetermined position on the second surface side of the metal plate is subjected to the no fetching to form a plurality of first and second grooves 58a, 58b.
  • glass frit is applied to the entire surface of the support substrate 24 at a thickness of 40 / zm, dried, and baked to form the insulating layer 37.
  • a rectangular plate-shaped mold having substantially the same dimensions as the support substrate 24 is prepared.
  • the forming mold is formed into a flat plate shape using a transparent material that transmits ultraviolet rays, for example, transparent silicon mainly composed of transparent polyethylene terephthalate.
  • the molding die has a flat abutting surface that abuts on the support substrate 24 and a large number of bottomed spacer forming holes for molding the spacer.
  • Each of the spacer forming holes opens on the contact surface of the mold and is arranged at a predetermined interval.
  • Each spacer forming hole is formed in a dimension corresponding to the spacer.
  • the spacer forming hole of the mold is filled with the spacer forming material.
  • a glass paste containing at least an ultraviolet curable binder (organic component) and a glass filler is used as the spacer forming material. The specific gravity and viscosity of the glass paste are selected as appropriate.
  • the mold is positioned so that the spacer forming hole filled with the spacer forming material is positioned between the electron beam passage holes, and the contact surface is brought into close contact with the second surface 24b of the support substrate.
  • the filled spacer forming material is irradiated with ultraviolet rays (UV) from the outer surface side of the support substrate 24 and the mold using, for example, an ultraviolet lamp, and the spacer forming material is UV cured.
  • the mold is formed of transparent silicon as an ultraviolet transmitting material. Therefore, ultraviolet rays are irradiated directly on the spacer forming material and through the mold. Therefore, the filled spacer forming material can be reliably cured to the inside.
  • the mold is peeled off from the support substrate 24 so that the cured spacer forming material remains on the support substrate 24.
  • the support substrate 24 provided with the spacer forming material is heat-treated in a heating furnace, and after the spacer forming material internal force binder is blown, the spacer is heated at about 500 to 550 ° C. for 30 minutes to 1 hour.
  • the pacer-forming material is fully fired and vitrified. As a result, the spacer structure 22 in which the spacers 30 are formed on the second surface 24b of the support substrate 24 is obtained.
  • the first substrate 10 provided with the phosphor screen 16 and the metal back layer 17 in advance, the electron-emitting device 18 and the wiring 21 are provided, and the side wall 14 is provided.
  • the bonded second substrate 12 is prepared.
  • the four corners of the support substrate 24 are positioned on the second substrate 12. Weld to metal pillars erected on the four corners of the board. As a result, the spacer structure 22 is fixed to the second substrate 12.
  • the supporting substrate 24 may be fixed at least at two places.
  • the first substrate 10 and the second substrate 12 to which the spacer structure 22 is fixed are arranged in a vacuum chamber, the inside of the vacuum chamber is evacuated, and then the metal back layer 17 of the first substrate 17 is provided. A getter film 19 is formed thereon. Subsequently, the first substrate 10 is bonded to the second substrate 12 via the side wall 14, and the spacer structure 22 is sandwiched between these substrates. As a result, an SED having the spacer structure 22 is manufactured.
  • the SED configured as described above, by providing the spacer 30 only on the second substrate 12 side of the support substrate 24, the length of each spacer is increased, and the support substrate 24 is thus provided. And the second substrate 12 can be separated from each other. As a result, the pressure resistance between the support substrate and the second substrate is improved, and the occurrence of discharge between them can be suppressed.
  • the support substrate 24 has a height relaxing portion 54, and each spacer 30 is provided on the height relaxing portion.
  • the height relaxing part 54 acts as a plate panel or a dish panel.
  • the height relaxing portion 54 is elastically deformed to absorb the variation in height.
  • the height relaxing portion 54 on which 30 is erected, is elastically deformed toward the first substrate 10 and absorbs the variation in the spacer height.
  • the height relaxing portion 54 has first and second grooves 58a and 58b, and the electron beam passage holes 26a located on both sides of the spacer 30 are formed as long holes. Therefore, the height relaxing portion 54 can be elastically deformed without causing surrounding deformation or distortion. As a result, all the spacers 30 can abut on the second substrate 12 without gaps at their tips.
  • the atmospheric pressure load acting on the first substrate 10 and the second substrate 12 can be stably supported by the spacer 30, and the atmospheric pressure strength of the vacuum envelope 15 can be improved. it can. At the same time, it is possible to prevent damage to the spacer due to height variation.
  • the support substrate 24 is covered with the insulating layer 37, the support substrate itself is also released. It functions as a shield that suppresses electricity. Therefore, an SED with suppressed atmospheric discharge and improved atmospheric pressure strength can be obtained.
  • each height relaxation portion 54 of the support substrate 24 one electron beam passing on each side of the spacer 30 in the electron beam passage hole is passed.
  • the hole 26a is formed as a long hole.
  • Each first groove 58a extends between the electron beam passage holes 26 located adjacent to the electron beam passage hole 26a.
  • Each second groove 58b extends in the first direction X between the electron beam passage hole 26 and the adjacent electron beam passage hole 26.
  • the support substrate 24 has all the electron beam passage holes without having the electron beam passage holes 26a that are also long holes. Are formed in a common dimension.
  • the second groove 58 b extends along the first direction X between the plurality of electron beam passage holes 26 and surrounds the spacer 30.
  • the height relaxing portion 54 of the support substrate 24 omits the first and second grooves, and the recess 56 It is constituted by a combination with a long diameter electron beam passage hole 26a. That is, in each height relaxing portion 54, a recess 56 is formed in the first surface 24 a of the support substrate 24 and faces the spacer 30.
  • the electron beam passage holes 26 a located on both sides of the spacer 30 along the second direction Y have a length in the first direction X that is the length of the other electron beam passage holes 26. It is formed larger than this.
  • two electron beam passage holes 26a located on one side of the spacer 30 are formed as long holes. These electron beam passage holes 26 a are also formed symmetrically in the first direction X and the second direction Y with the spacer 30 as the center.
  • the fourth embodiment other configurations of the SED are the same as those of the first embodiment described above, and the same reference numerals are given to the same portions, and detailed description thereof is omitted.
  • the same function and effect as in the first embodiment can be obtained.
  • the present invention is not limited to the above-described embodiment as it is, and can be embodied by modifying constituent elements without departing from the gist of the invention in an implementation stage.
  • various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of constituent elements disclosed in the embodiment. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiment. Furthermore, constituent elements over different embodiments may be appropriately combined.
  • the diameter and height of the spacer, the dimensions and materials of the other components are not limited to the above-described embodiments, and can be appropriately selected as necessary.
  • the present invention is not limited to the one using a surface conduction electron-emitting device as an electron source, but can be applied to an image display apparatus using another electron source such as a field emission type or a carbon nanotube.
  • the spacer has a variation in height
  • the variation in height can be absorbed by the elastic deformation of the height relaxing portion of the support substrate. Therefore, it is possible to provide an image display device that can suppress discharge caused by the gap between the substrate and the spacer and that has improved atmospheric pressure resistance.

Landscapes

  • Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)
  • Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)

Description

明 細 書
画像表示装置
技術分野
[0001] この発明は、対向配置された基板と、基板間に配設されたスぺーサとを備えた画像 表示装置に関する。
背景技術
[0002] 近年、陰極線管(以下、 CRTと称する)に代わる次世代の軽量、薄型の表示装置と して様々な平面型の画像表示装置が注目されている。例えば、フィールド 'エミッショ ン 'デバイス (以下、 FEDと称する)の一種として、表面伝導型電子放出装置 (以下、 SEDと称する)の開発が進められて!/ヽる。
[0003] この SEDは、所定の間隔をおいて対向配置された第 1基板および第 2基板を備え 、これらの基板は矩形状の側壁を介して周辺部を互いに接合することにより真空外囲 器を構成している。第 1基板の内面には 3色の蛍光体層およびメタルバックが形成さ れ、第 2基板の内面には、蛍光体を励起する電子源として、各画素に対応する多数 の電子放出素子が配列されて 、る。
[0004] 前記 SEDにおいて、第 1基板および第 2基板間の空間、すなわち真空外囲器内は 、高い真空度に維持されることが重要となる。真空度が低い場合、電子放出素子の 寿命、ひいては、装置の寿命が低下してしまう。また、第 1基板と第 2基板間は真空で あるため、第 1基板、第 2基板に対し大気圧が作用する。そこで、これらの基板に作用 する大気圧荷重を支持し基板間の隙間を維持するため、両基板間には、多数の板 状あるいは柱状のスぺーサが配置されて!、る。
[0005] スぺーサを第 1基板および第 2基板の全面に渡って配置するためには、第 1基板の 蛍光体、第 2基板の電子放出素子に接触しないように、極めて薄い板状、あるいは極 めて細い柱状のスぺーサが用いられている。第 1基板および第 2基板の薄板ィ匕を検 討した場合、一層多くのスぺーサが必要となる。例えば、特開 2001— 272927号公 報には、支持基板上に多数の柱状スぺーサを立設してスぺーサ構体を構成し、この スぺーサ構体を第 1および第 2基板間に配置した装置が開示されている。 [0006] 上記のように多数のスぺーサを備えたスぺーサ構体において、全てのスぺーサを 同一の高さで形成することは難しく、スぺーサの高さにバラツキが生じる可能性があ る。スぺーサの高さにバラツキがある場合、第 1基板および第 2基板に作用する大気 圧荷重をスぺーサによって安定に支持することが困難となり、外囲器の耐大気圧強 度が低下する。高さの高いスぺーサには大きな負荷が作用し、このスぺーサが損傷 する恐れもあり、この場合、スぺーサ構体自体の強度が低下する。逆に、高さの低い スぺーサが存在する場合、このスぺーサ先端と基板との間に隙間が形成され、放電 発生の要因となりえる。
発明の開示
[0007] この発明は、以上の点に鑑みなされたもので、その目的は、放電の発生を抑制する とともに耐大気圧強度が向上した画像表示装置を提供することにある。
[0008] 上記目的を達成するため、この発明の態様に係る画像表示装置は、蛍光面が形成 された第 1基板、および前記第 1基板と隙間を置いて対向配置されているとともに、前 記蛍光面に向けて電子を放出する複数の電子放出源が配置された第 2基板を有し た外囲器と、前記第 1および第 2基板間に配設され、前記第 1基板に対向した第 1表 面、前記第 2基板と対向した第 2表面、および前記電子放出源に対向した複数の電 子ビーム通過孔を有した支持基板と、前記支持基板の第 2表面と前記第 2基板との 間に立設され、第 1および第 2基板に作用する大気圧を支持した複数の柱状のスぺ ーサと、を備え、
前記支持基板は、それぞれ前記スぺーサに当接しているとともにスぺーサの高さ方 向に弾性変形可能に形成された複数の高さ緩和部を有し、各高さ緩和部は、前記ス ぺーサと対向して前記第 1表面に形成された凹所と、それぞれ前記第 2表面に形成 され前記スぺーサの周囲に位置した複数の溝と、を有して!/ヽる。
[0009] この発明の他の態様に係る画像表示装置は、蛍光面が形成された第 1基板、およ び前記第 1基板と隙間を置いて対向配置されているとともに、前記蛍光面に向けて電 子を放出する複数の電子放出源が配置された第 2基板を有した外囲器と、前記第 1 および第 2基板間に配設され、前記第 1基板に対向した第 1表面、前記第 2基板と対 向した第 2表面、および前記電子放出源に対向した複数の電子ビーム通過孔を有し た支持基板と、前記支持基板の第 2表面と前記第 2基板との間に立設され、第 1およ び第 2基板に作用する大気圧を支持した複数の柱状のスぺーサと、を備え、 前記支持基板は、それぞれ前記スぺーサに当接しているとともにスぺーサの高さ方 向に弾性変形可能に形成された複数の高さ緩和部を有し、各高さ緩和部は、前記ス ぺーサと対向して前記第 1表面に形成された凹所を有し、各高さ緩和部において、 前記各スぺーサの両側に位置した電子ビーム通過孔は、他の電子ビーム通過孔より も大きく形成されている。
図面の簡単な説明
[0010] [図 1]図 1は、この発明の第 1の実施形態に係る SEDを示す斜視図。
[図 2]図 2は、図 1の線 II IIに沿って破断した前記 SEDの斜視図。
[図 3]図 3は、前記 SEDを拡大して示す第 1方向の断面図。
[図 4]図 4は、前記 SEDを拡大して示す第 2方向の断面図。
[図 5]図 5は、前記 SEDにおけるスぺーサ構体の第 2表面側を示す平面図。
[図 6]図 6は、前記スぺーサ構体の第 1表面側を示す平面図。
[図 7]図 7は、前記スぺーサ構体の一部を拡大して示す斜視図。
[図 8]図 8は、前記スぺーサ構体の高さ緩和部が変形した状態における前記 SEDを 拡大して示す第 2方向の断面図。
[図 9]図 9は、この発明の第 2の実施形態に係る SEDのスぺーサ構体を示す平面図。
[図 10]図 10は、この発明の第 3の実施形態に係る SEDのスぺーサ構体を示す平面 図。
[図 11]図 11は、この発明の第 4の実施形態に係る SEDのスぺーサ構体を示す平面 図。
発明を実施するための最良の形態
[0011] 以下図面を参照しながら、この発明を、平面型の画像表示装置として SEDに適用 した実施形態について詳細に説明する。
図 1ないし図 4に示すように、 SEDは、それぞれ矩形状のガラス板からなる第 1基板 10および第 2基板 12を備え、これらの基板は約 1. 0〜2. Ommの隙間をおいて対向 配置されている。第 1基板 10および第 2基板 12は、ガラス力もなる矩形状の側壁 14 を介して周縁部同士が接合され、内部が真空に維持された扁平な矩形状の真空外 囲器 15を構成している。接合部材として機能する側壁 14は、例えば、低融点ガラス 、低融点金属等の封着材 20により、第 1基板 10の周縁部および第 2基板 12の周縁 部に封着され、これらの基板同士を接合している。
[0012] 第 1基板 10の内面には蛍光面として機能する蛍光体スクリーン 16がほぼ全面に渡 つて形成されている。蛍光体スクリーン 16は、赤、青、緑に発光する蛍光体層 R、 G、 B、および遮光層 11を並べて構成され、これらの蛍光体層はストライプ状あるいはドッ ト状に形成されている。蛍光体スクリーン 16上には、アルミニウム等カゝらなるメタルバ ック層 17およびゲッター膜 19が順に形成されて 、る。
[0013] 第 2基板 12の内面には、蛍光体スクリーン 16の蛍光体層 R、 G、 Bを励起する電子 放出源として、それぞれ電子ビームを放出する多数の表面伝導型の電子放出素子 1 8が設けられている。これらの電子放出素子 18は、画素毎に対応して複数列および 複数行に配列されている。各電子放出素子 18は、図示しない電子放出部、この電子 放出部に電圧を印加する一対の素子電極等で構成されている。また、第 2基板 12の 内面上には、電子放出素子 18に電位を供給する多数本の配線 21がマトリックス状に 設けられ、その端部は真空外囲器 15の外部に弓 I出されて 、る。
[0014] 図 2ないし図 7に示すように、 SEDは、第 1基板 10および第 2基板 12の間に配設さ れたスぺーサ構体 22を備えている。スぺーサ構体 22は、金属板からなる支持基板 2 4と、支持基板上に一体的に立設された多数の柱状のスぺーサ 30と、を備えている。 支持基板 24は、蛍光体スクリーン 16に対応した寸法の矩形状に形成され、第 1基板 10の内面と対向した第 1表面 24aおよび第 2基板 12の内面と対向した第 2表面 24b を有し、これらの基板と平行に配置されている。
[0015] 支持基板 24は、例えば鉄—ニッケル系の金属板により厚さ 0. 1〜0. 25mmに形 成されている。支持基板 24には、エッチング等により複数の電子ビーム通過孔 26が 形成されている。後述するように、一部を除いて、電子ビーム通過孔 26は、例えば、 0. 15〜0. 25mm X 0. 15〜0. 25mmの矩形状に形成されている。第 1基板 10お よび第 2基板 12の長手方向を第 1方向 X、これと直交する幅方向を第 2方向 Yとした 場合、電子ビーム通過孔 26は、第 1方向 Xに沿って所定のピッチで配列され、第 2方 向 Yについては、第 1方向 Xのピッチよりも大きなピッチで配列されている。第 1基板 1 0に形成された蛍光体スクリーン 16の蛍光体層 R、 G、 B、および第 2基板 12上の電 子放出素子 18は、第 1方向 Xおよび第 2方向 Yについてそれぞれ電子ビーム通過孔 26と同一のピッチで配列され、それぞれ電子ビーム通過孔と対向している。
[0016] 支持基板 24の第 1および第 2表面 24a、 24b、各電子ビーム通過孔 26の内壁面は 、ガラス等を主成分とした絶縁性物質、例えば、 Li系のアルカリホウ珪酸ガラス力ゝらな る厚さ約 40 mの絶縁層 37により被覆されている。
[0017] 支持基板 24は、その第 1表面 24aが絶縁層 37を介して第 1基板 10のゲッター膜 1 9に接触して設けられている。支持基板 24に設けられた電子ビーム通過孔 26は、蛍 光体スクリーン 16の蛍光体層 R、 G、 B、および第 2基板 12上の電子放出素子 18と 対向している。これにより、各電子放出素子 18は、電子ビーム通過孔 26を通して、対 応する蛍光体層と対向している。
[0018] 支持基板 24の第 2表面 24b上には多数のスぺーサ 30がー体的に立設されている 。各スぺーサ 30の延出端は、第 2基板 12の内面、ここでは、第 2基板 12の内面上に 設けられた配線 21上に当接している。スぺーサ 30は、それぞれ第 2方向 Yに並んだ 電子ビーム通過孔 26間に位置している。複数のスぺーサ 30は、第 2方向 Yに所定の ピッチで並んで設けられているとともに、第 1方向 Xに上記所定のピッチよりも大きな ピッチで並んで設けられて!/、る。
[0019] スぺーサ 30の各々は、支持基板 24側カも延出端に向力つて径が小さくなつた先細 テーパ状に形成されている。例えば、スぺーサ 30は高さ約 1. 8mmに形成されてい る。支持基板 24表面と平行な方向に沿ったスぺーサ 30の断面は、ほぼ楕円形に形 成されている。スぺーサ 30の各々は、主に、絶縁物質としてガラスを主成分とするス ぺーサ形成材料により形成されて 、る。
[0020] 図 3ないし図 7に示すように、支持基板 24は、それぞれスぺーサ 30の立設位置に 形成された複数の高さ緩和部 54を有している。各高さ緩和部 54は、支持基板 24の 第 1表面 24a側に形成された凹所 56を有し、支持基板の他部分の板厚に対して薄く 、例えば、 1/2以下の板厚に形成されている。各第 1スぺーサ 30aは支持基板 24の 第 2表面 24b上において高さ緩和部 54に立設され、凹所 56と対向している。各凹所 56は、スぺーサ 30の支持基板 24側の端面、つまり、当接面と相似形状に形成され、 その面積は、スぺーサ 30の当接面の面積よりも大きく形成されている。本実施形態 によれば、各凹所 56は、第 2方向 Yにおいて、スぺーサ 30の各側に位置した 1つの 電子ビーム通過孔 26を含む長さに渡って延びているとともに、第 1方向 Xにおいて、 スぺーサ 30の各側に位置した複数、例えば、 4つの電子ビーム通過孔 26を含む長さ に渡って延びている。これにより、各高さ緩和部 54は、第 1表面 24aに対してほぼ垂 直な方向、つまり、スぺーサ 30の高さ方向に沿って弾性変形可能に形成されている
[0021] 各高さ緩和部 54は、それぞれ支持基板 24の第 2表面 24bに形成されスぺーサ 30 の周囲に位置した複数の溝を有している。これらの溝は、第 1方向 Xにおいてスぺー サ 30の両側に位置した一対の第 1溝 58aと、第 2方向 Yにおいてスぺーサ 30の両側 に位置した複数の第 2溝 58bと、を含んでいる。各第 1溝 58aは、第 2方向 Yに沿って 延び、第 2方向に並んだ 2つの電子ビーム通過孔 26に連通している。複数の第 2溝 5 8bは、それぞれ第 1方向 Xに沿って延び、第 1方向に並んだ 2つの電子ビーム通過 孔 26に連通している。第 1および第 2溝 58a、 58bは、凹所 56と対向して設けられて いるとともに、スぺーサ 30を中心として第 1方向 Xおよび第 2方向 Yに対称に形成され ている。
[0022] 支持基板 24に凹所 56、第 1および第 2溝 58a、 58bを加工する方法は種々考えら れるが、例えば支持基板 24の製作においてエッチングを用いる場合、支持基板をハ 一フェッチングすることにより、凹所 56、第 1および第 2溝 58a、 58bを容易に、かつ、 同時に加工することができる。また、凹所 56、第 1および第 2溝 58a、 58bは、プレス 加工等の機械加工により形成してもよい。支持基板 24の表面は、凹所 56、第 1およ び第 2溝 58a、 58bの内面も含め、絶縁層 37により被覆されている。
[0023] 図 5ないし図 7に示すように、各高さ緩和部 54において、第 2方向 Yに沿ってスぺー サ 30の両側に位置した電子ビーム通過孔 26aは、第 1方向 Xの長さが他の電子ビー ム通過孔 26の長さよりも大きく形成されている。例えば、スぺーサ 30の片側に位置し た 2つの電子ビーム通過孔 26aは長孔として形成されて!、る。これらの電子ビーム通 過孔 26aもスぺーサ 30を中心として第 1方向 Xおよび第 2方向 Yに対称に形成されて いる。
[0024] 上記のように、各高さ緩和部 54は、スぺーサ 30を囲んで設けられた第 1および第 2 溝 58a、 58bを有しているため、スぺーサ 30の高さ方向に沿って容易に弾性変形可 能であり、かつ、弾性変形する際、高さ緩和部 54周囲の変形、歪み発生を防止する ことができる。更に、スぺーサ 30の両側に位置した電子ビーム通過孔 26aを他の電 子ビーム通過孔 26よりも大きな長孔とすることにより、周隨こ影響することなぐ一層 容易にかつ捩れを生じることなく高さ緩和部 54を変形可能として 、る。
[0025] 上記のように構成されたスぺーサ構体 22は、支持基板 24が第 1基板 10に接触し、 スぺーサ 30の延出端が第 2基板 12の内面に当接することにより、これらの基板に作 用する大気圧荷重を支持し、基板間の間隔を所定値に維持している。
[0026] SEDは、支持基板 24および第 1基板 10のメタルバック層 17に電圧を印加する図 示しない電圧供給部を備え、例えば、支持基板に 8kV、メタルバック層に 10kVの電 圧が印加される。 SEDにおいて、画像を表示する場合、電子放出素子 18を駆動し、 任意の電子放出素子力も電子ビームを放出するとともに、蛍光体スクリーン 16および メタルバック層 17にアノード電圧を印加する。電子放出素子 18から放出された電子 ビームは、アノード電圧により加速され、支持基板 24の電子ビーム通過孔 26を通つ た後、蛍光体スクリーン 16に衝突する。これにより、蛍光体スクリーン 16の蛍光体層 が励起されて発光し、画像を表示する。
[0027] 次に、以上のように構成された SEDの製造方法について説明する。始めに、スぺ 一サ構体 22の製造方法にっ 、て説明する。
まず、 Fe— 50%N もなる板厚 0. 12mmの金属板を脱脂'洗浄 '乾燥した後、両 面にレジスト膜を形成する。続いて、金属板の両面を露光、現像、乾燥してレジストパ ターンを形成する。その後、エッチングにより金属板の所定位置に電子ビーム通過孔 26を形成する。同時に、金属板の第 1表面側、つまり、第 1基板 10と対向する表面の 所定位置をノ、一フェッチングし、複数の凹所 56を形成する。また、金属板の第 2表 面側、つまり、第 2基板 12と対向する表面の所定位置をノヽーフェッチングし、複数の 第 1および第 2溝 58a、 58bを形成する。その後、支持基板 24の全面にガラスフリット を厚さ 40 /z mで塗布し、乾燥した後、焼成することにより、絶縁層 37を形成する。 [0028] 続いて、支持基板 24とほぼ同一の寸法を有した矩形板状の成形型を用意する。成 形型は、紫外線を透過する透明な材料、例えば、透明ポリエチレンテレフタレートを 主体とした透明シリコン等により平坦な板状に形成されている。成形型は、支持基板 24に当接する平坦な当接面と、スぺーサを成形するための多数の有底のスぺーサ 形成孔と、を有している。スぺーサ形成孔はそれぞれ成形型の当接面に開口してい るとともに、所定の間隔を置いて配列されている。各スぺーサ形成孔は、スぺーサに 対応した寸法に形成されている。その後、成形型のスぺーサ形成孔にスぺーサ形成 材料を充填する。スぺーサ形成材料としては、少なくとも紫外線硬化型のバインダ( 有機成分)およびガラスフィラーを含有したガラスペーストを用いる。ガラスペーストの 比重、粘度は適宜選択する。
[0029] 次いで、スぺーサ形成材料の充填されたスぺーサ形成孔が電子ビーム通過孔間 に位置するように、成形型を位置決めし当接面を支持基板の第 2表面 24bに密着さ せる。充填されたスぺーサ形成材料に対し、例えば、紫外線ランプ等を用いて支持 基板 24および成形型の外面側から紫外線 (UV)を照射し、スぺーサ形成材料を UV 硬化させる。その際、成形型は、紫外線透過材料としての透明なシリコンで形成され ている。そのため、紫外線は、スぺーサ形成材料に直接、および成形型を透過して 照射される。従って、充填されたスぺーサ形成材料をその内部まで確実に硬化させ ることがでさる。
[0030] その後、硬化したスぺーサ形成材料を支持基板 24上に残すように、成形型を支持 基板 24から剥離する。次に、スぺーサ形成材料が設けられた支持基板 24を加熱炉 内で熱処理し、スぺーサ形成材料内力 バインダを飛ばした後、約 500〜550°Cで 3 0分〜 1時間、スぺーサ形成材料を本焼成しガラス化する。これにより、支持基板 24 の第 2表面 24b上にスぺーサ 30がー体的に作り込まれたスぺーサ構体 22が得られ る。
[0031] 一方、 SEDの製造においては、予め、蛍光体スクリーン 16およびメタルバック層 17 の設けられた第 1基板 10と、電子放出素子 18および配線 21が設けられているととも に側壁 14が接合された第 2基板 12と、を用意しておく。続いて、上記のようにして得 られたスぺーサ構体 22を第 2基板 12上に位置決めした後、支持基板 24の 4隅を第 2 基板の 4つのコーナー部に立設された金属製の支柱に溶接する。これにより、スぺー サ構体 22を第 2基板 12に固定する。なお、支持基板 24の固定箇所は、少なくとも 2 箇所あればよい。
[0032] その後、第 1基板 10、およびスぺーサ構体 22が固定された第 2基板 12を真空チヤ ンバ内に配置し、真空チャンバ内を真空排気した後、第 1基板のメタルバック層 17上 にゲッター膜 19を形成する。続いて、側壁 14を介して第 1基板 10を第 2基板 12に接 合するとともに、これらの基板間にスぺーサ構体 22を挟み込む。これにより、スぺー サ構体 22を備えた SEDが製造される。
[0033] 以上のように構成された SEDによれば、支持基板 24の第 2基板 12側のみにスぺ ーサ 30を設けることにより、各スぺーサの長さを長くし、支持基板 24と第 2基板 12と の距離を離すことができる。それにより、支持基板と第 2基板との間の耐圧性が向上 し、これらの間における放電の発生を抑制することが可能となる。
[0034] 支持基板 24は高さ緩和部 54を有し、各スぺーサ 30はこの高さ緩和部上に設けら れている。高さ緩和部 54は板パネ、または皿パネとして作用し、スぺーサ 30に高さ等 にバラツキがある場合、弾性変形して高さのバラツキを吸収する。例えば、他のスぺ ーサ 30に比較して高さの高 、スぺーサ 30が存在する場合、大気圧が作用すると、 図 8に示すように、支持基板 24の内、このスぺーサ 30が立設されている高さ緩和部 5 4は第 1基板 10側に弾性変形し、スぺーサ高さのバラツキを吸収する。高さ緩和部 5 4は第 1および第 2溝 58a、 58bを有しているとともに、スぺーサ 30の両側に位置した 電子ビーム通過孔 26aは長孔に形成されている。そのため、高さ緩和部 54は、周囲 の変形、歪み発生を生じることなく弾性変形することができる。これにより、全てのスぺ ーサ 30は、その先端部が隙間無く第 2基板 12に当接することができる。
[0035] 従って、第 1基板 10および第 2基板 12に作用する大気圧荷重をスぺーサ 30により 安定して支持することができ、真空外囲器 15の耐大気圧強度を向上することができ る。同時に、高さのバラツキに起因したスぺーサの損傷を防止することができる。
[0036] 更に、スぺーサ 30の高さにバラツキがある場合でも、スぺーサの先端と第 2基板 12 との間における隙間の発生を防止でき、この隙間に起因する放電を抑制することが 可能となる。支持基板 24は絶縁層 37により被覆されているため、支持基板自身も放 電を抑制するシールドとして機能する。従って、放電の発生を抑制するとともに耐大 気圧強度が向上した SEDが得られる。
[0037] 次に、この発明の第 2の実施形態に係る SEDについて説明する。図 9に示すように 、第 2の実施形態によれば、支持基板 24の各高さ緩和部 54において、電子ビーム 通過孔の内、スぺーサ 30の各側に位置した 1つの電子ビーム通過孔 26aが長孔に 形成されている。各第 1溝 58aは、電子ビーム通過孔 26aの隣に位置した電子ビーム 通過孔 26間を延びている。各第 2溝 58bは、第 1方向 Xにおいて、電子ビーム通過 孔 26とこの隣に位置した電子ビーム通過孔 26との間を延びている。
[0038] 図 10に示すように、この発明の第 3の実施形態に係る SEDによれば、支持基板 24 は、長孔カもなる電子ビーム通過孔 26aを有することなぐ全ての電子ビーム通過孔 が共通の寸法に形成されている。各高さ緩和部 54において、第 2溝 58bは、第 1方 向 Xに沿って複数の電子ビーム通過孔 26間を延び、スぺーサ 30を囲んでいる。
[0039] 第 2および第 3の実施形態において、 SEDの他の構成は前述した第 1の実施形態 と同一であり、同一の部分には同一の参照符号を付してその詳細な説明を省略する 。そして、第 2および第 3の実施形態においても、第 1の実施形態と同様の作用効果 を得ることができる。
[0040] 図 11に示すように、この発明の第 4の実施形態に係る SEDによれば、支持基板 24 の高さ緩和部 54は、第 1および第 2溝を省略し、凹所 56と長径の電子ビーム通過孔 26aとの組合せにより構成されている。すなわち、各高さ緩和部 54において、支持基 板 24の第 1表面 24aには凹所 56が形成され、スぺーサ 30と対向している。各高さ緩 和部 54において、第 2方向 Yに沿ってスぺーサ 30の両側に位置した電子ビーム通 過孔 26aは、第 1方向 Xの長さが他の電子ビーム通過孔 26の長さよりも大きく形成さ れている。例えば、スぺーサ 30の片側に位置した 2つの電子ビーム通過孔 26aが長 孔として形成されている。これらの電子ビーム通過孔 26aもスぺーサ 30を中心として 第 1方向 Xおよび第 2方向 Yに対称に形成されている。
[0041] 第 4の実施形態において、 SEDの他の構成は前述した第 1の実施形態と同一であ り、同一の部分には同一の参照符号を付してその詳細な説明を省略する。そして、 第 4の実施形態においても、第 1の実施形態と同様の作用効果を得ることができる。 [0042] 本発明は前記実施形態そのままに限定されるものではなぐ実施段階ではその要 旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体ィ匕できる。また、前記実施形態に開 示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる 。例えば、実施の形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよ い。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
[0043] スぺーサの径や高さ、その他の構成要素の寸法、材質等は上述した実施形態に限 定されることなぐ必要に応じて適宜選択可能である。この発明は、電子源として表面 伝導型電子放出素子を用いたものに限らず、電界放出型、カーボンナノチューブ等 の他の電子源を用 、た画像表示装置にも適用可能である。
産業上の利用可能性
[0044] 本発明によれば、スぺーサの高さにバラツキがある場合でも、支持基板の高さ緩和 部の弾性変形により高さのバラツキを吸収することができる。そのため、基板とスぺー サとの隙間に起因する放電を抑制することができるとともに、耐大気圧強度が向上し た画像表示装置を提供することができる。

Claims

請求の範囲
[1] 蛍光面が形成された第 1基板、および前記第 1基板と隙間を置いて対向配置され ているとともに、前記蛍光面に向けて電子を放出する複数の電子放出源が配置され た第 2基板を有した外囲器と、
前記第 1および第 2基板間に配設され、前記第 1基板に対向した第 1表面、前記第
2基板と対向した第 2表面、および前記電子放出源に対向した複数の電子ビーム通 過孔を有した支持基板と、
前記支持基板の第 2表面と前記第 2基板との間に立設され、第 1および第 2基板に 作用する大気圧を支持した複数の柱状のスぺーサと、を備え、
前記支持基板は、それぞれ前記スぺーサに当接しているとともにスぺーサの高さ方 向に弾性変形可能に形成された複数の高さ緩和部を有し、各高さ緩和部は、前記ス ぺーサと対向して前記第 1表面に形成された凹所と、それぞれ前記第 2表面に形成 され前記スぺーサの周囲に位置した複数の溝と、を有して!/ヽる画像表示装置。
[2] 前記凹所は、前記スぺーサの前記支持基板に当接した当接面の面積よりも大きな 面積を有して 、る請求項 1に記載の画像表示装置。
[3] 前記複数の溝は、前記凹所と対向して前記支持基板の第 2表面に形成されている 請求項 2に記載の画像表示装置。
[4] 前記複数の電子ビーム通過孔は、第 1方向およびこの第 1方向と直交する第 2方向 に隙間を置いて並んで形成され、前記各スぺーサは、前記第 2方向に並んだ電子ビ ーム通過孔間に配設され、
前記各高さ緩和部の溝は、前記第 1方向にお!、て前記スぺーサの両側に位置して いるとともにそれぞれ前記第 2方向に並んだ電子ビーム通過孔に連通した一対の第
1溝と、前記第 2方向にぉ 、て前記スぺーサの両側に位置して!/、るとともにそれぞれ 前記第 1方向に並んだ電子ビーム通過孔に連通した複数の第 2溝と、を含んでいる 請求項 1な!、し 3の 、ずれか 1項に記載の画像表示装置。
[5] 前記第 2方向にお 、て前記スぺーサの両側に位置した電子ビーム通過孔は、前記 第 1方向の長さが他の電子ビーム通過孔の長さよりも大きく形成されている請求項 4 に記載の画像表示装置。
[6] 前記各高さ緩和部の複数の溝は、前記スぺーサを中心として前記第 1方向および 第 2方向に対称に形成されている請求項 4に記載の画像表示装置。
[7] 前記各凹所はハーフエッチングにより形成されて 、ることを特徴とする請求項 1な ヽ し 3の 、ずれか 1項に記載の画像表示装置。
[8] 蛍光面が形成された第 1基板、および前記第 1基板と隙間を置いて対向配置され ているとともに、前記蛍光面に向けて電子を放出する複数の電子放出源が配置され た第 2基板を有した外囲器と、
前記第 1および第 2基板間に配設され、前記第 1基板に対向した第 1表面、前記第
2基板と対向した第 2表面、および前記電子放出源に対向した複数の電子ビーム通 過孔を有した支持基板と、
前記支持基板の第 2表面と前記第 2基板との間に立設され、第 1および第 2基板に 作用する大気圧を支持した複数の柱状のスぺーサと、を備え、
前記支持基板は、それぞれ前記スぺーサに当接しているとともにスぺーサの高さ方 向に弾性変形可能に形成された複数の高さ緩和部を有し、各高さ緩和部は、前記ス ぺーサと対向して前記第 1表面に形成された凹所を有し、各高さ緩和部において、 前記各スぺーサの両側に位置した電子ビーム通過孔は、他の電子ビーム通過孔より も大きく形成されて!ゝる画像表示装置。
[9] 前記複数の電子ビーム通過孔は、第 1方向およびこの第 1方向と直交する第 2方向 にそれぞれ隙間を置いて並んで形成され、前記各スぺーサは、前記第 2方向に並ん だ電子ビーム通過孔間に配設され、
前記第 2方向にお 、て前記スぺーサの両側に位置した電子ビーム通過孔は、前記 第 1方向の長さが他の電子ビーム通過孔の長さよりも大きく形成されている請求項 8 に記載の画像表示装置。
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