WO2000058971A1 - Integrierter speicher mit speicherzellen, die je einen ferroelektrischen speichertransistor aufweisen - Google Patents

Integrierter speicher mit speicherzellen, die je einen ferroelektrischen speichertransistor aufweisen Download PDF

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WO2000058971A1
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memory
bli
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bit lines
current detection
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Inventor
Heinz Hönigschmid
Marc Ullmann
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Infineon Technologies Ag
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    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/22—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using ferroelectric elements

Definitions

  • Integrated memory with memory cells each having a ferroelectric memory transistor
  • the invention relates to an integrated memory with memory cells, each having a ferroelectric memory transistor.
  • US Pat. No. 5,541,871 A describes a ferroelectric semiconductor memory whose memory cells each consist of a ferroelectric memory transistor.
  • Ferroelectric transistors have a ferroelectric gate dielectric.
  • the memory cells which are formed by the ferroelectric memory transistors are arranged in a matrix.
  • Your source connections are in one connected in the first direction parallel source lines.
  • Their drain connections are connected to parallel drain lines running in a second direction perpendicular to the first direction.
  • Their gates respectively connected to the Steuerelektro- extending in the second direction Steuerlei ⁇ obligations, which have the function of word lines. Since the source lines and the drain lines are perpendicular to each other, it is necessary to avoid short circuits to ver ⁇ that they extend at least in the area of their crossing in different wiring planes of the memory.
  • the drain connections and the source connections of the transistors to which these lines are connected are arranged in a substrate of the memory and thus in a common wiring level.
  • the invention has for its object to provide an integrated memory with memory cells, each having a ferroelectric memory transistor, the manufacture of which is simplified compared to the prior art specified above.
  • the integrated memory according to the invention has word lines running in a first direction and bit lines and control lines running in a second direction which is perpendicular to the first direction.
  • a controllable path of each memory transistor connects one of the bit lines to one of the control lines.
  • the control electrode of each memory transistor is connected to one of the word lines.
  • bit lines and control lines run in the same direction and are therefore arranged parallel to one another, they can be used within a common wiring level of the internal tegrated memory. Since the terminals of the controllable path (with a MOS transistor, these are the drain / source regions) is usually also in a ge ⁇ common wiring layer, for example, in a substrate of the integrated memory, are arranged according to the invention built-in memory can be the bit lines and Control lines can be arranged in the same wiring level as the controllable path of the transistors. Thus he ⁇ gives itself a space-saving, simple structure of the memory.
  • bit lines or control lines In order to establish a connection between the bit lines or control lines and the associated connections of the sections of the transistors to be controlled, no through-contacts are necessary which connect different wiring levels of the memory to one another.
  • the parallel arrangement of the bit lines and control lines results in a very regular arrangement of the memory cell matrix.
  • the integrated memory can be operated by applying a predetermined voltage to the controllable path of one of the memory transistors and activating the word line connected to this transistor. The resulting current that flows between the relevant control line and the associated bit line is then detected.
  • one of the control lines is arranged between two of the bit lines, to which it is connected via the controllable paths of several of the memory transistors. This enables an extremely compact structure of the memory.
  • This one can read one of the memory transistors by applying a predetermined voltage between one of the control lines and the two associated bit lines, activating one of the word lines, so that two of the memory transistors connected to this word line and the relevant control line are selected and the respective one Current through these two transistors is detected.
  • the controllable sections of the memory transistors are arranged parallel to the bit lines and control lines, that is to say they also run in the second direction. Furthermore, those memory transistors that are connected to the same bit line each have common source-drain regions. This further reduces the space required for the integrated memory. Due to the parallel arrangement of the bit lines and control lines, the controllable paths of any number of adjacent memory transistors can be connected to one another in the second direction.
  • the integrated memory has current detection units, which are connected to each of the bit lines, for detecting a current flowing through the memory transistors during a read access between the control lines and the bit lines. Because a current detection unit is assigned to each bit line in this way, one of the memory cells can be read out on each of the bit lines during a read access.
  • the integrated memory has at least two multiplexers and two
  • Two of the bit lines which are connected to two different control lines via their memory transistors, are connected to the first current detection unit via the first multiplexer.
  • Two other of the bit lines which are connected via their memory transistors to the same two control lines as the first two bit lines, are connected to the second current detection unit via the second multiplexer.
  • the multiplexers have two operating states, in which they each connect one of the bit lines connected to them to the respective current detection unit.
  • two bit lines are assigned to a common current detection unit. In ei ⁇ nem read access, a selection of which will be evaluated each of these two bit lines by the current detection unit via the multiplexer. The number of current detection units can thus be reduced.
  • FIG. 1 shows a first exemplary embodiment of the memory according to the invention, in which a control line is assigned to a bit line
  • FIG. 2 shows a second exemplary embodiment, in which two bit lines are assigned to one control line
  • FIG 3 shows an exemplary embodiment in which a current detection unit is assigned to each bit line
  • Figure 4 shows an embodiment in which two bit lines are assigned a common current detection unit.
  • the integrated memory shown in FIG. 1 has word lines WLi arranged parallel to one another and bit lines BLi and control lines Ci arranged perpendicularly thereto.
  • the bit lines and control lines are arranged alternately and have regular distances from one another.
  • Memory cells in the form of ferroelectric memory transistors T are arranged at crossing points of the word lines WLi, the bit lines BLi and the control lines Ci. These connect the associated bit line BLi to the associated control line Ci via their controllable routes. Control connections of the memory transistors T are connected to the associated word line WLi. Although only four in FIG Word lines WLi and two bit lines BLi and control lines Ci are shown, the memory actually has a much larger number of these lines, so that overall there is a much larger memory cell array.
  • the ferroelectric memory transistors T have a ferroelectric gate dielectric which can assume two different polarization states due to voltage pulses on the word line WLi connected to them. To this
  • each of the control lines Ci is connected to the output of a potential generator 1, which supplies a constant read potential VDD when the memory cells are read.
  • a common potential generator 10 can be provided for each control line Ci, the output potential of which is supplied to all control lines Ci.
  • each bit line BLi is connected to a current detection unit 2.
  • a current detection unit 2 can have, for example, an ohmic resistance, across which a voltage drops which is proportional to the current flowing through it and which is fed to an evaluation as a measure of the current.
  • the word lines WLi, the bit lines BLi and the control lines Ci are at a low potential, for example ground. That is, the potential generators 1 are not activated.
  • the potential generators 1 are activated and generate the read potential VDD on the control lines Ci, which corresponds to a high supply potential of the integrated memory.
  • one of the word lines WLi is addressed via a word line decoder (not shown) and brought from the low to the high level.
  • the memory transistors T connected to this word line WLi are turned on. Due to the reading potential VDD present on the control lines Ci, a drain current flows via the selected memory transistors T and flows via the associated bit line BLi to the respective current detection unit 2. A positive voltage is present between the output of the potential generator 1 and the respective current detection unit 2.
  • the ferroelectric gate dielectric has a different polarization. This results in different threshold voltages for the two different logical states. The different threshold voltages result in different conductivity of the memory transistors T when the word line is activated. If it is a stored logic one, the drain current that is set is greater than if it is a stored logic zero. In an extreme case, when a logic zero is read out, no drain current flows at all through the respective memory transistor, that is to say its value is zero. This is the case when the threshold voltage of the memory transistor T is raised to such an extent by the associated polarization state of the gate dielectric that the potential on the associated word line WLi does not exceed it.
  • Figure 2 shows a second embodiment of the integrated memory according to the invention.
  • two of the bit lines BLi are assigned to one of the control lines Ci.
  • FIG 2 only one of these groups of three, which is formed by a obligations belong together control line and two Bitlei ⁇ was shown.
  • ⁇ pen further similar Grup join up and down to the ones shown in figure 2 on group.
  • control line Ci is in turn connected to the output of a potential generator 1.
  • bit lines BLO, BLI are each connected to a current detection unit 2.
  • the control line CO is connected to both bit lines BLi via a plurality of memory transistors T.
  • the controllable paths of the memory transistors T are arranged in parallel with the bit lines BLi and the control lines Ci. Adjacent memory transistors T each have a common source / drain region.
  • the potential generator 1 brings the control line CO to a high potential VDD.
  • one of the word lines WLi is brought to a high potential, so that the memory transistors T connected to this word line are selected.
  • a drain current flows from the control line CO to each of the two bit lines BLi via these memory transistors T. The level of this drain current is in turn dependent on the logic state stored in the memory transistor T.
  • the current detection units 2 in turn evaluate the respective drain current.
  • FIG. 3 shows a larger section of the memory shown in FIG. 2, in which, for reasons of clarity, only the bit lines BLi, the control lines Ci and the word lines WLi have been shown without the memory transistors T.
  • Two adjacent groups of two bit lines BLi and one control line Ci of the type shown in FIG. 2 are shown.
  • a total of four memory cells can be evaluated simultaneously via the two control lines Ci and the four bit lines BLi, by the drain current of their memory transistors being equal to the four Current detection units 2 is supplied.
  • Figure 4 shows a modification of the embodiment shown in Figure 3. The differences posted 3 ⁇ be available in the assignment of the current detection units to the bit lines BLi.
  • two of the bit lines are assigned to a current detection unit 21, 22.
  • bit lines BLO and BL2 are connected to the first current detection unit 21 via the first multiplexer Muxl and the bit lines BLI and BL3 are connected to the second current detection unit 22 via the second multiplexer Mux2.
  • Word lines WLi in turn selected four memory cells simultaneously. However, each multiplexer Muxi connects only one of the two bit lines connected to it to the associated current detection unit 21, 22.
  • the multiplexers Muxi are supplied with column addresses CADR, the dependency of which they connect one of the bit lines BLi connected to them to the current detection unit 21, 22.
  • the two multiplexers connect the bit lines BLO and BLI to the two current detection units 21, 22, for example when a first column address CADR is present.
  • a second column address When a second column address is present, they connect the bit lines BL2 and BL3 to the current detection units.
  • this is not a disadvantage if the number of external connections of the memory is limited anyway, as is usually the case.
  • the memory according to FIG. 4 has a smaller number of current detection units 21, 22.
  • bit lines BLi are each one of a current detection via a multiplexer Muxi. assigned unit 21, 22.
  • Other exemplary embodiments are possible in which any number of bit lines BLi are fed to each multiplexer Muxi.

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Abstract

Die Speicherzellen des integrierten Speichers weisen je einen ferroelektrischen Speichertransistor (T) auf. Die Bitleitungen (BLi) und die Steuerleitungen (Ci) verlaufen senkrecht zu den Wortleitungen (WLi). Die steuerbare Strecke jedes Speichertransistors (T) verbindet eine der Bitleitungen (BLi) mit einer der Steuerleitungen (Ci). Die Steuerelektrode jedes Speichertransistors (T) ist mit einer der Wortleitungen (WLi) verbunden.

Description

Beschreibung
Integrierter Speicher mit Speicherzellen, die je einen ferroelektrischen Speichertransistor aufweisen
Die Erfindung betrifft einen integrierten Speicher mit Speicherzellen, die je einen ferroelektrischen Speichertransistor aufweisen.
In der US 5,541,871 A ist ein ferroelektrischer Halbleiter- Speicher beschrieben, dessen Speicherzellen aus je einem ferroelektrischen Speichertransistor bestehen. Ferroelektrische Transistoren weisen ein ferroelektrisches Gatedielektrikum auf. Durch Beaufschlagung eines Spannungspulses an der Steu- erelektrode des Transistors wird die Richtung der Polarisation des Ferroelektrikums und somit die Schwellenspannung des Transistors eingestellt. Bei einer vorgegebenen Drain-Source- Spannung des Transistors ergibt sich in Abhängigkeit der Schwellenspannung des Transistors ein unterschiedlicher Drainstrom.
Für das Auslesen der Speichertransistoren wird in der US 5,541,871 A an den Transistor eine vorgegebene Drain-Source- Spannung angelegt und das Gate des Transistors auf ein Poten- tial gebracht, durch welches der Transistor leitend geschalten wird. Anschließend wird der sich einstellende Source- Drain-Strom erfaßt. Wird ein niedriger Drainstrom detektiert, handelt es sich um einen ersten Polarisationszustand des ferroelektrischen Dielektrikums der Transistorgateelektrode. Wird ein großer Drainstrom detektiert, handelt es sich um einen zweiten Polarisationszustand des Ferroelektrikums. Auf diese Weise werden zwei unterschiedliche vom Transistor gespeicherte logische Zustände unterschieden.
In der US 5,541,871 A sind die Speicherzellen, die durch die ferroelektrischen Speichertransistoren gebildet sind, matrix- förmig angeordnet. Ihre Sourceanschlüsse sind mit in einer ersten Richtung verlaufenden parallelen Sourceleitungen verbunden. Ihre Drainanschlüsse sind mit in einer zur ersten Richtung senkrechten zweiten Richtung verlaufenden, parallelen Drainleitungen verbunden. Ihre Gates bzw. Steuerelektro- den sind mit in der zweiten Richtung verlaufenden Steuerlei¬ tungen verbunden, die die Funktion von Wortleitungen haben. Da die Sourceleitungen und die Drainleitungen senkrecht zueinander verlaufen, ist es notwendig, um Kurzschlüsse zu ver¬ meiden, daß sie zumindest im Bereich ihrer Überkreuzung in unterschiedlichen Verdrahtungsebenen des Speichers verlaufen. Die Drainanschlüsse und die Sourceanschlüsse der Transistoren, mit denen diese Leitungen verbunden sind, sind in einem Substrat des Speichers und somit in einer gemeinsamen Verdrahtungsebene angeordnet.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen integrierten Speicher mit Speicherzellen anzugeben, die je einen ferroelektrischen Speichertransistor aufweisen, dessen Herstellung gegenüber dem oben angegebenen Stand der Technik vereinfacht ist.
Diese Aufgabe wird mit einem integrierten Speicher gemäß Patentanspruch 1 gelöst. Vorteilhafte Aus- und Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand der abhängigen Patentansprüche.
Der erfindungsgemäße integrierte Speicher weist in einer ersten Richtung verlaufende Wortleitungen sowie in einer zweiten Richtung, die senkrecht zur ersten Richtung ist, verlaufende Bitleitungen und Steuerleitungen auf. Eine steuerbare Strecke jedes Speichertransistors verbindet jeweils eine der Bitleitungen mit einer der Steuerleitungen. Die Steuerelektrode jedes Speichertransistors ist mit einer der Wortleitungen verbunden.
Da die Bitleitungen und Steuerleitungen in dieselbe Richtung verlaufen und somit parallel zueinander angeordnet sind, können sie innerhalb einer gemeinsamen Verdrahtungsebene des in- tegrierten Speichers angeordnet sein. Da die Anschlüsse der steuerbaren Strecke (bei einem MOS-Transistor sind dies die Drain-/Source-Gebiete) üblicherweise ebenfalls in einer ge¬ meinsamen Verdrahtungsebene, beispielsweise in einem Substrat des integrierten Speichers, angeordnet sind, können beim erfindungsgemäßen integrierten Speicher die Bitleitungen und Steuerleitungen in derselben Verdrahtungsebene angeordnet sein, wie die steuerbare Strecke der Transistoren. Somit er¬ gibt sich ein platzsparender, einfacher Aufbau des Speichers. Um eine Verbindung zwischen den Bitleitungen bzw. Steuerleitungen und den zugehörigen Anschlüssen der zu steuernden Strecken der Transistoren herzustellen, sind keine Durchkon- taktierungen notwendig, die verschiedene Verdrahtungsebenen des Speichers miteinander verbinden. Außerdem ergibt sich durch parallele Anordnung der Bitleitungen und Steuerleitungen eine sehr regelmäßige Anordnung der Speicherzellenmatrix.
Ein Betrieb des integrierten Speichers kann durchgeführt werden, indem eine vorgegebene Spannung an der steuerbaren Stre- cke eines der Speichertransistoren angelegt wird und die mit diesem Transistor verbundene Wortleitung aktiviert wird. Anschließend wird der sich ergebende Strom, der zwischen der betreffenden Steuerleitung und der zuhörigen Bitleitung fließt, erfaßt.
Nach einer Weiterbildung der Erfindung ist jeweils eine der Steuerleitungen zwischen je zweien der Bitleitungen angeordnet, mit denen sie jeweils über die steuerbaren Strecken mehrerer der Speichertransistoren verbunden ist. Dies ermöglicht einen äußerst kompakten Aufbau des Speichers. Bei diesem kann ein Auslesen eines der Speichertransistoren erfolgen, indem zwischen einer der Steuerleitungen und den beiden zugehörigen Bitleitungen eine vorgegebene Spannung angelegt wird, eine der Wortleitungen aktiviert wird, so daß zwei der mit dieser Wortleitung und der betreffenden Steuerleitung verbundenen Speichertransistoren ausgewählt werden und der jeweilige Strom über diese beiden Transistoren erfaßt wird. Nach einer Weiterbildung der Erfindung sind die steuerbaren Strecken der Speichertransistoren parallel zu den Bitleitungen und Steuerleitungen angeordnet, das heißt, auch sie ver- laufen in der zweiten Richtung. Weiterhin weisen diejenigen Speichertransistoren, die mit derselben Bitleitung verbunden sind, jeweils gemeinsame Source-Drain-Gebiete auf. Hierdurch wird der Platzbedarf des integrierten Speichers weiter reduziert. Durch die parallele Anordnung der Bitleitungen und Steuerleitungen können in der zweiten Richtung die steuerbaren Strecken einer beliebigen Anzahl benachbarter Speichertransistoren miteinander verbunden sein.
Nach einer Weiterbildung der Erfindung weist der integrierte Speicher Stromerfassungseinheiten auf, die mit je einer der Bitleitungen verbunden sind, zur Erfassung eines während eines Lesezugriffs zwischen den Steuerleitungen und den Bitleitungen über die Speichertransistoren fließenden Stromes. Dadurch, daß auf diese Weise jeder Bitleitung eine Stromerfas- sungseinheit zugeordnet ist, kann bei einem Lesezugriff auf jeder der Bitleitungen jeweils eine der Speicherzellen ausgelesen werden.
Nach einer alternativen Weiterbildung der Erfindung weist der integrierte Speicher wenigstens zwei Multiplexer und zwei
Stromerfassungseinheiten auf. Zwei der Bitleitungen, die über ihre Speichertransistoren mit zwei unterschiedlichen Steuerleitungen verbunden sind, sind über den ersten Multiplexer mit der ersten Stromerfassungseinheit verbunden. Zwei andere der Bitleitungen, die über ihre Speichertransistoren mit denselben beiden Steuerleitungen verbunden sind, wie die ersten beiden Bitleitungen, sind über den zweiten Multiplexer mit der zweiten Stromerfassungseinheit verbunden. Die Multiplexer haben zwei Betriebzustände, in denen sie jeweils eine der mit ihnen verbundenen Bitleitungen mit der jeweiligen Stromerfassungseinheit verbinden. Bei dieser Weiterbildung sind also jeweils zwei Bitleitungen einer gemeinsamen Stromerfassungseinheit zugeordnet. Bei ei¬ nem Lesezugriff erfolgt über die Multiplexer eine Auswahl, welche dieser beiden Bitleitungen jeweils durch die Stromerfassungseinheit ausgewertet werden soll. Somit kann die Anzahl der Stromerfassungseinheiten reduziert werden.
Im folgenden werden m den Figuren dargestellte Ausfuhrungs- beispiele der Erfindung erläutert. Es zeigen:
Figur 1 eine erstes Ausfuhrungsbeispiel des erfmdungsgema- ßen Speichers, bei dem jeweils eine Steuerleitung einer Bitleitung zugeordnet ist,
Figur 2 ein zweites Ausfuhrungsbeispiel, bei dem jeweils einer Steuerleitung zwei Bitleitungen zugeordnet sind,
Figur 3 ein Ausfuhrungsbeispiel, bei dem jeder Bitleitung eine Stromerf ssungseinheit zugeordnet ist, und
Figur 4 ein Ausfuhrungsbeispiel, bei dem jeweils zwei Bitleitungen eine gemeinsame Stromerfassungseinheit zugeordnet ist.
Der m Figur 1 dargestellte integrierte Speicher weist parallel zueinander angeordnete Wortleitungen WLi sowie senkrecht dazu angeordnete Bitleitungen BLi und Steuerleitungen Ci auf. Die Bitleitungen und Steuerleitungen sind alternierend ange- ordnet und weisen zueinander regelmäßige Abstände auf. In
Kreuzungspunkten der Wortleitungen WLi, der Bitleitungen BLi und der Steuerleitungen Ci sind Speicherzellen in Form von ferroelektrischen Speichertransistoren T angeordnet. Diese verbinden die zugehörige Bitleitung BLi mit der zugehörigen Steuerleitung Ci über ihre steuerbaren Strecken. Steueran- schlusse der Speichertransistoren T sind mit der zugehörigen Wortleitung WLi verbunden. Obwohl in Figur 1 lediglich vier Wortleitungen WLi sowie jeweils zwei Bitleitungen BLi und Steuerleitungen Ci gezeigt sind, weist der Speicher in Wirklichkeit eine weitaus größere Zahl dieser Leitungen auf, so daß sich insgesamt ein weitaus größeres Speicherzellenfeld ergibt.
Die ferroelektrischen Speichertransistoren T weisen ein fer- roelektriscb.es Gatedielektrikum auf, das durch Spannungspulse auf der mit ihnen verbundenen Wortleitung WLi zwei unter- schiedliche Polarisationszustände annehmen kann. Auf diese
Weise werden zwei unterschiedliche logische Informationen gespeichert. Eine Auswertung dieser Information erfolgt durch Messen eines während eines Lesezugriffs auf die Speicherzel¬ len über die Kanalstrecken der Transistoren T fließenden Stromes.
Beim Speicher in Figur 1 ist jede der Steuerleitungen Ci mit dem Ausgang eines Potentialgenerators 1 verbunden, der bei einem Lesezugriff auf die Speicherzellen ein konstantes Lese- potential VDD liefert. Wie in Figur 1 angedeutet, kann statt separater Potentialgeneratoren 1 für jede Steuerleitung Ci ein gemeinsamer Potentialgenerator 10 vorgesehen sein, dessen Ausgangspotential allen Steuerleitungen Ci zugeführt wird.
In Figur 1 ist jede Bitleitung BLi mit einer Stromerfassungseinheit 2 verbunden. Diese können beispielsweise einen ohm- schen Widerstand aufweisen, an dem eine dem durch ihn hindurchfließenden Strom proportionale Spannung abfällt, die als Maß für den Strom einer Auswertung zugeführt wird.
Ein Lesezugriff auf den in Figur 1 dargestellten Speicher erfolgt folgendermaßen:
Vor dem Lesezugriff befinden sich die Wortleitungen WLi, die Bitleitungen BLi und die Steuerleitungen Ci auf einem niedrigen Potential, beispielsweise Masse. Das heißt, die Potentialgeneratoren 1 sind nicht aktiviert. Zur Einleitung eines Lesezugriffs werden die Potentialgeneratoren 1 aktiviert und erzeugen auf den Steuerleitungen Ci das Lesepotential VDD, das einem hohen Versorgungspotential des integrierten Speichers entspricht. Anschließend wird über einen nicht darge- stellten Wortleitungsdecoder eine der Wortleitungen WLi adressiert und vom niedrigen auf einen hohen Pegel gebracht. Hierdurch werden die mit dieser Wortleitung WLi verbundenen Speichertransistoren T leitend geschaltet. Durch das auf den Steuerleitungen Ci vorhandene Lesepotential VDD fließt über die selektierten Speichertransistoren T ein Drainstrom, der über die zugehörige Bitleitung BLi zur jeweiligen Stromerfassungseinheit 2 fließt. Zwischen dem Ausgang des Potentialgenerators 1 und der jeweiligen Stromerfassungseinheit 2 liegt eine positive Spannung an.
Je nachdem, ob eine logische Null oder eine logische Eins im Speichertransistor T gespeichert ist, weist sein ferroelekt- risches Gatedielektrikum eine unterschiedliche Polarisation auf. Hierdurch ergeben sich unterschiedliche Einsatzspannun- gen für die beiden unterschiedlichen logischen Zustände. Die unterschiedlichen Einsatzspannungen haben eine unterschiedliche Leitfähigkeit der Speichertransistoren T bei jeweils aktivierter Wortleitung zur Folge. Handelt es sich um eine gespeicherte logische Eins, ist der sich einstellende Drainstrom größer, als wenn es sich um eine gespeicherte logische Null handelt. Im Extremfall fließt beim Auslesen einer logischen Null über den jeweiligen Speichertransistor überhaupt kein Drainstrom, das heißt sein Wert ist Null. Dies ist dann der Fall, wenn durch den zugehörigen Polarisationszu- stand des Gatedielektrikums die Einsatzspannung des Speichertransistors T soweit angehoben ist, daß sie durch das Potential auf der zugehörigen Wortleitung WLi nicht überschritten wird.
Figur 2 zeigt ein zweites Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen integrierten Speichers. Bei diesem sind jeweils einer der Steuerleitungen Ci zwei der Bitleitungen BLi zugeordnet. In Figur 2 wurde lediglich eine dieser Dreiergruppen, die durch eine zusammengehörende Steuerleitung und zwei Bitlei¬ tungen gebildet ist, dargestellt. Weitere gleichartige Grup¬ pen schließen sich oben und unten an die in Figur 2 darge- stellte Gruppe an.
In Figur 2 ist die Steuerleitung Ci wiederum mit dem Ausgang eines Potentialgenerators 1 verbunden. Beide Bitleitungen BLO, BLI sind mit jeweils einer Stromerfassungseinheit 2 ver- bunden. Die Steuerleitung CO ist mit beiden Bitleitungen BLi jeweils über eine Vielzahl von Speichertransistoren T verbunden. Dabei sind die steuerbaren Strecken der Speichertransistoren T parallel zu den Bitleitungen BLi und den Steuerleitungen Ci angeordnet. Jeweils benachbarte Speichertransisto- ren T weisen ein gemeinsames Source-/Draingebiet auf.
Bei einem Lesezugriff bringt der Potentialgenerator 1 die Steuerleitung CO auf ein hohes Potential VDD. Außerdem wird eine der Wortleitungen WLi auf ein hohes Potential gebracht, so daß die mit dieser Wortleitung verbundenen Speichertransistoren T selektiert werden. Über diese Speichertransistoren T fließt jeweils ein Drainstrom von der Steuerleitung CO zu jeder der beiden Bitleitungen BLi. Die Höhe dieses Drainstromes ist wiederum abhängig von im Speichertransistor T gespei- cherten logischen Zustand. Durch die Stromerfassungseinheiten 2 erfolgt wiederum eine Auswertung des jeweiligen Drainstromes .
Figur 3 zeigt einen größeren Ausschnitt des in Figur 2 darge- stellten Speichers, bei dem aus Gründen der Übersichtlichkeit lediglich die Bitleitungen BLi, die Steuerleitungen Ci und die Wortleitungen WLi ohne die Speichertransistoren T dargestellt wurden. Dargestellt sind zwei benachbarte Gruppen von jeweils zwei Bitleitungen BLi und einer Steuerleitung Ci von der in Figur 2 dargestellten Art. Gemäß Figur 3 können über die zwei Steuerleitungen Ci und die vier Bitleitungen BLi insgesamt vier Speicherzellen gleichzeitig ausgewertet werden, indem der Drainstrom ihrer Speichertransistoren den vier Stromerfassungseinheiten 2 zugeführt wird. Figur 4 zeigt eine Abwandlung des in Figur 3 dargestellten Ausfuhrungsbeispiels . Die Unterschiede bezuglich Figur 3 be¬ stehen in der Zuordnung der Stromerfassungseinheiten zu den Bitleitungen BLi. In Figur 4 sind jeweils zwei der Bitleitungen einer Stromerfassungseinheit 21, 22 zugeordnet. Diese Zuordnung erfolgt mittels Multiplexern Muxl, Mux2, über die die beiden Bitleitungen mit der zugehörigen Stromerfassungseinheit 21, 22 verbunden sind. In Figur 4 sind die Bitleitungen BLO und BL2 über den ersten Multiplexer Muxl mit der ersten Stromerfassungseinheit 21 und die Bitleitungen BLI und BL3 über den zweiten Multiplexer Mux2 mit der zweiten Stromerfassungseinheit 22 verbunden.
Bei einem Lesezugriff werden durch Aktivierung einer der
Wortleitungen WLi zwar wiederum gleichzeitig vier Speicherzellen selektiert. Jeder Multiplexer Muxi verbindet jedoch nur eine der beiden mit ihm verbundenen Bitleitungen mit der zugehörigen Stromerfassungseinheit 21, 22.
Den Multiplexern Muxi werden Spaltenadressen CADR zugeführt, m deren Abhängigkeit sie eine der mit ihnen verbundenen Bitleitungen BLi mit der Stromerfassungseinheit 21, 22 verbinden. Bei diesem Ausfuhrungsbeispiel verbinden die beiden Mul- tiplexer beispielsweise bei Anliegen einer ersten Spaltenadresse CADR die Bitleitungen BLO und BLI mit den beiden Stromerfassungseinheiten 21, 22. Bei Anliegen einer zweiten Spaltenadresse verbinden sie die Bitleitungen BL2 und BL3 mit den Stromerfassungseinheiten. Auf diese Weise können zwar weniger gespeicherte Informationen gleichzeitig aus dem Speicher ausgelesen werden als beim Ausfuhrungsbeispiel gemäß Figur 3. Dies ist aber kein Nachteil, wenn die Anzahl der externen Anschlüsse des Speichers, wie in der Regel üblich, ohnehin limitiert ist. Als Vorteil gegenüber Figur 3 weist der Speicher gemäß Figur 4 eine geringere Anzahl von Stromerfassungseinheiten 21, 22 auf.
Beim Ausfuhrungsbeispiel m Figur 4 sind jeweils zwei der Bitleitung BLi über einen Multiplexer Muxi einer Stromerfas- sungseinheit 21, 22 zugeordnet. Es sind andere Ausführungs- beispiele möglich, bei denen eine beliebige Anzahl von Bitleitungen BLi jedem Multiplexer Muxi zugeführt wird.

Claims

Patentansprüche
1. Integrierter Speicher mit Speicherzellen, die je einen ferroelektrischen Speichertransistor (T) aufweisen, dessen Steuerelektrode eine ferroelektrische Schicht enthält, die wenigstens zwei unterschiedliche Polarisationszustände annehmen kann, mit Wortleitungen (WLi) , die im wesentlichen in einer ersten Richtung verlaufen, mit Bitleitungen (BLi), die im wesentlichen in einer zweiten Richtung, die senkrecht zur ersten Richtung ist, verlaufen, mit Steuerleitungen (Ci) , bei dem eine steuerbare Strecke jedes Speichertransi stors (T) eine der Bitleitungen (BLi) mit einer der Steuerleitungen (Ci) verbindet - bei dem die Steuerelektrode jedes Speichertransistors
(T) mit einer der Wortleitungen (WLi) verbunden ist, und bei dem die Steuerleitungen (Ci) im wesentlichen in der zweiten Richtung verlaufen, da dur ch g e kenn z e i chnet , daß - jeweils eine der Steuerleitungen (Ci) zwischen je zweien der Bitleitungen (BLi) angeordnet ist, mit denen sie jeweils über die steuerbaren Strecken mehrerer der Speichertransistoren (T) verbunden ist, die steuerbaren Strecken der Speichertransistoren (T) parallel zu den Bitleitungen (BLi) und Steuerleitungen (Ci) angeordnet sind, und diejenigen Speichertransistoren (T) , die mit derselben Bitleitung (BLi) verbunden sind, jeweils gemeinsame Source-/Draingebiete aufweisen.
2. Integrierter Speicher nach Anspruch 1, g e k e n n z e i c h n e t d u r c h
Stromerfassungseinheiten (2) , die mit je einer der Bitleitun¬ gen (BLi) verbunden sind, zur Erfassung eines während eines Lesezugriffs zwischen den Steuerleitungen (Ci) und den Bitleitungen (BLi) über die Speichertransistoren (T) fließenden Stromes .
3. Integrierter Speicher nach Anspruch , ge kenn z e i chne t dur ch zwei Multiplexer (Muxi) und zwei Stromerfassungseinheiten (21, 22) , wobei: zwei der Bitleitungen (BLi) , die über ihre Speichertran- sistoren (T) mit zwei unterschiedlichen Steuerleitungen (Ci) verbunden sind, über den ersten Multiplexer (Muxl) mit der ersten Stromerfassungseinheit (21) verbunden sind, zwei andere der Bitleitungen (Bli) , die über ihre Spei- chertransistoren (T) mit denselben beiden Steuerleitungen (Ci) verbunden sind wie die ersten beiden Bitleitungen, über den zweiten Multiplexer (Mux2) mit der zweiten Stromerfassungseinheit (22) verbunden sind, und die Multiplexer (Muxi) zwei Betriebszustände haben, in denen sie jeweils eine der mit ihnen verbundenen Bitleitungen (BLi) mit der jeweiligen Stromerfassungseinheit (21, 22) verbinden.
4. Integrierter Speicher nach Anspruch 1 oder 2, mit Stromerfassungseinheiten (2), die mit je einer der Bitleitungen (BLi) verbunden sind, zur Erfassung eines während eines Lesezugriffs zwischen den Steuerleitungen (Ci) und den Bitleitungen (BLi) über die Speichertransistoren (T) fließenden Stromes.
5. Integrierter Speicher nach Anspruch 2, mit zwei Multiplexern (Muxi) und zwei Stromerfassungsein- heiten (21, 22),
- bei dem zwei der Bitleitungen (BLi) , die über ihre Speichertransistoren (T) mit zwei unterschiedlichen Steuerleitungen (Ci) verbunden sind, über den ersten Multiplexer (Muxl) mit der ersten Stromerfassungseinheit (21) verbun- den sind, bei dem zwei andere der Bitleitungen (BLi) , die über ihre Speichertransistoren (T) mit denselben beiden Steuerleitungen (Ci) verbunden sind, wie die ersten beiden Bitleitungen, über den zweiten Multiplexer (Mux2 ) mit der zwei- ten Stromerfassungseinheit (22) verbunden sind, und dessen Multiplexer (Muxi) zwei Betriebszustände haben, in denen sie jeweils eine der mit ihnen verbundenen Bitleitungen (BLi) mit der jeweiligen Stromerfassungseinheit (21, 22) verbinden.
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