KR0185238B1

KR0185238B1 - 음극선관제어장치

Info

Publication number: KR0185238B1
Application number: KR1019930002160A
Authority: KR
Inventors: 스스무 쯔지하라; 미쯔오 이소배; 히로요시 시모사카; 히로시 타니구찌
Original assignee: 다니이 아끼오; 마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤
Priority date: 1992-02-20
Filing date: 1993-02-17
Publication date: 1999-05-01
Also published as: EP0556839A2; DE69320216T2; KR930018641A; EP0556839B1; DE69320216D1; US5414330A; EP0556839A3

Abstract

본 발명의 음극선관제어장치는, 새도우마스크의 표면위의 소정위치에 배열되어, 전자빔의 주주사방향에 대해서(2)와의 경사진 인덱스 형광체(6)을 형성하고, 상기 전자빔의 주사에 따라서 방사출력을 발생해서, 상기 전자빔의 2차원의 위치를 검출하므로서, 간단한 구성으로 인덱스 형광체가 도포된 음극선관을 실현할 수 있다. 또, 연속된 경사선의 인덱스 형광체를 도포하므로서, 보다 한층 더 구조의 간소화를 실현할 수 있는 동시에, 각종의 컴버젠스보정점수에의 대응이 가능한 것을 특징으로 한다.

Description

음극선관제어장치

제1도는 본 발명의 일실시예에 있어서의 음극선관제어장치의 구조도.

제2도는 동실시예의 동작을 설명하기 위한 화면도.

제3도는 동실시예의 동작을 설명하기 위한 블록도.

제4도는 동실시예의 동작을 설명하기 위한 블록도.

제5도는 동실시예의 동작을 설명하기 위한 화면과 파형과의 관계를 표시한 도면.

제6도는 동실시예의 구성을 설명하기 위한 보정파형작성부의 블록도.

제7도는 동실시예의 컴버젠스보정의 동작을 설명하기 위한 화면도와 인덱스형광체의 형상도.

제8도는 동실시예의 인덱스 형광체의 분광특성도.

제9도는 본 발명의 제 2의 실시예의 음극선관제어장치의 블록도.

제10도는 동실시예의 동작을 설명하기 위한 음극선관의 구조도.

제11도는 동실시예의 미스컴버젠스발생원리를 설명하기 위한 CRT 구성도.

제12도는 동실시예의 동작을 설명하기 위한 화면도.

본 발명은, 컬러텔레비젼수상기를 보정하는 장치에 관한 것으로서, 각종의 보정을 자동적으로 행하는 음극선관제어장치에 관한 것이다.

일반적으로 3원색을 발광하는 3개의 투사관을 사용해서 스크린에 확대투사하는 비데오프로젝터에 있어서는, 투사관의 스크린에 대한 입사각(이하 집중각이라호칭)이 각 투사관에서 상위하기 때문에, 스크린상에서 색어긋남, 포커스 어긋남, 편향변형, 휘도변화가 생긴다. 이들 각종의 보정은, 수평 및 수직주사주기에 동기시켜서 애널로그적인 보정파형을 만들고, 이 파형의 크기, 형상을 바꾸어서 조정하는 방식을 취하고 있으나, 보정정밀도의 점에서 문제가 있다. 또 각종의 보정을 스크린상에서의 어긋남을 시각에 의해 관찰해서 수동으로 보정하기 때문에, 조정시간이 걸린다고 하는 문제가 있다. 그래서 콤버젠스 정밀도가 높은 방법으로서, 일본국 특공소 59-8114호 공보의 디지틀 컴버젠스장치가, 또 자동적으로 편향변형을 보정하는 방법으로서, 일본국 특개소 58-25042호 공보나 동특개소 58-24186호 공보의 음극선관제어장치(전자빔 편향제어장치)가 제안되어 있다.

제28도에 상기한 종래의 자동보정이 가능한 음극선관제어장치의 블록도와, 제29도에 인덱스면의 화면도를 표시한다. 제28도, 제29도에 표시한 바와 같이, 음극선관(40)의 새도우마스크(43)면에 도포된 인덱스 형광체(6)으로부터 전자빔위치를 검출기(60)에서 검출하고, 이 검출신호로부터 컴버젠스보정용이나 기하학적 변형보정용의 신호를 처리장치(66)에서 작성하고 있다. 처리장치(66)으로부터의 애널로그량을 평활하기위한 LPF(저역통과필터)(30)으로 구성되어 있다.

이와같이 계측회로(23)으로부터의 위치어긋남이 계측된 신호는, 보정파형작성부(13)에 공급되어, 각종의 보정파형이 작성된다.

이와같이, 위치어긋남량을 계측한 데이터로부터는, 콤버젠스나 편향변형, 회면진폭등을 제어하기 위한 보정파형이 작성된다.

또한, 본 실시예에서는 제5도(a)에 표시한 바와 같이 대표점만의 보정수단에 대해서 설명하였으나, 전체화면의 보정을 행하기 위해서는, 제2도에 표시한 인덱스 형광체(6)으로부터의 정보를 차례로 검출해서 행하므로써 다이나믹한 보정파형작성을 실현할 수 있다.

편향부(14)는, 화면진폭, 편향변형보정회로(19)와 컴버젠스 보정회로(20)으로 구성되어 있다. 이 편향부(14)에서는, 각색의 표시영역이 전체면에 걸쳐서 균일하게 위치하기 위한 편향직선성의 보정파형이나, 화면직폭의 보정데이터에 의해 편향보정이 행하여져 편향요크(46)의 편향코일을 구동하고 있다. 또 각색의 표시영역이 전체화면에 걸쳐서 동일하게 위치하기 위한 색어긋남의 보정파형이나 데이터에 의해 컴버젠스보정이 행하여져 컴버젠스 요크(44)를 구동하고 있다.

다음에, 검출수단에 대해서 상세히 설명하기 위한 제7도의 화면도를 사용한다. 제7도는 테스트신호의 비추어내기방법의 화면도를 표시한다. 제2도와 같이 새도우마스크면에 인덱스 형광체가 도포된 음극선관에 있어서, 제7도(a)에 수평방향의 위치어긋남을 검출하는 경우의 테스트신호를 제7도(b)에 수직방향의신호는 편향부(14)에 공급되어 있다. 제9도에 있어서 제 1의 실시예와 마찬가지의 동작을 행하는 것은 동일 번호로 표시하고 설명은 생략한다.

본 실시예의 음극선관제어장치를 상세히 설명하기 위하여, 제10도와 제11도의 구성도와 제12도의 화면도를 사용한다. 제10도에 검출면과 표시면과의 관계를 표시한 바와 같이, 형광체면(5)와 새도우 마스크면(4) 사이에는, 일반적으로, 거리가 존재하고 있고, 이거리는 검출∼표시면간거리(31)(CRT용어로 q)로 표시된다.

제11도에 겸출∼표시면간거리(q)31에 의한 미스컴버젠스발생의 원리도를 표시한다. RGB간에는 전자총의 메인렌즈간의 거리 L2 과 L3이 있으며, 메인렌즈로부터 새도우 마스크면(4)까지의 거리 L1과, 상기 설명한 검출면으로부터 표시면간거리q 가 존재하기 때문에, 형광체면(5)에서는 미스컴버젠스 x가 발생하게된다. 다음에, 실제적으로 음극선관사양을 대입해서 미스컴버젠스를 산출해본다.

L1=532㎜, L2=L3=7㎜, q=14㎜의 경우의 x를 산출해보면, 미스컴버젠스 x=약0.4㎜로되고, 하이비젼사양등의 고해상도 표시에서는 무시할 수 없는 값으로 된다. 제12도(a)의 미스컴버젠스의 어긋남량과 방향을 표시한 화면도에 표시한 바와 같이, 인라인형 CRT에서는, G신호를 중심으로해서 대상인 위치에 R신호와 B신호가 존재하게 된다. 따라서, 검출∼표시면간거리(31)의 검출오차를 보정하기 위한 보정데이터를 위치어긋남보정회로(36)에서 작성하고 있다. 이 보정데이터는 D/A변환기(35)에 공급되어 메모리(34)로부터의 집속을 위한 보정데이터를 가산해서 최종의 보정데이터를 작성하고, 이 보정데이터에 으로 변환하고 있다. 시간-전압변환기(22)에서는 상기 계측신호를 기초로 램프신호를 발생시키고, 이 전압치에 의해 시간축을 전압정보로 변환하고 있다. 제13도(c)의 계측신호일때는, 제13도(e)의 실선에 표시한 최대치전압 V5의 파형이, 또 제13도(d)의 계측신호일때는, 제13도(f)의 절선에 표시한 최대치 전압V6의 파형이, 시간-전압변환기(22)로부터 출력되어, 수직방향이 보정된다.

다음에, 수평방향의 위치어긋남을 계측하는 경우에 대해서 설명한다. 수평방향의 위치어긋남계측은, 인덴스 형광체(6)상에 제13도(b)의 종(從)테스트신호를 비추어내고, 이 테스트신호의 상승부분으로부터 제13도(g)의 상승부분까지의 시간계측을 행하여 계측한다. 따라서, 테스트신호 72(기준신호)에서는 제13도(g)의 계측파형이, 테스트신호 73(집속신호)에서는 제13도(h)의 계측신호를 얻게되고, 이 신호의 시간축을 전압으로 변환하고 있다. 시간-전압변환기(22)에서는 상기 계측신호를 기초로 램프신호를 발생시키고, 이 전압치에 의해 시간축을 전압정보로 변환하고 있다. 제 13 도(g)의 계측신호일때는, 제13도(i)의 실선으로 표시한 최대치전압V7파형이, 또 제 13 도(h)의 계측신호일때는, 제13도(j)의 절선에 표시한 최대치전압V8의 파형이, 시간-전압변환기(22)로부터 출력되어, 수평방향이 보정된다.

이상과 같이 각 방향의 위치어긋남량이 전압정보로 변환한 신호는, 샘플홀드회로(37)에 공급되어서, 각파형의 최대치전압의 타이밍에 의해서 샘플홀드된다. 따라서, 기준신호에서는 수직방향V5와 수평방향 V7과, 집속신호에서는 수직방향 내서 인덱스 신호를 검출하고, 이 검출신호와 보정모드에 의해 각방향의 검출을 행하고 있다. 최초에 종래방식에 대해서 상세히 설명한다.

제14도(a)에 화면상의 인덱스 형광체와 테스트신호의 화면도를 표시하고, 제 14도(b)에 기준으로되는 G 테스트신호를 수광하였을때의 인덱스 신호를, 제14도(c)에 집속시키는 R 테스트신호를 수광하였을때의 인덱스 신호를 표시한다. 테스트신호와 직각으로 교차하는 제 1의 인덱스 형광체로부터 제 1의 인덱스신호에 의해 수평방향의 보정량을 검출하고, 상기 제1의 인덱스 신호와 테스트신호와 경사지게 교차하는 제2의 인덱스 형광체로부터의 제2의 인덱스 신호에 의해 수직방향의 보정량을 검출하고 있다.

제14도(b)와 제14도(c)에 표시한 인덱스 신호에 있어서, 전반의 t1, t2가 수평방향, 후반의 t3, t4가 수직방향에 상당하고, 수평방향을 집속시키기 위하여 t1=t2가 되도록 R의 수평방향의 컴버젠스보정이, 수직방향을 집속시키기 위하여 t3=t4가 되도록 R의 수직방향의 컴버젠스보정을 행하고, 컴버젠스 보정이 행하여 진다. 따라서, 검출범위로서는 테스트신호의 상승부분으로부터 제2의 인덱스형광체의 끝까지의 검출범위가 필요하게 된다.

다음에 본 실시예에 대해서 상세히 설명한다.

제15도(a)에 화면상의 인덱스 형광체와 테스트신호의 화면도를 표시하고, 제 15도(b)에 기준이 되는 G 테스트신호를 수광하였을때의 인덱스 신호를, 제15도(c)에 집속시키는 R 테스트신호를 수광하였을 때의 인덱스신호를 표시한다. 2개의 경사진선에 교차되는 제1의 인덱스 형광체로부터의 제 1의 인덱스 신호와 제 2의 인덱스 형광체로부터의 제 2의 인덱스 신호로부터 수직방향의 보정량을 검출하고, 테스트신호와 경사진선에 교차하는 제 1 의 인덱스 형광체로부터의 제 1 의 인덱스신호에 의해 수평방향의 보정량을 검출하고 있다.

제14도(b)와 제14도(c)에 표시한 인덱스 신호에 있어서, 전반의 t1, t2가 수평방향, 수반의 t3, t4가 수직방향에 상당하고, 수평방향을 집속시키기 위하여 t1=t2가 되도록 R의 수평방향의 컴버젠스보정이, 수직방향을 집속시키기 위하여 t3=t4가 되도록 R의 수평방향의 컴버젠스보정을 행하고, 컴버젠스보정이 행하여 진다. 따라서, 검출범위로서는 경사진 인덱스형광체영역내의 검출번위가 필요하게 된다. 또 제15도(d),(e)에 각 방식의 각 검출영역의 범위와 중심위치를 표시한 도면을 표시하고, 제15 도(d)의 종래방식은 수평중심위치 H1과 수직중심위치V1은 대단히 떨어지고 있는데에 대해서, 제15도(e)의 본 방식은 수평중심위치 H2와 수직중심위치 V2가 대단히 가깝기 때문에 정밀도좋게 보정할 수 있다.

이상과 같이, 본 실시예에 의하면 종래방식에 비해 검출범위를 대단히 좁게 설정할 수 있는 동시에, 검출을 위한 중심위치가 대단히 가깝기 때문에, 고정밀도의 위치검출을 실현할 수 있다.

다음에, 인덱스 형광체의 형상을 연속된 경사진선에 설정하므로서, 용이하게 검출이나 보정영역을 설정할 수 있는 데에 대해서 설명하기 위하여, 제16도의 화면도를 사용한다. 제16도에 음극선관(40)의 새도우마스크면에 도포된 연속된 인덱스 형광체(7)상에 테스트신호를 비추어냈을때의 화면도를 표시한다. 제16도(a)에 미세한 해치신호인 테스트신호(38)을 비추어냈을때는, 조정점 및 검출점은 수평방향이 5점, 수직방향이 5점의 합계 25점의 보정점으로 된다. 검출 및 계측방법은 상기한 내용과 마찬가지이기 때문에 설명은 생략한다. 또 제16도(b)에 거칠은 해치로 테스트신호(39)를 비추어냈을때는, 조정점 및 검출점은 수평방향이 3점, 수직방향이 3점의 합계 9점의 보정점으로 된다. 이상과 같이 테스트신호의 발생타이밍을 변경하는 것만으로 보정점의 변경을 용이하게 행할 수 있다. 보정점의 위치를 알기쉽게 하기 위하여 테스트신호는 해치신호로 설명하였으나, 실제의 집속테스트신호로서는 횡바신호가 되는 것은 말할 필요도 없다.

다음에, 제16도(b)에 표시한 바와 같이, 화면중심축 상부와 주변부로부터의 검출신호를 기초로, 보정파형을 작성하는 방법에 대해서 설명하기 위하여, 제17도의 보정파와 그 보정변화의 화면상의 움직임의 관계를 표시한 도면을 사용한다. 제17도에 있어서, 예를 들면 (1)과 같은 보정파형을 Ⅳ(수직주사)주기의 수직톱니파로 하였을 경우, 이 보정파형을 수직컴버젠스코일에 가했을 때는, 수직방향의 진폭보정을 행하고, 수평컴버젠스코일에 가했을 때는, 종선의 직교보정을 행한다. 또 (4)와 같이 보정파를 1H(수평주사)주기의 수평파라볼라파로 하였을 경우, 이 보정파를 수직컴버젠스코일에 가하였을 때는, 횡선의 구부러짐보정을 행하고, 수평컴버젠스코일에 가했을때는 수평방향의 직선성보정을 행한다.

이와 같이, 보정파형은 기본적으로는 제17도에 표시한 바와같이, 파라볼라파형과 톱니파형으로 분류할 수 있다. 따라서, 제16도(b)에 표시한, 화면중심축 상부와 주변부로부터의 검출신호로부터, 어긋남량과 방향을 구해서 자동적인 컴버젠스나 기하학변형을 보정하기 위한 보정파형을 작성하고 있다.

이상과 같이 본 실시예에 의하면, 음극선관의 검출면인 새도우마스크면과 표시면인 형광체면과의 위치어긋남에 의거한 보정오차를 보정하므로서, 고정밀도의 컴버젠스나 기하학변형의 보정을 실현할 수 있다.

다음에, 본 발명의 제 3 의 실시예에 대해서 설명한다. 제18도 ∼ 제19도는 본 발명의 제 3의 실시예를 표시한 도면이다. 제 1 의 실시예의 구성과 상위한 것은, CRT의 새도우마스크면으로부터의 검출신호의 신호폭에 의거한 보정을 행하도록 한 점이다. 제18도에 있어서, (83)은 광전변환소자(21)로부터의 광전변환 신호의 신호폭을 검출하기 위하여, 신호폭의 중심위치를 검출하기 위한 중심위치 검출회로이며, 제18도에 있어서 제 2 의 실시예와 마찬가지의 동작을 행하는 것은 동일번호로 표시하고 설명은 생략한다.

본 실시예의 음극선관제어장치를 상세히 설명하기 위하여 제19도의 화면과 파형을 표한 도면을 사용한다. 제19도(a)의 화면도에 표시한 바와 같이 인덱스 형광체(6)에 테스트신호폭이 상위한 테스트신호(85)와 (86)이 영출되었을 경우, 광전변환소자(21)로부터의 광전변환신호는 제19도(b),(c)에 표시한 바와같이, 신호폭의 상위한 애널로그신호가 출력된다. 이 신호의 상승부분에서 신호의 2치화를 행하면, 제 19 도(d),(e)의 디지틀 신호를 얻을 수 있다. 이 2치화된 신호를 기초로 컨버젠스 집속을 행하면, 제19도(f)의 화면도에 표시한 바와같이, 테스트신호의 상승기간의 컴버젠스는 일치하나, 신호폭이 상위하기 때문에 미스컴버젠스(84)가 발생하게 된다.

따라서, 본 실시예에서는 인덱스 형광체를 항상 테스트신호에 대해서 경사지게 배치하므로서, 2종류의 테스트신호의 종바나 횡바신호에 의해서 신호폭을 검출해서, 신호의 중심위치를 검출하도록 하고, 있기 때문에, 테스트신호의 스포트특성이나 수차등에 의한 신호폭이 상위하는 경우에 있어서도, 고정밀도의 계측정밀도나 보정정밀도를 실현할 수 있게 된다. 제19도(b),(c)에 표시한 광전변환소자(21)로부터의 광정변환신호는 중심위치검출회로(83)에 공급되어, 애널로그신호의 신호폭의 중심위치를 검출하고, 제19도(g),(h)의 2치화된 디지틀 신호가 출력된다.

이 디지틀 신호를 시간-전압변환기(22)에 공급되어, 제19도(i),(j)에 표시한 바와 같은 기준신호와 비교하기 위한 게이트신호를 발생하고, 이 게이트신호기간에서 제19도(k)에 표시한 바와 같이 램프신호를 발생하고 있다.

시간-전압변환기(22)로부터의 램프신호는 샘플홀드회로(37)에 공급되어서, 최대치가 샘플홀드된다. 따라서, 제19도 (a)의 테스트신호(85)가 비추어나왔을때는 최대치전압 V10이, 테스트신호(86)이 비추어나왔을때는 최대치전압 V1이 출력된다. 이 최대치전압이 V10=V11이 되도록 테스트신호(86)의 컴버젠스보정을 행하므로서, 점이다. 제22도에 있어서, (95)는 광전변환소자(21)로부터의 애널로그의 광전변환 신호를 2치화의 디지틀신호로 변환하기 위한 2치화회로, (96)은 2치화회로(95)로부터의 신호에 의해 소정위치의 인덱스 신호가 검출되어 있는지를 판별하기 위한 판별회로, (97)은 판별회로(96)으로부터의 신호에 의거하여 보정동작을 제어하기 위한 연산회로이며, 제22도에 있어서 제 2 의 실시예와 마찬가지의 동작을 행하는 것은 동일번호로 표시하고 설명은 생략한다.

본 실시예의 음극선관제어장치를 상세히 설명하기 위한 제23도의 화면과 파형을 표시한 도면과 제24도의 휘도분포도를 사용한다. 제23도(a)에 음극선관(40)좌측끝의 5개 인덱스형광체상에 횡바신호를 비추어낸 화면을 표시하고, 좌측의 횡바신호를 비추어낼때는 수직방향 및 수평방향의 보정을 행할때의 동작모드이다.

제23도(a)좌측에 표시한 바와같이 예를 들면 수직방향을 보정하는 경우는, 광전변환소자(31)로부터의 광전변환신호를 2치화회로(95)에서 2치화한 2치화신호는, 제23도(c)에 표시한 바와같이 제23도(d)의 수평동기신호에 동기해서 5개의 펄스신호로 된다. 또 제23도(a)우측에 표시한 바와 같이 수평방향을 보정하는 경우도 마찬가지로, 광전변환소자(31)로부터의 광전변환신호를 2치화회로(95)에서 2치화한 2치화신호는, 제23도(d)에 표시한 바와 같이 제 23도(b)의 수평동기신호에 동기해서 5개의 펄스신호로 된다.

이 2치화회로(95)로부터의 2치화신호는 판별회로(96)에 공급되어서, 항상 수직동기신호에 동기해서 5개의 펄스신호를 출력시키고 있는지를 판별하고 있다.

판별회로(96)의 구성으로서는, 예를들면 플립플롭회로로 구성되어 있으며, 제 23도(d),(e),(f)에 표시한 바와같이 1정분주결과가 항상 일정하게 되는 판별방법으로 행하여지고 있다. 판별회로(96)으로부터의 판별신호는 2치화회로(95)에 귀환되어서 기준전위를 제어하는 동시에, 연산회로(97)에 공급되어서 보정동작이 제어되고 있다. 일반적으로 음극선관의 휘도분포는 제24도에 표시한 바와같이, 지자기나 편향각도에 의해 주변의 휘도가 저하하고 있다. 따라서, 검출위치나 음극선관의 휘도드리프트에 의해서, 2치화가 정상적으로 행하여지지않게 된다. 따라서, 판별회로(96)으로부터의 판별신호에 의거하여 정규의 인덱스 신호가 출력되지 않는 경우는, 보정파형작성부(13)의 동작을 정지시키고 있다. 또, 비교기로 구성되어 있는 2치화회로(95)의 기준전위를 제어해서 정규의 인덱스 신호가 출력되도록 하고 있다.

이상과 같이, 소정위치의 위치검출소자에 대응한 검출신호가 출력되는 것을 판단하고, 이 신호에 의해 편향수단을 제어해서 전자빔의 편향변형의 보정동작을 제어하므로서, 인덱스 신호에 기인하는 검출계의 이상동작의 검출오동작의 자동검출이 가능하게 되기 때문에, 완전 무조정화를 실현할 수 있다.

다음에, 본 발명의 제 6 의 실시예에 대해서 설명한 다. 제25도 ∼ 제27도는 본발명의 제 6의 실시예를 표시하고 있다. 제 1 의 실시예의 구성과 상위한 것은, 테스트신호를 조정점간에 이동시켜서 조정점간의 보정량을 산출하도록 한점이다.

제25도에 있어서, (101)은 인덱스 신호의 위치어긋남인 시간축을 전압정보로 변환 하기위한 시간-전압변환기, (102)는 상기 시간-전압변환된 변환신호의 최대치를 샘플홀드하기 위한 샘플홀드회로, (103)은 조정간의 보정데이터를 연상에 의해 구하기 위한 조정점간 연산회로, (104)는 화면상의 테스트신호를 발생시키기위한 테스트신호발생회로이며, 제25도에 있어서 제 2 의 실시예와 마찬가지의 동작을 행하는 것은 동일번호로 표시하고 설명은 생략한다.

본 실시예의 음극선관제어장치를 상세히 설명하기 위하여 제26도의 화면과 파형을 표시한 도면과 제27도의 인덱스 형상도면을 사용한다. 조정점간의 연산으로서는 화면내의 연산은 비교적 간단하게 행할 수 있기 때문에, 여기서는 화면외의 외삽연산을 행하는 경우에 대해서 설명한다. 설명을 쉽게 이해할 수 있게하기 위하여, 다음의 경사선으로 구성된 경우를 설명한다. 제26도(a)에 음극선관(40)의 경사진인덱스형광체(7)상에 테스트신호(105)가 영출된 화면을 표시하고, 제26도(b)에 화면좌단부의 확대도를 표시한다. 제26도(a)에 표시한 화면밖의 조정점인 외삽점(110)은, 화면안의 조정점(109),(111),(112)의 보정데이터로부터 연산에 의해 구하게 된다. 제26도(c),(d)에 화면위치에 대한 보정데이터도면을 표시한다. 제26도 (c),(d)에 표시한 바와 같이, 외삽점(110)의 보정데이터는 수평수직방향은, 예를 들면 직선근사(近似)등의 외삽연상에 의해 구해지고 있다.

제25도의 테스트신호발생회로(104)로부터는, 제26도(b)의 절선에 표시한 바와 같은 조정점간의 테스트신호(106),(107),(108)이 발생되고, 조정점간의 어긋남량을 시간-전압변환기(101)과 샘플홀드회로(102)에서 계측된다. 제26도(c),(d)의

Claims

형광체의 표시스크린과, 상기 표시스크린으로 향하는 전자빔을 발생하는 전자총과, 상기 전자총 및 표시스크린 사이에 배치된 빔차폐부와, 상기 빔차폐부의 표면위의 소정위치에 배열되고, 상기 전자빔의 주주사방향에 2개의 경사진 선형상체를 형성한 형상이며, 상기 전자빔의 주사에 따라서 신호를 발생하는 검출소자를 구비하고, 상기 검출소자의 출력신호에 의거하여 상기 전자빔의 2차원의 위치를 검출해서, 상기 전자빔을 편향하도록 구성한 것을 특징으로 하는 음극선관제어장치.
제1항에 있어서, 검출소자의 형상이 연속된 경사선으로 구성된 것을 특징으로 하는 음극선관제어장치.
전자빔을 발생하는 전자총과, 새도우마스크의 상기 전자총쪽의 표면에 배치되고, 상기 전자총으로부터의 전자빔에 응답하는 위치검출소자를 가진 컬러음극선관과, 상기 컬러음극선관의 근방 또는 내부에 형성되고, 상기 위치검출소자의 응답을 검출하는 검출수단과, 상기 검출수단의 검출신호와 새도우마스크면과 형광면과의 거리에 의해 전자빔의 2차원적 위치를 구하고, 편향을 제어해서 전자빔의 편향변형을 보정하는 처리수단을 구비하고, 상기 위치검출소자는 상기 음극선관의 전체표시영역에 대응하는 새도우마스크의 영역에 분포하고 있는 것을 특징으로 하는 음극선관제어장치.
제3항에 있어서, 위치검출소자가 전자빔의 주주사방향에 2개의 경사진 형상인 것을 특징으로 하는 음극선관제어장치.