KR101377988B1 - 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치 - Google Patents

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KR101377988B1
KR101377988B1 KR1020140002940A KR20140002940A KR101377988B1 KR 101377988 B1 KR101377988 B1 KR 101377988B1 KR 1020140002940 A KR1020140002940 A KR 1020140002940A KR 20140002940 A KR20140002940 A KR 20140002940A KR 101377988 B1 KR101377988 B1 KR 101377988B1
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김병욱
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Abstract

본 발명은 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치에 관한 것으로, 검사 대상체에 해당하는 렌즈 어셈블리를 Tray 단위로 순차 공급하는 로딩부, 상기 로딩부에서 공급되는 렌즈 어셈블리 Tray를 검사 영역으로 위치시키기 위해 렌즈 어셈블리 Tray를 픽업하는 트레이 피커가 구비되고, 상기 트레이 피커는 인라인(in-line) 구조의 겐트리 스테이지에 구성되어 검사 영역으로 위치시키거나 검사 영역에서 완료된 검사 대상체 Tray를 배출시키기 위한 인라인 스테이지, 상기 인라인 스테이지에 구성된 상기 트레이 피커로부터 공급되는 검사 대상체 Tray가 놓여지는 것으로, 회전 구동 시 기 결정된 회전각만큼 한 스텝씩 구동하여 놓여진 상기 검사 대상체 Tray를 각 검사 영역으로 위치시키기 위해 구동부에 의해 구동되는 턴 테이블, 상기 턴 테이블의 상부측에 각각 구성되어 검사 스펙별 촬영 기능을 가지고 검사 대상체를 촬영하여 검사를 실시하는 촬영부 및 상기 촬영부에서 검사가 완료된 검사 대상체 Tray를 상기 인라인 스테이지에 의해 이송되면 외부로 반출시키기 위한 언로딩부를 포함하고, 상기 인라인 스테이지의 길이축에 대해 상기 로딩부와 언로딩부는 양끝부분에 위치하고, 상기 턴 테이블은 그 사이에 위치하여 상기 트레이 피커가 겐트리 스테이지의 길이 범위에서 구동하면서 공급, 검사, 배출이 구현되는 것을 특징으로 한다.

Description

렌즈 어셈블리 고속 검사 장치{Lens assembly, high-speed inspection equipment}
본 발명은 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치에 관한 것으로, 좀 더 상세하게는 검사 대상체의 공급에서부터 배출까지 이송 경로를 인라인으로 구성하여 최소 공간에서 여러 구간의 검사를 빠르게 수행할 수 있는 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치에 관한 것이다.
종래기술에서는 소형 렌즈 어셈블리(이하 Lens Ass'y)를 검사할 때 Tray에서 하나씩 꺼내어 검사 스테이지에 로딩하고 검사가 끝나면 양불 판정을 하여 양품 Tray와 불량 Tray에 분류 적재하는 구조로 검사시간이 상당히 많이 소용되는 문제가 있었다.
Lens Ass'y는 단렌즈가 여러 장 겹쳐진 상태로 조립되어 있어, Lens Ass'y의 이물이나 흑점, 스크래치 등의 불량을 판정하기 위하여 Z방향으로 여러 구간으로 나눠 카메라로 검사해야 한다.
그렇게 하기 위하여 각각의 렌즈어셈블리를 Turn Table에 로딩하고 단계적으로 돌려가면서 3 ~ 4대의 카메라를 거치면서 검사가 진행되고 다시 렌즈 어셈블리를 Turn Table에서 Tray로 언로딩하는 구조였었다.
이 방식의 문제점은 Turn Table의 직경이 크기 때문에 회전 시 평면도를 유지하기 어려워 Defocusing 에러를 유발하고, 모든 렌즈어셈블리를 낱개로 로딩하고 언로딩하는 과정을 거침으로써, 시간이 많이 소요되는 문제가 있었다. 또한 매거진을 넣고 빼는 방향이 여러 방향으로 나뉘어져 작업 동선이 매우 불편하고 비효율적인 단점이 있었다.
KR 10-1192331호 KR 10-0280006호 KR 10-1021691호
상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명은 기존 장비의 가장 큰 문제점인 모든 렌즈 어셈블리를 낱개로 핸들링 함으로써, 검사 이외의 핸들링에 많은 소요시간을 줄이기 위해. 여러 렌즈 어셈블리(예: 100개)가 구성된 Tray 채로 스테이지에 로딩하여 검사하고, 검사 후 불량 LensAss'y 만 선별하여 분류함으로써 렌즈 어셈블리 핸들링에 소요되는 시간을 대폭 줄일 수 있는 렌즈 어셈블리 검사 장치를 제공하고자 하는데 목적이 있다.
또한, Tray를 Turn Table에 로딩하고 90도씩 단계적으로 회전하여 로딩되었던 위치로 되돌아 나오게 함으로써, 로봇 구동 동선을 단순화하고 소요시간을 줄였으며, 3개의 Tray가 로딩된 상태에서 턴 테이블(Trun Table)을 X, Y축으로 구동함으로써 3개의 Tray를 동시에 검사하여 결과적으로 검사시간을 크게 줄이는데 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 검사 대상체에 해당하는 렌즈 어셈블리를 Tray 단위로 순차 공급하는 로딩부, 상기 로딩부에서 공급되는 렌즈 어셈블리를 검사 영역으로 위치시키기 위해 렌즈 어셈블리 Tray를 픽업하는 트레이 피커가 구비되고, 상기 트레이 피커는 인라인(in-line) 구조의 겐트리 스테이지에 구성되어 검사 영역으로 위치시키거나 검사 영역에서 완료된 검사 대상체를 배출시키기 위한 인라인 스테이지, 상기 인라인 스테이지에 구성된 상기 트레이 피커로부터 공급되는 검사 대상체 Tray가 놓여지는 것으로, 회전 구동 시 기 결정된 회전각만큼 한 스텝씩 구동하여 놓여진 상기 검사 대상체 Tray를 각 검사 영역으로 위치시키기 위해 구동부에 의해 구동되는 턴 테이블, 상기 턴 테이블의 상부측에 각각 구성되어 검사 스펙별 촬영 기능을 가지고 검사 대상체를 촬영하여 검사를 실시하는 촬영부 및 상기 촬영부에서 검사가 완료된 검사 대상체 Tray를 상기 인라인 스테이지에 의해 이송되면 외부로 반출시키기 위한 언로딩부를 포함하고, 상기 인라인 스테이지의 길이축에 대해 상기 로딩부와 언로딩부는 양끝부분에 위치하고, 상기 턴 테이블은 그 사이에 위치하여 상기 트레이 피커가 겐트리 스테이지의 길이 범위에서 구동하면서 공급, 검사, 배출이 구현되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 트레이 피커는, 상기 인라인 스테이지에 연결되어 인라인(in-line)으로 구동하면서 로딩부에서 공급되는 검사 대상체 Tray를 상기 턴 테이블로 공급하거나, 검사가 완료된 검사 대상체 Tray를 언로딩부에 공급하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 턴 테이블은, 90도 간격으로 4개의 배치 영역을 가지며, 하나의 영역으로는 상기 인라인 스테이지에 의해 공급되는 검사 대상체 Tray가 놓여지고, 나머지 3개의 영역으로는 검사 영역에 해당하고, 상기 턴 테이블은 90도만큼 회전 구동하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 로딩부를 통해 공급된 검사 대상체 Tray의 최종 공급 위치와, 상기 트레이 피커를 통해 턴 테이블에 공급되는 위치와, 검사 완료된 검사 대상체가 배출되기 위해 언로딩부에 놓여지는 위치는 상기 인라인 스테이지를 기준으로 동일선상에 구성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 언로딩부는, 검사 완료된 상기 검사 대상체 Tray에서 양품을 배출하는 양품 언로딩부와, 불량품을 배출하는 불량 언로딩부를 포함하여 구성된다.
또한, 상기 턴 테이블은, 상기 구동부에 의해 x, y축으로만 구동하여 검사 대상체를 이동시킴으로써, 상기 촬영부에서 전면을 촬영하여 검사하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 촬영부는, 각각 렌즈 어셈블리에 대한 초점 위치가 다르도록 구성되어 각 촬영부마다 검사 조건이 달리 구성된 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 턴 테이블은, 상기 트레이 피커의 픽업 가이드가 상기 검사 대상체 Tray(트레이)를 턴 테이블의 검사 영역에 위치시키거나 배출시킬 때 픽업 가이드가 진입 가능하도록 픽업 섹션부가 구성되어 상기 검사 대상체 Tray를 픽업할 때 픽업 가이드가 상기 픽업 섹션부에 진입한 후 검사 대상체 Tray가 픽업되도록 구성된다.
상기와 같이 구성되고 작용되는 본 발명은 LensAss'y를 하나씩 꺼내지 않고 LensAss'y가 Tray에 담긴 상태에서 Tray를 Turn Table에 로딩(Loading)하고, Turn Table이 X, Y, Θ로 움직이며 3개의 Tray를 동시에 검사하여 양불을 판정하고, 검사가 끝난 후에 모든 Lens Ass'y를 옮겨 담을 필요 없이 불량 Lens Ass'y만 옮겨 담기 때문에 검사 소요시간을 대폭 줄일 수 있는 장점이 있다.
따라서, 본 발명은 휴대폰 및 각종 IT 기기에 많이 사용되는 고화소 카메라용 렌즈 어셈블리 제조공정 및 각종 렌즈 어셈블리 제조공정에 매우 유용하다.
특히, 본 발명은 여러 장의 단렌즈로 구성된 소형 렌즈어셈블리 내부의 결함을 검출하는 시스템에 관한 것으로, 일반적으로 여러 렌즈를 한 번에 관찰할 수 없기 때문에 Z축 방향으로 내려가면서 여러 구간으로 나눠 촬영하는 것이 효과적이다.
또한, 본 발명에 따른 트레이 피커와 턴 테이블은 검사 대상체 트레이를 픽업할 때 단순히 하부를 지지하여 픽업하는 구조를 가지기 때문에 물리적 데미지를 최소화시킬 수 있는 장점이 있다.
또한, 검사 속도를 높이기 위하여, 렌즈 어셈블리를 Matrix형 Tray에 담은 채로 검사를 진행 하도록 하였고, 3개의 카메라를 설치하여 3개의 Tray가 동시에 검사되도록 함으로써 기존 대비 검사 속도를 크게 줄일 수 있는 효과가 있다.
도 1은 종래기술에 따른 검사 장치를 평면적으로 나타낸 도면,
도 2는 본 발명에 따른 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치의 개략적인 구성을 나타낸 평면도,
도 3은 본 발명에 따른 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치의 사시도,
도 4는 본 발명에 따른 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치의 턴 테이블을 나타낸 평면도,
도 5는 본 발명에 따른 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치의 각 구성별 레이아웃의 구성을 나타낸 평면도,
도 6은 본 발명에 따른 검사 장치에서 트레이 피커의 픽업 과정을 나타낸 순서도,
도 7은 본 발명에 따른 검사 장치에서 턴 테이블을 상세히 나타낸 구성도.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치의 바람직한 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
본 발명에 따른 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치는, 검사 대상체에 해당하는 렌즈 어셈블리를 Tray 단위로 순차 공급하는 로딩부(100), 상기 로딩부에서 공급되는 렌즈 어셈블리를 검사 영역으로 위치시키기 위해 렌즈 어셈블리 Tray를 픽업하는 트레이 피커(210)가 구비되고, 상기 트레이 피커는 인라인(in-line) 구조의 겐트리 스테이지(220)에 구성되어 검사 영역으로 위치시키거나 검사 영역에서 완료된 검사 대상체를 배출시키기 위한 인라인 스테이지(200), 상기 인라인 스테이지에 구성된 상기 트레이 피커로부터 공급되는 검사 대상체 Tray가 놓여지는 것으로, 회전 구동 시 기 결정된 회전각만큼 한 스텝씩 구동하여 놓여진 상기 검사 대상체를 각 검사 영역으로 위치시키기 위해 구동부에 의해 구동되는 턴 테이블, 상기 턴 테이블의 상부측에 각각 구성되어 검사 스펙별 촬영 기능을 가지고 검사 대상체를 촬영하여 검사를 실시하는 촬영부 및 상기 촬영부에서 검사가 완료된 검사 대상체를 상기 인라인 스테이지에 의해 이송되면 외부로 반출시키기 위한 언로딩부를 포함하고, 상기 인라인 스테이지의 길이축에 대해 상기 로딩부와 언로딩부는 양끝부분에 위치하고, 상기 턴 테이블은 그 사이에 위치하여 상기 트레이 피커가 겐트리 스테이지의 길이 범위에서 구동하면서 공급, 검사, 배출이 구현되는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치는 검사 장치를 구성하는 각 구성요소들의 배열관계를 효과적으로 구성함으로써, 검사 대상체에 해당하는 렌즈 어셈블리의 검사 프로세스를 신속하게 처리할 수 있기 때문에 검사 시간을 크게 줄이고 기구적 간소화를 실현할 수 있어 렌즈 검사 산업에 매우 유용하게 작용할 수 있는 검사 장비를 제공하는 것을 주요 기술적 요지로 한다.
도 2는 본 발명에 따른 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치의 개략적인 구성을 나타낸 평면도이다. 본 발명에 따른 검사 장치는 크게, 검사 대상체(A)를 공급하는 로딩부(100)와, 상기 로딩부(100)에서 공급되는 검사 대상체를 픽업하여 각 위치로 이송시키기 위한 트레이 피커(210)와 겐트리 스테이지(220)로 구성된 인라인 스테이지(200)와, 상기 인라인 스테이지에서 구성된 트레이 피커를 통해 픽업된 검사 대상체를 촬영부(400)로 검사하기 위해 놓여지는 턴 테이블(300), 그리고 검사 완료된 검사 대상체가 배출되기 위한 언로딩부(500)를 포함하여 구성된다.
도 3은 본 발명에 따른 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치의 사시도이다. 도시된 바와 같이 우선, 본 발명의 검사 장치는 임의의 크기로 결정된 선반(미부호) 상부측에 구성되며, 도 2에 나타난 평면상 관점에서 설명할 때 상부측에 로딩부(100)와 언로딩부(500)가 위치하며, 선반에 수평하게 인라인 스테이지(200)가 위치한다.
상기 인라인 스테이지(200)를 기준으로 좌/우측에 각각 로딩부(100)와 언로딩부(500)가 구비되고, 그 사이에 턴 테이블과 촬영부가 마련된다. 이때, 상기 인라인 스테이지를 구성하는 겐트리 스테이지에서 구성된 트레이 피커는 로딩부에 공급된 검사 대상체를 픽업하여 중앙의 턴 테이블에 위치시키거나, 검사가 완료된 검사 대상체를 턴 테이블에서 상기 언로딩부(500)로 픽업하여 이동시킨다. 이때, 상기 트레이 피커에 의한 로딩부의 픽업 위치와 턴 테이블의 로딩 위치, 그리고 언로딩부의 배출되는 위치는 모두 동일선상에 위치한다. 따라서, 겐트리 스테이지를 따라 이동하는 트레이 피커가 X축으로만 구동하기 때문에 작업 속도를 향상시킬 수 있으며, 최소 공간에서 공간적 능률을 극대화시킬 수 있다.
도 4는 본 발명에 따른 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치의 턴 테이블을 나타낸 평면도이다. 도 4를 참조하면, 본 발명에 따른 턴 테이블(300)은 4면을 따라 각각 4개의 검사 위치가 구성되며, 이 턴 테이블은 90도씩 회전 간격을 가지고 회전하는 구조를 가진다.
여기서, 트레이 피커의 로딩 위치에 해당하는 하나의 검사 위치는 로딩/ 언로딩을 위한 스테이션에 해당하며, 나머지 3개의 검사 위치에는 상/하 방향에 검사용 비전 시스템 즉, 카메라와 조명이 위치하여 검사한다. 상기 턴 테이블은 검사 대상체의 검사위치 변경을 위한 회전 구동, 그리고 촬영 모드에서 Lens Ass'y 위치에 따라 X, Y 방향으로 스텝 구동하기 위한 스텝 구동부를 포함하여 구성된다. 스텝 구동에서 촬영이 완료되면 회전 구동하여 다음 검사위치로 위치되며, 3개의 검사위치에서 검사가 모두 완료된 검사 대상체를 배출시키고 새로운 검사 대상체를 공급한다.
로딩, 언로딩 위치에서 검사가 완료된 1번 검사대상체를 배출시키고, 5번 검사대상체를 공급받은 후, 스텝 구동에 의해서 2, 3, 4번 검사대상체의 검사가 동시에 실시된다. 이어서 Turn Table이 반시계 방향으로 회전한 후, 검사가 완료된 2번 검사대상체를 배출시키고, 6번 검사대상체를 공급 받은 후, 스텝 구동에 의해서 3, 4, 5번 검사대상체의 검사가 동시에 실시된다. 이와 같이 Turn Table이 반시계 방향(또는 시계 방향도 가능)으로 회전하면서 검사가 순차적으로 이루어진다.
도 5는 본 발명에 따른 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치의 각 구성별 레이아웃의 구성을 나타낸 평면도이다. 여기에 나타낸 것처럼 X1 축 방향으로 겐트리 스테이지가 이동하며, Y축 방향으로는 로딩부를 통해 공급만을 구현하며, 턴 테이블로의 공급이나 언로딩부로의 배출는 X2 축 방향으로 구현됨에 따라 협소한 범위에서 검사 작업이 가능한 이점이 있다.
다음으로 본 발명에 따른 렌즈 고속 검사 장치를 다시 설명한다.
검사 대상체(A)에 해당하는 LensAss'y는 여러 장의 Lens가 배럴(경통)에 조립되어 있는 휴대폰 Camera에 사용되는 제품으로 각 단품 Lens 사이의 이물질이나 Lens의 스크래치 또는 배럴의 찍힘이나 스크래치 등을 검사하기 위해 Z축 방향으로 여러 구간을 나누어 카메라로 촬영 검사해야 한다.
따라서, 본 발명은 여러 구간을 한 개의 카메라로 검사할 경우 LensAss'y 개당 검사시간이 매우 느려지기 때문에 카메라의 수량을 늘려 각각의 Z축 구간을 나눠 동시에 검사함으로써 검사 시간을 줄이는데 목적이 있는 것이다.
하지만 동일한 위치에서 여러 구간을 동시에 검사 할 수 없기 때문에 1, 2, 3번 위치로 나눠 각각의 위치에 카메라를 고정하고 Turn Table이 X, Y 스텝 구동될 때, 3개의 Tray가 동시에 검사되며, 결국 각각의 Tray는 3개 검사위치를 순차적으로 거치며 Z축 방향의 3개 구간이 검사된다.
만일 Z축 방향의 검사구간을 3구간보다 더 늘리기 위해서는 (ex. 6구간) 스텝구동 검사가 끝난 후, Turn Table을 회전하지 않고 그 자리에서 카메라를 상하로 움직여 새로운 구간에 카메라 Focus를 맞춘 후, 다시 한번 스텝 구동 검사를 진행하면 총 6구간의 검사가 가능하게 된다.(ex. Z축 1,3,5 구간 검사 -> 카메라 Z축 이동 -> Z축 2,4,6 구간 검사)
LensAss'y는 Matrix 타입의 Tray에 담겨져 있으며 (ex. 10 x 10) 이 Tray는 카세트 Magazine에 담겨 장비에 Loading된다. Loading된 카세트 Magazine에서 Tray는 (그림3)과 같이 컨베이어 벨트로 이송되며 이송된 Tray를 Picker가 Turn Table로 Loading 시킨다.
X, Y축 이동 검사가 끝나면 Turn Table 이 90도 회전하고, 1, 2, 3 검사위치를 거치며 검사가 완료된 Tray가 피커에 의해 Unloading 되고 새로운 Tray가 피커에 의해 Loading된다. 이어서 Turn Table 이 X Y 축으로 이동하면서 검사를 하고, 검사가 끝나면 Turn Table은 다시 90도 회전하여 검사가 끝난 Tray는 Unloading 되고, 새로운 Tray가 다시 Loading 된다.
위의 동작들이 반복되어 검사가 진행되며, 피커는 Tray를 Unloading Conveyor 쪽으로 이동시킨 후 다시 새로운 Tray를 Turn Table 로 Loading하며 Unloading Conveyor쪽으로 이송된 검사가 끝난 Tray에서 불량 Lens Ass'y만 불량 Tray 에 Sorting 하고 Sorting 이 끝난 Tray는 양품 Magazine과 불량 Magazine에 각각 Loading되는 것이다.
도 6은 본 발명에 따른 검사 장치에서 트레이 피커의 픽업 과정을 나타낸 순서도이다.
본 발명의 트레이 피커는 검사 대상체 Tray를 양쪽을 잡아 픽업하는 픽업 가이드(211)가 구성되고 픽업 가이드가 구동 액추에이터에 의해 확장된 상태에서 진입한 후 다시 축소하여 검사 대상체 Tray 하부를 지지하여 픽업한 후 턴 테이블로 이동한 후 검사 영역에 위치시킨다. 여기서 상기 턴 테이블에는 상기 픽업 가이드가 검사 대상체 Tray를 위치시킬 때 기구적으로 간섭되지 않고 동작 가능하도록 픽업 가이드가 진입할 수 있는 공간이 마련되도록 구성됨에 따라 본 발명의 검사 장치를 구현할 때 픽업 조건을 간소화시킬 수 있어, 설비 저비용이나 검사 대상체의 물리적 데미지를 방지할 수 있도록 구성된 것이다.
이를 도 7에서 상세히 나타내었다. 도시된 바와 같이 4개의 검사 영역에는 검사 대상체 Tray(A)가 놓일 수 있는 공간이 마련되어 있고 검사 트레이 가장자리를 따라서는 관통 형성된 홀 즉, 픽업 섹션부(310)가 각 모서리에 마련된다. 따라서, 상기 픽업 가이드(211)가 검사 대상체 Tray를 위치시킬 때 가장자리를 따라 마련된 픽업 섹션부를 관통한 후 턴 테이블에 안착된다. 여기서 상기 픽업 가이드가 확장될 때까지의 공간이 충분히 마련되도록 픽업 섹션부가 형성되어 있기 때문에 전혀 간섭되지 않는다.
이와 마찬가지로 검사가 완료된 검사 대상체 Tray를 픽업하기 위해서는 픽업 가이드가 확장된 상태에서 픽업 섹션(310)에 진입한 후 픽업 가이드가 구동하여 검사 대상체 Tray를 각 모서리를 지지한 후 승강하여 배출시키게 된다. (a)에서는 대기 상태이며, (b)는 트레이 피커가 하향 구동하여 픽업 가이드가 완전 진입한 상태이다. (c)에서 보면 픽업 가이드가 검사 대상체 트레이를 턴 테이블에 놓은 후 승강 구동하기 위해 확장되어 트레이와 분리된 상태를 도시한 것이다.
따라서, 본 발명에 따라 구성된 턴 테이블은 단순히 지지하는 구조의 픽업 가이드가 용이하게 접근하여 픽업할 수 있도록 설계되었기 때문에 검사 대상체에 대한 데미지를 최소화하여 픽업을 실시할 수 있는 효과가 있다.
이와 같이 구성되는 본 발명은 인라인 구조의 겐트리 스테이지에 구성된 트레이 피커의 구동 범위 내에서 검사 대상체 검사를 위한 각 구성들이 배치되어 매우 능률적인 검사를 실시할 수 있기 때문에 매우 빠른 속도로 검사를 실시할 수 있다.
이상, 본 발명의 원리를 예시하기 위한 바람직한 실시 예와 관련하여 설명하고 도시하였지만, 본 발명은 그와 같이 도시되고 설명된 그대로의 구성 및 작용으로 한정되는 것이 아니다. 오히려, 첨부된 청구범위의 사상 및 범주를 일탈함이 없이 본 발명에 대한 다수의 변경 및 수정이 가능함을 당업자들은 잘 이해할 수 있을 것이다. 따라서 그러한 모든 적절한 변경 및 수정과 균등물들도 본 발명의 범위에 속하는 것으로 간주되어야 할 것이다.
100 : 로딩부
200 : 겐트리 스테이지
210 : 트레이 피커
211 : 픽업 가이드
220 : 겐트리 스테이지
300 : 턴 테이블
310 : 픽업 섹션
400 : 촬영부
500 : 언로딩부
A : 검사 대상체

Claims (7)

  1. 검사 대상체에 해당하는 렌즈 어셈블리를 Tray 단위로 순차 공급하는 로딩부;
    상기 로딩부에서 공급되는 렌즈 어셈블리 Tray를 검사 영역으로 위치시키기 위해 렌즈 어셈블리 Tray를 픽업하는 트레이 피커가 구비되고, 상기 트레이 피커는 인라인(in-line) 구조의 겐트리 스테이지에 구성되어 검사 영역으로 위치시키거나 검사 영역에서 완료된 검사 대상체 Tray를 배출시키기 위한 인라인 스테이지;
    상기 인라인 스테이지에 구성된 상기 트레이 피커로부터 공급되는 검사 대상체 Tray가 놓여지는 것으로, 회전 구동 시 기 결정된 회전각만큼 한 스텝씩 구동하여 놓여진 상기 검사 대상체 Tray를 각 검사 영역으로 위치시키기 위해 구동부에 의해 구동되는 턴 테이블;
    상기 턴 테이블의 상부측에 각각 구성되어 검사 스펙별 촬영 기능을 가지고 검사 대상체를 촬영하여 검사를 실시하는 촬영부; 및
    상기 촬영부에서 검사가 완료된 검사 대상체 Tray를 상기 인라인 스테이지에 의해 이송되면 외부로 반출시키기 위한 언로딩부;를 포함하고,
    상기 인라인 스테이지의 길이축에 대해 상기 로딩부와 언로딩부는 양끝부분에 위치하고, 상기 턴 테이블은 그 사이에 위치하여 상기 트레이 피커가 겐트리 스테이지의 길이 범위에서 구동하면서 공급, 검사, 배출이 구현되는 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 트레이 피커는,
    상기 인라인 스테이지에 연결되어 인라인(in-line)으로 구동하면서 로딩부에서 공급되는 검사 대상체 Tray를 상기 턴 테이블로 공급하거나, 검사가 완료된 검사 대상체를 언로딩부에 공급하는 것을 특징으로 하는 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 턴 테이블은,
    90도 간격으로 4개의 배치 영역을 가지며, 하나의 영역으로는 상기 인라인 스테이지에 의해 공급되는 검사 대상체 Tray가 놓여지고, 나머지 3개의 영역으로는 검사 영역에 해당하고,
    상기 턴 테이블은 90도 간격으로 회전 구동하는 것을 특징으로 하는 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 로딩부를 통해 공급된 검사 대상체 Tray의 최종 공급 위치와, 상기 트레이 피커를 통해 턴 테이블에 공급되는 위치와, 검사 완료된 검사 대상체가 배출되기 위해 언로딩부에 놓여지는 위치는 상기 인라인 스테이지를 기준으로 동일선상에 구성되는 것을 특징으로 하는 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치.
  5. 제 1항에 있어서, 상기 언로딩부는,
    검사 완료된 상기 검사 대상체에서 양품을 배출하는 양품 언로딩부와, 불량품을 배출하는 불량 언로딩부를 포함하여 구성되는 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치.
  6. 제 1항에 있어서, 상기 턴 테이블은,
    상기 구동부에 의해 x, y축으로만 구동하여 검사 대상체를 이동시킴으로써, 상기 촬영부에서 Tray 전면을 촬영하여 검사하는 것을 특징으로 하는 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치.
  7. 제 1항 또는 제 6항에 있어서, 상기 턴 테이블은,
    상기 트레이 피커의 픽업 가이드가 상기 검사 대상체 Tray(트레이)를 턴 테이블의 검사 영역에 위치시키거나 배출시킬 때 픽업 가이드가 진입 가능하도록 픽업 섹션부가 구성되어 상기 검사 대상체 Tray를 픽업할 때 픽업 가이드가 상기 픽업 섹션부에 진입한 후 검사 대상체 Tray가 픽업되도록 구성되는 렌즈 어셈블리 고속 검사 장치.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160043233A (ko) * 2014-10-10 2016-04-21 엔엠시스템(주) 카메라용 렌즈모듈 외관 검사공법
KR101796931B1 (ko) 2015-06-22 2017-12-01 주식회사 머신앤비전 렌즈 어셈블리 결함 검사장치
KR20170138096A (ko) * 2016-06-07 2017-12-15 한미반도체 주식회사 렌즈유닛 검사장치
KR20180065177A (ko) * 2016-12-07 2018-06-18 한미반도체 주식회사 렌즈유닛 검사 시스템
CN112304945A (zh) * 2020-10-23 2021-02-02 欧菲影像技术（广州）有限公司 摄像头模组Cube单体的外观检查设备
KR20210017927A (ko) * 2019-08-09 2021-02-17 삼성기전주식회사 조립 지그의 이동 경로를 구비하는 렌즈 조립 시스템
KR20230104381A (ko) * 2021-12-30 2023-07-10 주식회사 뽀득 커트러리 검사시스템 및 이를 사용한 커트러리 검사공정

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6508984B1 (en) * 1998-04-03 2003-01-21 Symyx Technologies, Inc. System for creating and testing novel catalysts, reactions and polymers
US20060256337A1 (en) 2005-05-10 2006-11-16 Darius Kelly Emission filter X-Y array
KR20120004249A (ko) * 2010-07-06 2012-01-12 주식회사 영우디에스피 오엘이디 패널의 검사장치
KR20120088330A (ko) * 2011-01-31 2012-08-08 세호로보트 주식회사 인쇄회로기판의 검사장치

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6508984B1 (en) * 1998-04-03 2003-01-21 Symyx Technologies, Inc. System for creating and testing novel catalysts, reactions and polymers
US20060256337A1 (en) 2005-05-10 2006-11-16 Darius Kelly Emission filter X-Y array
KR20120004249A (ko) * 2010-07-06 2012-01-12 주식회사 영우디에스피 오엘이디 패널의 검사장치
KR20120088330A (ko) * 2011-01-31 2012-08-08 세호로보트 주식회사 인쇄회로기판의 검사장치

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160043233A (ko) * 2014-10-10 2016-04-21 엔엠시스템(주) 카메라용 렌즈모듈 외관 검사공법
KR101672523B1 (ko) * 2014-10-10 2016-11-17 엔엠시스템(주) 카메라용 렌즈모듈 외관 검사공법
KR101796931B1 (ko) 2015-06-22 2017-12-01 주식회사 머신앤비전 렌즈 어셈블리 결함 검사장치
KR20170138096A (ko) * 2016-06-07 2017-12-15 한미반도체 주식회사 렌즈유닛 검사장치
KR102646891B1 (ko) 2016-06-07 2024-03-12 한미반도체 주식회사 렌즈유닛 검사장치
KR20180065177A (ko) * 2016-12-07 2018-06-18 한미반도체 주식회사 렌즈유닛 검사 시스템
KR102658975B1 (ko) 2016-12-07 2024-04-19 한미반도체 주식회사 렌즈유닛 검사 시스템
KR20210017927A (ko) * 2019-08-09 2021-02-17 삼성기전주식회사 조립 지그의 이동 경로를 구비하는 렌즈 조립 시스템
KR102298004B1 (ko) * 2019-08-09 2021-09-06 삼성기전주식회사 조립 지그의 이동 경로를 구비하는 렌즈 조립 시스템
CN112304945A (zh) * 2020-10-23 2021-02-02 欧菲影像技术（广州）有限公司 摄像头模组Cube单体的外观检查设备
KR20230104381A (ko) * 2021-12-30 2023-07-10 주식회사 뽀득 커트러리 검사시스템 및 이를 사용한 커트러리 검사공정
KR102615138B1 (ko) * 2021-12-30 2023-12-20 주식회사 뽀득 커트러리 검사시스템 및 이를 사용한 커트러리 검사공정

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