KR101741474B1 - 검사용 접촉장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 검사용 접촉장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 검사장치가 피 검사체를 검사하는 과정에서 피 검사체가 교체될 때마다 반복적으로 피 검사체를 고정 및 고정 해제시키기 위한 커버를 탄성 지지하는 탄성체가 반복 동작에 의해 피로 파괴되지 않도록 방지하기 위한 검사용 접촉장치에 관한 것이다.
또한, 전자부품이 실장된 피 검사체의 전자회로가 정상적으로 동작되는지 검사하는 검사장비에 장착되는 검사용 접촉장치에 있어서, 검사장비에 설치되어 피 검사체의 단자부가 안착되는 베이스와 상기 베이스의 단부에 구비된 힌지에 의해 회동 가능하게 결합되는 커버와 상기 커버가 베이스로부터 회동되어 개방되도록 커버를 탄성 지지하기 위한 복수 개의 커버 탄성체를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

검사용 접촉장치{contacting device for testing}

본 발명은 검사용 접촉장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 검사장치가 피 검사체를 검사하는 과정에서 피 검사체가 교체될 때마다 반복적으로 피 검사체를 고정 및 고정 해제시키기 위한 커버를 탄성 지지하는 탄성체가 반복 동작에 의해 피로 파괴되지 않도록 방지하기 위한 검사용 접촉장치에 관한 것이다.

일반적으로 전자기기는 각종 전자부품이 전기적으로 연결되어 회로로 구성되며, 제조과정에서 발생되는 회로 구성의 불량을 눈으로 찾기에는 어려움이 있었다.

이에 따라, 제조되는 회로와 연결하여 불량을 판단하기 위한 별도의 검사장치를 개발하게 되었으며, 회로와 검사장치를 단자를 통해 연결하여 회로의 전기적 연결에 대한 검사를 진행하였다.

최근 더욱 박판화되어 극히 작은 크기의 전자부품이 집적된 플렉시블 회로기판(FPCB)이 많이 사용되고 있으며, 박판화된 플렉시블 회로기판의 단자는 보다 작아진 크기로 인해 작업자가 플렉시블 회로기판의 작은 크기를 가지는 단자와 검사장치를 직접 연결하기에는 어려움이 있었다.

이에 따라, 작은 크기의 단자를 쉽게 검사장치와 연결하기 위한 검사용 접촉장치가 개발되었다.

반면, 종래의 검사용 접촉장치는 도 1의 (1-I)에 도시된 바와 같이, 베이스(1)에 고정되어 회동하는 커버(2)를 탄성 지지하기 위해 비틀림 스프링(Torsion spring, 3)을 사용하였으나, 비틀림 스프링(3)은 반복적인 커버(2)의 회동에 의해 쉽게 피로 파괴되는 문제점이 있었다.

또한, 종래의 검사용 접촉장치는 그 구조적 한계로 인해 피로 파괴된 비틀림 스프링(3)을 새로운 비틀림 스프링으로 교체하기 위해서는 힌지 축(4) 부분을 모두 분해해야만 하는 문제점이 있었다.

이에 따라, 한국등록실용신안 제20-0471077호 "전자부품 테스트용 소켓"과 같이, 스프링의 교환이 용이한 형태의 검사용 접촉장치가 개발되었으며, 도 1의 (1-II)에 도시된 바와 같이, 베이스(1) 및 커버(2)의 측면에 인장 스프링(Tension spring, 3)을 쉽게 설치 및 교환할 수 있도록 배치하였다.

하지만, 인장 스프링(Tension spring, 3)은 비틀림 스프링이나, 압축 스프링(Compression spring)에 비해 보편적으로 절손(끊어짐)현상이 가장 많이 발생되는 형태로 특히 고리부분에서 피로 파괴가 주로 발생되는 문제점이 있었다.

즉, 피로 파괴되었을 때 비틀림 스프링에 비해 교환은 용이하나, 피로 파괴가 더욱 자주 발생하는 문제점이 있었다.

한국등록실용신안 제20-0471077호 "전자부품 테스트용 소켓"

본 발명의 목적은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 피 검사체를 고정 및 고정 해제시키기 위한 커버를 탄성 지지하는 탄성체가 반복 동작에 의해 피로 파괴되는 것을 방지하기 위한 검사용 접촉장치를 제공하는 것이다.

본 발명의 다른 목적은 피 검사체를 고정 및 고정 해제시키기 위한 커버를 탄성 지지하는 탄성체를 쉽게 교환하기 위한 검사용 접촉장치를 제공하는 것이다.

상기 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 검사용 접촉장치는 전자부품이 실장된 피 검사체의 전자회로가 정상적으로 동작되는지 검사하는 검사장비에 장착되는 검사용 접촉장치에 있어서, 검사장비에 설치되어 피 검사체의 단자부가 안착되는 베이스와 상기 베이스의 단부에 구비된 힌지에 의해 회동 가능하게 결합되는 커버와 상기 커버가 베이스로부터 회동되어 개방되도록 커버를 탄성 지지하기 위한 복수 개의 커버 탄성체를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 전자부품이 실장된 피 검사체의 전자회로가 정상적으로 동작되는지 검사하는 검사장비에 장착되는 검사용 접촉장치에 있어서, 검사장비에 설치되어 피 검사체의 단자부가 안착되는 베이스와 상기 베이스의 단부에 구비된 힌지에 의해 회동 가능하게 결합되는 커버와 상기 커버가 베이스로부터 회동되어 개방되도록 커버를 탄성 지지하기 위한 복수 개의 커버 탄성체와 상기 커버와 베이스 사이에서 힌지에 의해 회동 가능하게 결합되어 상기 커버 탄성체가 관통하는 가이드 플레이트를 포함하며, 상기 커버 탄성체가 관통하는 가이드 플레이트는 커버 탄성체가 탄성력에 의해 이탈되지 않도록 방지하는 것을 특징으로 한다.

또한, 전자부품이 실장된 피 검사체의 전자회로가 정상적으로 동작되는지 검사하는 검사장비에 장착되는 검사용 접촉장치에 있어서, 검사장비에 설치되어 피 검사체의 단자부가 안착되는 베이스와 상기 베이스의 단부에 구비된 힌지에 의해 회동 가능하게 결합되는 커버와 상기 커버와 베이스 사이에서 힌지에 의해 회동 가능하게 결합되는 가이드 플레이트와 상기 베이스와 가이드 플레이트 사이에 설치되어 가이드 플레이트를 탄성 지지하는 복수 개의 제1 커버 탄성체와 상기 가이드 플레이트와 커버 사이에 설치되어 커버를 탄성 지지하는 복수 개의 제2 커버 탄성체를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 가이드 플레이트는 회전축이 위치한 후면측으로 돌출된 가이드 돌기부를 더 포함하며, 상기 가이드 돌기부는 상기 커버 및 베이스의 후면과 접촉하여 가이드 플레이트의 회동 각을 제한하는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 베이스의 전면측에 상기 커버를 고정 및 고정 해제시키기 위한 고정부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 베이스의 상면에 피 검사체가 안착되는 지그부와 상기 커버의 하면에 피 검사체의 전자회로와 전기적으로 접속되는 측정부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 검사용 접촉장치에 의하면, 피 검사체를 고정 및 고정 해제시키기 위한 커버를 탄성 지지하는 탄성체가 반복 동작에 의해 피로 파괴되는 것을 방지할 수 있는 효과가 있다.

또한, 본 발명에 따른 검사용 접촉장치에 의하면, 피 검사체를 고정 및 고정 해제시키기 위한 커버를 탄성 지지하는 탄성체를 쉽게 교환할 수 있는 효과가 있다.

도 1은 종래의 검사용 접촉장치를 도시한 도면.
도 2는 본 발명에 따른 검사용 접촉장치를 도시한 도면.
도 3 또는 도 4는 본 발명에 따른 검사용 접촉장치의 제2 실시예를 도시한 도면.
도 5는 본 발명에 따른 검사용 접촉장치의 제3 실시예를 도시한 도면.
도 6은 본 발명에 따른 검사용 접촉장치의 제4 실시예를 도시한 도면.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.

도 2는 본 발명에 따른 검사용 접촉장치를 도시한 도면이며, 도 3 또는 도 4는 본 발명에 따른 검사용 접촉장치의 제2 실시예를 도시한 도면이고, 도 5는 본 발명에 따른 검사용 접촉장치의 제3 실시예를 도시한 도면이며, 도 6은 본 발명에 따른 검사용 접촉장치의 제4 실시예를 도시한 도면이다.

도 2는 본 발명에 따른 검사용 접촉장치를 도시한 것이며, (2-I)에 도시된 바와 같이 전자부품이 실장된 피 검사체의 전자회로가 정상적으로 동작되는지 검사하는 검사장비에 장착되는 검사용 접촉장치에 있어서, 검사장비에 설치되어 피 검사체의 단자부가 안착되는 베이스와(1) 상기 베이스(1)의 단부에 구비된 힌지(4)에 의해 회동 가능하게 결합되는 커버(2)와 상기 커버(2)가 베이스(1)로부터 회동되어 개방되도록 커버(2)를 탄성 지지하기 위한 복수 개의 커버 탄성체(3)를 포함하여 구성되며, 상기 커버 탄성체(3)는 반복 동작에 의해 파손되지 않도록 압축 스프링을 이용한 것을 특징으로 한다.

또한, (2-I)에 도시된 바와 같이 상기 힌지(4)는 베이스와 결합되는 제1 회동단(41) 및 커버(2)와 결합되는 제2 회동단(42)과 상기 제1 회동단(41)과 제2 회동단(42)을 관통하여 연결시켜주기 위한 회전축(43)으로 구성된다.

또한, 상기 제1 회동단(41)이 베이스(1)와 일체형으로 구성되거나, 제2 회동단(42)이 커버(2)와 일체형으로 구성될 수도 있다.

또한, 상기 베이스(1)의 전면측에 상기 커버(2)를 고정 및 고정 해제시키기 위한 고정부(5)를 더 포함하여 구성될 수 있으며, 상기 고정부(5)는 고정핀(51)을 중심으로 회동가능하되, 배면측으로 돌출된 고정갈퀴(53)가 복수 개의 고정 탄성체(미도시)에 의해 탄성 지지되어 커버(2)에 형성된 걸림턱(52)에 밀착, 체결되어 커버(2)를 고정시켜 커버(2)는 닫힘상태를 유지하게 된다.

상기 고정부(5)의 고정갈퀴(53)를 커버(2)의 걸림턱(52)에 밀착시키는 고정 탄성체의 탄성력보다 강한 힘을 가하여 고정갈퀴(53)를 걸림턱(52)으로부터 이격시킬 경우, 커버(2)의 고정이 해제됨과 동시에 커버(2)는 커버 탄성체(3)의 탄성력에 의해 회동되어 커버(2)는 열린상태를 유지하게 된다.

또한, 상기 베이스(1)의 상면에 피 검사체가 안착되는 지그부(6)와 상기 커버(2)의 하면에 피 검사체의 전자회로와 전기적으로 접속되는 측정부(7)를 더 포함하며, 상기 지그부(6)와 측정부(7)는 피 검사체의 단자 형태 및 배열에 따라 교체할 수 있도록 구성됨이 바람직하다.

다만, (2-III)에 도시된 바와 같이 상기 커버 탄성체(3)는 힌지(4)의 구조 및 탄성력에 의해 P와 같은 방향으로 돌출되려는 힘을 가지며, 커버 탄성체(3)의 길이 및 탄성력, 힌지(4)의 회동각도 등에 따라 다를 수 있으나, 커버 탄성체(3)가 P 방향으로 이탈되는 문제점이 발생할 수도 있다.

이에 따라, 하기 아래에서 설명하는 가이드 플레이트를 더 포함하여 구성될 수도 있다.

보다 상세하게는, 도 3 또는 도 4는 본 발명에 따른 검사용 접촉장치의 제2 실시예를 도시한 것이며, 전자부품이 실장된 피 검사체의 전자회로가 정상적으로 동작되는지 검사하는 검사장비에 장착되는 검사용 접촉장치에 있어서, 검사장비에 설치되어 피 검사체의 단자부가 안착되는 베이스(1)와 상기 베이스(1)의 단부에 구비된 힌지(4)에 의해 회동 가능하게 결합되는 커버(2)와 상기 커버(2)가 베이스(1)로부터 회동되어 개방되도록 커버(2)를 탄성 지지하기 위한 복수 개의 커버 탄성체(3)와 상기 커버(2)와 베이스(1) 사이에서 힌지(4)에 의해 회동 가능하게 결합되어 상기 커버 탄성체(3)가 관통하는 가이드 플레이트(44)를 포함하며, 상기 커버 탄성체(3)가 관통하는 가이드 플레이트(44)는 커버 탄성체(3)가 탄성력에 의해 이탈되지 않도록 방지하게 된다.

즉, 상기 가이드 플레이트(44)가 커버 탄성체(3)를 감싸는 형태로 고정하여 커버 탄성체(3)가 이탈되는 것을 방지하게 된다.

또한, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 가이드 플레이트(44)는 상기 커버 탄성체(3)를 감싸는 형태로 고정하기 위해 가이드 플레이트(44)의 상면에서 하면으로 관통하는 관통홀(H1)이 형성되어 있으며, 상기 커버 탄성체(3)는 관통홀(H1)에 삽입되어 회전축(43)에 의해 회동되는 제1 회동단(41)과 제2 회동단 사이를 탄성 지지하게 된다.

또한, 상기 커버 탄성체(3)의 단부가 접촉하는 제1 회동단(41)의 상면 또는 제2 회동단(42)의 하면에는 커버 탄성체(3)의 단부 위치를 고정시키기 위한 고정홈(30)이 형성되어 있을 수 있으며, 상기 고정홈(30)에 커버 탄성체(3)의 단부가 일부 삽입되어 위치가 고정될 수 있게된다.

또한, 상기 제1 회동단(41) 및 제2 회동단(42)은 상기 커버 탄성체(3)의 단부에 삽입되어 커버 탄성체(3)의 단부를 보다 강하게 고정시키기 위한 고정돌기(31)를 더 포함할 수도 있으며, 특히 상기 고정홈(30)과 고정돌기(31)를 모두 포함할 경우, 커버 탄성체(3)의 외주면과 내주면을 각각 고정시킬 수 있음에 따라 커버 탄성체(3)의 단부가 보다 강하게 결합, 고정된다.

또한, 제1 회동부(41) 및 제2 회동부(42)가 각각 커버 및 베이스에 결합되어 고정됨에 따라, 하기 아래에서는 커버 및 제2 회동부(42)와 커버 및 제1 회동부(41)로 설명한다.

도 5는 본 발명에 따른 검사용 접촉장치의 제3 실시예를 도시한 것이며, 커버와 베이스 사이에서 힌지에 의해 회동 가능하게 결합되는 가이드 플레이트(44)가 상기 베이스 및 제1 회동부(41)와 가이드 플레이트(44) 사이에 설치되어 가이드 플레이트(44)를 탄성 지지하는 복수 개의 제1 커버 탄성체(3A)와 상기 가이드 플레이트(44)와 커버 및 제2 회동부(42) 사이에 설치되어 커버 및 제2 회동부(42)를 탄성 지지하는 복수 개의 제2 커버 탄성체(3B)에 의해 탄성 지지되도록 구성될 수도 있다.

또한, 상기 복수 개의 제1 커버 탄성체(3A)와 복수 개의 제2 커버 탄성체(3B)의 개수는 탄성력을 조절하기 위해 제1 커버 탄성체(3A)와 제2 커버 탄성체(3B)를 탈 부착하는 형태로 설치 개수를 조절할 수 있도록 구성될 수 있다.

또한, 상기 가이드 플레이트(44)의 상면과 하면에는 각각 복수 개의 탄성체가 소정의 길이만큼 삽입되어 고정될 수 있는 가이드 고정홈(H2, H3)가 형성되어 있으며, 상기 가이드 고정홈(H2, H3)의 내부에는 고정돌기(31)를 더 포함할 수도 있다.

상기 가이드 플레이트(44)는 고정홈(30)과 고정돌기(31)를 모두 포함할 경우, 커버 탄성체(3)의 외주면과 내주면을 각각 고정시킬 수 있음에 따라 커버 탄성체(3)의 단부가 보다 강하게 결합, 고정될 수 있게 된다.

도 6은 본 발명에 따른 검사용 접촉장치의 제4 실시예를 도시한 것이며, 상기 가이드 플레이트(44)는 회전축(43)이 위치한 후면측으로 돌출된 가이드 돌기부(45)를 더 포함하며, 상기 가이드 돌기부(45)는 상기 커버 및 제2 회동부(42), 베이스 및 제1 회동부(41)의 후면과 접촉하여 가이드 플레이트(44)의 회동 각을 제한하도록 구성된다.

보다 상세하게는, 상기 커버 및 제2 회동부(42)가 42A와 같이 회동되더라도 가이드 플레이트(44)는 커버 및 제2 회동부(42)와 베이스 및 제1 회동부(41) 사이에서 커버 탄성체의 이탈을 방지하고자 하는 목적을 유지할 수 있도록 42A에 비해 작은 각도(44A)로 회동하도록 가이드 플레이트(44)의 후면에 가이드 돌기부(45)가 44A의 각도만큼 회전하면, 베이스 및 제1 회동부(41)의 단부에 접촉하여 회동하지 않도록 구성된다.

즉, 커버의 회동각도에 비해 가이드 플레이트가 너무 많이 회동할 경우 베이스와 너무 많이 회동된 가이드 플레이트(44) 사이로 커버 탄성체가 이탈될 수 있음에 따라, 가이드 돌기부(45)가 베이스에 접촉하여 가이트 플레이트(44)가 더이상 회동되는 것을 방지하게 된다.

또한, 상기 가이드 플레이트(44)의 회동각도가 커버 및 제2 회동부(42)의 회동각도에 비해 너무 적게 회동할 경우, 커버와 너무 적게 회동된 가이드 플레이트(44) 사이로 커버 탄성체가 이탈될 수 있음에 따라, 42B와 같이 회동되는 커버 및 제2 회동부(42)가 가이드 돌기부(45)를 눌러 가이드 플레이트(44)를 더 회전시키게 된다.

상기와 같이, 가이드 돌기부(45)를 더 포함할 경우, 상기 가이드 플레이트(44)는 커버의 회동 각도(42A)와 관계 없이 항상 커버 탄성체의 이탈을 방지할 수 있는 위치까지 회동할 수 있게 된다.

이상과 같이 본 발명은 첨부된 도면을 참조하여 바람직한 실시예를 중심으로 기술되었지만 당업자라면 이러한 기재로부터 본 발명의 범주를 벗어남이 없이 많은 다양한 자명한 변형이 가능하다는 것은 명백하다. 따라서 본 발명의 범주는 이러한 많은 변형의 예들을 포함하도록 기술된 청구범위에 의해서 해석되어져야 한다.

1 : 베이스
2 : 커버
3 : 커버 탄성체
3A : 제1 커버 탄성체
3B : 제2 커버 탄성체
4 : 힌지
5 : 고정부
6 : 지그부
7 : 측정부
30 : 고정홈
31 : 고정돌기
41 : 제1 회동단
42 : 제2 회동단
43 : 회전축
44 : 가이드 플레이트
51 : 고정핀
52 : 걸림턱
53 : 고정갈퀴

Claims (6)

1. 삭제
2. 전자부품이 실장된 피 검사체의 전자회로가 정상적으로 동작되는지 검사하는 검사장비에 장착되는 검사용 접촉장치에 있어서,
   검사장비에 설치되어 피 검사체의 단자부가 안착되는 베이스와;
   상기 베이스의 단부에 구비된 힌지에 의해 회동 가능하게 결합되는 커버와;
   상기 커버가 베이스로부터 회동되어 개방되도록 커버를 탄성 지지하기 위한 복수 개의 커버 탄성체와;
   상기 커버와 베이스 사이에서 힌지에 의해 회동 가능하게 결합되어 상기 커버 탄성체가 관통하도록 관통홀이 형성된 가이드 플레이트를 포함하며,
   상기 커버 탄성체가 관통하는 가이드 플레이트는 상기 커버 탄성체를 감싸는 형태로 고정함으로써, 커버 탄성체가 탄성력에 의해 이탈되지 않도록 방지하는 것을 특징으로 하는
   검사용 접촉장치.
   
3. 전자부품이 실장된 피 검사체의 전자회로가 정상적으로 동작되는지 검사하는 검사장비에 장착되는 검사용 접촉장치에 있어서,
   검사장비에 설치되어 피 검사체의 단자부가 안착되는 베이스와;
   상기 베이스의 단부에 구비된 힌지에 의해 회동 가능하게 결합되는 커버와;
   상기 커버와 베이스 사이에서 힌지에 의해 회동 가능하게 결합되되, 상면과 하면에 가이드 고정홈이 형성된 가이드 플레이트와;
   상기 베이스와 가이드 플레이트 사이에 설치되되, 일단이 가이드 고정홈에 고정되어 가이드 플레이트를 탄성 지지하는 복수 개의 제1 커버 탄성체와;
   상기 가이드 플레이트와 커버 사이에 설치되되, 일단이 가이드 고정홈에 고정되어 커버를 탄성 지지하는 복수 개의 제2 커버 탄성체를 포함하는 것을 특징으로 하는
   검사용 접촉장치.
   
4. 제 2항 또는 제 3항에 있어서,
   상기 가이드 플레이트는 회전축이 위치한 후면측으로 돌출된 가이드 돌기부를 더 포함하며,
   상기 가이드 돌기부는 상기 커버 및 베이스의 후면과 접촉하여 가이드 플레이트의 회동 각을 제한하는 것을 특징으로 하는
   검사용 접촉장치.
   
5. 제 2항 또는 제 3항에 있어서,
   상기 베이스의 전면측에 상기 커버를 고정 및 고정 해제시키기 위한 고정부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는
   검사용 접촉장치.
   
6. 제 2항 또는 제 3항에 있어서,
   상기 베이스의 상면에 피 검사체가 안착되는 지그부와;
   상기 커버의 하면에 피 검사체의 전자회로와 전기적으로 접속되는 측정부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는
   검사용 접촉장치.
   

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