JP2005156924A - 検査装置用ホルダー - Google Patents
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Abstract
【課題】汎用のハンドリング冶具を使用して、ガラス基板、マスクブランクス、フォトマスク等の被検査体を載置でき、かつ載置した状態で被検査体の周辺部まで透過光検査ができる検査装置用ホルダーを提供することを目的とする。
【解決手段】検査装置用ホルダー100は、平面状の支持基材11上の所定位置に支持部材21と位置決め部材31とからなる固定部材40が設けられたもので、支持基材11は、透明なガラス基板、プラスチック板等からなり、固定部材40は被検査体のX、Y方向の位置決めをし、保持するためのもので、固定部材40の位置決め部材31の上面はテーパー形状を有し、弾力性に富んだ材料からなる。
【選択図】図1
【解決手段】検査装置用ホルダー100は、平面状の支持基材11上の所定位置に支持部材21と位置決め部材31とからなる固定部材40が設けられたもので、支持基材11は、透明なガラス基板、プラスチック板等からなり、固定部材40は被検査体のX、Y方向の位置決めをし、保持するためのもので、固定部材40の位置決め部材31の上面はテーパー形状を有し、弾力性に富んだ材料からなる。
【選択図】図1
Description
本発明は、光学的に検査するために、ガラス基板、マスクブランクス及びフォトマスク等の被検査体を載置、保持するための検査装置用ホルダーに関する。
最近の半導体の高速化、高密度化により、半導体プロセスに用いられるフォトマスクに形成されるパターンも益々微細化し、低欠陥のフォトマスクが要求されている。
カラー液晶ディスプレイ用のカラーフィルター及びTFT等の半導体素子を形成するためのフォトマスクは益々大型化し、そこに形成されるパターンも微細化し、低欠陥、もしくは無欠陥のフォトマスクの要求が高まっている。
これら低欠陥、もしくは無欠陥のフォトマスクを作製するためには、ガラス基板、マスクブランクス、フォトマスク製造工程等の各工程での品質状態(パターン形状、欠陥等)を光学検査で確認することが一般的に行われている。
これらガラス基板、マスクブランクス、フォトマスク等の光学検査は、ガラス基板、マスクブランクス、フォトマスク等の被検査体を検査装置用ホルダーに載置、保持した状態で行われ、これらの検査装置用ホルダーとしてはいくつかのものが提案されている(例えば、特許文献1及び特許文献2参照)。
図3に従来の検査装置用ホルダーの一例を示す。
図3(a)は、検査装置用ホルダー300の上面図を、図3(b)は、検査装置用ホルダー300の上面図をA−A’線で切断した断面図を、図3(c)は、検査装置用ホルダー300の支持枠部51aに被検査体60を載置した状態を模式的に示す断面図をそれぞれ示す。
検査装置用ホルダー300は、支持基材51と、支持枠部51aと、開口部領域52と、切り込み部53及び載置ピン54とから構成されており、被検査体60は支持枠部51a上の載置ピン54に載置、保持された状態で検査装置に取り付けられ、開口部領域52の被検査体が光学的に検査される。
検査装置用ホルダー300の支持基材51はプラスチック板、金属板等が用いられ、機械加工して支持枠部51a、開口部領域52、切り込み53が作製され、載置ピン54を埋め込んで作製されるのが一般的で、最近の被検査体60が大型化しているため、重量、取り扱いの点からプラスチック板を機械加工したものが用いられている。
ガラス基板、マスクブランクス、フォトマスク等の被検査体60は、通常は人手により、検査装置用ホルダー50の支持枠50aの載置ピン54上に落とし込んで、光学検査装置の検査台にセットし、被検査体60の光学検査が行われる。
被検査体60を検査装置用ホルダー300に載置する際現状人手で行っているため被検査体60の膜面端部及び検査面側の一部に汚れが付着するという問題がある。
光学検査の際、現状の検査装置用ホルダー300に載置された被検査体60は、支持枠部51a上が透過光の影になり、被検査体60の外周部の透過検査ができない。
被検査体60がガラス基板、マスクブランクスの透過光検査では問題である。
また、載置ピン54が金属でできているため、ガラス基板、マスクブランクス、フォトマスク等の被検査体60に傷が付きやすいという問題を有している。
実開平02−81517号公報
特開平11―52552号公報
また、載置ピン54が金属でできているため、ガラス基板、マスクブランクス、フォトマスク等の被検査体60に傷が付きやすいという問題を有している。
本発明は、上記問題点に鑑み鋭意検討した結果考案されたもので、汎用のハンドリング冶具を使用して、ガラス基板、マスクブランクス、フォトマスク等の被検査体を載置でき、かつ載置した状態で被検査体の周辺部まで透過光検査ができる検査装置用ホルダーを提供することを目的とする。
本発明に於いて上記課題を達成するために、まず請求項1においては、光学的に検査するために被検査体を載置するためのホルダーであって、平面状の支持基材と、前記支持基材上の所定位置に前記被検査体を位置決めし、保持する固定部材とで構成されていることを特徴とする検査装置用ホルダーとしたものである。
また、請求項2においては、前記支持基材及び前記固定部材が透明な材料からなることを特徴とする請求項1に記載の検査装置用ホルダーとしたものである。
また、請求項3においては、前記固定部材が支持部材と、位置決め部材とで構成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の検査装置用ホルダーとしたものである。
また、請求項4においては、前記位置決め部材の上面は、テーパー形状を有していることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の検査装置用ホルダーとしたものである。
さらにまた、請求項5においては、前記位置決め部材は、弾力性に富んだ材料からなることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の検査装置用ホルダーとしたものである。
本発明の検査装置用ホルダーに被検査体を載置し透過光検査を行うことにより、被検査体の端縁の近傍の部分まで確実に検査することが可能となる。
本発明の検査装置用ホルダーの固定部材40の位置決め部材31の上面は、支持体よりも高い位置に設けられているので、汎用のハンドリング治具を使用して、被検査体を把持して、位置決め部材上に載置でき、支持基材の上面を傷つけて塵埃等の異物を発生させることがない。
また、位置決め部材は弾力性に富んだ材料で、かつテーパー形状を有しているので、被検査体の位置決め部材に接触する箇所に傷等の損傷を与えることを防止でき、被検査体は安定した状態で検査装置用ホルダーに保持される。
以下、本発明の実施の形態につき説明する。
図1に本発明の検査装置用ホルダーの一実施例を示す。
図1(a)は、本発明の検査装置用ホルダー100の上面図を、図1(b)は、本発明の検査装置用ホルダー100をA−A’線で切断した模式構成断面図を、図1(c)は、本発明の検査装置用ホルダー100に被検査体60を載置した状態を示す模式構成断面図をそれぞれ示す。
本発明の検査装置用ホルダー100は、平面状の支持基材11上の所定位置に支持部材21と位置決め部材31とからなる固定部材40が設けられたものである(図1(a)及び(b)参照)。
支持基材11は、透明なガラス基板、プラスチック板等が使用でき、基本的には透明な平面状の材料であれば、あらゆる材料が使用できる。
ここで、支持基材11の表面を導電処理することにより、静電気によるゴミ等の付着を防止することができる。
固定部材40は被検査体のX、Y方向の位置決めをし、保持するために、支持基材11上の被検査体の4角に相当する位置にそれぞれ2個、合計8個配置されている。
固定部材40の支持部材21は透明なプラスチック材等の機械加工、レーザー加工もしくは型成型にて作製され、接着剤等で支持基材11上に固定される。
固定部材40の位置決め部材31は、被検査体のエッジが直接接触するため、弾力性に富んだ材料、例えば、透明なポリプロピレン樹脂、シリコン樹脂、ウレタン樹脂等を機械加工、レーザー加工もしくは型成型して作製され、支持部材21に嵌合するように接着剤等で固定されている。
また、位置決め部材31の上面はテーパー形状を有しており、被検査体を載置した際、位置決め部材31の上面部のテーパー形状により、被検査体を中心部に移動させようとする力が4方向よりそれぞれ作用し、バランスして、被検査体の位置決めと保持状態が安定するようになっている。
被検査体60を本発明の検査装置用ホルダー100に載置、保持した状態を図1(c)に示す。
図2に本発明の検査装置用ホルダーの他の実施例を示す。
図2(a)は、本発明の検査装置用ホルダー200の上面図を、図2(b)は、本発明の検査装置用ホルダー200をA−A’線で切断した模式構成断面図を、図2(c)は、本発明の検査装置用ホルダー200に被検査体60を載置した状態を示す模式構成断面図をそれぞれ示す。
本発明の検査装置用ホルダー200は、抜き加工して透過領域部13を有する平面状の支持基材12上の所定位置に支持部材21と位置決め部材31とからなる固定部材40が設けられたもので、支持基材12のほぼ被検査体の大きさに相当する中央部領域を抜き加工して、光学検査時の支持基材12の影響を極力なくすようにしたものである(図2(a)及び(b)参照)。
支持基材12は、ガラス基板、プラスチック板等が使用でき、基本的には平面状の透明な材料で加工適性のある材料であれば、あらゆる材料が使用できる。
固定部材40は被検査体のX、Y方向の位置決めをし、保持するために、支持基材11上の被検査体の4角に相当する位置にそれぞれ2個、合計8個配置されている。
固定部材40の支持部材21は透明なプラスチック材等の機械加工、レーザー加工もしくは型成型にて作製され、接着剤等で支持基材11上に固定される。
固定部材40の支持部材21は透明なプラスチック材等の機械加工、レーザー加工もしくは型成型にて作製され、接着剤等で支持基材11上に固定される。
固定部材40の位置決め部材31は、被検査体のエッジが直接接触するため、弾力性に富んだ材料、例えば、透明なポリプロピレン樹脂、シリコン樹脂、ウレタン樹脂等を機械加工、レーザー加工もしくは型成型して作製され、支持部材21に嵌合するように接着剤等で固定されている。
また、位置決め部材31の上面はテーパー形状を有しており、被検査体を載置した際、位置決め部材31の上面部のテーパー形状により、被検査体を中心部に移動させようとする力が4方向より作用し、バランスして、被検査体の位置決めと保持状態が安定するようになっている。
被検査体60を本発明の検査装置用ホルダー200に載置、保持した状態を図2(c)に示す。
上記本発明の検査装置用ホルダー100及び200は、ガラス基板、マスクブランクス、フォトマスク等の被検査体60が支持基材11上の固定部材40のテーパー形状を有する位置決め部材31上に保持されるので、検査中に被検査体60が動いて、位置ずれ等の支障をきたすことがない。
本発明の検査装置用ホルダー100及び200の支持基材11及び12は、透明な材料からなるので、被検査体60の端縁の近傍の部分を確実に検査することが可能である。
本発明の検査装置用ホルダー100及び200の支持基材11及び12の固定部材40の位置決め部材31の上面は、支持基材11及び12よりも高い位置に設けられているので、汎用のハンドリング治具を使用して、被検査体60を把持して、位置決め部材31上に載置でき、支持基材11及び12の上面を傷つけて塵埃等の異物を発生させることがない。
また、本発明の検査装置用ホルダー100及び200の固定部材40の位置決め部材31は、弾力性に富んだ材料で、かつテーパー形状を有しているので、被検査体60の位置決め部材31に接触する箇所に傷等の損傷を与えることを防止でき、被検査体60は安定した状態で検査装置用ホルダーに保持される。
まず、透明なABC樹脂(アクリロニトリル・ブタジエン・塩素化ポリエチレン共重合樹脂)板を所定形状に加工して支持基材11及び支持部材21を作製し、さらに、ポリプロピレン樹脂を機械加工してテーパー形状を有する位置決め部材31を作製し、支持部材21上に位置決め部材31を固定して、8個の固定部材40を作製した。
次に、支持基材11上の所定位置に固定部材40を固定し、本発明の検査装置用ホルダー100を作製した(図1(a)及び(b)参照)。
汎用のハンドリング治具を用いてマスクブランクからなる被検査体60を把持し、本発明の検査装置用ホルダー100の固定部材40の位置決め部材31上に載置し、検査装置にセットし、透過濃度測定を行った結果被検査体60は、搬送移動、測定中にも安定して検査装置用ホルダー100に保持され、位置ずれ等もなく測定、検査を行うことができた(図1(c)参照)。
まず、透明なABC樹脂(アクリロニトリル・ブタジエン・塩素化ポリエチレン共重合樹脂)板を中抜き、形状加工して支持基材12を、所定形状に加工して支持部材21を作製し、さらに、ポリプロピレン樹脂を機械加工してテーパー形状を有する位置決め部材31を作製し、支持部材21上に位置決め部材31を固定して、8個の固定部材40を作製した。
次に、支持基材12上の所定位置に固定部材40を固定し、本発明の検査装置用ホルダー200を作製した(図2(a)及び(b)参照)。
汎用のハンドリング治具を用いてマスクブランクからなる被検査体60を把持し、本発明の検査装置用ホルダー200の固定部材40の位置決め部材31上に載置し、検査装置にセットし、透過濃度測定を行った結果被検査体60は、搬送移動、測定中にも安定して検査装置用ホルダー200に保持され、位置ずれ等もなく測定、検査を行うことができた(図2(c)参照)。
(b)は、本発明の検査装置用ホルダー100をA−A’線で切断した模式構成断面図である。
(c)は、本発明の検査装置用ホルダー100に被検査体60を載置した状態を示す模式構成断面図である。
本発明の検査装置用ホルダーの他の実施例を示し、 (a)は、本発明の検査装置用ホルダー200の上面図である。
(b)は、本発明の検査装置用ホルダー200をA−A’線で切断した模式構成断面図である。
(c)は、本発明の検査装置用ホルダー200に被検査体60を載置した状態を示す模式構成断面図である。
従来の検査装置用ホルダーの一例を示し、 (a)は、検査装置用ホルダー300の上面図である。
(b)は、検査装置用ホルダー300をA−A’線で切断した模式構成断面図である。
(c)は、検査装置用ホルダー300に被検査体60を載置した状態を示す模式構成断面図である。
11、12、51……支持基材
13、52……開口部領域
21……支持部材
31……位置決め部材
40……固定部材
51a……支持枠部
53……切り込み
54……載置ピン
60……被検査体
100、200、300……検査装置用ホルダー
13、52……開口部領域
21……支持部材
31……位置決め部材
40……固定部材
51a……支持枠部
53……切り込み
54……載置ピン
60……被検査体
100、200、300……検査装置用ホルダー
Claims (5)
- 光学的に検査するために被検査体を載置するためのホルダーであって、
平面状の支持基材と、前記支持基材上の所定位置に前記被検査体を位置決めし、保持する固定部材とで構成されていることを特徴とする検査装置用ホルダー。 - 前記支持基材及び前記固定部材が透明な材料からなることを特徴とする請求項1に記載の検査装置用ホルダー。
- 前記固定部材が支持部材と、位置決め部材とで構成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の検査装置用ホルダー。
- 前記位置決め部材の上面は、テーパー形状を有していることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の検査装置用ホルダー。
- 前記位置決め部材は、弾力性に富んだ材料からなることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の検査装置用ホルダー。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003395057A JP2005156924A (ja) | 2003-11-26 | 2003-11-26 | 検査装置用ホルダー |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003395057A JP2005156924A (ja) | 2003-11-26 | 2003-11-26 | 検査装置用ホルダー |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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Family
ID=34720921
Family Applications (1)
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JP2003395057A Pending JP2005156924A (ja) | 2003-11-26 | 2003-11-26 | 検査装置用ホルダー |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20140087836A (ko) * | 2012-12-31 | 2014-07-09 | 엘지디스플레이 주식회사 | 글라스 검사장치 |
KR101663759B1 (ko) * | 2016-05-11 | 2016-10-10 | 주식회사 티엠씨 | 패턴검사용 포토마스크 얼라인 어댑터 유니트 |
KR101779974B1 (ko) * | 2015-12-16 | 2017-10-10 | 주식회사 씨브이아이 | 글래스 크랙 검사 시스템 |
WO2021029400A1 (ja) * | 2019-08-09 | 2021-02-18 | 合同会社Folium Floris TAKARAZUKA | 食品型及び型及び食品型の製造方法及び型の製造方法及び注文サーバ並びにその食品型を利用した食品加工装置及び型を利用した材料加工装置 |
-
2003
- 2003-11-26 JP JP2003395057A patent/JP2005156924A/ja active Pending
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KR102047414B1 (ko) | 2012-12-31 | 2019-11-21 | 엘지디스플레이 주식회사 | 글라스 검사장치 |
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WO2021029400A1 (ja) * | 2019-08-09 | 2021-02-18 | 合同会社Folium Floris TAKARAZUKA | 食品型及び型及び食品型の製造方法及び型の製造方法及び注文サーバ並びにその食品型を利用した食品加工装置及び型を利用した材料加工装置 |
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