KR20180063293A - 교정 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 네트워크 분석기의 교정을 위한 교정 장치(10; 50)에 관한 것으로서, 교정 장치는 네트워크 분석기로의 직접 또는 간접 연결을 위한 다수의 교정점(18, 20, 22, 24) 및 교정점(18, 20, 22, 24) 에 연결된 본체를 포함하며, 교정점(18, 20, 22, 24) 중 적어도 하나는 본체에 관하여 회전 가능하다.

Description

교정 장치
본 발명은 교정 장치 및 교정 장치의 작동 방법에 관한 것이다.
WO 2006/034801은 테스트 중인 장치의 송신 및 반사 계수의 측정을 수행하기 전에 벡터 네트워크 분석기가 교정되어야 한다는 것을 알게 한다. 이 경우 계수 측정은 오차항이 계산되는 것을 기반으로 하여 서로 다른 여러 가지 알려진 교정 기준부 각각에 대해 수행되며 이의 도움으로 시스템 오류 수정이 대상물의 실제 측정 중에 수행된다. 예를 들어, 사용되는 교정 기준부는 개방 교정 기준부, 쇼트 교정 기준부, 로드 교정 기준부, 매치 교정 기준부 또는 관통 교정 기준부이며, 이들은 측정 게이트에 차례로 연결된다. 예를 들어, 커넥터가 측면으로 돌출하는 본체에 이러한 교정 기준부를 배치하는 것이 알려져 있다. 고정된 크기의 교정점을 포함하는 이러한 교정 유닛은 플러그 및 케이블을 통하여, 교정을 위한 네트워크 분석기의 대응 측정 게이트에 연결된다.
예를 들어, EP 2 101 182 A2는 실험실에서 벡터 네트워크 분석기를 교정하기 위한 장치를 설명하고 있다. 이 경우 다양한 교정 구성 요소가 차례로 네트워크 분석기에 연결된다. 상당한 수의 개별 부품들을 이 목적을 위해 가져와야 하기 때문에 이러한 장치는, 예를 들어 네트워크 분석기가 현장 또는 외부 영역에서 교정될 때 불리할 수 있다.
이를 방지하기 위하여, Anritsu TOSLK(F) A-40 또는 Spinner 533898과 같은 다양한 콤팩트한 교정 키트가 선행 기술로부터 공지되어 있다.
그러나, 공지된 종래 기술은 일반적으로, 예를 들어 교정 키트의 수명에 불리한 영향을 미치는 기계적 단점 또는 교정의 정확성에 불리한 영향을 미치는 전기적 단점을 갖고 있다.
이는 개선되어야 할 상태이다.
이러한 배경에 대해, 본 발명에 의해 다루어지는 문제점은 개선된 교정 장치를 제공한다는 것이다.
본 발명에 따르면, 이러한 문제점은 청구항 제1항의 특징을 갖는 교정 장치에 의하여 및/또는 청구항 제9항의 특징을 갖는 방법에 의해 해결된다.
따라서 하기에
- 네트워크 분석기로의 직접 또는 간접 연결을 위한 복수의 교정점; 및
- 교정점에 연결된 본체를 포함하며,
교정점의 적어도 하나는 본체(14, 16)의 적어도 일부에 대하여 회전 가능한, 네트워크 분석기를 교정하기 위한 교정 장치; 및
- 매치, 쇼트 및/또는 개방을 위하여 교정 장치의 하나의 교정점을 네트워크 분석기에 연결하고 대응하는 교정을 수행하는 단계;
- 교정 장치와 네트워크 분석기를 분리하는 단계
- 네트워크 분석기에 대한 관통부를 구축하기 위한 교정점을 포함하는 교정 장치의 일부를 회전시키는 단계;
- 교정 장치와 네트워크 분석기 사이에 관통부를 구축하는 단계를 포함하는, 다수의 교정점을 포함하는 교정 장치를 작동시키는 방법이 제공된다.
본 발명의 기본을 이루는 아이디어는 다수의 교정점을 포함하는 교정 장치를 제공하는 것이며, 여기서 관통부를 위한 교정점은 교정 장치의 본체에 대하여 회전 가능하다.
교정 장치의 관통부 교정점은 이하에서 관통-커넥터로 지칭되는 관통부 커넥터 쌍을 포함하는 것으로 이해된다. 교정 장치의 다른 커넥터 또는 교정점의 치수가 관통-커넥터의 기계적인 설계에 관하여 더 이상 고려되지 않아야 하므로 본 발명은 관통-커넥터의 더 짧은 설계를 가능하게 한다. 더 짧은 디자인은 교정 장치의 전기적 특성 및 교정의 품질에 관하여 유리하다. 이러한 방식으로, 예를 들어, 외부 도체 내에서 내부 도체를 유지하는 지지 디스크의 개수는 감소될 수 있다. 예를 들어, 지지 디스크는 전기 신호의 편향의 원인이다.
교정 장치의 본체에 대한 관통-커넥터의 회전성은 또한 공지의 교정 장치와 관하여 교정 장치의 수명을 연장시키며, 이의 관통-커넥터는 본체에 대하여 90° 오프셋되지만 회전할 수 없다.
유리한 실시예 및 개선 사항은 추가 종속청구항 및 도면의 도면들을 참조한 설명으로부터 명백해진다.
한 바람직한 실시예에 따르면, 본체는 제1 본체부와 제2 본체부를 포함하며, 여기서 제2 본체부는 제1 본체부에 관하여 회전 가능하다. 제2 본체부로의 관통-커넥터의 결합은 교정 장치의 수명에 유리한 영향을 미친다.
대안적으로, 관통-커넥터를 본체로부터 구조적으로 분리하고 관통-커넥터를 단순히 회전 가능하게 설계하는 것도 생각할 수 있다.
또 다른 바람직한 실시예에 따르면, 제1 본체부는 적어도 하나의 연결 요소를 통하여 제2 본체부에 연결된다.
대안적으로, 예를 들어 대응하는 나사부를 포함하는 2개의 본체부에 의하여 제1 본체부가 제2 본체부와 직접적으로 서로 나사 결합되는 것 또한 생각할 수 있다.
또 다른 바람직한 실시예에 따르면, 적어도 하나의 연결 요소는 스크류, 핀, 자석 등으로서 설계된다. 이러한 방식으로, 2개의 본체부는 영구적으로 서로 연결되며, 이는 본 발명에 따른 교정 장치의 취급에 유리한 영향을 미친다.
또 다른 바람직한 실시예에 따르면, 본체부를 회전시키기 위하여 가해질 힘은 연결 요소를 통해 조절 가능하다. 예를 들어, 자석으로서 설계된 연결 요소의 자석 강도를 선택함으로써 회전을 위한 힘이 설정될 수 있다. 대안적으로, 스크류로서 설계된 연결 요소의 조임을 통하여 회전을 위한 힘을 설정하는 것이 가능하다. 연결 요소가 핀으로서 설계되었다면, 가해질 핀의 마찰력을 통하여 길이 또는 두께에 의하여 회전을 위한 힘이 설정될 수 있다.
이러한 방식으로 회전을 위한 힘은 교정 장치의 조립 동안에 응용 특정 방식으로 설정될 수 있다.
또 다른 바람직한 실시예에 따르면, 나사식 연결을 위한 스프링이 제1 본체 내에 위치된다. 결과적으로, 공차 보상이 제공될 수 있거나 강제 록킹 연결의 유지력이 직접적으로 변화될 수 있다. 더욱이, 스프링은 회전에 기인한 본 발명에 따른 교정 장치의 마모 및 파열을 감소시킨다.
또 다른 바람직한 실시예에 따르면, 적어도 하나의 디스크, 특히 플라스틱 디스크가 본체 내에 형성된다. 상이한 구성 요소가 서로 접촉하는 임의의 위치에 디스크를 위치시키는 것이 유리하다. 디스크는 2개의 마찰 상대 부재의 마모로 인하여 야기된 마모 및 파열을 감소시킨다.
특히, 스프링과 연결 요소 사이 및/또는 스프링과 제1 본체부 사이 및/또는 제1 본체부와 제2 본체부 사이에 디스크를 위치시키는 것이 유리하다. 상기 구성 요소들 사이에 증가된 마모 가능성이 존재한다.
위에서 제공된 실시예 및 개선된 구조는 의미있는 방식으로 서로 조합될 수 있다.
본 발명의 다른 가능한 실시예, 개선 구조 및 구현들은 또한 예시적인 실시예들을 참조하여 위에서 설명된 또는 하기 설명 내의 본 발명의 특징들의 비명시적으로 언급된 조합을 포함한다. 특히, 당업자는 또한 개별적인 양태를 본 발명의 특정 기본 형태에 대한 개선 또는 부가 사항으로서 추가할 것이다.
본 발명은 도면의 개략적인 도면들에 나타나 있는 예시적인 실시예를 참조하여 이하에서 더욱 상세하게 설명된다.
도 1은 본 발명에 따른 교정 장치의 개략적인 사시도를 나타낸다;
도 2는 제1 상태에 있는 본 발명에 따른 교정 장치의 개략적인 정면도를 나타낸다;
도 3은 제2 상태에 있는 본 발명에 따른 교정 장치의 개략적인 정면도를 나타낸다;
도 4는 본 발명에 따른 교정 장치의 제1 실시예의 개략적인 단면도를 나타낸다;
도 5는 본 발명에 따른 교정 장치의 제1 본체부의 개략적인 사시도를 나타낸다;
도 6은 본 발명에 따른 교정 장치의 제2 본체부의 개략적인 사시도를 나타낸다.
도면의 첨부된 도면은 본 발명의 실시예에 대한 더 깊은 이해를 가능하게 하기 위한 것이다. 도면은 실시예를 도시하며 또한 본 발명의 원리 및 개념을 명확히 하기 위해 설명과 함께 사용된다. 다른 실시예 및 위에서 언급된 많은 이점은 도면에 비추어 명백해진다. 도면의 구성 요소는 반드시 서로에 대해 일정한 축척으로 나타나 있지 않다.
도면 내의 도면들에서, 동일하고, 기능적으로 동일하고, 동일하게 작용하는 요소, 특징 및 구성 요소는 달리 언급되지 않는 한 동일한 참조 부호가 각각 제공된다.
위에서 전체적으로 본 발명의 바람직한 예시적인 실시예에 대하여 상세히 설명하였지만, 본 발명은 이에 제한되지 않고, 다양한 방식으로 변형될 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 교정 장치(10)의 제1 실시예를 나타내고 있다. 교정 장치(10)는 본체를 포함하며, 본체는 도 1에서 미리 조립된 조립체로서 설계된다. 본체(14)는 제1 본체부(14) 및 제2 본체부(16)를 포함하고 있다. 제1 본체부(14)는 다수의 교정 기준부(20(쇼트), 22(로드/매치) 및 24(개방))을 포함하고 있다. 제2 본체부(16)는 관통부(thru)를 위한 교정 기준부(18)용 리셉터클을 포함하고 있다.
제1 및 제2 본체부(14, 16)는 (도 1에는 나타나 있지 않은) 스크류를 통하여 연결된다. 2개의 본체부(14, 16)는 서로에 대하여 회전 가능하다.
도 1의 교정 장치(10)의 조립은 아직 완성되지 않았다. 도 2 및 도 3은 완전히 조립된 상태에 있는 도 1에 따른 교정 장치(10)를 나타내고 있다. 도 2 및 도 3은 커넥터 및 교정 포인트들을 포함하는 교정 장치(10)를 나타내고 있다.
도 2에서, 관통부를 위한 교정 기준부(18)는 커넥터(18a 및 18b)를 포함하는 커넥터 쌍을 포함하고 있다는 것이 명백하다. 교정 장치(10)는 도 2에서 제1 상태로 표현되어 있다. 도 2에 따른 상태에서, 기준부(20, 22)는 가능한 대로 지나치게 외측으로 돌출되며 따라서 교정점(18a, 18b)의 연결을 방해할 수 있기 때문에, 교정 장치(10)의 관통부는 가능하게는 네트워크 분석기에 연결될 수 없다. 따라서, 도 2에 따른 상태는 또한 보관 상태로 지칭될 수 있다. 특히, 도 2의 교정 장치(10)는 편평한 지지 표면을 포함하며 따라서 교정 커넥터의 인터페이스의 긁힘 또는 이에 대한 손상으로부터 보다 잘 보호된다.
도 3은 제2 상태에 있는 도 2에 따른 교정 장치(10)를 나타내고 있다. 도 3에서, 제2 본체부(16)는 제1 본체부(14)에 대해 회전되어 있다. 도 3에 따른 상태에서, 네트워크 분석기(미도시)는 특히 용이하게 관통부를 위한 기준부(18)에 연결될 수 있다.
기준부의 균일하지 않은 형상으로 인하여 교정 장치가 제2 상태, 특히 기준부(18, 20, 22, 24) 상에서 쉽게 긁히거나 다른 유형의 손상에 노출될 수 있기 때문에, 도 2와 대조적으로, 도 3에 따른 상태는 단지 교정 장치(10)의 보관에 조건부로만 적절하다.
도 4는 도 1 내지 도 3 중 하나에 따른, 본 발명에 따른 교정 장치(10)의 단면도를 나타내고 있다. 도 4에서, 교정 장치(10)는 제1 본체부(14)를 제2 본체부(16)에 연결하는 스크류(26)를 포함하고 있다. 스크류(26)는 2개의 본체부(14, 16) 각각의 구멍 내에 위치한다. 제1 본체부(14)는 "함께 회전하는" 스크류(26)에 의하여 제2 본체부(16)에 대해 회전될 수 있다.
스프링(28)은 본체부가 본체(14) 내의 막힌 구멍의 최하부에 의하여 형성되는 멈춤부와 스크류(26)의 헤드 사이에 위치된다. 스프링(28)은 허용 오차 보상을 보장하며 회전을 통해 생성되는 마모와 파열을 감소시킨다. 또한, 스프링(28)은 스크류가 하향으로, 즉 제2 본체부(16)의 방향으로 나사 결합되는 경우 특정 량의 힘이 가해지는 것을 보장한다.
추가의 마모 및 파열을 방지하기 위하기 위하여, 교정 장치(10)는 스프링(28)과 스크류(26)의 헤드 사이에 플라스틱 디스크(30)를 포함하여, 이는 스크류가 스프링(28)에 마찰되는 것을 방지한다. 따라서, 다른 플라스틱 디스크(32) 또한 스프링(28)과 제1 본체부(14) 사이에 위치된다.
제1 본체부(14)는, 제2 본체부(16) 쪽으로 향하는 측에, 가공된 오목부로서 설계된 대략적으로 클로버 잎 형상의 오목부(36)를 포함하고 있다. 제2 본체부(16)는 제1 본체부(14) 쪽으로 향하는 측에, 클로버 잎 형상의 오목부(36)에 대응하는 단차부(40)를 갖고 있다. 오목부(36)와 단차부(40)는 서로 직각을 이루는 2개의 상이한 위치에서 단차부(40)가 오목부(36)와 맞물릴 수 있는 방식으로 설계된다. 따라서, 오목부(36)는 단차부(40)를 위한 멈춤 또는 디텐트(detent) 메커니즘을 형성한다.
본체부(14, 16)를 서로에 대하여 회전시키기 위하여, 사용자는 제2 본체부(16)를 잡아 당기며, 따라서 스프링(28)은 압축되고 단차부(40)는 오목부(36) 밖으로 벗어난다.
스크류(26)와 스프링(28)을 교정 장치(10) 내에 거울-이미지 배치 상태로 위치시키는 것도 가능하며 따라서 스프링(28)뿐만 아니라 스크류(26)의 헤드가 제2 본체부(16) 내에 위치된다는 것이 이해된다.
도 5는 도 1 내지 도 4 중 하나에 따른 교정 장치(10)의 제1 본체부(14), 특히 클로버 잎 형상의 오목부(36)를 나타내고 있다.
도 6은 도 1 내지 도 4 중 하나에 따른 교정 장치(10)의 둥근 디자인의 제2 본체부(16)를 나타내고 있다. 도 6은 특히, 서로에 대해 직각인 상이한 위치들에서 오목부(36)와 맞물릴 수 있는 단차부(40)를 나타내고 있다.
도 1 내지 도 4에 따른 본 발명에 따른 교정 장치(10)의 예시적인 실시예의 경우, 제2 본체부(16)를 오목부(36) 밖으로 잡아 당길 필요없이 제1 본체부(14)와 제2 본체부(16)가 서로에 대하여 회전 가능하다는 점이 특히 유리하다. 이를 위하여, 오목부(36)는 제2 본체부(16) 상의 단차부(40)가 시작 위치에 대해 90°의 각도로 멈춤부를 포함하는 방식으로 설계된다.
이를 위하여, 제2 본체부(16)가 제1 본체부(14)로부터 멀리 들어 올려지는 것을 방지하기에 충분한 보유력을 스프링(28)의 스프링 력이 제공하는 정도로 스크류(26)가 조여진다. 이는 특히 직관적인 방식으로 취급을 단순화한다.
10: 교정 장치
12: 본체
14: 제1 본체부
16: 제2 본체부
18: 관통부 기준부
18a: 관통부 커넥터
18b: 관통부 커넥터
20: 쇼트 기준부
22: 개방 기준부
24: 로드 기준부
26: 스크류
28: 스프링
30: 플라스틱 디스크
32: 플라스틱 디스크
34: 플라스틱 디스크
36: 리셉터클
40: 단차부

Claims (9)

  1. 네트워크 분석기를 교정하기 위한 교정 장치(10)로서,
    - 네트워크 분석기로의 직접 또는 간접 연결을 위한 복수의 교정점(18, 20, 22, 24); 및
    - 상기 교정점(18, 20, 22, 24)을 구비하는 본체(10)를 포함하고,
    상기 교정점(18, 20, 22, 24)의 적어도 하나는 상기 본체(14, 16)의 적어도 일부에 대하여 회전 가능한, 네트워크 분석기를 교정하기 위한 교정 장치(10).
  2. 제1항에 있어서, 상기 본체(12)는 제1 본체부(14)와 제2 본체부(16)를 포함하며, 상기 제2 본체부는 상기 제1 본체부에 대해 회전 가능한 교정 장치(10).
  3. 제2항에 있어서, 상기 제1 본체부는 적어도 하나의 연결 요소(26)를 통하여 상기 제2 본체부에 연결된 교정 장치(10).
  4. 제3항에 있어서, 상기 적어도 하나의 연결 요소는 스크류, 드라이버 핀, 자석 등으로서 설계된 교정 장치(10).
  5. 제3항 또는 제4항에 있어서, 상기 제1 본체부 및/또는 상기 제2 본체부를 회전시키기 위하여 가해질 힘은 상기 연결 요소를 통하여 조절 가능한 교정 장치(10).
  6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 스프링(28)이 상기 제1 본체부 및/또는 상기 제2 본체부 내에 배치된 교정 장치(10).
  7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 적어도 하나의 디스크(30; 32; 34), 특히 플라스틱 디스크가 상기 본체(12) 내에 형성된 교정 장치(10).
  8. 제7항에 있어서, 상기 디스크는 상기 스프링(28)과 상기 연결 요소 사이 및/또는 상기 스프링(28)과 상기 스프링(28)을 포함하는 상기 본체부 사이 및/또는 상기 제1 본체부와 상기 제2 본체부 사이에 위치된 교정 장치(10).
  9. 다수의 교정점(18, 20, 22, 24)을 포함하는 교정 장치(10)를 작동시키는 방법에 있어서.
    - 매치, 쇼트 및/또는 개방을 위하여 상기 교정 장치(10)의 하나의 교정점을 네트워크 분석기에 연결하고 대응하는 교정을 수행하는 단계;
    - 상기 교정 장치(10)와 상기 네트워크 분석기를 분리하는 단계;
    - 상기 네트워크 분석기에 대한 관통부를 구축하기 위한 교정점을 포함하는, 상기 교정 장치의 일부를 회전시키는 단계; 및
    - 상기 교정 장치(10)와 상기 네트워크 분석기 사이에 관통부를 구축하는 단계를 포함하는, 교정 장치를 작동시키는 방법.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7276363B2 (ja) * 2021-01-29 2023-05-18 株式会社村田製作所 アダプタ
CN113917383A (zh) * 2021-10-27 2022-01-11 美迅(无锡)通信科技有限公司 一种矢网校准装置

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5381099A (en) * 1993-03-02 1995-01-10 Unisys Corporation Streak detection for ink-jet printer with obnically connected segment pairs
US5467021A (en) * 1993-05-24 1995-11-14 Atn Microwave, Inc. Calibration method and apparatus
US5565785A (en) * 1994-11-18 1996-10-15 Square D Company Potentiometer calibration method
JP4578736B2 (ja) * 2001-09-05 2010-11-10 Ｕｒｏ電子工業株式会社 直列ユニット
US7019535B2 (en) * 2002-09-16 2006-03-28 Agilent Technologies, Inc. Method and system for calibrating a measurement device path and for measuring a device under test in the calibrated measurement device path
JP4053439B2 (ja) * 2003-02-17 2008-02-27 Ｕｒｏ電子工業株式会社 同軸ケーブル分配器
JP3558086B1 (ja) * 2003-03-05 2004-08-25 株式会社村田製作所 測定誤差の補正方法および電子部品特性測定装置
DE202004013305U1 (de) 2004-08-25 2004-11-04 Rosenberger Hochfrequenztechnik Gmbh & Co. Kg Kalibrierstandard
DE102004047308A1 (de) * 2004-09-29 2006-03-30 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Verifikation der Kalibrierung eines Mehrtor-Netzwerkanalysators und Kalibriereinheit hierfür
JP2006317156A (ja) * 2005-05-10 2006-11-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd ベクトルネットワークアナライザ、ベクトルネットワークアナライザの校正方法、計算機及び標準器基板
ITMI20060716A1 (it) * 2006-04-11 2007-10-12 Abb Service Srl Dispositivo per la taratura di un trasmettitore di campo
BRPI0711023A2 (pt) * 2006-05-18 2011-08-23 Maspro Denko Kk unidade em série
DE202007004296U1 (de) * 2007-03-23 2007-07-12 Rosenberger Hochfrequenztechnik Gmbh & Co. Kg Kalibrieradapter
US7416416B1 (en) * 2007-03-27 2008-08-26 Lih Yeu Seng Industries Co., Ltd. High frequency connector
JP2009093830A (ja) * 2007-10-04 2009-04-30 Nippon Antenna Co Ltd 自在回転同軸端子
KR101402807B1 (ko) * 2007-12-05 2014-06-02 삼성전자주식회사 멀티 커넥터와, 그를 갖는 충전 케이블 및 데이터 케이블
DE102008014039B4 (de) * 2008-03-13 2010-02-18 Spinner Gmbh Anordnung zum Kalibrieren eines Vektornetzwerkanalysators
JP5384378B2 (ja) * 2010-01-21 2014-01-08 日本アンテナ株式会社 直列ユニット
JP5870363B2 (ja) * 2012-03-29 2016-03-01 株式会社Ｋｔ技研 機器ケース
US9722569B1 (en) * 2013-06-12 2017-08-01 Christos Tsironis Multi-band low frequency impedance tuner
US9276551B1 (en) * 2013-07-03 2016-03-01 Christos Tsironis Impedance tuners with rotating multi-section probes

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
OSLT COMPACT CALIBRATION KIT *
SPOTLIGHT-High Frequency Performance Worldwide *

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Publication number Publication date
CN108603924A (zh) 2018-09-28
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