TW201913037A - 檢測面板亮度不均之光學檢測設備 - Google Patents

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林伯聰
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Abstract

一種檢測面板亮度不均之光學檢測設備,用以檢測一待 測面板,該光學檢測設備包括一輸送裝置、一龍門裝置、一閃頻裝置、一攝像裝置以及一處理單元。該閃頻裝置設置於該龍門裝置,該閃頻裝置具有至少二個光源構件,以照射該待檢測面板,以產生一照射面。該攝像裝置係與該閃頻裝置電連接,以擷取該照射面的影像。該處理單元電連接於該閃頻裝置及該攝像裝置,以切換該至少二個光源構件交替發射光源,並由該攝像裝置擷取該照射面後,該處理單元經分析該照射面而得一檢測資訊。

Description

檢測面板亮度不均之光學檢測設備
本發明是有關於一種光學檢測設備,且特別是有關於一種用於檢測面板亮度不均之光學檢測設備
隨著科技的進步,顯示裝置已經廣泛的被運用在各種領域,例如行動電話、可攜式多媒體裝置、筆記型電腦、液晶電視及液晶螢幕等等。
顯示裝置是一種相當精密的裝置,其由相當多的零件所組成,因此於出廠前需對不同製程的不同階段進行的一系列的檢測工作以檢測瑕疵,例如面板亮度不均(MURA)、外觀是否有缺角或是破損等,以提升出廠品質。由於MURA較難由人眼直接檢視,在檢測MURA通常都採用光學儀器取代傳統人力進行瑕疵檢測,不僅能提高生產效率,亦能提高檢測的準確性。
然而,現行的用於檢測面板亮度不均的設備大多需要非常多的檢測站,以針對不同的塗層在每一個檢測站發射不同的光源,並由攝像裝置進行擷取以判別是否有面板亮度不均產生,導 致整體設備的長度、攝像裝置的數量等製作成本高居不下,因此,習知的用於檢測面板亮度不均的設備有改善的必要性。
本發明提供一種光學檢測設備,具有一閃頻裝置,以縮短整體設備的長度、以及減少攝像裝置的數量,藉以降低製造設備的成本。
本發明提出一種檢測面板亮度不均之光學檢測設備,用以檢測一待測面板,該光學檢測裝置包括框架一輸送裝置、一龍門裝置、一閃頻裝置、一攝像裝置以及一處理單元。該龍門裝置經設置而可拆卸的設置於該輸送裝置。該閃頻裝置設置於該龍門構件,該閃頻裝置具有至少二個光源構件,以照射該待檢測面板,以產生一照射面。該攝像裝置與該閃頻裝置電連接,以擷取該照射面的影像。該處理單元電連接於該閃頻裝置及該攝像裝置,以切換該至少二個光源構件交替發射光源,並由該攝像裝置擷取該照射面後,該處理單元經分析該照射面而得一檢測資訊。
本發明的一實施例中,更包括一龍門裝置,其經設置而可拆卸的設置於該輸送裝置。
在本發明的一實施例中,上述的閃頻裝置具有一本體,該至少二個光源件係分別設置於本體的兩側。
在本發明的一實施例中,上述的攝像裝置係選自一線掃描攝像裝置、一面掃描攝像裝置之群組之一。
在本發明的一實施例中,更包括一面板旋轉裝置,係設置於該輸送裝置之一側,以將該待測面板旋轉成另一角度後,再進行第二次檢查。
在本發明的一實施例中,上述的面板旋轉裝置具有一承載構件及一抬升裝置,該抬升裝置係設置於該承載構件之下方,以帶動該承載構件上下移動。
在本發明的一實施例中,上述的光閃頻裝置的樞設於該龍門裝置,而可相對於龍門裝置旋轉。
在本發明的一實施例中,上述的輸送裝置具有一上料區、一檢測區及一反向區,該檢測區位於該上料區與該反向區之間。
在本發明的一實施例中,上述的上料區及該反向區設置有複數個滾輪。
本發明提出一種光學檢測設備,上述的檢測區係為一氣浮載台。
在本發明的一實施例中,更包括一背檢裝置,係設置於該檢測區之下方,以檢測該待測面板。
在本發明的一實施例中,上述的背檢裝置具有一影像感測裝置及一發光裝置,該影像感測裝置與該發光裝置電連接,以在該待測面板位於該檢測區時擷取該待測面板之背面影像。
在本發明的一實施例中,更包括一機械手臂,鄰近於該輸送裝置,以傳遞該待測面板。
基於上述,本發明的光學檢測設備至少二個光源構件整合為閃頻裝置,故能在單一個工作站位上對待測物進行完整的瑕疵檢測,藉以簡化檢測流程,並且提高檢測效率。另一方面,藉由閃頻裝置的設置亦可減少攝像裝置的數量以及縮減光學檢測設備的整體長度從而降低設備的製造成本。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉實施例,並配合所附圖式作詳細說明如下。
100‧‧‧光學檢測設備
1‧‧‧輸送裝置
11‧‧‧上料區
12‧‧‧檢測區
13‧‧‧反向區
2‧‧‧龍門裝置
3‧‧‧閃頻裝置
31‧‧‧本體
32、33‧‧‧光源構件
4‧‧‧攝像裝置
5‧‧‧處理單元
6‧‧‧面板旋轉裝置
61‧‧‧承載構件
62‧‧‧旋轉件
63‧‧‧抬升裝置
7‧‧‧背檢裝置
71‧‧‧影像感測裝置
72‧‧‧發光裝置
8‧‧‧機械手臂
F‧‧‧照射面
P‧‧‧待測面板
圖1是本發明一實施例的光學檢測設備的立體圖。
圖2-1是本發明該實施例的光學檢測設備的側視圖。
圖2-2是本發明該實施例的光學檢測設備的側視圖。
圖3是本發明該實施例的該閃頻裝置於閃頻時的時序示意圖。
圖4是本發明該實施例的光學檢測設備的該面板旋轉裝置之示意圖。
圖5是本發明該實施例的光學檢測設備的流程示意圖。
圖1是本發明一實施例的光學檢測設備的立體圖。請參考圖1,在本實施例中,該光學檢測設備100主要是應用於面板亮度不均(MURA)的面板製程但本發明不以此為限。在其他實施例 中,該光學檢測設備可應用半導體製程、半導體封裝測試、電路板製程、其他電子零組件製程或其他相關產業的製程的瑕疵檢測。
參閱圖1,本實施例為一種檢測面板亮度不均之光學檢測設備100,用以檢測一待測面板P,該光學檢測裝置包括一輸送裝置1、一龍門裝置2、一閃頻裝置3、一攝像裝置4以及一處理單元5。
詳細而言,配合參閱圖1,該輸送裝置1由右到左依序分別為一上料區11、一檢測區12及一反向區13。在本實施例中,該上料區11及該反向區13設置有複數個滾輪,以帶動該待測面板P左右移動。當然,本發明不以此為限,該上料區11及該反向區13亦可由氣浮載台取代。在本實施例中,該檢測區12係為一氣浮載台。
該龍門裝置2經設置而可拆卸的設置於該輸送裝置1。
參閱圖1該閃頻裝置3設置於該龍門裝置2。詳細而言,該閃頻裝置3樞設於該龍門裝置2使得該閃頻裝置3可相對於該龍門裝置2左右旋轉而調整照射位置。
該閃頻裝置3具有一本體31及至少二個光源構件32、33,以照射該待檢測面板P,以產生一照射面F。在本實施例中,係為二個光源構件32、33分別為白光及鈉光且設置於該本體31的相對兩側。當然,本發明不以此為限,這些光源構件32、33可以是紅光、藍光、綠光及白光的組合,或者是紅光、藍光、綠光及紫外光的組合。
該攝像裝置4與該閃頻裝置3電連接,以擷取該照射面F的影像。在本實施例中,該攝像裝置4係為一線掃描攝像裝置(line scan),當然,本發明不以此為限,該攝像裝置4亦可為一面掃描攝像裝置(Area Scan Camera)。值得一提的,在本實施例中,該攝像裝置4係為一黑白攝影機,而不需使用費用較高昂的彩色攝影機,藉此降低檢測的成本。
另外,藉由在該龍門裝置2上設置閃頻裝置3及攝像裝置4,且該龍門裝置2為可拆卸的,使得該龍門裝置2可直接裝設在任何一種生產線上,而可增加實用性。舉例而言,在傳統上單純輸送面板的生產線,直接架設該龍門裝置2而使得傳統的輸送面板的生產線,可因此多了檢查MURA的功能,又不須替換掉原本的設備,藉此增加設備的功能性,又降低替換舊有機台的成本。
配合參閱圖2-1及圖2-2,該處理單元5電連接於該閃頻裝置3及該攝像裝置4,以切換該至少二個光源構件32、33交替發射光源,以在該待測面板P上產生該照射面F,並由該攝像裝置4擷取該照射面F後,該處理單元經分析該照射面F而得一檢測資訊。
配合參閱圖1及圖4,較佳的,該光學檢測設備100更包括一面板旋轉裝置6。該面板旋轉裝置6係設置於該輸送裝置1之一側。該面板旋轉裝置6具有一承載構件61、一旋轉件62(圖未示)及一抬升裝置63。該承載構件61係設置於該輸送裝置1。該旋轉件62係設置於承載構件61及該抬升裝置63之間,以帶動 承載構件61旋轉。該抬升裝置63係設置於該承載構件61之下方,以帶動該承載構件61上下移動。舉例而言,第一次檢查該待測面板P係由短邊進入,由閃頻裝置3的光源構件32分別照射該待測面板P並由該攝像裝置4擷取後,該待測面板P將會傳送至該面板旋轉裝置6,該面板旋轉裝置6之該抬升裝置63將該承載構件61抬升,並藉由該旋轉件62帶動旋轉該承載構件61,以將該待測面板P由短邊旋轉90度轉成長邊,再進行第二次檢查。
配合參閱圖2-1及圖2-2,較佳的,該光學檢測設備100更包括一背檢裝置7係設置於該檢測區12之下方,以檢測該待測面板P。該背檢裝置7具有一影像感測裝置71及一發光裝置72。該影像感測裝置71與該發光裝置72電連接,以在該待測面板P位於該檢測區12時擷取該待測面板P之背面影像,並傳送至該處理單元5。在本實施例中,該影像感測裝置71係為一面掃描攝像裝置,當然,本發明不以此為限,該攝像裝置4亦可為一線掃描攝像裝置。
配合參閱圖1,較佳的,該光學檢測設備100更包括一機械手臂8。詳細而言,該機械手臂8為多軸機械手臂,鄰近於該輸送裝置1,以傳遞該待測面板P。
前述所舉的該龍門裝置2、該閃頻裝置3、該攝像裝置4、該、該面板旋轉裝置6、該背檢裝置7以及該機械手臂8的設置位置僅為說明之用,本領域人員在參考本實施例的說明之後,可以依照製程需求而改變前述各組件的設置位置。
同時參考圖1、圖3及圖5。第一次檢測流程:藉由該抬升裝置63將該承載構件61升起,利用該機械手臂8將該待測面板P以短邊入料的方式放置於該承載構件61後,該抬升裝置63將該承載構件61下降,使該待測面板P位於該上料區11的滾輪上。接下來,藉由該上料區11的滾輪將該待測面板P傳送至該檢測區12由該閃頻裝置3檢測。
詳細而言,由圖3所示,該處理單元5在明視野時驅動其中一個光源構件32發射白光,並驅動(Trigger)攝像裝置4(CCD)拍攝第一張面板圖像,接下來在切換成另一個光源構件33發射鈉光,再由攝像裝置4擷取第二張面板圖像,由於在本實施例使用線掃描攝像裝置,因此攝像裝置4會不停地拍攝不同光源以照射多張面板圖像進行檢測,當掃描該待測面板P的上表面後在將該待測面板P傳送至該反向區13。
緊接著將該反向區13的滾輪反向,將該待測面板P傳送至該檢測區12由該閃頻裝置3進行檢測,該處理單元5在暗視野時驅動其中一個光源構件32發射白光,接下來在切換成另一個光源構件33發射鈉光,並由攝像裝置4擷取多張面板圖像,檢測後在將該待測面板P傳送至上料區11的該承載構件61,該抬升裝置63將該承載構件61上升,並將該待測面板P由短邊轉換成長邊後(亦即,在單一次的流程中,可擷取到至少兩個光源所照射之照射面之圖像)。在進行第二次檢測,第二次的檢測流程與第一次檢測流程相同,因此不在贅述,所有檢測程序完成後,藉由處理單元5 將多張交錯的面板圖像進行分析處理而得一檢測資訊。
綜上所述,本發明的光學檢測設備將多個光源構件整合為閃頻裝置,並且藉由閃頻的方式照射面板,故能在單一個工作站位上對待測物進行完整的瑕疵檢測,藉以簡化檢測流程,並且提高檢測效率。
雖然本發明已以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明的精神和範圍內,當可作些許的更動與潤飾,故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

Claims (13)

  1. 一種檢測面板亮度不均之光學檢測設備,用以檢測一待測面板,該光學檢測裝置包括:一輸送裝置,用以輸送該待測面板;一閃頻裝置,位於輸送裝置上方,該閃頻裝置具有至少二個光源構件,照射該待檢測面板,以產生一照射面;一攝像裝置,係與該閃頻裝置電連接,以擷取該照射面的影像;以及一處理單元,電連接於該閃頻裝置及該攝像裝置,控制該至少二個光源構件之操作,藉以使該至少兩個光源交替地提供光線,其中該處理單元分析該照射面的影像,以獲得一檢測資訊。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的光學檢測設備,更包括一龍門裝置,其經設置而可拆卸的設置於該輸送裝置。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的光學檢測設備,其中該閃頻裝置具有一本體,該至少二個光源件係分別設置於本體的兩側。
  4. 如申請專利範圍第1項所述的光學檢測設備,其中該攝像裝置係選自一線掃描攝像裝置、一面掃描攝像裝置之群組之一。
  5. 如申請專利範圍第1項所述的光學檢測設備,更包括一面板旋轉裝置,係設置於該輸送裝置之一側,以將該待測面板旋轉成另一角度後,再進行第二次檢查。
  6. 如申請專利範圍第5項所述的光學檢測設備,其中該面板旋轉裝置具有一承載構件及一抬升裝置,該抬升裝置係設置於該承載構件之下方,以帶動該承載構件上下移動。
  7. 如申請專利範圍第1項所述的光學檢測設備,其中該閃頻裝置的樞設於該龍門裝置,而可相對於龍門裝置旋轉。
  8. 如申請專利範圍第1項所述的光學檢測設備,其中該輸送裝置具有一上料區、一檢測區及一反向區,該檢測區位於該上料區與該反向區之間。
  9. 如申請專利範圍第8項所述的光學檢測設備,其中該上料區及該反向區設置有複數個滾輪。
  10. 如申請專利範圍第8項所述的光學檢測設備,其中該檢測區係為一氣浮載台。
  11. 如申請專利範圍第8項所述的光學檢測設備,更包括一背檢裝置,係設置於該檢測區之下方,以檢測該待測面板。
  12. 如申請專利範圍第11項所述的光學檢測設備,其中該背檢裝置具有一影像感測裝置及一發光裝置,該影像感測裝置與該發光裝置電連接,以在該待測面板位於該檢測區時擷取該待測面板之背面影像。
  13. 如申請專利範圍第1項所述的光學檢測設備,更包括一機械手臂,鄰近於該輸送裝置,以傳遞該待測面板。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI273234B (en) * 2005-06-02 2007-02-11 Favite Inc Automatic optical test machine for determining the defect of color non-uniformity of panels
TWI391664B (zh) * 2009-02-05 2013-04-01 Univ Nat Taiwan Ocean Micro - point image velocimetry and micro - point image capture method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI719577B (zh) * 2019-08-07 2021-02-21 力山工業股份有限公司 輸送裝置

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