WO2003006971A1 - Dispositif de support de substrat - Google Patents

Dispositif de support de substrat Download PDF

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WO2003006971A1
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holding
suction
suction member
holding device
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Tomohiro Kitahara
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Olympus Optical Co., Ltd.
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/04Optical benches therefor

Definitions

  • the present invention relates to a substrate holding device for holding a large glass substrate of flat panel display (FPD) such as liquid crystal display and organic EL display.
  • FPD flat panel display
  • a glass substrate (a semiconductor device substrate including a plastic substrate) of a flat panel display (FPD) such as a liquid crystal display or an organic EL display is disclosed in A glass substrate holder for holding.
  • the glass substrate holder comprises: a holding frame for holding the glass substrate by suction; a transparent member for closing the transmission illumination opening of the holding frame; and a plurality of supports provided on the upper surface of the transparent member for supporting the glass substrate.
  • a thin glass substrate is placed on a plurality of support pins, and only the peripheral edge of the glass substrate is held by suction on the holding frame. Vibration from the clean / lame downflow or grating floor causes the center of the glass substrate to become stagnant or vibrated.
  • the substrate holder 1 is formed in a frame shape. At the opening of the substrate holder 1, a plurality of rectangular pedestals 2 are provided. A plurality of support pins 3 are arranged and fixed in a row at predetermined intervals on the upper surface of the holding stand 2. A plurality of suction members (suction pads) 5 for holding the glass substrate 4 by suction are provided at the periphery of the frame portion of the substrate holder 1. These suction members 5 are connected to a suction tube (not shown), The suction operation is performed by receiving the suction operation of the suction pump. Further, a plurality of reference pins 6 and a plurality of pressing pins 7 are provided on the periphery of the frame portion of the substrate holder 1.
  • the glass substrate 4 When performing a surface inspection of the glass substrate 4, the glass substrate 4 is placed on the substrate holder 1 and pressed against the plurality of reference pins 6 by the plurality of pressing pins 7 to be in the reference position. It will be set. Thereafter, the glass substrate 4 is adsorbed and fixed onto the substrate holder 1 by the plurality of suction members 5.
  • the central portion of the glass substrate 4 is shaken up and down in the vertical direction and vibrates largely, or by the clean room downflow or the like. Vibration may occur in the central part of the glass substrate 4 As described above, if the central part of the glass substrate 4 is shaken up and down in the vertical direction, the defect shakes and it becomes difficult to observe. In addition, when observing the glass substrate 4 using a microscope, if the glass substrate 4 is lifted, the distance between the objective lens and the surface of the glass substrate 4 changes when the observation position of the microscope is vibrated, This happens.
  • An object of the present invention is to provide a substrate holding device capable of preventing floating and vibration of the central portion of the substrate.
  • the present invention provides a substrate holding device capable of achieving a good transmission mirror and capable of easily adjusting the height of a support pin by suppressing the influence of the decrease in the amount of transmitted illumination light due to the holder mounted on the substrate holder frame.
  • the purpose is to
  • the substrate holder is formed in a frame shape having an opening, and is provided at a predetermined position in the opening of the substrate holder for holding the peripheral portion of the substrate by suction.
  • a substrate holding apparatus comprising: a substrate suction member for holding the substrate.
  • FIG. 1 is a block diagram of a substrate holding device showing a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2A is a top view of the attachment of the substrate suction member and the support pin to the holding table.
  • FIG. 2B is a side view of the attachment of the substrate suction member and the support pin to the holding table.
  • Fig. 3A is a top view of the mounting of the support pin to the holder.
  • FIG. 3B is a side view of the mounting of the support pin to the holder.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view of the substrate suction member.
  • Figure 5 is a cross-sectional view of the support pin.
  • Fig. 6 is a view for explaining the height adjustment method of the plurality of substrate suction members and the support pins.
  • FIG. 7 is a configuration diagram of an optical lens showing a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 8A is a diagram showing an example of a method of manufacturing an optical lens.
  • FIG. 8B is a view showing an example of a method of manufacturing an optical lens.
  • FIG. 8C is a diagram showing an example of a method of manufacturing an optical lens.
  • FIG. 9 is a block diagram showing a modification of the substrate suction member.
  • Fig. 10 is a schematic diagram of a conventional substrate holding apparatus.
  • FIG. 1 is a block diagram of the substrate holding device.
  • This substrate holder inspects the surface of the glass substrate 4 of the brat panel display. Applied to surface inspection equipment.
  • a plurality of holding stands 10 are installed in the opening of the substrate holder 1.
  • These holding stands 10 are formed in a cross-piece shape, and are arranged in parallel at predetermined intervals between two opposing sides in the opening of the substrate holder 1.
  • These holding stands 10 are constituted by two belt-like holding plates 10 a and 10 b arranged with their plate surfaces facing each other.
  • a space portion 1 1 for transmitting the transmitted illumination light is formed between the holding plates 10 a and 10 b.
  • the holding plates 10 a and 10 b have a width dimension sufficiently long with respect to the plate thickness, and are made of highly rigid metal.
  • the retaining plate 10 a s 10 b may be coated with a vibration-proof material (high damping material) on the plate surface, or the retaining plates 10 a and 10 b may be subjected to intergranular corrosion.
  • a vibration-proof material high damping material
  • Made of damping metal such as tenless.
  • High-polymer rubber, resin, vibration-absorbing paint, or gel-like material should be used as a damping material.
  • vibration absorbing paint urethane, acrylic and silicone resin paint are available.
  • examples of the gel-like substance include organogene, polymer-based gel, silicone-based resin and fluorine ion exchange resin.
  • a transparent preventing material may be interposed between the two holding plates 10 a and 10 b.
  • the resonance frequency of each holder 10 can be changed by changing the thickness of the holding plates 10 a and 10 b or changing the thickness and amount of the vibration-proof material so that each holder 10 does not vibrate. It is preferable to eliminate the resonance between the holders 10 by changing the
  • a plurality of substrate suction members 20 are provided on each holder 10 corresponding to a predetermined position in the opening of the substrate holder 1, for example, a central portion. Further, each support 10 is provided with a plurality of support pins 30.
  • Fig. 2A and Fig. 2B are block diagrams showing the attachment of the substrate suction member 20 and the support pin 30 to the holding table 10, and Fig. 2A is a block diagram seen from the top, Fig. 2B Is a side view.
  • the substrate suction member 20 and the support pin 30 are held at predetermined intervals between two holding rods 10 a and 10 b.
  • a suction tube 21 is connected to each substrate suction member 20. This suction tube 2 1 is disposed between two holding plates 10 a and 10 b.
  • the suction tube 21 is made of, for example, a light transmitting material.
  • the bottom surfaces of the two holding plates 10 a and 10 b are preferably made of a light transmitting member.
  • Fig. 3A and Fig. 3B are configuration diagrams in which only the support pin 3 0 is attached to the holding stand 10, and Fig. 3A is a configuration diagram seen from the top. Fig. 3B is a side view. A plurality of support pins 30 are held at predetermined intervals between two holding plates 10 a and 10 b.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view of the substrate suction member 20.
  • a substrate holding shaft 22 is provided in the substrate suction member 20.
  • a suction passage 2 3 is formed in the axial direction in the substrate holding shaft 2 2.
  • An adsorption member 24 formed of an elastic material is attached to the tip of the substrate holding shaft 22 so as not to come off.
  • the suction member 2 4 is formed with a suction hole 25 for communicating with the suction passage 2 3.
  • the suction member 2 4 is held at the tip of the substrate holding shaft 2 2 by a slippage prevention ring 2 6.
  • a suction tube 21 is attached by a mounting end 2 7.
  • the suction tube 21 is attached to the substrate suction member 20 so as to be in the suction passage 2 3. It communicates.
  • the suction tube 2 1 is connected to a suction pump P provided outside the substrate holder 1.
  • Figure 5 is a cross-sectional view of the support pin 3 0.
  • a cylindrical holding shaft 3 1 is provided on the support pin 3 0.
  • a recess 3 2 is formed at the tip of the holding shaft 3 1, and a ball 3 3 is rotatably provided in the recess 3 2.
  • Formed on the original side of the retaining shaft 3 1 are a fitting groove 3 5 for receiving the tightening of the fixing screw 3 4 and a clearance groove 3 7 for preventing the fixing screw 3 6 from coming into contact. It is done.
  • a screw 3 1 a is formed on the holding shaft 3 1 below the clearance groove 3 7, and the holding shaft 3 1 3 1 is screwed into a screw hole 3 8 a formed on the lower portion of the holding bearing 3 8. And is movable in the vertical direction (arrow direction).
  • the height adjustment of the support pin 30 is performed by rotating the holding shaft 3 1 using the bottom opening cover screwdriver of the holding bearing 3 8 and moving it in the direction of the arrow to obtain the height position. After adjusting, tighten the fixing screw 3 4 to fix the holding shaft 3 1 to the holding bearing 3 8.
  • Flat portions 3 9 and 40 for receiving the two holding plates 10 a and 10 b are formed on both sides at the lower portion of the holding bearing 3 8. Respective screw holes 4 1 and 4 2 for passing fixing screws 3 4 and 3 6 are formed.
  • the support pin 30 has such a structure, loosen the fixing screw 3 6 to attach and remove between the two holding plates 10 a and 10 b.
  • the height of the support pin 30 can be adjusted simply by rotating the holding shaft 3 1. Next, height adjustment of the plurality of substrate suction members 20 and the plurality of support pins 30 provided on the substrate holder 1 will be described with reference to FIG.
  • a reference pattern 4 3 on which a reference plane 4 4 is formed is prepared.
  • the reference plane 4 4 is a plane having no distortion or unevenness.
  • Each of the reference bases 4 5 is provided at both ends of the reference plane 4 4.
  • These reference bases 4 5 are formed at a reference height H for adjusting the heights of the plurality of substrate suction members 20 and the plurality of support pins 30.
  • These reference pedestals 45 are arranged at intervals suitable for the size of the substrate holder 1, and the holding pedestals 10 are placed upside down between the reference pedestals 45, 45.
  • the height adjustment of the substrate suction member 20 and the support pin 30 may be performed by placing the substrate holder 1 on the reference plane 44.
  • the height adjustment of the substrate suction member 20 is performed by setting the suction member 2 4 at the tip of the substrate holding shaft 2 2 shown in FIG. 4 by a inertia material, so this suction member 3 4 is a reference plane 4 When it is in contact with 4, it expands and contracts according to the height of the reference plane 4 4. In this state, the substrate suction member 20 is fixed to the two holding plates 10 a and 10 b by a fixing screw or the like.
  • the height adjustment of the support pin 30 is performed by inserting the holding bearing 3 8 shown in Fig. 5 into the bottom opening and inserting a screwdriver, and rotating until the pole 3 3 at the tip of the holding shaft 3 1 contacts the reference plane 4 4 Let After adjusting the height of the holding shaft 3 1, tighten the fixing screw 3 4 to fix the holding shaft 3 1 to the holding bearing 3 8.
  • the height adjustment of only the plurality of support pins 30 is performed by moving the holding shafts 31 of the support pins 30 vertically in the same manner as described above.
  • the glass substrate 4 is pressed against the respective reference pins 6 by the respective pressing pins 7 and the reference position is After being set in place, first, the central portion of the glass substrate 4 is attracted and fixed by the substrate suction member 20. Subsequently, the peripheral edge of the glass substrate 4 is sucked and fixed onto the substrate holder 1 by each suction pad 5.
  • the plurality of substrate suction members 20 perform the suction operation and hold the glass substrate 4 at the central portion thereof by suction. At the same time, the glass substrate 4 is supported by the plurality of support pins 3 0.
  • the glass substrate 4 is adsorbed and held at the peripheral portion and the central portion, the levelness is always maintained. Therefore, even if the substrate holder 1 is swung during the inspection of the macro opening, or if it is affected by the downflow or the like, no floating occurs in the central portion of the glass substrate 4.
  • the surface inspection is performed on the glass substrate 4 by a transmitted light or a speculum method using an epi-illumination.
  • the transmissive illumination the transmissive illumination light is emitted from below the glass substrate 4.
  • the transmitted illumination light is applied to the glass substrate 4 through the space portion 13 of the.
  • transmitted illumination light is rotated from the rotation of each of the holding plates 10 a and 10 b, and the transmitted illumination light thus irradiated is applied to the glass substrate 4. Further, even at the position where the suction tube 21 is provided, the transmitted illumination light is diffused by the light transmitting suction tube 21 and irradiated to the glass substrate 4.
  • the decrease in the light amount of the transmission illumination light irradiated to the glass substrate 4 can be suppressed to a small extent even at the installation position of the holding table 10. Good surface inspection.
  • the plurality of substrate suction members correspond to the central portion of the glass substrate 4.
  • the glass substrate 4 is fixed and adsorbed at its peripheral portion by the respective suction members 5 in the peripheral portion of the substrate holder 1 and at its central portion.
  • the glass substrate 4 can be reliably held at high levelness. This makes it possible to carry out the surface inspection of the glass substrate 4 accurately without causing a false inspection in the macro inspection of the glass substrate 4. Even when the microscope is observed with a microscope at a high magnification, the distance between the objective lens and the surface of the glass substrate 4 is kept constant and no focus shift occurs, and an image of the in-focus on the entire surface of the glass substrate 4 You can test at.
  • the plurality of substrate suction members 20 are held between the two holding plates 10 a and 10, and the plurality of support pins 30 are also held between the two holding plates 10 a and 10 b. Because the transmitted illumination light is two sheets of The transparent illumination light is applied to the glass substrate 4 through the space 13 between the holding plates 10 a and 10 b and is transmitted from the rotation of the holding plates 10 a and 10 b. The substrate 4 is irradiated. Furthermore, the transmitted illumination light is diffused by the light transmitting suction tube 21 and irradiated to the glass substrate 4. This makes it possible to minimize the decrease in the amount of transmitted illumination light applied to the glass substrate 4 and to realize a good transmission observation mirror.
  • Each of the holding plates 10 a and 10 b is easy to process, can shorten the manufacturing time, and can reduce costs.
  • the plurality of substrate suction members 20 can be attached and removed between the two holding plates 10 a and 10 b, so the two holding plates 10 a and 10 b are on the straight line It can be installed and removed at the desired position on the.
  • the arrangement intervals of these substrate suction members 20 can be arbitrarily adjusted according to the size and weight of the glass substrate 4.
  • the plurality of substrate suction members 20 and the plurality of support pins 30 can all be adjusted to the same height by using the reference pattern 4 3 and each reference base 4 5.
  • the height of the substrate suction member 20 is adjusted by the suction member 24 following the reference plane 44, and the support pin 30 is moved up and down the holding shaft 31. Since the height can be adjusted, the glass substrate 4 can be reliably held at high levelness.
  • the holding plates 10 a and 10 b are coated with a vibration-proof material, or made of damping metal, and the vibration-proof material is sandwiched between the holding plates 10 a and 10 b.
  • the vibration of the holding stand 10 can be reduced. Therefore, the vibration of the glass substrate 4 placed on the support pins 30 can be suppressed.
  • the optical lens 50 is formed like a hollow lens, and each locking portion 50 a is formed. As a result, the optical lens 50 is locked to the two holding plates 10 a and 10 b, attached to each holding plate 10 a and 10 b, and can be removed freely. And it does not fall from between each holding plate 1 0 a and 1 0 b.
  • the optical lens 50 is not limited to the lens shape, but may be provided with a diffusion plate, prism, a Fresnel lens or the like.
  • each notch 51a, 51b reflects a part of the transmitted illumination light from below between the holding plates 10a, 10b, respectively, and is diffused by the optical lens 50. It has the effect of increasing the amount of transmitted illumination light.
  • a cylindrical member (lot) 5 2 formed of a light transmitting resin (for example, plastic) as shown in FIG. 8A is divided into two in the longitudinal direction as shown in FIG. 8B. Create two lens members 5 2 a and 5 2 b.
  • each lens member 5 2 a and 5 2 b cut both sides of each lens member 5 2 a and 5 2 b respectively to produce two lens-shaped optical lenses 5 0
  • the holding members 10a and 10b are held between the two holding plates 10a and 10b, respectively.
  • These lens members 5 2 a 5 2 b may be used as the optical lens 5 0 if they can be inserted.
  • the transmitted illumination light irradiated from below the glass substrate 4 is two sheets.
  • the light is diffused by the optical lens 40 provided between the holding plates 10 a and 10 b and is irradiated to the glass substrate 4.
  • the transmitted illumination light that hits the notches 5 1 a and 5 1 b of the two holding plates 10 a and 10 b with this is transmitted to the two notches 5 1 a and 5 1 b.
  • the light is reflected between the holding plates 1 a and 10 b, diffused through the optical lens 40 and irradiated to the glass substrate 4.
  • the reduction in the light amount of the transmitted illumination light applied to the glass substrate 4 can be suppressed to a small extent even when the holding table 10 is installed.
  • the surface inspection of the glass substrate 4 can be performed by Since part of the transmitted illumination light is reflected by each of the notches 5 1 a and 5 1 b and enters between the two holding plates 10 a and 10 b, the light is irradiated to the glass substrate 4. The amount of transmitted illumination light can be increased compared to the first embodiment.
  • the optical lens 5 0 is provided between the two holding plates 10 a and 10 b as an optical component for light scattering or diffusion.
  • the transmitted illumination light can be diffused by this optical lens 50 and the glass substrate 4 can be irradiated.
  • the reduction of the light amount of the transmitted illumination light irradiated to the glass substrate 4 can be suppressed to a small extent, and the scope of the surface inspection of the glass substrate 4 can be expanded by the observation method of the transmitted illumination.
  • the amount of light of the transmitted illumination light applied to the glass substrate 4 can be increased as compared with the first embodiment by forming the notches 51 a and 51 b.
  • the present invention is not limited to the first and second embodiments, and can be variously modified.
  • the present invention is not limited to this.
  • the present invention can also be applied to substrate holders of various types of manufacturing such as steppers installed on the manufacturing line of glass substrates 4 of flat panel displays.
  • the substrate suction member 20 can be provided at an arbitrary position in the opening of the substrate holder 1, and may be provided on all of the holding bases. Furthermore, the substrate suction member 20 can be provided on the substrate boulder 1. All of the support pins 3 0 may be replaced with the substrate suction member 2 0.
  • the lower surface opening of the substrate holder 1 may be closed by a transparent holder (for example, a glass plate), and the substrate suction member 20 may be disposed on the transparent holder.
  • a transparent holder for example, a glass plate
  • the substrate suction member 20 has the substrate holding shaft 61 screwed to the substrate suction member main body 60 as shown in FIG. 9, and the substrate holding shaft 61 b is not rotated.
  • the height may be adjusted by moving up and down.
  • Inner surface of substrate suction member body 6 0 a A screw groove 6 2 is formed in the end, and a screw thread 6 3 is formed at the tip of the substrate holding shaft 6 1.
  • An O-ring 64 for suction leakage prevention is provided between the substrate suction member main body 60 and the substrate holding shaft 61.
  • the suction passage 2 3 is in communication with the suction tube 2 1 via the space portion 6 5 of the substrate suction member body 6 0.
  • the substrate holding shaft 61 is rotated and moved up and down, and the suction member 24 at the tip of the substrate holding shaft 61 is brought into contact with the reference plane 4 4 Ru. After that, the fixing screw 6 6 is tightened, and the substrate holding shaft 6 1 is fixed.
  • the present invention is used, for example, for surface defect inspection of semiconductor glass substrates such as glass substrates used for flat panel displays (F P D) such as liquid crystal displays and organic EL displays.
  • F P D flat panel displays
  • LCD liquid crystal displays
  • organic EL displays organic EL

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Description

明 細 書
基板保持装置
技術分野
本発明は、 例えば液晶ディ スプレイや有機 E Lディスプレ ィなどのフラ ッ トパネルディ スプレイ ( F P D ) の大型のガ ラス基板を保持する基板保持装置に関する。
背景技術
特開 2 0 0 0 - 7 1 4 6公報には、 例えば液晶ディスプ レイや有機 E Lディ スプレイなどのフラ ッ トパネルディ スプ レイ ( F P D ) のガラス基板 (プラスチック基板も含む半導 体デバイ ス基板) を保持するガラス基板保持具が記載されて いる。 このガラス基板保持具は、 ガラス基板を吸着保持する 保持枠と、 この保持枠の透過照明用開口を閉塞する透明部材 と、 ごの透明部材の上面に複数立設されてガラス基板を支持 する支持ピン とからなるガラス基板保持具が記載されている このガラス基板保持具では、 薄いガラス基板を複数の支 持ピンに載せ、 そのガラス基板の周縁のみを保持枠に吸着保 持しているため、 ク リーン/レームのダウンフローやグレーチ ング床等からの振動によ り ガラス基板の中央部分が橈んだり 振動してしま う。
又、 ガラス基板の大型化に伴い図 1 0 に示す基板保持装 置が提案された。 基板ホルダ 1 は、 枠状に形成されている。 この基板ホルダ 1 の開口部には、 角柱の複数の保持台 2が架 設されている。 これら保持台 2 の上面には、 所定間隔で複数 の支持ピン 3 がそれぞれ一列に配置されて固定されている。 基板ホルダ 1 の枠部周縁には、 ガラス基板 4 を吸着保持す るための複数の吸引部材 (吸着パ ッ ド) 5 が設け られている これら吸引部材 5 は、 図示 しない吸引チューブに接続され、 吸引ポンプの吸引動作を受けて吸引作用を行な う。 又、 基板 ホルダ 1 の枠部周縁には、 複数の基準ピン 6 及び複数の押付 けピ ン 7 が設け られている。
ガラス基板 4 の表面検査を行な う と きは、 ガラス基板 4 が 基板ホルダ 1 上に載置され、 複数の押付けピン 7 によ り複数 の基準ピン 6 に押 し付けられて、 基準位置にセ ッティ ングさ れる。 こ の後、 ガラス基板 4 は、 複数の吸引部材 5 によ り 基 板ホルダ 1 上に吸着固定される。
しかしなが ら、 薄いガラス基板 4 を押付けピン 7 によ り 基 準ピン 6 に押し付けた と こに、 ガラス基板 4 の中央部に浮き が生 じる こ と がある。 又、 マク ロ検査のために基板ホルダ 1 を揺動させる こ と によ り ガラス基板 4 の中央部が上下方向に 煽られて大き く 振動した り 、 ク リ ーンルームのダウンフロー 等に よ ってガラ ス基板 4 の中央部に振動が生 じる こ と がある このよ う に、 ガラス基板 4 の中央部が上下方向に煽られて 大き く 振動する と、 欠陥が揺れ動いて しまい観察 し難く なる 又、 顕微鏡を用いてガラス基板 4 を観察する場合、 ガラス基 板 4 が浮き上がっている と顕微鏡の観察位置を振動せた際に 対物 レンズと ガラス基板 4 の表面と の間隔が変化し、 焦点ず れが生じる。 又、 顕微鏡で観察する場合、 ガラス基板 4 に振 動が生じる と、 振動が治ま るまでオー ト フ ォーカスができな く なる問題が生 じる。 又、 上下方向の振動を受ける と、 ガラス基板 4の裏面が 支持ピン 3 に当た り傷が付く おそれがある。 さ らにダウンフ ローの風圧の変化によ り 、 ガラス基板 4の中央部が上下方向 に大き く振れた り 、 ガラス基板 4が薄く なる と、 ガラス基板 4 自体の自動ダウンフローの風圧によ り支持ピン 3 との間で 微少な橈みが生じ、 ガラス基板 4が波打つこ とがある。 この ため、 ガラス基板 4 の水平度を維持する こ と ができな く な り 顕微鏡等による ミ ク 口観察の際に焦点位置がずれて しま う。 一方、 保持台 2の強度を上げるために金属製の角柱を用いる と、 透過検鏡法による透過照明光が複数の保持台 2 によ り遮 られ、 ガラス基板 4上に影と なって投影され検査に支障をき たす。
本発明は、 基板中央部分の浮きや振動を防止できる基板保 持装置を提供する こ とを目的とする。
本発明は、 基板ホルダ枠に架設された保持台による透過照 明光の光量の減少による影響を抑え、 良好な透過検鏡を実現 でき、 かつ支持ピンの高さ調整が簡単な基板保持装置を提供 するこ と を目的とする。
発明の開示
本発明の主要な観点によれば、 開口部を有する枠状に形 成され、 基板の周縁部を吸着保持する基板ホルダと、 基板ホ ルダの開口部内における所定の位置に設けられ、 基板を吸着 保持する基板吸引部材と を具備した基板保持装置が提供され る。
図面の簡単な説明. 図 1 は本発明の第 1 の実施の形態を示す基板保持装置の構 成図。
図 2 Aは保持台に対する基板吸引部材及び支持ピンの取付 上面図。
図 2 Bは保持台に対する基板吸引部材及び支持ピンの取付 側面図。
図 3 Aは保持台に対する支持ピンの取付上面図。
図 3 Bは保持台に対する支持ピンの取付側面図。
図 4は基板吸引部材の断面構成図。
図 5 は支持ピンの断面構成図。
図 6 は複数の基板吸引部材及ぴ支持ピンの高さ調整方法を 説明するための図。
図 7 は本発明の第 2の実施の形態を示す光学レンズの構成 図。
図 8 Aは光学レンズの製造方法の一例を示す図。
図 8 Bは光学レンズの製造方法の一例を示す図。
図 8 Cは光学レンズの製造方法の一例を示す図。
図 9 は基板吸引部材の変形例を示す構成図。
図 1 0 は従来の基板保持装置の概略構成図。
発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明の一実施の形態について図面を参照して説明 する。 なお、 図 1 0 と同一部分には同一符号を付してその詳 しい説明は省略する。
図 1 は基板保持装置の構成図である。 こ の基板保持装置は ブラ ッ トパネルディ スプレイのガラス基板 4 の表面を検査す る表面検査装置に適用 される。 基板ホルダ 1 の開 口部内には 複数の保持台 1 0 が架設されている。 これら保持台 1 0 は、 桟状に形成され、 基板ホルダ 1 の開口部内の互いに対向する 2辺間に所定の間隔で並設されている。 これら保持台 1 0 は 互いの板面が向かい合って配置された帯状の 2枚の保持板 1 0 a 、 1 0 b とカゝら構成される。 これら保持板 1 0 a 、 1 0 b の間には、 透過照明光が通過するための空間部 1 1 が形成 されている。 保持板 1 0 a 、 1 0 b は、 板厚に対して充分に 長い幅寸法を有し、 剛性の高い金属からなる。 又、 保持板 1 0 a s 1 0 b は、 振動を抑える 目的でその板面に防振材 (高 減衰材料) をコーティ ングした り 、 保持板 1 0 a 、 1 0 b を 粒界腐食ス テ ン レス等の制振金属で作製する。 防振材と して は、 高分子のゴム、 樹脂や、 振動吸収塗料、 ゲル状物質を用 いる と よい。 振動吸収塗料と しては、 ウ レタ ン、 ア ク リ ル、 シ リ コ ン系樹脂塗料がある。 又、 ゲル状物質と しては、 オル ガノ ゲノレ、 ポリ マー系ゲノレ 、 シリ コン系ゲノレ、 フ ッ素イオン 交換樹脂な どがある。 又、 2枚の保持板 1 0 a 、 1 0 b の間 に透明な防止材を挟んでも よい。 又、 各保持台 1 0 が振動 し ないよ う に保持板 1 0 a 、 1 0 b の板厚を変えた り 、 防振材 の厚みや量を変えるな ど各保持台 1 0 の共振周波数を異な ら せ、 保持台 1 0 同士間の共振をなく すこ とが好ま しい。
基板ホルダ 1 の開口部内における所定位置、 例えば中央部 分に対応する各保持台 1 0には、 複数の基板吸引部材 2 0が 設けられている。 又、 各保持台 1 0 には、 複数の支持ピン 3 0が設けられている。 図 2 A及ぴ図 2 B は保持台 1 0 に対する基板吸引部材 2 0 及ぴ支持ピン 3 0 の取り 付けを示す構成図であって、 図 2 A は上方から見た構成図、 図 2 B は側面図である。 これら基板 吸引部材 2 0及ぴ支持ピン 3 0 は、 2枚の保持扳 1 0 a 、 1 0 b の間に所定間隔に挟持されている。 各基板吸引部材 2 0 には、 吸引チューブ 2 1 が接続されている。 この吸引チュー プ 2 1 は、 2枚の保持板 1 0 a 、 1 0 b の間に配置されてい る。 この吸引チューブ 2 1 は、 例えば光透過性の材料によ り 形成されている。 2枚の保持板 1 0 a 、 1 0 b の底面は、 光 透過性の部材によ り形成されているのが好ま しい。
図 3 A及び図 3 B は保持台 1 0 に対して支持ピン 3 0 のみ を取り 付けた構成図であって、 図 3 Aは上方から見た構成図 図 3 Bは側面図である。 2枚の保持板 1 0 a 、 1 0 b の間に は、 複数の支持ピン 3 0が所定間隔毎に挟持されている。
図 4 は基板吸引部材 2 0 の断面構成図である。 基板吸引部 材 2 0 には、 基板保持軸 2 2が設け られている。 この基板保 持軸 2 2 には、 吸引通路 2 3 が軸方向に形成されている。 基 板保持軸 2 2 の先端部には、 弾性材によ り形成された吸着部 材 2 4が抜けでないよ う に取り 付けられている。 この吸着部 材 2 4 には、 吸引通路 2 3 と連通するための吸引孔 2 5 が形 成されている。 吸着部材 2 4 は、 抜け防止リ ング 2 6 によつ て基板保持軸 2 2 の先端部に保持されている。 又、 基板吸引 部材 2 0 の下部には、 取り 付け端部 2 7 によって吸引チュー プ 2 1 が取り 付け られている。 こ の吸引チューブ 2 1 は、 基 板吸引部材 2 0 に取り 付け られる こ と によ り 吸引通路 2 3 に 連通する。 なお、 吸引チューブ 2 1 は、 基板ホルダ 1 の外部 に設けられた吸引ポンプ Pに接続されている。
図 5 は支持ピン 3 0 の断面構成図である。 支持ピン 3 0 に は、 円柱状の保持軸 3 1 が設け られている。 この保持軸 3 1 の先端部には、 凹部 3 2 が形成され、 この凹部 3 2内にボー ル 3 3が回転可能に設け られている。 保持軸 3 1 の元側には 固定ネジ 3 4 のネジ締めを受けるための当付け溝 3 5 と 、 固 定ネジ 3 6 が当接しないよ う にするための逃げ溝 3 7 と が形 成されている。 さ らに、 逃げ溝 3 7の下方の保持軸 3 1 には ネジ 3 1 a が形成され、 保持軸 3 1 3 1 は保持軸受け 3 8 の 下部に形成されたネジ孔 3 8 a に螺合 し、 上下方向 (矢印ィ 方向) に移動可能に設けられている。
従って、 支持ピン 3 0 の高さ調整は、 保持軸受け 3 8 の底 部開 口カゝら ドライバを用いて保持軸 3 1 を回転させなが ら矢 印ィ方向に移動させて、 高さ位置を調整した後、 固定ネジ 3 4 を締めて保持軸 3 1 を保持軸受け 3 8 に固定する こ と によ り行われる。
保持軸受け 3 8 の下部には、 2枚の保持板 1 0 a 、 1 0 b を受けるための各平面部 3 9 、 4 0が両側に形成されている 又、 保持軸受け 3 8 には、 各固定ネジ 3 4、 3 6 を通すため の各ネジ穴 4 1 、 4 2が形成されている。
こ のよ う な構造の支持ピン 3 0 であれば、 固定ネジ 3 6 を 緩める こ と によ り 、 2枚の保持板 1 0 a 、 1 0 b の間に対し て取 り付け、 取り 外しが可能で、 かつ保持軸 3 1 を回転させ るだけで支持ピン 3 0 の高さを調整でき る。 次に、 基板ホルダ 1 に設け られる複数の基板吸引部材 2 0 及び複数の支持ピン 3 0 の高さ調整について図 6 を参照 して 説明する。
基準平面 4 4 が形成された基準プロ ック 4 3 が用意される この基準平面 4 4 は、 歪みや凹凸の無い平面である。 この基 準平面 4 4 上の両端には、 それぞれ各基準台 4 5 が設け られ ている。 これら基準台 4 5 は、 複数の基板吸引部材 2 0及び 複数の支持ピン 3 0 の各高さ を調整するための基準高さ Hに 形成されている。 これら基準台 4 5 は、 基板ホルダ 1 のサイ ズに適合した間隔に配置され、 この基準台 4 5 、 4 5 間に保 持台 1 0 を逆さまに載置する。
又、 基板吸引部材 2 0及び支持ピン 3 0 の高さ調整は、 基 板ホルダ 1 を基準平面 4 4上に载置してもよい。
基板吸引部材 2 0 の高さ調整は、 図 4 に示す基板保持軸 2 2 の先端部の吸着部材 2 4 が弹性材によ り 形成されているの で、 この吸着部材 3 4 が基準平面 4 4 に当接される と、 基準 平面 4 4 の高さ に従って伸縮する。 この状態に、 基板吸引部 材 2 0 は、 2枚の保持板 1 0 a 、 1 0 b に対 して固定ネジ等 によ り 固定される。
一方、 支持ピン 3 0 の高さ調整は、 図 5 に示す保持軸受け 3 8 を底部開口 よ り ドライバを差し込み、 保持軸 3 1 の先端 部のポール 3 3 が基準平面 4 4 に当接するまで回転させる。 この保持軸 3 1 の高さ を調整した後、 固定ネジ 3 4 を締め付 け、 保持軸 3 1 を保持軸受け 3 8 に固定する。
この結果、 全ての基板吸引部材 2 0及び支持ピン 3 0 の高 さ位置が基準平面 4 4 に揃い、 これら基板吸引部材 2 0及び 支持ピン 3 0 の高さ調整が終了する。
なお、 複数の支持ピン 3 0 のみの高さ調整は、 上記同様に 各支持ピン 3 0 の各保持軸 3 1 がそれぞれ上下移動させる こ と によ り行われる。
次に、 上記の如く 構成された装置の作用について説明する ガラス基板 4 の表面検査を行な う と き、 ガラス基板 4 は、 各押付けピン 7 によ り 各基準ピン 6 に押し付けられて基準位 置にセ ッティ ングされた後、 先ず、 ガラス基板 4 の中央部分 が基板吸引部材 2 0 によ り 吸着固定される。 続いて、 各吸引 パッ ド 5 によ り ガラス基板 4 の周縁が基板ホルダ 1 上に吸着 固定される。
吸引ポンプ Pが吸引動作する と、 複数の基板吸引部材 2 0 は、 それぞれ吸着動作を行い、 ガラス基板 4 をその中央部に おいて吸着保持する。 これと共に、 ガラス基板 4は、 複数の 支持ピン 3 0 によ り支持される。
この結果、 ガラス基板 4 は、 周縁部と 中央部と において吸 着保持されるので、 水平度が常に維持される。 従って、 マク 口検査時に基板ホルダ 1 を揺動したと しても、 又ダウンフロ 一等の影響を受けたと しても、 ガラス基板 4の中央部に浮き は生じない。
表面検査は、 ガラス基板 4 に対して透過照明又は落射照明 を用いた検鏡方式によって行われる。 透過照明の検鏡方式で は、 透過照明光は、 ガラス基板 4の下方から照射される。 保 持台 1 0 の架設位置では、 2枚の保持板 1 0 a 、 1 0 b の間 の空間部 1 3 を通って透過照明光がガラス基板 4 に照射され る。 これと共に各保持板 1 0 a 、 1 0 b の回 り から透過照明 光が回 り 込み、 この回 り 込んだ透過照明光がガラス基板 4 に 照射される。 又、 吸引チューブ 2 1 が設け られている位置で も、 透過照明光は、 光透過性の吸引チューブ 2 1 によ り 拡散 されてガラス基板 4 に照射される。
従って、 透過照明検鏡方式であって も、 ガラス基板 4 に照 射される透過照明光の光量が保持台 1 0 の架設位置でも光量 の減少を少な く 抑える こ と ができ 、 ガラス基板 4 の表面検査 を良好に行なえる。
このよ う に上記一実施の形態においては、 ガラ ス基板 4 を 基板ホルダ 1 上に載置 した と きのガラ ス基板 4 の中央部に対 応する と こ ろに複数の基板吸引部材 2 0 を取 り 付けたので、 ガラ ス基板 4 は、 基板ホルダ 1 周辺部の各吸引部材 5 に よ り 周辺部が固定吸着される と共に、 中央部が固定吸着される。 この結果、 ガラス基板 4 を高い水平度で確実に保持でき る。 これによ り 、 ガラ ス基板 4 のマク ロ検査に誤検査が生 じる こ と な く 、 正確にガラ ス基板 4 の表面検査を行な う こ と ができ る。 顕微鏡等によ る高倍率での ミ ク ロ観察時でも、 対物 レン ズと ガラ ス基板 4表面 と の距離が一定に保たれて焦点ずれが 生ぜず、 ガラス基板 4 の全面において合焦点の画像で検査が でき る。
複数の基板吸引部材 2 0 を 2枚の保持板 1 0 a 、 1 0 の 間に挟み、 複数の支持ピン 3 0 も 2枚の保持板 1 0 a 、 1 0 b の間に挟み込む構成と したので、 透過照明光は、 2枚の保 持板 1 0 a 、 1 0 b の間の空間部 1 3 を通ってガラス基板 4 に照射され、 かつこれら保持板 1 0 a 、 1 0 bの回 り から回 り込んだ透過照明光がガラス基板 4 に照射される。 さ らに、 透過照明光は、 光透過性の吸引チューブ 2 1 によ り 拡散され てガラス基板 4 に照射される。 これによ り 、 ガラス基板 4 に 照射される透過照明光の光量の減少を最小限に抑えるこ とが でき、 良好な透過検鏡を実現する こ とができ る。
各保持板 1 0 a 、 1 0 b は、 加工が容易であ り 、 製造時間 を短縮でき、 コス トダウンが図れる。
複数の基板吸引部材 2 0 は、 2枚の保持板 1 0 a 、 1 0 b の間に対して取り 付け、 取り 外しが可能なので、 2枚の保持 板 1 0 a 、 1 0 b の直線上における所望の位置に取り 付け、 取り 外しでき る。 これら基板吸引部材 2 0 は、 配置間隔をガ ラ ス基板 4 のサイズや重量に応じて任意に調整できる。
複数の基板吸引部材 2 0及び複数の支持ピン 3 0 は、 基準 プロ ック 4 3 及び各基準台 4 5 を用いて全ての高さ を同一に 調整でき る。 この場合、 基板吸引部材 2 0 は、 吸着部材 2 4 が基準平面 4 4 に倣う こ と によ り 高さ調整し、 支持ピ ン 3 0 は、 保持軸 3 1 を上下移動させる こ と によ り 高さ調整でき る 従って、 ガラス基板 4 を高い水平度で確実に保持できる。
保持板 1 0 a 、 1 0 b を防振材でコーテ ィ ング、 若 し く は制振金属で作製し、 又保持板 1 0 a 、 1 0 b の隙間に防振 材を挟むこ と で、 保持台 1 0 の振動を低減でき る。 従って、 支持ピン 3 0 上に載置されるガラス基板 4 の振動を抑える こ とができる。 次に、 本発明の第 2 の実施の形態について図面を参照 して 説明する。 なお、 図 1 乃至図 6 と 同一部分には同一符号を付 してその詳 しい説明は省略する。 この第 2 の実施の形態の上 記第 1 の実施の形態と相違する と ころは、 図 7 に示すよ う に 2枚の保持板 1 0 a 、 1 0 b の間に、 光散乱又は拡散用の光 学部品と しての光学レンズ 5 0 を設けたこ とである。
こ の光学 レ ンズ 5 0 は、 かま ぼこ レ ンズ状に形成され、 かつ各係止部 5 0 a が形成されている。 これによ り 光学レン ズ 5 0 は、 2枚の保持板 1 0 a 、 1 0 b に対して係止され、 各保持板 1 0 a 、 1 0 b に対して取り 付け、 取り 外し自在で かつ各保持板 1 0 a 、 1 0 b の間から落下しない。 なお、 光 学レ ンズ 5 0 は、 かまぼこ レンズ状に限らず、 拡散板を設け た り 、 プリ ズム、 フルネルレンズなどを設けても良い。
2枚の保持板 1 0 a 、 1 0 b の下部には、 互い内側を向い て各切欠き部 5 1 a 、 5 1 b が形成されている。 各切欠き部 5 1 a 、 5 1 b は、 下方からの透過照明光の一部をそれぞれ 各保持板 1 0 a 、 1 0 b の間に反射させ、 光学レンズ 5 0 に よ り 拡散される透過照明光の光量を増加させる作用を持つ。 次に、 光学レ ンズ 5 0 の製造方法の一例を説明する。 先ず 図 8 Aに示すよ う な光透過性の樹脂 (例えばプラスチッ ク) によ り形成 した円柱部材 (ロ ッ ト) 5 2 を図 8 B に示すよ う にそ の長手方向に 2分割して、 2 つの レ ンズ部材 5 2 a 、 5 2 b を作成する。
次に、 各レンズ部材 5 2 a 、 5 2 b の両側をそれぞれカ ツ ト し、 2本のかまぼこ レンズ状の光学レ ンズ 5 0 を製造する なお、 レンズ部材 5 2 a 、 5 2 b の両側をそれぞれカ ッ ト せずに、 レンズ部材 5 2 a 、 5 2 b のままで 2枚の保持板 1 0 a 、 1 0 b の間に揷入できれば、 これら レンズ部材 5 2 a 5 2 b を光学レンズ 5 0 と して用いても良い。
次に、 上記の如く 構成された装置の作用について説明する 透過照明の検鏡方式でガラス基板 4 の表面検査を行 う と き ガラス基板 4の下方から照射される透過照明光は、 2枚の保 持板 1 0 a 、 1 0 b の間に設け られた光学レンズ 4 0 によ り 拡散されてガラス基板 4 に照射される。 これと共に 2枚の保 持板 1 0 a 、 1 0 b の各切欠き部 5 1 a 、 5 1 b に当たった 透過照明光は、 これら切欠き部 5 1 a 、 5 1 b で 2枚の保持 板 1 ◦ a 、 1 0 b 間に向けて反射し、 光学レンズ 4 0 を通つ て拡散されてガラス基板 4 に照射される。
従って、 透過照明の検鏡方式であっても、 ガラス基板 4 に 照射される透過照明光の光量が保持台 1 0 の架設位置でも、 その光量の減少を少な く 抑える こ とができ、 透過照明の検鏡 方式でのガラス基板 4 の表面検査が可能になる。 その う え透 過照明光の一部が各切欠き部 5 1 a 、 5 1 b で反射して 2枚 の保持板 1 0 a 、 1 0 b の間に入射するので、 ガラス基板 4 に照射される透過照明光の光量を上記第 1 の実施の形態よ り も増加でき る。
このよ う に上記第 2 の実施の形態においては、 2枚の保持 板 1 0 a 、 1 0 b の間に、 光散乱又は拡散用の光学部品 と し ての光学レンズ 5 0 を設けたので、 この光学レンズ 5 0 によ り透過照明光を拡散してガラス基板 4 に照射する こ とができ ガラス基板 4 に照射される透過照明光の光量の減少を少なく 抑え、 透過照明の検鏡方式でのガラス基板 4 の表面検査の範 囲を拡大でき る。
さ らに、 各切欠き部 5 1 a 、 5 l b を形成する こ と によ り . ガラス基板 4 に照射される透過照明光の光量を上記第 1 の実 施の形態よ り も増加できる。
なお、 本発明は、 上記第 1及び第 2の実施の形態に限定さ れる ものでなく 、 種々 に変形する こ とが可能である。
例えば、 上記第 1及び第 2の実施の形態では、 液晶デイ ス プレイ などのフラ ッ トパネノレディ スプレイ のガラス基板 4 の 表面を検査する表面検査装置に適用される ものについて説明 したが、 これに限らず、 フラ ッ トパネルディ スプレイのガラ ス基板 4の製造ライ ンに配備されるステッパーなどの各種製 造の基板ホルダにも適用できる。
又、 基板吸引部材 2 0 は、 基板ホルダ 1 の開口部内の任意 の位置に設ける こ と ができ、 各保持台の全てに設けても よい さ らに基板吸引部材 2 0 は、 基板ボルダ 1 の支持ピン 3 0 の 全てを基板吸引部材 2 0 に代えてもよい。
又、 透過照明が可能なので、 基板ホルダ 1 の下面開口部を 透明な保持体 (例えばガラス板) で閉鎖し、 この透明な保持 体上に基板吸引部材 2 0 を配置してもよい。
又、 基板吸引部材 2 0 は、 図 9 に示すよ う に基板吸引部 材本体 6 0 に対して基板保持軸 6 1 を螺合して設け、 この基 板保持軸 6 1 b を回転させなが ら上下移動させる こ と によ り 高さ調整可能に しても よい。 基板吸引部材本体 6 0 a の内面 にはネジ溝 6 2 が形成され、 かつ基板保持軸 6 1 の先端部に はネジ山 6 3 が形成されている。 基板吸引部材本体 6 0 と基 板保持軸 6 1 と の間には、 吸引漏れ防止用の O リ ング 6 4 が 設け られている。 吸引通路 2 3 は、 基板吸引部材本体 6 0 の 空間部 6 5 を介して吸引チューブ 2 1 に連通している。
基板吸引部材 2 0 の高 さ調整は、 基板保持軸 6 1 が回転 させなが ら上下移動され、 この基板保持軸 6 1 の先端部の吸 着部材 2 4 が基準平面 4 4 に当接される。 こ の後、 固定ネジ 6 6 が締め付けら、 基板保持軸 6 1 が固定される。
産業上の利用可能性
本発明は、 例えば液晶ディ スプレイや有機 E Lディスプレ ィなどのフラ ッ トパネルディ スプレイ ( F P D ) に用いられ るガラス基板などの半導体ガラス基板の表面欠陥検査に用い られる。

Claims

求 の 範 囲
1 . 開口部を有する枠状に形成され、 基板の周縁部を吸着保 持する基板ホルダと、
前記基板ホルダの前記開口部内における所定の位置に設 けられ、 前記基板を吸言着保持する基板吸引部材と、
を具備したこ とを特徴とする基板保持装置。
2 . 前記基板ホルダの前記開口部内に設けられ、 前記基板を 支持する複数の支持ピンを備えたこ と を特徴とする請求項 1 記載の基板保持装置。
3 . 前記基板吸引部材は、 前記基板の少なく と も中央部に対 応する位置に設けられたこ とを特徴とする請求項 1記載の基 板保持装置。
4 . 前記基板吸引部材又は前記支持ピンは、 前記基板ホルダ の前記開口部の互いに対向する 2辺間に架設される桟状の保 持体に設けられたこ と を特徴とする請求項 1又は 2記載の基 板保持装置。
5 . 前記保持体は、 前記基板吸引部材又は前記支持ピンを挟 持する帯状の 2枚の保持板からなる こ とを特徴とする請求項 4記載の基板保持装置。
6 . 前記保持板は、 その板面に防振材をコーティ ングしたこ とを特徴とする請求項 5記載の基板保持装置。
7 . 前記保持板は、 制振金属で作られているこ と を特徴とす る請求項 5記載の基板保持装置。
8 . 前記保持板は、 帯状の 2枚の保持板からな り 、 この 2枚 の保持板の間に透明な防振材を設けたこと を特徴とする請求 項 5記載の基板保持装置。
9 . 前記基板吸引部材又は前記支持ピンは、 高さ調整可能で ある こ と を特徴とする請求項 1又は 2記載の基板保持装置。
1 0 . 前記基板吸引部材は、 前記基板ホルダにおける前記開 口部の下面を閉塞する透明な保持体上に設けたこ と を特徴と する請求項 1 記載の基板保持装置。
1 1 . 前記基板吸引部材は、 内部に空間が形成された基板吸 引部材本体と、
この基板吸引部材本体に対して移動可能で、 前記空間に 連通する吸引通路が形成された基板保持軸と、
この基板保持軸の先端部に設けられた弾性材によ り形成さ れた吸着部材と、
前記基板吸引部材本体に接続され、 前記空間を介して前 記吸引通路に連通した吸引チューブと、
から成る こ と を特徴とする請求項 1項記載の基板保持装置。
1 2 . 前記吸引チューブは、 光透過性の材料によ り形成され 前記基板吸引部材を挟持する 2枚の保持板間に沿って配置さ れる こ と を特徴とする請求項 1 1項記載の基板保持装置。
1 3 . 前記 2枚の保持板の空間には、 透過照明光を散乱又は 拡散させる光学部材が配置されたこ と を特徴とする請求項 5 記載の基板保持装置。
1 4 . 前記支持部材は、 先端部にポールが設けられた保持軸 と、
この保持軸を移動可能に受ける保持軸受けと、
前記保持軸を前記保持軸受けに対して固定する固定ネジと から成る こ と を特徴とする請求項 2記載の基板保持装置。
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