JPH0818986A - 自動コンバーゼンス装置 - Google Patents

自動コンバーゼンス装置

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Publication number
JPH0818986A
JPH0818986A JP17604994A JP17604994A JPH0818986A JP H0818986 A JPH0818986 A JP H0818986A JP 17604994 A JP17604994 A JP 17604994A JP 17604994 A JP17604994 A JP 17604994A JP H0818986 A JPH0818986 A JP H0818986A
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JP
Japan
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field
convergence
correction data
correction
test signal
Prior art date
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Application number
JP17604994A
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English (en)
Inventor
Tomohisa Tagami
知久 田上
Masayuki Akihisa
正之 秋久
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 カラーテレビジョン受像機のコンバーゼンス
補正を自動的にするに際し、補正点間の垂直補間演算が
高精度に行えるようにすること。 【構成】 同期信号よりインターレース方式を検出する
インターレース方式検出部1と、フィールド判別を行う
フィールド判別部2とを設ける。テスト信号発生部3は
同期信号とフィールド判別結果よりテスト信号を発生
し、映出部4に設けたインデックス蛍光体12を発光さ
せる。検出部5は映出部4に映出されたテスト信号より
コンバーゼンスのずれを検出する。制御部6は検出部5
からの検出結果、フィールド判別結果及びインターレー
ス方式によりコンバーゼンス補正データを制御する。こ
うすると補正点間の垂直データ補間を高精度に行うこと
ができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はカラーテレビジョン受像
機において、コンバーゼンス補正を自動的に行う自動コ
ンバーゼンス装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に3原色である緑、青、赤(以下、
G,B,Rと表記する)を発光させる3本の電子銃を用
いて画像を映出する陰極線管(CRT)式受像機におい
て、電子銃からの電子ビームが周辺磁界により乱され、
シャドウマスク上での色ずれ、フォーカスずれ、偏向
歪、輝度変化が生じる。これらの画像劣化に対する各種
の補正を行うには、水平及び垂直走査周期に同期させて
アナログ的な補正波形をつくり、この波形の振幅、形状
を変化させて各種の歪みを調整する方式をとっている
が、補正精度の点で問題がある。また、これらの各種の
補正は、CRTのスクリーン上でのずれを目視により観
察して手動で補正するため、調整時間がかかるという問
題もある。そこで自動的に偏向歪を補正する方法として
特開昭58ー24186号公報に開示されているように
電子ビーム偏向制御装置が提案されている。
【0003】図10は映出部としてCRTを用いたカラ
ーテレビジョン受像機(以下、テレビという)におい
て、自動補正が可能な従来の画像補正装置の構成を示す
ブロック図である。CRT30のシャドウマスク面31
にインデックス蛍光体32を塗布し、インデックス蛍光
体32に出射された電子ビームの位置を検出器33で検
出できるようにしている。そして処理装置34は検出器
33の検出信号から、コンバーゼンス補正用や幾何学的
歪補正用の信号を作成する。処理装置34からの信号は
波形発生装置35に供給されて、入力端36から入力さ
れる映像の同期信号に同期して各走査波形を発生し、C
RT30のコンバーゼンスヨーク37や偏向ヨーク38
を駆動する。こうすると入力端39に供給された映像信
号は、自動的にコンバーゼンスや幾何学的歪が補正され
て、CRT30に画像が表示される。以上のように、コ
ンバーゼンスや幾何学歪等の補正のための電子ビームの
位置制御を行うことにより自動的に補正することができ
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら前記のよ
うな構成では、インターレース又はノンインターレース
等の走査方式、第1フィールド又は第2フィールド等の
フィールドに応じた調整を行なっていなかった。このた
め各種の走査方式の映像信号が入力されるマルチスキャ
ンテレビなどでは、特にインターレース走査方式の時に
第1フィールドと第2フィールドでは走査線の位置が垂
直方向にずれ、正確にコンバーゼンスずれ量を検出でき
ず、精度の低下及び収束までの時間の増大を招いてい
た。また補正波形の生成に、どちらかのフィールドのみ
のデータを使用するため、垂直方向の補正点間の補間結
果が必要な補正量と合わないといった問題があった。
【0005】本発明はこのような従来の問題点に鑑みて
なされたものであって、走査方式を検出すると共に、フ
ィールドの種別を判別してその結果に応じてコンバーゼ
ンス調整を行うことができる高精度な自動コンバーゼン
ス装置を実現することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本願の請求項1の発明
は、映像の同期信号より走査方式がインターレース方式
であることを検出するインターレース方式検出部と、同
期信号より奇数フィールド又は偶数フィールドかのフィ
ールド判別を行うフィールド判別部と、同期信号とフィ
ールド判別部のフィールド判別結果より、コンバーゼン
スずれを検出するためのテスト信号を発生するテスト信
号発生部と、テスト信号発生部のテスト信号をインデッ
クス蛍光体にテストパターンとして映出する映出部と、
映出部に映出されたテストパターンよりコンバーゼンス
のずれを検出する検出部と、検出部の検出結果、インタ
ーレース方式検出部の検出結果及びフィールド判別部の
フィールド判別結果より、コンバーゼンス補正データを
演算処理すると共に、補正信号を映出部に与える制御部
と、制御部から得られた補正データからコンバーゼンス
補正の垂直補間演算を行う垂直補間演算部と、を具備す
ることを特徴とするものである。
【0007】本願の請求項6の発明は、映像の同期信号
より走査方式がノンインターレース方式であることを検
出するノンインターレース方式検出部と、同期信号より
1フィールド毎に奇数フィールドと偶数フィールドとに
区分するフィールド決定部と、同期信号とフィールド決
定部のフィールド決定結果より、コンバーゼンスずれを
検出するためのテスト信号を発生するテスト信号発生部
と、テスト信号発生部のテスト信号をインデックス蛍光
体にテストパターンとして映出する映出部と、映出部に
映出されたテストパターンよりコンバーゼンスのずれを
検出する検出部と、検出部の検出結果、ノンインターレ
ース方式検出部の検出結果及びフィールド決定部のフィ
ールド決定結果より、コンバーゼンス補正データを演算
処理すると共に、補正信号を映出部に与える制御部と、
制御部から得られた補正データからコンバーゼンス補正
の垂直補間演算を行う垂直補間演算部と、を具備するこ
とを特徴とするものである。
【0008】
【作用】このような特徴を有する本願の請求項1〜5の
発明によれば、同期信号がインターレース方式検出部及
びフィールド判別部に供給され、インターレース方式検
出信号及びフィールド判別信号が検出される。フィール
ド判別信号がテスト信号発生部に供給されると、偶数フ
ィールド及び奇数フィールドで夫々異なるテスト信号が
生成され、インデックス蛍光体にテストパターンが表示
される。このとき偶数フィールド、奇数フィールドで略
同一位置にテストパターンを発生し、制御部は偶数フィ
ールドの補正データと奇数フィールドの補正データとで
平均値及び差分値を演算し、メモリに記憶する。垂直補
間演算部では、こうして求めた補正点の補正データとそ
の垂直方向の差分補正データを用いて補正データの垂直
補間を行うことにより、簡単に精度の良い垂直データ補
間ができる。
【0009】また本願の請求項6〜10の発明によれ
ば、同期信号がノンインターレース方式検出部及びフィ
ールド決定部に供給され、ノンインターレース方式検出
信号及びフィールド決定信号が検出される。フィールド
決定結果がテスト信号発生部に供給されると、偶数フィ
ールド及び奇数フィールドで夫々異なるテスト信号が生
成され、インデックス蛍光体にテストパターンが表示さ
れる。このとき奇数フィールドと偶数フィールドでのテ
スト信号の発生タイミングを1走査線分ずらして補正デ
ータを得る。そして制御部は、偶数フィールドの補正デ
ータと奇数フィールドの補正データとで平均値及び差分
値を演算し、メモリに記憶する。垂直補間演算部では、
こうして求めた補正点の補正データとその垂直方向の差
分補正データを用いて補正データの垂直補間を行うこと
により、簡単に精度の良い垂直データ補間ができる。
【0010】
【実施例】本発明の第1実施例における自動コンバーゼ
ンス装置について図面を参照しつつ説明する。図1は第
1実施例の自動コンバーゼンス装置の全体構成を示すブ
ロック図である。本図において、入力端の偏向同期信号
Sdは映像の水平同期信号Sh及び垂直同期信号Svと
する。インターレース方式検出部1は偏向同期信号Sd
よりインターレース方式を検出する回路である。またフ
ィールド判別部2は偏向同期信号Sdより奇数フィール
ド(第1フィールド)か偶数フィールド(第2フィール
ド)かを判別する回路である。テスト信号発生部3はフ
ィールド判別部2の判別結果と偏向同期信号Sdによ
り、偏向同期信号Sdに同期したテスト信号を発生する
回路である。
【0011】映出部4はカソードに映像信号を入力し、
映像を表示するCRTであり、テスト信号発生部3から
のテスト信号も映出する。映出部4の電子銃及びネック
部にコンバーゼンスヨーク4aと偏向ヨーク4bとが取
付けられている。検出部5は映出部4のコンバーゼンス
ずれ量を検出するブロックである。制御部6はインター
レース方式判別部1の判別結果とフィールド判別部2の
判別結果及び検出部5の検出結果に応じてコンバーゼン
ス補正をする回路である。垂直補間演算部7は制御部6
のデータに基づいて補正波形の垂直データを走査線毎に
補間する回路である。
【0012】このように構成された第1実施例の自動コ
ンバーゼンス装置の動作を図1のみを用いて説明する。
インターレース方式検出部1では入力された偏向同期信
号Sdがインターレース走査方式であるか否かを水平同
期信号Sh、垂直同期信号Svの位相関係によって検出
し、この結果を制御部6に出力する。また、偏向同期信
号Sdはフィールド判別部2にも供給され、現在のフィ
ールドが奇数フィールドか偶数フィールドかを判別し、
この結果をテスト信号発生部3及び制御部6に出力す
る。テスト信号発生部3にも偏向同期信号Sdが供給さ
れており、コンバーゼンスの調整時にはフィールド判別
結果に応じて偏向同期信号Sdに同期したテスト信号を
発生し、映出部4に出力する。
【0013】映出部4ではこの中のビーム遮蔽部(シャ
ドウマスク)の電子銃側に塗膜されたインデックス蛍光
体12上にテスト信号を映出し、インデックス蛍光体1
2の発光タイミングより検出部5でコンバーゼンスずれ
量を検出する。なおインデックス蛍光体12の発光は映
出部4のファンネル部に透明窓を設け、この透明窓に入
射される光を光電素子で検出するものとする。
【0014】制御部6では検出部5で検出されたコンバ
ーゼンスずれが無くなるよう補正信号を作成し、その信
号を増幅してコンバーゼンスヨーク4aに印加する。こ
のとき、インターレース方式検出結果及びフィールド判
別結果が制御部6に供給されており、制御部6では奇数
フィールドの画像と偶数フィールドの画像を補正するた
め、奇数フィールドのテスト信号と、偶数フィールドの
テスト信号の印加により、2種類の補正データの平均と
差分を求め、その値を記憶する。垂直補間演算部7では
これらの補正データの平均と差分から、補正点間の垂直
補間演算処理を行う。調整終了時にはこの補間演算処理
した補正データをコンバーゼンス補正データとする。
【0015】次に第1実施例の自動コンバーゼンス装置
の各部の動作について図2〜図5を参照しつつ説明す
る。図2はインターレース方式検出部1の構成を示すブ
ロック図である。本図において、カウンタ8は水平偏向
同期信号Shをクロック信号とし、リセット端子に垂直
偏向同期信号Svが入力されるカウンタである。第1の
Dフリップ・フロップ(D−FF)9はカウンタ8のL
SB出力をD入力端に入力し、垂直偏向同期信号Svの
タイミングで記憶する回路であり、1垂直走査期間内の
水平走査線数のパルスを得るものである。第2のD−F
F10はD−FF9の出力パルスがD入力端に与えら
れ、垂直偏向同期信号Svのタイミングで記憶する回路
であり、1垂直偏向期間だけ前のカウンタ出力(D−F
F9の出力)を保持する回路である。そして減算器11
はD−FF9の出力とD−FF10の出力との差を演算
する回路である。
【0016】このように構成されたインターレース方式
検出部1の動作を図3のタイミングチャートを用いて説
明する。図3における映像信号は一例としてNTSC規
格のものとする。まず図2のカウンタ8のクロック入力
端には図3(a)に示すように1〜525の水平偏向同
期信号Shが夫々入力される。そしてカウンタ8のリセ
ット入力端には図3(b)に示す垂直偏向同期信号Sv
が入力される。図3(c)に示すように、カウンタ8は
1垂直走査期間内(1V)の水平走査線数をカウント
し、垂直偏向同期信号Svでリセットされ、Q出力が0
に戻るという動作を繰り返す。
【0017】このカウンタ8の出力値は水平走査線数に
よって異なるが、NTSCでは9ビットの信号になる。
この場合D−FF9はこのLSBパルスを入力すると、
Q出力として図3(d)に示す信号を発生する。次にD
−FF10はD−FF9のQ出力がD入力端に与えられ
ると、Q出力として図3(e)に示すようなパルスを発
生する。よってD−FF10の出力はD−FF9の出力
に比べ、1垂直偏向走査期間前の信号が出力される。次
に減算器11はD−FF9とD−FF10の各Q出力の
差分値を演算する。
【0018】ここで入力される偏向同期信号SdがNT
SC方式のものだとすると、奇数フィールドで計数され
た水平走査線数と、その1フィールド前に当たる偶数フ
ィールドで計数された水平走査線数とはいつも反対の値
となる。このため減算器11の出力は常に「1」とな
る。NTSC方式ではインターレース走査をしているた
め「1」が生じる。インターレース方式検出部1ではこ
の出力「1」をインターレース走査の検出信号として利
用する。
【0019】さて、図1のフィールド判別部2はフィー
ルドが奇数フィールドか偶数フィールドかを判別する。
この判別は方法は図2に示すインターレース方式検出部
1のD−FF10のQ出力から検出することができ、奇
数フィールドでは「1」、偶数フィールドでは「0」と
なる。従ってフィールド判別部2は図2に示すカウンタ
8、D−FF9,10と同一の回路としてもよく、又図
2の回路をインターレース方式検出部1とフィールド判
別部2の共用の回路としてもよい。
【0020】図1のテスト信号発生部3はインターレー
ス検出結果及びフィールド判別結果に応じて、偏向同期
信号Sdに同期してテスト信号を発生する。図4はイン
デックス蛍光体12の構成と検出部5の動作原理の説明
図である。また図5は制御部6の内部構成を示すブロッ
ク図である。いまインターレース方式検出部1の出力が
「1」なら、テスト信号発生部3のテスト信号は、映出
部4のビーム遮蔽部に設置されたインデックス蛍光体1
2に図4のように映出される。図4において走査ライン
13はR,G,Bの電子銃に夫々印加して奇数(od
d)フィールドを走査するテスト信号の発光軌跡(テス
トパターン)であり、走査ライン14は各R,G,Bの
電子銃に夫々印加して偶数(even)フィールドを走
査するテスト信号の発光軌跡(テストパターン)であ
る。インターレース走査の場合は、走査ライン13と走
査ライン14は1走査線分ずれて出される。
【0021】これらの走査ラインはインターレース走査
によって生じるので、奇数フィールドと偶数フィールド
では水平方向及び垂直方向に映出位置が変わってしま
い、インデックス蛍光体12を発光させるタイミングが
ずれる。この左右のインデックス蛍光体12の発光時間
間隔を検出部5で測定し、コンバーゼンス補正に利用す
る。図4においてtHO、tHEは水平方向のビーム位置を
示す時間であり、三色のビームのtHO、tHEの時間差、
及びtVO、tVEの時間差がコンバーゼンスずれ量に相当
する。また、tVO、tVEは垂直方向のビーム位置を示す
時間であり、水平方向と同様にこの時間差は垂直方向の
コンバーゼンスずれ量に相当する。
【0022】また、制御部6ではインターレース方式検
出部1及びフィールド判別部2の判別結果に基づき、奇
数フィールド及び偶数フィールド別にコンバーゼンス補
正を行う。図5に示す制御部6はCPU15、データ演
算部16、メモリ17、補正データ発生部18により構
成される。データ演算部16は補正データを演算する回
路である。メモリ17は補正データを記憶するメモリで
ある。補正データ発生部18は映出部4へ補正データを
供給する回路である。CPU15はデータ演算部16、
メモリ17、補正データ発生部18を制御すると共に、
図1の垂直補間演算部7を制御する回路である。
【0023】このように構成された制御部6の動作につ
いて説明する。CPU15はインターレース方式検出結
果とフィールド判別結果とが入力されると、検出部5か
らの検出結果よりコンバーゼンスのずれ量をなくすよ
う、補正データの発生を制御する。そしてこの補正は偶
数フィールドと奇数フィールドとで夫々別々に行われ
る。このように別々に補正されたデータはデータ演算部
16に与えられ、奇数フィールドの補正データと偶数フ
ィールドでの補正データとの平均と差分値が演算され
る。そしてこれらの値はメモリ17に記憶される。
【0024】図1の垂直補間演算部7ではメモリ17に
記憶されたこれらの平均値データと差分データに基づい
て垂直方向のデータ補間演算を行う。ここで垂直補間演
算の1例について説明する。いま走査線10本ごとに補
正点を設けてコンバーゼンス補正をした結果、図6に示
したような補正データが得られたとする。このときデー
タ演算部16は図6の右側に示すような平均補正データ
及び差分補正データも出力する。これらの補正データは
時間tHO,tHE、又は時間tVO,tVEに対応するもの
で、R,G,Bのコンバーゼンスを水平方向及び垂直方
向に補正するための数値例とする。
【0025】走査線の番号をxとし、走査線xにおける
補正データの値をyとすると、これらのデータを基に垂
直補間演算部7では、次式で示すような例えば3次関数
で近似することができる。 y=0.108 x3 −2.144 x2 +9.964 x+95.072
【0026】この3次関数を基に補正点間の補正データ
を補間した結果を図7の点Aに示す。また、従来のよう
に補正点での補正データのみから、直線補間法によって
補間演算した結果も図7の点Bに示す。このように本実
施例による補正データ作成方法として、例えば走査線
1、11における平均補正データでP点、Q点の座標を
決定し、差分補正データからP点、Q点におけるグラフ
の勾配を決定することにより、P点、Q点を通る関数を
決定できる。こうすると上記の3次関数の4つの係数が
求まり3次関数が得られるため、P点,Q点間の直線補
間に比べて、補正点間に極がある場合にも対応でき、高
精度な補正が実現できる。
【0027】以上のように第1実施例によれば、インタ
ーレース方式を検出すると共にフィールドを判別し、偶
数フィールドの補正データと奇数フィールドの補正デー
タを別々に調整する。そしてこれらのデータの平均及び
差分を用いて垂直補間を行うことにより、より高精度な
コンバーゼンス補正を安定してかつ自動的に行うことが
できる。
【0028】つぎに本発明の第2実施例における自動コ
ンバーゼンス装置について、図8、図9を参照しつつ説
明する。図8は第2実施例の自動コンバーゼンス装置の
全体構成を示すブロック図であり、第1実施例と同一部
分は同一の符号を付し説明を省略する。図8に示すよう
に偏向同期信号Sdはノンインタレース方式検出部1
9、フィールド決定部20、テスト信号発生部21に与
えられる。ノンインタレース方式検出部19は偏向同期
信号Sdよりノンインターレース方式を検出する回路で
ある。元来ノンインターレース走査では奇数フィールド
と偶数フィールドの区別はないが、ここではフィールド
決定部20は偏向同期信号Sdより奇数フィールドか偶
数フィールドかを区別しておく回路である。テスト信号
発生部21はフィールド決定部21の決定結果により偏
向同期信号Sdに同期したテスト信号を発生する回路で
ある。これらの回路以外に、第1実施例と同一の機能を
有する検出部5、制御部6、垂直補間演出部7が、映出
部4に対して設けられている。
【0029】このように構成された第2実施例の自動コ
ンバーゼンス装置の動作について説明する。ノンインタ
ーレース方式検出部19では、入力された偏向同期信号
Sdがノンインターレース走査方式であるか否かを、水
平同期信号、垂直同期信号の位相関係によって検出し、
この結果を制御部6に出力する。偏向同期信号Sdはフ
ィールド決定部20にも供給され、現在のフィールドが
奇数フィールドか偶数フィールドかが判別される。この
結果はテスト信号発生部21及び制御部6に出力され
る。テスト信号発生部21にも偏向同期信号Sdが供給
されており、調整時にはフィールド決定結果に応じて偏
向同期信号Sdに同期したテスト信号を発生し、映出部
4に出力する。
【0030】テスト信号発生部21では偶数フィールド
の信号を、奇数フィールドの信号に比べ1水平走査線分
遅れて出力するようにしている。図4に示すように、映
出部4ではこの中のビーム遮蔽部に設置されたインデッ
クス蛍光体12上にテスト信号を映出する。図8の検出
部5はインデックス蛍光体12の発光タイミングよりコ
ンバーゼンスずれ量を検出する。制御部6では検出部5
で検出されたコンバーゼンスずれがなくなるよう映出部
4を制御する。このとき、ノンインターレース方式検出
部19の検出結果及びフィールド決定結果が制御部6に
供給されており、制御部6では奇数フィールドの画像と
偶数フィールドの画像を別々に補正し、これらの2種類
の補正データの平均と差分を求めて記憶する。垂直補間
演算部7ではこの補正データの平均と差分から、補正点
間の垂直補間演算処理を行う。そして調整終了時にはこ
の補間演算処理した補正データを読み出し、コンバーゼ
ンス補正データとする。
【0031】次に第2実施例の自動コンバーゼンス調整
装置の各部を詳細に説明する。ノンインターレース方式
検出部19は、例えば第1実施例の図2と同様に構成さ
れ、偏向同期信号Sdが供給される。この場合に第1実
施例と違う点はノンインターレース方式であるため、図
2の減算器11の出力が「0」のときにノンインターレ
ースであると検出されることである。これは、ノンイン
ターレース方式ではフィールド毎の水平走査線数の差が
ないため、D−FF9の出力とD−FF10の出力が全
てのフィールドで同じであるためである。このようにノ
ンインターレース方式検出部19は走査方式がノンイン
ターレース走査方式であることを判別する。
【0032】つぎに図8のフィールド決定部20はフィ
ールド毎に奇数フィールドか偶数フィールドかを任意に
決定する。例えば図9に示すようにD−FF22のクロ
ック入力端に垂直偏向同期信号Svを供給することによ
り、Q出力を用いて奇数フィールドか偶数フィールドか
を任意に決定することができる。テスト信号発生部21
はフィールド判別結果に応じて偏向同期信号Sdに同期
してテスト信号を発生する。このとき偶数フィールドと
決定されたテスト信号は、奇数フィールドに比べて水平
走査線1本分遅れて映出する。これによりテスト信号は
第1実施例と同様に映出部4のインデックス蛍光体12
に映出される。
【0033】また、制御部6ではノンインターレース方
式検出部19の検出結果及びフィールド決定部20の決
定結果に基づき、奇数フィールド及び偶数フィールドそ
れぞれ別々にコンバーゼンス補正を行う。以下第1実施
例と同様に偶数フィールドと奇数フィールドの映出位置
は、テスト信号発生部21で1水平走査線分ずらせてい
るので同じように平均値と差分が求められる。垂直補間
演算部7ではこれらの平均値データと差分データに基づ
いて垂直方向のデータ補間演算を行う。このような垂直
方向のデータ補間演算の結果は、水平及び垂直両方向の
コンバーゼンス補正に利用される。
【0034】以上のように第2実施例によれば、ノンイ
ンターレース方式を検出し、フィールド毎に奇数フィー
ルドか偶数フィールドかを決定する。そして偶数フィー
ルドの補正データと奇数フィールドの補正データを別々
に調整し、これらのデータの平均及び差分を用いて垂直
補間を行うことにより、より高精度なコンバーゼンス補
正を安定して自動的に行うことができる。なお、第1及
び第2施例を組み合わせて、補正を実施しても良いこと
はいうまでもない
【0035】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、自動コン
バーゼンス補正装置において、補正点間の垂直データ補
間を高精度に行うことができるので、コンバーゼンス補
正効果が向上する。特に映像信号の走査方式が変化する
マルチスキャン型の映出部に、本発明の自動コンバーゼ
ンス補正装置に用いると、インターレース走査かノンイ
ンターレース走査かが判別され、インターレース走査で
あれば、奇数フィールドか偶数フィールドかが識別さ
れ、コンバーゼンスの補正精度が一層向上する効果が得
られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例における自動コンバーゼン
ス装置の全体構成を示すブロック図である。
【図2】第1実施例におけるインターレース方式検出部
のブロック図である。
【図3】第1実施例のインターレース方式検出部の動作
を示す信号タイミング図である。
【図4】第1実施例のテスト信号とインデックス蛍光体
の関係を示した説明図である。
【図5】第1実施例の制御部の構成を示すブロック図で
ある。
【図6】第1実施例の制御部で処理される補正データの
説明図である。
【図7】補正データの補間方法を示す説明図である。
【図8】本発明の第2実施例における自動コンバーゼン
ス装置の全体構成を示すブロック図である。
【図9】第2実施例のフィールド決定部の回路図であ
る。
【図10】従来の画像補正装置の構成例を示すブロック
図である。
【符号の説明】
1 インターレース方式検出部 2 フィールド判別部 3 テスト信号発生部 4 映出部 4a コンバーゼンスヨーク 4b 偏向ヨーク 5 検出部 6 制御部 7 垂直補間演算部 8 カウンタ 9,10,22 D−FF 11 減算器 12 インデックス蛍光体 13 奇数フィールドテスト信号 14 偶数フィールドテスト信号 15 CPU 16 データ演算部 17 メモリ 18 補正データ発生部 19 ノンインターレース方式検出部 20 フィールド決定部 21 テスト信号発生部

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 映像の同期信号より走査方式がインター
    レース方式であることを検出するインターレース方式検
    出部と、 前記同期信号より奇数フィールド又は偶数フィールドか
    のフィールド判別を行うフィールド判別部と、 前記同期信号と前記フィールド判別部のフィールド判別
    結果より、コンバーゼンスずれを検出するためのテスト
    信号を発生するテスト信号発生部と、 前記テスト信号発生部のテスト信号をインデックス蛍光
    体にテストパターンとして映出する映出部と、 前記映出部に映出されたテストパターンよりコンバーゼ
    ンスのずれを検出する検出部と、 前記検出部の検出結果、前記インターレース方式検出部
    の検出結果及び前記フィールド判別部のフィールド判別
    結果より、コンバーゼンス補正データを演算処理すると
    共に、補正信号を前記映出部に与える制御部と、 前記制御部から得られた補正データからコンバーゼンス
    補正の垂直補間演算を行う垂直補間演算部と、を具備す
    ることを特徴とする自動コンバーゼンス装置。
  2. 【請求項2】 前記制御部は、 偶数フィールドと奇数フィールドの補正データを夫々区
    別して発生するものであることを特徴とする請求項1記
    載の自動コンバーゼンス装置。
  3. 【請求項3】 前記テスト信号発生部は、 偶数フィールドと奇数フィールドで同タイミングにテス
    ト信号を発生させるものであることを特徴とする請求項
    2記載の自動コンバーゼンス装置。
  4. 【請求項4】 前記制御部は、 偶数フィールドの補正データと奇数フィールドの補正デ
    ータとの平均値及び差分値を演算するデータ演算部と、 前記データ演算部の演算結果を記憶するメモリと、を具
    備するものであることを特徴とする請求項2記載の自動
    コンバーゼンス装置。
  5. 【請求項5】 前記垂直補間演算部は、 偶数フィールドの補正データと奇数フィールドとの補正
    データとの平均値及び差分値により、コンバーゼンス補
    正の垂直方向のデータ補間演算を行うものであることを
    特徴とする請求項4記載の自動コンバーゼンス装置。
  6. 【請求項6】 映像の同期信号より走査方式がノンイン
    ターレース方式であることを検出するノンインターレー
    ス方式検出部と、 前記同期信号より1フィールド毎に奇数フィールドと偶
    数フィールドとに区分するフィールド決定部と、 前記同期信号と前記フィールド決定部のフィールド決定
    結果より、コンバーゼンスずれを検出するためのテスト
    信号を発生するテスト信号発生部と、 前記テスト信号発生部のテスト信号をインデックス蛍光
    体にテストパターンとして映出する映出部と、 前記映出部に映出されたテストパターンよりコンバーゼ
    ンスのずれを検出する検出部と、 前記検出部の検出結果、前記ノンインターレース方式検
    出部の検出結果及び前記フィールド決定部のフィールド
    決定結果より、コンバーゼンス補正データを演算処理す
    ると共に、補正信号を前記映出部に与える制御部と、 前記制御部から得られた補正データからコンバーゼンス
    補正の垂直補間演算を行う垂直補間演算部と、を具備す
    ることを特徴とする自動コンバーゼンス装置。
  7. 【請求項7】 前記制御部は、 偶数フィールドと奇数フィールドの補正データを夫々区
    別して発生するものであることを特徴とする請求項6記
    載の自動コンバーゼンス装置。
  8. 【請求項8】 前記テスト信号発生部は、 偶数フィールドと奇数フィールドで1走査線分ずれたタ
    イミングにテスト信号を発生させるものであることを特
    徴とする請求項7記載の自動コンバーゼンス装置。
  9. 【請求項9】 前記制御部は、 偶数フィールドの補正データと奇数フィールドの補正デ
    ータとの平均値及び差分値を演算するデータ演算部と、 前記データ演算部の演算結果を記憶するメモリと、を具
    備するものであることを特徴とする請求項7記載の自動
    コンバーゼンス装置。
  10. 【請求項10】 前記垂直補間演算部は、 偶数フィールドの補正データと奇数フィールドとの補正
    データとの平均値及び差分値により、コンバーゼンス補
    正の垂直方向のデータ補間演算を行うものであることを
    特徴とする請求項9記載の自動コンバーゼンス装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100232600B1 (ko) * 1996-08-22 1999-12-01 구자홍 투사형 영상기기의 컨버전스 데이터 생성장치
US6697499B2 (en) 1999-01-13 2004-02-24 Nec Corporation Digital watermark inserting system and digital watermark characteristic parameter table generating method
KR100719106B1 (ko) * 2006-01-17 2007-05-17 삼성전자주식회사 오프셋/게인 조정장치 및 그 방법

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