JP3449085B2 - 映像表示装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はインデックス蛍光体
を塗布した陰極線管によるインデックス検出を行って陰
極線管のシャドウマスク上における走査電子ビームの２
次元的位置を検出し、検出結果より演算処理を行って画
像の幾何学歪およびコンバーゼンスの補正を行う映像表
示装置（国際特許分類Ｈ０４Ｎ）に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】陰極線管の映し出す画像の有する幾何学
歪みコンバーゼンス歪み等の各種幾何学歪補正を自動的
に行うために、陰極線管のシャドウマスク上における走
査電子ビームの２次元的位置を検出し検出結果から幾何
学歪補正を行うようなフィードバックループを構成した
映像表示装置が特公平１−４８５５３号公報で提案され
ている。

【０００３】図１３に従来の映像表示装置のブロック図
をしめす。図１３において、１は陰極線管、２は陰極線
管のシャドウマスク、３はシャドウマスク上に塗布され
たインデックス蛍光体で実現した検出素子、４は陰極線
管のネック部に取り付けられ陰極線管の電子ビームを走
査する偏向／コンバーゼンスヨーク、１０は走査電子ビ
ームの２次元位置を検出する際にインデックス蛍光体３
に走査電子ビームを当てるために用いるパターン信号、
１００はパターン信号１０を発生させるパターン信号発
生回路、１０１はインデックス蛍光体３が発した光を光
電変換する光電変換回路、１０２は光電変換回路１０１
が検出した検出パルスとパターン信号発生回路１００の
出力との間隔を測り電圧に変換（Time-Voltage変換）
し、水平位置検出データとする水平位置検出用パルス間
隔測定回路、１０３は光電変換回路１０１が検出した検
出パルスの間隔を測り電圧に変換（Time-Voltage変換）
し、垂直位置検出データとする垂直位置検出用パルス間
隔測定回路、３００は陰極線管の幾何学歪やコンバーゼ
ンスの補正波形を生成し偏向／コンバーゼンスヨーク４
に出力することによって陰極線管の幾何学歪を補正する
幾何学歪補正回路、２００はパルス間隔測定回路１０２
が出力した水平位置検出データとパルス間隔測定回路１
０３が出力した垂直位置検出データを受取り、演算処理
を施し幾何学歪み補正回路３００を制御する演算・制御
回路である。

【０００４】以上のように構成された従来の映像表示装
置において、図１４を用いてその動作を説明する。

【０００５】図１４（ａ）は図１３におけるシャドウマ
スク２上に塗布されたインデックス蛍光体３を蛍光面１
側から見たときの配列図である。また、図１４（ｂ）は
（ａ）図の拡大図である。

【０００６】電子ビームの２次元的位置を検出する際、
図１４（ｂ）の様にインデックス蛍光体３にパターン信
号発生回路１００より出力したパターン信号１０を陰極
線管に映出する。（ｃ）はその時のパターン信号１０の
波形である。

【０００７】インデックス蛍光体３にパターン信号が当
たることにより光または紫外線が発生し、光電変換回路
１０１により電気信号に変換され図１４（ｄ）の様な検
出信号が得られる。

【０００８】したがって、電子ビームの２次元的位置の
検出は図１４（ｄ）のｔｈを測ることで水平方向の検出
が可能であり、ｔｖを測ることで垂直方向の検出が可能
である。

【０００９】前記ｔｈは水平位置検出用パルス間隔測定
回路１０２で測定され、前記ｔｖは垂直位置検出用パル
ス間隔測定回路１０３で測定される。

【００１０】ｔｈの測定を例に水平位置検出用パルス間
隔測定回路１０２の動作を説明する。図１４（ｃ）、図
１４（ｄ）で示したパルスより図１４（ｅ）で示すパル
スを作成する。

【００１１】例えば、水平位置検出用パルス間隔測定回
路１０２は測定したパルス間隔を電圧値に置き換えて出
力するようなものだとする。例えば、図１４（ｅ）のパ
ルス期間コンデンサに定電流を流せば、前記コンデンサ
の電圧は図１４（ｆ）の様に変化する。したがって図１
４（ｆ）のｖｈが測定後の出力となる。

【００１２】演算制御回路２００は、上記で説明したよ
うに走査電子ビームの２次元的位置を検出した結果を用
いて目標となる検出結果との差分が零になるように幾何
学歪補正データ４０１を作成し、幾何学歪補正回路３０
０に出力する。前記目標となる検出結果とは例えばコン
バーゼンス補正を行う場合、グリーンでの検出結果をさ
す。レッドやブルーの検出結果をグリーンの検出結果に
一致させることでコンバーゼンスの自動補正が可能とな
る。

【００１３】また、幾何学歪補正を行うならば例えば正
しく調整されたときの検出結果を目標検出結果としてあ
らかじめ演算制御回路２００に保存しておき、検出結果
が前記目標検出結果となるように制御を行えばよい。

【００１４】以上説明したように従来の映像表示装置に
おいて陰極線管の幾何学歪みの自動補正が行われる。

【００１５】

【発明が解決しようとする課題】通常、テレビの画面
は、偏向振幅を物理的な表示領域より大きくなるように
して、周辺の映像が隠れて見えないようにしている。
（この偏向振幅時をオーバースキャンという。）しか
し、業務用のモニター等は映像信号のすべての領域を見
えるようにするため偏向振幅を小さくするための偏向振
幅切り替え機能がついている。（この偏向振幅時をアン
ダースキャンまたはジャストスキャンという。）前記偏
向振幅切り替え機能をスキャンサイズ切り替え機能と言
われている。

【００１６】一方、陰極線管の映し出す画像の幾何学歪
み、特に糸巻歪み、樽型歪み、コンバーゼンスは画面周
辺にいけばいくほど指数関数的に歪みが大きくなる事が
知られている。

【００１７】陰極線管の映し出す幾何学歪みの補正を高
精度に行うには画像の周辺ぎりぎりまでシャドウマスク
上における電子ビームの２次元的位置の検出が出来なく
てはならない。

【００１８】しかしながら従来例の構成ではインデック
ス蛍光体の位置はシャドウマスク面に固定であり、前記
したスキャンサイズの切り替えが行われた場合、画面周
辺での電子ビームの２次元的位置の検出が最悪の場合出
来なくなったり、また、たとえ、アンダースキャン時の
偏向振幅サイズにぴったりと合うようにインデックス蛍
光体を配置したとしても、オーバースキャン時は周辺ぎ
りぎりでの２次元的位置の検出が出来ず、精度が落ちる
と言う課題があった。

【００１９】また、陰極線管の映し出す幾何学歪みの補
正を高精度に行うには電子ビームの２次元的位置の検出
を行う検出点を増やす事で可能である。

【００２０】しかしながら従来例の構成では、前記検出
点であるインデックス蛍光体の個数を増やせば一個あた
りの大きさが小さくなる。インデックス蛍光体が小さく
なるとパターン信号を当てるときの精度が要求され、ま
た、幾何学歪みなどの影響でラスター位置がずれた場合
の裕度も小さくなり、また、製造時のインデックス蛍光
体を塗る位置の精度や形状の精度もより要求されるとい
う課題がある。

【００２１】また、陰極線管の映し出す画像の幾何学歪
み、特に糸巻歪み、樽型歪み、コンバーゼンスは画面周
辺側にいけば指数関数的に歪みが大きくなる事が知られ
ている。

【００２２】陰極線管の映し出す幾何学歪みの補正を高
精度に行うには画像の周辺ぎりぎりまでシャドウマスク
上における電子ビームの２次元的位置の検出が出来なく
てはならない。

【００２３】しかしながら従来例の構成では検出素子で
あるインデックス蛍光体は図１５に示すように水平方向
と垂直方向とで検出の重心が異なっている。特に水平方
向に関する検出の重心は左側によっており、画面上の左
端の検出素子による検出位置は左端周辺まで可能である
が、画面上の右端の検出素子による検出位置は検出素子
の大きさの分だけ内側に入ってしまう。

【００２４】前記したように画面周辺での歪みはより大
きくなっていくので画面右側での検出位置が内側になる
のは自動補正後の精度に大きく関わる課題であった。

【００２５】

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明の映像表示装置は、陰極線管の映像表示面近
傍に複数個配置され、形状には線分または曲線が少なく
とも２本含まれており、前記配置が走査方向と交差する
ように前記２本がなされている検出素子を備え、電子ビ
ームを走査し、前記検出素子が前記電子ビームの走査位
置を検出することよって前記陰極線管の映し出す画像の
コンバーゼンスや幾何学的歪を補正することを特徴とす
る映像表示装置において、陰極線管の走査方向に隣り合
う２個の検出素子にまたがって電子ビームの走査を行い
位置検出を行うことを特長としたものである。

【００２６】本発明によれば、検出素子と検出素子の間
での検出が可能な映像表示装置を提供する事することが
できる。

【００２７】また、スキャンサイズ切り替えが行われて
も周辺まで走査電子ビーム位置の検出が可能な映像表示
装置を提供することがでる。

【００２８】また、検出素子の数を増やさなくても、走
査電子ビーム位置の検出点を増やすことができ、検出素
子の数を増やすことによる弊害、例えば、数が増えるこ
とによる相対的な１個あたりの検出素子の大きさが小さ
くなり、その配置精度や、形状精度、電子ビームを当て
るための精度が必要になったり、幾何学歪み等によるラ
スター移動によるビーム位置ずれに対する裕度が狭くな
るなどの弊害の影響を受けずに、走査電子ビーム位置の
検出が可能な映像表示装置を提供することが出来る。

【００２９】また、前記課題を解決するために、本発明
の映像表示装置は、少なくとも２本の線分または曲線を
含む形状を有し走査方向と交差するよう陰極線管の映像
表示面近傍に複数個配置される検出手段と、電子ビーム
を走査し、前記検出素子が前記電子ビームの走査位置を
検出することよって前記陰極線管の映し出す画像のコン
バーゼンスや幾何学的歪を補正す補正手段を備え、検出
を行う際、右側の検出は１本のみを用いることを特徴と
するものである。

【００３０】本発明によれば、画面上の右端の検出素子
による検出を行ったとき検出位置が検出素子の大きさの
分だけ内側に入ってしまう事のない映像表示装置を提供
する事ができる。

【００３１】また、本発明によれば、画面上の右端の検
出素子による検出を行ったとき検出位置が検出素子の大
きさの分だけ内側に入ってしまう事のない検出素子を備
えた映像表示装置を提供することが出来る。

【００３２】

【００３３】

【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、少なくとも２本の線分または曲線を含む形状を有し
走査方向に交わるようシャドウマスクのネック側の表面
上に複数個配置されるインデックス蛍光体を複数備えた
陰極線管と、前記陰極線管の幾何学歪やコンバーゼンス
を補正する幾何学歪補正回路と、隣り合う前記インデッ
クス蛍光体を走査方向から第１のインデックス蛍光体と
第２のインデックス蛍光体としたとき前記陰極線管が前
記第１のインデックス蛍光体を構成する２本の線分また
は曲線の内、前記第２のインデックス蛍光体側の１本に
かかるように走査を開始し、前記第２のインデックス蛍
光体を構成する２本の線分または曲線の内、前記第１の
インデックス蛍光体側の１本にかかるように走査を終了
するようなパターン信号を発生させ前記陰極線管に出力
するパターン信号発生回路と、前記インデックス蛍光体
の発する光または紫外線を光電変換する光電変換回路
と、前記光電変換回路の出力と前記パターン信号発生回
路の出力とのパルス間隔を測定し、結果を出力する第１
のパルス間隔測定回路と、前記光電変換回路の出力する
光電変換信号のパルス間隔を測定し、結果を出力する第
２のパルス間隔測定回路と、前記第２のパルス間隔測定
回路の出力を反転する反転回路と、前記第１のパルス間
隔測定回路の出力と前記反転回路の出力とを入力として
受取り、前記入力より前記陰極線管の幾何学歪みまたは
コンバーゼンスの補正量を演算し、前記幾何学歪補正回
路に出力する演算制御回路とを備え、前記陰極線管の映
し出す画像の幾何学歪みまたはコンバーゼンスを補正す
ることを特徴とするものであり、隣り合う２個のインデ
ックス蛍光体にまたがってパターン信号を走査した結果
得られるパルス間隔を測定し、測定結果を反転して用い
ることで垂直方向の補正感度が従来の単１インデックス
検出における補正感度と逆になることを打ち消し、隣り
合う２組みのインデックス蛍光体の間での電子ビームの
シャドウマスク上における２次元的位置の検出をも可能
にし、前記検出の結果を用いて陰極線管の偏向歪やコン
バーゼンスを補正する作用を有する。

【００３４】

【００３５】本発明の請求項２に記載の発明は、少なく
とも２本の線分または曲線を含む形状を有し走査方向に
交わるようシャドウマスクのネック側の表面上に複数個
配置されるインデックス蛍光体を複数備えた陰極線管
と、前記陰極線管の幾何学歪やコンバーゼンスを補正す
る幾何学歪補正回路と、隣り合う前記インデックス蛍光
体を走査方向から第１のインデックス蛍光体と第２のイ
ンデックス蛍光体としたとき前記陰極線管が前記第１の
インデックス蛍光体を構成する２本の線分または曲線の
内、前記第２のインデックス蛍光体側の１本にかかるよ
うに走査を開始し、前記第２のインデックス蛍光体を構
成する２本の線分または曲線の内、前記第１のインデッ
クス蛍光体側の１本にかかるように走査を終了するよう
なパターン信号を発生し陰極線管に出力するパターン信
号発生回路と、前記インデックス蛍光体の発する光また
は紫外線を光電変換する光電変換回路と、前記光電変換
回路の出力と前記パターン信号発生回路の出力とのパル
ス間隔を測定し、結果を出力する第１のパルス間隔測定
回路と、前記光電変換回路の出力のパルス間隔を測定す
る第２のパルス間隔測定回路と、前記幾何学歪補正回路
を用いて補正を加えた結果と前記第２のパルス間隔測定
回路の出力を比較して補正の極性を検出する極性検出回
路と、前記第１のパルス間隔測定回路の出力と前記第２
のパルス間隔測定回路の出力と前記極性検出回路の出力
とから前記幾何学歪補正回路に出力する補正量を演算し
求める演算制御回路とを備え、前記陰極線管の映し出す
画像の幾何学歪みまたはコンバーゼンスを補正すること
を特徴とするものであり、隣り合う２個のインデックス
蛍光体にまたがってパターン信号を走査した結果得られ
るパルス間隔を測定し、陰極線管の偏向歪やコンバーゼ
ンスを任意に補正し、前記補正の結果と前記測定の結果
より前記補正の極性を求め、前記検出の結果と前記補正
の極性を用いて陰極線管の偏向歪やコンバーゼンスを補
正する作用を有する。

【００３６】

【００３７】本発明の請求項３に記載の発明は、少なく
とも２本の線分または曲線を含む形状を有し走査方向に
交わるようシャドウマスクのネック側の表面上に複数個
配置されるインデックス蛍光体を複数備えた陰極線管
と、前記陰極線管の幾何学歪やコンバーゼンスを補正す
る幾何学歪補正回路と、前記陰極線管のスキャンサイズ
を切り替える偏向振幅切替回路と、前記陰極線管が１組
の前記インデックス蛍光体上を走査するようなパターン
信号を発生する第１のパターン信号発生回路と、隣り合
う前記インデックス蛍光体を走査方向から第１のインデ
ックス蛍光体と第２のインデックス蛍光体としたとき前
記陰極線管が前記第１のインデックス蛍光体を構成する
２本の線分または曲線の内、前記第２のインデックス蛍
光体側の１本にかかるように走査を開始し、前記第２の
インデックス蛍光体を構成する２本の線分または曲線の
内、前記第１のインデックス蛍光体側の１本にかかるよ
うに走査を終了するようなパターン信号を発生する第２
のパターン信号発生回路と、前記偏向振幅切替回路によ
るスキャンサイズに応じて前記第１のパターン信号発生
回路の出力または前記第２のパターン信号発生回路の出
力に切り替え、後述する第１のパルス間隔測定回路と前
記陰極線管に出力する第１の切替回路と、前記インデッ
クス蛍光体の発する光または紫外線を光電変換する光電
変換回路と、前記光電変換回路の出力と前記パターン信
号発生回路の出力とのパルス間隔を測定し、結果を出力
する第１のパルス間隔測定回路と、前記光電変換回路の
出力のパルス間隔を測定する第２のパルス間隔測定回路
と、前記第２のパルス間隔測定回路の出力を反転する反
転回路と、前記偏向振幅切替回路によるスキャンサイズ
に応じて前記第２のパルス間隔測定回路の出力または前
記反転回路の出力に切り替え前記走査電子ビームの垂直
位置検出データとして出力する第２の切替回路と、前記
第１のパルス間隔測定回路の出力する水平位置検出デー
タと前記第２の切替回路の出力する前記垂直位置検出デ
ータとを入力として受取り、前記入力より前記陰極線管
の幾何学歪みまたはコンバーゼンスの補正量を演算し、
前記幾何学歪補正回路に出力する演算制御回路とを備
え、前記陰極線管の映し出す画像の幾何学歪みまたはコ
ンバーゼンスを補正することを特徴とするものであり、
アンダースキャン時に、隣り合う２個のインデックス蛍
光体にまたがってパターン信号を走査した結果得られる
パルス間隔を測定し、測定結果を反転して用いることで
垂直方向の補正感度がオーバースキャン時に用いるイン
デックス検出における補正感度と逆になることを打ち消
すことでスキャンサイズによらずに偏向振幅の範囲いっ
ぱいでの電子ビームのシャドウマスク上における２次元
的位置の検出を可能にし、前記検出の結果を用いて陰極
線管の偏向歪やコンバーゼンスを補正する作用を有す
る。

【００３８】

【００３９】本発明の請求項４に記載の発明は、少なく
とも２本の線分または曲線を含む形状を有し走査方向に
交わるようシャドウマスクのネック側の表面上に複数個
配置されるインデックス蛍光体を複数備えた陰極線管
と、前記陰極線管の幾何学歪やコンバーゼンスを補正す
る幾何学歪補正回路と、前記陰極線管のスキャンサイズ
を切り替える偏向振幅切替回路と、前記陰極線管が１組
の前記インデックス蛍光体上を走査するようなパターン
信号を発生する第１のパターン信号発生回路と、隣り合
う前記インデックス蛍光体を走査方向から第１のインデ
ックス蛍光体と第２のインデックス蛍光体としたとき前
記陰極線管が前記第１のインデックス蛍光体を構成する
２本の線分または曲線の内、前記第２のインデックス蛍
光体側の１本にかかるように走査を開始し、前記第２の
インデックス蛍光体を構成する２本の線分または曲線の
内、前記第１のインデックス蛍光体側の１本にかかるよ
うに走査を終了するようなパターン信号を発生する第２
のパターン信号発生回路と、前記偏向振幅切替回路によ
るスキャンサイズに応じて前記第１のパターン信号発生
回路の出力または前記第２のパターン信号発生回路の出
力に切り替え、後述する第１のパルス間隔測定回路と前
記陰極線管に出力する第１の切替回路と、前記インデッ
クス蛍光体の発する光または紫外線を光電変換する光電
変換回路と、前記光電変換回路の出力と前記パターン信
号発生回路の出力とのパルス間隔を測定し、結果を出力
する第１のパルス間隔測定回路と、前記光電変換回路の
出力のパルス間隔を測定する第２のパルス間隔測定回路
と、前記幾何学歪補正回路を用いて補正を加えた結果と
前記第２のパルス間隔測定回路の出力を比較して補正の
極性を検出する極性検出回路と、前記第１のパルス間隔
測定回路の出力と前記第２のパルス間隔測定回路の出力
と前記極性検出回路の出力とから前記幾何学歪補正回路
に出力する補正量を演算し求める演算制御回路とを備
え、前記陰極線管の映し出す画像の幾何学歪みまたはコ
ンバーゼンスを補正することを特徴とするものであり、
オーバースキャン時には１組みのインデックス蛍光体に
電子ビームを走査させシャドウマスク上の２次元的位置
の検出を行い、アンダースキャン時に、隣り合う２個の
インデックス蛍光体にまたがってパターン信号を走査し
た結果得られるパルス間隔を測定し、陰極線管の偏向歪
やコンバーゼンスを任意に補正し、前記補正の結果と前
記測定の結果より前記補正の極性を求め、前記検出の結
果と前記補正の極性を用いて陰極線管の偏向歪やコンバ
ーゼンスを補正する作用を有する。

【００４０】

【００４１】本発明の請求項５に記載の発明は、少なく
とも２本の線分または曲線を含む形状を有し走査方向に
交わるようシャドウマスクのネック側の表面上に複数個
配置されるインデックス蛍光体を複数備えた陰極線管
と、前記陰極線管の幾何学歪やコンバーゼンスを補正す
る幾何学歪補正回路と、前記陰極線管のスキャンサイズ
をアンダースキャンまたはジャストスキャンとオーバー
スキャンに切り替える偏向振幅切替回路と、前記陰極線
管が１組の前記インデックス蛍光体上を走査するような
パターン信号を発生する第１のパターン信号発生回路
と、隣り合うインデックス蛍光体を走査方向から第１の
インデックス蛍光体と第２のインデックス蛍光体とした
とき前記陰極線管が前記第１のインデックス蛍光体を構
成する２本の線分または曲線の内、前記第２のインデッ
クス蛍光体側の１本にかかるように走査を開始し、前記
第２のインデックス蛍光体を構成する２本の線分または
曲線の内、前記第１のインデックス蛍光体側の１本にか
かるように走査を終了するようなパターン信号を発生す
る第２のパターン信号発生回路と、前記第１のパターン
信号発生回路の出力と前記第２のパターン信号発生回路
の出力を入力とし、前記入力を切り替え、後述する第１
のパルス間隔測定回路と前記陰極線管に出力する第１の
切替回路と、前記インデックス蛍光体の発する光または
紫外線を光電変換する光電変換回路と、前記光電変換回
路の出力する光電変換信号と前記第１の切替回路の出力
する前記パターン信号の間隔を測定する第１のパルス間
隔測定回路と、前記第１のパルス間隔測定回路の出力を
記憶する第１の記憶回路と、前記光電変換回路の出力す
る光電変換信号のパルス間隔を測定する第２のパルス間
隔測定回路と、前記第２のパルス間隔測定回路の出力を
反転する反転回路と、前記反転回路の出力を記憶する第
２の記憶回路と、前記第１の記憶回路の出力と前記第１
のパルス間隔測定回路の出力をマルチプレクスし、水平
位置検出データとして出力する第１の多重化回路と、前
記第２の記憶回路の出力と前記第２のパルス間隔測定回
路の出力をマルチプレクスし、垂直位置検出データとし
て出力する第２の多重化回路と、前記垂直位置検出デー
タと前記水平位置検出データと前記極性検出回路の出力
とから前記幾何学歪補正回路に出力する補正量を演算し
求める演算制御回路とを備え、前記陰極線管の映し出す
画像の幾何学歪みまたはコンバーゼンスを補正すること
を特徴とするものであり、一個のインデックス蛍光体に
電子ビームを走査した結果得られるパルス間隔を測定し
て得られた第１の測定結果と、隣り合う２組のインデッ
クス蛍光体にまたがってパターン信号を走査した結果得
られるパルス間隔を測定し、反転することで得られた第
２の検出結果と、前記第１の測定結果と前記第２の測定
結果を多重化し、インデックス蛍光体の数を増やさずに
検出点数を増やした結果を用いて陰極線管の偏向歪やコ
ンバーゼンスを補正する作用を有する。

【００４２】

【００４３】本発明の請求項６に記載の発明は、少なく
とも２本の線分または曲線を含む形状を有し走査方向に
交わるようシャドウマスクのネック側の表面上に複数個
配置されるインデックス蛍光体を複数備えた陰極線管
と、前記陰極線管の幾何学歪やコンバーゼンスを補正す
る幾何学歪補正回路と、前記陰極線管のスキャンサイズ
をアンダースキャンまたはジャストスキャンとオーバー
スキャンに切り替える偏向振幅切替回路と、前記陰極線
管が１組の前記インデックス蛍光体上を走査するような
パターン信号を発生する第１のパターン信号発生回路
と、隣り合うインデックス蛍光体を走査方向から第１の
インデックス蛍光体と第２のインデックス蛍光体とした
とき前記陰極線管が前記第１のインデックス蛍光体を構
成する２本の線分または曲線の内、前記第２のインデッ
クス蛍光体側の１本にかかるように走査を開始し、前記
第２のインデックス蛍光体を構成する２本の線分または
曲線の内、前記第１のインデックス蛍光体側の１本にか
かるように走査を終了するようなパターン信号を発生す
る第２のパターン信号発生回路と、前記第１のパターン
信号発生回路の出力と前記第２のパターン信号発生回路
の出力を入力とし、前記入力を切り替え、後述する第１
のパルス間隔測定回路と前記陰極線管に出力する第１の
切替回路と、前記インデックス蛍光体の発する光または
紫外線を光電変換する光電変換回路と、前記光電変換回
路の出力する光電変換信号と前記第１の切替回路の出力
する前記パターン信号の間隔を測定する第１のパルス間
隔測定回路と、前記第１のパルス間隔測定回路の出力を
記憶する第１の記憶回路と、前記光電変換回路の出力す
る光電変換信号のパルス間隔を測定する第２のパルス間
隔測定回路と、前記第２のパルス間隔測定回路の出力を
記憶する第２の記憶回路と、前記第１の記憶回路の出力
と前記第１のパルス間隔測定回路の出力をマルチプレク
スし、水平位置検出データとして出力する第１の多重化
回路と、前記第２の記憶回路の出力と前記第２のパルス
間隔測定回路の出力をマルチプレクスし、垂直位置検出
データとして出力する第２の多重化回路と、前記幾何学
歪補正回路を用いて補正を加えた結果と前記垂直位置検
出データとを比較して補正の極性を検出する極性検出回
路と、前記垂直位置検出データと前記水平位置検出デー
タと前記極性検出回路の出力とから前記幾何学歪補正回
路に出力する補正量を演算し求める演算制御回路とを備
え、前記陰極線管の映し出す画像の幾何学歪みまたはコ
ンバーゼンスを補正することを特徴とするものであり、
一個のインデックス蛍光体に電子ビームを走査した結果
得られるパルス間隔を測定して得られた第１の測定結果
と、隣り合う２組のインデックス蛍光体にまたがってパ
ターン信号を走査した結果得られるパルス間隔を測定し
て得られた第２の検出結果と、前記第１の測定結果と前
記第２の測定結果を多重化し、陰極線管の偏向歪やコン
バーゼンスを任意に補正し、前記補正の結果と多重化し
た測定結果より前記補正の極性を求め、前記多重化した
測定結果と前記補正の極性を用いて陰極線管の偏向歪や
コンバーゼンスを補正する作用を有する。

【００４４】

【００４５】

【００４６】

【００４７】

【００４８】（実施の形態１） 以下に、本発明の請求項１に記載された発明の実施の形
態について、図１、図２を用いて説明する。なお、従来
例と目的および動作が同一のものについては同一の参照
符号を付して詳細な説明は省略する。

【００４９】図１において、３は例えばシャドウマスク
２上のネック側の面にハの字型の形状で塗布されたＰ４
６やＰ４７等の蛍光体をもちいた陰極線管１の走査電子
ビーム位置を検出する為に用いる検出素子である。検出
素子３は従来例で説明に用いた図１２の(b)のようなλ
形状をしたものでもよいが、本実施の形態では他の形状
の例として他方が直角でなく斜めの線から構成された場
合で説明する。

【００５０】図１に戻るが１０は単体での検出素子３を
用いて検出素子３のしめる領域内での走査電子ビームの
位置を検出する際に用いる走査の様子を模式的に表わし
たパターンＡ信号である。

【００５１】１１は本発明の要である隣り合う検出素子
の間での走査電子ビーム位置を検出する際に用いる走査
の様子を模式的に表わしたパターンＢ信号である。

【００５２】パターンＡ信号１０、パターンＢ信号１１
を発生させるために従来例のところで説明した図１２の
パターン信号発生回路１００のかわりに本実施の形態で
は、例えば、パターンＡ信号発生回路１０５、パターン
Ｂ信号発生回路１０６、前記２つの信号発生回路の出力
を切り替える切替回路７０１に置き換えている。

【００５３】１０４は垂直位置検出用パルス間隔測定回
路１０３の出力結果を反転する反転回路である。７０２
はパターンＢ信号を用いて走査電子ビームの位置検出を
行う際前記反転回路１０４を出力し、パターンＡ信号時
は垂直位置検出用パルス間隔測定回路１０３の出力を出
力する切替回路である。垂直位置検出用パルス間隔測定
回路１０３、水平位置検出用パルス間隔測定回路１０２
は従来例のところで電圧として測定結果を出力するよう
に説明したが、前記以外にも例えば前記電圧をＡ／Ｄ変
換してデジタルデータとしてしゅつりょくするようなも
のでもよい。この場合、反転回路１０４は符号を変更す
るのみでよくなる。

【００５４】パターンＡ信号を用いて位置検出を行いコ
ンバーゼンスや幾何学歪を補正する時の動作は従来例で
説明したとおりである。

【００５５】パターンＢ信号を用いて位置検出を行った
ときの動作を図２を用いて説明する。図２において、
（ａ）は図１におけるシャドウマスク２上に配置された
検出素子３を蛍光面１側から見たときの配列図である。
また、図２（ｂ）は（ａ）図の隣り合う２個の検出素子
３の拡大図である。

【００５６】図２（ｂ）の様にインデックス蛍光体３に
パターンＢ信号発生回路１０６より出力したパターンＢ
信号１１を陰極線管に映出する。

【００５７】（ｃ）は前記パターンＢ信号の波形であ
る。検出素子３にパターンＢ信号が当たることにより光
または紫外線が発生し、光電変換回路１０１により電気
信号に変換され、図２（ｄ）の様な検出信号が得られ
る。

【００５８】従来例と同様にしてｔｈ及び、ｔｖを測定
することで電子ビームの位置が検出出来る。ただし従来
例と比較してｔｖはパターンＢ信号１１が上に移動すれ
ばパルス間隔が長くなり、パターンＢ信号１１が下に移
動すればパルス間隔が短くなる。

【００５９】従って、パターンＡ信号１０での測定結果
と感度が逆になってしまうため垂直位置検出用パルス間
隔測定回路１０３の出力を反転回路１０４で反転させ、
切替回路７０２でパターンＢ信号１１の時に演算制御回
路２００に与えている。

【００６０】演算制御回路２００では従来例で説明した
とおり、目標値との差分をとって幾何学歪補正化路３０
０の制御量を求めるため垂直位置検出用パルス間隔測定
回路１０３の出力が反転され負の値になっていても問題
はない。しかし、回路上のダイナミックレンジが問題に
なる場合、反転回路１０４に更に固定バイアスを与えて
も差し支えない。ただし目標値も同じ系をとおって測定
したものを用いることは守らなくてはいけない。

【００６１】後は従来例のところで説明したのと同様に
してコンバーゼンスや幾何学歪みの自動補正を行える。

【００６２】以上説明した様に本実施の形態では検出素
子３の位置のみでなく隣り合う検出素子３の間でも、走
査電子ビームの位置検出が可能となる。

【００６３】（実施の形態２） つぎに、本発明の請求項２に記載された発明の実施の形
態について図３、図４を用いて説明する。なお、前記実
施の形態１と目的および動作が同一のものについては同
一の参照符号を付して詳細な説明は省略する。図３にお
いて、前記実施の形態１で説明に用いた図１との違い
は、反転回路１０４及び切替回路７０２がなくなってい
ることであり、また、演算制御回路２００に極性検出機
能が付加され、演算制御回路２０１となっていることで
ある。

【００６４】前記実施の形態１の図２で説明したよう
に、パターンＢ信号１１を用いたとき問題になるのは図
２のｔｖの測定結果の感度の極性がパターンＡ信号１０
を用いたときと逆になることである。演算制御回路２０
１は幾何学歪補正回路３００を制御する前後に垂直位置
検出用パルス間隔測定回路１０３の出力を比較すること
で前記感度の極性を検出することが可能である。図４に
極性検出における演算制御回路２０１のフローチャート
を示す。

【００６５】図４に示したフローチャートによれば前記
実施の形態１より簡素な構成で同等の効果が得られる。

【００６６】なお、極性検出のみの例で説明したが、感
度の検出をも同時に行えば検出感度の違いも吸収させる
ことが出来るのは言うまでもない。

【００６７】（実施の形態３） つぎに、本発明の請求項３に記載された発明の実施の形
態について図５、図６を用いて説明する。なお、前記実
施の形態１と目的および動作が同一のものについては同
一の参照符号を付して詳細な説明は省略する。図５にお
いて、３０１は陰極線管１の映し出す画像のスキャンサ
イズをアンダースキャン・オーバースキャンに切り替え
る偏向振幅切替回路である。切替回路７０１、切替回路
７０２の切り替え動作に連動して偏向振幅切替回路３０
１が連動するような構成になっている。

【００６８】図６は本実施の形態における動作の模式図
である。図６（ａ）は検出素子３がシャドウマスク上に
配置されている様子を蛍光面側からみたようすを表わし
たものである。

【００６９】図６（ａ）において２０はオーバースキャ
ン時の偏向振幅であり、２１はアンダースキャン時の偏
向振幅を表わしている。パターン信号は偏向振幅より外
側に映し出すことは当然出来ないので、このような場
合、従来例ではアンダースキャン時は左右端での検出素
子を用いた検出はできないことがわかる。したがって
（ｃ）の様にアンダースキャン時はパターンＢ信号１１
をもちいて実施の形態１で説明したように検出を行う。

【００７０】以上説明したように本実施の形態によれば
オーバースキャン時はパターンＡ信号１０を用いて検出
を行い、アンダースキャン時はパターンＢ信号１１を用
いることで、スキャンサイズによらず偏向振幅の左右端
まで検出が可能となる。

【００７１】（実施の形態４） つぎに、本発明の請求項４に記載された発明の実施の形
態について図７を用いて説明する。なお、前記実施の形
態２、及び前記実施の形態３と目的および動作が同一の
ものについては同一の参照符号を付して詳細な説明は省
略する。図７において、３０１は陰極線管１の映し出す
画像のスキャンサイズをアンダースキャン・オーバース
キャンに切り替える偏向振幅切替回路である。切替回路
７０１の切り替え動作に連動して偏向振幅切替回路３０
１が連動するような構成になっている。

【００７２】実施の形態３で説明したようにアンダース
キャン時はパターンＢ信号１１をもちいて検出を行う
が、本実施の形態では前記実施の形態３とは異なり、演
算・制御回路２００が極性検出機能つき演算・制御回路
２０１になっており、反転回路１０４、切替回路７０２
が省かれている。極性検出機能つき演算・制御回路２０
１を用いた検出動作の説明は前記実施の形態２で説明し
たので説明は省略する。

【００７３】以上説明したように本実施の形態によれば
オーバースキャン時はパターンＡ信号１０を用いて検出
を行い、アンダースキャン時はパターンＢ信号１１を用
いることで、スキャンサイズによらず偏向振幅の左右端
まで検出が可能となり、また、前記実施の形態３の構成
よりシンプルな構成で前記実施の形態３と同様な効果を
得ることが出来る。

【００７４】（実施の形態５） つぎに、本発明の請求項５に記載された発明の実施の形
態について図８、図９を用いて説明する。なお、前記実
施の形態１と目的および動作が同一のものについては同
一の参照符号を付して詳細な説明は省略する。

【００７５】図７において、１０７はパターンＢ信号時
の水平位置検出データを記憶しておく記憶回路、１０８
はパターンＢ信号時の垂直位置検出データを記憶してお
く記憶回路、１０９、１１０はパターンＡ時の位置検出
データとパターンＢ時の位置検出データを交互にマルチ
プレクスする位置検出データ多重化回路である。

【００７６】図９は前記位置検出データ多重化回路の動
作模式図である。１水平ラインにおける検出素子の検出
結果をパターンＡ信号１０に関しては検出データ３１の
データ列としてあらわし、パターンＢ信号１１に関して
は検出データ３２のデータ列としてあらわしている。前
記検出データ３１、３２を切替回路３４を用いて多重化
し検出データ３３を得る。検出データ３３は検出素子３
の数がｎ個の場合、実質２ｎ−１個であるのと同様の検
出データとなる。以上説明したように本実施の形態５で
は検出素子３はそのままで検出点数を増やすことがで
き、かつ、通常の検出素子３の数を増やす方法の持つ弊
害の影響、例えば、数が増えることによる相対的な１個
あたりの検出素子の大きさが小さくなり、その配置精度
や、形状精度、電子ビームを当てるための精度が必要に
なったり、ミスランディング等によるラスター移動によ
るビーム位置ずれに対する裕度が狭くなる等、を受けず
に、陰極線管の映し出す画像のコンバーゼンスや幾何学
歪みの自動補正を行うことができる。

【００７７】（実施の形態６） つぎに、本発明の請求項６に記載された発明の実施の形
態について図１０を用いて説明する。なお、前記実施の
形態２、及び、前記実施の形態５と目的および動作が同
一のものについては同一の参照符号を付して詳細な説明
は省略する。

【００７８】図１０において、前記実施の形態５のブロ
ック図をしめした図８と異なっている点は、構成要素の
うち、反転回路１０４がなくなっており、演算・制御回
路２００が極性検出機能つき演算・検出回路２０１にな
っている点である。

【００７９】位置検出データ多重化回路１０９、１１０
の機能は前記実施の形態５で既に説明した。また、極性
検出機能つき演算・制御回路２０１の動作は前記時実施
の形態２で既に説明したので省略する。

【００８０】以上のように本実施の形態６では前記実施
の形態５でよりシンプルな構成で前記実施の形態６と同
様な効果を得ることが可能である。

【００８１】（実施の形態７） 以下に、本発明の映像表示装置の他の実施の形態につい
て、図１１、を用いて説明する。なお、従来例と目的お
よび動作が同一のものについては同一の参照符号を付し
て詳細な説明は省略する。

【００８２】図１１において、３は例えばシャドウマス
ク２上のネック側の面にハの字型の形状で塗布されたＰ
４６やＰ４７等の蛍光体をもちいた検出素子である。１
０１は例えば前記Ｐ４６、Ｐ４７等の蛍光体の発する光
を検出し、電流に変換するフォトマルチプラーヤチュー
ブ（光電子増倍管）などを用いた光電変換回路である。

【００８３】１０は従来例のところで説明した検出素子
３のしめる領域内での走査電子ビームの位置を検出する
際に用いるパターンＡ信号である。

【００８４】１１は表示画面方向から見て右側の検出素
子の右側（図面では反対側から見ているので左側）の１
本上を走査するパターンＢ信号である。

【００８５】パターンＡ信号１０、パターンＢ信号１１
を発生させるために従来例で説明したパターン信号発生
回路１０のかわりに本実施の形態では、例えば、パター
ンＡ信号発生回路１０４０、パターンＢ信号発生回路１
０５０、前記２つの信号発生回路の出力を切り替える切
替回路７０３に置き換えている。

【００８６】パターンＡ信号を用いて位置検出を行いコ
ンバーゼンスや幾何学歪を補正する時の動作は従来例で
説明したとおりである。

【００８７】パターンＢ信号を用いて位置検出を行った
ときは水平位置検出用パルス間隔測定回路１０２のみ用
いて検出を行う。パターンＡ信号を用いて全ての（表示
画面方向から見て右端の検出素子も含めて）検出素子で
検出した水平及び垂直位置検出データに、水平位置検出
データに関してはパターンＢ信号を用いた水平位置検出
データも加える事により、サンプル数（検出点数）が増
え、さらに、従来の課題のところで説明した重心のズレ
による影響を防ぐ事が可能となる。

【００８８】以降の制御は従来例のところで説明したの
と同様にしてコンバーゼンスや幾何学歪みの自動補正を
行える。

【００８９】以上説明した様に本実施の形態では、画面
上の右端の検出素子による検出を行ったとき検出位置が
検出素子の大きさの分だけ内側に入ってしまう事のない
映像表示装置を提供する事ができる。

【００９０】（実施の形態８） つぎに、本発明の映像表示装置の他の実施の形態につい
て図１２を用いて説明する。図１２は本発明を用いコン
バーゼンスや幾何学歪みの自動補正を行う映像表示装置
のブロック図である。

【００９１】図２において、１は陰極線管、２は陰極線
管１のシャドウマスク、３は例えば、シャドウマスク２
のネック側の面にＰ４６やＰ４７蛍光体を用いた検出素
子である。前記検出素子の配列は従来例の配列に加え
て、表示画面側から見て右側（図面では左側）に検出素
子の２本の構成要素のうち１本のみの検出素子が配列さ
れている。

【００９２】垂直位置検出データを得るときは、従来例
のようにパターンＡ信号１０をそれぞれの検出素子上に
走査させ、垂直位置検出データを得る。

【００９３】水平位置検出データを得るときは、従来例
のようにパターンＡ信号１０をそれぞれの検出素子上に
走査させ、さらに、前記１本のみの検出素子にパターン
Ｂ信号１１を走査させた結果も追加して水平位置検出デ
ータを得る。したがって、サンプル数（検出点数）が増
え、さらに、従来の課題のところで説明した重心のズレ
による影響を防ぐ事が可能となる。

【００９４】以降の制御は従来例のところで説明したの
と同様にしてコンバーゼンスや幾何学歪みの自動補正を
行える。

【００９５】以上説明したように本実施の形態によれ
ば、画面上の右端の検出素子による検出を行ったとき検
出位置が検出素子の大きさの分だけ内側に入ってしまう
事のない検出素子を備えた映像表示装置を提供すること
が出来る。

【００９６】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、検
出素子と検出素子の間での検出が可能な映像表示装置を
提供する事することができる。

【００９７】また、スキャンサイズ切り替えが行われて
も周辺まで電子ビームの２次元的位置の検出が可能な映
像表示装置を提供する事することがでる。

【００９８】また、検出素子の数を増やさなくても、電
子ビームの２次元的位置の検出点を増やすことができ、
検出素子の数を増やすことによる弊害、例えば、数が増
えることによる相対的な１個あたりの検出素子の大きさ
が小さくなり、その配置精度や、形状精度、電子ビーム
を当てるための精度が必要になったり、ミスランディン
グ等によるラスター移動によるビーム位置ずれに対する
裕度が狭くなるなどの弊害の影響を受けずに、電子ビー
ムの２次元的位置の検出が可能な映像表示装置を提供す
ることが出来る。

【００９９】また、本発明の映像表示装置によれば、画
面上の右端の検出素子による検出を行ったとき検出位置
が検出素子の大きさの分だけ内側に入ってしまう事のな
い映像表示装置を提供する事ができる。

【０１００】また、本発明によれば、画面上の右端の検
出素子による検出を行ったとき検出位置が検出素子の大
きさの分だけ内側に入ってしまう事のない検出素子を備
えた映像表示装置を提供することが出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態１における映像表示装置の
ブロック図

【図２】本発明の実施の形態１における映像表示装置の
動作波形図

【図３】本発明の実施の形態２における映像表示装置の
ブロック図

【図４】本発明の実施の形態２における極性検出機能の
フローチャート

【図５】本発明の実施の形態３における映像表示装置の
ブロック図

【図６】本発明の実施の形態３における映像表示装置の
動作模式図

【図７】本発明の実施の形態４における映像表示装置の
ブロック図

【図８】本発明の実施の形態５における映像表示装置の
ブロック図

【図９】本発明の実施の形態５における多重化装置の動
作模式図

【図１０】本発明の実施の形態６における映像表示装置
のブロック図

【図１１】本発明の実施の形態７における映像表示装置
のブロック図

【図１２】本発明の実施の形態８における映像表示装置
のブロック図

【図１３】従来の映像表示装置のブロック図

【図１４】従来の映像表示装置の動作波形図

【図１５】従来の映像表示装置の検出重心を示した模式
図

【符号の説明】

１ 陰極線管 ２ シャドウマスク ３ 検出素子（インデックス蛍光体） ４ 偏向／コンバーゼンスヨーク １０、１１ パターン信号 ２０ オーバースキャン時の偏向振幅 ２１ アンダースキャン時の偏向振幅 ２４ 切替回路 ３１、３２、３３ 検出データ ３４ 切替回路 １００ パターン信号発生回路 １０１ 光電変換回路 １０２ 水平位置検出用パルス間隔測定回路 １０３ 垂直位置検出用パルス間隔測定回路 １０４ 反転回路 １０５ パターンＡ信号発生回路 １０６ パターンＢ信号発生回路 １０７ 記憶回路 １０８ 記憶回路 １０９ 位置検出データ多重化回路 １１０ 位置検出データ多重化回路 ２００ 演算・制御回路 ２０１ 極性検出機能つき演算・制御回路 ３００ 幾何学歪補正回路 ３０１ 偏向振幅切替回路 ７０１、７０２、７０３ 切替回路 １０４０、１０５０ パターン信号発生回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭58−25042（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−119192（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−121178（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−251726（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−317412（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) H04N 9/28 H01J 29/34 H04N 9/24

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 少なくとも２本の線分または曲線を含む
   形状を有し走査方向に交わるようシャドウマスクのネッ
   ク側の表面上に複数個配置されるインデックス蛍光体を
   複数備えた陰極線管と、前記陰極線管の幾何学歪やコン
   バーゼンスを補正する幾何学歪補正回路と、隣り合う前
   記インデックス蛍光体を走査方向から第１のインデック
   ス蛍光体と第２のインデックス蛍光体としたとき前記陰
   極線管が前記第１のインデックス蛍光体を構成する２本
   の線分または曲線の内、前記第２のインデックス蛍光体
   側の１本にかかるように走査を開始し、前記第２のイン
   デックス蛍光体を構成する２本の線分または曲線の内、
   前記第１のインデックス蛍光体側の１本にかかるように
   走査を終了するようなパターン信号を発生させ前記陰極
   線管に出力するパターン信号発生回路と、前記インデッ
   クス蛍光体の発する光または紫外線を光電変換する光電
   変換回路と、前記光電変換回路の出力と前記パターン信
   号発生回路の出力とのパルス間隔を測定し、結果を出力
   する第１のパルス間隔測定回路と、前記光電変換回路の
   出力する光電変換信号のパルス間隔を測定し、結果を出
   力する第２のパルス間隔測定回路と、前記第２のパルス
   間隔測定回路の出力を反転する反転回路と、前記第１の
   パルス間隔測定回路の出力と前記反転回路の出力とを入
   力として受取り、前記入力より前記陰極線管の幾何学歪
   みまたはコンバーゼンスの補正量を演算し、前記幾何学
   歪補正回路に出力する演算制御回路とを備え、前記陰極
   線管の映し出す画像の幾何学歪みまたはコンバーゼンス
   を補正することを特徴とする映像表示装置。
2. 【請求項２】 少なくとも２本の線分または曲線を含む
   形状を有し走査方向に交わるようシャドウマスクのネッ
   ク側の表面上に複数個配置されるインデックス蛍光体を
   複数備えた陰極線管と、前記陰極線管の幾何学歪やコン
   バーゼンスを補正する幾何学歪補正回路と、隣り合う前
   記インデックス蛍光体を走査方向から第１のインデック
   ス蛍光体と第２のインデックス蛍光体としたとき前記陰
   極線管が前記第１のインデックス蛍光体を構成する２本
   の線分または曲線の内、前記第２のインデックス蛍光体
   側の１本にかかるように走査を開始し、前記第２のイン
   デックス蛍光体を構成する２本の線分または曲線の内、
   前記第１のインデックス蛍光体側の１本にかかるように
   走査を終了するようなパターン信号を発生し陰極線管に
   出力するパターン信号発生回路と、前記インデックス蛍
   光体の発する光または紫外線を光電変換する光電変換回
   路と、前記光電変換回路の出力と前記パターン信号発生
   回路の出力とのパルス間隔を測定し、結果を出力する第
   １のパルス間隔測定回路と、前記光電変換回路の出力の
   パルス間隔を測定する第２のパルス間隔測定回路と、前
   記幾何学歪補正回路を用いて補正を加えた結果と前記第
   ２のパルス間隔測定回路の出力を比較して補正の極性を
   検出する極性検出回路と、前記第１のパルス間隔測定回
   路の出力と前記第２のパルス間隔測定回路の出力と前記
   極性検出回路の出力とから前記幾何学歪補正回路に出力
   する補正量を演算し求める演算制御回路とを備え、前記
   陰極線管の映し出す画像の幾何学歪みまたはコンバーゼ
   ンスを補正することを特徴とする映像表示装置。
3. 【請求項３】 少なくとも２本の線分または曲線を含む
   形状を有し走査方向に交わるようシャドウマスクのネッ
   ク側の表面上に複数個配置されるインデックス蛍光体を
   複数備えた陰極線管と、前記陰極線管の幾何学歪やコン
   バーゼンスを補正する幾何学歪補正回路と、前記陰極線
   管のスキャンサイズを切り替える偏向振幅切替回路と、
   前記陰極線管が１組の前記インデックス蛍光体上を走査
   するようなパターン信号を発生する第１のパターン信号
   発生回路と、隣り合う前記インデックス蛍光体を走査方
   向から第１のインデックス蛍光体と第２のインデックス
   蛍光体としたとき前記陰極線管が前記第１のインデック
   ス蛍光体を構成する２本の線分または曲線の内、前記第
   ２のインデックス蛍光体側の１本にかかるように走査を
   開始し、前記第２のインデックス蛍光体を構成する２本
   の線分または曲線の内、前記第１のインデックス蛍光体
   側の１本にかかるように走査を終了するようなパターン
   信号を発生する第２のパターン信号発生回路と、前記偏
   向振幅切替回路によるスキャンサイズに応じて前記第１
   のパターン信号発生回路の出力または前記第２のパター
   ン信号発生回路の出力に切り替え、後述する第１のパル
   ス間隔測定回路と前記陰極線管に出力する第１の切替回
   路と、前記インデックス蛍光体の発する光または紫外線
   を光電変換する光電変換回路と、前記光電変換回路の出
   力と前記パターン信号発生回路の出力とのパルス間隔を
   測定し、結果を出力する第１のパルス間隔測定回路と、
   前記光電変換回路の出力のパルス間隔を測定する第２の
   パルス間隔測定回路と、前記第２のパルス間隔測定回路
   の出力を反転する反転回路と、前記偏向振幅切替回路に
   よるスキャンサイズに応じて前記第２のパルス間隔測定
   回路の出力または前記反転回路の出力に切り替え前記走
   査電子ビームの垂直位置検出データとして出力する第２
   の切替回路と、前記第１のパルス間隔測定回路の出力す
   る水平位置検出データと前記第２の切替回路の出力する
   前記垂直位置検出データとを入力として受取り、前記入
   力より前記陰極線管の幾何学歪みまたはコンバーゼンス
   の補正量を演算し、前記幾何学歪補正回路に出力する演
   算制御回路とを備え、前記陰極線管の映し出す画像の幾
   何学歪みまたはコンバーゼンスを補正することを特徴と
   する映像表示装置。
4. 【請求項４】 少なくとも２本の線分または曲線を含む
   形状を有し走査方向に交わるようシャドウマスクのネッ
   ク側の表面上に複数個配置されるインデックス蛍光体を
   複数備えた陰極線管と、前記陰極線管の幾何学歪やコン
   バーゼンスを補正する幾何学歪補正回路と、前記陰極線
   管のスキャンサイズを切り替える偏向振幅切替回路と、
   前記陰極線管が１組の前記インデックス蛍光体上を走査
   するようなパターン信号を発生する第１のパターン信号
   発生回路と、隣り合う前記インデックス蛍光体を走査方
   向から第１のインデックス蛍光体と第２のインデックス
   蛍光体としたとき前記陰極線管が前記第１のインデック
   ス蛍光体を構成する２本の線分または曲線の内、前記第
   ２のインデックス蛍光体側の１本にかかるように走査を
   開始し、前記第２のインデックス蛍光体を構成する２本
   の線分または曲線の内、前記第１のインデックス蛍光体
   側の１本にかかるように走査を終了するようなパターン
   信号を発生する第２のパターン信号発生回路と、前記偏
   向振幅切替回路によるスキャンサイズに応じて前記第１
   のパターン信号発生回路の出力または前記第２のパター
   ン信号発生回路の出力に切り替え、後述する第１のパル
   ス間隔測定回路と前記陰極線管に出力する第１の切替回
   路と、前記インデックス蛍光体の発する光または紫外線
   を光電変換する光電変換回路と、前記光電変換回路の出
   力と前記パターン信号発生回路の出力とのパルス間隔を
   測定し、結果を出力する第１のパルス間隔測定回路と、
   前記光電変換回路の出力のパルス間隔を測定する第２の
   パルス間隔測定回路と、前記幾何学歪補正回路を用いて
   補正を加えた結果と前記第２のパルス間隔測定回路の出
   力を比較して補正の極性を検出する極性検出回路と、前
   記第１のパルス間隔測定回路の出力と前記第２のパルス
   間隔測定回路の出力と前記極性検出回路の出力とから前
   記幾何学歪補正回路に出力する補正量を演算し求める演
   算制御回路とを備え、前記陰極線管の映し出す画像の幾
   何学歪みまたはコンバーゼンスを補正することを特徴と
   する映像表示装置。
5. 【請求項５】 少なくとも２本の線分または曲線を含む
   形状を有し走査方向に交わるようシャドウマスクのネッ
   ク側の表面上に複数個配置されるインデックス蛍光体を
   複数備えた陰極線管と、前記陰極線管の幾何学歪やコン
   バーゼンスを補正する幾何学歪補正回路と、前記陰極線
   管のスキャンサイズをアンダースキャンまたはジャスト
   スキャンとオーバースキャンに切り替える偏向振幅切替
   回路と、前記陰極線管が１組の前記インデックス蛍光体
   上を走査するようなパターン信号を発生する第１のパタ
   ーン信号発生回路と、隣り合うインデックス蛍光体を走
   査方向から第１のインデックス蛍光体と第２のインデッ
   クス蛍光体としたとき前記陰極線管が前記第１のインデ
   ックス蛍光体を構成する２本の線分または曲線の内、前
   記第２のインデックス蛍光体側の１本にかかるように走
   査を開始し、前記第２のインデックス蛍光体を構成する
   ２本の線分または曲線の内、前記第１のインデックス蛍
   光体側の１本にかかるように走査を終了するようなパタ
   ーン信号を発生する第２のパターン信号発生回路と、前
   記第１のパターン信号発生回路の出力と前記第２のパタ
   ーン信号発生回路の出力を入力とし、前記入力を切り替
   え、後述する第１のパルス間隔測定回路と前記陰極線管
   に出力する第１の切替回路と、前記インデックス蛍光体
   の発する光または紫外線を光電変換する光電変換回路
   と、前記光電変換回路の出力する光電変換信号と前記第
   １の切替回路の出力する前記パターン信号の間隔を測定
   する第１のパルス間隔測定回路と、前記第１のパルス間
   隔測定回路の出力を記憶する第１の記憶回路と、前記光
   電変換回路の出力する光電変換信号のパルス間隔を測定
   する第２のパルス間隔測定回路と、前記第２のパルス間
   隔測定回路の出力を反転する反転回路と、前記反転回路
   の出力を記憶する第２の記憶回路と、前記第１の記憶回
   路の出力と前記第１のパルス間隔測定回路の出力をマル
   チプレクスし、水平位置検出データとして出力する第１
   の多重化回路と、前記第２の記憶回路の出力と前記第２
   のパルス間隔測定回路の出力をマルチプレクスし、垂直
   位置検出データとして出力する第２の多重化回路と、前
   記垂直位置検出データと前記水平位置検出データと前記
   極性検出回路の出力とから前記幾何学歪補正回路に出力
   する補正量を演算し求める演算制御回路とを備え、前記
   陰極線管の映し出す画像の幾何学歪みまたはコンバーゼ
   ンスを補正することを特徴とする映像表示装置。
6. 【請求項６】 少なくとも２本の線分または曲線を含む
   形状を有し走査方向に交わるようシャドウマスクのネッ
   ク側の表面上に複数個配置されるインデックス蛍光体を
   複数備えた陰極線管と、前記陰極線管の幾何学歪やコン
   バーゼンスを補正する幾何学歪補正回路と、前記陰極線
   管のスキャンサイズをアンダースキャンまたはジャスト
   スキャンとオーバースキャンに切り替える偏向振幅切替
   回路と、前記陰極線管が１組の前記インデックス蛍光体
   上を走査するようなパターン信号を発生する第１のパタ
   ーン信号発生回路と、隣り合うインデックス蛍光体を走
   査方向から第１のインデックス蛍光体と第２のインデッ
   クス蛍光体としたとき前記陰極線管が前記第１のインデ
   ックス蛍光体を構成する２本の線分または曲線の内、前
   記第２のインデックス蛍光体側の１本にかかるように走
   査を開始し、前記第２のインデックス蛍光体を構成する
   ２本の線分または曲線の内、前記第１のインデックス蛍
   光体側の１本にかかるように走査を終了するようなパタ
   ーン信号を発生する第２のパターン信号発生回路と、前
   記第１のパターン信号発生回路の出力と前記第２のパタ
   ーン信号発生回路の出力を入力とし、前記入力を切り替
   え、後述する第１のパルス間隔測定回路と前記陰極線管
   に出力する第１の切替回路と、前記インデックス蛍光体
   の発する光または紫外線を光電変換する光電変換回路
   と、前記光電変換回路の出力する光電変換信号と前記第
   １の切替回路の出力する前記パターン信号の間隔を測定
   する第１のパルス間隔測定回路と、前記第１のパルス間
   隔測定回路の出力を記憶する第１の記憶回路と、前記光
   電変換回路の出力する光電変換信号のパルス間隔を測定
   する第２のパルス間隔測定回路と、前記第２のパルス間
   隔測定回路の出力を記憶する第２の記憶回路と、前記第
   １の記憶回路の出力と前記第１のパルス間隔測定回路の
   出力をマルチプレクスし、水平位置検出データとして出
   力する第１の多重化回路と、前記第２の記憶回路の出力
   と前記第２のパルス間隔測定回路の出力をマルチプレク
   スし、垂直位置検出データとして出力する第２の多重化
   回路と、前記幾何学歪補正回路を用いて補正を加えた結
   果と前記垂直位置検出データとを比較して補正の極性を
   検出する極性検出回路と、前記垂直位置検出データと前
   記水平位置検出データと前記極性検出回路の出力とから
   前記幾何学歪補正回路に出力する補正量を演算し求める
   演算制御回路とを備え、前記陰極線管の映し出す画像の
   幾何学歪みまたはコンバーゼンスを補正することを特徴
   とする映像表示装置。