WO2002101788A1 - Dispositif de spectrometrie de masse de liquide refroidisseur - Google Patents

Dispositif de spectrometrie de masse de liquide refroidisseur Download PDF

Info

Publication number
WO2002101788A1
WO2002101788A1 PCT/JP2002/005540 JP0205540W WO02101788A1 WO 2002101788 A1 WO2002101788 A1 WO 2002101788A1 JP 0205540 W JP0205540 W JP 0205540W WO 02101788 A1 WO02101788 A1 WO 02101788A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
block
desolvation
cold spray
temperature
mass spectrometer
Prior art date
Application number
PCT/JP2002/005540
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Kentaro Yamaguchi
Tatsuji Kobayashi
Original Assignee
Japan Science And Technology Corporation
Jeol Ltd.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Science And Technology Corporation, Jeol Ltd. filed Critical Japan Science And Technology Corporation
Priority to US10/343,329 priority Critical patent/US6977369B2/en
Priority to EP02738622A priority patent/EP1394836B1/en
Priority to JP2003504438A priority patent/JP3786417B2/ja
Publication of WO2002101788A1 publication Critical patent/WO2002101788A1/ja

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
    • H01J49/0468—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components with means for heating or cooling the sample
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05—SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05B—SPRAYING APPARATUS; ATOMISING APPARATUS; NOZZLES
    • B05B5/00—Electrostatic spraying apparatus; Spraying apparatus with means for charging the spray electrically; Apparatus for spraying liquids or other fluent materials by other electric means
    • B05B5/001—Electrostatic spraying apparatus; Spraying apparatus with means for charging the spray electrically; Apparatus for spraying liquids or other fluent materials by other electric means incorporating means for heating or cooling, e.g. the material to be sprayed
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
    • H01J49/0431—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples
    • H01J49/044—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples with means for preventing droplets from entering the analyzer; Desolvation of droplets
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/10—Ion sources; Ion guns
    • H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
    • H01J49/165—Electrospray ionisation
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05—SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05B—SPRAYING APPARATUS; ATOMISING APPARATUS; NOZZLES
    • B05B5/00—Electrostatic spraying apparatus; Spraying apparatus with means for charging the spray electrically; Apparatus for spraying liquids or other fluent materials by other electric means
    • B05B5/025—Discharge apparatus, e.g. electrostatic spray guns
    • B05B5/0255—Discharge apparatus, e.g. electrostatic spray guns spraying and depositing by electrostatic forces only

Definitions

  • the present invention relates to a mass spectrometer, and more particularly, to a cold spray mass spectrometer capable of ionizing a sample at a low temperature.
  • electrospray The phenomenon in which an electrically conductive liquid placed in a strong electric field sprays spontaneously from the tip of the capillary by the action of an electric field is called electrospray.
  • electrospray electrospray
  • FIG. 1 shows a conventional electrospray mass spectrometer.
  • reference numeral 31 denotes a solution sample supply source such as a liquid chromatograph (LC) device or a solution reservoir.
  • the solution sample (for example, the LC mobile phase) of the solution sample supply source 31 is sent to the capillary capillary 32 by a pump (not shown) or the like.
  • the capillary 32 is made of metal and has an inner diameter of 30 to 100 m and an outer diameter of 150 to 250.
  • the solution sample sent to the capillary 32 is driven by an LC pump or a capillary phenomenon, is sucked into the capillary 32, and reaches the tip of the capillary 32.
  • a high voltage of several kV is applied between the capillary 32 and the counter electrode 34 of the mass spectrometer 33, and a strong electric field is formed.
  • the solution sample in the capillary 32 is electrostatically sprayed under atmospheric pressure into the space between the capillary 32 and the counter electrode 34, and is dispersed in the atmosphere as charged droplets .
  • the flow rate of the solution sample is 1 to 10 microliters per minute.
  • the charged droplet generated at this time is Since the solvent particles are clustered around the sample molecules, the particles are clustered, so if heat is applied to vaporize and remove the solvent molecules, only the ions of the sample molecules can be obtained.
  • a method for producing sample ions from charged droplets is to supply nitrogen gas heated to about 70 ° C to the space between the capillary 32 and the counter electrode 34, and electrostatically spray the charged droplets there. Or the sample provided in the counter electrode 34 of the mass spectrometer 33.
  • the orifice 35 is heated to about 80 ° C and its radiant heat or heat conduction is obtained.
  • ion evaporation For vaporizing the solvent of the charged droplets.
  • the sample ions generated by the ion evaporation are taken into the mass spectrometer 33 from the sampling orifice 35 provided in the counter electrode 34.
  • a differential exhaust wall is configured to introduce sample ions under atmospheric pressure into the vacuum mass spectrometer 33. That is, a section surrounded by the sampling orifice 35 and the gap orifice 36 is exhausted to about 2 O O Pa by a rotary pump (RP) (not shown).
  • the section surrounded by the gap orifice 36 and the partition 37 is evacuated to about 1 Pa by a turbo-molecular (not shown) pump (TMP).
  • TMP turbo-molecular pump
  • the latter stage of the partition 37 is evacuated by TMP to about 10 to 3 Pa, and the mass spectrometer 38 is placed.
  • a ring lens 39 for preventing diffusion of sample ions is placed in the low vacuum section surrounded by the sampling orifice 35 and the skimmer orifice 36. Is a positive voltage, and a negative voltage is applied when the sample ion is negative.
  • an ion guide 40 for guiding sample ions to the mass spectrometer 38 is placed, and a high-frequency voltage is applied.
  • recent systems In order to be able to handle samples with a large flow rate of 10 to 100 microliters / minute, such as the mobile phase of the sample, a sheath tube through which the nebulizing gas can flow around the capillary 32 is installed.
  • a new type of electrospray '' ion source configured to nebulize a sample solution with a large flow rate of 10 microliters or more that cannot be atomized by nebulizing gas completely and forcibly by nebulizing gas Has also appeared.
  • the feature of the electrospray ion source is that it is a very soft ionization method that does not apply high heat or collide high energy particles when ionizing sample molecules. Therefore, highly polar biopolymers such as peptides, proteins, and nucleic acids can be easily ionized as polyvalent ions with almost no destruction. Also, since it is a multiply-charged ion, it can be measured with a relatively small mass spectrometer even if it has a molecular weight of 10,000 or more.
  • the characteristic of such a cold spray mass spectrometer is, above all, that the nebulizing gas and the desolvation chamber are cooled with a refrigerant such as liquid nitrogen to minimize the heat applied to the charged droplets. .
  • a refrigerant such as liquid nitrogen
  • the desolvation chamber is directly cooled with liquid nitrogen, so it is too cold to set the temperature of the desolvation chamber to the optimal temperature range for measurement. It took a long time.
  • the cooling gas for cooling the desolvation chamber directly flows into the ionization chamber, the airflow in the ionization chamber was disturbed, and the ion beam was difficult to stabilize.
  • the present invention has been made in view of the above points, and its purpose is to easily control the temperature of the desolvation block 3 and to prevent the occurrence of water condensation and electric leakage for a long time. Another object of the present invention is to provide an easy-to-use cold spray mass spectrometer capable of performing stable measurement without any problem.
  • the cold spray mass spectrometer according to the present invention sprays a sample solution at a low temperature, removes the solvent, and performs mass spectrometry.
  • mass spectrometry In performing cold spray mass spectrometry,
  • a desolvation block having a passage through which charged droplets of the sample solution sprayed from the tip of the needle pipe pass, and removing solvent from the charged droplets passing through the passage;
  • the desolvation block can be controlled to any temperature.
  • FIG. 1 is a diagram showing a conventional electrospray mass spectrometer.
  • FIG. 2 is a diagram showing a conventional cold spray mass spectrometer.
  • FIG. 3 is a diagram showing one embodiment of the cold spray mass spectrometer according to the present invention.
  • FIG. 4 is a view showing another embodiment of the cold spray mass spectrometer according to the present invention. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • FIG. 3 shows an embodiment of the cold spray mass spectrometer according to the present invention.
  • A shows a top view of the cold spray mass spectrometer
  • (b) shows a side view of the cold spray mass spectrometer from the side.
  • 1 is an ionization chamber.
  • a high voltage is applied inside the ionization chamber 1 to spray the sample solution electrostatically.
  • a desolvation block 3 for desolvating charged droplets electrostatically sprayed from the tip of the needle pipe 8.
  • the needle pipe 8 forms a coaxial double pipe with a sheath pipe 24 through which nebulizing gas for assisting electrostatic spraying is passed.
  • a heater 4 for heating the desolvation block 3 and a temperature sensor 5 for detecting the temperature of the desolvation block 3 are embedded in the block wall of the desolvation block 3.
  • the desolvation block 3 has a heating passage hole 10 for desolvating the charged droplet at a high temperature and a cooling passage hole 11 for desolvating the charged droplet at a low temperature.
  • the position of the tip of the needle valve 8 can be moved or moved by the position adjustment knob 9 on the entrance side of the heating passage hole 10 or on the entrance side of the cooling passage hole 11. It has become. This is to make it possible to arbitrarily select the usual electrospray ionization method and cold spray ionization method.
  • a bypass rod 2 for bypassing the charged droplet is provided so that the charged droplet that has been electrostatically sprayed does not immediately reach the first orifice 6. 6 are provided.
  • the solvent that has condensed on the chamber wall of the ionization chamber 1 and the excess sample solution sprayed from the needle pipe 8 pass through the waste liquid line 22 from the ionization chamber 1 to the outside. Is discharged toward a drain (not shown).
  • a differential pumping wall is configured to introduce the sample ions desolvated in the desolvation block 3 under atmospheric pressure into the vacuum mass spectrometer.
  • the section surrounded by the first orifice 6 and the second orifice 7 is exhausted to about 200 Pa by a low speed pump (RP) not shown.
  • a section surrounded by the second orifice 7 and a partition (not shown) is evacuated to about 1 Pa by a turbo 'molecular' pump (TMP) not shown.
  • TMP turbo 'molecular' pump
  • the sample that has been desolvated in the desolvation block 3 and has been ionized is taken into the mass spectrometer from the first orifice 6.
  • a positive voltage is applied when the sample ion is positive, and a negative voltage is applied when the sample ion is negative.
  • Ring lens 23 is placed, and is structured to prevent diffusion of sample ions.
  • an ion guide 21 for guiding sample ions to the mass spectrometer 38 is placed, and a high-frequency voltage is applied. .
  • the heater 4 When performing measurement in the cold spray / ionization mode, cool the nebulizing nitrogen gas 17 supplied from the nitrogen cylinder 18 to about 20 ° C in a refrigerator 20 before cooling.
  • the desolvation block is blown out from the sheath pipe 24 and the cooling nitrogen gas 15 supplied from the liquid nitrogen jar 19 is sprayed directly on the block wall of the desolvation block 3 through the insulating pipe 1. Cool the temperature of step 3 and control the charged droplets of the sample so that no heat is applied during the measurement.
  • the position of the tip of the needle pipe 8 is adjusted to the cooling passage hole 11 side by the position adjusting knob 9, and the charged droplet is desolvated by passing through the cooling passage hole 11.
  • the heater 4 may be operated as appropriate while cooling with the cooling nitrogen gas 15.
  • the nebulizing nitrogen gas 17 supplied from the nitrogen cylinder 18 is jetted out of the sheath tube 24 at room temperature and the liquid
  • the supply of cooling nitrogen gas 15 from the nitrogen jar 19 is stopped, and the desolvation block 3 is heated to 100 to 300 ° C by the heater 4 to apply heat to the charged droplets of the sample during measurement. Control so that this At this time, the position of the tip of the dollar pipe 8 is adjusted to the heating passage hole 10 side by the position adjustment knob 9, and the charged droplet is desolvated by passing through the heating passage hole 10.
  • the cold spray ionization mode and the normal electrospray ionization mode can be arbitrarily switched.
  • a second chamber 2 surrounded by a case 13 is provided.
  • a needle pipe 8 a first orifice 6, a second orifice 7, and the like are provided.
  • the wiring for the high-voltage power supply for applying the voltage, the wiring connection part 14 for the heater 14 and the temperature sensor 5, etc. are housed.
  • a dry purge gas is constantly supplied from a gas source (not shown) so that when the desolvation block 3 is cooled, moisture is attracted from outside to prevent dew condensation.
  • FIG. 4 shows another embodiment of the cold spray mass spectrometer according to the present invention.
  • (A) shows a top view of the cold spray mass spectrometer, and (b) shows a side view of the cold spray mass spectrometer from the side.
  • reference numeral 1 denotes an ionization chamber. Inside the ionization chamber 1, there is a needle pipe 8 to which a high voltage is applied for electrostatically spraying the sample solution, and a desorber for desolvating charged droplets electrostatically sprayed from the tip of the needle pipe 8.
  • a solvent block 3 is provided.
  • the needle pipe 8 constitutes a coaxial double pipe by a sheath pipe 24 through which nebulizing gas for assisting electrostatic spraying is passed.
  • a heater 4 for heating the desolvation block 3 and a temperature sensor 5 for detecting the temperature of the desolvation block 3 are embedded in the block wall of the desolvation block 3.
  • the desolvation block 3 has a heating passage hole 10 for desolvating the charged droplet at a high temperature and a cooling passage hole 11 for desolvating the charged droplet at a low temperature.
  • the position of the tip of the needle valve 8 can be arranged on the entrance side of the heating passage hole 10 by the position adjustment knob 9, It can be arranged or moved on the entrance side of the cooling passage hole 11. This is to make it possible to arbitrarily select between the normal electrospray ionization method and the cold spray ionization method.
  • a bypass rod 2 for bypassing the charged droplet is provided so that the charged droplet that has been electrostatically sprayed does not immediately reach the first orifice 6. 6 are provided.
  • the solvent that has condensed on the chamber wall of the ionization chamber 1 and the excess sample solution sprayed from the needle pipe 8 pass through the waste liquid line 22 from the ionization chamber 1 to the outside. Is discharged toward a drain (not shown).
  • a differential pumping wall is configured to introduce the sample ions desolvated in the desolvation block 3 under atmospheric pressure into the vacuum mass spectrometer. That is, a section surrounded by the first orifice 6 and the second orifice 7 is exhausted to about 200 Pa by a low-pressure pump (RP) (not shown). A section surrounded by the second orifice 7 and a partition (not shown) is evacuated to about 1 Pa by a turbo-molecular pump (TMP) (not shown). Further, the rear stage of the not-shown partition wall is evacuated to about 10 to 3 Pa by TMP, and a not-shown mass analysis unit is placed.
  • RP low-pressure pump
  • TMP turbo-molecular pump
  • the sample that has been desolvated by the desolvation block 3 and has been deionized is taken into the mass spectrometer from the first orifice 6.
  • a positive voltage is applied when the sample ion is positive, and a negative voltage is applied when the sample ion is negative.
  • a ring lens 23 is placed to prevent diffusion of sample ions.
  • an ion guide 21 for guiding sample ions to the mass analyzer 38 is placed, and a high-frequency voltage is applied. I have.
  • the nitrogen gas 17 for nebulizing supplied from the nitrogen cylinder 18 and the nitrogen gas 15 for cooling are supplied to the common refrigerator jar 20. After cooling to about 0 ° C, it is supplied to the sheath pipe 24 and the coolant flow path 25 formed in the block wall of the desolvation block 3, and the needle pipe 8 and the desolvation block 3 are simultaneously Let cool.
  • the cooling nitrogen gas 15 flows through the refrigerant flow path 25, the gas flow in the ionization chamber 1 is not disturbed compared to the method in which liquid nitrogen is directly blown to the desolvation block 3, and An ion beam can be supplied stably.
  • the position of the distal end of the needle pipe 8 is adjusted to the cooling passage hole 11 side by the position adjusting knob 9, and the charged droplet is desolvated by passing through the cooling passage hole 11.
  • the heater 4 may be operated as appropriate while cooling with the cooling nitrogen gas 15.
  • the nebulizing nitrogen gas 17 supplied from the nitrogen cylinder 18 is jetted out of the sheath tube 24 at room temperature and the liquid
  • the supply of cooling nitrogen gas 15 from the nitrogen jar 19 was stopped, and the desolvation block 3 was heated to 100 to 300 ° C by the heater 14. Control so that heat is applied.
  • the position of the tip of the needle pipe 8 is adjusted to the heating passage hole 10 side by the position adjustment knob 9, and the charged droplet passes through the heating passage hole 10 to remove the solvent.
  • the cold spray ionization mode and the normal electrospray ionization mode can be arbitrarily switched.
  • a second chamber 2 surrounded by a case 13 is provided.
  • a needle pipe 8, a first orifice 6, a second orifice 7, and the like are provided.
  • Apply voltage The wiring of the high voltage power supply and the wiring connection part 14 of the heater 4 and the temperature sensor 5 are stored.
  • the dry nitrogen gas for cooling 15 passing through the coolant channel 25 provided on the block wall of the desolvation block 3 is passed through the cooling gas outlet 16.
  • the inside of the second room 2 is circulated, and the inside of the second room 2 is purged by effectively using the used cooling dry nitrogen gas 15.
  • Needle pipe 8 first orifice 6, second orifice 7, etc.Prevents electrical leakage from high voltage power supply wiring that applies high voltage to heater 4, temperature sensor 5, etc. I do.
  • the cooling gas is used as the cooling gas, but an inert gas other than nitrogen gas may be used.
  • the drying gas introduced into the second room shown in the second embodiment does not necessarily need to be used cooling gas, and a gas source may be provided separately.
  • the cooling gas may be cooled by a cooling means other than the refrigerator, for example, a dry ice bath combining dry ice and an organic solvent.
  • the refrigerant flow path 25 does not necessarily need to be formed in the block wall of the desolvation block 3, and is located in the vicinity of the desolvation block 3 if it can effectively cool the desolvation block 3. It may be located anywhere.
  • the refrigerant for cooling the desolvation block 3 does not necessarily have to be a disposable gas, and may be used by circulating a temperature-controlled fluid.
  • the cooling means for cooling the desolvation block the above-described nebulizing gas may be used.
  • the cooling nitrogen gas 15 Need not flow through the refrigerant flow path 25 of the desolvation block 3.
  • a device for cooling / heating the desolvation block, a temperature sensor for detecting the temperature of the desolvation block, and electric wiring and the like are housed. Since the second chamber 2 is purged with a dry gas, the temperature of the desolvent block 3 can be easily controlled, and there is no water condensation or electric leakage over a long period of time, and the system is stable. This has made it possible to provide an easy-to-use cold spray mass spectrometer that can perform measurement with ease.

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

明細書
コールドスプレー質量分析装置 技術分野
本発明は、 質量分析装置に関し、 特に、 低温で試料をイオン化さ せることのできるコールドスプレー質量分析装置に関する。 背景技術
強い電界の中に置かれた電気伝導性の液体が、 電界の作用によつ て毛管の先端部から自然に噴霧する現象は、 エレク トロスプレー
(静電噴霧） と呼ばれ、 古くから知られていた。 1 9 8 0年代前半、 このエレク トロスプレーという現象が溶液試料の質量分析に応用さ れ、 エレク トロスプレー質量分析装置として広く用いられるように なつた。
図 1は、 従来のエレク トロスプレー質量分析装置を示したもので ある。 図中、 3 1は、 液体クロマトグラフ （L C ) 装置や溶液溜な どの溶液試料供給源である。 溶液試料供給源 3 1の溶液試料 （例え ば L C移動相） は、 図示しないポンプなどによつて毛管状のキヤピ ラリー 3 2に送られる。 このキヤピラリー 3 2は、 金属で作られて おり、 内径 3 0〜 1 0 0 m、 外径 1 5 0〜 2 5 0 である。 キ ャピラリー 3 2に送られた溶液試料は、 L Cポンプまたは毛管現象 により駆動されて、 キヤピラリー 3 2の内部に吸い上げられ、 該キ ャピラリー 3 2の先端部まで到達する。
キヤピラリー 3 2と質量分析装置 3 3の対向電極 3 4の間には、 数 k Vの高電圧が印加されていて、 強い電界が形成されている。 こ の電界の作用で、 キヤピラリー 3 2の中の溶液試料は、 大気圧下、 キヤピラリー 3 2と対向電極 3 4の間の空間に静電噴霧され、 荷電 液滴となって大気中に分散する。 このときの溶液試料の流量は、 毎 分 1〜 1 0マイクロリツ トルである。 このとき生成する荷電液滴は、 試料分子の回りに溶媒分子が集まつてクラスター状になつた帯電粒 子なので、 熱を加えて溶媒分子を気化させて取り除く と、 試料分子 のイオンだけにすることができる。
荷電液滴から試料イオンを作る方法としては、 キヤピラリー 3 2 と対向電極 3 4の間の空間に 7 0 °C程度に加熱した窒素ガスを供給 し、 そこに荷電液滴を静電噴霧することによつて液滴の溶媒を気化 させる方法や、 質量分析装置 3 3の対向電極 3 4に設けられたサン プリング .オリフィス 3 5を 8 0 °C程度に加熱して、 その輻射熱、 あるいは熱伝導で荷電液滴の溶媒を気化させる方法などがある。 こ れらの方法をイオン ·エバポレーションと呼んでいる。
イオン 'エバポレーションによって生成した試料イオンは、 対向 電極 3 4に設けられたサンプリング ·オリフィス 3 5から質量分析 装置 3 3の内部に取り込まれる。 大気圧下の試料イオンを真空の質 量分析装置 3 3に導入するために、 差動排気壁が構成される。 すな わち、 サンプリング ·オリフィス 3 5とスキマ一 ·オリフィス 3 6 とで囲まれた区画は、 図示しないロータリー ' ポンプ （R P ) で 2 O O P a程度に排気されている。 また、 スキマ一 'オリフィス 3 6 と隔壁 3 7とで囲まれた区画は、 図示しないターボ ·モレキュラー ' ポンプ （T M P ) で 1 P a程度に排気されている。 そして、 隔壁 3 7の後段は、 T M Pによって 1 0— 3 P a程度に排気され、 質量 分析部 3 8が置かれている。
また、 サンプリング ·オリフィス 3 5とスキマー ·オリフィス 3 6で囲まれた低真空の区画には、 試料イオンの拡散を防ぐためのリ ングレンズ 3 9が置かれていて、 試料イオンが正イオンの場合には 正電圧、 試料ィオンが負ィォンの場合には負電圧が印加されるよう になっている。 また、 スキマー ·オリフィス 3 6と隔壁 3 7で囲ま れた中真空の区画には、 試料イオンを質量分析部 3 8まで導くため のイオンガイ ド 4 0が置かれ、 高周波電圧が印加されている。 また、 図 1には図示されていないが、 最近のシステムでは、 L C の移動相など 1 0〜 1 0 0 0マイクロリッ トル /分の大流量の試料 にも対応できるようにするために、 キヤピラリー 3 2の周囲にネブ ライジング ' ガスを流せるシース管を設け、 電界力だけでは霧化し きれない 1 0マイクロリツ 卜ル以上の大流量の試料溶液を、 ネブラ ィジング · ガスの力によって強制的かつ完全に霧化させるように構 成した新しいタイプのエレク トロスプレー ' イオン源も登場してい る。
エレク トロスプレー .イオン源の特徴は、 試料分子のイオン化に 際して、 高熱をかけたり高エネルギー粒子を衝突させたり しない非 常にソフ トなイオン化法であるという点にある。 従って、 ペプチド、 タンパク質、 核酸などの極性の強い生体高分子をほとんど破壊する ことなく、 多価イオンとして容易にイオン化することができる。 ま た、 多価イオンなので、 分子量が 1万以上のものでも、 比較的小型 な質量分析装置で測定することが可能である。
ところが、 最近、 エレク トロスプレー ' イオン化法のような非常 にソフトなイオン化法であっても、 イオン化の際に、 試料イオンの 分子構造が破壊されてしまうというサンプルの例が報告されるよう になった。 それは、 例えば、 巨大な有機金属錯体、 例えば、 プラチ ナなどの遷移金属錯体の自己集合によつて高度な秩序を備えた超分 子化合物などの例である。 これらの金属錯体は、 イオンの衝撃や熱 に対してのみならず、 ソフ卜なイオン化法であるエレク トロスプレ 一によるィォン化に対しても不安定であり、 ィォン気化の際に分子 構造の破壊が起きる。
この問題を解決するために、 最近、 エレク 卜ロスプレー ' イオン 源に供給されるネブライジング · ガスや荷電液滴の脱溶媒室などを 液体窒素などの冷媒で冷却し、 ィォン化の際に試料ィォンに熱が加 わることを極力避けるようにすることで不安定分子の分解を抑える と同時に、 低温による試料および溶媒の誘電率を上昇することによ つてイオン解離を促進する新しいタイプのエレク トロスプレー質量 分析装置が開発された （特開 2 0 0 0 - 2 8 5 8 4 7号公報） 。 こ の方法は、 コールドスプレー -イオン化法と呼ばれ、 図 2に示すよ うに、 脱溶媒室に直接、 液体窒素を吹き付けることにより、 初めて、 前述のような不安定な自己集合有機金属錯体などの精密な質量数の 測定を可能にするものである。
このようなコールドスプレー質量分析装置の特徴は、 何と言って もネブラィジング · ガスや脱溶媒室を液体窒素などの冷媒で冷却し、 荷電液滴に熱が加わることを極力避けるようにしたところにある。 ところが、 従来の装置では、 脱溶媒室を液体窒素で直接冷却してい るため、 冷えすぎて、 測定に最適な温度領域に脱溶媒室の温度を設 定することがむつかしく、 装置が安定するまでに時間がかかるとい う問題があった。 また、 イオン化室に、 脱溶媒室を冷却するための 冷却ガスが直接流れ込むため、 イオン化室の気流が乱され、 イオン ビームが安定しづらいという問題があった。 また、 コールドスプレ 一 . イオン化法で測定を行なっている時、 外界との隔離が完全でな いため、 電気回路等を収納している部屋の内部が結露を起こして、 電気的にリークを起こし、 長時間の安定した測定が困難になるとい う問題があった。 また、 コールドスプレー 'イオン化モードと、 通 常のエレク 卜ロスプレー .イオン化モードとを、 切り換えることが できないという問題があった。 発明の開示
本発明は、 上述した点に鑑みてなされたものであり、 その目的は、 脱溶媒ブロック 3の温度制御が容易で、 しかも、 長時間に渡り、 水 分の結露や電気的なリークの発生がなく、 安定して測定の可能な、 使い勝手の良いコールドスプレー質量分析装置を提供することにあ る。
この目的を達成するため、 本発明にかかるコールドスプレー質量 分析装置は、 試料溶液を低温の下で噴霧し、 脱溶媒して質量分析を 行なうコールドスプレー質量分析装置において、
( a ) 試料溶液を通すニードルパイプと、
( b ) ニードルパイプと同軸形状をなし、 温度制御したネブライジ ング · ガスを通すシース管と、
( c ) ニードルパイプの先端から噴霧された試料溶液の荷電液滴が 通過する通路を有し、 通路を通過する荷電液滴から溶媒を取り除く 脱溶媒ブロックと、
( d ) 脱溶媒ブロックを冷却するための冷却手段と、
( e ) 脱溶媒プロックを加熱するための加熱手段と、
( f ) 脱溶媒ブロックの温度を検出する温度センサーと
を備え、
脱溶媒プロックを任意の温度に制御できるようにしたことを特徴と している。 図面の簡単な説明
図 1は従来のエレク トロスプレー質量分析装置を示す図である。 図 2は従来のコールドスプレー質量分析装置を示す図である。 図 3は本発明にかかるコールドスプレ一質量分析装置の一実施例 を示す図である。
図 4は本発明にかかるコールドスプレー質量分析装置の別の実施 例を示す図である。 発明の実施の最良の形態
以下、 図面を参照して、 本発明の実施の形態を説明する。 図 3は、 本発明にかかるコールドスプレー質量分析装置の一実施例を示した ものである。 このうち、 （a ) は、 コールドスプレー質量分析装置 を上から見た平面図、 （b ) は、 コールドスプレー質量分析装置を 横から見た側面図を表わす。 図中 1は、 イオン化室である。 イオン 化室 1の内部には、 試料溶液を静電噴霧させるために高電圧が印加 されたニードルパイプ 8と、 ニードルパイプ 8の先端から静電噴霧 された荷電液滴を脱溶媒化するための脱溶媒ブロック 3とが設けら れている。 ニードルパイプ 8は、 静電噴霧を助けるためのネブライ ジング · ガスを通すシース管 2 4によって同軸形状の二重管を構成 している。 また、 脱溶媒プロック 3のプロック壁には、 脱溶媒プロ ック 3を加熱するためのヒーター 4と、 脱溶媒プロック 3の温度を 検出する温度センサー 5が埋設されている。
脱溶媒プロック 3には、 荷電液滴を高温で脱溶媒するための加熱 用通過穴 1 0と、 荷電液滴を低温で脱溶媒するための冷却用通過穴 1 1 とが用意されていて、 ニードルバルブ 8の先端の位置を、 位置 調整ノブ 9によって、 加熱用通過穴 1 0の入り口側に配置させたり、 冷却用通過穴 1 1の入り口側に配置させたり、 移動させることがで きるようになつている。 これは、 通常のェレク トロスプレー 'ィォ ン化法とコールドスプレー ·イオン化法とを、 任意に選択して行な えるようにするためのものである。 また、 冷却用通過穴 1 1の途中 には、 静電噴霧された荷電液滴がただちに第 1のオリフィス 6に到 達してしまうことがないように、 荷電液滴を迂回させるための迂回 棒 2 6が設けられている。
尚、 脱溶媒後、 イオン化室 1の室壁に結露した溶媒や、 ニードル パイプ 8から噴霧された試料溶液の内、 余分なものなどは、 廃液ラ イン 2 2を通って、 イオン化室 1から外部の図示しないドレインに 向けて排出される。
大気圧下の脱溶媒ブロック 3で脱溶媒された試料イオンを、 真空 の質量分析装置内に導入するために、 差動排気壁が構成される。 す なわち、 第 1のオリフィス 6と第 2のォリフィス 7で囲まれた区画 は、 図示しないロー夕リー ·ポンプ （R P ) で 2 0 0 P a程度に排 気されている。 また、 第 2のオリフィス 7と図示しない隔壁で囲ま れた区画は、 図示しないターボ 'モレキュラー ' ポンプ （T M P ) で 1 P a程度に排気されている。 更に、 図示しない隔壁の後段は、 T M Pによって 1 0— 3 P a程度に排気され、 図示しない質量分析 部が置かれている。
脱溶媒ブロック 3で脱溶媒されてィォンとなつた試料は、 第 1の オリフィス 6から質量分析装置内に取り込まれる。 そして、 第 1 の オリフィス 6と第 2のオリフィス 7とで囲まれた低真空の区画では、 試料ィォンが正ィォンの場合には正電圧、 試料ィォンが負ィオンの 場合には負電圧が印加されるリングレンズ 2 3が置かれていて、 試 料イオンの拡散を防ぐ構造になっている。 また、 第 2のオリフィス 7と図示しない隔壁とで囲まれた中真空の区画には、 試料イオンを 質量分析部 3 8まで導くためのイオンガイ ド 2 1が置かれ、 高周波 電圧が印加されている。
コールドスプレー · イオン化モードで測定を行なう場合には、 窒 素ボンべ 1 8から供給されるネブライジング用窒素ガス 1 7を、 冷 凍機ジャー 2 0で一 2 0 °C程度まで冷却した後、 シース管 2 4から 噴出させるとともに、 液体窒素ジャー 1 9から供給される冷却用窒 素ガス 1 5を、 絶縁パイプ 1 を介して、 直接、 脱溶媒ブロック 3 のブロック壁に吹き付けて、 脱溶媒ブロック 3の温度を冷却させ、 測定中、 試料の荷電液滴に、 熱が加わることのないようにコン ト口 ールする。 このとき、 ニードルパイプ 8の先端の位置は、 位置調整 ノブ 9によって冷却用通過穴 1 1側に合わされ、 荷電液滴は、 冷却 用通過穴 1 1 を通過することによって脱溶媒される。 尚、 脱溶媒ブ ロック 3の温度を安定させるために、 冷却用窒素ガス 1 5で冷却し ながら、 適宜、 ヒーター 4を作動させても良い。
また、 通常のエレク トロスプレー ·イオン化モードで測定を行な う場合には、 窒素ボンべ 1 8から供給されるネブライジング用窒素 ガス 1 7を室温のままシース管 2 4から噴出させるとともに、 液体 窒素ジャー 1 9からの冷却用窒素ガス 1 5の供給を止め、 脱溶媒ブ ロック 3をヒーター 4によって 1 0 0〜 3 0 0 °Cに加熱させ、 測定 中、 試料の荷電液滴に、 熱が加わるようにコントロールする。 この とき、 二一ドルパイプ 8の先端の位置は、 位置調整ノブ 9によって 加熱用通過穴 1 0側に合わされ、 荷電液滴は、 加熱用通過穴 1 0を 通過することによって脱溶媒される。
このように、 本実施例では、 コールドスプレー · ィォン化モード と、 通常のエレク トロスプレー ' イオン化モードとは、 任意に切り 換えることができるようになつている。
また、 イオン化室 1の回りには、 ケース 1 3によって取り囲まれ た第 2の部屋 2が設けられており、 この空間に、 ニードルパイプ 8、 第 1のオリフィス 6、 第 2のオリフィス 7などに高電圧を印加する 高電圧電源の配線や、 ヒータ一 4や温度センサー 5の配線接続部 1 4などが収納されている。 この部屋には、 脱溶媒プロック 3が冷や された際に、 外界から水分が呼び込まれて結露しないように、 図示 しないガス源から、 乾燥したパージガスが常時流されている。
図 4は、 本発明にかかるコールドスプレー質量分析装置の別の実 施例を示したものである。 このうち、 （a ) は、 コールドスプレー 質量分析装置を上から見た平面図、 （b ) は、 コールドスプレー質 量分析装置を横から見た側面図を表わす。 図中 1は、 イオン化室で ある。 イオン化室 1の内部には、 試料溶液を静電噴霧させるために 高電圧が印加されたニードルパイプ 8と、 ニードルパイプ 8の先端 から静電噴霧された荷電液滴を脱溶媒化するための脱溶媒プロック 3とが設けられている。 ニードルパイプ 8は、 静電噴霧を助けるた めのネブライジング · ガスを通すシース管 2 4によって同軸形状の 二重管を構成している。 また、 脱溶媒ブロック 3のブロック壁には、 脱溶媒ブロック 3を加熱するためのヒーター 4と、 脱溶媒ブロック 3の温度を検出する温度センサー 5が埋設されている。
脱溶媒プロック 3には、 荷電液滴を高温で脱溶媒するための加熱 用通過穴 1 0と、 荷電液滴を低温で脱溶媒するための冷却用通過穴 1 1 とが用意されていて、 ニードルバルブ 8の先端の位置を、 位置 調整ノブ 9によって、 加熱用通過穴 1 0の入り口側に配置させたり、 冷却用通過穴 1 1の入り口側に配置させたり、 移動させることがで きるようになつている。 これは、 通常のエレク トロスプレー · ィォ ン化法とコールドスプレー · イオン化法とを、 任意に選択して行な えるようにするためのものである。 また、 冷却用通過穴 1 1の途中 には、 静電噴霧された荷電液滴がただちに第 1のオリフィス 6に到 達してしまうことがないように、 荷電液滴を迂回させるための迂回 棒 2 6が設けられている。
尚、 脱溶媒後、 イオン化室 1の室壁に結露した溶媒や、 ニードル パイプ 8から噴霧された試料溶液の内、 余分なものなどは、 廃液ラ イン 2 2を通って、 イオン化室 1から外部の図示しないドレインに 向けて排出される。
大気圧下の脱溶媒ブロック 3で脱溶媒された試料イオンを、 真空 の質量分析装置内に導入するために、 差動排気壁が構成される。 す なわち、 第 1のオリフィス 6と第 2のオリフィス 7とで囲まれた区 画は、 図示しないロー夕リ一 · ポンプ （R P ) で 2 0 0 P a程度に 排気されている。 また、 第 2のオリフィス 7と図示しない隔壁とで 囲まれた区画は、 図示しないターボ ·モレキユラ一 ·ポンプ （T M P ) で 1 P a程度に排気されている。 更に、 図示しない隔壁の後段 は、 T M Pによって 1 0 _ 3 P a程度に排気され、 図示しない質量 分析部が置かれている。
脱溶媒プロック 3で脱溶媒されてィォンとなつた試料は、 第 1の オリフィス 6から質量分析装置内に取り込まれる。 そして、 第 1の オリフィス 6と第 2のオリフィス 7で囲まれた低真空の区画では、 試料ィォンが正ィォンの場合には正電圧、 試料ィォンが負ィオンの 場合には負電圧が印加されるリングレンズ 2 3が置かれていて、 試 料イオンの拡散を防ぐ構造になっている。 また、 第 2のオリフィス 7と図示しない隔壁で囲まれた中真空の区画には、 試料イオンを質 量分析部 3 8まで導くためのイオンガイ ド 2 1が置かれ、 高周波電 圧が印加されている。 コールドスプレー · イオン化モードで測定を行なう場合には、 窒 素ボンべ 1 8から供給されるネブライジング用窒素ガス 1 7と冷却 用窒素ガス 1 5とを、 共通の冷凍機ジャー 2 0で— 2 0 °C程度まで 冷却した後、 シース管 2 4と、 脱溶媒プロック 3のプロック壁に穿 設された冷媒流路 2 5とに供給し、 ニードルパイプ 8と脱溶媒プロ ック 3とを同時に冷却させる。 これにより、 本実施例では、 冷却用 窒素ガス 1 5が冷媒流路 2 5内を流れるので、 液体窒素を脱溶媒ブ ロック 3に直接吹き付ける方法と比べてイオン化室 1内の気流が乱 れず、 イオンビームを安定して供給できる。 このとき、 ニードルパ イブ 8の先端の位置は、 位置調整ノブ 9によって冷却用通過穴 1 1 側に合わされ、 荷電液滴は、 冷却用通過穴 1 1 を通過することによ つて脱溶媒される。 尚、 脱溶媒ブロック 3の温度を安定させるため に、 冷却用窒素ガス 1 5で冷却しながら、 適宜、 ヒーター 4を作動 させても良い。
また、 通常のエレク 卜ロスプレー ·イオン化モードで測定を行な う場合には、 窒素ボンべ 1 8から供給されるネブライジング用窒素 ガス 1 7を室温のままシース管 2 4から噴出させるとともに、 液体 窒素ジャー 1 9からの冷却用窒素ガス 1 5の供給を止め、 脱溶媒ブ ロック 3をヒータ一 4によって 1 0 0〜3 0 0 °Cに加熱させ、 測定 中、 試料の荷電液滴に、 熱が加わるようにコントロールする。 この とき、 ニードルパイプ 8の先端の位置は、 位置調整ノブ 9によって 加熱用通過穴 1 0側に合わされ、 荷電液滴は、 加熱用通過穴 1 0を 通過することによつて脱溶媒される。
このように、 本実施例では、 コールドスプレー ·ィォン化モ一ド と、 通常のエレク 卜ロスプレー · イオン化モ一ドとは、 任意に切り 換えることができるようになつている。
また、 イオン化室 1の回りには、 ケース 1 3によって取り囲まれ た第 2の部屋 2が設けられており、 この空間に、 ニードルパイプ 8、 第 1のオリフィス 6、 第 2のオリフィス 7などに高電圧を印加する 高電圧電源の配線や、 ヒーター 4や温度センサー 5の配線接続部 1 4などが収納されている。 コールドスプレー ' イオン化モードで測 定を行なう場合には、 脱溶媒プロック 3のプロック壁に設けられた 冷媒流路 2 5を通った冷却用乾燥窒素ガス 1 5を、 冷却ガス出口 1 6を介して、 第 2の部屋 2の内部に導入 '循環させ、 使用済みの冷 却用乾燥窒素ガス 1 5を有効に用いて、 第 2の部屋 2の内部をパー ジするようにする。
これにより、 イオン化室 1がコールドスプレー ' イオン化モード で冷やされた際に、 外界から第 2の部屋 2に水分が呼び込まれるこ とを防止し、 第 2の部屋の内部での結露を防止し、 ニードルパイプ 8、 第 1のオリフィス 6、 第 2のオリフィス 7などに高電圧を印加 する高電圧電源の配線や、 ヒーター 4や温度センサー 5の配線接続 部 1 4などの電気的なリークを防止する。
尚、 上記実施例では、 廉価な窒素ガスを冷却用ガスとして採用し たが、 窒素ガス以外の不活性ガスであっても良い。 また、 第 2の実 施例で示した第 2の部屋に導入する乾燥ガスは、 必ずしも使用済み の冷却用ガスである必要はなく、 ガス源を別に設けても良い。 また、 冷却ガスは、 冷凍機以外の冷却手段、 例えば、 ドライアイスと有機 溶媒を組み合わせたドライアイス 'バスなどで冷却しても良い。 ま た、 冷媒流路 2 5は、 必ずしも脱溶媒ブロック 3のブロック壁内に 穿設されている必要はなく、 脱溶媒ブロック 3を有効に冷やせる場 所であれば、 脱溶媒ブロック 3の近傍のどこに設けられてあっても 良い。 また、 脱溶媒ブロック 3を冷却する冷媒については、 必ずし も使い捨てのガスである必要はなく、 温度制御された流体を循環さ せて用いても良い。
また、 上述したコールドスプレー · イオン化モードにおいては、 高電圧がニードルパイプ 8に印加されなくても、 ニードルパイプ 8 の先端から噴霧された試料液はイオン化されることが確認された。 従って、 ニードルパイプ 8への高電圧の印加はイオン化のために必 須ではない。
また、 前記脱溶媒ブロックを冷却する冷却手段として、 上述した ネブライジング . ガスを利用するようにしても良い。 その場合には、 図 3の実施例では、 冷却用窒素ガス 1 5を脱溶媒プロック 3のプロ ック壁に吹き付けることは不要となり、 また、 図 4の実施例では、 冷却用窒素ガス 1 5を脱溶媒ブロック 3の冷媒流路 2 5内を流さな くて済む。 産業上の利用可能性
以上述べたごとく、 本発明のコールドスプレー質量分析装置によ れば、 脱溶媒ブロックを冷却/加熱する手段と、 脱溶媒ブロックの 温度を検出する温度センサーを備えるとともに、 電気配線等が収納 された第 2の部屋 2を乾燥ガスでパージするようにしたので、 脱溶 媒ブロック 3の温度制御が容易で、 しかも、 長時間に渡り、 水分の 結露や電気的なリークの発生がなく、 安定して測定の可能な、 使い 勝手の良いコールドスプレー質量分析装置を提供することが可能に なった。

Claims

請求の範囲
1 . 試料溶液を低温の下で噴霧し、 脱溶媒して質量分析を行なうコ ールドスプレー質量分析装置において、
( a ) 試料溶液を通すニードルパイプと、
( b ) ニードルパイプと同軸形状をなし、 温度制御したネブライジ ング · ガスを通すシース管と、
( c ) ニードルパイプの先端から噴霧された試料溶液の荷電液滴が 通過する通路を有し、 通路を通過する荷電液滴から溶媒を取り除く 脱溶媒ブロックと、
( d ) 脱溶媒ブロックを冷却するための冷却手段と、
( e ) 脱溶媒ブロックを加熱するための加熱手段と、
( f ) 脱溶媒ブロックの温度を検出する温度センサーと
を備え、
脱溶媒プロックを任意の温度に制御できるようにしたことを特徴と するコールドスプレー質量分析装置。
2 . 試料溶液を低温の下で噴霧し、 脱溶媒して質量分析を行なうコ —ルドスプレー質量分析装置において、
( a ) 試料溶液を通すニードルパイプと、
( b ) ニードルパイプと同軸形状をなし、 温度制御したネブライジ ング · ガスを通すシース管と、
( c ) ニードルパイプの先端から噴霧された試料溶液の荷電液滴が 通過する通路を有し、 通路を通過する荷電液滴から溶媒を取り除く 脱溶媒ブロックと、
( d ) 脱溶媒ブロックを冷却するための冷却手段と、
( e ) 脱溶媒プロックを加熱するための加熱手段と、
( f ) 脱溶媒ブロックの温度を検出する温度センサーと
を備え、
コールドスフ。レー ' イオン化モードと通常のエレク 卜ロスプレー · ィォン化乇一ドとを切り換え可能に構成したことを特徴とするコー ルドスプレー質量分析装置。
3 . 前記脱溶媒ブロックは、 前記荷電液滴を高温で脱溶媒するため の加熱用通路と、 前記荷電液滴を低温で脱溶媒するための冷却用通 路とを有しており、 前記荷電液滴を通過させる通路として、 前記加 熱用通路と冷却用通路のどちらか一方を選択できるように構成され ていることを特徴とする請求項 1 または 2記載のコールドスプレー 質量分析装置。
4 . 前記ニードルパイプを移動させて、 前記加熱用通路と冷却用通 路のどちらか一方を選択するようにしたことを特徴とする請求項 3 記載のコールドスプレー質量分析装置。
5 . 冷媒流路が前記脱溶媒ブロックに設けられており、 冷媒が前記 冷媒流路に流されて、 前記脱溶媒プロックが冷却されることを特徴 とする請求項 1または 2記載のコールドスプレー質量分析装置。
6 . シース管に供給される温度制御したネブライジング ' ガスと、 脱溶媒ブロックの冷却手段に供給される冷媒とは、 共通の冷凍機か ら供給されることを特徴とする請求項 1 または 2記載のコールドス プレー質量分析装置。
7 . コールドスプレー · イオン源を制御する電気回路等を収納する ための空間が、 前記脱溶媒ブロックが配置されるイオン化室とは分 離して設けられていることを特徴とする請求項 1 または 2記載のコ ールドスプレー質量分析装置。
8 . 脱溶媒ブロックを冷却した後の冷媒は、 前記空間を通って外界 に排出されることを特徴とする請求項 7記載のコールドスプレー質 量分析装置。
9 . 前記空間に乾燥ガスを供給するガス源を備えていることを特徴 とする請求項 7記載のコールドスプレ一質量分析装置。
PCT/JP2002/005540 2001-06-08 2002-06-05 Dispositif de spectrometrie de masse de liquide refroidisseur WO2002101788A1 (fr)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/343,329 US6977369B2 (en) 2001-06-08 2002-06-05 Cold spray mass spectrometric device
EP02738622A EP1394836B1 (en) 2001-06-08 2002-06-05 Cold spray mass spectrometric device
JP2003504438A JP3786417B2 (ja) 2001-06-08 2002-06-05 コールドスプレー質量分析装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001174265 2001-06-08
JP2001-174265 2001-06-08

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2002101788A1 true WO2002101788A1 (fr) 2002-12-19

Family

ID=19015574

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2002/005540 WO2002101788A1 (fr) 2001-06-08 2002-06-05 Dispositif de spectrometrie de masse de liquide refroidisseur

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6977369B2 (ja)
EP (1) EP1394836B1 (ja)
JP (1) JP3786417B2 (ja)
WO (1) WO2002101788A1 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004139962A (ja) * 2002-08-19 2004-05-13 Jeol Ltd エレクトロスプレー質量分析装置
EP1752764A1 (en) * 2004-05-18 2007-02-14 Yamanashi TLO Co., Ltd. Method and apparatus for analysis through selective cleavage of noncovalent bond, etc. of biopolymer
CN104807876A (zh) * 2015-05-27 2015-07-29 中国工程物理研究院材料研究所 用于放射性物质的电喷雾质谱联用系统及其使用方法
JP2016524521A (ja) * 2013-04-19 2016-08-18 シーメンス・ヘルスケア・ダイアグノスティックス・インコーポレイテッド 無接触微小滴ディスペンサおよび方法
WO2018167933A1 (ja) * 2017-03-16 2018-09-20 株式会社島津製作所 荷電粒子の供給制御方法及び装置
CN115301466A (zh) * 2022-07-12 2022-11-08 天津国科医工科技发展有限公司 一种模块化质谱基质喷涂装置及方法

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4174599B2 (ja) * 2003-07-08 2008-11-05 株式会社島津製作所 高速液体クロマトグラフの分画装置
JP4207782B2 (ja) * 2004-01-06 2009-01-14 株式会社島津製作所 液体クロマトグラフの分画装置
JP4148143B2 (ja) * 2004-01-19 2008-09-10 株式会社島津製作所 液体クロマトグラフ等の分画装置
US8173958B2 (en) * 2007-11-22 2012-05-08 Shimadzu Corporation Mass spectrometer
US20100154568A1 (en) * 2008-11-19 2010-06-24 Roth Michael J Analytical Instruments, Assemblies, and Methods
US20100224695A1 (en) * 2009-03-08 2010-09-09 Excellims Corporation Controlling ionization source temperature
FR2953927B1 (fr) * 2009-12-14 2012-02-03 Commissariat Energie Atomique Dispositif et procede de fabrication d'echantillon a partir d'un liquide
US20130284915A1 (en) * 2010-12-27 2013-10-31 Bio Chromato, Inc. Mass spectrometry method, mass spectrometer, and mass spectrometry system
US20120228490A1 (en) * 2011-03-13 2012-09-13 Excellims Corporation Apparatus and method for ion mobility spectrometry and sample introduction
CN103797559B (zh) * 2011-06-03 2016-09-28 珀金埃尔默健康科学股份有限公司 一种用于分析样品化学物质的设备
GB201208812D0 (en) * 2012-05-18 2012-07-04 Micromass Ltd Cryogenic collision cell
CN102903596B (zh) * 2012-09-18 2015-08-12 清华大学 一种离子源温控加热装置
EP3084422A4 (en) * 2013-12-20 2017-08-02 DH Technologies Development PTE. Ltd. Ion source for mass spectrometry
US9230786B1 (en) 2014-06-11 2016-01-05 Bruker Daltonics, Inc. Off-axis channel in electrospray ionization for removal of particulate matter
US10226791B2 (en) 2017-01-13 2019-03-12 United Technologies Corporation Cold spray system with variable tailored feedstock cartridges
GB201808890D0 (en) 2018-05-31 2018-07-18 Micromass Ltd Bench-top time of flight mass spectrometer
GB201808949D0 (en) * 2018-05-31 2018-07-18 Micromass Ltd Bench-top time of flight mass spectrometer
GB201808912D0 (en) 2018-05-31 2018-07-18 Micromass Ltd Bench-top time of flight mass spectrometer
US11373849B2 (en) 2018-05-31 2022-06-28 Micromass Uk Limited Mass spectrometer having fragmentation region
GB201808892D0 (en) 2018-05-31 2018-07-18 Micromass Ltd Mass spectrometer
GB201808894D0 (en) 2018-05-31 2018-07-18 Micromass Ltd Mass spectrometer
GB201808936D0 (en) 2018-05-31 2018-07-18 Micromass Ltd Bench-top time of flight mass spectrometer
EP3803950A1 (en) 2018-05-31 2021-04-14 Micromass UK Limited Mass spectrometer
CN112599404B (zh) * 2020-12-10 2022-10-18 中国科学院深圳先进技术研究院 一种用于质谱成像的低温解吸电喷雾电离装置及方法
CN115382712B (zh) * 2021-05-08 2023-12-12 中国科学院化学研究所 一种maldi质谱基质喷涂仪及喷涂方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5368727A (en) * 1991-10-03 1994-11-29 Hitachi, Ltd. Liquid chromatograph mass spectrometer
JPH1055776A (ja) * 1996-08-09 1998-02-24 Jeol Ltd イオン源
JP2000285847A (ja) * 1999-03-30 2000-10-13 Japan Science & Technology Corp エレクトロスプレー質量分析方法及びその装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5917184A (en) * 1996-02-08 1999-06-29 Perseptive Biosystems Interface between liquid flow and mass spectrometer
US7015466B2 (en) * 2003-07-24 2006-03-21 Purdue Research Foundation Electrosonic spray ionization method and device for the atmospheric ionization of molecules

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5368727A (en) * 1991-10-03 1994-11-29 Hitachi, Ltd. Liquid chromatograph mass spectrometer
JPH1055776A (ja) * 1996-08-09 1998-02-24 Jeol Ltd イオン源
JP2000285847A (ja) * 1999-03-30 2000-10-13 Japan Science & Technology Corp エレクトロスプレー質量分析方法及びその装置

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004139962A (ja) * 2002-08-19 2004-05-13 Jeol Ltd エレクトロスプレー質量分析装置
EP1752764A1 (en) * 2004-05-18 2007-02-14 Yamanashi TLO Co., Ltd. Method and apparatus for analysis through selective cleavage of noncovalent bond, etc. of biopolymer
EP1752764A4 (en) * 2004-05-18 2010-09-22 Univ Yamanashi METHOD AND DEVICE FOR ANALYZING OVER SELECTIVE CLEARANCE OF A NONCOVALENT BINDING ETC. A BIOPOLYMER
JP2016524521A (ja) * 2013-04-19 2016-08-18 シーメンス・ヘルスケア・ダイアグノスティックス・インコーポレイテッド 無接触微小滴ディスペンサおよび方法
US10486152B2 (en) 2013-04-19 2019-11-26 Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Non-contact micro droplet dispenser and method
CN104807876A (zh) * 2015-05-27 2015-07-29 中国工程物理研究院材料研究所 用于放射性物质的电喷雾质谱联用系统及其使用方法
CN104807876B (zh) * 2015-05-27 2017-03-15 中国工程物理研究院材料研究所 用于放射性物质的电喷雾质谱联用系统及其使用方法
WO2018167933A1 (ja) * 2017-03-16 2018-09-20 株式会社島津製作所 荷電粒子の供給制御方法及び装置
JPWO2018167933A1 (ja) * 2017-03-16 2019-11-07 株式会社島津製作所 荷電粒子の供給制御方法及び装置
CN115301466A (zh) * 2022-07-12 2022-11-08 天津国科医工科技发展有限公司 一种模块化质谱基质喷涂装置及方法
CN115301466B (zh) * 2022-07-12 2024-03-22 天津国科医工科技发展有限公司 一种模块化质谱基质喷涂装置及方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP1394836A1 (en) 2004-03-03
EP1394836B1 (en) 2011-09-21
US20030168586A1 (en) 2003-09-11
EP1394836A4 (en) 2007-06-27
JP3786417B2 (ja) 2006-06-14
US6977369B2 (en) 2005-12-20
JPWO2002101788A1 (ja) 2004-09-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3786417B2 (ja) コールドスプレー質量分析装置
US9870904B2 (en) Ion source for mass spectrometry
US6683300B2 (en) Method and apparatus for mass spectrometry analysis of common analyte solutions
CA2725612C (en) Single and multiple operating mode ion sources with atmospheric pressure chemical ionization
US8242459B2 (en) Device for desorption and ionization
US4999493A (en) Electrospray ionization interface and method for mass spectrometry
US7259368B2 (en) Apparatus for delivering ions from a grounded electrospray assembly to a vacuum chamber
JP4133631B2 (ja) エレクトロスプレー質量分析装置
JP2011082181A (ja) 多モードイオン化源
JP5589750B2 (ja) 質量分析装置用イオン化装置及び該イオン化装置を備える質量分析装置
JP6620896B2 (ja) イオン化装置及び質量分析装置
JP3616780B2 (ja) コールドスプレー質量分析装置
JP3581604B2 (ja) 大気圧イオン化質量分析装置
JP2854761B2 (ja) Ｅｓｉ質量分析計
JP2013254752A (ja) 液体クロマトグラフ質量分析装置
JP4023056B2 (ja) 液体クロマトグラフ質量分析計
JP2004294453A (ja) イオン源、質量分析方法及び質量分析計
JP2002190272A (ja) エレクトロスプレー・イオン源
JP3555560B2 (ja) 質量分析計
Chen When API mass spectrometry meets super atmospheric pressure ion sources
JP2000055880A (ja) 液体クロマトグラフ質量分析装置
JP2005183250A (ja) 大気圧イオン源およびそれを用いた質量分析方法
JPH11108895A (ja) 液体クロマトグラフ質量分析装置
JP3582213B2 (ja) 大気圧イオン化質量分析計
JP3077827B2 (ja) 質量分析計

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): JP US

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2002738622

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 10343329

Country of ref document: US

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 2002738622

Country of ref document: EP