WO2005083758A1 - ステ−ジ装置及び投影露光装置 - Google Patents

ステ−ジ装置及び投影露光装置 Download PDF

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WO2005083758A1
WO2005083758A1 PCT/JP2005/003395 JP2005003395W WO2005083758A1 WO 2005083758 A1 WO2005083758 A1 WO 2005083758A1 JP 2005003395 W JP2005003395 W JP 2005003395W WO 2005083758 A1 WO2005083758 A1 WO 2005083758A1
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stage
stage device
support
exposure apparatus
cowl
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PCT/JP2005/003395
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Takeshi Sasaki
Satoshi Takahashi
Shigeru Hagiwara
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Nikon Corp
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Nikon Corp
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    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20—Exposure; Apparatus therefor
    • G—PHYSICS
    • G12—INSTRUMENT DETAILS
    • G12B—CONSTRUCTIONAL DETAILS OF INSTRUMENTS, OR COMPARABLE DETAILS OF OTHER APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G12B5/00—Adjusting position or attitude, e.g. level, of instruments or other apparatus, or of parts thereof; Compensating for the effects of tilting or acceleration, e.g. for optical apparatus
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/50—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for positioning, orientation or alignment
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P76/00—Manufacture or treatment of masks on semiconductor bodies, e.g. by lithography or photolithography

Definitions

  • the present invention relates to a stage device that requires precise position measurement, such as a wafer stage of a projection exposure apparatus, and particularly to a stage device to which optical position measurement is applied.
  • the present invention also relates to a projection exposure apparatus provided with the stage device.
  • a stage (support table) on which a wafer is mounted is precisely measured by a length measuring interferometer (Patent Document 1, Patent Document 2, etc.).
  • the movable mirror of the length measuring interferometer is fixed to the stage.
  • the movable mirror reflects a laser beam (a beam for position measurement) emitted from the length measuring interferometer.
  • the length measuring interferometer measures the position of the stage based on the reflected light beam.
  • Patent document 1 JP-A-5-6850
  • Patent Document 2 JP-A-5-283313
  • an object of the present invention is to provide a stage device that can suppress the influence of a heat source of a stage on optical position measurement.
  • Another object of the present invention is to provide a projection exposure apparatus having high exposure accuracy.
  • a stage device of the present invention supports an object and is capable of moving in at least one predetermined direction, and is fixed to the support, and projects light from behind when the support moves in the predetermined direction.
  • a cowl portion a cowl portion.
  • the stage device further includes an air guide pipe for introducing a temperature-controlled gas and blowing the gas along the surface of the cowl portion at least when the support base moves in the predetermined direction. Is also good.
  • the air guide tube may have a function of jetting the gas at least when the support base moves in the predetermined direction.
  • the air guide tube may have an inlet and an outlet near the surface of the cowl portion, and the size of the outlet may be set smaller than the size of the inlet.
  • the air guide tube may have an inlet connected to a blower that blows the temperature-controlled gas, and an outlet may be provided near a surface of the cowl portion.
  • a projection exposure apparatus includes a projection optical system and any one of the stage devices according to the present invention.
  • a scan method of performing exposure while moving the support base of the stage device in the predetermined direction may be applied.
  • stage device of the present invention is a stage device provided with a support that supports an object and is movable in a predetermined plane, wherein the support extends in parallel with the predetermined plane, and It is characterized by comprising a reflecting portion having a reflecting surface substantially perpendicular to a plane, and a curved portion formed along the reflecting portion so as to be more convex than the reflecting portion.
  • the curved surface portion may include a part of a cylindrical surface whose central axis is an axis parallel to the predetermined plane and the reflecting surface.
  • the support base may have a support surface for supporting the object, and the curved surface portion may have a curved surface substantially continuous with the support surface.
  • the reflection part and the curved surface part are formed on the same reflection member.
  • stage device of the present invention there is provided a movable portion mounted on the predetermined plane and movable while holding the support table, and the support table is mounted so as to protrude from the movable unit. It can be assumed that.
  • the exposure apparatus of the present invention is an exposure apparatus that forms a pattern on an object by exposure light, and uses any one of the stage apparatuses of the present invention as a stage apparatus that supports and moves the object.
  • the exposure apparatus supplies a gas whose temperature has been adjusted toward the predetermined plane from a direction substantially orthogonal to the predetermined plane on which the stage apparatus moves. ,.
  • the rectified airflow prevents the high-temperature gas present at the lower part of the support from being caught in the optical path.
  • an effect can be expected by preventing entrainment of high-temperature gas existing in other places into the optical path.
  • a stage device that can suppress the influence of the heat source of the stage on the optical position measurement is realized.
  • the projection exposure apparatus of the present invention employs the stage device.
  • FIG. 1 is a configuration diagram of a projection exposure apparatus according to a first embodiment.
  • FIG. 2 is a perspective view of a stage device 17 of the first embodiment.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view (cross-sectional view cut along the ZX plane) of a rear end portion of the X stage 17X of the first embodiment.
  • FIG. 4 (a) is a cross-sectional view (a cross-sectional view cut along a ZX plane) illustrating an airflow around a rear end portion of a conventional X stage 17X.
  • (B) is a cross-sectional view (a cross-sectional view cut along the ZX plane) explaining the airflow around the rear end of the X stage 17X of the first embodiment.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view (cross-sectional view cut along a ZX plane) showing an X stage 17X in which a cowl portion 19 ′ is formed of a transparent material.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view (cross-sectional view cut along a ZX plane) of a rear end of an X stage 17X according to a second embodiment.
  • FIG. 8 is a perspective view of a rear end of an X stage 17X of a second embodiment.
  • FIG. 9 is a cross-sectional view (a cross-sectional view cut along a ZX plane) illustrating an airflow around a rear end of an X stage 17X of a second embodiment.
  • FIG. 10 is a schematic sectional view (a sectional view cut along a ZX plane) of a rear end portion of an X stage 17X of a third embodiment.
  • FIG. 11 (a) is a perspective view of a rear end of an X stage 17X of a third embodiment. (b) is a perspective view showing a rear end of the X stage 17X in which the cowl section 19 is provided with a plurality of minute outlets 30a '.
  • FIG. 12 Schematic cross-sectional view (cross-sectional view cut along the ZX plane) showing the rear end of the X stage 17X in which two blowout ports 40a-1, 40a-2 are provided on the rounded surface portion of the cowl portion 19 " It is.
  • FIG. 13 is a diagram illustrating a stage device 17 according to a fourth embodiment.
  • FIG. 14 is a perspective view of an X-stage 57X provided with a cowl portion 59 having a smooth surface continuous with left and right surfaces.
  • FIG. 15 (a) is a perspective view illustrating an airflow around an X stage 57X.
  • (b) is a perspective view for explaining the outer shape of the X stage 67X and the airflow around it.
  • (C) is a perspective view for explaining the outer shape of the X stage 77X and the airflow around it.
  • FIG. 16 (a) is a perspective view of an X stage (cylindrical stage) provided with the cowl portion 59 shown in FIG. 14 (a) on both front and rear sides.
  • (B) is a perspective view of a stage (a kyatumble type stage) in which the cowl section 69 shown in FIG. 14 (b) is provided on both front and rear sides.
  • FIG. 14C is a perspective view of an X stage (capsule type stage) provided with the cowl portion 79 shown in FIG. 14C on both the front and rear sides.
  • FIG. 1 a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 1, FIG. 2, FIG. 3, FIG. 4, FIG.
  • This embodiment is an embodiment of a projection exposure apparatus.
  • the projection exposure apparatus includes a light source 11, a fly-eye lens 12, a dichroic mirror 13, a condenser lens 14, and the like. These optical systems are illumination optical systems.
  • the projection exposure apparatus includes a reticle 15, a projection optical system 16, and a stage device 17.
  • the wafer W is placed on the stage device 17.
  • the entire atmosphere (air) of the projection exposure apparatus is temperature-controlled.
  • the space for accommodating the stage device 17 is designed to suppress air fluctuations that cause the measurement accuracy of the length measuring interferometers 20X and 20Y (20Y is not shown in FIG. 1; see FIG. 2 and detailed later). Therefore, the temperature is precisely controlled (air-conditioned) by the gas supply device AC.
  • the illumination light emitted from the light source 11 illuminates the reticle 15 via a fly-eye lens 12, a dichroic mirror 13, and a condenser lens 14 with Koehler illumination.
  • the projection optical system 16 forms an image of the reticle 15 on the wafer W.
  • a partial area E on the surface of the wafer W is exposed.
  • the stage device 17 moves the wafer W in a plane perpendicular to the optical axis AX of the projection optical system 16 (hereinafter, illustrated).
  • the explanation will be given using an XYZ orthogonal coordinate system in which the direction of the optical axis AX is the Z direction and this plane is the XY plane.)
  • the gas supply device AC supplies gas whose temperature is controlled along the Z direction from the top in the Z direction toward the stage device 17. The force that allows the wafer W to move in the Z direction is not described here.
  • the stage device 17 includes a Y stage 17Y, an X stage 17 ⁇ , a length measuring interferometer 20 ⁇ , 20 ⁇ , a moving mirror 18X, 18Y, and the like. Also, as shown in Fig. Also equipped with guide rails GY and GX.
  • the guide rail GY is provided on a stand (not shown).
  • the Y stage 17Y is movable on a guide rail GY in a predetermined direction (hereinafter, referred to as a Y direction) in an XY plane.
  • the guide rail GX is provided on the Y stage 17Y.
  • the X stage 17X is movable on the guide rail GX in a predetermined direction (hereinafter, referred to as X direction) orthogonal to the Y direction in the XY plane.
  • Such a stage 17X can move in the Y direction together with the Y stage 17Y, and can move in the X direction independently of the Y stage 17Y.
  • This stage corresponds to the support base in the 17X power claim.
  • wafer holder WH On X stage 17X, wafer holder WH is fixed. The wafer holder WH holds the wafer W.
  • a coil (not shown) constituting a linear motor is disposed inside the guide rails GY and GX, and a linear motor is provided inside the Y stage 17Y and the X stage 17X (on the guide rails GY and GX side). Are arranged.
  • the position of the X stage 17X in the Y direction and the position in the X direction are measured by length measuring interferometers 20Y and 20 °, respectively, which are arranged on a stand (not shown).
  • the length measuring interferometer 20 emits a light beam (laser beam) LY for position measurement toward an end in the ⁇ direction of the X stage 17X (hereinafter, referred to as an end on the + ⁇ side).
  • a light beam laser beam
  • a movable mirror 18Y that reflects the light beam LY is provided at an end on the + ⁇ side of the X stage 17X.
  • the length measuring interferometer 20 ⁇ measures the position based on the light beam LY reflected by the moving mirror 18Y, and generates a signal indicating the position of the X stage 17 ⁇ in the ⁇ direction.
  • the length measuring interferometer 20 ⁇ emits a position measurement light beam (laser beam) LX toward the end of the X stage 17X in the X direction (hereinafter referred to as the + ⁇ end).
  • a movable mirror 18X that reflects the light beam LX is provided.
  • the length measuring interferometer 20X measures the position based on the light beam LX reflected by the moving mirror 18X, and generates a signal indicating the position of the X stage 17X in the X direction.
  • the length of the movable mirror 18Y in the X direction is secured by the stroke of the X stage 17X in the X direction, and the length of the movable mirror 18X in the Y direction is the Y direction of the stage 17X. Of the stroke.
  • the scanning exposure method is applied to the projection exposure apparatus of the present embodiment, and the movement direction of the exposure area E during the exposure time of one shot S is the + X direction or the X direction.
  • the X stage 17X moves (hereinafter, this movement is referred to as “stage scan”).
  • the direction of the stage scan is the X direction or the + X direction.
  • the direction of movement of the X stage 17X during the exposure is, for example, as shown by the arrow in FIG.
  • the position where the movable mirror 18X is provided corresponds to the rear end of the X stage 17X during the stage scan in the X direction.
  • the optical path of the light beam LX is located behind the movable mirror 18X at this time.
  • the X direction is forward
  • the + X direction is backward
  • the + Y direction is right
  • the Y direction is left
  • the + Z direction is up
  • the Z direction is down.
  • a cowl portion 19 is provided on the rear side of the X stage 17X.
  • the outer shape of the cowl portion 19 has a columnar shape with a substantially fan-shaped bottom at an angle of 90 °.
  • the position and posture of the cowl portion 19 are such that the longitudinal direction (the direction corresponding to the height of the column) is oriented in the Y direction, and the smooth surface of the round shape (substantially cylindrical side surface shape) is It is set to be continuous.
  • Such a cowl portion 19 smoothens the edge formed by the rear surface and the upper surface of the movable mirror 18X.
  • the region where the optical path EL of the light beam LX is to be A gap is provided in a region facing the reflecting surface M of the movable mirror 18X, into which the light beam LX can enter.
  • the shape of the opening 19a of such a gap is a slit shape that is long in the Y direction as shown in Fig. 2.
  • the material of the cowl portion 19 has a rigidity that does not deform at least during the movement of the X stage 17X. It is a material that is lightweight enough to have no limitation on the moving speed and moving amount of the X stage 17X. Also, it is a material suitable for forming the outer shape of the cowl portion 19 into an appropriate shape (a resin material or the like).
  • FIG. 4 (a) shows the vicinity of the rear end of the X stage 17X of the conventional projection exposure apparatus for comparison.
  • FIG. 4B is a diagram showing the vicinity of the rear end of the X stage 17X of the projection exposure apparatus of the present embodiment.
  • the only difference between the conventional projection exposure apparatus and the projection exposure apparatus of the present embodiment is the presence or absence of the cowl section 19 (the point where the scanning method is applied and the stage scanning direction are the same).
  • the coils of the linear motor are arranged as described above. Although the temperature of the entire atmosphere of the stage device 17 is controlled, each time the stage device 17 is driven, heat is generated in the coil. Therefore, the temperature of the gas in this region EH is equal to the temperature of the gas in other regions. (At least higher than the temperature of the optical path EL of the light beam LX.) 0
  • the gas in the high-temperature region EH is prevented from being swirled up and taken into the optical path EL. Therefore, the temperature fluctuation of the optical path EL of the light beam LX is reduced, and the accuracy of position measurement by the length measuring interferometer 20X (see FIGS. 1 and 2) is maintained.
  • the accuracy of the position measurement of the length measuring interferometer 20X is maintained in this way, the accuracy of the position measurement in the X direction during the stage scan in the X direction is maintained, and the exposure accuracy of the projection exposure apparatus is also maintained.
  • the width of the gap in the Z direction is set to be sufficiently narrow to about the width of the optical path EL of the light beam LX. It is assumed that no gas flows into the gap during the stage scan in the X direction. Therefore, it can be considered that the regular airflow is not disturbed.
  • the stage device 17 of the present embodiment is provided with the cowl portion 19, the influence of the heat source (here, the coil of the linear motor) on the length measuring interferometer 20X can be suppressed. Further, since the projection exposure apparatus of the present embodiment includes such a stage device 17, the exposure accuracy can be kept high.
  • the opening 19a of the gap may be sealed with a window member 19b transparent to the light beam LX.
  • the shape of the surface of the window material 19b is smoothly adjusted so as to be continuous with the shape of the surface of the cowl portion 19.
  • the material of the window material 19b prevents the inflow of gas such as a protective film, glass, resin, and the like used for general optical elements (at least the gas of various types used as the atmosphere of the stage device 17).
  • a material that prevents inflow and transmits the light beam LX is applied.
  • the material is
  • the X stage 17X has a rigidity at least not to be deformed during the movement of the X stage 17X, and is light enough not to limit the moving speed and the moving amount of the X stage 17X.
  • the refractive index and thickness of the window material 19b are parameters that determine the characteristics of the optical path EL.
  • the gap is sealed by such a window member 19b, the regular turbulence of the airflow is reliably prevented even if the width of the gap (the width of the opening 19a) is somewhat wide.
  • the length measuring interferometer 20X Since the characteristics of the optical path EL are changed by inserting the window material 19b, the length measuring interferometer 20X needs to be separately calibrated.
  • the entire gap may be filled with the same material as the window material 19b.
  • the entire cowl portion may be formed of a material transparent to the light beam LX, and the gap may be eliminated (the cowl may be provided). Part 19,).
  • a material that prevents gas from flowing in and transmits the light beam LX such as glass and resin used in general optical elements, is applied.
  • the length measuring interferometer 20X needs to be separately calibrated.
  • the measured value may be corrected based on at least one of the position and orientation of the stage device 17 in the Z direction (around the X axis and rotation around the Z or Y axis).
  • a cavity may be provided inside the cowl portions 19, 19 'for lightweight dagger.
  • FIG. 7 a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 7, 8, and 9.
  • FIG. 8 a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 7, 8, and 9.
  • the present embodiment is an embodiment of a stage device applicable to a projection exposure apparatus instead of the stage device 17 of the first embodiment. Here, only the differences from the stage device 17 of the first embodiment will be described.
  • stage 17X As shown in FIG. 7, the X-stage 17X of the present embodiment is provided with an air guide tube 21 in addition to the cowl 19.
  • the introduction port 21b of the air guide tube 21 is provided at the front end of the X-stage 17X, and the outlet (nozzle) 21a of the air guide tube 21 is provided near the surface of the cowl portion 19 (an R-shaped surface). (In Fig. 7, it is provided on the upper surface of the moving mirror 18X.) O
  • the blowing direction of the outlet 21a coincides with the tangential direction of the surface of the cowl portion 19 (an R-shaped surface) or the upper surface of the movable mirror 18X. It matches the direction.)
  • the introduction direction of the introduction port 21b is the front-back direction of the X-tage 17X.
  • the size of the outlet 21a is smaller than the size of the inlet 21b! / ,.
  • the shape of the outlet 21a is a slit that is long in the Y direction.
  • the length of the outlet 21a in the Y direction is at least as long as the length of the opening 19a of the cowl portion 19 in the Y direction.
  • gas in front of the X stage 17X is introduced into the air guide tube 21 from the inlet 21b.
  • the gas introduced into the air guide pipe 21 flows toward the rear inside the air guide pipe 21 (see the arrow), and is then blown out from the outlet 21a in a tangential direction on the upper surface of the movable mirror 18X.
  • the air guide tube 21 has a function to jet the introduced gas (to increase the flow velocity).
  • a jet flows from the outlet 21a.
  • the jet produces the Coanda effect, and as shown by the arrow in FIG. 9, a high-speed airflow is drawn to the upper surface of the moving mirror 18X and the surface of the cowl portion 19 (an arc-shaped surface), and the temperature rises. It is ensured that the gas in the high-area region EH and the entrainment in the optical path EL are prevented. Therefore, the temperature fluctuation of the optical path EL of the light beam LX is reliably reduced, and the length measurement interferometer 20X (see FIGS. 1 and 2) is used. Therefore, the accuracy of the position measurement is surely maintained.
  • stage device 17 of the present embodiment is provided with the cowl portion 19 and the air guide tube 21, the influence of the heat source (here, the coil of the linear motor) on the length measuring interferometer 20X can be definitely confirmed. Can be suppressed.
  • the gap between the cowl portions 19 of the present embodiment can be modified as shown in Figs.
  • FIG. 10 is an embodiment of a stage device applicable to a projection exposure apparatus instead of the stage device of the second embodiment.
  • stage device of the second embodiment is an embodiment of a stage device applicable to a projection exposure apparatus instead of the stage device of the second embodiment.
  • the X stage 17X of the present embodiment is provided with an air guide tube 30 and a blower (blower) 31 instead of the air guide tube 21.
  • An inlet 30b of the air guide tube 30 is connected to the blower 31, and an air outlet (nozzle) 30a of the air guide tube 30 is provided near the surface (the R-shaped surface) of the cowl portion 19 (Fig. 10). Is provided on the upper surface of the movable mirror 18X.)
  • the blowing direction of the air outlet 30a coincides with the tangential direction of the surface of the cowl portion 19 (an R-shaped surface) or the upper surface of the movable mirror 18X. O)
  • the shape of the air outlet 30a is a slit shape long in the Y direction.
  • the length of the outlet 30a in the Y direction is at least the same as the length of the opening 19a of the cowl portion 19 in the Y direction. Is secured.
  • the blower 31 may be fixed to any of the X stage 17X, the Y stage 17Y, and a mount (not shown).
  • the air guide tube 30 is flexible (at least a part of the tube is freely bendable) and has at least a stroke in the X direction of the X stage 17X. It is set to a length with a margin.
  • the air guide tube 30 is flexible and has a length that allows at least the stroke of the X stage 17X in the X and ⁇ directions. Is set to
  • the blower 31 is driven at least during stage scanning in the X direction. At this time, the blower 31 flows a gas of the same type as the gas used as the atmosphere of the stage 17X and the temperature of which is controlled to the same temperature as the gas at a constant flow rate into the inlet 30b of the air guide tube 30.
  • a jet flows from the outlet 30a of the air guide tube 30. The jet generates a Coanda effect, and an air flow is generated at such a speed as to be sucked and brought close to the upper surface of the movable mirror 18X and the surface of the cowl portion 19 (an R-shaped surface).
  • the stage device 17 of the present embodiment is provided with the cowl portion 19, the air guide tube 30, and the blower 31, so that the influence of the heat source (here, the coil of the linear motor) on the length measuring interferometer 20X is limited. Can be reliably suppressed.
  • FIG. 11 (b) instead of the air guide tube 30 having the slit-shaped outlet 30a (FIG. 11 (a)), as shown in FIG. 11 (b), a plurality of minute outlets arranged at regular intervals in the Y direction.
  • An air guide tube 30 'having 30a' may be used. Since the jet flows out from each outlet 30a ', the same effect as when the air guide tube 30 (FIG. 11 (a)) is used can be obtained.
  • Note that such a plurality of minute air outlets can be similarly applied to the air guide tube 21 (see FIGS. 7 and 8) of the second embodiment.
  • the position where the air outlet is provided may be, for example, as shown by reference numerals 40a-1 and 40a-2 in Fig. 12, even on the round surface portion of the cowl portion (reference numeral 19 "in Fig. 12). Good.
  • FIG. 12 shows two air guide tubes 40-1 and 40-2 and two air outlets 40a-1 and 40a-2 provided on the Arnole-shaped surface of Kaunore 19 ". .
  • two outlets 40a-1 and 40a-2 are arranged in order from the upstream side so as to sandwich the opening 19a of the gap of the cowl portion 19 ".
  • the jet from the outlet 40a-1 located on the upstream side is dragged by the jet of the force of the outlet 40a-2 located on the downstream side, so that the airflow due to the Coanda effect as shown by the arrow in the figure is near the opening 19a. It is expected to be continuous without any disturbance.
  • This embodiment is an embodiment of a stage device applicable to a projection exposure apparatus instead of the stage device 17 of each of the above embodiments.
  • the same components as those in the above embodiments are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.
  • the stage device 17 of the present embodiment mainly includes a support 17a and an XY stage 17b as a movable portion.
  • the support 17a includes a wafer holder WH having a support surface on which the wafer W is mounted, and the support surface of the wafer holder WH is formed substantially the same as the upper surface of the support 17a.
  • a cowl (curved surface) 19 is provided, and the outer surface is almost continuous from the support surface of the wafer holder WH to the upper portion of the support 17a and the cowl 19. ing.
  • a reflection surface (moving mirror) is provided on a surface of the support 17a facing the length measuring interferometers 20X and 20Y (a position for receiving light from the length measuring interferometers 20X and 20Y).
  • the cowl section 19 the various forms described above can be applied.
  • FIG. 13 shows an example in which the movable mirror is formed of the same member as the support 17a.
  • the XY stage 17b is mounted on a reference plane BP parallel to the XY plane so as to be two-dimensionally movable through an air bearing (not shown) in a non-contact manner, and extends along the reference plane BP. It can be moved by a linear motor (not shown).
  • the outer shape of the XY stage 17b as viewed in the XY plane is formed in a cylindrical shape. Since the XY stage 17b is formed smaller than the support 17a, when the support 17a is placed, the support 17a protrudes along the XY plane.
  • the stage device 17 of the present embodiment since the outer surface of the support 17a is a substantially continuous surface, when the stage device 17 moves, the turbulence of the air flow on the support 17a is suppressed. can do. In particular, at the time of scan exposure, it is necessary to constantly measure the position of the stage device 17 with high accuracy even during the scanning operation. However, according to the stage device 17 of the present embodiment, even when the stage device 17 is moving, Since the fluctuation can be suppressed, the measurement accuracy of the length measuring interferometers 20X and 20Y can be kept high. In particular, when down-flow air conditioning is performed by the gas supply device AC (not shown in FIG. 13; see FIG. 1), the air flows along the surface of the support 17a, so that the Coanda effect is further improved. It is promoted and air fluctuation can be suppressed.
  • stage 17 of the present embodiment is configured such that the support base 17a protrudes from the XY stage 17b, the high temperature on the reference plane BP and the winding of air in the region EH Less susceptible to interference. Furthermore, since the XY stage 17b has a cylindrical outer shape, the turbulence of the air in the region EH during the movement of the XY stage 17b can be suppressed.
  • the cowl portion having a smooth surface continuous with the upper surface of the movable mirror 18X is shown.
  • the cowl portion has a smooth surface continuous with the left and right surfaces of the stage.
  • a cowl portion 59 may be used.
  • the entire X stage provided with the movable mirror and the cowl section 59 is indicated by reference numeral 57X.
  • reference numeral M denotes a reflecting surface of the movable mirror
  • reference numeral 59a denotes an opening through which the light flux LX passes.
  • a cowl portion 69 having a smooth surface continuous with the upper and lower surfaces of the stage may be used.
  • the entire X stage provided with the movable mirror and the cowl section 69 is indicated by reference numeral 67X.
  • the reflecting surface and aperture of the movable mirror are not shown.
  • a cowl portion 79 having a smooth surface continuous with the upper surface and the lateral surface of the X stage may be used.
  • the entire X stage provided with the movable mirror and the cowl section 79 is indicated by reference numeral 77X.
  • the reflecting surface and aperture of the movable mirror are not shown.
  • each cowl portion may be a separate member from the X stage or the same member as long as the above conditions (conditions such as rigidity and weight) are satisfied!
  • cowl portion is formed only at the rear end of the X stage.
  • the front end of the X stage may be added. Good.
  • FIG. 16 (a) shows a stage (a cylindrical stage) in which the cowl portion 59 shown in FIG. 15 (a) is provided at both the front end and the rear end.
  • FIG. 16 (b) shows an X stage (Katabira type stage) in which the cowl portion 69 shown in FIG. 15 (b) is provided at both the front end and the rear end.
  • FIG. 16 (c) shows a stage (capsule type stage) in which the cowl portion 79 shown in FIG. 15 (c) is provided at both the front end and the rear end.
  • a similar cowl portion may be provided on the optical path side of the movable mirror 18Y.
  • the heat source here, the ) On the length measuring interferometer 20Y.
  • measuring length interferometer 20X measures the position in the stage scan direction (here, X direction). Therefore, it is necessary to provide a cowl section on the optical path side of the moving mirror 18X.
  • the shape of the cowl portion and the air guide tube (shape and size of the curved surface, etc.), the driving conditions of the blower, and the like are determined by the viscosity of the gas (determined by the type of the gas, the temperature of the gas, and the like), and the stage device. It is desirable to select as appropriate according to the size of each part of 17 and the characteristics of X-tage 17X (characteristics related to movement). The selection is made by experiment or calculation.

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Abstract

 ステージの熱源が光学的な位置測定に与える影響を抑えることのできるステージ装置を提供する。そのために、本発明のステージ装置は、物体を支持し、少なくとも1つの所定方向に移動可能な支持台(17X)と、前記支持台に固定され、前記支持台の前記所定方向への移動時に後方から投光される位置測定用の光束を反射する反射面(18X)と、前記支持台に固定され、前記支持台の前記所定方向への移動時に前記反射面の後側の空間に生じる気流を整流する表面形状をしたカウル部(19)とを備える。この整流された気流(規則的な気流)が、支持台の下部などに存在する高温な気体の巻き込みを防ぐ。                                                                             

Description

明 細 書
ステージ装置及び投影露光装置
技術分野
[0001] 本発明は、投影露光装置のウェハステージなど、精密な位置測定の必要なステー ジ装置、特に、光学的な位置測定が適用されたステージ装置に関する。また、本発 明は、そのステージ装置を備えた投影露光装置に関する。
背景技術
[0002] 投影露光装置においてウェハを載置するステージ (支持台)は、測長干渉計により 精密に位置測定される (特許文献 1 ,特許文献 2など)。
ステージには、測長干渉計の移動鏡が固定される。移動鏡は、測長干渉計から投 光されるレーザ光 (位置測定用の光束)を反射する。測長干渉計は、反射されたその 光束に基づきステージの位置測定をする。
[0003] 特に、露光方式としてスキャン方式が適用された投影露光装置では、 1ショット分の 露光を、ステージを移動させながら行うため、その位置測定に対し要求される精度は 高い。
特許文献 1:特開平 5— 6850号公報
特許文献 2 :特開平 5—283313号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0004] しかし、ステージが移動すると、モータ等のステージの熱源力 発生する熱により、 ステージの雰囲気に温度揺らぎが生じる。この温度揺らぎが位置測定用の光束の光 路にまで及ぶと、光路の屈折率が不安定となり、位置測定の精度が低下する。
特に、スキャン方式が適用された投影露光装置においては、この位置測定の精度 低下は露光精度の低下に直結するので深刻である。
[0005] そこで本発明は、ステージの熱源が光学的な位置測定に与える影響を抑えることの できるステージ装置を提供することを目的とする。
また、本発明は、露光精度が高く保たれた投影露光装置を提供することを目的とす る。
課題を解決するための手段
[0006] 本発明のステージ装置は、物体を支持し、少なくとも 1つの所定方向に移動可能な 支持台と、前記支持台に固定され、前記支持台の前記所定方向への移動時に後方 から投光される位置測定用の光束を反射する反射面と、前記支持台に固定され、前 記支持台の前記所定方向への移動時に前記反射面の後側の空間に生じる気流を 整流する表面形状をしたカウル部とを備えたことを特徴とする。
[0007] このステージ装置には、少なくとも前記支持台の前記所定方向への移動時に、温 調された気体を導入すると共にその気体を前記カウル部の表面に沿って吹き出す導 気管がさらに備えられてもよい。
また、前記導気管は、少なくとも前記支持台の前記所定方向への移動時に前記気 体を噴流化する機能を有して ヽてもよ ヽ。
[0008] また、前記導気管は、導入口と、前記カウル部の表面近傍に吹出口とを設けており 、前記吹出口のサイズは、前記導入口のサイズよりも小さく設定されてもよい。
また、前記導気管は、温調された気体を送風する送風器に導入口を連結し、前記 カウル部の表面近傍に吹出口を設けてもよい。
また、本発明の投影露光装置は、投影光学系と、本発明の何れかのステージ装置 とを備えたことを特徴とする。
[0009] この投影露光装置の露光方式として、前記ステージ装置の前記支持台を前記所定 方向に移動させつつ露光を行うスキャン方式が適用されてもょ 、。
また、本発明の別のステージ装置は、物体を支持し、所定平面内を移動可能な支 持台を備えるステージ装置であって、前記支持台は、前記所定平面と平行に延在し 前記所定平面と略直交する反射面を有する反射部と、前記反射部に沿って該反射 部より凸に形成された曲面部とを備えることを特徴とする。
[0010] この場合において、前記曲面部を、前記所定平面と前記反射面とに平行な軸を中 心軸とする円筒面の一部を含むものとすることができる。
また、前記支持台は、前記物体を支持する支持面を有し、前記曲面部は、前記支 持面と実質的に連続する曲面を有するものとしてもょ ヽ。 また、前記反射部と前記曲面部とは、同一の反射部材に形成されているものとする ことちでさる。
[0011] さらに、本発明のステージ装置において、前記所定平面上に載置され、前記支持 台を保持して移動可能な可動部を備え、前記支持台は、前記可動部よりも張り出し て載置されたものとすることができる。
また、本発明の露光装置は、露光光により物体上にパターンを形成する露光装置 であって、前記物体を支持して移動するステージ装置として本発明の何れかのステ ージ装置を用いることを特徴とする。
[0012] この場合にお 、て、この露光装置は、前記ステージ装置が移動する前記所定平面 に対して略直交する方向から前記所定平面に向力つて温調された気体を供給する 気体供給装置を備えるものとしてもょ 、。
発明の効果
[0013] 本発明のステージ装置では、整流された気流 (規則的な気流)が、支持台の下部に 存在する高温気体の光路への巻き込みを防ぐ。また、その他の箇所に存在する高温 気体の光路への巻き込みを防止すると!、う効果も期待できる。
したがって、本発明によれば、ステージの熱源が光学的な位置測定に与える影響 を抑えることのできるステージ装置が実現する。
[0014] また、本発明の投影露光装置は、そのステージ装置を適用している。
したがって、本発明によれば、露光精度が高く保たれた投影露光装置が実現する。 図面の簡単な説明
[0015] [図 1]第 1実施形態の投影露光装置の構成図である。
[図 2]第 1実施形態のステージ装置 17の斜視図である。
[図 3]第 1実施形態の Xステージ 17Xの後端部の断面図 (ZX平面で切断した断面図 )である。
[図 4] (a)は、従来の Xステージ 17Xの後端部の周辺の気流を説明する断面図(ZX 平面で切断した断面図)である。(b)は、第 1実施形態の Xステージ 17Xの後端部の 周辺の気流を説明する断面図(ZX平面で切断した断面図である。 )
[図 5]カウル部 19に窓材 19bを設けた Xステージ 17Xを示す断面図(ZX平面で切断 した断面図)である。
[図 6]カウル部 19'が透明な材料で形成された Xステージ 17Xを示す断面図(ZX平 面で切断した断面図)である。
[図 7]第 2実施形態の Xステージ 17Xの後端部の断面図 (ZX平面で切断した断面図 )である。
[図 8]第 2実施形態の Xステージ 17Xの後端部の斜視図である。
[図 9]第 2実施形態の Xステージ 17Xの後端部の周辺の気流を説明する断面図 (ZX 平面で切断した断面図)である。
[図 10]第 3実施形態の Xステージ 17Xの後端部の概略断面図 (ZX平面で切断した 断面図)である。
[図 11] (a)は、第 3実施形態の Xステージ 17Xの後端部の斜視図である。 (b)は、カウ ル部 19に複数の微小な吹出口 30a'を設けた Xステージ 17Xの後端部を示す斜視 図である。
[図 12]カウル部 19"のアール状の表面部分に 2つの吹出口 40a— 1, 40a— 2を設けた Xステージ 17Xの後端部を示す概略断面図(ZX平面で切断した断面図)である。
[図 13]第 4実施形態のステージ装置 17を説明する図である。
[図 14]左右の面と連続する滑らかな表面を有したカウル部 59が設けられた X テー ジ 57Xの斜視図である。
[図 15] (a)は、 Xステージ 57Xの周辺の気流を説明する斜視図である。 (b)は、 Xステ ージ 67Xの外形とその周辺の気流を説明する斜視図である。(c)は、 Xステージ 77X の外形とその周辺の気流を説明する斜視図である。
[図 16] (a)は、図 14 (a)に示したカウル部 59を前後双方に設けた Xステージ(円柱型 のステージ)の斜視図である。 (b)は、図 14 (b)に示したカウル部 69を前後双方に設 けた テージ (キヤタビラ型のステージ)の斜視図である。(c)は、図 14 (c)に示した カウル部 79を前後双方に設けた Xステージ (カプセル型のステージ)の斜視図である 発明を実施するための最良の形態
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。 [第 1実施形態]
以下、図 1、図 2、図 3、図 4、図 5、図 6を参照して本発明の第 1実施形態について 説明する。
本実施形態は、投影露光装置の実施形態である。
[0017] 先ず、投影露光装置の構成について説明する。
投影露光装置には、図 1に示すように、光源 11、フライアイレンズ 12、ダイクロイツク ミラー 13、コンデンサレンズ 14などが備えられる。これらの光学系が照明光学系であ る。また、投影露光装置には、レチクル 15、投影光学系 16、ステージ装置 17が備え られる。ステージ装置 17上にウェハ Wが配置される。この投影露光装置の全体の雰 囲気 (空気)は、温調されている。特に、ステージ装置 17を収納する空間は、測長干 渉計 20X、 20Y(20Yは図 1には不図示。図 2参照。詳細後述)の計測精度の悪ィ匕を 招く空気揺らぎを抑制するため、気体供給装置 ACにより精密に温調 (空調)されてい る。
[0018] 光源 11から射出した照明光は、フライアイレンズ 12、ダイクロイツクミラー 13、コンデ ンサレンズ 14を介してレチクル 15をケーラー照明する。この状態で投影光学系 16は 、レチクル 15の像をウェハ W上に結像する。これにより、ウェハ Wの表面の一部の領 域 Eが露光する。
領域 E (露光領域)のウェハ Wの表面上における位置を制御するため、ステージ装 置 17は、投影光学系 16の光軸 AXに対し垂直な平面内でウェハ Wを移動させる(以 下、図示したとおり、光軸 AXの方向を Z方向とし、この平面を XY平面とした XYZ直 交座標系を用いて説明する。 ) oそして、ウェハ Wの露光動作を含む投影露光装置 の稼働中は、気体供給装置 ACがステージ装置 17に向けて Z方向上部から Z方向に 沿って温調された気体を供給する、 V、わゆるダウンフロー方式で空調を行って 、る。 なお、ウェハ Wは Z方向にも移動可能である力 その方向へ移動するための機構の 説明は省略する。
[0019] 次に、ステージ装置 17の構成について説明する。
ステージ装置 17には、図 1、図 2に示すように、 Yステージ 17Y、 Xステージ 17Χ、 測長干渉計 20Χ、 20Υ、移動鏡 18X、 18Yなどが備えられる。また、図 2に示すよう に、ガイドレール GY、 GXなども備えられる。
ガイドレール GYは、不図示の架台上に設けられる。
[0020] Yステージ 17Yは、ガイドレール GYの上を XY平面内の所定方向(以下、 Y方向と する。 )に移動可能である。
ガイドレール GXは、 Yステージ 17Yの上に設けられる。
Xステージ 17Xは、ガイドレール GXの上を XY平面内において Y方向に直交する 所定方向(以下、 X方向とする。 )に移動可能である。
[0021] このような テージ 17Xは、 Yステージ 17Yと共に Y方向に移動可能であり、かつ 、 Yステージ 17Yとは独立に、 X方向に移動可能である。この テージ 17X力 請 求項における支持台に対応する。
X テージ 17X上には、ウェハホルダ WHが固定される。ウェハホルダ WHは、ゥェ ハ Wを保持する。
[0022] なお、ガイドレール GY、 GXの内部には、リニアモータを構成する不図示のコイル が配置され、 Yステージ 17Y、 Xステージ 17Xの内部(ガイドレール GY, GX側)には 、リニアモータを構成する不図示の磁石が配置されている。
X テージ 17Xと Yステージ 17Yとを Y方向に移動させる際には、ガイドレール GY 内のコイルに対し必要な量の駆動信号が与えられ、 テージ 17Xを X方向に移動さ せる際には、ガイドレール GX内のコイルに対し必要な量の駆動信号が与えられる。
[0023] この X テージ 17Xの Y方向の位置、 X方向の位置は、不図示の架台上に配置さ れた測長干渉計 20Y、 20Χによってそれぞれ測定される。
測長干渉計 20Υは、 Xステージ 17Xの Υ方向の端部(以下、 +Υ側の端部とする。 ) に向けて位置測定用の光束 (レーザ光) LYを投光する。
X テージ 17X上の +Υ側の端部には、光束 LYを反射する移動鏡 18Yが設けら れる。
[0024] 測長干渉計 20Υは、移動鏡 18Yが反射した光束 LYに基づき位置測定を行 、、 X ステージ 17Χの Υ方向の位置を示す信号を生成する。
測長干渉計 20Χは、 Xステージ 17Xの X方向の端部(以下、 +Χ側の端部とする。 ) に向けて位置測定用の光束 (レーザ光) LXを投光する。 X テージ 17X上の +X側向の端部には、光束 LXを反射する移動鏡 18Xが設けら れる。
[0025] 測長干渉計 20Xは、移動鏡 18Xが反射した光束 LXに基づき位置測定を行 、、 X ステージ 17Xの X方向の位置を示す信号を生成する。
なお、図 2に示すとおり、移動鏡 18Yの X方向の長さは、 Xステージ 17Xの X方向の ストロークの分だけ確保され、移動鏡 18Xの Y方向の長さは、 テージ 17Xの Y方 向のストロークの分だけ確保される。
[0026] ここで、本実施形態の投影露光装置には、スキャン方式が適用されており、 1ショッ ト Sの露光時間における露光領域 Eの移動方向は、 +X方向又は X方向である。こ のとき X テージ 17Xは移動する(この移動を、以下、「ステージスキャン」という。 ) oス テージスキャンの方向は、 X方向又は +X方向である(因みに、ウェハ W上の全域 に各ショットの露光をする際の Xステージ 17Xの移動方向は、例えば図 2中の矢印の とおりである。 ) o
[0027] よって、移動鏡 18Xの設けられた箇所は、 X方向へのステージスキャン中の Xステ ージ 17Xの後端部に相当する。光束 LXの光路は、このときの移動鏡 18Xの後側に 位置する。
以下、 X方向へのステージスキャン中の Xステージ 17Xに着目し、 X方向を前、 +X方向を後、 +Y方向を右、 Y方向を左、 +Z方向を上、 Z方向を下とみなして 説明する。
[0028] 本実施形態では、図 2及び図 3に示すとおり、 Xステージ 17Xの後側にカウル部 19 が設けられている。
カウル部 19の外形は、角度 90° の略扇状の底面を有した柱状をしている。
カウル部 19の設けられる位置及び姿勢は、長手方向(柱の高さに相当する方向) が Y方向に向き、かつアール状 (略円柱側面状)の滑らかな表面部分が移動鏡 18X の上面と連続するように設定される。
[0029] このようなカウル部 19は、移動鏡 18Xの後面と上面とで形成されるエッジを円滑ィ匕 する。
また、図 3に示すとおり、カウル部 19において光束 LXの光路 ELとなるべき領域、つ まり光束 LXが入射し得る移動鏡 18Xの反射面 Mの対向領域には、間隙が設けられ ている。
[0030] このような間隙の開口 19aの形状は、図 2に示すとおり Y方向に長いスリット状である また、カウル部 19の材料は、少なくとも Xステージ 17Xの移動中に変形しない程度 の剛性を有し、かつ Xステージ 17Xの移動速度及び移動量に制限を与えない程度 に軽量な材料である。また、カウル部 19の外形を適当な形状に成形するのに適した 材料である (樹脂材料など)。
[0031] 次に、本実施形態の効果について説明する。
図 4 (a)には、比較のため、従来の投影露光装置の Xステージ 17Xの後端部周辺を 示した。図 4 (b)が、本実施形態の投影露光装置の Xステージ 17Xの後端部周辺を 示す図である。従来の投影露光装置と本実施形態の投影露光装置との相違点は、 カウル部 19の有無のみとする (スキャン方式が適用された点やステージスキャン方向 などは同じとする。)。
[0032] 従来、図 4 (a)に示すとおり X方向へのステージスキャン中には(白抜き矢印参照) 、 X テージ 17Xの前方力も後方に向けて気流が生じる。このとき、移動鏡 18Xの後 面と上面とで形成されるエッジの影響で、移動鏡 18Xの後側の空間には、例えば矢 印で示すような乱れた気流が生じる。
また、 Xステージ 17Xの下部の領域 EHには、上述したとおりリニアモータのコイル が配置されている。ステージ装置 17の全体の雰囲気は温調されているものの、ステ ージ装置 17が駆動される度にコイルでは熱が発生するので、この領域 EHの気体の 温度は、他の領域の気体の温度よりも高くなる傾向にある(少なくとも、光束 LXの光 路 ELの温度よりも高い。 )0
[0033] このため、移動鏡 18Xの後側に乱れた気流が生じると、温度の高い領域 EHの気 体が巻き上げられ、光束 LXの光路 ELに温度揺らぎが生じる。このとき、測長干渉計 20X(図 1、図 2参照)による位置測定の精度が低下する。
このように測長干渉計 20Xの位置測定の精度が低下すると、 X方向へのステージ スキャン中における X方向の位置測定の精度が低下し、投影露光装置の露光精度が 低下する。
[0034] 一方、本実施形態でも、図 4 (b)に示すとおり X方向へのステージスキャン中には( 白抜き矢印参照)、 テージ 17Xの前方力 後方に向けて気流が生じる。しかし、 X ステージ 17Xの後側にはカウル部 19が設けられているので、このとき、矢印で示すよ うに、 X テージ 17Xの前方力も上方を経由して移動鏡 18Xの後方に回り込む規則 的な気流が生じる。
[0035] よって、温度の高い領域 EHの気体の巻き上げ及び光路 ELへの巻き込みは、防止 される。したがって、光束 LXの光路 ELの温度揺らぎは低減され、測長干渉計 20X( 図 1、図 2参照)による位置測定の精度は保たれる。
このように測長干渉計 20Xの位置測定の精度が保たれれば、 X方向へのステー ジスキャン中における X方向の位置測定の精度が保たれ、投影露光装置の露光精 度も保たれる。
[0036] なお、カウル部 19には上記したごとく間隙が設けられるが(図 4 (b)参照)、その間 隙の Z方向の幅は光束 LXの光路 ELの幅程度に十分に狭く設定され、 X方向への ステージスキャン中にその間隙に対し気体は流入しないとする。よって、上記規則的 な気流が乱されることは無 、とみなせる。
以上、本実施形態のステージ装置 17は、カウル部 19を設けているので、熱源 (ここ ではリニアモータのコイル)が測長干渉計 20Xに与える影響は抑えられる。また、本 実施形態の投影露光装置は、このようなステージ装置 17を備えるので、その露光精 度が高く保たれる。
[0037] (その他)
本実施形態のカウル部 19には間隙が設けられたが、図 5に示すように、間隙の開 口 19aは、光束 LXに対し透明な窓材 19bで封止されていてもよい。
窓材 19bの表面の形状は、カウル部 19の表面の形状と連続するよう滑らかに整え られている。
[0038] 窓材 19bの材料には、一般の光学素子に用いられる保護フィルム、ガラス、榭脂な ど、気体の流入を防止 (少なくともステージ装置 17の雰囲気として用いられている種 類の気体の流入を防止)し、かつ光束 LXを透過する材料が適用される。その材料は 、少なくとも Xステージ 17Xの移動中に変形しない程度の剛性を有し、かつ Xステー ジ 17Xの移動速度及び移動量に制限を与えない程度に軽量である。
[0039] 窓材 19bの屈折率及び厚さ(これらは光路 ELの特性を決定するパラメータである。
)は、少なくとも Y方向にかけて一様である。
このような窓材 19bで間隙が封止されていれば、間隙の幅(開口 19aの幅)が多少 広くとも、上記規則的な気流の乱れは、確実に防止される。
なお、窓材 19bの挿入により光路 ELの特性が変化するので、測長干渉計 20Xは別 途校正される必要がある。
[0040] また、窓材 19bを用いる代わりに、窓材 19bと同様の材料で間隙の全部を埋めても よい。
また、本実施形態のカウル部 19には間隙が設けられたが、図 6に示すように、カウ ル部の全体を光束 LXに対し透明な材料で形成し、間隙を無くしてもよい (カウル部 1 9,)。
[0041] このようなカウル部 19'の材料には、一般の光学素子に用いられるガラス、榭脂など 、気体の流入を防止し、かつ光束 LXを透過する材料が適用される。
なお、このように間隙を無くすと光路 ELの特性が変化するので、測長干渉計 20X は別途校正される必要がある。或いは、ステージ装置 17の Z方向位置と姿勢 (X軸ま わり及び Z又は Y軸まわりの回転)との少なくとも一方に基づいて、計測値を補正す るようにしてちょい。
[0042] また、軽量ィ匕のため、カウル部 19, 19'の内部には、空洞が設けられていてもよい。
[第 2実施形態]
以下、図 7、図 8、図 9を参照して本発明の第 2実施形態について説明する。
本実施形態は、第 1実施形態のステージ装置 17に代えて投影露光装置に適用可 能なステージ装置の実施形態である。ここでは、第 1実施形態のステージ装置 17との 相違点についてのみ説明する。
[0043] 相違点は、 テージ 17Xにある。本実施形態の X テージ 17Xには、図 7に示す ように、カウル 19に加えて導気管 21が設けられる。
ここでも、 X方向へのステージスキャン中の Xステージ 17Xに着目し、 X方向を前 、 +X方向を後、 +Y方向を右、 Υ方向を左、 +Ζ方向を上、 Ζ方向を下とみなして 説明する。
[0044] 導気管 21の導入口 21bは、 X テージ 17Xの前端部に設けられ、導気管 21の吹 出口(ノズル) 21aは、カウル部 19の表面 (アール状の表面)の近傍に設けられる(図 7では、移動鏡 18Xの上面に設けられている。 ) o
導気管 21のうち導入口 21b及び吹出口 21aを除く殆どの部分は、移動時に Xステ ージ 17Xの周囲の気流をなるベく乱さないよう、 X テージ 17Xの近傍に設置される ( 図 7では、 テージ 17Xの内部に埋設されている。 ) o
[0045] 吹出口 21aの吹き出し方向は、カウル部 19の表面 (アール状の表面)又は移動鏡 1 8Xの上面の接線方向に一致して 、る(図 7では、移動鏡 18Xの上面の接線方向に 一致している。 ) o
導入口 21bの導入方向は、 X テージ 17Xの前後方向である。
吹出口 21aのサイズは、導入口 21bのサイズよりも小さ!/、。
[0046] 吹出口 21aの形状は、図 8に示すとおり、 Y方向に長いスリット状である。吹出口 21 aの Y方向の長さは、少なくともカウル部 19の開口 19aの Y方向の長さと同じだけ確 保される。
次に、本実施形態の効果について説明する。
図 9に示すとおり X方向へのステージスキャン中には(白抜き矢印参照)、 X テー ジ 17Xの前方の気体が、導入口 21bから導気管 21の内部に導入される。導気管 21 に導入された気体は、導気管 21の内部を後側へ向けて流れ (矢印参照)、その後、 吹出口 21aから移動鏡 18Xの上面の接線方向に吹き出される。
[0047] ここで、吹出口 21aのサイズは導入口 21bのサイズより小さいので、導気管 21は、 導入した気体を噴流化する(流速を速める)働きを有する。
この働きにより、吹出口 21aからは噴流が吹き出す。その噴流によってコアンダ効果 が生じ、図 9に矢印で示すように、移動鏡 18Xの上面、及びカウル部 19の表面 (ァー ル状の表面)に吸い寄せられるような速度の速い気流が生じ、温度の高い領域 EHの 気体の巻き上げ及び光路 ELへの巻き込みは、確実に防止される。したがって、光束 LXの光路 ELの温度揺らぎは確実に低減され、測長干渉計 20X(図 1、図 2参照)に よる位置測定の精度は確実に保たれる。
[0048] 以上、本実施形態のステージ装置 17は、カウル部 19及び導気管 21を設けている ので、熱源(ここでは、リニアモータのコイル)が測長干渉計 20Xに与える影響は、確 実に抑えられる。
(その他)
なお、図 7,図 9に示した導気管 21は、 X テージ 17Xの内部に埋設されているが、 テージ 17Xの周囲の気流を乱さな 、ように設置されて!、るのであれば、埋設され ていなくてもよい。
[0049] 本実施形態のカウル部 19の間隙についても、第 1実施形態のカウル部 19と同様、 図 5、図 6などに示すように変形することができる。
[第 3実施形態]
以下、図 10、図 11、図 12を参照して本発明の第 3実施形態について説明する。 本実施形態は、第 2実施形態のステージ装置に代えて投影露光装置に適用可能 なステージ装置の実施形態である。ここでは、第 2実施形態のステージ装置との相違 点についてのみ説明する。
[0050] 相違点は、 Xステージ 17Xにある。本実施形態の Xステージ 17Xには、導気管 21に 代えて導気管 30及びブロア (送風器) 31が設けられる。
ここでも、 X方向へのステージスキャン中の Xステージ 17Xに着目し、 X方向を前
、 +X方向を後、 +Y方向を右、 Y方向を左、 +Z方向を上、 Z方向を下とみなして 説明する。
[0051] 導気管 30の導入口 30bは、ブロア 31に連結され、導気管 30の吹出口(ノズル) 30 aは、カウル部 19の表面 (アール状の表面)の近傍に設けられる(図 10では、移動鏡 18Xの上面に設けられている。)。
吹出口 30aの吹き出し方向は、カウル部 19の表面 (アール状の表面)又は移動鏡 1 8Xの上面の接線方向に一致して 、る(図 10では、移動鏡 18Xの上面の接線方向に 一致している。 ) o
[0052] 吹出口 30aの形状は、図 11 (a)に示すとおり、 Y方向に長いスリット状である。吹出 口 30aの Y方向の長さは、少なくともカウル部 19の開口 19aの Y方向の長さと同じだ け確保される。
なお、ブロア 31の固定箇所は、 Xステージ 17X、 Yステージ 17Y、不図示の架台の 何れでもよい。
[0053] 但し、ブロア 31が Υステージ 17Yに固定される場合には、導気管 30は、フレキシブ ル(管の少なくとも一部が湾曲自在)であり、かつ少なくとも X テージ 17Xの X方向の ストロークの分だけ余裕を持った長さに設定される。また、ブロア 31が不図示の架台 上に固定される場合には、導気管 30は、フレキシブルであり、かつ少なくとも Xステー ジ 17Xの X方向及び Υ方向のストロークの分だけ余裕を持った長さに設定される。
[0054] ブロア 31は、少なくとも X方向へのステージスキャン中に駆動される。このとき、ブ ロア 31は、 テージ 17Xの雰囲気として用いられた気体と同種、かつその気体と同 じ温度に温調された気体を、導気管 30の導入口 30bに対し一定の流速で流入する このようなブロア 31の働きにより、導気管 30の吹出口 30aからは噴流が吹き出す。 その噴流によってコアンダ効果が生じ、移動鏡 18Xの上面、及びカウル部 19の表面 (アール状の表面)に吸 、寄せられるような速度の速 、気流が生じる。
[0055] したがって、本実施形態にぉ 、ても、光束 LXの光路 ELの温度揺らぎは確実に低 減され、測長干渉計 20X(図 1、図 2参照)による位置測定の精度は確実に保たれる 以上、本実施形態のステージ装置 17は、カウル部 19、導気管 30、及びブロア 31 を設けているので、熱源(ここではリニアモータのコイル)が測長干渉計 20Xに与える 影響は確実に抑えられる。
[0056] (その他)
なお、スリット状の吹出口 30aを有した導気管 30 (図 11 (a) )に代えて、図 11 (b)に 示すように、 Y方向に一定間隔で並べられた複数の微小な吹出口 30a'を有した導 気管 30'が用いられてもよい。それぞれの吹出口 30a'からは噴流が吹き出すので、 導気管 30 (図 11 (a) )を用いた場合と同等の効果が得られる。なお、このような複数 の微小な吹出口は、第 2実施形態の導気管 21 (図 7,図 8参照)にも同様に適用可能 である。 [0057] また、吹出口の設けられる位置は、例えば図 12に符号 40a— 1, 40a— 2で示すよう に、カウル部(図 12では符号 19")のアール状の表面部分であってもよい。
また、導気管は、図 12に符号 40-1, 40-2で示すように複数化されてもよい。なお 、図 12には、 2つの導気管 40—1, 40— 2と、カウノレ咅 19"のアーノレ状の表面咅分に 設けられた 2つの吹出口 40a— 1, 40a— 2とを示した。
[0058] 因みに、図 12に示した例では、カウル部 19"の間隙の開口 19aを挟むようにして、 上流側から順に 2つの吹出口 40a— 1, 40a— 2が並べられている。
上流側に位置する吹出口 40a - 1からの噴流は、下流側に位置する吹出口 40a - 2 力 の噴流に引きずられるので、図中矢印で示すようなコアンダ効果による気流は、 開口 19aの近傍で何ら乱されることなぐ連続的になると予想される。
[0059] [第 4実施形態]
以下、図 13を参照して本発明の第 4実施形態について説明する。
本実施形態は、上記各実施形態のステージ装置 17に代えて投影露光装置に適用 可能なステージ装置の実施形態である。なお、前記各実施形態と同様の構成につい ては同じ符号を付し、説明を省略する。
[0060] 本実施形態のステージ装置 17は、図 13 (a)に示すように、支持台 17aと、可動部と しての XYステージ 17bとから主に構成されている。支持台 17aは、ウェハ Wを載置す るための支持面を有するウェハホルダ WHを備えており、ウェハホルダ WHの支持面 は、支持台 17aの上面と略同一に形成されている。また、支持台 17aの周縁にはカウ ル部(曲面部) 19力設けられており、ウェハホルダ WHの支持面から支持台 17aの上 部、カウル部 19に渡って外表面がほぼ連続面となっている。また、支持台 17aにお いて測長干渉計 20X, 20Yと対向する面(測長干渉計 20X, 20Yからの光を受ける 位置)には、それぞれ反射面 (移動鏡)が設けられている。カウル部 19としては既に 説明した様々な形態のものを適用することができる。
[0061] なお、各実施形態では、支持台 17a、ウェハホルダ WH、カウル部 19、反射面 M ( 移動鏡 18X, 18Y)を別部材として形成してそれらを組み立てて一体とする例を説明 したが、これらの一部又は全てを同一の部材として一体的に形成しても構わない。因 みに、図 13では、移動鏡が支持台 17aと同一の部材で形成された例を示した。 XYステージ 17bは、図 13 (b)に示すように、 XY平面と平行な基準平面 BP上に不 図示のエアベアリングを介して二次元移動可能に非接触で設置され、基準平面 BP に沿って不図示のリニアモータによって移動可能である。 XYステージ 17bの XY平 面視外形は円柱状に形成されている。 XYステージ 17bは、支持台 17aよりも小さく形 成されているので、支持台 17aを載置した場合に支持台 17aが XY平面に沿って張り 出すことになる。
[0062] 本実施形態のステージ装置 17は、支持台 17aの外表面が略連続面となっているの で、ステージ装置 17が移動した場合に、支持台 17a上の空気の流れの乱れを抑制 することができる。特にスキャン露光時においては、スキャン動作中も常時ステージ装 置 17の位置を高 、精度で計測する必要があるが、本実施形態のステージ装置 17に よれば、ステージ装置 17の移動中においても空気揺らぎを抑えることができるので、 測長干渉計 20X, 20Yの計測精度を高く維持することができる。特に、気体供給装 置 AC (図 13には不図示。図 1参照)によってダウンフロー空調が行われている場合 には、支持台 17aの表面に沿って空気が流れることから、よりコアンダ効果が促進さ れ、空気揺らぎを抑えることができる。
[0063] また、本実施形態のステージ装置 17は、支持台 17aが XYステージ 17bより張り出 して構成されて 、るので、基準平面 BP上にある温度の高 、領域 EHの空気の卷上 げによる影響を受けにくい。更に、 XYステージ 17bは外形が円柱状に形成されてい るので、 XYステージ 17bの移動中における領域 EHの空気の乱れを抑えることがで きる。
[その他の実施形態]
以上説明した各図には、移動鏡 18Xの上面と連続する滑らかな表面を有したカウ ル部を示したが、図 14に示すように、 テージの左右の面と連続する滑らかな表面 を有したカウル部 59が用いられてもよい。因みに、図 14には、移動鏡、カウル部 59 が設けられた Xステージの全体を符号 57Xで示した。図 14において、符号 Mは移動 鏡の反射面、符号 59aは、光束 LXを通過させるための開口を示している。
[0064] X方向へのステージスキャン中には、図 15 (a)に矢印で示すとおり、 Xステージ 57 Xの前方から Xステージ 57Xの左右を経由して後方に回り込む規則的な気流が生じ る。この気流によって、温度の高い領域の気体の巻き上げ及び光路 ELへの巻き込 み(図 4 (a)参照)は防止される。
また、図 15 (b)に示すように、 テージの上面及び下面と連続する滑らかな表面 を有したカウル部 69が用いられてもよい。因みに、図 15 (b)には、移動鏡、カウル部 69が設けられた Xステージの全体を符号 67Xで示した。移動鏡の反射面、開口など は図示省略した。
[0065] この場合、図 15 (b)に矢印で示すとおり、 X テージ 67Xの前方カゝら上方を経由し て後方に回り込む規則的な気流が生じる。この気流によって、温度の高い領域の気 体の巻き上げ及び光路 ELへの巻き込み(図 4 (a)参照)は防止される。
また、図 15 (c)に示すように、 Xステージの上面及び横面と連続する滑らかな表面 を有したカウル部 79が用いられてもよい。因みに、図 15 (c)には、移動鏡、カウル部 79が設けられた Xステージの全体を符号 77Xで示した。移動鏡の反射面、開口など は図示省略した。
[0066] この場合、図 15 (c)に矢印で示すとおり、 X テージ 77Xの前方から上方又は左右 を経由して後方に回り込む規則的な気流が生じる。この気流によって、温度の高い 領域の気体の巻き上げ及び光路 ELへの巻き込み(図 4 (a)参照)は防止される。 また、各カウル部は、上述した各条件 (剛性、重量などの条件)を満たすのであれば 、 X テージと別部材であっても同部材であってもよ!/、。
[0067] また、カウル部の形成箇所としては、 Xステージの後端部だけでなぐ例えば図 16 ( a) , (b) , (c)に示すように X テージの前端部を追加してもよい。
図 16 (a)に示すのは、図 15 (a)に示したカウル部 59を前端部と後端部との双方に 設けた テージ(円柱型のステージ)である。
図 16 (b)に示すのは、図 15 (b)に示したカウル部 69を前端部と後端部との双方に 設けた Xステージ (キヤタビラ型のステージ)である。
[0068] 図 16 (c)に示すのは、図 15 (c)に示したカウル部 79を前端部と後端部との双方に 設けた テージ (カプセル型のステージ)である。
また、上記各実施形態の Xステージにおいては、移動鏡 18Yの光路側にも同様の カウル部が設けられてもよい。このカウル部によると、熱源 (ここではリニアモータのコ ィル)が測長干渉計 20Yに与える影響が抑えられる。
但し、投影露光装置の露光精度を保っためには、ステージスキャンの方向(ここで は X方向)の位置測定をする測長干渉計 (ここでは測長干渉計 20X)への影響を抑え る必要があるので、移動鏡 18Xの光路側にカウル部が設けられる必要がある。
また、各実施形態においてカウル部や導気管の形状(曲面の形状、サイズなど)、 及びブロアの駆動条件などについては、気体の粘性 (気体の種類,気体の温度など により決まる。)、ステージ装置 17の各部のサイズ、 X テージ 17Xの特性 (移動に関 わる特性)などに応じて適宜選定されることが望ましい。なお、その選定は、実験又は 演算により行われる。

Claims

請求の範囲
[1] 物体を支持し、少なくとも 1つの所定方向に移動可能な支持台と、
前記支持台に固定され、前記支持台の前記所定方向への移動時に後方から投光 される位置測定用の光束を反射する反射面と、
前記支持台に固定され、前記支持台の前記所定方向への移動時に前記反射面の 後側の空間に生じる気流を整流する表面形状をしたカウル部と
を備えたことを特徴とするステージ装置。
[2] 請求項 1に記載のステージ装置において、
少なくとも前記支持台の前記所定方向への移動時に、温調された気体を導入する と共にその気体を前記カウル部の表面に沿って吹き出す導気管をさらに備えた ことを特徴とするステージ装置。
[3] 請求項 2に記載のステージ装置において、
前記導気管は、
少なくとも前記支持台の前記所定方向への移動時に前記気体を噴流化する機能 を有している
ことを特徴とするステージ装置。
[4] 請求項 3に記載のステージ装置において、
前記導気管は、
導入口と、前記カウル部の表面近傍に吹出口とを設けており、
前記吹出口のサイズは、
前記導入口のサイズよりも小さく設定されて 、る
ことを特徴とするステージ装置。
[5] 請求項 3に記載のステージ装置において、
前記導気管は、
温調された気体を送風する送風器に導入口を連結し、前記カウル部の表面近傍に 吹出口を設けている
ことを特徴とするステージ装置。
[6] 投影光学系と、 請求項 1一請求項 5の何れか一項に記載のステージ装置とを備えた ことを特徴とする投影露光装置。
[7] 請求項 6に記載の投影露光装置において、
露光方式として、前記ステージ装置の前記支持台を前記所定方向に移動させつつ 露光を行うスキャン方式が適用されて 、る
ことを特徴とする投影露光装置。
[8] 物体を支持し、所定平面内を移動可能な支持台を備えるステージ装置であって、 前記支持台は、
前記所定平面と平行に延在し前記所定平面と略直交する反射面を有する反射部と 前記反射部に沿って該反射部より凸に形成された曲面部と
を備えることを特徴とするステージ装置。
[9] 前記曲面部は、
前記所定平面と前記反射面とに平行な軸を中心軸とする円筒面の一部を含む ことを特徴とする請求項 8記載のステージ装置。
[10] 前記支持台は、前記物体を支持する支持面を有し、
前記曲面部は、前記支持面と実質的に連続する曲面を有する
ことを特徴とする請求項 8記載のステージ装置。
[11] 前記反射部と前記曲面部とは、同一の反射部材に形成されている
ことを特徴とする請求項 8記載のステージ装置。
[12] 前記所定平面上に載置され、前記支持台を保持して移動可能な可動部を備え、 前記支持台は、前記可動部よりも張り出して載置されている
ことを特徴とする請求項 8記載のステージ装置。
[13] 露光光により物体上にパターンを形成する露光装置であって、
前記物体を支持して移動するステージ装置として請求項 8—請求項 12の何れか一 項に記載のステージ装置を用いる
ことを特徴とする露光装置。
[14] 前記ステージ装置が移動する前記所定平面に対して略直交する方向から前記所 定平面に向かって温調された気体を供給する気体供給装置を備える ことを特徴とする請求項 13記載の露光装置。
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