TWM549350U - 校準裝置 - Google Patents

Description

校準裝置

本創作涉及一種校準裝置以及一種用於校準裝置的工作方法。

世界智慧財產權組織專利公開第WO 2006/034801號揭示，在測量一待測物體的傳輸係數與反射係數之前，必須對向量網路分析儀進行校準。在此，在複數個已知、互不相同的校準標準部上分別進行係數測量，由這些係數測量計算得到誤差值，然後利用這些誤差值在真正待測物體測量時進行系統誤差校正。作為校準標準部，例如採用：空載部(斷開)、短路部(短路)、終端電阻(負載)、匹配部(匹配)或直接連接部(直通)等相繼地與測量部連接。已知的是，這些校準標準部例如設置於一基體中，從該基體旁側分別伸出連接器。這種校準單元帶有尺寸固定的校準部位，且為了校準而通過連接器和電纜與網路分析儀之相應的測量部連接。

例如，歐洲專利公開第EP 2 101 182 A2號揭露一種用來在實驗室中校準向量網路分析儀的設備。在此，不同的校準元件相繼地與網路分析儀連接。如果例如要在農田或戶外區域校準網路分析儀，則這種設備會是不利的，因為為此要攜帶大量零組件。

為了避免此狀況，現有技術已知有各種不同的小型校準工具包，例如：Anritsu TOSLK(F)50A-40或Spinner 533898。

但已知的現有技術通常具有例如對校準工具包的壽命產生不利影響的機械特性上的缺點、或者具有對校準精度產生不利影響的電學特性上的缺點。

這是一種要予以改善的狀態。

在這種背景下，本創作的目的在於提出一種改良的校準裝置。

根據本創作，前述目的通過一種具有申請專利範圍第1項之特徵部分的校準裝置、及/或一種具有申請專利範圍第9項之特徵部分的方法得以實現。

因此，依據本創作，一種用以校準網路分析儀的校準裝置，包括：複數個校準部位，用以直接地或間接地與一網路分析儀連接；以及基體，與該複數個校準部位連接，其中，該複數個校準部位中的至少一個可相對於該基體(14、16)之至少一部分轉動。

一種具有複數個校準部位的校準裝置的工作方法，該方法具有如下步驟：針對匹配、短路、及/或空載，使得校準裝置的一個校準部位與網路分析儀連接，以及執行相應的校準；將校準裝置與網路分析儀分開；轉動校準裝置的一部分，該部分具有用來與網路分析儀產生直接連接的校準部位；以及在校準裝置與網路分析儀之間產生直接連接。

本創作的構思在於，提出一種具有複數個校準部位的校準裝置，其中，用以直接連接的校準部位可相對於校準裝置的基體進行轉動。

可以理解的是，校準裝置的直接連接校準部位具有以下所述的直接連接器的直接接頭對。

本創作能實現設計為短小的直接連接器，因為校準裝置的其它接頭或校準部位的尺寸在直接連接器的機械構造方面不必較長遠地予以考慮。短小的設計在校準裝置的電學特性或校準品質方面是有益的。通過這種方式，例如可以減少支撐墊片的數量，這些支撐墊片把內部導體保持在外部導體中。支撐墊片例如是電信號反射的原因。

已知的校準裝置的直接連接器雖然相對於基體偏移90°，但不可轉動，與此相比，直接連接器相對於校準裝置的基體的可轉動性還延長了校準裝置的壽命。

有利的設計和改良可由其他附屬申請專利範圍以及由參照圖式所做的說明得到。

根據一種較佳實施態樣，該基體具有第一基體部分和第二基體部分，其中，第二基體部分相對於第一基體部分轉動。直接連接器與第二基體部分的耦接對校準裝置的壽命產生有利的影響。

可考慮的替代態樣是，使直接連接器與基體在結構上分開，而僅僅將直接連接器設計成可轉動。

根據另一種較佳實施態樣，第一基體部分與第二基體部分通過至少一個連接件連接。

也可考慮的替代態樣是，第一基體部分直接與第二基體部分拴緊，其方式例如為兩個基體部分具有對應的螺紋。

根據另一種較佳實施態樣，至少一個連接件被設計成螺釘、銷、磁鐵等。通過這種方式，兩個基體部分持久地相互連接，這對操作本創作的校準裝置產生有利的影響。

根據另一種較佳實施態樣，用來轉動基體部分要施加的力可通過連接件來調節。例如，用以轉動的力可以通過選擇被設計成磁鐵的連接件的磁場強度來決定。可行的替代態樣是，用以轉動的力通過被設計成拴緊螺釘的連接件來決定。如果連接件被設計成銷，則用以轉動的力可以通過銷的長度或粗度、以及通過銷要施加的摩擦力來決定。

通過這種方式，用以轉動的力可依校準裝置之安裝期間的特定應用來決定。

根據另一種較佳實施態樣，在基體中設置有用於螺旋連接的彈簧。由此可以提供誤差補償、或者直接改變力以配合連接的保持力。此外，彈簧減少了在本創作之校準裝置上因轉動所致的磨損現象。

根據另一種較佳實施態樣，在基體中設置有至少一個墊片，尤其是塑膠墊片。較佳地，在各種不同的構件接觸之處，到處都設置墊片。墊片減小了因彼此摩擦的侵蝕所致的磨損現象。

特別有利的是，墊片設置在彈簧與連接件之間、及/或設置在彈簧與基體之間、及/或設置在第一基體部分與第二基體部分之間。這是因為在所述元件之間有增大磨蝕的可能性。

上述設計和改良如果合適的話可以任意地相互組合。本創作的其它可能的設計、改良和實施方式亦包含本創作的前述特徵或以下針對實施例所述之特徵的未明確提及的組合。在此，特別是本領域之技術人員也可以給本創作之相應的基本形式增加具體態樣作為改良或補充。

10‧‧‧校準裝置

12‧‧‧基體

14‧‧‧第一基體部分

16‧‧‧第二基體部分

18‧‧‧校準部位

18a‧‧‧接頭

18b‧‧‧接頭

20‧‧‧校準部位

22‧‧‧校準部位

24‧‧‧校準部位

26‧‧‧螺釘

28‧‧‧彈簧

30‧‧‧塑膠墊片

32‧‧‧塑膠墊片

34‧‧‧塑膠墊片

36‧‧‧凹孔、容納部

40‧‧‧台階

藉由以下圖式詳述本創作的實施例，其中：圖1為本創作之校準裝置的示意性立體圖；圖2為本創作之校準裝置在第一狀態下的示意性正視圖；圖3為本創作之校準裝置在第二狀態下的示意性正視圖；圖4為根據本創作第一實施態樣的校準裝置的示意性剖視圖；圖5為本創作之校準裝置的第一基體部分的示意性立體圖；以及圖6為本創作之校準裝置的第二基體部分的示意性立體圖。

所附圖式有助於進一步理解本創作的實施態樣，這些圖式揭露了實施態樣，且用來與說明書相結合地解釋本創作的原理和設計。其它實施態樣以及許多所述優點都可以參閱圖式而得到。這些圖式的部件並非以精確的尺寸揭示。

在這些圖式中，若未做其他說明，則相同、功能相同、以及作用相同的部件、特徵和元件分別標示相同的附圖標記。

儘管已藉由前述較佳實施例完整地介紹了本創作，但本創作並不侷限於這些實施例，而是可以採用多種多樣的方式予以改變型態。

圖1為根據本創作第一實施態樣的校準裝置10，該校準裝置10包括一基體12，該基體在圖1中被設計成預先安裝的構件。基體12包括一第一基體部分14和一第二基體部分16。第一基體部分14具有複數個校準部位20(表示短路)、22(表示斷開)、24(表示負載/匹配)。第二基體部分16具有用於直接連接校準部位18的容納部。

第一基體部分14及第二基體部分16通過螺釘連接(在圖1中未顯示)，使得第一基體部分14及第二基體部分16可彼此相對轉動。

圖1中的校準裝置10尚未安裝完成。圖2或圖3為根據圖1在最終安裝狀態下的校準裝置10。圖2和圖3為帶有接頭或校準部位的校準裝置10。

在圖2中可看到，具有直通連接的校準部位18具有相對設置的接頭18a和接頭18b的接頭對。圖2係為校準裝置10處於第一狀態下。根據圖2的狀態，校準裝置1有可能不能與網路分析儀直接連接，因為校準部位20、22有可能太突出，而妨礙校準部位18的接頭18a和接頭18b的連接。圖2的狀態因而也可以稱為支撐狀態。圖2中的校準裝置10特別是具有平坦的支撐面，因而得到了更好的保護，免於校準接頭的接面受到刮擦或損壞。

圖3為根據圖2處於第二狀態下的校準裝置10。在圖3中，第二基體部分16相對於第一基體部分14發生轉動。在根據圖3的狀態下，可以把網路分析儀(圖3中未揭露)特別簡單地連接到用於直接連接的校準部位18上。

與圖2相反，根據圖3的狀態只在一定條件下才適合於支撐校準裝置10，這是因為該校準裝置在第二狀態下不平整的特性，特別是在其校準部位18、20、22、24處會輕微刮擦、或者受到其它損壞。

圖4為根據本創作圖1至圖3其中之一的校準裝置10的剖視圖。在圖4中，校準裝置10具有螺釘26，該螺釘使得第一基體部分14與第二基體部分16連接。螺釘26分別設置在第一基體部分14與第二基體部分16上的孔中。第一基體部分14可以相對於第二基體部分16發生轉動，其方式為藉由螺釘26“一同轉動”。

通過第一基體部分14的底部的孔形成了一個止擋，在該止擋與螺釘26的端部之間設置了彈簧28。彈簧28保障了誤差補償，並減小通過轉動而產生的磨損現象。此外，彈簧28保障了該螺釘向下朝向第二基體部分16於栓入時一定要施加的力。

為了預防其它磨損現象，校準裝置10在彈簧28與螺釘26的端部之間具有塑膠墊片30，該塑膠墊片防止螺釘26在彈簧28上摩擦。相應地，在彈簧28與第一基體部分14之間設置了另一塑膠墊片32，而在第一基體部分14與第二基體部分16之間設置了另一塑膠墊片34。

第一基體部分14在朝向第二基體部分16的一側具有被構造成銑孔之近似醡漿草形狀的凹孔36。第二基體部分16在朝向第一基體部分14的一側具有與該醡漿草形狀的凹孔36對應的台階40。凹孔36和台階40經過設計，從而使台階40可以在兩個不同、相互垂直的位置與凹孔36卡鎖。相應地，凹孔36形成有用於台階40的止擋或卡鎖結構。

為了使第一基體部分14及第二基體部分16彼此相對轉動，使用者牽拉第二基體部分16，從而使彈簧28壓縮，進而使台階40從凹孔36中抬升出來。

可以理解的是，也可以將螺釘26和彈簧28在校準裝置10中鏡像對稱地設置，從而使彈簧28以及螺釘26的端部設置在第二基體部分16中。

圖5為根據圖1至圖4其中之一的校準裝置10的第一基體部分14。圖5特別是揭露醡漿草形的凹孔36。

圖6為根據圖1至圖4其中之一的校準裝置10採用圓形設計方式的情況下揭示第二基體部分16。圖6特別是揭示台階40，台階40與凹孔36可以在相互垂直的不同位置進行卡鎖。

對於根據本創作之圖1至圖4其中之一的校準裝置10的示範性實施態樣，特別有利的是，第一基體部分14和第二基體部分16可相對轉動，而不必將第二基體部分16從容納部36中拉出。為此，容納部36經過適當設計，使得第二基體部分16上的台階40具有與伸出位置呈90°角度的止擋。為此將螺釘26在一定程度上拴緊，使得彈簧28的彈簧力提供了足夠的壓制力， 以防止第二基體部分16從第一基體部分14抬升離開。在此以特別直接的方式簡化了操作。

10‧‧‧校準裝置

12‧‧‧基體

14‧‧‧第一基體部分

16‧‧‧第二基體部分

18‧‧‧校準部位

20‧‧‧校準部位

22‧‧‧校準部位

24‧‧‧校準部位

Claims (8)

1. 一種用以校準網路分析儀的校準裝置(10、50)，包括：複數個校準部位(18、20、22、24)，用以直接地或間接地與一網路分析儀連接；以及一基體(12)，具有該複數個校準部位(18、20、22、24)，其中，該複數個校準部位(18、20、22、24)中的至少一個可相對於該基體(14、16)之至少一部分轉動。
2. 如申請專利範圍第1項所述的校準裝置(10、50)，其中，該基體(12)具有一第一基體部分(14)和一第二基體部分(16)，該第二基體部分(16)可相對於該第一基體部分(14)轉動。
3. 如申請專利範圍第2項所述的校準裝置(10、50)，其中，該第一基體部分(14)與該第二基體部分(16)通過至少一個連接件(26)連接。
4. 如申請專利範圍第3項所述的校準裝置(10、50)，其中，該至少一個連接件被設計成螺釘、銷、或磁鐵。
5. 如申請專利範圍第3項或第4項所述的校準裝置(10、50)，其中，用來轉動該第一基體部分(14)及/或該第二基體部分(16)要施加的力可通過該至少一連接件來調節。
6. 如申請專利範圍第2項所述的校準裝置(10、50)，其中，在該第一基體部分(14)及/或該第二基體部分(16)中設置有一彈簧(28)。
7. 如申請專利範圍第2項所述的校準裝置(10、50)，其中，在該基體(12)中設置有至少一墊片(30、32、34)，尤其是塑膠墊片。
8. 如申請專利範圍第7項所述的校準裝置(10、50)，其中，該至少一墊片設置在該彈簧(28)與該連接件之間、及/或設置在該彈簧(28)與具有該彈簧(28)的該基體之間、及/或設置在該第一基體部分與該第二基體部分之間。