JPH05236485A

JPH05236485A - 陰極線管制御装置

Info

Publication number: JPH05236485A
Application number: JP3309392A
Authority: JP
Inventors: 進 ▲つじ▼原; Susumu Tsujihara; Mitsuo Isobe; 三男磯邉; Hiroyoshi Shimozaka; 宏嘉下坂; Hiroshi Taniguchi; 宏谷口
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1992-02-20
Filing date: 1992-02-20
Publication date: 1993-09-10

Abstract

(57)【要約】【目的】本発明は、カラーテレビジョン受像機を補正
する装置に関し、各種の補正を自動的に行い、高精度の
補正と調整時間を大幅に短縮できる陰極線管制御装置を
提供することを目的とする。【構成】シャドウマスクの表面上の所定位置に配列さ
れ、電子ビームの主走査方向に対して斜めのインデック
ス蛍光体６を設け、前記電子ビームの走査に応じて放射
出力を発生して、前記電子ビームの２次元の位置を検出
することにより、簡単な構成でインデックス蛍光体が塗
布された陰極線管が実現できる。また、連続した斜め線
のインデックス蛍光体を塗布することにより、より一層
の構造の簡素化が実現できるとともに、各種のコンバー
ゼンス補正点数への対応が可能である。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はカラーテレビジョン受像
機を補正する装置に関し、各種の補正を自動的に行う陰
極線管制御装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】一般に３原色を発光する３本の投写管を
用いてスクリ−ンに拡大投写するビデオプロジェクター
においては、投写管のスクリ−ンに対する入射角（以下
集中角と呼ぶ）が各投写管で異なるため、スクリ−ン上
で色ずれ、フォーカスずれ、偏向歪、輝度変化が生じ
る。これらの各種の補正は、水平および垂直走査周期に
同期させてアナログ的な補正波形をつくり、この波形の
大きさ、形を変えて調整する方式をとっているが、補正
精度の点で問題がある。また各種の補正をスクリーン上
でのずれを目視により観察して手動で補正するため、調
整時間がかかるという問題がある。そこでコンバ−ゼン
ス精度の高い方法として、特公昭５９−８１１４号公報
のディジタルコンバ−ゼンス装置が、また自動的に偏向
歪を補正する方法として、特開昭５８−２５０４２号公
報や特開昭５８−２４１８６号公報の陰極線管制御装置
（電子ビーム偏向制御装置）が提案されている。

【０００３】図２８に従来の自動補正が可能な陰極線管
制御装置のブロック図と、図２９にインデックス面の画
面図を示す。図２８、図２９に示すように、陰極線管４
０のシャドウマスク４３面に塗布されたインデックス蛍
光体６から電子ビーム位置を検出器６０で検出し、この
検出信号からコンバーゼンス補正用や幾何学的歪補正用
の信号を処理装置６６で作成している。処理装置６６か
らの信号は波形発生装置５２に供給されて、コンバーゼ
ンスヨーク４４や偏向ヨーク４６を駆動するための各走
査波形を発生し、自動的にコンバーゼンスと幾何学的歪
が補正できる。以上のように、コンバーゼンスや幾何学
的歪等の電子ビームの位置制御を自動的に補正すること
ができる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな構成の制御装置では、インデックス蛍光体の形状が
主走査方向に対して垂直と斜めである直角三角形の２つ
の脚部を形成する形状であるため、インデックス蛍光体
の塗布条件として主走査方向に対して必ず直角に塗布し
なければならないという問題点があり、高精度の塗布技
術が要求された。また、インデックス蛍光体で受光され
るテスト信号８、９の位置計測を行う場合、２つのイン
デックス蛍光体間での時間計測範囲が非常に広くなった
り、テスト信号のスポット特性や収差などによる信号幅
が異なる場合に、計測精度や補正精度が低下するという
問題点を有していた。また陰極線管に塗布されるインデ
ックス蛍光体の数によりコンバーゼンス補正点数が決定
されるため、各種の補正点数への対応ができないという
問題点を有していた。

【０００５】本発明はかかる点に鑑み、シャドウマスク
面に主走査方向に対して斜めのインデックス蛍光体を設
け、電子ビームや光の位置を検出して、自動的に補正す
ることにより高精度の補正と調整時間を大幅に短縮でき
る陰極線管制御装置を提供することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】第１の発明は、シャドウ
マスクの表面上の所定位置に配列され、電子ビームの主
走査方向に斜めの形状であり、前記電子ビームの走査に
応じて信号を発生する検出素子を備え、前記電子ビーム
の２次元の位置を検出して、前記検出素子の出力信号に
より電子ビームを偏向する手段を備えている。

【０００７】第２の発明は、電子ビームのシャドウマス
ク面よりの帰還信号に基づき得た検出信号とシャドウマ
スク面と蛍光面との距離とにより電子ビームの２次元的
位置を求め、偏向手段を制御して電子ビームの偏向歪を
補正する処理手段とを備えている。

【０００８】第３の発明は、電子ビームのシャドウマス
ク面よりの帰還信号に基づき得た検出信号と、各信号幅
により電子ビームの２次元的位置を求め、偏向手段を制
御して電子ビームの偏向歪を補正する処理手段とを備え
ている。

【０００９】第４の発明は、検出手段上に順次走査の検
出用テスト信号を順次映出する映出手段と、前記陰極線
管の電子ビームを偏向する偏向手段と、前記検出手段か
らの検出信号に応じて２次元的位置を求め、偏向手段を
制御して電子ビームの偏向歪を補正する処理手段とを備
えている。

【００１０】第５の発明は、検出手段からの所定位置の
位置検出素子に対応した検出信号が出力されることを判
断する判断手段と、前記検出信号により電子ビームの２
次元的位置を求め、前記判別信号により偏向手段を制御
して電子ビームの偏向歪の補正動作を制御する制御手段
とを備えている。

【００１１】第６の発明は、検出手段からの位置検出素
子に対応した検出信号により電子ビームの２次元的位置
を求めるとともに、テスト信号を調整点間に移動させて
調整点間の補正量を算出する算出手段とを備えている。

【００１２】

【作用】第１の発明によれば、電子ビームの走査に応じ
て検出信号を発生して、前記電子ビームの２次元の位置
を検出することにより、簡単な構成でインデックス蛍光
体が塗布された陰極線管が実現できる。

【００１３】第２の発明によれば、電子ビームのシャド
ウマスク面よりの帰還信号に基づき得た検出信号とシャ
ドウマスク面と蛍光面との距離とにより電子ビームの２
次元的位置を求め、前記偏向手段を制御して電子ビーム
の偏向歪を補正することにより、表示面とインデックス
蛍光体が設置された検出面の位置ずれに基づく誤差を補
正して、高精度の補正が実現できる。

【００１４】第３の発明によれば、電子ビームのシャド
ウマスク面よりの帰還信号に基づき得た検出信号と各信
号幅により電子ビームの２次元的位置を求め、この信号
により電子ビームの偏向歪を補正するすることにより、
ビームスポットサイズや収差にによる補正誤差を補正し
て、より高精度の補正が実現できる。

【００１５】第４の発明によれば、検出手段上に順次走
査の検出用テスト信号を順次映出して２次元的位置を求
め、この信号により偏向手段を制御して電子ビームの偏
向歪を補正することにより、安定で高精度の位置計測が
可能となるため、高精度の補正が実現できる。

【００１６】第５の発明は、所定位置の位置検出素子に
対応した検出信号が出力されることを判断し、この信号
により偏向手段を制御して電子ビームの偏向歪の補正動
作を制御することにより、位置検出素子からの信号に起
因する検出系における異常動作の検出誤動作の自動検出
が可能となるため、完全無調整化が実現できる。

【００１７】第６の発明は、テスト信号を調整点間に移
動させて調整点間の補正量を算出することにより、調整
点間の補正精度を向上させるとともに、特に画面外に存
在する外挿点の補正量を自動的に算出できるため、画面
周辺部での高精度の補正が実現できる。

【００１８】

【実施例】以下に、本発明の実施例について図面を参照
しながら説明する。図１〜図８は本発明の第１の実施例
における陰極線管制御装置のブロック図と画面図を示す
もので、図１に陰極線管制御装置の構造と、図２に全画
面上でのインデックス蛍光体の形状を示す。

【００１９】図１において、１，２，３は各ＲＧＢ色の
電子銃、６はインデックス蛍光体、４はシャドウマスク
面、５はＲＧＢの蛍光体が塗布された蛍光体面であり、
図２にインデックス蛍光体の形状を示すように、シャド
ウマスク面４には電子ビームの主走査方向に対して斜め
方向のインデックス蛍光体６が、シャドウマスク面４に
連続して複数塗布されている。図２(ａ)に陰極線管４０
のシャドウマスク面の塗布されたインデックス蛍光体６
の全画面を、図２(ｂ)にその拡大した概念画面を示し、
インデックス蛍光体７上にテスト信号８，９を映出した
拡大画面を示す。

【００２０】以上のように構成された本実施例の陰極線
管制御装置について、以下その動作を説明するため、図
３のブロック図を用いる。入力端子５０には同期信号が
入力され、偏向部１４で画面をラスタ走査するための補
正電流を作成し、この補正電流を偏向ヨーク４６やコン
バーゼンスヨーク４４に供給して走査速度を制御してい
る。入力端子４８からの映像信号が信号処理部１５に入
力され、信号処理部１５で陰極線管（ＣＲＴ）４０のカ
ソード電極を駆動するための各種の信号処理や増幅を行
っている。

【００２１】図２に示すように、陰極線管４０の画面上
に映出された画像を、複数個のインデックス蛍光体が配
置されたシャドウマスク面で電子ビーム（光）の２次元
的位置信号として取り出す。このインデックス蛍光体か
らの帰還信号は検出部１２に入力され、検出部１２で位
置を検出及び計測し、この検出信号から補正波形作成部
１３でコンバーゼンスや幾何学歪の補正を行うための最
適補正波形を作成している。補正波形作成部１３からの
補正波形は走査を制御するための偏向部１４に供給され
て補正される。

【００２２】以上のように、シャドウマスクの表面上の
所定位置に配列された、電子ビームの主走査方向に対し
て斜めの形状のインデックス蛍光体により、前記電子ビ
ームの走査に応じて放射出力を発生して、検出部で前記
電子ビームの２次元の位置を検出し、検出部の検出信号
により電子ビームを偏向して自動的にコンバーゼンスや
幾何学歪の補正を行うことができる。

【００２３】次に、本実施例の制御について、図４のブ
ロック図と図５の波形図を用いて詳細に説明する。検出
部１２は光電変換素子２１と時間−電圧変換器２２と計
測回路２３で構成される。１個のインデックス蛍光体の
拡大図を図５(ａ)に示す。図５(ａ)に示すように、イン
デックス蛍光体６の形状は斜めとなっている。このイン
デックス蛍光体６上にテスト信号２４，２５が映出され
た場合、その光電変換信号は図５(ｄ)に示す波形とな
る。光電変換素子２１からの光電変換された信号は、時
間−電圧変換器２２に供給されて信号の２次元的位置が
抽出され、計測回路２３に入力される。計測回路２３で
は基準信号図５(ａ)の信号２５と集束信号図５(ａ)の信
号２４のタイミングが計測される。

【００２４】図５(ａ)の水平方向のコンバーゼンス等の
位置計測を行う場合は、テスト信号２４，２５と同様に
基準信号（Ｇ信号）と集束信号（ＲＢ信号）を映出し、
図５(ｂ)のように、基準信号と集束信号の位置ずれ量ｔ
1を計測する。また、垂直方向のコンバーゼンス等の位
置計測を行う場合も同様に、テスト信号２４，２５と直
角な基準信号（Ｇ信号）と集束信号（ＲＢ信号）２
４’，２５’を映出し、図５(ｃ)のように、基準信号と
集束信号の位置ずれ量ｔ2を計測する。計測の方法とし
ては、図５(ｂ)(ｃ)のタイミングパルスをもとに、図５
(ｄ)(ｅ)に示すようなゲート信号を作成し、この信号か
ら図５(ｆ)(ｇ)に示すランプ信号を発生して時間軸を電
圧情報に変換している。従って、水平方向の補正量とし
てはＶ1、垂直方向の補正量としてはＶ2の直流電圧が算
出できる。時間−電圧変換器２２からの時間電圧変換さ
れた信号は、計測回路２３に供給されて各補正方向のず
れ量が計測される。

【００２５】補正波形作成部１３は、位置ずれ量に基づ
き、コンバーゼンスや偏向歪、画面振幅等を制御するた
めの補正波形が作成される。この補正波形の作成は従来
例でも述べたように、ディジタルコンバーゼンス方式に
より行うことができ、その基本ブロック図を図６に示
す。その構成は、同期信号より各種アドレス信号を作成
するためのアドレス発生回路２６と、位置ずれ信号より
各補正点の位置ずれ量より補正データを演算により求め
るための演算回路１２０と、各補正点のデータを記憶す
るためのメモリ２７と、補正点間のデータ補間を行うた
めの補間回路２８と、補間されたデータをアナログ量に
変換するためのＤ／Ａ変換器２９と、アナログ量を平滑
するためのＬＰＦ（低域通過フィルタ）３０で構成され
ている。このように計測回路２３からの位置ずれが計測
された信号は、補正波形作成部１３に供給され、各種の
補正波形が作成される。このように、位置ずれ量を計測
したデータからは、コンバーゼンスや偏向歪、画面振幅
等を制御するための補正波形が作成される。

【００２６】なお、本実施例では図５(ａ)に示すように
代表点のみの補正手段について説明したが、全画面の補
正を行うためには、図２に示す各インデックス蛍光体６
からの情報を順次検出して行うことによりダイナミック
的な補正波形作成が実現できる。

【００２７】偏向部１４は、画面振幅・偏向歪補正回路
１９とコンバーゼンス補正回路２０で構成されている。
この偏向部１４では、各色の表示領域が全画面に渡って
均一に位置するための偏向直線性の補正波形や、画面振
幅の補正データにより偏向補正が行われ偏向ヨーク４６
の偏向コイルを駆動している。また各色の表示領域が全
画面に渡って同一に位置するための色ずれの補正波形や
データによりコンバーゼンス補正が行われコンバーゼン
スヨーク４４を駆動している。

【００２８】次に、検出手段について詳細に説明するた
め図７の画面図を用いる。図７はテスト信号の映出の方
法の画面図を示す。図２のようにシャドウマスク面にイ
ンデックス蛍光体が塗布された陰極線管において、図７
(ａ)に水平方向の位置ずれを検出する場合のテスト信号
を、図７(ｂ)に垂直方向の位置ずれを検出する場合のテ
スト信号を示し、各検出方向とも左から右方向のテスト
信号が順次シフトして検出を行っている。図２に示す複
数のインデックス蛍光体６に対応する位置に、図７(ａ)
(ｂ)の各方向のテスト信号が映出されるように設定され
位置検出が行われる。また、インデックス蛍光体と各色
の分光特性を図８に示すように、インデックス蛍光体６
は各色のＲＧＢ光に影響されないように、紫外線領域の
蛍光体（例えばＰ４７）が塗布されており、光電変換素
子としては光電子増倍管を用いて検出している。

【００２９】また、斜めスリットの角度は水平及び垂直
方向を両方検出する観点からは４５度が有利であるが、
水平及び垂直の補正量を考慮すると補正量の大きい方に
設定する方が有利である。一般にＣＲＴ表示装置では水
平方向の補正量が大きいため角度的には４５度より寝か
せる方向（４５度以下）に設定する方が有利である。

【００３０】以上のようにこの実施例によれば、シャド
ウマスクの表面上の所定位置に配列され、電子ビームの
主走査方向に斜め形状のインデックス蛍光体により、前
記電子ビームの走査に応じて信号を発生して、検出部で
前記電子ビームの２次元の位置を検出することにより、
簡単な構成でインデックス蛍光体が塗布された陰極線管
が実現できる。また、形状が連続した斜め線のインデッ
クス蛍光体を塗布することにより、より一層の構造の簡
素化が実現できるとともに、各種のコンバーゼンス補正
点数への対応が実現できる。また、画面上に複数個の調
整点を設け調整点間のデータ補間を行って補正波形を作
成することにより、安定で高精度の補正が実現すること
ができる。

【００３１】次に本発明の第２の実施例について説明す
る。図９〜図１７は本発明の第２の実施例を示してい
る。第１の実施例の構成と異なるのは、陰極線管の検出
面であるシャドウマスク面と表示面である蛍光体面との
位置ずれに基づく補正誤差を補正するようにした点であ
る。図９において、３１は斜め形状のインデックス蛍光
体６が塗布されたシャドウマスク面４である検出面と蛍
光面５である表示面との位置ずれ量、２１はインデック
ス領域を検出して光電変換を行うための光電変換素子
で、光電変換素子２１は陰極線管４０の全表示領域に対
応するシャドウマスクの領域に分布している。２２はイ
ンデックス信号の位置ずれである時間軸を電圧情報に変
換するための時間−電圧変換器、３７は時間−電圧変換
された変換信号の最大値をサンプルホールドするための
サンプルホールド回路、３２は前記サンプルホールドさ
れたアナログ信号をデジタル信号に変換するためのＡ／
Ｄ変換器、３３はデジタル量の変換された信号に基づき
データ比較等の演算や補正誤差を求めるための演算回
路、３４は演算回路３３より算出された補正データを記
憶するためのメモリ、３６は各表示位置の検出面と表示
面との位置ずれを補正するための位置ずれ補正回路、３
５はメモリ３４からのデジタル的な補正データをアナロ
グ信号に変換するためのＤ／Ａ変換器であり、Ｄ／Ａ変
換器３５からの信号は偏向部１４に供給されている。図
９において第１の実施例と同様の動作を行うものは同じ
番号で示し説明は省略する。

【００３２】本実施例の陰極線管制御装置を詳細に説明
するため、図１０と図１１の構成図と図１２の画面図を
用いる。図１０に検出面と表示面との関係を示すよう
に、蛍光体面５とシャドウマスク面４の間には、一般に
距離が存在しており、この距離は検出〜表示面間距離３
１（ＣＲＴ用語でｑ）で表される。図１１に検出〜表示
面間距離（ｑ）３１によるミスコンバーゼンス発生の原
理図を示す。ＲＧＢ間には電子銃のメインレンズ間の距
離Ｌ2とＬ3があり、メインレンズからシャドウマスク面
４までの距離Ｌ1と、前記述べた検出面から表示面間距
離ｑが存在するため、蛍光体面５ではミスコンバーゼン
スｘが発生することになる。次に、実際に陰極線管仕様
を代入してミスコンバーゼンスを算出してみる。

【００３３】Ｌ1＝５３２ｍｍ、Ｌ2＝Ｌ3＝７ｍｍ、ｑ
＝１４ｍｍの場合のｘを算出してみると、ミスコンバー
ゼンスｘ＝約０．４ｍｍとなり、ハイビジョン仕様等の
高解像度表示では無視できない値となる。図１２(ａ)の
ミスコンバーゼンスのずれ量と方向を示す画面図に示す
ように、インライン型ＣＲＴでは、Ｇ信号を中心にして
対象な位置にＲ信号とＢ信号が存在することになる。よ
って、検出〜表示面間距離３１の検出誤差を補正するた
めの補正データを位置ずれ補正回路３６で作成してい
る。この補正データはＤ／Ａ変換器３５に供給され、メ
モリ３４からの集束のための補正データを加算して最終
の補正データが作成し、この補正データで補正すること
により、図１２(ｂ)に示すようにミスコンバーゼンスの
発生しない状態が実現できる。位置ずれ補正回路３６か
らの補正データはＣＲＴ仕様により決定されるため、表
示面と検出面の位置ずれに基づく補正誤差量は予めＲＯ
Ｍに書き込まれている。また、検出〜表示面間距離３１
（ｑ）は一般に画面中心から周辺に行くほどその距離が
大きくなるため、周辺程大きくなるデータを作成してお
くことになる。

【００３４】次に、コンバーゼンスの集束動作を詳細に
説明するため図１３の波形図を用いる。インデックス蛍
光体６の映出されたテスト信号７２，７３の配置図を図
１３(ａ)に示し、テスト信号７２（基準信号）にテスト
信号７３（集束信号）を集束させる場合について説明す
る。図１３(ｂ)にテスト信号の波形を示し、インデッッ
クス蛍光体６で受光された各テスト信号は、図１３(ｃ)
に基準となるテスト信号７２と集束されるテスト信号７
３を受光したときの波形が光電変換素子２１から出力さ
れる。光電変換素子２１からの信号は時間−電圧変換器
２２に供給されて時間軸が電圧情報に変換される。

【００３５】まず、水平方向の位置ずれを計測する場合
について説明する。水平方向の位置ずれ計測は、インデ
ックス蛍光体６上に図１３(ｂ)の縦テスト信号を映出
し、このテスト信号の立ち上がりから図１３(ｃ)の立ち
上がりまでの時間計測を行い計測する。従って、テスト
信号７２（基準信号）では図１３(ｄ)の計測波形が、テ
スト信号７３（集束信号）では図１３(ｅ)の計測信号が
得られ、この信号の時間軸を電圧に変換している。時間
−電圧変換器２２では前記計測信号を基にランプ信号を
発生させ、この電圧値により時間軸を電圧情報に変換し
ている。図１３(ｄ)の計測信号のときは、図１３(ｆ)の
実線に示す最大値電圧Ｖ5の波形が、また図１３(ｅ)の
計測信号のときは、図１３(ｆ)の破線に示す最大値電圧
Ｖ6の波形が、時間−電圧変換器２２から出力される。

【００３６】次に、垂直方向の位置ずれを計測する場合
について説明する。垂直方向の位置ずれ計測は、インデ
ックス蛍光体６上に図１３(ｂ)の縦テスト信号を映出
し、このテスト信号の立ち上がりから図１３(ｇ)の立ち
上がりまでの時間計測を行い計測する。従って、テスト
信号７２’（基準信号）のときは、図１３(ｊ)の実線に
示す最大値電圧Ｖ7の波形が、また、テスト信号７３’
（集束信号）のときは、図１３(ｊ)の破線に示す最大値
電圧Ｖ8の波形が、時間−電圧変換器２２から出力され
る。以上のように各方向の位置ずれ量を電圧情報に変換
した信号は、サンプルホールド回路３７に供給されて、
各波形の最大値電圧のタイミングでサンプルホールドさ
れる。よって、基準信号では水平方向Ｖ5と垂直方向Ｖ7
と、集束信号では水平方向Ｖ6と垂直方向Ｖ8の最大値電
圧が得られ、この電圧はＡ／Ｄ変換器３２でデジタル信
号に変換される。

【００３７】演算回路３３では基準信号となる水平方向
の電圧Ｖ5と、垂直方向の電圧Ｖ7の電圧に一致するため
の補正方向と補正量を算出し、この補正データがメモリ
３４に記憶される。メモリ３４からの集束信号を基準信
号に集束させるための補正データと、位置ずれ補正回路
３６からの検出〜表示面間距離（ｑ値）３１の検出誤差
を補正するための補正データはＤ／Ａ変換器３５に供給
され、集束のための補正データと検出誤差を補正するた
めの補正データを加算して最終の補正データが作成され
る。Ｄ／Ａ変換器３５でアナログ信号に変換され、この
信号はコンバーゼンスや幾何学歪を補正するための偏向
部１４に供給されて補正される。

【００３８】次に、インデックス蛍光体の形状とその検
出方法について説明するため、図１４と図１５の画面図
と波形図を用いる。図１４(ａ)は従来例でのラムダ形の
形状であり、図１５(ａ)は本実施例で用いられる斜め形
状であり、インデッックス蛍光体上で受光されるテスト
信号の位置を精度よく検出するための形状となってい
る。図１４に示す従来方式では、ラムダ状のインデック
ス蛍光体上の横バー信号を映出してインデックス信号を
検出し、この検出信号のタイミングにより各方向の検出
を行っている。図１５に示す本実施例では、斜め状のイ
ンデックス蛍光体上に補正方向により縦バー／横バー信
号を順次映出してインデックス信号を検出し、この検出
信号と補正モードにより各方向の検出を行っている。最
初に従来方式について詳細に説明する。

【００３９】図１４(ａ)に画面上のインデックス蛍光体
とテスト信号の画面図を示し、図１４(ｂ)に基準となる
Ｇテスト信号を受光したときのインデックス信号を、図
１４(ｃ)に集束させるＲテスト信号を受光したときのイ
ンデックス信号を示す。テスト信号と直角に交わる第１
のインデックス蛍光体からの第１のインデックス信号に
より水平方向の補正量を検出し、前記第１のインデック
ス信号とテスト信号と斜めに交わる第２のインデックス
蛍光体からの第２のインデックス信号により垂直方向の
補正量を検出している。

【００４０】図１４(ｂ)と図１４(ｃ)に示すインデック
ス信号において、前半のｔ1，ｔ2が水平方向、後半のｔ
3，ｔ4が垂直方向に相当し、水平方向を集束させるため
ｔ1＝ｔ2となるようにＲの水平方向のコンバーゼンス補
正が、垂直方向を集束させるためｔ3＝ｔ4となるように
Ｒの垂直方向のコンバーゼンス補正を行って、コンバー
ゼンス補正が行われる。したがって、検出範囲としては
テスト信号の立ち上がりから第２のインデックス蛍光体
の端までの検出範囲が必要とされる。

【００４１】次に本実施例について詳細に説明する。図
１５(ａ)に画面上のインデックス蛍光体とテスト信号の
画面図を示し、図１５(ｂ)に基準となる水平方向のＧテ
スト信号を受光したときのインデックス信号を、図１５
(ｃ)に集束させる水平方向のＲテスト信号を受光したと
きのインデックス信号を、図１５(ｄ)に基準となる垂直
方向のＧテスト信号を受光したときのインデックス信号
を、図１５(ｅ)に集束させる垂直方向のＲテスト信号を
受光したときのインデックス信号を示す。

【００４２】図１５(ｂ)と図１５(ｃ)に示すインデック
ス信号において、水平方向を集束させるためｔ1＝ｔ2と
なるようにＲの水平方向のコンバーゼンス補正が、また
図１５(ｄ)と図１５(ｅ)に示すインデックス信号におい
て、垂直方向を集束させるためｔ3＝ｔ4となるようにＲ
の垂直方向のコンバーゼンス補正を行って、コンバーゼ
ンス補正が行われる。したがって、検出範囲としては斜
めインデックス蛍光体領域内の検出範囲が必要とされ
る。

【００４３】以上のように、本実施例によれば従来方式
に比べ検出範囲が非常に狭く設定できるとともに、時間
計測を行うための時間−電圧変換器が１系統でよいた
め、高精度の位置検出が実現できる。

【００４４】次に、インデックス蛍光体の形状を連続し
た斜め線に設定することにより、容易に検出や補正領域
が設定できることについて説明するため、図１６の画面
図を用いる。図１６に陰極線管４０のシャドウマスク面
に塗布された連続したインデックス蛍光体７上にテスト
信号を映出したときの画面図を示す。図１６(ａ)に細か
いハッチ信号であるテスト信号３８を映出したときは、
調整点及び検出点は水平方向が５点、垂直方向が５点の
計２５点の補正点となる。検出及び計測方法は前記述べ
た内容と同様であるため説明は省略する。また図１６
(ｂ)に粗いハッチでテスト信号３９を映出したときは、
調整点及び検出点は水平方向が３点、垂直方向が３点の
計９点の補正点となる。以上のようにテスト信号の発生
タイミングを変更するだけで補正点の変更が容易に行う
ことができる。

【００４５】次に、図１６(ｂ)に示すように、画面中心
軸上と周辺部からの検出信号を基に、補正波形を作成す
る方法について説明するため、図１７の補正波とその補
正変化の画面上の動きの関係を示す図を用いる。図１７
において、例えば(1)のような補正波形を１Ｖ（垂直走
査）周期の垂直ノコギリ波とした場合、この補正波形を
垂直コンバーゼンスコイルに加えたときは、垂直方向の
振幅補正を行い、水平コンバーゼンスコイルに加えたと
きは、縦線の直交補正を行う。また(4)のように補正波
を１Ｈ（水平走査）周期の水平パラボラ波とした場合、
この補正波を垂直コンバーゼンスコイルに加えたとき
は、横線の曲がり補正を行い、水平コンバーゼンスコイ
ルに加えたときは、水平方向の直線性補正を行う。この
ように、補正波形は基本的には図１７に示すように、パ
ラボラ波形とノコギリ波形に分類できる。従って、図１
６(ｂ)に示す、画面中心軸上と周辺部からの検出信号か
ら、ずれ量と方向を求めて自動的のコンバーゼンスや幾
何学歪を補正するための補正波形を作成している。

【００４６】以上のように本実施例によれば、陰極線管
の検出面であるシャドウマスク面と表示面である蛍光体
面との位置ずれに基づく補正誤差を補正するすることに
より、高精度のコンバーゼンスや幾何学歪の補正を実現
できる。

【００４７】次に、本発明の第３の実施例について説明
する。図１８〜図１９は本発明の第３の実施例を示す図
である。第１の実施例の構成と異なるのは、ＣＲＴのシ
ャドウマクス面からの検出信号の信号幅に基づいた補正
を行うようにした点である。図１８において、８３は光
電変換素子２１からの光電変換信号の信号幅を検出する
ため、信号幅の中心位置を検出するための中心位置検出
回路であり、図１８において第２の実施例と同様の動作
を行うものは同じ番号で示し説明は省略する。

【００４８】本実施例の陰極線管制御装置を詳細に説明
するため図１９の画面と波形を示す図を用いる。図１９
(ａ)の画面図に示すようにインデックス蛍光体６にテス
ト信号幅の異なるテスト信号８５と８６が映出された場
合、光電変換素子２１からの光電変換信号は図１９(ｂ)
(ｃ)に示すように、信号幅の異なるアナログ信号が出力
される。この信号の立ち上がりで信号の２値化を行う
と、図１９(ｄ)(ｅ)のデジタル信号が得られる。この２
値化された信号を基にコンバーゼンス集束を行うと、図
１９(ｆ)の画面図に示すように、テスト信号の立ち上が
り期間のコンバーゼンスは一致するが、信号幅が異なる
ためミスコンバーゼンス８４が発生することになる。

【００４９】従って、本実施例ではインデックス蛍光体
を常にテスト信号に対して斜めに配置することにより、
２種類のテスト信号の縦バーや横バー信号で信号幅を検
出して、信号の中心位置を検出するようにしているた
め、テスト信号のスポット特性や収差などによる信号幅
が異なる場合においても、高精度の計測精度や補正精度
が実現できることになる。図１９(ｂ)(ｃ)に示す光電変
換素子２１からの光電変換信号は中心位置検出回路８３
に供給され、アナログ信号の信号幅の中心位置を検出
し、図１９(ｇ)(ｈ)の２値化されたデジタル信号が出力
される。

【００５０】このデジタル信号は時間−電圧変換器２２
に供給され、図１９(ｉ)(ｊ)に示すような基準信号と比
較するためのゲート信号を発生し、このゲート信号期間
で図１９(ｋ)に示すようにランプ信号を発生している。
時間−電圧変換器２２からのランプ信号はサンプルホー
ルド回路３７に供給されて、最大値がサンプルホールド
される。従って、図１９(ａ)のテスト信号８５が映出さ
れたときは最大値電圧Ｖ10が、テスト信号８６が映出さ
れたときは最大値電圧Ｖ11が出力される。この最大値電
圧がＶ10＝Ｖ11となるように、テスト信号８６のコンバ
ーゼンス補正を行うことにより、図１９(l)の画面図に
示すように信号幅が異なる場合においても高精度の補正
が実現できることになる。

【００５１】以上のように、電子ビームのシャドウマス
ク面よりの帰還信号と各信号幅により電子ビームの２次
元的位置を求め、この信号により電子ビームの偏向歪を
補正することにより、ビームスポットサイズや収差によ
る補正誤差を補正して、より高精度の補正が実現でき
る。また、検出手段を電子ビームの主走査方向に斜めの
形状で構成することにより、陰極線管の構造の簡素化が
実現できるとともに、各種のコンバーゼンス補正点数へ
の対応が実現できる。

【００５２】次に、本発明の第４の実施例について説明
する。図２０及び図２１は本発明の第４の実施例を示し
ている。第１の実施例の構成と異なるのは、補正時に順
次走査の検出用テスト信号を映出して２次元的位置を求
めて補正を行うようにした点である。図２０において、
９３は順次走査のテスト信号を発生するための順次走査
テスト信号発生回路、９２は入力端子９１からの外部映
像信号と順次走査テスト信号発生回路９３からのテスト
信号を切換えるための信号切換回路、９４はコンバーゼ
ンスの補正動作を制御するための補正動作制御回路であ
り、図２０において第２の実施例と同様の動作を行うも
のは同じ番号で示し説明は省略する。

【００５３】本実施例の陰極線管制御装置を詳細に説明
するため、図２１の画面と波形を示す図を用いる。図２
１(ａ)の画面図に示すように、インデックス蛍光体６に
飛越走査のテスト信号を映出して垂直方向の位置ずれ量
を算出する場合、１フィールド目の走査線（実線）と２
フィールド目の走査線（破線）が異なるラインを走査す
ることにより、光電変換素子からの光電変換信号を２値
化した波形は、図２１(ｂ)に示すようにフィールド間で
異なるタイミングの信号が出力される。よって、高精度
の位置計測ができないことになる。

【００５４】本実施例では、補正動作制御回路９４から
の制御信号に基づき補正動作を行う場合のみ、順次走査
テスト信号発生回路９３からのテスト信号を信号切換回
路９２で切り換えて、図２１(ｃ)に示すような順次走査
のテスト信号を画面上に映出している。そのため光電変
換素子からの光電変換信号を２値化した波形は、図２１
(ｄ)に示すようにフィールド間で同じタイミングの信号
が出力される。

【００５５】以上のように、検出手段上に順次走査の検
出用テスト信号を順次映出して２次元的位置を求め、こ
の信号により偏向手段を制御して電子ビームの偏向歪を
補正することにより、安定で高精度の位置計測が可能と
なるため、高精度の補正が実現できる。

【００５６】次に本発明の第５の実施例について説明す
る。図２２及び図２３は本発明の第５の実施例を示すも
のである。第１の実施例の構成と異なるのは、インデッ
クス蛍光体から所定位置の検出信号が出力されることを
判断し、この信号により異常動作の検出や正常動作を行
うための初期設定の制御を行うようにした点である。図
２２において、９５は光電変換素子２１からのアナログ
の光電変換信号を２値化のデジタル信号に変換するため
の２値化回路、９６は２値化回路９５からの信号により
所定位置のインデックス信号が検出されているかを判別
するための判別回路、９７は判別回路９６からの信号に
基づき補正動作を制御するための演算回路であり、図２
２において第２の実施例と同様の動作を行うものは同じ
番号で示し説明は省略する。

【００５７】本実施例の陰極線管制御装置を詳細に説明
するため図２３の画面と波形を示す図と図２４の輝度分
布図を用いる。図２３(ａ)に陰極線管４０左端の５個イ
ンデックス蛍光体上に横バー／縦バー信号を映出した画
面を示し、左側の横バー信号映出時は垂直方向、右側の
縦バー信号映出時は水平方向の補正を行うときの動作モ
ードである。図２３(ａ)左側に示すように垂直方向を補
正する場合は、光電変換素子３１からの光電変換信号を
２値化回路９５で２値化した２値化信号は、図２３(ｃ)
に示すように図２３(ｂ)の垂直同期信号に同期して５個
のパルス信号となる。また図２３(ａ)右側に示すように
水平方向を補正する場合も同様に、光電変換素子３１か
らの光電変換信号を２値化回路９５で２値化した２値化
信号は、図２３(ｄ)に示すように図２３(ｂ)の垂直同期
信号に同期して５個のパルス信号となる。

【００５８】この２値化回路９５からの２値化信号は判
別回路９６に供給されて、常に垂直同期信号に同期して
５個のパルス信号が出力させているかを判別している。
判別回路９６の構成としては、例えばフリップフロップ
回路で構成されており、図２３(ｆ)(ｇ)(ｈ)に示すよう
に一定分周結果が常に一定となるような判別方法で行っ
ている。判別回路９６からの判別信号は２値化回路９５
に帰還されて基準電位を制御するとともに、演算回路９
７に供給されて補正動作が制御されている。一般に陰極
線管の輝度分布は図２４に示すように、地磁気や偏向角
度により周辺の輝度が低下している。従って、検出位置
や陰極線管の輝度ドリフトにより、２値化が正常に行わ
れないことになる。よって、判別回路９６からの判別信
号に基づき正規のインデックス信号が出力されない場合
は、補正波形作成部１３の動作を停止させている。ま
た、比較器で構成されている２値化回路９５の基準電位
を制御して正規のインデックス信号が出力されるように
している。

【００５９】以上のように、所定位置の位置検出素子に
対応した検出信号が出力されることを判断し、この信号
により偏向手段を制御して電子ビームの偏向歪の補正動
作を制御することにより、インデックス信号に起因する
検出系の異常動作の検出誤動作の自動検出が可能となる
ため、完全無調整化が実現できる。

【００６０】次に本発明の第６の実施例について説明す
る。図２５〜図２７は本発明の第６の実施例を示してい
る。第１の実施例の構成と異なるのは、テスト信号を調
整点間に移動させて調整点間の補正量を算出するように
した点である。図２５において、１０１はインデックス
信号の位置ずれである時間軸を電圧情報に変換するため
の時間−電圧変換器、１０２は前記時間−電圧変換され
た変換信号の最大値をサンプルホールドするためのサン
プルホールド回路、１０３は調整間の補正データを演算
により求めるための調整点間演算回路、１０４は画面上
のテスト信号を発生させるためのテスト信号発生回路で
あり、図２５において第２の実施例と同様の動作を行う
ものは同じ番号で示し説明は省略する。

【００６１】本実施例の陰極線管制御装置を詳細に説明
するため図２６の画面と波形を示す図と図２７のインデ
ックス形状図を用いる。調整点間の演算としては画面内
の演算は比較的簡単に行うことができるため、ここでは
画面外の外挿演算を行う場合について説明する。図２６
(ａ)に陰極線管４０の斜めインデックス蛍光体７上にテ
スト信号１０５が映出された画面を示し、図２６(ｂ)に
画面左端の拡大図を示す。図２６(ａ)に示す画面外の調
整点である外挿点１１０は、画面内の調整点１０９、１
１１、１１２の補正データから演算により求められる。
図２６(ｃ)(ｄ)に画面位置に対する補正データ図を示
す。図２６(ｃ)(ｄ)に示すように、外挿点１１０の補正
データは水平垂直方向は、例えば直線近似などの外挿演
算により求められている。

【００６２】図２５のテスト信号発生回路１０４から
は、図２６(ｂ)の破線に示すような調整点間のテスト信
号１０６、１０７、１０８が発生され、調整点間のずれ
量を時間ー電圧変換器１０１とサンプルホールド回路１
０２で計測される。図２６(ｃ)(ｄ)の破線に各方向の調
整点間の検出したずれ量を示し、この検出信号をＡ／Ｄ
変換器３２と演算回路９７を通して調整点間演算回路１
０３に供給されている。調整点間演算回路１０３では図
２６(ｃ)(ｄ)に示す調整点間のずれ量を検出して最適な
外挿点１１０の補正データを算出している。したがって
図２６(ｃ)に示す水平方向の直線近似による外挿演算で
は補正データＤ2に対し、調整点間の情報を検出するこ
とにより補正データＤ1が算出される。

【００６３】また同様に図２６(ｄ)に示す垂直方向の直
線近似による外挿演算では補正データＤ3に対し、調整
点間の情報を検出することにより補正データＤ4が算出
され、高精度の外挿演算が可能となる。調整点間の演算
方法の手順としては、まず調整点上の補正データを求
め、調整点間に検出のためのテスト信号を順次移動させ
てずれ量を取り込み、この取り込みデータにより調整点
間の補正データを求める。本実施例で調整点間の検出と
演算が可能な理由は、図２７に示すように連続した斜め
インデックス蛍光体１１２を塗布して検出しているため
である。

【００６４】以上のように、テスト信号を調整点間に移
動させて調整点間の補正量を算出することにより、調整
点間の補正精度を向上させるとともに、特に画面外に存
在する外挿点の補正量を自動的に算出できるため、画面
周辺部での高精度の補正が実現できる。

【００６５】なお、第１〜第５の実施例において、理解
を容易にするためＣＲＴを用いた表示装置について述べ
てきたが、それ以外の表示装置についても有効であるこ
とは言うまでもない。また、第１〜第５の実施例におい
て、インデックス蛍光体を塗布するビーム遮蔽部の場所
としてシャドウマスク面に塗布する場合について述べて
きたが、それ以外のビーム遮蔽部で行ってもよく、ま
た、補正波形作成方法としてはデジタル的に行う場合に
ついて述べてきたが、アナログ的な処理で行ってもよ
い。

【００６６】また、第１の実施例において、斜めインデ
ックス蛍光体の形状は＼状としたが、それ以外の斜め形
状で行ってもよい。また、第２の実施例において、検出
面と表示面の位置ずれ量を補正するデータとしては予め
ＲＯＭの書き込んだ場合について述べたが、表示面であ
る蛍光面上での位置ずれ量からシャドウマスク面と蛍光
面との距離を算出して自動的に補正を行ってもよい。ま
た、第３の実施例において、位置検出手段として中心位
置を検出する場合について述べたが、信号の平均値や重
心位置を検出して行ってもよい。また、第４の実施例に
おいて、順次走査のテスト信号を発生する手段としてテ
スト信号発生を制御する場合について述べたが、偏向系
の走査などを制御して順次走査を行ってもよい。また、
第５の実施例において、判別信号により補正動作を制御
する場合について述べたが、信号系のレベルや時間計測
の条件設定などを行ってもよい。また、第６の実施例に
おいて、調整点間の演算は直線近似による演算を行う場
合について述べたが、それ以外の曲線近似などの演算を
行ってもよい。

【００６７】

【発明の効果】以上説明したように、第１の発明によれ
ば、シャドウマスクの表面上の所定位置に配列され、電
子ビームの主走査方向に斜め形状であり、前記電子ビー
ムの走査に応じて信号を発生する検出素子を備え、前記
検出素子の出力信号に基づき電子ビームの２次元の位置
を検出することにより、簡単な構成でインデックス蛍光
体が塗布された陰極線管が実現できる。また、検出素子
の形状が連続した斜め線のインデックス蛍光体を塗布す
ることにより、より一層の構造の簡素化が実現できると
ともに、各種のコンバーゼンス補正点数への対応が実現
できる。

【００６８】また第２の発明によれば、電子ビームのシ
ャドウマスク面よりの検出信号とシャドウマスク面と蛍
光面との距離とにより電子ビームの２次元的位置を求
め、偏向手段を制御して電子ビームの偏向歪を補正する
ことにより、表示面とインデックス蛍光体が設置された
検出面の位置ずれに基づく誤差を補正して、高精度の補
正が実現できる。また、検出手段が電子ビームの主走査
方向に斜めの形状とすることにより、陰極線管の構造の
簡素が実現できるとともに、各種のコンバーゼンス補正
点数への対応が実現できる。また、２次元的位置に算出
手段が蛍光面上での位置ずれ量からシャドウマスク面と
蛍光面との距離を算出することにより、完全な無調整化
が実現できる。

【００６９】また第３の発明によれば、電子ビームのシ
ャドウマスク面よりの検出信号と各信号幅により電子ビ
ームの２次元的中心位置を求め、この信号により電子ビ
ームの偏向歪を補正するすることにより、ビームスポッ
トサイズや収差による補正誤差を補正して、より高精度
の補正が実現できる。また、検出手段が電子ビームの主
走査方向に斜めの形状とすることにより、陰極線管の構
造の簡素が実現できるとともに、各種のコンバーゼンス
補正点数への対応が実現できる。

【００７０】また第４の発明によれば、検出手段上に順
次走査の検出用テスト信号を順次映出して２次元的位置
を求め、この信号により偏向手段を制御して電子ビーム
の偏向歪を補正することにより、安定で高精度の位置計
測が可能となるため、高精度の補正が実現できる。

【００７１】また第５の発明によれば、所定位置の位置
検出素子に対応した検出信号が出力されることを判断
し、この信号により偏向手段を制御して電子ビームの偏
向歪の補正動作を制御することにより、インデックス信
号に起因する検出系の異常動作の検出誤動作の自動検出
が可能となるため、完全無調整化が実現できる。

【００７２】また第６の発明によれば、テスト信号を調
整点間に移動させて調整点間の補正量を算出することに
より、調整点間の補正精度を向上させるとともに、特に
画面外に存在する外挿点の補正量を自動的に算出できる
ため、画面周辺部での高精度の補正が実現でき、その実
用的効果は大きい。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例における陰極線管制御装置の
構造図

【図２】同実施例の動作を説明するための画面図

【図３】同実施例の動作を説明するためのブロック図

【図４】同実施例の動作を説明するためのブロック図

【図５】同実施例の動作を説明するための画面と波形を
示す図

【図６】同実施例の構成を説明するための補正波形作成
部のブロック図

【図７】同実施例のコンバーゼンス補正の動作を説明す
るための画面図

【図８】同実施例のインデックス蛍光体の分光特性図

【図９】本発明の第２の実施例の陰極線管制御装置のブ
ロック図

【図１０】同実施例の動作を説明するための陰極線管の
構造図

【図１１】同実施例のミスコンバーゼンス発生原理を説
明するためのＣＲＴ構成図

【図１２】同実施例の動作を説明するための画面図

【図１３】同実施例の動作を説明するための画面と波形
を示す図

【図１４】従来例の動作を説明するための画面と波形を
示す図

【図１５】同実施例の動作を説明するための画面と波形
を示す図

【図１６】同実施例の動作を説明するための画面図

【図１７】同実施例の動作を説明するための補正波と補
正変化の関係を示す図

【図１８】本発明の第３の実施例の画像補正装置のブロ
ック図

【図１９】同実施例の動作を説明するための画面と波形
を示す図

【図２０】本発明の第４の実施例の画像補正装置のブロ
ック図

【図２１】同実施例の動作を説明するための画面と波形
を示す図

【図２２】本発明の第５の実施例の画像補正装置のブロ
ック図

【図２３】同実施例の動作を説明するための画面と波形
を示す図

【図２４】同実施例の動作を説明するための特性図

【図２５】本発明の第６の実施例の画像補正装置のブロ
ック図

【図２６】同実施例の動作を説明するための画面と補正
データを示す図

【図２７】同実施例の動作を説明するためのインデック
ス形状図

【図２８】従来例の陰極線管制御装置のブロック図

【図２９】従来例の動作を説明するための画面図

【符号の説明】

１電子銃２電子銃３電子銃４シャドウマスク面５蛍光面６インデックス蛍光体７連続したインデックス蛍光体１２検出部１３補正波形作成部１４偏向部１５信号処理部１９画面振幅・偏向歪補正回路２０コンバーゼンス補正回路２１光電変換素子２２時間−電圧変換器２３計測回路２６アドレス発生回路２７メモリ２８補間回路２９Ｄ／Ａ変換器３２Ａ／Ｄ変換器３３演算回路３４メモリ３５Ｄ／Ａ変換器３６位置ずれ補正回路３７サンプルホールド回路３８時間−電圧変換器４０陰極線管５７テスト信号発生回路７７位置ずれ補正回路８３中心位置検出回路９２信号切換回路９３順次走査テスト信号発生回路９４補正動作制御回路９５２値化回路９６判別回路９７演算回路１０１時間−電圧変換器１０２サンプルホールド回路１０３調整点間演算回路１０４テスト信号発生回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者谷口宏大阪府門真市大字門真1006番地松下電器産業株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】蛍光体の表示スクリーンと、前記表示ス
クリーンに向かう電子ビームを発生する電子銃と、前記
電子銃及び表示スクリーン間に配置されたビーム遮蔽部
と、前記ビーム遮蔽部の表面上の所定位置に配列され、
前記電子ビームの主走査方向に斜めの線状体を前記主走
査方向に形成した形状であり、前記電子ビームの走査に
応じて信号を発生する検出素子を備え、前記検出素子の
出力信号に基づき前記電子ビームの２次元の位置を検出
して、前記電子ビームを偏向するよう構成したことを特
徴とする陰極線管制御装置。
【請求項２】検出素子の形状が連続した斜め線で構成
されたことを特徴とする請求項１記載の陰極線管制御装
置。
【請求項３】電子ビームを発生する電子銃と、シャド
ウマスクの前記電子銃側の表面に配置され、前記電子銃
からの電子ビームに応答する位置検出素子を有するカラ
ー陰極線管と、前記カラー陰極線管の近傍又は内部に設
けられ、前記位置検出素子の応答を検出する検出手段
と、前記検出手段の検出信号とシャドウマスク面と蛍光
面との距離とにより電子ビームの２次元的位置を求め、
偏向を制御して電子ビームの偏向歪を補正する処理手段
とを備え、前記位置検出素子は前記陰極線管の全表示領
域に対応するシャドウマスクの領域に分布していること
を特徴とする陰極線管制御装置。
【請求項４】位置検出素子が電子ビームの主走査方向
に斜めの形状であることを特徴とする請求項３記載の陰
極線管制御装置。
【請求項５】電子ビームを発生する電子銃と、シャド
ウマスクの前記電子銃側の表面に配置され、前記電子銃
からの電子ビームに応答する位置検出素子を有するカラ
ー陰極線管と、前記カラー陰極線管の近傍又は内部に設
けられ、前記位置検出素子の応答を検出する検出手段
と、前記検出手段の検出信号の位置と信号幅により電子
ビームの２次元的中心位置を求め、偏向を制御して電子
ビームの偏向歪を補正する処理手段とを備え、前記位置
検出素子は、前記陰極線管の全表示領域に対応するシャ
ドウマスクの領域に分布していることを特徴とする陰極
線管制御装置。
【請求項６】位置検出素子が電子ビームの主走査方向
に斜めの形状であることを特徴とする請求項５記載の陰
極線管制御装置。
【請求項７】電子ビームを発生する電子銃と、シャド
ウマスクの前記電子銃側の表面に配置され、前記電子銃
からの電子ビームに応答する位置検出素子を有するカラ
ー陰極線管と、前記陰極線管の近傍又は内部に設けら
れ、前記位置検出素子の応答を検出する検出手段と、前
記検出手段上に順次走査の検出用テスト信号を順次映出
する映出手段と、前記検出信号により２次元的位置を求
め、偏向を制御して電子ビームの偏向歪を補正する処理
手段とを備え、前記位置検出素子は前記陰極線管の全表
示領域に対応するシャドウマスクの領域に分布している
ことを特徴とする陰極線管制御装置。
【請求項８】電子ビームを発生する電子銃と、シャド
ウマスクの前記電子銃側の表面に配置され、前記電子銃
からの電子ビームに応答する位置検出素子を有するカラ
ー陰極線管と、前記カラー陰極線管の近傍又は内部に設
けられ、前記位置検出素子の応答を検出する検出手段
と、前記検出手段からの所定位置の位置検出素子に対応
した検出信号が出力されることを判断する判断手段と、
前記検出信号により電子ビームの２次元的位置を求め、
前記判別信号により偏向を制御して電子ビームの偏向歪
の補正動作を制御する制御手段とを備えたことを特徴と
する陰極線管制御装置。
【請求項９】電子ビームを発生する電子銃と、シャド
ウマスクの前記電子銃側の表面に配置され、前記電子銃
からの電子ビームに応答する位置検出素子を有するカラ
ー陰極線管と、前記カラー陰極線管の近傍又は内部に複
数個設けられ、前記位置検出素子上に検出用テスト信号
を映出して応答を検出する検出手段と、前記検出信号に
より電子ビームの２次元的位置を求め、偏向を制御して
電子ビームの偏向歪の補正動作を制御する制御手段と、
前記テスト信号を調整点間に移動させて調整点間の補正
量を算出する算出手段を備えたことを特徴とする陰極線
管制御装置。
【請求項１０】算出手段が画面外に存在する外挿点の
補正量を算出することを特徴とする請求項９記載の陰極
線管制御装置。
【請求項１１】位置検出素子が電子ビームの主走査方
向に斜めの形状であることを特徴とする請求項９記載の
陰極線管制御装置。