KR101498687B1

KR101498687B1 - 검사장치

Info

Publication number: KR101498687B1
Application number: KR20140006013A
Authority: KR
Inventors: 백승하
Original assignee: 리노공업주식회사
Priority date: 2014-01-17
Filing date: 2014-01-17
Publication date: 2015-03-06

Abstract

본 발명은 피검사체를 안착시키는 피검사체 가이드부를 지지하는 베이스부 및 상기 베이스부에 힌지 연결되어 상기 피검사체의 피검사접점에 접촉 및 이격하는 제1프로브가 배치되는 커버를 포함하는 검사장치에 관한 것이다.
본 발명의 검사장치는 피검사체를 안착시키는 피검사체 가이드부를 지지하는 베이스부; 및 상기 베이스부에 힌지 연결되어 상기 피검사체의 피검사접점에 접촉 및 이격하는 제1프로브가 배치되는 커버를 포함하며, 상기 베이스부는 하부에 배치되는 검사회기판의 검사접점에 일단이 접촉하는 제2프로브를 포함하며, 상기 커버는 상기 힌지에 의한 회동으로 상기 제2프로브의 타단에 접촉 및 이격하도록 상기 커버의 제2프로브에 상응하는 위치에 배치되는 제3프로브를 포함하며, 상기 커버의 제1프로브와 상기 제3프로브는 전기적으로 서로 연결되는 것을 특징으로 한다.

Description

검사장치{A TESTING DEVICE}

본 발명은 피검사체의 전기적 특성을 검사하는 장치, 더욱 상세하게는 카메라 모듈과 같은 피검사체의 전기적 특성을 효율적으로 검사하기 위한 검사장치에 관한 것이다.

도 5는 종래의 카메라 모듈(2)을 검사하기 위한 검사장치(1)를 나타내는 단면도이다(한국공개공보 10-2010-0027849호). 종래의 카메라 모듈 검사장치(1)는 카메라모듈(2)을 안착시키는 몸체부(10)와, 힌지축(20)을 중심으로 상기 몸체부(10)에 대해 회동하는 덮개부(30)를 포함한다.

몸체부(10)의 일측에는 제1핀조립체(12)가 구비되어 있다. 제1핀조립체(12)는 몸체부(10)에 안착된 카메라모듈(2)의 하부패턴에 일단부가 접속되는 프로브핀(14)이 구비되어 있다. 그리고, 제1프로브핀(14)의 타단부는 제1핀조립체(12)의 하측에 구비된 제1인쇄회로기판(40)에 접속되어 있다.

덮개부(30)의 일측에 제2핀조립체(32)가 구비된다. 제2핀조립체(32)는 제1핀조립체(12)에 마주하도록 덮개부(30)에 형성되는데, 일단부가 카메라모듈(2)의 상부패턴에 접속되는 제2프로브핀(34)이 구비되어 있다. 제2프로브핀(34)의 타단부는 상측에 구비된 제2인쇄회로기판(50)에 접속되며, 제2인쇄회로기판(50)이 제1인쇄회로기판(40)과 접속되어 연결배선에 의해 검사장치(3)에 연결되는 구조를 갖는다. 제1인쇄회로기판(40)과 제2인쇄회로기판(50)은 접속핀(60)에 의해 서로 연결된다.

종래의 카메라모듈 검사장치(1)는 몸체부(10)의 상면에 카메라모듈(2)을 안착한 후 다시 덮개부(30)를 회동시켜 몸체부(10)의 상면을 덮어주어 검사대상인 카메라모듈(20)을 검사하게 된다. 도 6에 나타낸 바와 같이, 몸체부(10)에 구비된 제1핀조립체(12)의 제1프로브핀(14)은 카메라모듈(2)의 하부패턴에 접속되고, 덮개부(30)에 구비된 제2핀조립체(32)의 제2프로브핀(34)은 카메라모듈(2)의 상부패턴에 접속된다. 그리고, 제1핀조립체(12)의 제1프로브핀(14)은 제1인쇄회로기판(40)에 접속되고, 제2핀조립체(32)의 제2프로브핀(34)은 제2인쇄회로기판(50)에 접속되어 연결배선을 통해 검사장치(3)와 연결됨에 따라 검사가 이루어진다.

이와 같이 종래의 카메라모듈 검사장치(1)는 덮개부(30)의 회동에 따라 제2프로브핀(34)의 단부가 직접 카메라모듈(20)의 상부패턴에 가압 접촉하게 되는데, 이때 제2프로브핀(34)의 단부에 의해 카메라모듈(20)의 상부패턴이 손상되는 문제가 발생할 수 있다.

또한, 제2프로브핀(34)의 돌출 단부는 카메라모듈(20)의 상부패턴에 대해 수직방향으로만 가압하는 것이 아니라 덮개부(30)의 회전에 따라 일정 경사를 두고 가압하기 때문에 카메라모듈(20)의 상부패턴에 스크래치가 발생하거나 밀리는 현상이 발생할 수 있다.

본 발명의 목적은 종래의 문제를 해결하기 위한 것으로, 피검사체의 피검사 접점의 손상을 방지할 수 있는 검사장치를 제공함에 있다.

본 발명의 다른 목적은 프로브핀이 피검사체의 피검사 접점에 대해 수직방향으로 가압함으로써 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있는 검사장치를 제공함에 있다.

본 발명의 상술한 과제를 달성하기 위한 제1실시예에 따른 피검사체의 전기적 특성을 검사하는 검사장치는, 상기 피검사체의 피검사접점에 접촉하는 제1프로브 및 상기 제1프로브에 전기적으로 연결되는 제2프로브가 서로 이격되어 배치된 커버; 및 피검사체를 안착시키는 피검사체 가이드부 및 하부에 배치되는 검사회기판의 검사접점에 일단이 접촉하는 제3프로브가 배치되는 베이스부를 포함하며, 상기 커버는 상기 베이스부에 대해 회동가능하며, 상기 커버의 회동에 의해, 상기 제1프로브의 단부가 상기 피검사체의 피검사접점에 접촉 또는 이격되고, 상기 제3프로브의 타단에 상기 제2프로브의 단부가 접촉 또는 이격되는 것을 특징으로 한다.

상기 제2프로브와 제3프로브의 대향하는 각 단부는 서로 맞물릴 수 있는 요철(凹凸)부 또는 철요(凸凹)부를 포함할 수 있다.

상기 제2프로브와 제3프로브의 대향하는 각 단부는 라운드 형상과 평면 형상을 포함할 수 있다.

본 발명의 제2실시예에 따른 피검사체의 전기적 특성을 검사하는 검사장치는 , 상기 피검사체를 안착시키는 피검사체 가이드부를 지지하는 베이스부; 및 상기 베이스부에 힌지 연결되어 상기 피검사체의 피검사접점에 접촉 및 이격하는 제1프로브가 배치되는 커버를 포함하며, 상기 피검사체 가이드부는 상기 베이스부로부터 탄성적으로 플로팅되어 있는 것을 특징으로 한다.

상기 피검사체 가이드부는 힌지축을 기준으로 소정 각도 경사져 있는 것이 바람직하다.

상기 소정 각도는 상기 커버로부터 돌출하는 제1프로브의 단부 길이 또는 형상에 의해 결정될 수 있다.

상기 피검사체는 상기 커버의 프로브가 상기 플로팅된 피검사체 가이드 상의 피검사체의 피검사접점에 접촉한 후 고정되는 것이 바람직하다.

본 발명의 검사장치에 의하면, 커버의 회동에 따라 피검사체의 피검사접점을 향하는 프로브핀의 단부가 피검사접점에 수직으로 접촉함으로써 피검사접점의 손상으로부터 보호할 수 있다.

또한, 검사장치의 하부에 배치된 검사회로와 커버에 배치된 PCB를 연결하기 위해 베이스부에 배치된 프로브핀과 커버에 배치된 프로브핀이 커버의 회동에 따라 서로 맞물리도록 함으로써 프로브핀드르이 수명을 향상시킬 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 검사장치의 사시도,
도 2는 도 1에 나타낸 검사장치에 커버가 닫힌 상태의 단면도,
도 3 a 내지 3c는 커버의 회동에 따라 프로브들의 맞물림 과정을 나타내는 도,
도 4a 및 4b는 커버의 회동에 따라 커버에 배치된 프로브핀이 피검사체의 피검사접점에 접촉하는 과정을 나타내는 도,
도 5는 종래의 검사장치를 나타내는 단면도, 및
도 6은 도 5의 덮개부 프로브핀과 몸체부 프로브핀을 접촉부분을 확대하여 나타낸 도이다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들에 대하여 상세히 설명한다. 설명의 편의상 본 발명과 직접적으로 관련이 없는 부분은 생략하였고, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하였다.

도 1 및 도 2에 나타낸 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 검사장치(100)는 피검사체(2)를 안착시키는 피검사체 가이드부(140)를 지지하는 베이스부(130) 및 힌지(120)에 의해 상기 베이스부(130)에 연결되어 상기 피검사체의 피검사접점에 접촉 및 이격하는 제1프로브(152)가 배치되는 커버(110)를 포함할 수 있다.

상기 피검사체(2)는 예를 들면 카메라 모듈이나 반도체와 같은 전기적 부품을 포함할 수 있다. 피검사체(2)는 전기신호를 공급하기 위해 플렉시블 케이블과 그 단부에 부착된 리셉터클 타입의 단자(2-1)를 포함할 수 있다. 리셉터클 타입의 단자(2-1)는 제1프로브(152)의 단부를 수용할 수 있는 다수의 개구(154)를 포함할 수 있다. 다수의 개구(154) 내에는 피검접점으로서 마주보는 한 쌍의 도전성 판스프링과 같은 클립형 접점(156)을 포함할 수 있다. 클립형 접점(156)은 제1프로브(152)의 단부가 수용될 때 변형되어 수용된 단부를 탄성적으로 가압하여 전기적 접촉을 확실하게 할 수 있다. 물론 피검사체(2)의 형태는 상술한 바와 같은 클립형 접점(156)과 같은 형태로만 제한되지 않고, 예를 들면 도전성 패드, 범프, 리드단자 등 다양한 형태도 적용될 수 있다.

상기 커버(110)는 힌지(120)에 의해 상기 베이스부(130)에 대해 회동할 수 있다. 힌지(120)에는 스프링(122)이 끼워져 있다. 스프링(122)의 일단은 상기 커버(110)에 걸리고, 타단은 베이스부(130)에 걸려 있다. 따라서, 힌지(120)를 중심으로 커버(110)를 베이스부(130)를 향해 닫으면, 커버(110)는 탄성적으로 압축될 수 있다. 커버(110)는 베이스부(130)를 향합 압축되어 밀착된 상태에서 래치(190)에 의해 체결되어 고정될 수 있다. 래치(190)는 힌지핀(192)에 의해 베이스부(130)에 회동가능하게 고정될 수 있다. 래치(190)에 의해 체결된 커버(110)는 래치(190)를 풀면 압축된 스프링(1220)에 의해 베이스부(130)로부터 멀어질 수 있다.

커버(110)는 제1프로브(152)를 포함하는 제1프로브지지체(150), 제2프로브(162)를 지지하는 제2프로브지지체(160) 및 상기 제1프로브(152)와 제2프로브(162)를 전기적으로 연결하는 인쇄회로기판(180)을 포함할 수 있다. 커버(110)의 중앙에는 카메라 모듈과 같은 피검사체(2)의 돌출부(렌즈부)를 수용하는 개공이 형성될 수 있다.

베이스부(130)의 하부에는 검사회로기판(200)이 배치될 수 있다. 검사회로기판(200)은 검사신호를 전달하기 위해 전기적 배선이 인쇄될 수 있다.

상기 제1프로브(152)는 제1프로브지지체(150)에 양단이 부분 돌출하도록 지지될 수 있다, 제1프로브(152)의 일단은 리셉터클형 피검사접점(156)에 접촉하고, 타단은 인쇄회로기판(180)의 제1연결접점(미도시)에 접촉할 수 있다.

상기 제2프로브(162)는 제2프로브지지체(160)에 양단이 부분 돌출하도록 지지될 수 있다, 제2프로브(162)의 일단은 베이스부(130)의 제3프로브(172)에 접촉하고, 타단은 인쇄회로기판(180)의 제2연결접점(미도시)에 접촉할 수 있다.

제3프로브(172)는 제3프로브지지체(170)에 양단이 부분 돌출하도록 지지될 수 있다, 제3프로브(172)의 일단은 커버(110)의 제2프로브(162)의 일단에 접촉하고, 타단은 검사회로기판(200)의 패드접점(미도시)에 접촉할 수 있다.

제2프로브(162)의 일단부는 반구형상이고, 제3프로브(172)의 일단부는 상기 반구형상의 제2프로브(162)의 일단부를 수용할 수 있는 개공을 갖는 배럴형상일 수 있다. 반대로 제2프로브(162)의 일단부는 배럴형상이고, 제3프로브(172)의 일단부는 반구형상일 수도 있다. 즉, 서로 접촉하는 제2프로브(162)의 단부와 제3프로브(172)의 단부는 요철(凹凸)부 또는 철요(凸凹)부를 포함할 수 있다. 다른 실시에로서, 제2프로브(162)의 단부와 제3프로브(172)의 단부는 라운드 형상과 평면 형상을 포함할 수 있다. 따라서, 커버(110)가 힌지(120)에 의해 회동하여 베이스부(130)에 밀착하면, 상기 반구형상의 제2프로브(162)의 일단부가 배럴 또는 평면형상의 제3프로브(172)의 개공에 삽입되어 서로 접촉할 수 있다.

도 3a 내지 3c는 커버(110)가 힌지(120)에 의해 회동하여 베이스부(130)에 밀착할 때, 제2프로브(162)의 일단부와 제3프로브(172)의 일단부가 서로 결합하는 상태를 단계적으로 나타낸 것이다.

도 3a에 나타낸 바와 같이, 커버가(110)가 베이스부(130)에 예를 들면 1.87°까지 근접하면, 힌지(120)에 가까운쪽의 제2프로브(162)의 일단부는 제3프로브(172)의 일단부에 접촉 직전의 상태이지만, 힌지(120)에 먼쪽의 제2프로브(162)의 일단부는 제3프로브(172)의 일단부에 약간 떨어진 상태가 된다.

도 3b에 나타낸 바와 같이, 커버가(110)가 베이스부(130)에 예를 들면 1.67°까지 더 근접하면, 힌지(120)에 가까운쪽의 제2프로브(162)의 일단부는 제3프로브(172)의 일단부에 약간 삽입되어 접촉된 상태이지만, 힌지(120)에 먼쪽의 제2프로브(162)의 일단부는 제3프로브(172)의 일단부에 더 가까워져 접촉 직전의 상태가 된다.

도 3c에 나타낸 바와 같이, 커버가(110)가 베이스부(130)에 완전 밀착하여 커버(110)와 베이스부(130)가 수평(0°)을 이루면, 힌지(120)에 가까운쪽의 제2프로브(162)의 일단부와 먼쪽의 제2프로브(162)의 일단부는 모두 삽입되어 접촉상태가 된다.

이상과 같이, 베이스부(130)에 대한 커버(110)의 회동에 따라 커버(110)의 제2프로브(162)와 베이스부(130)의 제2프로브(172)는 전기적으로 접촉 또는 이격될 수 있다.

또한, 제2프로브(162)의 일단부가 제3프로브(172)의 일단부(개공)에 삽입하는 형태로 접촉하면, 제2프로브(162)의 타단부에 의한 인쇄회로기판(180)의 연결접점 파손이나 제3프로브(172)의 타단부에 의한 검사회로기판(200)의 패드접점 파손을 방지하여 수명을 연장시킬 수 있다.

또한, 제2프로브(162)의 일단부가 제3프로브(172)의 일단부(개공)에 삽입하는 형태로 접촉하면,서로 접촉하는 제2프로브(162)의 일단부와 제3프로브(172)의 일단부는 접촉 충격을 최소화할 수 있어 수명을 향상시킬 수 있다.

또한, 제2프로브(162)의 일단부가 제3프로브(172)의 일단부(개공)에 삽입할 때, 제2프로브(162)의 일단부는 반구형상을 갖고 있기 때문에 약간 경사진 상태에서 진입하더라도 용이하게 삽입되는 것이 가능하다.

베이스부(130)는 제3프로브(172)를 포함하는 제3프로브지지체(170) 및 피검사체(2)를 안착하는 피검사체 가이드부(140)를 포함할 수 있다. 피검사체 가이드부(140)는 플로팅 스프링(132,134)에 의해 소정각도(α), 예를 들면 0.63°만큼 경사진 상태로 플로팅될 수 있다. 즉, 커버(110)가 베이스부(130)에 소정각도(α), 0.63°까지 접근하면, 제1프로브(152)의 일단부는 클립형 접점(156)에 직각(90)을 이루게 된다. 여기서, 소정각도(α)는 제1프로브(152)의 일단부의 돌출 길이 및 단부 형상에 따라 다르게 설정될 수 있다.

도 4a 및 4b는 커버(110)가 힌지(120)에 의해 회동하여 베이스부(130)에 근접할 때, 제1프로브(152)의 일단부와 클립형 접점(156)이 서로 결합하는 상태를 단계적으로 나타낸 것이다.

도 4a에 나타낸 바와 같이, 커버(110)가 힌지(120)에 의해 회동하여 베이스부(130)에 0.63°까지 접근하면, 피검사체 가이드부(140)가 0.63°만큼 경져 있으므로 제1프로브(152)의 일단부는 피검사접점에 직각(90)을 이루게 된다. 이때, 제1프로브(152)의 일단부는 피검사체(2)의 클립형 접점(156)에 삽입되기 직전 또는 약간 삽입 상태가 된다

도 4b에 나타낸 바와 같이, 커버(110)가 힌지(120)에 의해 더 회동하여 베이스부(130)에 0°까지 접근하면, 제1프로브(152)의 일단부는 피검사체 가이드부(140)를 가압함에 따라 피검사체(2)의 클립형 접점(156)에 완전 삽입될 수 있다. 또한, 커버(110)를 베이스부(130)를 향해 0°까지 가압하는 과정에서, 제1프로브(152)의 일단부는 피검사체 가이드(140)를 가압하여 동시에 이동하게 한다. 이때, 커버(110)가 베이스부(130)를 향하게 하는 힘은 피검사체 가이드(140)를 가압하여 이동할 수 있어야 한다. 즉, 커버(110)가 베이스부(130)를 향하게 하는 힘은 플로팅 스프링(132,134)를 압축할 수 있을 정도의 힘이 요구된다.

이상과 같이, 피검사체 가이드부(140)는 플로팅 스프링(132,134)에 의해 소정각도(α)로 경사지게 배치함으로써, 제1프로브(152)의 일단부가 자연스럽게 클립형 접점(156)에 결합될 수 있다. 따라서, 제1프로브(152)의 일단부 및 클립형 접점(156)이 접촉 충격으로부터 손상되는 것을 방지할 수 있다.

특히, 본 발명에 따르면, 커버(110)의 제1프로브(152)가 먼저 플로팅된 피검사체 가이드(140) 상의 카메라모듈의 피검사접점(156)에 접촉한 후, 카메라 모듈이 고정되기 때문에, 카메라 모듈 치수 변화에도 용이하게 대처할 수 있는 장점이 있다. 즉, 종전에는 카메라모듈을 먼저 고정한 후에 검사를 수행하기 때문에 카메라모듈의 치수변화 시에 접촉 미스나 프로브의 손상을 초래하였다.

지금까지 본 발명의 실시예가 도시되고 설명되었지만, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 당업자라면 본 발명의 원칙이나 정신에서 벗어나지 않으면서 실시예를 변형할 수 있을 것이다. 따라서, 발명의 범위는 지금까지 설명된 실시예로 정해지는 것이 아니라 첨부된 청구항과 그 균등물에 의해 정해질 것이다.

100: 검사장치
110: 커버
120: 힌지
130: 베이스부
140: 피검사체 가이드부
150: 제1프로브지지체
152: 제1프로브
160: 제2프로브지지체
162: 제2프로브
170: 제3프로브지지체
172: 제3프로브
180: 인쇄회로기판
190: 래치
200: 검사회로기판

Claims

피검사체의 전기적 특성을 검사하는 검사장치에 있어서,
상기 피검사체의 피검사접점에 접촉하는 제1프로브 및 상기 제1프로브에 전기적으로 연결되는 제2프로브가 서로 이격되어 배치된 커버; 및
피검사체를 안착시키는 피검사체 가이드부 및 하부에 배치되는 검사회기판의 검사접점에 일단이 접촉하는 제3프로브가 배치되는 베이스부를 포함하며,
상기 커버는 상기 베이스부에 대해 회동가능하며,
상기 커버의 회동에 의해, 상기 제1프로브의 단부가 상기 피검사체의 피검사접점에 접촉 또는 이격되고, 상기 제3프로브의 타단에 상기 제2프로브의 단부가 접촉 또는 이격되는 것을 특징으로 하는 검사장치.
제 1항에 있어서,
상기 제2프로브와 제3프로브의 대향하는 각 단부는 서로 맞물릴 수 있는 요철(凹凸)부 또는 철요(凸凹)부를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사장치.
제 1항에 있어서,
상기 제2프로브와 제3프로브의 서로 대향하는 각 단부는 라운드 형상과 평면 형상을 포함하는 것을 특징으로 하는 검사장치.
피검사체의 전기적 특성을 검사하는 검사장치에 있어서,
상기 피검사체를 안착시키는 피검사체 가이드부를 지지하는 베이스부; 및
상기 베이스부에 힌지 연결되어 상기 피검사체의 피검사접점에 접촉 및 이격하는 프로브가 배치되는 커버를 포함하며,
상기 피검사체 가이드부는 상기 베이스부로부터 탄성적으로 플로팅되어 있는 것을 특징으로 하는 검사장치.
제 4항에 있어서,
상기 피검사체 가이드부는 힌지축을 기준으로 소정 각도 경사져 있는 것을 특징으로 하는 검사장치.
제 5항에 있어서,
상기 소정 각도는 상기 커버로부터 돌출하는 프로브의 단부 길이 또는 형상에 의해 결정되는 것을 특징으로 하는 검사장치.
제 4항에 있어서,
상기 피검사체는 상기 커버의 프로브가 상기 플로팅된 피검사체 가이드 상의 피검사체의 피검사접점에 접촉한 후 고정되는 것을 특징으로 하는 검사장치.