WO2004013927A1 - 高周波回路 - Google Patents

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WO2004013927A1
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shunt
frequency circuit
high frequency
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Takeshi Furuta
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Sony Corporation
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P1/00Auxiliary devices
    • H01P1/10Auxiliary devices for switching or interrupting
    • H01P1/15Auxiliary devices for switching or interrupting by semiconductor devices
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/687Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors
    • H03K17/6871Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors the output circuit comprising more than one controlled field-effect transistor

Definitions

  • the present invention relates to a high-frequency circuit having a shunt path including an active element between a high-frequency transmission path and a ground, and particularly to a high-frequency circuit suitable for use as an ASK modulator or SPST switch. .
  • ASK Amplitude Shifting; Amplitude Shift Keying
  • a main high-frequency circuit such as a modulator
  • a high-frequency transmission path and a path from the high-frequency transmission path to a ground (GND) ie, a shunt
  • An active element such as a FET (charge effect transistor) is arranged in each of the shunt paths, and switching is performed by alternately opening and closing the active elements in these paths.
  • FIG. 12 shows a basic configuration example of a conventional high-frequency circuit.
  • FETQ 101 is arranged on the high-frequency transmission path 101 side.
  • the capacitor C 101, the FET Q 102 and the capacitor C 102 are connected in series between the high-frequency transmission path 101 and the ground.
  • the FETs Q101 and Q102 perform ON (closed) and 0FF (open) operations alternately by applying control signals A and AX having opposite phases to each gate, respectively. .
  • ASK modulation is based on the magnitude of the RF (high frequency) signal. This is a modulation method, and it can function with the same configuration as the SPST (single pole singles port ⁇ ; single pole single throw) switch.
  • the transmission frequency exceeds several GHz, especially when the transmission frequency reaches 5 to 6 GHz, which is used in ETC (Electronic Tall Collection; automatic toll collection) systems and wireless home networks, etc.
  • ETC Electronic Tall Collection; automatic toll collection
  • the ⁇ FF capacitance of F ET refers to a capacitance component that appears between the drain and the source when F ET is in the 0 FF state.
  • FIG. 13 shows an equivalent circuit when the high-frequency transmission path 101 is ON (Q 101 is 0 N) and the shunt path 102 is OFF (Q 102 is OFF).
  • the OFF capacitance C off is sufficiently smaller than the capacitances of the DC cut capacitors C 101 and C 102, and the ON resistance R on of the FET Q 101 is about several ⁇ . Therefore, the circuit characteristics in Fig. 13 are dominantly determined by the power leakage due to the OFF capacitance Coff.
  • the FETQ 101 of the high-frequency transmission path 101 has an OFF capacity Coff, and leaks power.
  • the present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to reduce path loss even in a high-frequency region, and to ensure a sufficient isolation. It is to provide a high frequency circuit. Disclosure of the invention
  • a high-frequency circuit according to the present invention has a plurality of shunt paths including an active element and an impedance element between a high-frequency transmission path and a ground, and the plurality of shunt circuits are provided for each active element.
  • a parallel resonance circuit is formed by the impedance element when turned on, and a series resonance circuit is formed by the impedance element when turned off.
  • the plurality of shunt circuits equivalently form a parallel resonance circuit using the impedance element when the active element is in the ON state.
  • shunt direction the resistance in the shunt circuit direction
  • through direction the direction of the harmonic transmission path
  • the multiple shunt circuits equivalently form a series resonance circuit using impedance elements.
  • this series resonance circuit by adjusting the resonance frequency to the operating frequency, the resistance in the shunt direction can be reduced and the transmitted power in the through direction can be reduced.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration example of a high-frequency circuit according to one embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a circuit diagram in which the active element is represented by an ON resistance when the active element is ON.
  • FIG. 3 is an equivalent circuit diagram showing a parallel resonance circuit formed when the active element is ON.
  • FIG. 4 is a circuit diagram in which the active element is represented by an OFF resistance when the active element is OFF.
  • FIG. 5 is an equivalent circuit diagram showing a series resonance circuit formed when the active element is OFF.
  • FIG. 6 is a circuit diagram showing a high-frequency circuit according to a specific example of one embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating a simulation result of a high-frequency circuit according to a specific example.
  • FIG. 8 is a circuit diagram in which a high-frequency circuit according to a conventional example is modified for high-frequency use as a comparison of simulation results.
  • FIG. 9 is a diagram illustrating a simulation result of a high-frequency circuit according to a conventional example.
  • FIG. 10 is a circuit diagram showing a configuration example of a high-frequency circuit according to a modification of one embodiment of the present invention.
  • FIG. 11 is a circuit diagram showing a circuit example of a multi-port switch according to an application example of the present invention.
  • FIG. 12 is a circuit diagram showing a configuration example of a high-frequency circuit according to a conventional example.
  • FIG. 13 is an equivalent circuit diagram of the conventional high-frequency circuit at ON. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration example of a high-frequency circuit according to one embodiment of the present invention.
  • the high-frequency circuit is composed of a plurality of, for example, two shunt circuits having active elements and impedance elements: Ll, 12 power, and these shunt circuits.
  • the circuit circuits 11 and 12 are formed on the same substrate.
  • the shunt circuit 11 has a configuration including an active element 14 and an inductor L1 connected in series between the high-frequency transmission path 13 and the ground.
  • the other shunt circuit 12 is connected in parallel with the capacitor C and the inductor L2 connected in series between the ground and the high-frequency transmission path 13 and the inductor L2.
  • the active element 15 is provided.
  • the active elements 14 and 15 are ON / OFF controlled by a common control signal A.
  • the control signal A can be transmitted through a single control line, thereby simplifying the circuit configuration. It can be achieved.
  • FETs, PIN diodes, and the like can be used as the active elements 14 and 15.
  • the high-frequency circuit is in the ON state.
  • the active elements 14 and 15 are equivalently regarded as ⁇ N resistance R on.
  • the ON resistance R on is sufficiently small and can be regarded as a short. Therefore, as shown in Fig. 3, the present high-frequency circuit in the ⁇ N state is equivalently a parallel resonance circuit of the inductor L1 and the capacitor C.
  • the impedance Z on of the parallel resonant circuit is
  • the resistance in the shunt direction can be increased, and the transmission efficiency in the through direction (high-frequency transmission path) can be improved.
  • the resonance frequency by adjusting the resonance frequency to the operating frequency, the resistance in the shunt direction is increased, and Low loss transmission characteristics can be realized in the through direction. .
  • the admittance Y 2 is only the component of the inductor L 2, and equivalently as a circuit, As shown in Fig. 5, a series resonance circuit of the inductor L2 and the capacitor C is formed.
  • ⁇ 2 1 / L 2 C... (6).
  • the active elements 14 and 15 and the impedance elements are connected.
  • a parallel resonance circuit by (L1, C) and a series resonance circuit by impedance elements (C, L2) when OFF low loss at the frequency used when ON. Transmission characteristics, and when OFF, the resistance in the shunt direction is reduced and the transmitted power in one direction is reduced. be able to.
  • FIG. 6 is a circuit diagram showing a specific circuit example of the present embodiment.
  • the active elements 14 and 15 are, for example, FET made of a GaAs (gallium arsenide) -based material that is optimal for high-frequency processing.
  • one shunt circuit 11 ′ includes a capacitor C l, a FETQ 1, a capacitor C 2, and an inductor L 1 in series between the high frequency transmission path 13 and the ground.
  • the configuration is connected to.
  • the other shunt circuit 12 ′ includes a capacitor C and an inductor L 2 connected in series between the high frequency transmission path 13 and the ground, and a capacitor C 3, FETQ
  • the capacitors C 1, C 2, and C 2 are used for DC cut in order to apply a bias to FET Q 1 and Q 2.
  • Fig. 9 shows the simulation results when the circuit shown in Fig. 8 according to the conventional example was used.
  • the circuit shown in Fig. 8 is a modified version of the conventional circuit shown in Fig. 12 for high frequencies.
  • the isolation at OFF is 21 dB, but the loss at ⁇ N is as large as about 2 dB. .
  • the high-frequency circuit according to the present specific example has the same degree of isolation at 0 FF as compared to the high-frequency circuit according to the conventional example, but has a similar high frequency circuit at the ON state. It can be seen that the loss of about 1.5 dB has been reduced in the high frequency range.
  • the element area on the IC can be reduced.
  • the inductance component of one wire is 0.7 nF and 0.4 nF when two wires are driven in parallel, so in the circuit example shown in Fig. 6, the inductor L 2 As for L3 and L3, the inductance component of the wire is used instead, and only an inductor of 0.4 nF is required to be built in the IC as the inductor L1, so that the element area on the IC can be reduced.
  • the high-frequency circuit according to the present embodiment or its modification described above can be used as an ASK modulator, an SPST switch, or the like. Further, by arranging a plurality of high-frequency circuits according to the present embodiment or its modified example, it is possible to apply the present invention to a multi-port switch such as an SPST switch.
  • Figure 11 shows a specific circuit example of this multi-port switch.
  • the high-frequency transmission path 13 is branched into two systems A and B at a branch point B.
  • Phase converters 21 and 22 such as strip-lines for shifting the phase by ⁇ Z4 are inserted into the two high-frequency transmission paths 13A and 13B.
  • the phase converters 21 and 22 are inserted in order to prevent the amplitude of the branch point ⁇ of the RF from decreasing when one of the ports is short-circuited.
  • Shunt circuits 11 and 12 shown in Fig. 1 are connected between the two high-frequency transmission paths 13A and 13B and ground, and the A-system shunt circuits 11A and 12 A and B shunt circuits 11 B and 12 B are arranged.
  • the active switches 14 A and 15 A of the A-system shunt circuits 11 A and 12 A are controlled by the control signal A. ON / OFF control is performed, while the active switches 14B and 15B of the B-system shunt circuits 11B and 12B are controlled by the control signal AX having the opposite phase to the control signal A. 0 NZ 0 FF controlled.
  • a plurality of shunt paths including an active element and an impedance element are provided between a high-frequency transmission path and a ground.
  • a parallel resonance circuit is formed by the impedance element when each active element is turned on, and a series resonance circuit is formed by the impedance element when the active elements are turned off.
  • Path loss can be reduced and sufficient isolation can be secured.

Landscapes

  • Waveguide Switches, Polarizers, And Phase Shifters (AREA)
  • Filters And Equalizers (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

 FETの開閉のみでRF信号を遮断しようとすると、高周波領域においては、ON時の経路ロスが大きくなり、またOFF時に十分なアイソレーションを確保できなくなる。 高周波伝送経路13とGNDとの間にシャント回路を有する高周波回路において、能動素子14,15およびインピーダンス素子(L1,L2,C)を含む例えば2つのシャント回路11,12を有し、これらシャント回路11,12が、各々の能動素子14,15のON時にインピーダンス素子(L1,C)による並列共振回路を、OFF時にインピーダンス素子(C,L2)による直列共振回路をそれぞれ形成するようにする。

Description

高周波回路
技術分野
本発明は、 高周波伝送経路とグラン ド との間に能動素子を含 むシャ ン ト経路を有する高周波回路に関し、 特に A S K変調器 や S P S Tスィ ッチと して用いて好書適な高周波回路に関する。
背景技術
A S K (アンプリ チュー ドシフ トキ一ィ ング;振幅偏移変調) 変調器などの主な高周波回路では、 高周波伝送経路と当該高周 波伝送経路か らグラン ド ( G N D ) に対する経路、 即ち シャ ン ト ( s h u n t ) 経路とに F E T (電荷効果 ト ラ ンジスタ) 等 の能動素子をそれぞれ配置し、 これら経路の各能動素子を互い 違いに開閉する こ とでスイ ッチング動作を行っている。
図 1 2 に、 従来の高周波回路の基本的な構成例を示す。 同図 において、 高周波伝送経路 1 0 1 側には F E T Q 1 0 1 が配置 されている。 シャ ン ト経路 1 0 2側においては、 キャパシタ C 1 0 1 、 F E T Q 1 0 2 およびキャパシ夕 C 1 0 2 が高周波伝 送経路 1 0 1 とグラ ン ド との間に直列に接続されている。 F E T Q 1 0 1 , Q 1 0 2 は、 各ゲー トに互いに逆相の制御信号 A , A Xがそれぞれ印加される こ とによ り 、 交互に O N (閉) / 0 F F (開) 動作を行う。
と ころで、 A S K変調は R F (高周波) 信号の振幅の大小で 変調する方式であ り 、 S P S T (シングルポールシングルス 口 ゥ ;単極単投)スィ ツチと 同 じ構成にて機能を果たすこ とがで きる。
しかしながら、 伝送する周波数が数 G H z 以上、 特に E T C (エレク ト ロニッ ク トールコ レク ショ ンズ;自動料金収受)シス テムやワイヤレスホームネッ ト ワーク等で用い られる 5 〜 6 G H z になる と、 F E Tの O F F容量に起因 して O N時の経路 ロスが大きく なつ た り 、 O F F時のアイ ソ レーショ ンが不十分 になる とレ う 問題が生じている。 こ こで、 F E Tの〇 F F容量 とは、 F E Tが 0 F F状態になった際の ド レイ ン ' ソース間に 現れる容量成分の こ とを言う。
この F E Tの O F F容量を C o f f とする と、 F E Tのイ ン ピ一ダンス Z は、
Z = l Z j co C o f f , ω = 2 π f
( 1 ) となる。 ( 1 ) 式か ら明らかなよ う に、 周波数 f に反比 例して抵抗成分 I Z I が小さ く なる こ とがわかる。
図 1 3 に、高周波伝送経路 1 0 1 が O N ( Q 1 0 1 が 0 N )、 シャ ン ト経路 1 0 2 が O F F ( Q 1 0 2 が O F F ) になったと きの等価回路を示す。 こ こで、 O F F容量 C o f f が D Cカ ツ ト用のキヤノ\°シタ C 1 0 1 , C 1 0 2 の容量に比べて十分小さ く 、 F E T Q 1 0 1 の O N抵抗 R o nが数 Ω程度なので、 図 1 3 の回路特性は、 O F F容量 C o f f による電力 リ ークで支配 的に決定される。 逆に、 高周波伝送経路が O F F、 シャ ン ト経 路 1 0 2 が O Nのときは、 高周波伝送経路 1 0 1 の F E T Q 1 0 1 が O F F容量 C o f f を持ち、 電力を リ ークする。
このよ う に、 F E Tの開閉のみで R F信号を遮断しよう とす る と、 特に透過特性において高周波帯では本質的に困難になつ てく る こ とがわかる。 すなわち、 高周波領域においては、 O N 時の経路ロスが大きく な り、 また O F F時に十分なアイ ソ レー ショ ンを確保できなく なる。能動素子と して、 F E Tではなく 、 P I N (ポジティ ブイ ン ト リ ンシッ ク ネガティ ブ)ダイ オー ド を用いた回路構成の場合にも同様の問題が発生する。
本発明は、 上記課題に鑑みてなされたものであ り 、 その目的 とする と ころは、 高周波領域においても経路ロスを低減し、 十 分なアイ ソ レーシ ョ ンを確保する こ とが可能な高周波回路を 提供する こ とにある。 発明の開示
本発明による高周波回路は、 高周波伝送経路とグラン ド との 間に、 能動素子およびィ ンピーダンス素子を含む複数のシャ ン ト経路を有し、 これら複数のシャ ン ト回路が、 各々 の能動素子 の O N時に前記ィ ンピーダンス素子による並列共振回路を、 O F F時に前記ィ ンピ一ダンス素子によ る直列共振回路をそれ ぞれ形成する構成となっている。
上記構成の高周波回路において、 各々 の能動素子が O Nのと き、 これら能動素子は等価的に O N抵抗とみなされ、 当該 O N 抵抗が十分小さいため、 ショ ー ト とみなすこ とができる。 した がって、 複数のシャ ン ト回路は、 能動素子が O N状態にある と きに、 等価的にイ ンピーダンス素子による並列共振回路を形成 する。 この並列共振回路では、 共振周波数を使用周波数に合わ せる こ とで、 シャ ン ト回路方向 (以下、 シャ ン ト方向と記す) を高抵抗化し、 高調波伝送経路方向 (以下、 スルー方向と記す) に対して低ロスな透過特性が得られる。 一方、 各々の能動素子 が O F F のとき、 能動素子の 0 F F容量が十分小さいものとす る と、 複数のシャ ン ト回路は等価的にイ ンピ一ダンス素子によ る直列共振回路を形成する。 この直列共振回路では、 共振周波 数を使用周波数に合わせる こ とで、 シャ ン ト方向を低抵抗化し スルー方向の透過電力を低下させる こ とができる。 図面の簡単な説明
図 1 は、 本発明の一実施形態に係る高周波回路の構成例を示す 回路図である。
図 2 は、 能動素子が O N時に当該能動素子を O N抵抗で表し た回路図である。
図 3 は、 能動素子が O N時に形成される並列共振回路を示す 等価回路図である。
図 4 は、 能動素子が O F F時に当該能動素子を O F F抵抗で 表した回路図である。
図 5 は、 能動素子が O F F時に形成される直列共振回路を示 す等価回路図である。
図 6 は、 本発明の一実施形態の具体例に係る高周波回路を示 す回路図である。
図 7 は、 具体例に係る高周波回路のシミ ュ レーショ ン結果を 示す図である。
図 8 は、 シミ ュ レーショ ン結果の比較と して、 従来例に係る 高周波回路を高周波用に修正した回路図である。
図 9 は、 従来例に係る高周波回路のシミ ュ レーショ ン結果を 示す図である。 図 1 0 は、 本発明の一実施形態の変形例に係る高周波回路の 構成例を示す回路図である。
図 1 1 は、 本発明の適用例に係る多ポ一 トスイ ッチの回路例 を示す回路図である。
図 1 2 は、 従来例に係る高周波回路の構成例を示す回路図で ある。
図 1 3 は、 従来例に係る高周波回路の O N時の等価回路図で ある。 発明を実施するための最良の形態 ·
以下、 本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説 明する。 図 1 は、 本発明の一実施形態に係る高周波回路の構成 例を示す回路図である。
図 1 か ら明 らかなよう に、 本実施形態に係る高周波回路は、 能動素子およびイ ンピーダンス素子を持つ複数、 例えば 2 つの シャ ン ト回路 : L l , 1 2 力、 らな り 、 これら シャ ン ト回路 1 1 , 1 2 が同一基板上に作成された構成となっている。 一方のシャ ン ト回路 1 1 は、 高周波伝送経路 1 3 とグラ ン ドとの間に直列 に接続された能動素子 1 4 およびイ ンダク 夕 L 1 を有する構 成となっている。 他方のシャ ン 卜回路 1 2 は、 高周波伝送経路 1 3 と のグラ ン ド との間に直列に接続されたキャパシタ C お よびィ ンダクタ L 2 と、 ィ ンダク 夕 L 2 に対して並列に接続さ れた能動素子 1 5 とを有する構成となっている。
この高周波回路において、 能動素子 1 4 , 1 5 は、 共通の制 御信号 Aによって O N / 0 F F制御される。 これによ り 、 制御 信号 Aの伝送は 1 本の制御線で済むため、 回路構成の簡略化を 図る こ とができる。 能動素子 1 4 , 1 5 の O N / O F Fでシャ ン ト回路 1 1, 1 2 のイ ンピ一ダンスを変更する こ とによ り 、 回路全体の O N / O F F状態の切 り替えが行われる。 能動素子 1 4, 1 5 と しては、 F E Tや P I Nダイオー ド等を用いる こ とができる。
以下に、 具体的な回路動作について説明する。
図 2 に示すよう に、 能動素子 1 4 , 1 5 が O N (低抵抗 = R o n状態) のとき本高周波回路は O N状態となる。 この とき、 能動素子 1 4 , 1 5 は等価的に〇 N抵抗 R o n とみなされる。 この O N抵抗 R o nは十分小さ く 、 ショ ー ト とみなする こ とが できる。 したがって、 〇 N状態にある ときの本高周波回路は、 図 3 に示すよう に、 等価的にイ ンダクタ L 1 とキャパシタ Cの 並列共振回路となる。
こ こで、 並列共振回路のイ ンピーダンス Z o n は、
Ζ ο η = 1 / Υ ο η , Υ ο η = 1 / j ω L 1 + j ω C
.'. Z o n = j ω L 1 / ( 1 — ω 2 L 1 C … ( 2 ) となる。 したがって、 イ ンダクタ L 1 およびキャパシ夕 Cの各値を、 使用周波数で共振点 ( Z o n =無限大) となるよ う に、 即ち
ω 2 = 1 / L 1 C
( 3 )
を満足するような素子定数を選択する こ とによ り 、 シャ ン ト方 向を高抵抗化し、 スルー方向 (高周波伝送経路) の透過効率を 向上させる こ とができる。
このよう に、 本実施形態に係る高周波回路では、 共振周波数 を使用周波数に合わせる こ とで、 シャ ン ト方向を高抵抗化し、 スルー方向に対して低ロスな透過特性を実現する こ とができ る。 .
方、 図 4 に示すよ う に、 能動素子 1 4 1 5 が O F F (高 抵抗 = C o f f 状態) のとき本高周波回路は O F F状態になる で、 イ ンダクタ L 1 を含むシャ ン ト回路 1 1 のイ ンピーダ ンス Z 1 は、
Z l = j L l + l Z j co C o f f …… ( 4 ) とな り 、 O F F容量 C o f f が十分に小さいとき、 イ ンピーダ ンス Z 1 が無限大となるので、 このシャ ン ト回路 1 1 は無視で さる
また、 イ ンダク夕 L 2 と O F F容量 C o f f で構成される並 列回路のア ドミ ッ タ ンス Y 2 ( Y = 1 / Z ) とする と、
Y 2 = 1 / j ω L 2 + j ω C o f f となる。 また、 この並 列回路を含むシャ ン ト回路 1 2 のイ ンピーダンス Z 2 は、
Z 2 = 1 / j ω C + 1 / Y 2
= 1 / j ω C + j ω L 2 / ( 1 - ω 2 L 2 C ο f f )
( 5 ) であ り 、 〇 F F容量 C o f f が十分に小さいとき、 ア ド ミ ッ タ ンス Y 2 と してはイ ンダクタ L 2 の成分のみとな り 、 回路と し ては等価的に、 図 5 に示すよう に、 イ ンダク夕 L 2 とキャパシ タ Cの直列共振回路となる。
の直列共振回路の共振周波数は、 ( 5 ) 式において、 Z 2
= 0 とする と、
ω 2 = 1 / L 2 C …… ( 6 ) であ り 、 これを使用周波数に合わせる こ とによ り 、 シャ ン ト方 向を低抵抗化し、 スルー方向の透過電力を低下させる こ とがで き、 本高周波回路の O F F状態を実現できる。
しかしながら、 周波数が数 G H z 以上と高く なる と、 O F F 容量 C o f f の影響 (正確には ω C o f f 積)が無視できない ので、 理想的なイ ンダク夕 L 2 とキャパシ夕 Cの直列共振とは ならない。 したがって、 回路全体のイ ンピーダンス Z 0 f に ついては、
Z o f f = 1 / Y o f f , Y ο f f = 1 / Ζ 1 + 1 / Ζ 2
…… ( 7 ) を解いて共振点を求める こ とになる。
( 3 )式を ( 5 ) 式に用いる と、
Z o f f = j ω L 1 ( C - C ο f f )
• ( L l - L 2 - L 2 C o f f / C )
/ ( 2 L 2 C O f f - L I C ) ··· ( 8 ) と変形できるので、 Z o f i = 0 となるためには、
L l / L 2 - l = C o f f / C …… ( 9 ) を満足するよ うな素子定数を用いる こ ととなる。
上述したよう に、 高周波伝送経路 1 3 とグラ ン ド との間にシ ヤ ン ト回路を有する高周波回路において、 能動素子 1 4, 1 5 およびイ ンピーダンス素子 ( L l, L 2, C ) を含む複数、 例 えば 2 つのシャ ン ト回路 1 1 , 1 2 を有し、 これらシャ ン ト回 路 1 1 , 1 2 が、 各々 の能動素子 1 4 , 1 5 の O N時にイ ンピ —ダンス素子 ( L 1 , C ) による並列共振回路を、 O F F時に イ ンピーダンス素子 ( C , L 2 ) による直列共振回路をそれぞ れ形成するよう にした こ とで、 O N時には使用する周波数にお いて低ロスな透過特性を得る こ とができ、 また O F F時にはシ ヤ ン ト方向を低抵抗化し、 スル一方向の透過電力を低下させる こ とができる。
(具体例)
図 6 は、 本実施形態の具体的な回路例を示す回路図であ り 、 図中、 図 1 と同等部分には同一符号を付して示している。 本具 体例では、 能動素子 1 4 , 1 5 と して、 高周波の処理に用いて 最適な例えば G a A s (ガリ ウム · ヒ素) 系材料からなる F E Tを用いている。
図 6 において、 一方のシャ ン ト回路 1 1 ' は、 高周波伝送経 路 1 3 とのグラ ン ド との間に、 キャパシタ C l 、 F E T Q 1 、 キャパシ夕 C 2 およびイ ンダク タ L 1 が直列に接続された構 成となっている。 他方のシャ ン ト回路 1 2 ' は、 高周波伝送経 路 1 3 とのグラ ン ド との間に、 キャパシ夕 Cおよびイ ンダクタ L 2 が直列に接続される と ともに、 キャパシ夕 C 3 、 F E T Q
2 、 キャパシ夕 C 4 およびイ ンダクタ L 3 の直列接続回路がィ ンダクタ L 2 に対して並列に接続された構成となっている。
上記具体例に係る高周波回路では、 F E T Q 1 , Q 2 にバイ ァスを印加するため D Cカ ッ ト用にキャパシタ C 1 , C 2 , C
3 , C 4 を挿入し、 また I C化した際のボンディ ング · ワイヤ のイ ンダク タ ンス を考慮してイ ンダク タ L 3 を追加した構成 となっている。 こ の具体例に係る高周波回路において、 一例と して、 使用周波数を 5 G H z と し、 各素子定数と して C = 0 . 9 5 p F、 C l , C 2 = 6 p F、 C 3 , C 4 = 1 0 p F、 C o f f = 0 . 4 p F、 L 1 = 1 . l n F、 L 2 = 0 . 7 n F、 L 3 = 0 . 4 n F を用いた場合のシミ ュ レーショ ン結果を図 7 に 示す。
図 7 のシミ ュ レーショ ン結果から明 らかなよ う に、 本具体例 に係る高周波回路においては、 O N時にはロスが約 0 . 5 d B 程度であ り 、 O F F時には 2 0 d B のアイ ソ レーショ ンが確保 されている こ とがわかる。
比較と して、 従来例に係る図 8 に示す回路を用いた場合のシ ミ ュ レーシヨ ン結果を図 9 に示す。 図 8 に示す回路は、 図 1 2 に示す従来回路を高周波用に修正した回路である。 こ こでは、 各回路定数と して C 1 0 1 , C 1 0 2 = 3 p F , L 1 0 4 = 0 . 7 n F、 C o f f = 0 . 4 p F を用いている。 図 9 のシミ ュ レ —ショ ン結果か ら明 らかなよう に、 O F F時のアイ ソ レーショ ンは 2 1 d B あるが、 〇 N時のロスが約 2 d B と大きな値とな つている。
この比較結果か ら明 らかなよう に、 本具体例に係る高周波回 路は、 従来例に係る高周波回路に比べて、 0 F F時のアイ ソ レ ーショ ンについては同程度である ものの、 O N時のロスについ ては高周波領域において約 1 . 5 d B程度低減できている こ と がわかる。
また、 図 1 に示す回路例において、 イ ンダクタ L I , L 2 の 全部または一部をボンディ ング · ワイヤのィ ンダク夕 ンス成分 で代用する こ とによ り 、 I C上の素子面積を低減する こ とがで きる。 一例と して、 ワイヤ 1 本のイ ンダク夕ンス成分は 0 . 7 n F、 2 本並列にワイヤを打った場合で 0 . 4 n Fなので、 図 6 に示す回路例では、 イ ンダクタ L 2 , L 3 についてはワイ ヤ のイ ンダク夕 ンス成分で代用 し、 イ ンダクタ L 1 として 0 . 4 n F分のイ ンダクタ を I Cに内蔵させるだけで済むため、 I C 上の素子面積を低減できる。
(変形例) なお、 上記実施形態では、 イ ンダク夕 L l , L 2 をそれぞれ 含む 2本のシャ ン ト回路 1 1 , 1 2 を持つ場合を例に挙げて説 明したが、 これに限られる ものではなく 、 図 1 0 に示すよう に、 キャパシ夕 C 1 , C 2 をそれぞれ含む 2本のシャ ン ト経路を同 時に切り替えるよ う にしても同様の効果を得る こ とができ、 ま た 3 本以上のシャ ン ト経路を持つ回路構成とする こ と も可能 である。
(適用例)
以上説明 した本実施形態ある いはその変形例に係る高周波 回路は、 A S K変調器や S P S Tスィ ッチ等として用いる こ と ができる。 また、 本実施形態あるいはその変形例に係る高周波 回路を複数配置する ことで、 S P S Tスィ ッチ等の多ポー トス ィ ツチに応用する ことも可能である。 この多ポー トスィ ツチの 具体的な回路例を図 1 1 に示す。
図 1 1 において、 高周波伝送経路 1 3 は、 分岐点 Bで 2 系統 A , B に分岐されている。 この 2 系統の高周波伝送経路 1 3 A, 1 3 B には、 λ Z 4だけ位相をずらすためのス ト リ ップライ ン 等の位相変換装置 2 1 , 2 2 が挿入されている。 この位相変換 装置 2 1 , 2 2 は、 片側のポー トがショ ー ト した際に R F の分 岐点 Β の振幅が低下しないよ う にするために挿入された も の である。
2 系統の高周波伝送経路 1 3 A , 1 3 B とグラン ドとの間に は、 図 1 に示すシャ ン ト回路 1 1 , 1 2 が、 A系統のシャ ン ト 回路 1 1 A , 1 2 Aおよび B系統のシャ ン ト回路 1 1 B , 1 2 B と して配置されている。 ただし、 A系統のシャ ン ト回路 1 1 A, 1 2 Aの能動スィ ッチ 1 4 A , 1 5 Aが制御信号 Aによつ て O N / O F F制御されるのに対して、 B系統のシャ ン ト回路 1 1 B , 1 2 Bの能動スィ ッチ 1 4 B, 1 5 Bが制御信号 Aと 逆相の制御信号 A Xによって 0 N Z 0 F F制御される。
なお、 本適用例では、 S P S Tスィ ッチ等の多ポー トスイ ツ チに適用 した場合を例に挙げて説明したが、 この適用例に限ら れる ものではなく 、 A S K変調器などにも同様に適用可能であ る。 産業上の利用可能性
以上説明したよう に、 本発明によれば、 高周波伝送経路とグ ラ ン ド との間に、 能動素子およびィ ンピ一ダンス素子を含む複 数のシャ ン ト経路を有し、 これら複数のシャ ン ト回路が、 各々 の能動素子の O N時にイ ン ピーダンス素子による並列共振回 路を、 O F F時にイ ンピーダンス素子による直列共振回路をそ れぞれ形成するよう にしたこ とで、 高周波領域においても経路 ロスを低減し、 十分なアイ ソ レーショ ンを確保する こ とができ る。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 高周波伝送経路とグラ ン ド との間に、 能動素子およびィ ンピ一ダンス素子を含む複数のシャ ン ト経路を有し、
前記複数のシャン ト回路が、 各々 の前記能動素子の O N時に 前記イ ンピーダンス素子による並列共振回路を、 O F F時に前 記ィ ン ピ一ダンス素子によ る直列共振回路をそれぞれ形成す る こ とを特徴とする高周波回路。
2 . 前記能動素子が電界効果 ト ラ ンジスタである こ とを特徴 とする請求項 1 記載の高周波回路。
3 . 前記電界効果 ト ランジスタがガリ ウム , ヒ素系材料から なる こ とを特徴とする請求項 2 記載の高周波回路。
4 . 前記複数のシャ ン ト経路が同一基板上に作成されている こ とを特徴とする請求項 1 記載の高周波回路。
5 . 前記複数のシャ ン ト経路を形成するイ ンダクタが、 I C 化の際のボンディ ング · ワイヤのィ ンダクタンス成分で代用さ れている こ とを特徴とする請求項 1 記載の高周波回路。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100611107B1 (ko) 2005-06-21 2006-08-09 한국전자통신연구원 고전력 고격리도 특성을 갖는 흡수형 rf 스위치
JP2007049309A (ja) * 2005-08-08 2007-02-22 Nec Electronics Corp スイッチ回路
KR100983794B1 (ko) 2007-10-01 2010-09-27 한국전자통신연구원 고 격리도 특성을 갖는 초고주파 스위치
JP6076193B2 (ja) * 2013-05-20 2017-02-08 三菱電機株式会社 移相回路
US9825553B2 (en) * 2014-04-17 2017-11-21 Linear Technology Corporation Voltage regulation in resonant power wireless receiver
JP2016015712A (ja) * 2014-06-09 2016-01-28 日本電波工業株式会社 直交偏波送信デバイス、直交偏波受信デバイス及び無線通信装置
CN111742491B (zh) * 2018-02-15 2024-04-16 株式会社村田制作所 开关电路、高频前端电路以及通信装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05299995A (ja) * 1992-04-24 1993-11-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> マイクロ波半導体スイッチ
JPH10215162A (ja) * 1997-01-29 1998-08-11 Sony Corp スイッチ回路
JPH10336000A (ja) * 1997-06-05 1998-12-18 Nec Eng Ltd 高周波信号切り替え器
JP2000013104A (ja) * 1998-06-19 2000-01-14 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 高周波スイッチ
JP2000114950A (ja) * 1998-10-07 2000-04-21 Murata Mfg Co Ltd Spstスイッチおよびspdtスイッチおよびそれを用いた通信機
JP2000252810A (ja) * 1999-02-26 2000-09-14 Nec Kansai Ltd 高周波切り替え回路ic

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5061911A (en) * 1990-04-03 1991-10-29 Motorola, Inc. Single fault/tolerant MMIC switches
US5917362A (en) * 1996-01-29 1999-06-29 Sony Corporation Switching circuit
US6014066A (en) * 1998-08-17 2000-01-11 Trw Inc. Tented diode shunt RF switch
JP3465630B2 (ja) * 1999-06-02 2003-11-10 株式会社村田製作所 アンテナ共用器および通信装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05299995A (ja) * 1992-04-24 1993-11-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> マイクロ波半導体スイッチ
JPH10215162A (ja) * 1997-01-29 1998-08-11 Sony Corp スイッチ回路
JPH10336000A (ja) * 1997-06-05 1998-12-18 Nec Eng Ltd 高周波信号切り替え器
JP2000013104A (ja) * 1998-06-19 2000-01-14 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 高周波スイッチ
JP2000114950A (ja) * 1998-10-07 2000-04-21 Murata Mfg Co Ltd Spstスイッチおよびspdtスイッチおよびそれを用いた通信機
JP2000252810A (ja) * 1999-02-26 2000-09-14 Nec Kansai Ltd 高周波切り替え回路ic

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