WO2005006332A1 - スライダー試験機 - Google Patents

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WO2005006332A1
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slider
plate
movable support
testing machine
support portion
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PCT/JP2003/008880
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English (en)
French (fr)
Inventor
Norio Kainuma
Kenji Kobae
Hidehiko Kira
Hiroshi Kobayashi
Shuichi Takeuchi
Takayoshi Matsumura
Hirokazu Yamanishi
Shinji Hiraoka
Yoshiaki Yanagida
Original Assignee
Fujitsu Limited
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Publication date
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    • H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20—Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Definitions

  • the present invention relates to a slider testing machine for testing the characteristics of a slider (magnetic head) used for reading and writing data on a medium such as a magnetic disk.
  • Reading data from a medium such as a magnetic disk The slider (magnetic head) used for Z writing actually rotates the medium to increase its floating characteristics from the surface of the medium and to read / write data from / to the medium. After testing, it will be installed in the actual machine. Conventionally, the function test of this slider has been conducted by mounting a slider on a suspension to form a slider assembly and setting this slider assembly on a testing machine.
  • Figure 7 shows an example of the configuration of a slider testing machine that tests the characteristics of a slider alone.
  • 10 is the tester body of the slider tester.
  • the test machine body 10 includes a drive unit that rotates the test medium 1 2 in the same manner as the actual machine, a movement control unit that moves the medium 1 2 to the test position where the slider is set, and the medium at the test position.
  • 1 Reading data between 2 and slider There is an inspection device that inspects the Z writing characteristics.
  • the slider testing machine in the illustrated example is provided with a set unit for setting the slider 14 to be tested at the four corners on the upper surface of the testing machine body 10.
  • Each set section has a set plate 20 that supports slider 14 and a set plate.
  • An arm portion 2 2 for supporting the rate 20 and a mounting base 2 4 for supporting the arm portion 2 2 are provided.
  • the medium 12 is supported by the spindle 13 with the medium surface horizontal.
  • the spindle 13 is provided so as to be movable between one side and the other side of the testing machine body 10.
  • the spindle 13 is supported by the spindle 13 so that the medium 12 can be moved to one side and the other side of the testing machine body 10.
  • the slider 14 set on the set plate 20 can be tested by moving between the two.
  • Fig. 8 shows the mounting structure of slider 14 on set plate 20 on which slider 14 is mounted.
  • the set plate 2 0 has a ring panel 3 0 for supporting the slider 1 4 in a floating state with respect to the surface of the medium 1 2, a socket 4 0 for removably supporting the slider 1 4, and a socket 4 A pressurizing mechanism 50 for applying a predetermined load to the slider 14 by elastically pressing 0.
  • the ring panel 30 and the socket 40 constitute a movable support part that supports the slider 14 movably.
  • the ring spring 30 is for supporting the slider 14 so that it can tilt in any direction (pitching direction and rolling direction) while the slider 14 is supported by the socket 40.
  • An arc-shaped slit is provided on a thin metal plate to form a ring spring 30. By this, the slider 14 can be tilted in any direction.
  • the socket 40 is joined to the lower surface of the set portion 34 formed at the center of the ring spring 30.
  • On the upper surface of the socket 40 a contact block 42 and a holding spring 48 are provided so as to face the contact block 42.
  • the slider 1 4 is elastically pressed toward the contact block 4 2 by the holding spring 4 8, so that the terminal of the slider 1 4 is pressed against the contact terminal provided on the contact block 4 2, and the slider 1 4 Is set.
  • the contact terminals of the contact block 42 are electrically connected to the inspection device through a wiring pattern provided on the ring panel 30, and the electrical characteristics of the slider 14 are measured.
  • the pressurizing mechanism 50 includes a pressurizing pin 51 disposed below the socket 40 and a coil spring 52 provided by being externally attached to the pressurizing pin 51.
  • the coil spring 5 2 has its upper end surface abutted against the lower surface of the socket 40 and supported by the ring spring 30.
  • the held slider 14 is elastically pressed toward the medium surface.
  • the slider 14 can be set on the set plate 20, the slider 14 can be lifted with respect to the medium while the test medium is rotated, and a test such as data reading Z writing can be performed. According to this slider testing machine, it is possible to test the characteristics of the slider before mounting it on the suspension, and it is possible to eliminate the waste of manufacturing and assembly costs.
  • the purpose of the present invention is to facilitate the exchange of the press panel to improve the handling of the apparatus and to change the load acting on the slider. This is to provide a highly reliable slider testing machine that can accurately perform tests with a single slider. Disclosure of the invention
  • the present invention comprises the following arrangement.
  • a drive unit that rotationally drives a test medium, a set plate that detachably supports the slider, and an inspection device that is electrically connected to the slider supported by the set plate and inspects the characteristics of the slider
  • a slider tester comprising: a movable support portion that supports the slider so as to be tiltable on the set plate; and the slider is mounted on the surface of the medium via the movable support portion.
  • a pressure mechanism is provided for elastically pressing the slider toward the surface of the medium, and the slider is floated from the surface of the medium.
  • the pressure mechanism is in contact with the movable support to elastically move the movable support. It is characterized in that an elastic body made of a panel panel that pressurizes is provided.
  • a drive unit that rotationally drives the test medium
  • a set plate that detachably supports the slider
  • an inspection device that is electrically connected to the slider supported by the set plate and inspects the characteristics of the slider
  • the slider is provided with a movable support portion that supports the slider in a tiltable manner on the set plate, and the slider is arranged via a pressure pin that contacts the movable support portion and the pressure pin.
  • a drive unit that rotationally drives the test medium, a set plate that detachably supports the slider, and an inspection device that is electrically connected to the slider supported by the set plate and inspects the characteristics of the slider
  • a slider testing machine provided with a movable support portion for tiltably supporting the slider on the set plate, a socket for setting the slider on the movable support portion, and a presser for supporting the slider on the socket.
  • the panel is detachable.
  • Fig. 1 A-B is a perspective view showing the configuration of the holding panel and socket
  • Fig. 2 is an explanatory diagram showing the configuration of the unplug bar
  • Fig. 3 A-B is an explanation showing the configuration of the pressurizing mechanism 4 is an explanatory diagram showing the arrangement of the pressurizing mechanism and the socket
  • FIG. 5 is an explanatory diagram showing the configuration of the pressurizing mechanism using an elastic body made of a leaf spring.
  • A-D are explanatory views showing examples of elastic bodies used in the pressurizing mechanism
  • FIG. 7 is an explanatory view showing the overall configuration of the slider testing machine
  • FIG. 8 shows a slider mounting structure on the set plate. It is explanatory drawing.
  • FIG. 1 shows the configuration of the socket 40 and the holding spring 48 in the slider testing machine according to the present invention.
  • the present embodiment is characterized in that the presser panel 48 is detachably attached to the socket 40.
  • Fig. 1A shows that the mounting groove 4 3 for mounting the holding spring 4 8 is provided on the upper surface of the socket 40 where the slider 14 is set, and the pressing panel 4 8 can be detachably mounted in the mounting groove 4 3.
  • the presser panel 4 8 is formed in a U-shape, and one panel piece is a pressing piece 4 8 a that presses the slider 14, and the other spring piece is inserted into the mounting groove 4 3 and fixed. 8 b.
  • the mounting piece 4 8 b is formed in a corrugated shape, and the holding panel 4 8 b is inserted into the mounting groove 4 3 formed in a straight shape, so that the pressing panel 4 8 b Is fixed to socket 40.
  • the thickness of the mounting piece 4 8 b of the holding panel 4 8 (the length in the depth direction to be inserted into the mounting groove 4 3) Set to be thicker than the pressing piece 4 8 a, and when the mounting piece 4 8 b is inserted into the mounting groove 4 3, the pressing piece 4 8 a is positioned on the upper surface of the socket 4 0 so as to face the contact block 4 2. To be formed.
  • Fig. 1B shows that instead of forming the mounting panel 4 8 b of the holding panel 4 8 in a corrugated shape, the mounting piece 4 8 b is formed in a straight shape and the corrugated groove 4 3 formed in the socket 40 is corrugated.
  • an elastic pressing portion 44 is provided.
  • the presser spring 4 8 is configured to be detachably mounted in the mounting groove 4 3 provided in the socket 40, so that when the presser panel 4 8 deteriorates after repeated use, the presser spring 4 8 It is possible to replace only the presser spring 48, and when replacing the presser spring 48, there is no need to disassemble the assembly parts, and the presser panel 48 can be easily replaced.
  • the slider 14 to be tested is set on the set plate 20 and the test medium 12 is rotated. Slide the slider 1 4 close to the surface of the medium 1 2 and perform the test with the slider 1 4 floating from the surface of the medium 1 2, then pull the slider 1 4 away from the medium 1 2 Set slider 14 to be tested.
  • FIG. 2 shows that in order to prevent such deformation of the ring spring 30, when the slider 14 is pulled away from the surface of the medium 12, the T-shaped unload bar 60 is placed between the medium 12 and the ring spring 30.
  • An example configured to be inserted into is shown. If such an unloading bar 60 is provided, when the slider 14 is pulled away from the medium 12, the unloading bar 60 abuts against the surface of the ring spring 30, and the unloading bar 60 Since the slider 14 is pulled away from the medium while holding the ring spring 30, the slider 14 can be pulled away without deforming the ring panel 30 even when the rigidity of the ring spring 30 is low. (Configuration of pressure mechanism)
  • FIG. 3 shows the configuration of the pressurizing mechanism 50 of the slider testing machine according to the present invention.
  • the pressure mechanism unit 50 includes a pressure pin 51 that contacts the lower surface of the socket 40 and a coil spring 52 that elastically pressurizes the pressure pin 51 toward the medium 12.
  • Fig. 3A shows a configuration in which the pressure pin 51 is supported by the support block 53 so as to be slidable in the axial direction.
  • the pressure pin 51 is accommodated in a sliding hole 53 provided in the support block 53 so as to be slidable in the axial direction.
  • the pressure pin 5 1 acts to press the slider 14 toward the surface of the medium 1 2 via the socket 40, and does not shake when moving in the axial direction. It is desirable to be as small as possible. If the clearance between the pressure pin 5 1 and the sliding hole 5 3 a is large, the sliding resistance decreases, but there is a problem that vibration occurs in the pressure pin 51 during the test. Also, since the pressing force (load) applied to the slider 14 is as small as about 1.5 g, if a large sliding resistance is applied to the pressure pin 51, a predetermined pressing force is applied to the slider 14. Disappear.
  • Fig. 3B shows the sliding hole 5 3 a provided in the support block 5 3 and the pressure pin 5 1 with a small clearance to prevent the shaft of the pressure pin 51 from being shaken.
  • An example is shown in which the sliding resistance of the pressure pin 51 is reduced by bringing the vibration source 54 into contact with the support block 53 and ultrasonically vibrating it with a small amplitude of 1 or less.
  • the sliding resistance of the pressurizing pin 51 can be lowered, and it becomes possible to obtain the contradictory effects of preventing the axial swing of the pressurizing pin 51 and reducing the sliding resistance.
  • the pressurizing pin 51 is an extremely small part, and it is difficult in terms of processing to arrange a bearing on the sliding portion to reduce the sliding resistance.
  • the structure of this embodiment is effective in that a required action can be obtained by machining the pressure pin 51 and the sliding hole 53 a formed in the support block 53 with high accuracy.
  • Fig. 4 shows that the top surface of the pressure pin 51 is formed as a flat surface and the top surface of the pressure pin 51 is A hemispherical bulging portion 40 a is provided on the lower surface of the facing socket 40, and the pressing pin 51 is brought into contact with the bulging portion 40 a so that the urging force of the coil spring 52 acts on the socket 40 An example of this is shown.
  • the pressure pin 51 is guided in the axial direction by the guide bush 5 3 b.
  • the pressure pin 5 1 is guided by the sliding hole 5 3 a or the guide bush 5 3 b, it is possible to avoid the sliding resistance from acting on the pressure pin 51. Absent.
  • Fig. 5 shows another example of the structure of the pressurizing mechanism. Without using the pressurizing pin 51, the coil spring 52, and the guide bushing 5 3b, the base plate 55 and the socket 40 This is an example in which an elastic body 56 made of a heel spring is arranged between them, and the elastic body 56 is brought into contact with the socket 40 directly.
  • an elastic body 56 formed by bending a plate panel into a Z shape is used.
  • 5 7 is a support body that supports the end of the elastic body 56
  • 5 8 is a preload stopper
  • 5 9 is a stagger guide.
  • the preloading streak 58 is for adjusting the load acting on the slider 14 in advance by holding the elastic body 56 in a compressed state in advance.
  • the preload stopper 5 8 is only guided by the stopper guide 5 9, and the elastic body 56 made of a plate panel is not in contact with the shopper guide 5 9. Therefore, the elastic body 56 that presses the socket 40 is completely free from the stopper guide 59, etc., and no peristaltic resistance acts at all when a load is applied to the socket 40.
  • the elastic force from the elastic body 56 acts on the slider 14 as it is, and the slider 14 when the single slider 14 is mounted on the slider testing machine.
  • the flying characteristics can be obtained as a condition very close to the flying characteristics when the slider is mounted on the suspension.
  • the preload stopper 5 8 adjusts the elastic force acting on the slider 14 from the elastic body 56 according to the mounting position of the stopper guide 59, so when adjusting the preload, It is necessary to give due consideration to manufacturing tolerances. Snow In other words, it is necessary to set a dimensional tolerance so that the installation position of the preload stoppers 58 can be adjusted to a predetermined preload value.
  • FIG. 6 shows another example of the elastic body 56 formed using a leaf spring.
  • FIG. 6A shows an example in which the elastic body 56 is formed using a leaf spring so that the front shape is oval.
  • the socket 40 comes into contact with the upper straight portion 5 6 a of the elastic body 56 formed in an oval shape, and the elastic body 56 force and other elastic force act on the slider 14.
  • the preload value of the elastic body 5 6 can be adjusted by attaching a preload stopper to the stopper guide 5 9 and changing the curvature of the elastic body 5 6.
  • the tip of the panel panel is bent to form an elastic body 56, and the elastic body 56 is cantilevered to the support body 57.
  • the elastic body 56 By forming the elastic body 56 in a form in which the plate panel extends long, the tip of the flat plate panel is provided so as to move up and down in parallel.
  • a preload can be applied to the arcuate body 'I living body 56 by providing a preload stopper on the stopper guide 59.
  • FIG. 6C shows a case where an elastic body 56 made of a plate panel formed in a straight line is supported by a pair of support bodies 5 7 a and 5 7 b.
  • Fig. 6D shows an elastic body 56 obtained by bending the plate panel into a corrugated shape.
  • the direction in which the elastic body 56 shown in each of these embodiments is displaced is the direction in which the slider 14 is perpendicular to the surface of the medium 12, and therefore the direction of the load acting on the slider 14 is as follows. Is preferred.
  • the position where the socket 40 is in contact with the elastic body 56 (the position of the 0 point) is used as the reference position. And the distance between the slider 14 and the slider 14 is controlled to be the flying height.
  • the slider 14 may be supported more stably if the slider 14 is pushed closer to the surface of the medium 12 than the position of the zero point.
  • the method of applying a load to the slider 14 using the elastic body 56 can cause sliding resistance as in the case of using the pressure pin 51. However, it can be used effectively when an extremely small load is applied by adjusting the flying height of the slider 14.
  • the elastic body 56 is formed using a plate panel, considering the plate panel constant of the plate panel and the elastic force accompanying the amount of compression of the plate panel, etc. It is necessary to adjust the elastic body 5 6 to obtain a load.

Landscapes

  • Supporting Of Heads In Record-Carrier Devices (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

　試験用の媒体を回転駆動する駆動部と、スライダーを単体で着脱可能に支持するセットプレートと、セットプレートに支持されたスライダーに電気的に接続されスライダーの特性を検査する検査装置とを備えたスライダー試験機であって、前記セットプレートに、前記スライダーを傾動可能に支持する可動支持部３０を設けるとともに、該可動支持部を介して前記スライダーを前記媒体の表面に向けて弾性的に加圧し、媒体の表面からスライダーを浮上させて配置するための加圧機構部を設け、該加圧機構部に、前記可動支持部に当接して可動支持部を弾性的に加圧する板バネからなる弾性体５６を設ける。

Description

明 細 書
スライダー試験機 技術分野
本発明は磁気ディスク等の媒体のデータの読み取り Z書き込みに使用されるス ライダー （磁気ヘッド） の特性を試験するスライダー試験機に関する。 背景技術
磁気ディスク等の媒体のデータの読み取り Z書き込みに使用されるスライダー (磁気ヘッド） は、 媒体を実際に回転させて、 媒体表面からの浮上特性、 媒体と の間でのデータの読み取り/書き込み機能を試験した後、 実機に搭載される。 従 来、 このスライダーの機能試験は、 サスペンションにスライダ一を搭載してスラ ィダ一組立体を形成し、 このスライダー組立体を試験機にセットして試験してい ノ
しかしながら、 スライダーの不良率が高い場合には、 スライダーとともにサス ペンションも廃棄されることになり、 スライダーの製作コストとともに、 サスぺ ンションの製造費、 スライダ一組立体の組立費が無駄になるという問題がある。 このため、 スライダーをサスペンションに搭載する前に、 スライダーの単体のみ でその機能を試験し、 スライダーの良品のみをサスペンションに搭載する方法が 考えられている。
図 7は、 スライダーの単体のみでその特性を試験するスライダー試験機の構成 例を示す。 1 0はスライダー試験機の試験機本体である。 試験機本体 1 0には、 試験用の媒体 1 2を実機と同じように回転駆動する駆動部、 媒体 1 2をスライダ —がセットされている試験位置に移動させる移動制御部、 試験位置で媒体 1 2と スライダーとの間でのデータの読み取り Z書き込み特性を検査する検査装置が備 えられている。
図示例のスライダー試験機は、 試験機本体 1 0の上面の 4つのコーナー部に被 試験品であるスライダー 1 4をセットするセット部が設けられたものである。 各々のセット部は、 スライダー 1 4を支持するセットプレート 2 0と、 セットプ レート 2 0を支持するアーム部 2 2と、 アーム部 2 2を支持する搭載ベース 2 4 とを備える。
媒体 1 2は媒体面を水平にしてスピンドル 1 3に支持されている。 スピンドル 1 3は試験機本体 1 0の一方側と他方側との間を移動可能に設けられており、 ス ピンドル 1 3に支持されて媒体 1 2が試験機本体 1 0の一方側と他方側との間を 移動することにより、 セットプレート 2 0にセッ卜されたスライダー 1 4につい て試験することができる。
図 8はスライダー 1 4を装着するセットプレート 2 0でのスライダー 1 4の取 り付け構造を示す。 セットプレート 2 0はスライダー 1 4を媒体 1 2の表面に対 して浮上した状態で支持するためのリングパネ 3 0と、 スライダー 1 4を着脱可 能に支持するためのソケット 4 0と、 ソケット 4 0を弾性的に加圧してスライダ 一 1 4に所定の荷重を加えるための加圧機構部 5 0とを備える。 なお、 リングバ ネ 3 0およびソケット 4 0はスライダー 1 4を可動に支持する可動支持部を構成 する。
リングバネ 3 0はスライダ一 1 4をソケット 4 0に支持した状態で、 スライダ 一 1 4が任意の方向 （ピッチング方向とローリング方向） に傾動可能となるよう に支持するためのものである。 金属薄板に円弧状のスリツトを設けてリングバネ 3 0とし、 これによつてスライダー 1 4力任意の方向に傾動可能となっている。 ソケット 4 0はリングバネ 3 0の中央に形成されたセット部 3 4の下面に接合さ れている。 ソケット 4 0の上面には、 コンタクトブロック 4 2とこれに対向して 押さえバネ 4 8が設けられている。 押さえバネ 4 8によってスライダー 1 4をコ ンタクトブロック 4 2に向けて弾性的に押圧することにより、 スライダー 1 4の 端子がコンタクトブロック 4 2に設けられたコンタクト端子に押接されてスライ ダー 1 4がセッ卜される。 コンタクトブロック 4 2のコンタクト端子はリングバ ネ 3 0に設けられた配線パターンを介して検査装置と電気的に接続され、 スライ ダー 1 4の電気的特性が測定される。
加圧機構部 5 0は、 ソケット 4 0の下方に配置された加圧ピン 5 1と加圧ピン 5 1に外挿して設けたコイルスプリング 5 2とを備える。 コイルスプリング 5 2 は加圧ピン 5 1の上端面をソケット 4 0の下面に当接させ、 リングバネ 3 0に支 持されたスライ.ダー 1 4を媒体表面に向けて弾性的に加圧する。 コイルスプリン グ 5 2の付勢力を調節することにより、 スライダー 1 4に作用させる荷重を調節 することができ、 媒体表面からのスライダー 1 4の浮上量を調節することができ る。
こうして、 セットプレート 2 0にスライダー 1 4をセットし、 試験用の媒体を 回転させた状態でスライダー 1 4を媒体に対して浮上させ、 データの読み取り Z 書き込み等の試験を行うことができる。 このスライダー試験機によれば、 スライ ダーをサスペンションに搭載する前に単体でその特性を試験することができ、 製 造費、 組立費の無駄を省くことが可能になる。
ところで、 上述した構成に係るスライダー試験機においては、 押さえパネを金 属の板パネによって作製しているため、 劣ィ匕しやすいという問題や、 押さえバネ を交換する際には組立部品を分解しなければ交換できない構成になっているとい う問題があった。
また、 加圧機構部では加圧ピンをガイドするために摺動抵抗が発生し、 スライ ダ一に作用する荷重が変動し、 スライダ一の浮上姿勢が安定しないといつた問題 があった。
そこで、 本発明はこれらの課題を解決すべくなされたものであり、 その目的と するところは、 押さえパネの交換を容易にして装置の取り扱い性を向上させると ともに、 スライダーに作用する荷重が変動することを防止して、 スライダー単体 での試験を正確に行うことができ、 信頼性の高いスライダー試験機を提供するに ある。 発明の開示
本発明は、 上記目的を達成するため次の構成を備える。
すなわち、 試験用の媒体を回転駆動する駆動部と、 スライダーを単体で着脱可 能に支持するセットプレートと、 セットプレートに支持されたスライダーに電気 的に接続されスライダーの特性を検査する検査装置とを備えたスライダー試験機 であって、 前記セットプレートに、 前記スライダーを傾動可能に支持する可動支 持部を設けるとともに、 該可動支持部を介して前記スライダーを前記媒体の表面 に向けて弾性的に加圧し、 媒体の表面からスライダーを浮上させて配置するため の加圧機構部を設け、 該加圧機構部に、 前記可動支持部に当接して可動支持部を 弾性的に加圧する板パネからなる弾性体を設けたことを特徴とする。
また、 試験用の媒体を回転駆動する駆動部と、 スライダーを単体で着脱可能に 支持するセットプレートと、 セットプレートに支持されたスライダーに電気的に 接続されスライダーの特性を検査する検査装置とを備えたスライダ一試験機であ つて、 前記セットプレートに、 前記スライダーを傾動可能に支持する可動支持部 を設けるとともに、 該可動支持部に当接する加圧ピンおよび加圧ピンを介して前 記スライダーを前記媒体の表面に向けて弾性的に加圧し、 媒体の表面からスライ ダーを浮上させて配置するための弾性手段を備えた加圧機構部を設け、 該加圧機 構部に、 前記加圧ピンの摺動抵抗を軽減させる超音波振動源を付設したことを特 徴とする。
また、 試験用の媒体を回転駆動する駆動部と、 スライダーを単体で着脱可能に 支持するセットプレートと、 セットプレートに支持されたスライダーに電気的に 接続されスライダーの特性を検査する検査装置とを備えたスライダー試験機であ つて、 前記セットプレートに、 前記スライダーを傾動可能に支持する可動支持部 を設け、 該可動支持部にスライダーをセットするソケットを設けるとともに、 該 ソケットにスラィダーを支持する押さえパネを着脱可能に設けたことを特徴とす る。 図面の簡単な説明
図 1 A— Bは押さえパネとソケットの構成を示す斜視図であり、 図 2はアン口 一ドバーの構成を示す説明図であり、 図 3 A— Bは加圧機構部の構成を示す説明 図であり、 図 4は加圧機構部とソケットとの配置を示す説明図であり、 図 5は板 バネからなる弾性体を用いた加圧機構部の構成を示す説明図であり、 図 6 A— D は加圧機構部で使用する弾性体の例を示す説明図であり、 図 7はスライダー試験 機の全体構成を示す説明図であり、 図 8はセットプレートにおけるスライダーの 取り付け構造を示す説明図である。 発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明の好適な実施の形態について、 添付図面と共に詳細に説明する。 なお、 本発明に係るスライダー試験機の全体構成およびスライダーをセッ卜する セットプレー卜の構成は、 図 7、 8に示すスライダー試験機およびセットプレー 卜の構成と基本的に変わらない。 したがって、 これらの構成についての説明は省 略する。
図 1は本発明に係るスライダー試験機におけるソケット 4 0と押さえバネ 4 8 の構成を示す。 本実施形態においては、 押さえパネ 4 8をソケット 4 0に着脱可 能に設けたことを特徴とする。
図 1 Aは、 スライダー 1 4をセットするソケット 4 0の上面に、 押さえバネ 4 8を装着するための装着溝 4 3を設け、 装着溝 4 3に押さえパネ 4 8を着脱可能 に装着可能とした例である。 押さえパネ 4 8を U字状に形成し、 一方のパネ片部 をスライダー 1 4を押圧する押圧片 4 8 aとし、 他方のバネ片部を装着溝 4 3に 嵌入して固定する取り付け片 4 8 bとしている。 本実施形態では取り付け片 4 8 bを波形に形成し、 ストレート状に形成した装着溝 4 3に取り付け片 4 8 bを嵌 入することによって取り付け片 4 8 bの弾発力により押さえパネ 4 8がソケット 4 0に固定されるようにしている。
装着溝 4 3を形成したことによってソケット 4 0の上面が段差状になるから、 押さえパネ 4 8の取り付け片 4 8 bの厚さ （装着溝 4 3に嵌入する深さ方向の長 さ） を押圧片 4 8 aよりも厚く設定し、 取り付け片 4 8 bを装着溝 4 3に嵌入し た際に、 押圧片 4 8 aがコンタクトブロック 4 2に対向する配置でソケット 4 0 の上面に位置するように形成する。
図 1 Bは、 押さえパネ 4 8の取り付け片 4 8 bを波形に形成するかわりに、 取 り付け片 4 8 bをストレート状に形成し、 ソケット 4 0に形成する装着溝 4 3に 波形の弾性押さえ部 4 4を設けた例である。 装着溝 4 3に押さえバネ 4 8の取り 付け片 4 8 bを嵌入する際に、 弾性押さえ部 4 4で取り付け片 4 8 bを弾性的に 挟圧することにより押さえバネ 4 8をソケット 4 0に固定する。 このように、 押さえバネ 4 8をソケット 4 0に設けた装着溝 4 3に着脱可能に 装着する構成としたことにより、 繰り返し使用して押さえパネ 4 8が劣化した際 には、 押さえバネ 4 8のみを交換して装着することが可能となり、 押さえバネ 4 8を交換する際に、 組立部品を分解したりする必要がなく、 押さえパネ 4 8を容 易に交換することが可能となる。
(アンロードバーの構造）
本発明に係るスライダー試験機でスライダー 1 4を試験する際には、 セットプ レー卜 2 0に被試験品であるスライダー 1 4をセッ卜し、 試験用の媒体 1 2を回 転させた状態でスライダー 1 4を媒体 1 2の表面に近づけ、 媒体 1 2の表面から スライダー 1 4を浮上させた状態で試験を行った後、 媒体 1 2からスライダー 1 4を引き離し、 セットプレート 2 0に次の被試験品であるスライダー 1 4をセッ 卜するようにする。
これらの操作のうち、 媒体 1 2からスライダー 1 4を引き離す際に、 スライダ 一 1 4と媒体 1 2との間が負圧になり、 スライダー 1 4が媒体側に吸弓 1されると レ 作用が生じる。リングバネ 3 0の剛性が高い場合には問題はないのであるが、 リングバネ 3 0の剛性が低い場合には、 スライダー 1 4を媒体 1 2から引き離す ようにした際にリングパネ 3 0がスライダー 1 4とともに媒体側に吸引され、 リ ングパネ 3 0が変形するという問題が生じる。 スライダー 1 4の浮上量を低く抑 える場合にはリングパネ 3 0の岡 (胜を低く設定する必要があり、 このような場合 にはリングパネ 3 0が変形しやすくなる。
図 2はこのようなリングバネ 3 0の変形を防止するため、 スライダー 1 4を媒 体 1 2の表面から引き離す際に、 T形に形成したアンロードバ一6 0を媒体 1 2 とリングバネ 3 0の中間に差し込むように構成した例を示す。 このようなアン口 一ドバ一 6 0を設けておけば、 スライダー 1 4を媒体 1 2から引き離す際に、 ァ ンロードバ一 6 0がリングバネ 3 0の表面に当接し、 アンロードバー 6 0によつ てリングバネ 3 0を押さえながらスライダー 1 4が媒体から引き離されるから、 リングバネ 3 0の剛性が低い場合でもリングパネ 3 0を変形させずにスライダー 1 4を引き離すことが可能になる。 (加圧機構部の構成）
図 3は、 本発明に係るスライダー試験機の加圧機構部 5 0の構成を示す。 加圧 機構部 5 0は、 ソケット 4 0の下面に当接する加圧ピン 5 1と、 加圧ピン 5 1を 媒体 1 2に向けて弾性的に加圧するコイルスプリング 5 2とを備える。図 3 Aは、 支持ブロック 5 3により加圧ピン 5 1を軸線方向に摺動可能に支持した構成を示 す。 加圧ピン 5 1は支持プロック 5 3に設けた摺動孔 5 3 aに、 軸線方向に摺動 可能に収容されている。
加圧ピン 5 1はソケット 4 0を介してスライダー 1 4を媒体 1 2の表面に向け て押圧する作用をなすものであり、 軸線方向に移動する際に軸振れせず、 摺動抵 杭ができるだけ小さいことが望ましい。 加圧ピン 5 1と摺動孔 5 3 aとのクリア ランスが大きいと摺動抵抗は小さくなるものの、 試験時に加圧ピン 5 1に振動が 生じるという問題がある。 また、 スライダー 1 4に作用させる押圧力 （荷重） は 1 . 5 g程度と微小であるから、 加圧ピン 5 1に大きな摺動抵抗が作用するとス ライダー 1 4に所定の押圧力が作用しなくなる。
図 3 Bは支持プロック 5 3に設ける摺動孔 5 3 aと加圧ピン 5 1とのクリアラ ンスを小さくして加圧ピン 5 1の軸振れを防止するとともに、 支持ブロック 5 3 に超音波振動源 5 4を接触させ、 支持プロック 5 3を 1 以下といった小さな 振幅で超音波振動させることによって、 加圧ピン 5 1の摺動抵抗を下げるように 構成した例を示す。 図 3 Bに示す実施形態によれば、 支持プロック 5 3に設ける 摺動孔 5 3 aをコイルスプリング 5 2の弾性力によっては摺動しない程度のクリ ァランスに設定した場合でも、 超音波振動を利用することによって加圧ピン 5 1 の摺動抵抗を下げることができ、 加圧ピン 5 1の軸振れ防止と、 摺動抵抗を小さ くするという相反する作用を得ることが可能になる。
加圧ピン 5 1はきわめて小さな部品であり、 摺動部にベアリングを配置して摺 動抵抗を下げるといった構成とすることは加工上、 困難である。 本実施形態の構 造は加圧ピン 5 1、 および支持プロック 5 3に形成する摺動孔 5 3 aを高精度に 加工することで所要の作用を得ることができる点で有効である。 図 4は、 加圧ピン 5 1の上端面を平坦面に形成し、 加圧ピン 5 1の上端面に対 向するソケット 4 0の下面に半球状の膨出部 4 0 aを設け、 加圧ピン 5 1を膨出 部 4 0 aに当接させてコイルスプリング 5 2の付勢力がソケット 4 0に作用する ように構成した例を示す。
図 4に示す加圧機構部ではガイドブッシュ 5 3 bにより加圧ピン 5 1を軸線方 向にガイドしている。 図 3に示す加圧機構部と同様に加圧ピン 5 1を摺動孔 5 3 aやガイドブッシュ 5 3 bによってガイドすると、 加圧ピン 5 1に摺動抵抗が作 用することが避けられない。
図 5は、 加圧機構部の他の構成例を示すもので、 加圧ピン 5 1やコイルスプリ ング 5 2およびガイドブッシュ 5 3 bを使用せず、 ベ一ス板 5 5とソケット 4 0 との間に扳バネからなる弾性体 5 6を配置し、 ソケット 4 0にじかに弾性体 5 6 を当接させた構成とした例である。 図 5に示す実施形態では、 板パネを Z形に折 曲して形成した弾性体 5 6を使用している。 5 7は弾性体 5 6の端部を支持する 支持体、 5 8は予圧ストッパ、 5 9はストツバガイドである。
予圧ストツバ 5 8は弾性体 5 6をあらかじめ圧縮状態に保持することにより、 スライダー 1 4に作用する荷重をあらかじめ調節しておくためのものである。 予 圧ストッパ 5 8の位置を調節して弾性体 5 6に予圧を加えておくことにより、 弾 '性体 5 6にソケット 4 0が当接した際に、 スライダー 1 4の浮上岡 ij性につり合う ' 荷重をスライダー 1 4に作用させることができる。 予圧ストッパ 5 8はストッパ ガイド 5 9によってガイドされるのみで、 板パネからなる弾†生体 5 6はス卜ッパ ガイド 5 9とは非接触である。 したがって、 ソケット 4 0を押圧する弾性体 5 6 はストッパガイド 5 9等から完全にフリ一であり、 ソケット 4 0に荷重を作用さ せる際に搢動抵抗が作用することがまったくない。
すなわち、 本実施形態の加圧機構部の構成によれば、 弾性体 5 6からの弾性力 がそのままスライダー 1 4に作用し、 スライダー試験機に単体のスライダー 1 4 を搭載した際のスライダー 1 4の浮上特性が、 サスペンションにスライダ一を搭 載した状態での浮上特性にきわめて近い条件として得ることが可能になる。
なお、予圧ストッパ 5 8は弾性体 5 6からスライダー 1 4に作用する弾性力を、 ストッパガイド 5 9での取り付け位置によって調節するものであるから、 予圧力 を調節する際には、 各部品の製造公差を十分に配慮しておく必要がある。 すなわ ち、 予圧ストツバ 5 8の設置位置等は所定の予圧値に調節できるように寸法公差 を設定しておく必要がある。
図 6は、 板バネを用いて形成した弾性体 5 6の他の例を示す。 図 6 Aは、 弾性 体 5 6を板バネを用いて正面形状が小判形となるように形成した例である。 小判 形に形成された弾性体 5 6の上側のストレート部 5 6 aにソケット 4 0が当接し、 弾性体 5 6力、らの弾性力がスライダー 1 4に作用する。 ストッパガイド 5 9に予 圧ストツパを取り付けて、 弾性体 5 6の湾曲度を変えることによつて弾性体 5 6 の予圧値を調節することができる。
図 6 Bは、 板パネの先端部を屈曲させて弾性体 5 6とし、 弾性体 5 6を支持体 5 7に片持ち式としたものである。 板パネを長く延出する形態に弾性体 5 6を形 成することによって、 平坦状に形成した板パネの先端部が平行に上下動するよう に設けている。 この実施形態の場合も、 ストッパガイド 5 9に予圧ストツパを設 けることによって、 弓単' I生体 5 6に予圧を加えることができる。
図 6 Cは、 直線状に形成した板パネからなる弾性体 5 6を、 一対の支持体 5 7 a、 5 7 bによって両持ち式としたものである。 図 6 Dは、 板パネを波形に屈曲 させて弾性体 5 6としたものである。
これらの各実施形態に示す弾性体 5 6が変位する方向は、 いずれもスライダー 1 4を媒体 1 2の表面に対して垂直となる方向であり、 したがってスライダ一1 4に作用させる荷重の方向として好適である。
なお、 媒体 1 2の表面とスライダー 1 4との離間距離を制御する場合は、 ソケ ット 4 0が弾性体 5 6に当接した位置 ( 0点位置） を基準位置として媒体 1 2の 表面とスライダー 1 4との離間距離が浮上間隔となるように制御する。 しかしな がら、 実際には、 この 0点位置よりもスライダー 1 4を媒体 1 2の表面に接近す る側に押し込むようにする方がスライダー 1 4が安定して支持されることがある。 このように押し込みマージンを設定して媒体 1 2の表面に対するスライダー 1 4 の位置を制御する場合には、 この押し込みマージン量を考慮して予圧ストッパ 5 8の位置、 予圧値を設定する必要がある。
このように、弾性体 5 6を使用してスライダー 1 4に荷重を作用させる方法は、 加圧ピン 5 1を使用した場合のように摺動抵抗が発生したりすることがまったく なく、 スライダー 1 4の浮上量を調節するといつたきわめて小さな荷重を作用さ せるような場合に有効に使用することが可能である。 なお、 板パネを用いて弾性 体 5 6を形成する場合には、 板パネのパネ定数や板パネの圧縮量にともなう弾性 力等を考慮して、 スライダー 1 4の浮上岡 i胜に合った荷重が得られるように弾性 体 5 6を調節して使用する必要がある。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 試験用の媒体を回転駆動する駆動部と、 スライダーを単体で着脱可能に支 持するセットプレートと、 セットプレートに支持されたスライダーに電気的に接 続されスライダーの特性を検査する検査装置とを備えたスライダー試験機であつ て、
前記セットプレートに、 前記スライダーを傾動可能に支持する可動支持部を設 けるとともに、 該可動支持部を介して前記スライダーを前記媒体の表面に向けて 弾性的に加圧し、 媒体の表面からスライダーを浮上させて配置するための加圧機 構部を設け、
該加圧機構部に、 前記可動支持部に当接して可動支持部を弾性的に加圧する板 パネからなる弾性体を設けたことを特徴とするスライダー試験機。
2 . 前記弾性体は、 スライダ一の浮上剛性につりあう荷重をスライダーに対し て加えることが可能に設けられていることを特徴とする請求項 1記載のスライダ 一試験機。
3. 前記弾性体は、 前記可動支持部が板パネに当接した際に、 スライダーの浮 上岡 I胜につり合う荷重をスライダーに付与すべく、 板パネが予圧された状態にセ ットされていることを特徴とする請求項 2記載のスライダー試験機。
4. 前記弾性体は、 板パネを所定の予圧値に調節可能な寸法公差に設けられて レ、ることを特徴とする請求項 4記載のスライダー試験機。
5. 前記弾性体には、 スライダーを安定して浮上させるための押し込みマージ ンが設定されていることを特徴とする請求項 1記載のスライダー試験機。
6 . 前記弾性体は、 Z形状に板パネが折曲して設けられ、 板パネの可動端側に 可動支持部が当接すべく設けられていることを特徴とする請求項 1記載のスライ ダ—試験機。
7 . 前記弾性体は、 平板状に形成された板パネが片持ち支持され、 板パネの可 動端側に可動支持部が当接すべく設けられていることを特徴とする請求項 1記載 のスライダー試験機。
8. 前記弾性体は、 平板状に形成された板パネが両持ち支持され、 板パネの中 間に可動支持部が当接すべく設けられていることを特徴とする請求項 1記載のス ライダー試験機。
9 . 前記弾性体は、 正面形状で小判形に板パネが設けられ、 板パネの平坦部に 可動支持部が当接すべく設けられていることを特徴とする請求項 1記載のスライ ダー試験機。
1 0 . 前記弾性体は、 波形に板パネが折曲して設けられ、 板パネの可動端側に 可動支持部が当接すべく設けられていることを特徴とする請求項 1記載のスライ ダー試験機。
1 1 . 試験用の媒体を回転駆動する駆動部と、 スライダーを単体で着脱可能に 支持するセットプレートと、 セットプレートに支持されたスライダーに電気的に 接続されスライダーの特性を検査する検査装置とを備えたスライダー試験機であ つて、
前記セッ卜プレー卜に、 前記スライダーを傾動可能に支持する可動支持部を設 けるとともに、 該可動支持部に当接する加圧ピンおよび加圧ピンを介して前記ス ライダーを前記媒体の表面に向けて弾性的に加圧し、 媒体の表面からスライダー を浮上させて配置するための弾性手段を備えた加圧機構部を設け、
該加圧機構部に、 前記加圧ピンの摺動抵抗を軽減させる超音波振動源を付設し たことを特徴とするスライダー試験機。
1 2. 試験用の媒体を回転駆動する駆動部と、 スライダーを単体で着脱可能に 支持するセットプレ一卜と、 セットプレートに支持されたスライダーに電気的に 接続されスライダ一の特性を検査する検査装置とを備えたスライダー試験機であ つて、
前記セットプレートに、 前記スライダーを傾動可能に支持する可動支持部を設 け、
該可動支持部にスライダーをセッ卜するソケッ卜を設けるとともに、 該ソケッ トにスライダーを支持する押さえパネを着脱可能に設けたことを特徴とするスラ イダ一試験機。
1 3. 前記押さえパネが、 ソケットに設けられたコンタクトブロックとの間で スライダーを挟圧して支持する押圧片と、 ソケッ卜に設けられた装着溝に嵌入す る取り付け片とを備えた U字状に形成されていることを特徴とする請求項 1 2記 載のスライダー試験機。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20180240480A1 (en) * 2017-02-23 2018-08-23 Seagate Technology Llc Slider test socket
CN111795717A (zh) * 2020-06-01 2020-10-20 南京以恒科技发展有限公司 一种电子仪表检修装置及其使用方法
US11105847B1 (en) 2018-06-18 2021-08-31 Seagate Technology Llc Data storage component test socket opener

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5271597B2 (ja) * 2008-04-28 2013-08-21 日本発條株式会社 スライダ試験機
US8089730B1 (en) 2009-10-28 2012-01-03 Western Digital (Fremont), Llc Suspension assembly having a read head clamp
US8379348B2 (en) * 2010-07-12 2013-02-19 Xyratex Technology Limited Fly capable slider test socket
US8514522B1 (en) 2011-01-25 2013-08-20 Western Digital (Fremont), Llc Systems for interconnecting magnetic heads of storage devices in a test assembly
US9337613B1 (en) 2013-03-12 2016-05-10 Western Digital Technologies, Inc. Chip on submount carrier fixture

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08106745A (ja) * 1994-09-30 1996-04-23 Sony Tektronix Corp 磁気ヘッド取り付け器
JPH11265557A (ja) * 1998-03-16 1999-09-28 Fujitsu Ltd 磁気ヘッドスライダの浮上ダイナミックテスタ
JP2003036624A (ja) * 2001-07-23 2003-02-07 Fuji Electric Co Ltd 記録動作評価装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3896495A (en) * 1974-02-25 1975-07-22 Control Data Corp Mechanically isolated transducer head with spring loaded arm for flying
JPWO2003012781A1 (ja) * 2001-07-30 2004-11-25 富士通株式会社 磁気ヘッドの試験装置
US6947242B2 (en) * 2002-04-16 2005-09-20 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Apparatus and method for dynamic fly height adjustment
JP4099362B2 (ja) * 2002-08-26 2008-06-11 富士通株式会社 スライダー試験機

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08106745A (ja) * 1994-09-30 1996-04-23 Sony Tektronix Corp 磁気ヘッド取り付け器
JPH11265557A (ja) * 1998-03-16 1999-09-28 Fujitsu Ltd 磁気ヘッドスライダの浮上ダイナミックテスタ
JP2003036624A (ja) * 2001-07-23 2003-02-07 Fuji Electric Co Ltd 記録動作評価装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20180240480A1 (en) * 2017-02-23 2018-08-23 Seagate Technology Llc Slider test socket
US10839836B2 (en) 2017-02-23 2020-11-17 Seagate Technology Llc Slider test socket
US11105847B1 (en) 2018-06-18 2021-08-31 Seagate Technology Llc Data storage component test socket opener
CN111795717A (zh) * 2020-06-01 2020-10-20 南京以恒科技发展有限公司 一种电子仪表检修装置及其使用方法

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