WO1999034606A1 - Image display - Google Patents

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WO1999034606A1
WO1999034606A1 PCT/JP1998/005731 JP9805731W WO9934606A1 WO 1999034606 A1 WO1999034606 A1 WO 1999034606A1 JP 9805731 W JP9805731 W JP 9805731W WO 9934606 A1 WO9934606 A1 WO 9934606A1
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WO
WIPO (PCT)
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image display
phosphor
irradiation position
electron beam
light emission
Prior art date
Application number
PCT/JP1998/005731
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Kiyoshi Hamada
Michio Ohsugi
Hironari Taniguchi
Original Assignee
Matsushita Electronics Corporation
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corporation filed Critical Matsushita Electronics Corporation
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Priority to DE69833877T priority patent/DE69833877T2/de
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Publication of WO1999034606A1 publication Critical patent/WO1999034606A1/ja

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N9/00Details of colour television systems
    • H04N9/12Picture reproducers
    • H04N9/16Picture reproducers using cathode ray tubes
    • H04N9/28Arrangements for convergence or focusing

Definitions

  • the present invention relates to an image display device used for a color television receiver, a terminal display of a computer, and the like. Background art
  • FIG. 6 is a schematic exploded perspective view of an image display device according to the related art.
  • the image display device according to this prior art includes a rear electrode 1, a group of linear cathodes 2 as a beam source, a beam extraction electrode 3, a control electrode 4, a focusing electrode 5, and a horizontal deflection electrode in order from the rear to the anode side. 6, a vertical deflection electrode 7 and a screen 8 are arranged, and these are housed inside a vacuum container (not shown).
  • the line cathode group 2 as a beam source is configured by extending a plurality of line cathodes in the horizontal direction so as to generate electron beams distributed linearly in the horizontal direction. There are a plurality provided at predetermined intervals.
  • the interval between the respective line cathodes in the vertical direction is 5.5 mm, the number thereof is 19, and each line cathode is 2a to 2s.
  • FIG. 6 shows only four linear cathodes 2a to 2d to avoid complicating the drawing.
  • Each of these line cathodes 2a to 2s is formed by, for example, applying an oxide cathode material to the surface of a tungsten wire having a diameter of 10 to 30 / zm.
  • the back electrode 1 has a function of suppressing generation of an electron beam from a line cathode other than a predetermined line cathode and pushing the electron beam only in the anode direction.
  • a vacuum vessel is not shown in FIG. 6, in some cases, the back electrode 1 may be used to form a structure integrated with the vacuum vessel.
  • the beam extraction electrode 3 is configured using a conductive plate 11 having a plurality of through holes 10, and divides the electron beam emitted from the linear cathode group 2 into a plurality of pieces through the through holes 10 in the horizontal direction. It has a function to take out.
  • a large number of the electrodes are provided on the conductive plate 11 at equal pitches in the horizontal direction facing the through-holes 10 and the field line cathodes 2a to 2s.
  • the horizontal pitch of the through holes 10 is 1.28 mm, and the number of the through holes 10 is 107.
  • the control electrode 4 is configured using 107 vertically long conductive plates 15 each having a through hole 14 at a position facing each through hole 10 of the beam extraction electrode 3. However, in FIG. 6, only nine conductive plates 15 are shown to avoid complicating the drawing. In the control electrode 4, the passing amount of the electron beam divided into 107 sections in the horizontal direction is simultaneously modulated based on the video signal corresponding to each section.
  • each pixel is composed of three primary colors (phosphor) of R (red), G (green), and B (blue).
  • the corresponding six signals of 2 (pixels) X 3 are sequentially added in a time-division manner (within one horizontal scanning period) in synchronization with horizontal deflection described later.
  • the focusing electrode 5 is configured using a conductive plate 17 having a plurality of through holes 16 and has a function of focusing an electron beam.
  • This conductive plate 1 7 Has a through-hole 16 at a position facing each through-hole 14 provided in the control electrode 4.
  • the horizontal deflection electrode 6 is composed of a pair of comb-like conductive plates 18, 18, 18, 18, 18, 18, 18, 18, 18, 18, 18, 18, 18, 18, 18 that are respectively arranged along both horizontal sides of the through-hole 16 formed in the focusing electrode 5.
  • the electron beam which is divided into 107 horizontal sections, is simultaneously deflected in the horizontal direction, and two sets of R, G, and B primary color phosphor stripes on a screen 8 described later are combined. It functions to emit light in six stages.
  • the vertical deflection electrode 7 uses a pair of comb-shaped conductive plates 19, 19 ′ that are horizontally arranged at respective intermediate positions in the vertical direction of the through holes 16 formed in the focusing electrode 5. It is configured. A vertical deflection voltage is applied to both conductive plates 19, 19 ', whereby vertical deflection electrode 7 deflects the electron beam in the vertical direction.
  • the electron beams emitted from the 19 line cathodes 2 a to 2 s are each deflected by 12 steps, that is, by 12 horizontal scanning lines, and the electron beams are vertically shifted on the screen 8 by 2 2 8 lines. Drawing a horizontal scan line
  • the horizontal deflection electrode 6 and the vertical deflection electrode 7 are configured to extend in a comb shape, respectively. Furthermore, since the distance to the screen 8 is set longer than the distance between the horizontal and vertical deflection electrodes, it is possible to irradiate the electron beam to an arbitrary position on the screen 8 with a small amount of deflection. It becomes possible. Therefore, with such a configuration, deflection distortion can be reduced both horizontally and vertically.
  • the screen 8 is composed of a glass plate. On the back of the glass plate, R, G, and B primary color phosphors, which emit light when irradiated with an electron beam, pass through a black guard band (black matrix). Striped It is applied, and a metal back is added on these black guard band (black matrix).
  • dashed lines drawn on the screen 8 indicate vertical divisions displayed corresponding to each of the plurality of line cathodes 2 a to 2 s, and a two-dot chain line indicates a control electrode. 4 shows horizontal divisions displayed corresponding to each of the plurality of conductive plates 15 constituting 4.
  • two sections are separated horizontally by two sections (dashed line and two-dot chain line).
  • 0 R, 20 G, and 20 B are applied in stripes in the vertical direction via black guard bands 22, and 12 horizontal lines are formed in the vertical direction.
  • the size of one section is 1.0 mm in the horizontal direction and 4.4 mm in the vertical direction.
  • the dimension ratio in the vertical and horizontal directions is different from the image displayed on the actual screen for convenience of explanation.
  • the present invention has been made to solve such a problem, and detects a relative position of a beam spot with respect to a phosphor stripe, and performs correction based on the detected value, so that screens caused by various causes can be obtained.
  • the position of the beam spot with respect to the phosphor stripe on the screen It is an object to provide an image display device that does not cause image quality deterioration such as color misregistration.
  • an image display device comprises: an emission source of an electron beam; a display screen having a phosphor layer in which phosphors are formed in a predetermined pattern via black matrix;
  • An image display apparatus comprising: an electron beam orbit control unit having a function of selectively irradiating an electron beam to a predetermined position of the phosphor layer, wherein a predetermined unit for vibrating the electron beam is oscillated.
  • the electron beam irradiated onto the predetermined phosphor layer is vibrated, and the light emission amount at a predetermined position of the phosphor layer that emits light by the vibrating electron beam is determined.
  • the displacement between the flat electrode group and the screen due to the thermal expansion of the constituent members during operation which is a problem in the conventional technology, or the environmental magnetic field (installation)
  • the displacement of the beam spot position with respect to the phosphor stripe on the screen due to the displacement of the beam trajectory between the flat electrode group and the screen due to the geomagnetism of the place can be suppressed.
  • image quality deterioration such as color misregistration caused by such misregistration.
  • the deviation of the electron beam is detected.
  • the light emission amount of the phosphor layer at the offset position is preferably compared.
  • the means for recognizing the deviation of the electron beam gives a predetermined offset to a beam trajectory vibrating with respect to the center of the phosphor layer at a predetermined position. It is preferable that the light emission amount of the phosphor layer at the offset position is compared with an appropriate light emission amount of the phosphor layer at the offset position.
  • the means for detecting the amount of light emitted from the phosphor layer has a configuration using a PIN photodiode.
  • FIG. 1 is a configuration diagram of an image display device according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram for explaining the principle of beam irradiation position detection in the image display device according to the embodiment of the present invention (when there is no shift in the beam irradiation position on the phosphor stripe).
  • FIG. 3 is a diagram for explaining the principle of beam irradiation position detection in the image display device according to the embodiment of the present invention (when the beam irradiation position on the phosphor stripe is shifted to the left for some reason). .
  • FIG. 4 is a diagram for explaining the principle of beam irradiation position detection in the image display device according to the embodiment of the present invention (when the beam irradiation position on the phosphor stripe is shifted to the right for some reason). .
  • FIG. 5 is an exploded perspective view of an image display device according to another embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is an exploded perspective view of an image display device according to the related art.
  • FIG. 7 is an enlarged view of one section on the phosphor screen of the screen constituting the image display device shown in FIG. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • FIG. 1 is an exploded perspective view of a schematic configuration of an image display device according to an embodiment of the present invention, and a setting position of a beam irradiation position detection unit in the image display device, and a beam trajectory according to the beam irradiation position at the setting position.
  • Fig. 5 shows a block diagram of a feedback loop for controlling the feedback control.
  • FIGS. 2 to 4 are diagrams for explaining the principle of beam irradiation position detection in the image display device shown in FIG. 1. Specifically, FIG. 2 is a partially enlarged view of the image display area. It is a thing.
  • the image display device (electrode configuration and screen, etc.) according to the present embodiment shown in FIGS. 1 to 4 is basically the same as the image display device according to the prior art (see FIG. 6). It has a configuration.
  • the present embodiment is different from the image display device according to the related art in that the image display device is configured to eliminate the displacement of the beam spot position with respect to the phosphor stripe on the screen caused by various causes. different.
  • Region A in FIG. 1 indicates a beam irradiation position detection unit.
  • the lower left end (A region) of the image display area of the screen 8 is used as a beam irradiation position detection unit, and the beam irradiated here is used as a beam irradiation position detection beam.
  • this beam irradiation position detection beam includes a beam trajectory that causes an equal amount of fine movement to the left and right with respect to the center of the phosphor stripe, which is the original irradiation position of this beam. Fiichi There is an offset that reverses the polarity for each field.
  • the primary color phosphor stripes 20 R, 20 G, and 20 B (as phosphor cells) of R, G, and B are connected via black guard bands (black stripes) 22.
  • the arrangement is the same as the configuration of the image display device according to the related art.
  • region B shown in FIGS. 2 to 4 indicates a normal image display unit
  • region A indicates a beam irradiation position detection unit. As described above (see FIG. 1), the area A is located at the lower left end of the image display area.
  • La denotes the beam spot of the beam for detecting the beam irradiation position in the odd field, and the offset is given to the left with respect to the original trajectory of this beam.
  • Lb indicates the beam spot of the beam for detecting the beam irradiation position in the even field, and the offset is given to the right of the original trajectory of this beam.
  • P a represents the light emission amount generated by irradiating the phosphor stripe with the beam irradiation position detection beam (L a) in the odd field
  • P b represents the beam irradiation position detection beam (E) in the even field.
  • L b) represents the amount of light emitted when the phosphor stripe is irradiated.
  • FIG. 2 shows the irradiation state of the beam for detecting the beam irradiation position on the phosphor stripe when there is no shift in the beam irradiation position on the phosphor stripe.
  • FIG. 3 shows the beam irradiation position on the phosphor stripe.
  • Fig. 4 shows the irradiation state of the beam irradiation position detection beam on the phosphor stripe when the beam is shifted to the left for some reason.
  • Fig. 4 shows that the beam irradiation position on the phosphor stripe is shifted to the right for some reason. This shows the irradiation state of the beam irradiation position detection beam onto the phosphor strip when the beam is shifted.
  • the light emission amount Pa is smaller than the light emission amount Pb (Pa then Pb).
  • the light emission amount Pa is larger than the light emission amount Pb (Pa> Pb).
  • the light emission amount Pa and Pb in each state as shown in FIGS. 2 to 4 are detected, and the light emission amount Pa and the light emission amount Pb are compared. It is possible to know the presence or absence of the deviation and the direction of the deviation. Then, the result of the comparison between the light emission amount Pa and the light emission amount Pb is fed back to the beam trajectory in the horizontal direction, so that the deviation of the beam irradiation position on the phosphor stripe can be corrected.
  • the offset component described above (the offset component whose polarity is inverted for each field for fine movement of the beam irradiation position detection beam to the left and right) is stored.
  • the field buckle shown in Fig. 1 moves the beam for detecting the beam irradiation position in each field by the same amount to the right and left with respect to the center of the phosphor stripe, and the polarity of each field is changed.
  • An addition circuit 32 for adding to the horizontal deflection signal Sh and this beam The PIN photodiode 33 as a means to detect the amount of light emitted by the beam for detecting the irradiation position, and the amount Pa of light emitted by the beam for detecting the beam irradiation position in the odd field are sampled, and one field is sampled.
  • Sample hold circuit 34 4 a for holding for the above period and sampled light amount P b for the beam irradiation position detection beam in the even field as well, and hold for one or more fields
  • a comparator that outputs a beam irradiation position shift signal Sd whose polarity is inverted (the absolute value is constant) according to the result is compared with the light emission amount Pb of the beam irradiation position detection beam Pb (infinite gain).
  • a differential amplifying circuit) 35 for generating a beam position control signal Sc that continues to rise or fall at a predetermined speed according to the polarity of the output voltage of the comparator 35;
  • An adding circuit 37 for adding the beam position control signal Sc to the horizontal deflection signal Sh (applied to the horizontal deflection electrode, which is a horizontal beam trajectory control means); and a beam trajectory added to the horizontal deflection signal Sh.
  • the operation of the feedback loop configured as described above (controlling the beam trajectory according to the detection result of the beam irradiation position) will be described with reference to FIGS. 2 to 4 in addition to FIG.
  • the beam trajectory offset signal Sw generated from the beam trajectory offset signal generation circuit 31 is added to the horizontal deflection signal Sh to irradiate the beam irradiation position detection beam onto the phosphor stripe.
  • the beam irradiation position on the phosphor stripe is shifted to the left for some reason, that is, the state of Fig. 3 is explained. .
  • the relation between the light emission amount Pa of the beam irradiation position detection beam in the odd field and the light emission amount Pb of the beam irradiation position detection beam in the even field is such that the light emission amount Pa emits light Amount P b (P a then P b :). Therefore, the beam irradiation position shift signal Sd output from the comparator 35 has a positive polarity, and the beam position control signal Sc output from the integration circuit 36 starts to rise.
  • the phosphor The beam irradiation position on the stripe starts moving rightward as the beam position control signal Sc rises. This movement occurs at the moment when the polarity of the beam irradiation position shift signal S d changes from positive to negative, that is, when the beam irradiation position on the phosphor stripe shifts to the left and passes through the center position of the phosphor stripe to the right. It continues until the moment when it changes to the state shifted to.
  • the beam irradiation position shifted leftward with respect to the phosphor stripe moves rightward and finally converges to the center of the phosphor stripe as shown in FIG.
  • the beam irradiation position shift signal S d output from the comparator 35 becomes negative, and the integration circuit 3 Since the beam position control signal Sc output from 6 starts descending, the beam irradiation position moves to the left and finally converges to the center of the phosphor stripe as shown in FIG.
  • error detection that is, comparison of the light emission amounts Pa and Pb of the beam for detecting the beam irradiation position is performed discretely using the sample and hold circuits 34a and 34b.
  • the control output that is, the beam position control signal Sc output from the integration circuit 36.
  • the output of the integration circuit 36 does not stop and continues to rise or fall. Become. Then, even when the beam irradiation position is converged on the center of the phosphor stripe, strictly speaking, the beam irradiation position is in a state of slightly oscillating left and right.
  • the amplitude is determined by the sampling period of the beam emission amount for beam irradiation position detection by the sample and hold circuits 34 a and 34 b, the time constant of the integrating circuit 36, the gain of the horizontal deflection electrode drive circuit 39, and the horizontal deflection electrode 6. It is determined by the moving speed of the beam on the screen determined by the deflection sensitivity and the like.
  • the light emission amount p a of the field period 1 Z 6 0 seconds or beam irradiation position detection beam, a comparison cycle of P b and 1 Z 3 0 seconds, the beam moving speed on the screen, the fluorescence at 1 0 seconds If the time constant or the like of the integrating circuit is set to a value that moves the distance corresponding to the body stripe width, the amplitude becomes 1 Z300 of the phosphor stripe width, and there is substantially no problem. Further, if a hold circuit is provided between the integration circuit 36 and the addition circuit 37 to hold the beam position control signal Sc for two field periods, such a small beam irradiation position can be obtained. It goes without saying that vibration can be completely eliminated. Therefore, in some cases, it is preferable to provide a hold circuit between the integrating circuit 36 and the adding circuit 37 to hold the beam position control signal Sc for two field periods.
  • the beam trajectory offset signal Sw generated by the beam trajectory offset signal generation circuit 31 is added to the horizontal deflection signal Sh.
  • the beam irradiation position detection unit A the beam irradiation position on the phosphor stripe (as a predetermined phosphor cell) is finely moved left and right with respect to the center of the phosphor stripe, so that a predetermined offset is set in the beam trajectory. Can be given. Then, by detecting and comparing the light emission amounts Pa and Pb generated by irradiating the phosphor stripes with this beam, it is possible to determine whether or not there is a shift in the beam irradiation position on the phosphor stripes and the direction.
  • the beam for beam irradiation position detection is set at the lower left end of the image display area.
  • the beam irradiation position detection beam may be set at another position such as the lower right end or upper right end of the image display area.
  • the present invention is not limited to this.
  • two or more beams are used. It may be used as a beam for detecting a beam irradiation position.
  • the beam irradiation position detection Deyo beam is set at a plurality of image display areas, it is possible to detect more accurately an average beam irradiation position of the image display area entire 0
  • the phosphor pattern is not limited to the vertical stripe pattern, and may be an array pattern of phosphor cells of various shapes such as a rectangle and a circle.
  • the present invention is not limited to this configuration, and the principle of the present invention is to reduce the beam irradiation position shift in the vertical direction. It goes without saying that adaptation is also possible.
  • the electron beam emitted from the electron emission source configured using the back electrode 1, the line cathode group 2, the beam extraction electrode 3, and the control electrode 4 is converted to the focusing electrode 5, the horizontal deflection
  • the image display device (see FIG. 1) that focuses and deflects using the electrode 6 and the vertical deflection electrode 7 and irradiates the phosphor on the screen 8 to display an image
  • the present invention is limited to this configuration. Not something. Therefore, for example, the present invention can be applied even if the image display device has a configuration as shown in FIG.
  • An electrode 42 having a function of deflecting and converging a beam including a first comb-like electrode 42a and a second comb-like electrode 42b on an insulating substrate 42c) and an electron A phosphor layer 43 that emits light when excited by a beam, and a vacuum vessel that contains the electron emission source 41, the electrode 42, and the phosphor layer 43 and holds the inside thereof in a vacuum state It is configured using 4 and 4. That is, in the present embodiment, as shown in FIG.
  • the horizontal deflection electrode 6 constituting the image display device is controlled using a feedback loop to eliminate the deviation of the electron beam in the horizontal direction.
  • the electrode 42 is controlled by using a feedback loop as shown in FIG. It is possible to eliminate the deviation of the electron beam in both directions. That is, an image having the configuration shown in Fig. 5
  • the present invention can be applied to a display device, and the same effects as those of the above-described embodiment can be obtained.
  • the electron beam is finely moved, and the light emission amounts of the two portions of the phosphor layer irradiated by the finely moved electron beam are detected and compared, and the deviation of the electron beam is determined based on the comparison.
  • the image display device having a configuration for performing recognition and correction has been described, the present invention is not limited to this configuration. Therefore, for example, the amount of light emitted from the phosphor layer irradiated by the finely moved electron beam is detected at only one location, and the appropriate amount of emitted light at that location is measured in advance. And an image display device configured to recognize and correct the deviation of the electron beam based on the comparison.
  • the present invention is directed to a case where a predetermined offset is given to a beam trajectory for slightly moving a beam irradiation position on a predetermined phosphor cell (here, a phosphor stripe) with respect to the center of the phosphor cell.
  • a means is provided for comparing the light emission amount of the phosphor cell of the present invention with the light emission amount of the phosphor cell when an offset in the opposite direction to the offset of the beam orbit is provided.
  • the heat of components during operation which was a problem in the prior art, was Phosphor stripes on the screen due to misalignment between the flat electrode group and the screen due to expansion, or misalignment of the beam trajectory between the flat electrode group and the screen due to environmental magnetic fields (such as geomagnetism at the installation site) It is possible to suppress the occurrence of the deviation of the beam spot position with respect to. As a result, it is possible to eliminate image quality deterioration such as color misregistration caused by such misregistration.
  • the image display device of the present invention can be widely used for a color television receiver, a terminal display of a computer, and the like.

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)

Description

明 細 書 画像表示装置 技術分野
本発明は、 カラーテレビジョン受像機、 計算機の端末ディスプレイ等 に用いられる画像表示装置に関するものである。 背景技術
図 6は、 従来技術に係る画像表示装置の概略的な分解斜視図を示した ものである。 この従来技術に係る画像表示装置は、 後方からアノード側 に向かって順に、 背面電極 1、 ビーム源としての線陰極群 2、 ビーム引 き出し電極 3、 制御電極 4、 集束電極 5、 水平偏向電極 6、 垂直偏向電 極 7およびスクリーン 8が配置されて構成されており、 これらが真空容 器 (図示省略) の内部に収納されている。
ビーム源としての線陰極群 2は、 水平方向に線状に分布する電子ビー ムを発生するように水平方向に複数の線陰極が架張して構成されており 、 かかる線陰極が、 垂直方向に所定の間隔を持って複数本設けられてい る。 この従来技術に係る画像表示装置においては、 垂直方向の各線陰極 間の間隔は 5 . 5 m m、 その本数は 1 9本としており、 それぞれの線陰 極を 2 a〜2 sとする。 ただし、 図 6においては、 図面が複雑化するこ とを回避するために、 2 a〜2 dの 4本の線陰極のみを示している。 こ れらの各線陰極 2 a〜2 sは、 例えば、 直径が 1 0〜3 0 /z mのタンダ ステン線の表面に酸化物陰極材料を塗着して構成されている。 そして、 上方の線陰極 2 aから下方の 2 sまで順に一定時間、 ここでは 1 8水平 走査期間ずつ、 電子ビームを放出するように制御されている。 背面電極 1は、 所定の線陰極以外の線陰極からの電子ビームの発生を 抑止すると共に、 電子ビームをァノード方向のみに押し出す機能を有し ている。 図 6においては真空容器が記されていないが、 場合によっては 、 この背面電極 1を利用して真空容器と一体となす構造をとることも可 能である。
ビーム引き出し電極 3は、 複数の貫通孔 1 0を有する導電板 1 1を用 いて構成されており、 線陰極群 2から放出された電子ビームをその貫通 孔 1 0を通して水平方向に複数に区分して取り出す機能を有している。 このビーム引き出し電極 3においては、 導電板 1 1に、 貫通孔 1 0力 線陰極 2 a〜2 sのそれぞれと対向する水平方向に等ピッチで多数個並 ベて設けられている。 この従来技術に係る画像表示装置においては、 貫 通孔 1 0の水平方向のピッチを 1 . 2 8 mmとし、 貫通孔 1 0の個数を 1 0 7個としている。
制御電極 4は、 ビーム引き出し電極 3の各貫通孔 1 0と対向する位置 に貫通孔 1 4を有する垂直方向に長い導電板 1 5を 1 0 7本用いて構成 されている。 ただし、 図 6においては、 図面が複雑化することを回避す るために、 9本の導電板 1 5のみを示している。 そして、 この制御電極 4においては、 水平方向に 1 0 7区分された電子ビームの通過量を各区 分に対応する映像信号に基づいて一斉に変調している。
なお、 ここでは 1区分当たり 2画素を割り当て、 かつ各画素は R (赤 色) , G (緑色) , B (青色) の 3原色 (蛍光体) で構成されるものと するので、 各区分に対応する 2 (画素) X 3 (原色) の 6種の信号は、 後述する水平偏向と同期して (1水平走査期間内に) 時分割で順次加え れる 0
集束電極 5は、 複数の貫通孔 1 6を有する導電板 1 7を用いて構成さ れており、 電子ビームを集束させる機能を有している。 この導電板 1 7 には、 制御電極 4に設けられた各貫通孔 1 4に対向する位置に貫通孔 1 6が形成されている。
水平偏向電極 6は、 集束電極 5に形成されている貫通孔 1 6のそれぞ れ水平方向の両サイ ドに沿って垂直方向に配置された一対の櫛状の導電 板 1 8, 1 8, を用いて構成され、 水平方向に 1 0 7区分された電子ビ —ムを一斉に水平方向に偏向させ、 後述するスクリ一ン 8上の R, G , Bの原色蛍光体ストライプ 2組分を 6段階に順次照射し発光させるよう に機能する。
垂直偏向電極 7は、 集束電極 5に形成されている貫通孔 1 6のそれぞ れ垂直方向の中間の位置に水平方向に配置された一対の櫛状の導電板 1 9 , 1 9 ' を用いて構成されている。 両導電板 1 9, 1 9 ' には垂直偏 向用電圧が印加され、 これによつて垂直偏向電極 7は、 電子ビームを垂 直方向に偏向させる。 ここでは、 1 9本の線陰極 2 a〜2 sから放出さ れる電子ビームを各々 1 2段階、 すなわち 1 2水平走査線分づっ偏向し 、 スク リーン 8上に垂直方向に 2 2 8本の水平走査ラインを描いている
0
以上説明したように、 従来技術に係る画像表示装置においては、 水平 偏向電極 6および垂直偏向電極 7が、 それぞれ櫛状に張り巡らして構成 されている。 さらに、 水平、 垂直の各偏向電極間の距離に比べると、 ス クリーン 8までの距離を長く設定しているので、 小さな偏向量で電子ビ —ムをスクリーン 8の任意の位置に照射させることが可能となる。 した がって、 このような構成により、 水平、 垂直共に偏向歪を少なくするこ とができる。
スクリーン 8は、 ガラス板を用いて構成されており、 このガラス板の 裏面には、 電子ビームの照射により発光する R, G, Bの原色蛍光体が 、 黒色ガードバンド (ブラックマトリックス) を介してストライプ状に 塗布されており、 さらにこれらの上にはメタルバックが付加されている
(図示省略) 。 図 6において、 スクリーン 8に記入された破線は、 複数 本の線陰極 2 a〜2 sのそれぞれに対応して表示される垂直方向の区分 を示しており、 また、 二点鎖線は、 制御電極 4を構成している複数本の 導電板 1 5の各々に対応して表示される水平方向の区分を示している。
これらの両者 (破線および二点鎖線) で仕切られた 1つの区画には、 図 7に拡大して示すように、 水平方向には、 2組の R, G, Bの原色蛍 光体ストライプ 2 0 R, 2 0 G , 2 0 Bが黒色ガードバンド 2 2を介し て垂直方向にストライプ状に塗布されており、 垂直方向には、 水平方向 のラインが 1 2ライン分形成されている。 1区画 (1ユニッ ト) の大き さは、 この従来技術においては、 水平方向に 1 . O m m、 垂直方向に 4 . 4 m mである。 なお、 図 7においては、 説明の都合上、 縦横の寸法比 が実際のスクリーンに表示したイメージとは異なっている。
しかしながら、 上記の従来技術に係る画像表示装置においては、 画像 表示装置の動作時における構成部材の熱膨張に起因して、 平板状電極群 とスクリーンとの間に位置ずれが生じたり、 環境磁界 (設置場所の地磁 気等) に起因して、 平板状電極群とスクリーンとの間のビーム軌道にず れが生じることによって、 スクリーン上の蛍光体ストライプに対するビ 一ムスポッ ト位置にずれが生じ、 色ずれ等の画質劣化が発生するという 課題を有していた。 発明の開示
本発明は、 このような課題を解決するためになされたもので、 蛍光体 ストライプに対するビームスポッ 卜の相対位置を検出し、 その検出値に 基づいて補正を行うことによって、 種々の原因によって生ずるスクリ一 ン上の蛍光体ストライプに対するビームスポッ ト位置のずれをなく し、 色ずれ等の画質劣化をおこさない画像表示装置を提供することを目的と する 0
上記目的を達成するための本発明に係る画像表示装置は、 電子ビーム の放出源と、 ブラックマトリツクスを介して蛍光体が一定のパターンで 形成された蛍光体層を有する表示スク リーンと、 前記電子ビームを前記 蛍光体層の所定の位置に選択的に照射させる機能を有する電子ビーム軌 道制御手段とを備えた画像表示装置において、 所定の前記電子ビームを 振動させる手段と、 振動している前記電子ビームによって発光する前記 蛍光体層の所定位置の発光量を検知する手段と、 前記発光量に基づいて 前記電子ビームのずれを認識する手段と、 前記ずれを前記電子ビーム軌 道制御手段にフィ一ドバックして前記電子ビームのずれを補正する手段 とを有することを特徴とする。
本発明に係る画像表示装置によれば、 所定の前記蛍光体層上へ照射さ せる前記電子ビームを振動させ、 この振動している電子ビームによって 発光する前記蛍光体層の所定位置の発光量を検知することによって、 前 記電子ビームのずれを認識することが可能となり、 このずれを前記電子 ビーム軌道制御手段にフィ一ドバックして補正することによって、 前記 電子ビームのずれをなくすことができる。 したがって、 本発明に係る画 像表示装置によれば、 従来の技術における課題であった動作時における 構成部材の熱膨張に起因する平板状電極群とスクリーンとの位置ずれ、 あるいは、 環境磁界 (設置場所の地磁気など) による平板状電極群とス クリーン間のビーム軌道のずれに起因するスクリーン上の蛍光体ストラ イブに対するビームスポッ ト位置のずれの発生を抑えることができる。 この結果、 このようなずれに起因する色ずれ等の画質劣化を解消するこ とができる。
また、 本発明に係る画像表示装置においては、 電子ビームのずれを認 識する手段が、 所定位置の蛍光体層の中心に対して振動させるベく ビー ム軌道に所定のオフセッ トを与えた場合のこのオフセッ トされた位置の 蛍光体層の発光量と、 前記蛍光体層の中心に対して前記ビーム軌道のォ フセッ 卜と逆方向のオフセッ トを与えた場合のこのオフセッ トされた位 置の蛍光体層の発光量とを比較する構成であることが好ましい。
また、 本発明に係る画像表示装置においては、 電子ビームのずれを認 識する手段が、 所定位置の蛍光体層の中心に対して振動させるベく ビー ム軌道に所定のオフセッ トを与えた場合のこのオフセッ 卜された位置の 蛍光体層の発光量と、 このオフセッ トされた位置の蛍光体層の適正な発 光量とを比較する構成であることが好ましい。
また、 本発明に係る画像表示装置においては、 蛍光体層の発光量を検 知する手段が、 P I Nフォ トダイォードを用いた構成であることが好ま しい。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の実施形態に係る画像表示装置の構成図である。 図 2は、 本発明の実施形態に係る画像表示装置におけるビーム照射位 置検出の原理を説明するための図 (蛍光体ストライプ上へのビーム照射 位置にずれがない場合) である。
図 3は、 本発明の実施形態に係る画像表示装置におけるビーム照射位 置検出の原理を説明するための図 (蛍光体ストライプ上へのビーム照射 位置が何らかの原因で左にずれた場合) である。
図 4は、 本発明の実施形態に係る画像表示装置におけるビーム照射位 置検出の原理を説明するための図 (蛍光体ストライプ上へのビーム照射 位置が何らかの原因で右にずれた場合) である。
図 5は、 本発明の他の実施形態に係る画像表示装置の分解斜視図であ る o
図 6は、 従来技術に係る画像表示装置の分解斜視図である。
図 7は、 図 6に示された画像表示装置を構成しているスクリーンの蛍 光面における一区画の拡大図である。 発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明の実施の形態を、 図面に基づいて説明する。
図 1は、 本発明の実施形態に係る画像表示装置の概略構成の分解斜視 図、 およびこの画像表示装置におけるビーム照射位置検出部の設定箇所 、 ならびにこの設定箇所におけるビーム照射位置に応じてビーム軌道を 制御するフィ一ドバックループのプロックダイアグラムを示したもので ある。 また、 図 2から図 4は、 図 1に示された画像表示装置におけるビ ーム照射位置検出の原理を説明するための図であり、 具体的には、 画像 表示領域の部分拡大図を示したものである。
これらの図 1から図 4に示された本実施形態に係る画像表示装置 (電 極構成およびスク リーン等) は、 基本的には従来技術に係る画像表示装 置 (図 6参照) と同様の構成を有している。 しかしながら、 本実施形態 は、 種々の原因によって生ずるスクリーン上の蛍光体ストライプに対す るビームスポッ ト位置のずれをなくすように、 画像表示装置が構成され ている点において、 従来技術に係る画像表示装置と異なる。
図 1中の A領域は、 ビーム照射位置検出部を示している。 本実施形態 においては、 スク リーン 8の画像表示領域の左下端部 (A領域) をビ一 ム照射位置検出部とし、 ここに照射されるビームをビーム照射位置検出 用ビームとしている。 このビーム照射位置検出用ビームには、 後に詳細 に説明するように、 このビームの本来の照射位置である蛍光体ストライ プの中心に対して左右に等量の微動をさせるベく、 ビーム軌道にフィ一 ルド毎に極性が反転するオフセッ トが与えられている。
以下、 図 2から図 4を参照しながら、 ビーム照射位置の蛍光体ストラ ィプに対する相対位置の検出原理について説明する。 図 2から図 4にお いて、 R , G , Bの (蛍光体セルとしての) 原色蛍光体ストライプ 2 0 R , 2 0 G , 2 0 Bが黒色ガードバンド (ブラックストライプ) 2 2を 介して配列されている構成は、 従来技術に係る画像表示装置の構成と同 様である。 また、 図 2から図 4に示されている B領域は、 通常の画像表 示部を示し、 A領域は、 ビーム照射位置検出部を示している。 この A領 域は、 上述したように (図 1参照) 、 画像表示領域の左下端部に位置し ている。 L aは、 奇数フィールドにおけるビーム照射位置検出用ビーム のビームスポッ トを示しており、 このビームの本来の軌道に対して左側 にオフセッ トが与えられている。 L bは、 偶数フィールドにおけるビー ム照射位置検出用ビームのビームスポッ トを示しており、 このビームの 本来の軌道に対して右側にオフセッ トが与えられている。 また、 P aは 、 奇数フィールドにおけるビーム照射位置検出用ビーム (L a ) が蛍光 体ストライプに照射されることにより発生する発光量を表し、 P bは、 偶数フィールドにおけるビーム照射位置検出用ビーム (L b ) が蛍光体 ストライプに照射されることにより発生する発光量を表している。 図 2は、 蛍光体ストライプ上へのビーム照射位置にずれがない場合の ビーム照射位置検出用ビームの蛍光体ストライプ上への照射状態を示し 、 図 3は、 蛍光体ストライプ上へのビーム照射位置が何らかの原因で左 にずれた場合のビーム照射位置検出用ビームの蛍光体ストライプ上への 照射状態を示し、 図 4は、 蛍光体ストライプ上へのビーム照射位置が何 らかの原因で右にずれた場合のビーム照射位置検出用ビームの蛍光体ス トライプ上への照射状態を示している。
ここで、 蛍光体ストライプ上へのビーム照射位置にずれがない場合、 すなわち図 2の状態においては、 ビームスポッ ト L aの左側の一部がブ ラックストライプに隠れる面積と、 ビームスポッ ト L bの右側の一部が ブラックストライプに隠れる面積は等しくなる。 したがって、 発光量 P aと発光量 P bは等しくなる (P a = P b ) 。
一方、 蛍光体ストライプ上へのビーム照射位置が何らかの原因で左に ずれた場合、 すなわち図 3の状態においては、 ビ一ムスポッ ト L aの左 側の一部がブラックストライプに隠れる面積は拡大し、 ビ一ムスポッ ト L bの右側の一部がブラックストライプに隠れる面積は縮小する。 した がって、 発光量 P aの方が発光量 P bよりも小さくなる (P aく P b )
O
他方、 蛍光体ストライプ上へのビーム照射位置が何らかの原因で右に ずれた場合、 すなわち図 4の状態においては、 ビ一ムスポッ ト L aの左 側の一部がプラックストライプに隠れる面積は縮小し、 ビームスポッ ト L bの右側の一部がブラックストライプに隠れる面積は拡大する。 した がって、 発光量 P aの方が発光量 P bよりも大きくなる (P a〉P b )
0
すなわち、 図 2から図 4に示されるような各状態の発光量 P a, P b を検出し、 発光量 P aと発光量 P bとを比較すれば、 蛍光体ストライプ 上へのビーム照射位置のずれの有無、 およびそのずれの方向を知ること ができる。 そして、 この発光量 P aと発光量 P bとの比較結果を、 水平 方向のビーム軌道にフィ一ドバックすることによって、 蛍光体ストライ プ上へのビーム照射位置のずれを補正することができる。 ただし、 この 際、 前述したオフセッ ト成分 (ビーム照射位置検出用ビームの左右への 微動のためのフィールド毎に極性が反転するオフセッ ト成分) は、 保存 されているものとする。
また、 前述したように、 発光量 P aと発光量 P bとの差の値を計測す れば、 ビーム照射位置のずれ量を知ることも可能であるが、 発光量 P a と発光量 P bとの比較結果をフィ一ドバックする際の水平方向のビーム 軌道へのフィ一ドバックル一プが閉ループであり、 充分に大きなループ ゲインを有するならば、 ずれ量まで計測する必要はなく、 ずれの方向の みを検出できれば、 P a = P bの状態、 すなわちビーム照射位置のずれ が 0の状態に限りなく近づけることができる。
次に、 図 1に戻り、 以上で説明したビーム照射位置の蛍光体ストライ プに対する相対位置の検出原理によるビーム照射位置の検出結果に応じ てビーム軌道を制御するフィ一ドバックループの構成について説明する 図 1に示されたこのフィ一ドバックル一プは、 フィールド毎にビーム 照射位置検出用ビームを蛍光体ストライプの中心に対して左右に等量の 微動をさせるベく、 フィ一ルド毎に極性が反転するビーム軌道オフセッ ト信号 S wを発生するためのビーム軌道オフセッ ト信号発生回路 3 1と 、 このビーム軌道オフセッ ト信号 S wを、 ビーム照射位置検出用ビーム が照射されるタイミングに合わせて (水平方向のビーム軌道制御手段で ある水平偏向電極に印加される) 水平偏向信号 S hに加算するための加 算回路 3 2と、 このビーム照射位置検出用ビームによる発光量を検出す る手段としての P I Nフォ トダイォ一ド 3 3と、 奇数フィ一ルドにおけ るビーム照射位置検出用ビームによる発光量 P aをサンプリングし、 1 フィ一ルド以上の期間ホールドするためのサンプルホールド回路 3 4 a と、 同じく偶数フィ一ルドにおけるビーム照射位置検出用ビームによる 発光量 P bをサンプリングし、 1フィ一ルド以上の期間ホールドするた めのサンプルホールド回路 3 4 bと、 これらのサンプルホールド回路 3 4 a , 3 4 bによりサンプリングしホールドされている奇数フィ一ルド におけるビーム照射位置検出用ビームの発光量 P aと偶数フィ一ルドに おけるビーム照射位置検出用ビームの発光量 P bとを比較して、 その結 果に応じて極性が反転 (絶対値は一定) するビーム照射位置ずれ信号 S dを出力するコンパレータ (ゲイン無限大の差動増幅回路) 3 5と、 こ のコンパレータ 3 5の出力電圧の極性に応じて所定の速度で上昇あるい は下降を続けるビーム位置制御信号 S cを発生する積分回路 3 6と、 こ のビーム位置制御信号 S cを (水平方向のビーム軌道制御手段である水 平偏向電極に印加される) 水平偏向信号 S hに加算するための加算回路 3 7と、 水平偏向信号 S hにビーム軌道オフセッ ト信号 S wを (ビーム 照射位置検出用ビームが照射されるタイミングに合わせて) 加算するタ イ ミ ングおよびサンプルホールド回路 3 4 a, 3 4 bのサンプリ ング夕 ィ ミ ングを決定するためのタイミ ング回路 3 8と、 ビーム軌道オフセッ ト信号 S wおよびビーム位置制御信号 S cが重畳された水平偏向信号 S hを所定のレベルに電力増幅し水平偏向電極 6を駆動させる水平偏向電 極駆動回路 3 9とを用いて構成されている。
続いて、 以上のように構成された (ビーム照射位置の検出結果に応じ てビーム軌道を制御する) フィードバックループの動作について、 図 1 に加えて図 2から図 4も参照しながら説明する。 図 1において、 ビーム 軌道オフセッ ト信号発生回路 3 1から発生されるビーム軌道オフセッ ト 信号 S wが水平偏向信号 S hに加えられることにより、 ビーム照射位置 検出用ビームの蛍光体ストライプ上への照射は、 図 2から図 4に示すよ うな状態となるが、 ここでは、 蛍光体ストライプ上へのビーム照射位置 が何らかの原因で左にずれた場合、 すなわち図 3の状態であったとして 説明を進める。
このような状態においては、 奇数フィールドにおけるビーム照射位置 検出用ビームの発光量 P aと、 偶数フィールドにおけるビーム照射位置 検出用ビームの発光量 P bとの関係は、 発光量 P aの方が発光量 P bよ りも小さくなる (P aく P b:) 。 したがって、 コンパレータ 3 5より出 力されるビーム照射位置ずれ信号 S dは正極性となり、 積分回路 3 6か ら出力されるビーム位置制御信号 S cは上昇を開始する。
ここで、 ビーム照射位置ずれ信号 S dの正方向の変化時において、 ビ —ム軌道を右方向に移動させるように、 このフィードバックの各構成要 素間の結線がなされているならば、 蛍光体ストライプ上へのビーム照射 位置は、 ビーム位置制御信号 S cの上昇に従い右方向への移動を開始す る。 そして、 この移動は、 ビーム照射位置ずれ信号 S dの極性が正から 負に転ずる瞬間、 すなわち蛍光体ストライプ上へのビーム照射位置が左 にずれた状態から蛍光体ストライプ中心位置を通過して右にずれた状態 に転ずる瞬間まで継続する。 したがって、 蛍光体ストライプに対して左 方向にずれていたビーム照射位置は、 右方向に移動して、 最終的には図 2のように蛍光体ストライプの中心部に収束される。 また、 蛍光体スト ライプに対してビーム照射位置が右方向にずれていた場合 (図 4参照) には、 コンパレータ 3 5より出力されるビーム照射位置ずれ信号 S dは 負極性となり、 積分回路 3 6から出力されるビーム位置制御信号 S cは 下降を開始するので、 ビーム照射位置は、 左方向に移動して、 最終的に は図 2のように蛍光体ストライプの中心部に収束される。
なお、 本実施形態の構成においては、 誤差検出すなわちビーム照射位 置検出用ビームの発光量 P a, P bの比較をサンプルホールド回路 3 4 a , 3 4 bを用いて離散的に行っているのに対し、 制御出力すなわち積 分回路 3 6より出力されるビーム位置制御信号 S cを保持する機能はな いので、 積分回路 3 6の出力は停止することなく、 上昇あるいは下降を 続けることとなる。 そうすると、 ビーム照射位置が蛍光体ストライプ中 心部に収束された状態においても、 厳密に言えば、 ビーム照射位置は左 右に微小な振動をしている状態となる。 この振動している状態における 振幅は、 サンプルホールド回路 3 4 a, 3 4 bによるビーム照射位置検 出用ビーム発光量のサンプリング周期と、 積分回路 3 6の時定数と水平 偏向電極駆動回路 3 9のゲインと水平偏向電極 6の偏向感度等により定 まるスクリーン上でのビームの移動速度とにより決定される。
例えば、 フィールド周期を 1 Z 6 0秒すなわちビーム照射位置検出用 ビームの発光量 p a, P bの比較周期を 1 Z 3 0秒とし、 スクリーン上 でのビーム移動速度を、 1 0秒間で蛍光体ストライプ幅相当の距離を移 動するような値にすべく積分回路の時定数等を設定すれば、 振幅は蛍光 体ストライプ幅の 1 Z 3 0 0となり実質的に何ら問題はない。 また、 積 分回路 3 6と加算回路 3 7との間にホールド回路を設け、 ビーム位置制 御信号 S cを 2フィールド期間保持するような構成とすれば、 このよう なビーム照射位置の微小な振動を完全に解消することができることは言 うまでもない。 したがって、 場合によっては、 積分回路 3 6と加算回路 3 7との間にホールド回路を設けてビーム位置制御信号 S cを 2フィー ルド期間保持するような構成とすることも好ましい。
以上のように、 本実施形態に係る画像表示装置によれば、 水平偏向信 号 S hに、 ビーム軌道オフセッ ト信号発生回路 3 1で発生されるビーム 軌道オフセッ ト信号 S wを付加することによって、 ビーム照射位置検出 部 Aにおいて、 (所定の蛍光体セルとしての) 蛍光体ストライプ上への ビーム照射位置を蛍光体ストライプ中心に対して左右に微動させるベく 、 ビーム軌道に所定のオフセッ トを与えることができる。 そして、 この ビームが蛍光体ストライプに照射されることにより発生する発光量 P a , P bを検出し、 比較することによって、 蛍光体ストライプ上へのビ一 ム照射位置のずれの有無および方向を知ることが可能となり、 さらに、 この比較結果を、 サンプルホールド回路 3 4 a, 3 4 b、 コンパレータ 3 5、 積分回路 3 6、 加算回路 3 7および水平偏向電極駆動回路 3 9等 で構成されるフィ一ドバックループに送り、 その結果をビーム軌道制御 手段である水平偏向電極 6にフィ一ドバックすることによって、 ビーム 照射位置を蛍光体ストライプ中心部に収束させることができる。
なお、 本実施形態においては、 ビーム照射位置検出用ビームを画像表 示領域の左下端部に設定している場合について説明したが、 本発明はこ の構成に限定されるものではなく、 例えば、 画像表示領域の右下端部ま たは右上端部等の他の位置に、 ビーム照射位置検出用ビームを設定して もよい。
また、 本実施形態においては、 1つのビームをビーム照射位置検出用 ビームとして使用する場合について説明したが、 本発明はこれに限定さ れるものではなく、 例えば、 2つ以上の複数個のビームをビーム照射位 置検出用ビームとして使用してもよい。 このように、 ビーム照射位置検 出用ビームを、 画像表示領域の複数個所に設定すれば、 画像表示領域全 体の平均的なビーム照射位置をより精度よく検出することが可能となる 0
また、 本実施形態においては、 画像表示装置の蛍光体のパターンが縦 ストライプパターンである場合について説明したが、 本発明はこの構成 に限定されるものではない。 したがって、 例えば、 蛍光体のパターンは 、 縦ストライプパターンに限らず、 長方形、 円形等の各種形状の蛍光体 セルの配列パターンであってもよい。
さらに、 本実施形態においては、 水平方向のビーム照射位置ずれに関 して説明したが、 本発明はこの構成に限定されるものではなく、 本発明 の原理が、 垂直方向のビーム照射位置ずれに適応することも可能である ことは言うまでもない。
また、 本実施形態においては、 水平方向の 1区分に対して、 R, G,
Bの蛍光体ストライプが 2組分設けられている場合について説明したが 、 本発明はこの構成に限定されるものではなく、 例えば、 水平方向の 1 区分に対して R, G , Bの蛍光体ストライプが、 1組分、 あるいは 3組 分以上で構成されていてもよい。 ただし、 その場合には、 制御電極 4に は、 1組、 あるいは 3組以上の R, G , B映像信号が順次加えられ、 そ れに同期して水平偏向をさせる必要がある。
なお、 以上の実施形態においては、 背面電極 1、 線陰極群 2、 ビーム 引き出し電極 3および制御電極 4を用いて構成された電子放出源から放 出された電子ビームを、 集束電極 5、 水平偏向電極 6および垂直偏向電 極 7を用いて集束 ·偏向させ、 スクリーン 8の蛍光体に照射して画像を 表示する画像表示装置 (図 1参照) について説明したが、 本発明はこの 構成に限定されるものではない。 したがって、 例えば、 画像表示装置が 図 5に示すような構成を有していても、 本発明を適用することが可能で ある。 ここで、 図 5に示された画像表示装置は、 複数の電子源 4 l aを マトリクス状に配置して形成されている電子放出源 4 1と、 この電子放 出源 4 1から放出される電子ビームを偏向 ·集束させる機能を有する ( 絶縁性基板 4 2 c上に第一の櫛歯状電極 4 2 aと第二の櫛歯状電極 4 2 bとを備えた) 電極 4 2と、 電子ビームによって励起されて光を放出す る蛍光体層 4 3と、 これら電子放出源 4 1、 電極 4 2および蛍光体層 4 3を内部に収容して、 その内部を真空状態に保持する真空容器 4 4とを 用いて構成されている。 つまり、 本実施形態においては、 図 1に示すよ うに、 画像表示装置を構成する水平偏向電極 6をフィ一ドバックループ を用いて制御して、 水平方向の電子ビームのずれをなく しているので、 同様に、 図 5に示された画像表示装置においても、 電極 4 2を図 1に示 されるようなフィードバックル一プを用いて制御すれば、 水平方向また は垂直方向、 あるいは水平 '垂直の両方向についての電子ビームのずれ をなくすことが可能となる。 すなわち、 図 5のような構成を有する画像 表示装置であっても、 本発明の適用が可能であり、 以上に説明した実施 形態と同様の効果を得ることができる。
また、 以上の実施形態においては、 電子ビームを微動させて、 微動し た電子ビームが照射する蛍光体層の 2箇所の発光量を検知 ·比較し、 そ の比較に基づいて電子ビームのずれを認識して補正する構成の画像表示 装置について説明したが、 本発明はこの構成に限定されるものではない 。 したがって、 例えば、 微動した電子ビームが照射する蛍光体層の発光 量を 1箇所のみ検知し、 あらかじめその 1箇所の適正な発光量を測定し ておき、 この適正な発光量と検知した発光量とを比較して、 その比較に 基づいて電子ビームのずれを認識して補正する構成の画像表示装置とし てもよい。
以上に説明した実施の形態は、 いずれもあくまでも本発明の技術的内 容を明らかにする意図のものであって、 本発明はこのような具体例にの み限定して解釈されるものではなく、 その発明の精神と請求の範囲に記 載する範囲内でいろいろと変更して実施することができ、 本発明を広義 に解釈すべきである。
産業上の利用の可能性
本発明は、 所定の蛍光体セル (ここでは蛍光体ストライプ) 上へのビ —ム照射位置をこの蛍光体セルの中心に対して微動させるベく ビーム軌 道に所定のオフセッ トを与えた場合の蛍光体セルの発光量と、 このビー ム軌道のオフセッ トと逆方向のオフセッ トを与えた場合の蛍光体セルの 発光量とを比較する手段を設けるとともに、 この比較結果を電子ビーム 軌道制御手段にフィ一ドバックする手段を設け、 スクリーン上の各蛍光 体セル上へのビーム照射位置をフィ一ドバック制御可能に構成したこと により、 従来の技術における課題であった動作時における構成部材の熱 膨張に起因する平板状電極群とスク リーンとの位置ずれ、 あるいは、 環 境磁界 (設置場所の地磁気など) による平板状電極群とスクリーン間の ビーム軌道のずれに起因するスクリーン上の蛍光体ストライプに対する ビームスポッ ト位置のずれの発生を抑えることができる。 この結果、 こ のようなずれに起因する色ずれ等の画質劣化を解消することができる。
したがって、 本発明によれば、 種々の原因によって生ずるスクリーン 上の蛍光体ストライプに対するビームスポッ ト位置のずれをなく し、 色 ずれ等の画質劣化をおこさない画像表示装置を得ることができる。 かかる本発明の画像表示装置は、 カラ一テレビジョン受像機、 計算機 の端末ディスプレイ等に広範囲に利用することができる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 電子ビームの放出源と、 ブラックマトリ ックスを介して蛍光体が 一定のパターンで形成された蛍光体層を有する表示スクリーンと、 前記 電子ビームを前記蛍光体層の所定の位置に選択的に照射させる機能を有 する電子ビーム軌道制御手段とを備えた画像表示装置において、 所定の前記電子ビームを振動させる手段と、 振動している前記電子ビ ームによつて発光する前記蛍光体層の所定位置の発光量を検知する手段 と、 前記発光量に基づいて前記電子ビームのずれを認識する手段と、 前 記ずれを前記電子ビーム軌道制御手段にフィ一ドバックして前記電子ビ 一ムのずれを補正する手段とを有する画像表示装置。
2 . 電子ビームのずれを認識する手段が、 所定位置の蛍光体層の中心 に対して振動させるベく ビーム軌道に所定のオフセッ トを与えた場合の このオフセッ トされた位置の蛍光体層の発光量と、 前記蛍光体層の中心 に対して前記ビーム軌道のオフセッ 卜と逆方向のオフセッ 卜を与えた場 合のこのオフセッ トされた位置の蛍光体層の発光量とを比較するもので ある請求の範囲第 1項に記載の画像表示装置。
3 . 電子ビームのずれを認識する手段が、 所定位置の蛍光体層の中心 に対して振動させるベく ビーム軌道に所定のオフセッ トを与えた場合の このオフセッ トされた位置の蛍光体層の発光量と、 このオフセッ トされ た位置の蛍光体層の適正な発光量とを比較するものである請求の範囲第 1項に記載の画像表示装置。
4 . 蛍光体層の発光量を検知する手段が、 P I Nフォ トダイオードを 用いたものである請求の範囲第 1項、 第 2項または第 3項に記載の画像 表示装置。
8
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