TWM498380U - 自動化檢測機台 - Google Patents

Description

自動化檢測機台

本創作係關於一種檢測機台，特別關於一種自動化檢測機台。

隨著科技的進步，平面顯示裝置已經廣泛的被運用在各種領域，尤其是液晶顯示裝置，因具有體型輕薄、低功率消耗及無輻射等優越特性，已經漸漸地取代傳統陰極射線管顯示裝置，而應用至許多種類之電子產品中，例如行動電話、可攜式多媒體裝置、筆記型電腦、液晶電視及液晶螢幕等等。

平面顯示裝置是一種相當精密的裝置，其由相當多的零件所組成，因此於出廠前需對不同製程的不同階段進行的一系列的檢測工作，例如檢測面板的光學特性(是否有Mura)、IC驅動是否正常、外觀是否有缺角或刮痕…等等，以保證出廠的品質；舉例而言，在面板的點亮檢測中，習知技術係利用人工將欲檢測的面板置放於點亮檢測裝置之檢測平台後，操作點亮檢測裝置進行檢測，當檢測完畢後再利用人工自檢測平台上取下面板，再移到下一工站進行後續製程或進行另一項的檢測，因此，這種人工移動、檢測的方式不僅大量浪費人力及時間成本，而且其檢測效率也不高。

因此，如何提供一種自動化檢測機台，可提高檢測效率、降低製程成本及工站時間，以提高產品的競爭力，已成為重要課題之一。

有鑑於上述課題，本創作之目的為提供一種可提高檢測效率、降低製程成本及工站時間，以提高產品的競爭力之自動化檢測機台。

為達上述目的，依本創作之一種自動化檢測機台，可用於自動檢測至少一電子裝置，電子裝置承載於一承載裝置，而自動化檢測機台 至少包括一自動取料裝置以及一點亮檢測裝置。自動取料裝置自承載裝置取出電子裝置。點亮檢測裝置鄰設於自動取料裝置，並具有一檢測平台，電子裝置被自動移動到檢測平台上，且點亮檢測裝置對電子裝置進行自動化點亮檢測。

承上所述，因依據本創作之自動化檢測機台中，自動化檢測機台至少包括一自動取料裝置以及一點亮檢測裝置，其中，自動取料裝置可自承載裝置取出電子裝置，而點亮檢測裝置具有一檢測平台，且電子裝置可被自動移動到檢測平台上，使得點亮檢測裝置對電子裝置進行自動化點亮檢測。藉此，相較於習知以人工上料、下料而言，自動化檢測機台至少可自動化進行電子裝置的點亮檢測工作，故可提高檢測效率、降低製程成本及工站時間，以提高產品的競爭力。

A、B、C‧‧‧自動化檢測機台

A1、B1、C1‧‧‧自動取料裝置

A2‧‧‧定位除塵裝置

A21‧‧‧定位平台

A22‧‧‧吹嘴

A23‧‧‧粘塵滾輪

A3‧‧‧移載裝置

A31‧‧‧馬達

A4、B4、C5‧‧‧點亮檢測裝置

A41、B41、C51‧‧‧檢測平台

A5‧‧‧下料裝置

B7、B11、C8、C11‧‧‧托盤升降裝置

B12、C12、D2‧‧‧輸送帶

B2、C2‧‧‧電連接裝置

B3‧‧‧光學檢測裝置

B5、C6‧‧‧電分離裝置

B6、C7‧‧‧噴碼裝置

C3‧‧‧觸控檢測裝置

C4‧‧‧外觀檢查裝置

D、D1‧‧‧承載裝置

圖1A為本創作第一實施例之一種自動化檢測機台的方塊示意圖。

圖1B為第一實施例之自動化檢測機台的俯視示意圖。

圖2A為本創作第二實施例之一種自動化檢測機台的方塊示意圖。

圖2B及圖2C分別為第二實施例之自動化檢測機台的俯視示意圖及側視示意圖。

圖3A為本創作第三實施例之一種自動化檢測機台的方塊示意圖。

圖3B及圖3C分別為第三實施例之自動化檢測機台的俯視示意圖及側視示意圖。

以下將參照相關圖式，說明依本創作較佳實施例之自動化檢測機台，其中相同的元件將以相同的元件符號加以說明。

請參照圖1A及圖1B所示，其中，圖1A為本創作第一實施例之一種自動化檢測機台A的方塊示意圖，而圖1B為第一實施例之自動化檢測機台A的俯視示意圖。

自動化檢測機台A可用於自動化檢測至少一電子裝置。本實施例之自動化檢測機台A為一自動畫面檢查(Automatic Picture Inspection, API)。另外，電子裝置例如為平面顯示面板、模組或裝置的至少一部份，特別是液晶顯示面板、模組或裝置的至少一部分，且自動化檢測機台A可例如用以進行電子裝置的光學檢測、點燈檢測或外觀檢測，或其他檢測，或其組合等，並不限定。其中，電子裝置可承載於一承載裝置D。承載裝置D可為一卡匣(cassette，一個卡匣例如可放置60片面板)、一托盤(一個托盤例如可同時存放12片面板)，或一輸送帶(或稱流水線)，而電子裝置可包含至少一面板。在本實施例中，承載裝置D例如為一卡匣，而電子裝置為一面板，且一個卡匣(承載裝置D)可同時存放60片的面板。另外，這裏所謂的面板為「素面板」，「素面板」是由薄膜電晶體基板、液晶層及彩色濾光基板所構成，並不包含上、下偏光板及對應的控制電路。

如圖1A及圖1B所示，自動化檢測機台A至少包括一自動取料裝置A1以及一點亮檢測裝置A4。另外，本實施例之自動化檢測機台A更包括一定位除塵裝置A2、一移載裝置A3及一下料裝置A5。

自動取料裝置A1可自承載裝置D中取出電子裝置。在本實施例中，自動取料裝置A1可為一四軸或六軸的機械手臂，並不限定，且自動取料裝置A1(機械手臂)係以吸取方式由承載裝置D(卡匣)移動面板至自動化檢測機台A內，以自動化進行面板的點亮檢測。

定位除塵裝置A2與自動取料裝置A1連接，自動取料裝置A1可將面板由承載裝置D自動移動至定位除塵裝置A2，且定位除塵裝置A2可對面板進行自動化除塵與定位。在本實施例中，係利用機械手臂拿取面板，並將面板移動至定位除塵裝置A2的一定位平台A21上進行定位後，再透過吹嘴A22(圖1A未標示)對面板吹氣，之後，利用粘塵滾輪A23(圖1A未標示)對面板進行除塵工作(一次可進行二片面板的定位、吹氣及除塵工作)。

移載裝置A3分別與定位除塵裝置A2及點亮檢測裝置A4連接，移載裝置A3可將已除塵及定位後的面板移到點亮檢測裝置A4之檢測平台A41上，且移載裝置A3更將檢測完成的面板移出檢測平台A41。其中，移載裝置A3可例如包含吸嘴、馬達、連桿及線軌等元件。另外，點亮檢測裝置A4係鄰設於自動取料裝置A1、定位除塵裝置A2及移載裝置 A3。點亮檢測裝置A4具有一檢測平台A41，而電子裝置被移載裝置A3移動到檢測平台A41上，且點亮檢測裝置A4可對電子裝置進行自動化點亮檢測。在本實施例中，透過移載裝置A3之吸嘴(具有二組吸嘴，未標示)可將面板吸取、移動(馬達A31驅動而移動)到點亮檢測裝置A4的檢測平台A41上定位(一次可吸取二片面板，並由一馬達A31移動至定位除塵裝置A2，同時將定位除塵裝置A2上的二片面板由另一馬達A31移動至點亮檢測裝置A4)。於點亮檢測裝置A4的檢測平台A41上定位後，可利用例如導電探針電連接該些面板，以點亮該些面板後以光學鏡頭(例如CCD)拍攝點亮的面板，以確定面板是有缺陷，例如點亮面板後，面板是否有R、G、B的缺陷、是否有亮暗條紋(Mura)、…等等。要注意的是，在點亮檢測裝置A4的點亮檢測中，該些面板並未偏貼偏光板，因此，於點亮該些面板並以光學鏡頭拍攝時，需使用偏光板(未標示)對應遮住該些面板。

其中，當該些面板的檢測為正常時，則再透過移載裝置A3將檢測正常的該些面板移動至一正常區。另外，當該些面板的檢測為不正常時，則透過移載裝置A3將檢測不正常的該些面板移動至一待複驗區。於此，當點亮檢測後沒有問題，則移載裝置A3的馬達A31可帶動吸嘴吸取正常的面板移動至正常區，正常區的面板可透過下料裝置A5(例如機械手臂)移動到另一承載裝置D1(於此亦為卡匣)內存放；另外，當點亮檢測後面板有問題時，則移載裝置A3的馬達A31可帶動吸嘴吸取有問題的面板移動至待複驗區(待複驗區可位於一輸送帶D2上)，待人工進行複檢，以確定是否為真正有瑕疵的面板。

承上，於自動化檢測機台A中，電子裝置(面板)的移動、上料、下料是完全自動化的，相較於習知以人工上料、下料而言，自動化檢測機台A可自動化進行面板的點亮檢測，故可提高檢測效率、降低製程成本及工站時間，以提高產品的競爭力。

另外，請參照圖2A至圖2C所示，其中，圖2A為本創作第二實施例之一種自動化檢測機台B的方塊示意圖，而圖2B及圖2C分別為第二實施例之自動化檢測機台B的俯視示意圖及側視示意圖。

自動化檢測機台B一樣可用於自動化檢測至少一電子裝 置。本實施例之自動化檢測機台B亦為一自動畫面檢查。此外，本實施例之電子裝置為一顯示模組，顯示模組包含一(素)面板、至少一偏光板及至少一電路板，且自動化檢測機台B可進行顯示模組的光學檢測及點燈檢測。於此，係將該些素面板分別與上、下偏光板組合後，再與控制用的電路板(例如軟性電路板；FPC)進行連結(bonding)後，得到複數個顯示模組，再使用自動取料裝置B1將該些顯示模組移動至自動化檢測機台B內，以自動化進行該些顯示模組的光學檢測及點亮檢測。

如圖2A至圖2C所示，自動化檢測機台B至少包括一自動取料裝置B1以及一點亮檢測裝置B4。另外，本實施例之自動化檢測機台B更包括一電連接裝置B2、一光學檢測裝置B3、一電分離裝置B5、一噴碼裝置B6及另一托盤升降裝置B7。

自動取料裝置B1包含一托盤升降裝置B11及一輸送帶B12，托盤升降裝置B11可移動至少一托盤，且托盤可承載電子裝置(於此為顯示模組)，而輸送帶B12可分為上、下兩層，並承載著托盤在自動化檢測機台B內移動至指定位置。於此，具有上、下兩層的輸送帶B12可承載著複數個(例如60個)托盤自動在自動取料裝置B1、電連接裝置B2、光學檢測裝置B3、點亮檢測裝置B4、電分離裝置B5、噴碼裝置B6及另一托盤升降裝置B7之間循環流動，以帶動複數個顯示模組於自動化檢測機台B內移動。其中，托盤升降裝置B11可將托盤由一第一位置移到一第二位置，且於第二位置時，托盤內係承載至少一個顯示模組。在本實施例中，第一位置為托盤升降裝置B11的下層位置(下層輸送帶)，而第二位置為托盤升降裝置B11的上層位置(上層輸送帶)，且托盤升降裝置B11可將空的托盤由下層的第一位置移到上層的第二位置，而在第二位置時，可將例如8片的顯示模組放置於托盤內(可以人工或自動方式)，並透過輸送帶B12承載具有該些顯示模組的托盤於自動化檢測機台B之設備移動。

電連接裝置B2與托盤升降裝置B11連接，並具有複數電連接元件(未標示)，且輸送帶B12可將內含有顯示模組的托盤由托盤升降裝置B11的第二位置移動至電連接裝置B2，而該些電連接元件可透過電路板電性連接顯示模組。於此，電連接元件例如為導電探針，並以例如人工方 式(也可為自動方式)將導電探針電連接於顯示模組之電路板的電性輸入端子，以透過電路板電連接顯示模組。

光學檢測裝置B3與電連接裝置B2及點亮檢測裝置B4連接，且光學檢測裝置B3可對顯示模組進行自動化光學檢測。於此，於電連接裝置B2完成電連接之後，輸送帶B12再將托盤移動到光學檢測裝置B3，由於顯示模組已具有電路板(例如軟性電路板)，因此，本實施例之光學檢測裝置B3可透過電路板點亮該些顯示模組。其中，光學檢測例如是檢查顯示模組的顯示畫面是否有閃爍(flicker)現象、校正灰白點、…等等。

點亮檢測裝置B4分別與光學檢測裝置B3及電分離裝置B5連接。其中，點亮檢測裝置B4具有一檢測平台B41(圖2B及圖2C未標示)，而該些顯示模組可被輸送帶B12由光學檢測裝置B3移動到點亮檢測裝置B4之檢測平台B41上，使點亮檢測裝置B4可對顯示模組進行自動化點亮檢測。於此，係透過該些電連接元件及電路板點亮特定畫面(使面板顯示特定的影像畫面)，以確定電路板的連結及IC驅動是否為正常。

電分離裝置B5與點亮檢測裝置B4連接，於電分離裝置B5中時，該些電連接元件與顯示模組分離。於此，輸送帶B12可將托盤移動至電分離裝置B5，並將該些電連接元件與該些顯示模組進行分離，且由托盤內取出該些顯示模組。於此，係透過人工方式(也可為自動方式)將該些電連接元件與該些顯示模組進行電性分離，並將該些顯示模組由托盤內取出。

噴碼裝置B6(圖2C未標示)與電分離裝置B5連接。其中，噴碼裝置B6可對托盤內的該些顯示模組進行噴碼(未取出時)，以區別該些顯示模組的檢測為正常或異常。由於光學檢測及點亮檢測時已確定顯示模組是否為正常，因此，可透過噴碼裝置B6(例如噴墨機)將檢測為正常的顯示模組噴上記號，以標示為正常(例如噴上OK的字樣)；若檢測為異常，則噴上例如NG的字樣，以使人員於電分離裝置B5時可容易辨識。

另一托盤升降裝置B7與電分離裝置B5連接。其中，另一托盤升降裝置B7可將托盤由一第三位置移到至一第四位置，且輸送帶B12可將托盤由第四位置移動到托盤升降裝置B11的第一位置。於此，由於於 電分離裝置B5時已取出顯示模組，因此，托盤由輸送帶B12移動到達托盤升降裝置B7的第三位置(上層輸送帶)時已是空的，透過托盤升降裝置B7可將托盤由上層的第三位置移到至下層的第四位置(下層輸送帶)，且輸送帶B12可自動將托盤由托盤升降裝置B7的第四位置移動到托盤升降裝置B11的第一位置(下層位置)，即可重覆循環使用該些托盤。於此，可稱為雙層迴流。

承上，於自動化檢測機台B中，係透過輸送帶B12承載具有顯示模組的托盤自動於自動化檢測機台B的裝置之間移動，因此，相較於習知以人工上料、下料而言，自動化檢測機台B可自動化進行該些顯示模組的光學檢測及點亮檢測，故可提高檢測效率、降低製程成本及工站時間，以提高產品的競爭力。

另外，請參照圖3A至圖3C所示，其中，圖3A為本創作第三實施例之一種自動化檢測機台C的方塊示意圖，而圖3B及圖3C分別為第三實施例之自動化檢測機台C的俯視示意圖及側視示意圖。

自動化檢測機台C一樣可用於自動化檢測至少一電子裝置。本實施例之自動化檢測機台C亦為一自動畫面檢查。此外，由於不同的檢測需求，本實施例之電子裝置除了包含一(素)面板之外，該面板與至少一偏光板及至少一電路板組合而成為一顯示模組，再與一觸控面板組合而成為一觸控顯示模組，或者，在其他的檢測物件中，該面板與至少一偏光板、至少一電路板及一背光模組組合而成為一顯示裝置，再與觸控面板組合而成為一觸控顯示裝置，使得自動化檢測機台C可進行觸控顯示模組或觸控顯示裝置的觸控功能檢測及點燈檢測。於此，係將該些素面板與上、下偏光板組合後，再與控制用的電路板(例如軟性電路板；FPC)進行連結(bonding)後，得到顯示模組，顯示模組可與觸控面板組合而得到觸控顯示模組，或者，顯示模組與背光模組組合再與觸控面板組合而得到觸控顯示裝置，而自動取料裝置C1可將觸控顯示模組或觸控顯示裝置移動至自動化檢測機台C內，以自動化進行觸控顯示模組或觸控顯示裝置的觸控功能檢測及點燈檢測。

如圖3A至圖3C所示，自動化檢測機台C至少包括一自動 取料裝置C1以及一點亮檢測裝置C5。另外，本實施例之自動化檢測機台C更包括一電連接裝置C2、一觸控檢測裝置C3、一外觀檢查裝置C4、一電分離裝置C6、一噴碼裝置C7及另一托盤升降裝置C8。

自動取料裝置C1包含一托盤升降裝置C11及一輸送帶C12，托盤升降裝置C11可移動至少一托盤，且托盤可承載電子裝置(於此可為觸控顯示模組或觸控顯示裝置，視被檢測的物件為何)，而輸送帶C12可分為上、下兩層，並承載著托盤在自動化檢測機台C內移動至指定位置。於此，具有上、下兩層的輸送帶C12可承載著複數托盤自動在自動取料裝置C1、電連接裝置C2、觸控檢測裝置C3、外觀檢查裝置C4、點亮檢測裝置C5、電分離裝置C6、噴碼裝置C7及另一托盤升降裝置C8之間循環流動，以帶動複數個觸控顯示模組或觸控顯示裝置於自動化檢測機台C內移動。其中，托盤升降裝置C11可將托盤由一第一位置移到一第二位置，且於第二位置時，托盤內係承載至少一個觸控顯示模組或觸控顯示裝置。在本實施例中，第一位置為托盤升降裝置C11的下層位置(下層輸送帶)，而第二位置為托盤升降裝置C11的上層位置(上層輸送帶)，且托盤升降裝置C11可將空的托盤由下層的第一位置移到上層的第二位置，而在第二位置時，可將例如8片的觸控顯示模組或觸控顯示裝置放置於托盤內，並透過輸送帶C12承載該些觸控顯示模組或觸控顯示裝置的托盤於自動化檢測機台C內移動。

電連接裝置C2與托盤升降裝置C11連接，並具有複數電連接元件，且輸送帶C12可將內含有觸控顯示模組或觸控顯示裝置的托盤由第二位置移動至電連接裝置C2。其中，該些電連接元件可透過電路板電性連接觸控顯示模組或觸控顯示裝置。於此，電連接元件例如為導電探針，並以例如人工方式(也可為自動方式)將導電探針電連接於觸控顯示模組或觸控顯示裝置之電路板的電性輸入端子，以透過電路板電性連接觸控顯示模組或觸控顯示裝置。

觸控檢測裝置C3與電連接裝置C2及外觀檢查裝置C4連接，且觸控檢測裝置C3可對觸控顯示模組或觸控顯示裝置進行觸控功能檢測。於此，係檢查該些觸控顯示裝置或該些觸控顯示模組的觸控功能是否 正常。

外觀檢查裝置C4與觸控檢測裝置C3及點亮檢測裝置C5連接。其中，外觀檢查裝置C4可對觸控顯示模組或觸控顯示裝置進行外觀檢測。於此，輸送帶C12可將托盤移動到外觀檢查裝置C4，以透過外觀檢查裝置C4對該些觸控顯示裝置或該些觸控顯示模組進行外觀檢測。例如以光學鏡頭檢查觸控顯示裝置或觸控顯示模組是否有物理性缺陷，以確定觸控顯示裝置或觸控顯示模組的外觀有否缺角或刮傷。

點亮檢測裝置C5分別與外觀檢查裝置C4及電分離裝置C6連接。其中，點亮檢測裝置C5具有一檢測平台C51(圖3B及圖3C未標示)，而觸控顯示裝置或該些觸控顯示模組可被輸送帶C12由外觀檢查裝置C4移動到檢測平台C51上，使點亮檢測裝置C5可對觸控顯示裝置或該些觸控顯示模組進行自動化點亮檢測。於此，係透過該些電連接元件及電路板點亮特定畫面(使面板顯示特定的影像畫面)，以確定電路板的連結及IC驅動是否正常。

電分離裝置C6分別與點亮檢測裝置C5及另一托盤升降裝置C8連接，且於電分離裝置C6時，該些電連接元件與觸控顯示模組或觸控顯示裝置電分離。輸送帶C12可將點亮檢測完成的托盤移動至電分離裝置C6，並將該些電連接元件與該些觸控顯示模組或觸控顯示裝置進行分離(可以人工或自動方式)，且由托盤內取出該些觸控顯示模組或觸控顯示裝置。於此，係透過人工方式將該些電連接元件與該些觸控顯示模組或觸控顯示裝置進行電性分離，並將檢測完成的該些觸控顯示模組或觸控顯示裝置取出。

噴碼裝置C7(圖3C未標示)與電分離裝置C6連接，其中，噴碼裝置C7可對托盤內的觸控顯示模組或觸控顯示裝置進行噴碼(未取出時)，以區別觸控顯示模組或觸控顯示裝置的檢測為正常或異常。由於觸控功能檢測、外觀檢測及點亮檢測後已確定觸控顯示模組或觸控顯示裝置是否為正常物件，因此，可透過噴碼裝置C7(例如噴墨機)將正常的觸控顯示模組或觸控顯示裝置噴上記號，以標示為正常(例如噴上OK的字樣)；若檢測為異常，則噴上例如NG的字樣，以使人員於電分離裝置C6時可更 容易辨識正常或異常的物件。

另一托盤升降裝置C8與電分離裝置C6連接，另一托盤升降裝置C8可將托盤由一第三位置移到至一第四位置，且輸送帶C12可將托盤由第四位置移動到托盤升降裝置C11的第一位置。於此，由於於電分離裝置C6時已取出顯示模組，因此，輸送帶C12帶動托盤到達托盤升降裝置C8的第三位置(上層位置)時已是空的，此時托盤升降裝置C8可將托盤由上層的第三位置移到至下層的第四位置，且輸送帶C12可自動將空的托盤由托盤升降裝置C8的第四位置移動到托盤升降裝置C11的第一位置，即可重覆循環使用該些托盤。於此，仍稱為雙層迴流。

承上，於自動化檢測機台C中，係透過輸送帶C12承載具有觸控顯示模組或觸控顯示裝置的托盤自動於自動化檢測機台C的裝置之間移動，因此，相較於習知以人工上料、下料而言，自動化檢測機台C可自動化進行該些觸控顯示裝置或觸控顯示模組的觸控測試、外觀檢測及點亮檢測，故可提高檢測效率、降低製程成本及工站時間，以提高產品的競爭力。

綜上所述，因依據本創作之自動化檢測機台中，自動化檢測機台至少包括一自動取料裝置以及一點亮檢測裝置，其中，自動取料裝置可自承載裝置取出電子裝置，而點亮檢測裝置具有一檢測平台，且電子裝置可被自動移動到檢測平台上，使得點亮檢測裝置對電子裝置進行自動化點亮檢測。藉此，相較於習知以人工上料、下料而言，自動化檢測機台至少可自動化進行電子裝置的點亮檢測工作，故可提高檢測效率、降低製程成本及工站時間，以提高產品的競爭力。

以上所述僅為舉例性，而非為限制性者。任何未脫離本創作之精神與範疇，而對其進行之等效修改或變更，均應包含於後附之申請專利範圍中。

A‧‧‧自動化檢測機台

A1‧‧‧自動取料裝置

A2‧‧‧定位除塵裝置

A21‧‧‧定位平台

A3‧‧‧移載裝置

A4‧‧‧點亮檢測裝置

A41‧‧‧檢測平台

A5‧‧‧下料裝置

D、D1‧‧‧承載裝置

D2‧‧‧輸送帶

Claims (17)

1. 一種自動化檢測機台，係用於自動檢測至少一電子裝置，該電子裝置承載於一承載裝置，該自動化檢測機台至少包括：一自動取料裝置，其自該承載裝置中取出該電子裝置；以及一點亮檢測裝置，鄰設於該自動取料裝置，該點亮檢測裝置具有一檢測平台，該電子裝置被自動移動到該檢測平台上，且該點亮檢測裝置對該電子裝置進行自動化點亮檢測。
2. 如申請專利範圍第1項所述之自動化檢測機台，其中該承載裝置為一卡匣、一托盤，或一輸送帶。
3. 如申請專利範圍第1項所述之自動化檢測機台，其中該自動取料裝置包含一四軸或六軸的機械手臂。
4. 如申請專利範圍第3項所述之自動化檢測機台，其中該電子裝置包含至少一面板，該自動化檢測機台更包括：一定位除塵裝置，與該自動取料裝置連接，該自動取料裝置將該面板由該承載裝置移動至該定位除塵裝置，該定位除塵裝置對該面板進行自動化除塵與定位。
5. 如申請專利範圍第4項所述之自動化檢測機台，更包括：一移載裝置，分別與該定位除塵裝置及該點亮檢測裝置連接，該移載裝置將已除塵及定位後的該面板移到該點亮檢測裝置之該檢測平台上，且該移載裝置更將檢測完成的該面板移出該檢測平台。
6. 如申請專利範圍第1項所述之自動化檢測機台，其中該自動取料裝置包含一托盤升降裝置及一輸送帶，該托盤升降裝置移動至少一托盤，該托盤承載該電子裝置，且該輸送帶承載及移動該托盤於該自機化檢測機台內移動。
7. 如申請專利範圍第6項所述之自動化檢測機台，其中該電子裝置包含一面板，並與至少一偏光板及至少一電路板合而成為一顯示模組，該托盤升降裝置將該托盤由一第一位置移到一第二位置，且於該第二位置時，該托盤內承載至少一個該顯示模組。
8. 如申請專利範圍第7項所述之自動化檢測機台，更包括： 一電連接裝置，與該托盤升降裝置連接，並具有複數電連接元件，該輸送帶將內含有該顯示模組的該托盤由該第二位置移動至該電連接裝置，且該些電連接元件透過該電路板電性連接該顯示模組；及一電分離裝置，與該點亮檢測裝置連接，於該電分離裝置中，該些電連接元件與該顯示模組分離。
9. 如申請專利範圍第8項所述之自動化檢測機台，更包括：一光學檢測裝置，與該電連接裝置及該點亮檢測裝置連接，該光學檢測裝置對該顯示模組進行自動化光學檢測。
10. 如申請專利範圍第9項所述之自動化檢測機台，更包括：一噴碼裝置，與該電分離裝置連接，該噴碼裝置對該托盤內的該顯示模組進行噴碼，以區別該顯示模組的檢測為正常或異常。
11. 如申請專利範圍第9項所述之自動化檢測機台，更包括：另一托盤升降裝置，與該電分離裝置連接，該另一托盤升降裝置將該托盤由一第三位置移到至一第四位置，且該輸送帶將該托盤由該第四位置移動到該托盤升降裝置的該第一位置。
12. 如申請專利範圍第6項所述之自動化檢測機台，其中該電子裝置包含一面板，並與至少一偏光板及至少一電路板合而成為一顯示模組，或者該電子裝置包含一面板，並與至少一偏光板、至少一電路板及一背光模組組合而成為一顯示裝置。
13. 如申請專利範圍第12項所述之自動化檢測機台，其中該顯示模組與一觸控面板組合而成為一觸控顯示模組，或該顯示裝置與該觸控面板組合而成為一觸控顯示裝置，該托盤升降裝置將該托盤由一第一位置移到一第二位置，且於該第二位置時，該托盤內承載至少一個該觸控顯示模組或至少一觸控顯示裝置。
14. 如申請專利範圍第13項所述之自動化檢測機台，更包括：一電連接裝置，與該托盤升降裝置連接，並具有複數電連接元件，該輸送帶將內含有該觸控顯示模組或該觸控顯示裝置的該托盤由該第二位置移動至該電連接裝置，且該些電連接元件透過該電路板電連接該觸控顯示模組或該觸控顯示裝置；及 一電分離裝置，與該點亮檢測裝置連接，且於該電分離裝置中，該些電連接元件與該觸控顯示模組或該觸控顯示裝置分離。
15. 如申請專利範圍第14項所述之自動化檢測機台，更包括：一觸控檢測裝置，與該電連接裝置連接，該觸控檢測裝置對該觸控顯示模組或該觸控顯示裝置進行觸控功能檢測；及一外觀檢查裝置，與該觸控檢測裝置及該點亮檢測裝置連接，該外觀檢查裝置對該觸控顯示模組或該觸控顯示裝置進行外觀檢測。
16. 如申請專利範圍第15項所述之自動化檢測機台，更包括：一噴碼裝置，與該電分離裝置連接，該噴碼裝置對該托盤內的該觸控顯示模組或該觸控顯示裝置進行噴碼，以區別該觸控顯示模組或該觸控顯示裝置的檢測為正常或異常。
17. 如申請專利範圍第15項所述之自動化檢測機台，更包括：另一托盤升降裝置，與該電分離裝置連接，該另一托盤升降裝置將該托盤由一第三位置移到至一第四位置，且該輸送帶將該托盤由該第四位置移動到該托盤升降裝置的該第一位置。