TWI791810B - 位置檢測系統及移行系統 - Google Patents

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角口謙治
山田康武
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日商村田機械股份有限公司
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Abstract

本發明之位置檢測系統(150)具備有：2列磁鐵列(510、520)，其等由沿著檢測方向以陣列圖案為1個週期而週期性地被重複排列之複數個磁鐵(511~514、521~524)所構成，且於檢測方向上之特定位置，磁鐵列(510)之磁鐵與磁鐵列(520)之磁鐵以具有不同極性之面相互地對向；磁感測器(600)，其被配置於2列磁鐵列之間，於X軸方向上可相對於2列磁鐵列之相對位置變化；及決定部(141)，其根據磁感測器之檢測值來決定磁感測器相對於2列磁鐵列之特定方向上之位置。

Description

位置檢測系統及移行系統
本發明係關於藉由對複數個磁鐵列之磁通密度進行檢測來檢測位置之位置檢測系統、及使用該位置檢測系統之移行系統。
於專利文獻1揭示有利用磁性元件來檢測以磁標度為基準之位置的位移感測器。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]國際公開第2014/109190號
然而，於專利文獻1之技術中，並未考慮到將具有在特定位置，極性不同之磁極彼此對向之陣列之2列磁鐵列作為磁標度而加以採用之情形。於該情形時，存在有難以適當地檢測出位移感測器相對於該2列磁鐵列之位置的課題。關於採用該2列磁鐵列之情形時位移感測器之位置檢測之困難性，將於(作為發明之基礎之見解)之項目 中詳細地加以敘述。
因此，本發明係鑒於該問題所完成者，其提供一種位置檢測系統，係被配置於具有在特定位置，極性不同之磁極彼此對向之陣列之2列磁鐵列之間之位置之磁感測器，可適當地檢測出磁感測器相對於該2列磁鐵列之位置者。
為了達成上述目的，本發明一態樣之位置檢測系統係檢測磁感測器相對於磁鐵列之位置者：其具備有：2列磁鐵列，其等由沿著檢測方向以陣列圖案為1個週期而週期性地被重複排列之複數個磁鐵所構成，且於上述檢測方向上之特定位置，一磁鐵列之磁鐵與另一磁鐵列之磁鐵以具有不同極性之面相互地對向；磁感測器，其被配置於上述2列磁鐵列之間，於上述檢測方向上可相對於上述2列磁鐵列之相對位置變化；及決定部，其根據上述磁感測器之檢測值來決定上述磁感測器相對於上述2列磁鐵列之上述檢測方向上之位置；上述磁感測器具有：第1檢測元件，其對磁通密度進行檢測；及第2檢測元件，其對磁通密度進行檢測，且被配置於自上述第1檢測元件朝上述檢測方向離開上述陣列圖案之(2A+1)/4週期量(上述A為0以上之整數)之距離之位置；且上述決定部藉由算出作為第1磁通密度與第2磁通密度之比率的第1比率之反正切來算出第1電相位角，並使用所算出之上述第1電相位角來決定上述磁感測器之位置，其中，該第1磁通密度由上述第1檢測元件所檢測出，而該第2磁通密度由上述第2檢測元件所檢測出。
據此，位置檢測系統利用第1檢測元件、及被配置於自第1檢測元件朝檢測方向離開陣列圖案之(2A+1)/4週期量之距離之位置之第2檢測元件來決定位置。因此，即便為利用具有在特定位置，極性不同之磁極彼此對向之陣列之2列磁鐵列之位置檢測系統，亦可適當地檢測出感測器相對於2列磁鐵列之相對位置。
又，上述決定部亦可使用所算出之上述第1電相位角、與表示第1電相位角及上述位置之關係之第1關係資訊，而將上述第1關係資訊中與上述第1電相位角對應之位置決定為上述磁感測器之位置。
因此，位置檢測系統可使用第1檢測元件及第2檢測元件之檢測結果，容易地決定磁感測器相對於2列磁鐵列之相對位置。
又，上述磁感測器亦可具有：第3檢測元件，其對磁通密度進行檢測，且被配置於自上述第1檢測元件朝上述檢測方向離開上述陣列圖案之(4B+1)/8週期量(上述B為0以上之整數)之距離之位置；及第4檢測元件，其對磁通密度進行檢測，且被配置於自上述第3檢測元件朝上述檢測方向離開上述陣列圖案之(2C+1)/4週期量(上述C為0以上之整數)之距離之位置；且上述決定部進一步：(1)藉由算出作為第3磁通密度與第4磁通密度之比率的第2比率之反正切來算出第2電相位角，其中，該第3磁通密度由上述第3檢測元件所檢測出，而該第4磁通密度由上述第4檢測元件所檢測出；(2)算出作為上述第 1電相位角與上述第2電相位角之算術平均值之平均電相位角；(3)使用所算出之上述平均電相位角與表示平均電相位角及上述位置之關係之第2關係資訊，而將上述第2關係資訊中與上述平均電相位角對應之位置決定為上述磁感測器之位置。
據此，位置檢測系統藉由求出第1電相位角與第2電相位角之算術平均值，可消除三次諧波及五次諧波之高次諧波分量。因此，位置檢測系統可減少因2列磁鐵列所產生磁場之週期誤差，而可精度良好地決定磁感測器之位置。
又，上述2列磁鐵列之上述陣列圖案亦可為海爾貝克陣列(Halbach array)。
因此，可使磁力線集中於2列磁鐵列之間。例如，於設置有將2列磁鐵列作為定子或動子之線性馬達之情形時，線性馬達可有效率地得到由電磁感應所產生之驅動力。
又，上述第1檢測元件及上述第2檢測元件亦可分別為霍耳元件，且以檢測面與上述一磁鐵列對向之朝向所配置。
因此，第1檢測元件及第2檢測元件可有效地對與磁鐵列垂直之方向之磁通密度進行檢測。
又，上述第1檢測元件及上述第2檢測元件亦可分別為線圈，且 以上述線圈之軸相對於上述2列磁鐵列垂直之朝向所配置。
因此，第1檢測元件及第2檢測元件可有效地對與磁鐵列垂直之方向之磁通密度進行檢測。
又，本發明一態樣之移行系統具備有：上述之位置檢測系統；移行車，其由上述2列磁鐵列為定子或動子之線性馬達所驅動；及控制器，其根據在上述位置檢測系統所檢測出之上述磁感測器之位置來驅動上述線性馬達，藉此控制上述移行車之移行。
如此，可將作為用以使第1搬送台車移行之線性馬達之定子或動子而使用之2列磁鐵列，使用於用以檢測移行車之位置的位置檢測系統中。因此，可降低製造成本。
本發明之物品搬送裝置在磁感測器被配置於具有在特定位置，極性不同之磁極彼此對向之陣列之2列磁鐵列之間之位置之情形時，可適當地檢測磁感測器相對於2列磁鐵列之位置。
10‧‧‧物品
100‧‧‧物品搬送裝置
110‧‧‧移行軌道
120‧‧‧一次側定子群
130‧‧‧動力源
131‧‧‧一次側定子
140‧‧‧位置感測器
141‧‧‧決定部
150、150a‧‧‧位置檢測系統
210‧‧‧第1搬送台車
211、211a、221‧‧‧二次側動子
212、222‧‧‧移載部
213、223‧‧‧二次側轉子
214、224‧‧‧移載用輸送機
215、225‧‧‧輸送帶
217、227‧‧‧框架
218、228‧‧‧滾輪
219、229:支撐構件
220:第2搬送台車
300:控制器
400:搬送裝置
410:搬送路徑
510、510a、520、520a:磁鐵列
511~514、511a、512a、521~524、521a、522a:磁鐵
600:磁感測器
601:第1檢測元件
602:第2檢測元件
603:第3檢測元件
604:第4檢測元件
A11:移載區間
D1、D2、D11、D12:中空箭頭
L1~L4:距離
圖1係用以對實施形態中物品搬送裝置之構成進行說明之立體圖。
圖2係自搬送台車之移行方向觀察實施形態之物品搬送裝置之概略圖。
圖3係表示實施形態中物品搬送裝置之功能性構成之方塊圖。
圖4係表示位置檢測系統之構成之一例之概略圖。
圖5係表示2列磁鐵列之間之空間中X軸方向之磁通密度分佈之磁通密度波形。
圖6係表示位置感測器之功能構成之一例之方塊圖。
圖7係表示位置檢測系統之動作之一例之流程圖。
圖8係表示對圖5之磁通密度波形進行高速傅立葉變換所得之結果的圖。
圖9係表示使用第1及第2電相位角之各者所算出之位置之位置檢測誤差、及使用平均電相位角所算出之位置之位置檢測誤差的圖。
圖10係表示變化例之位置檢測系統之構成之一例之概略圖。
(作為本發明之基礎之見解)
於專利文獻1中，揭示有對磁感測器相對於S極與N極被交替地配置之磁鐵列之位置進行檢測的技術。如此之磁鐵列根據磁鐵列之陣列方向上之位置，來形成磁力線朝向不同方向之磁場。
已知有藉由利用如此形狀之磁力線來求出磁感測器相對於磁鐵列之陣列方向之位置的技術。於該情形時，例如，磁感測器具備有用以檢測磁感測器上之特定位置(相同位相)上之磁通密度之2個檢測元件。2個檢測元件中之一者與磁鐵列對向，而對與磁鐵列垂直之方向之磁通密度之分量即垂直分量進行檢測。2個檢測元件中 之另一者與磁鐵列平行，而對與磁鐵列平行之磁通密度之分量即平行分量進行檢測。磁感測器可藉由算出由該等2個檢測元件所檢測出之磁通密度之比率R之反正切來算出電相位角arctan R，進而根據電相位角arctan R而算出磁感測器之位置。
於上述之技術中，由於存在有磁通密度之垂直分量及平行分量，因此可如上述般，藉由在1個位置對磁通密度進行檢測來檢測磁感測器之位置。
另一方面，可假設於沿者特定方向延伸之2列磁鐵列中，在該2列磁鐵列之對向方向上N極與S極彼此相向之構成。於該構成中，一磁鐵列之N極產生之磁力線筆直朝向另一磁鐵列之S極。因此，磁通密度之垂直分量可相較於平行分量形成極大之磁場。該磁場例如可利用於藉由在2列磁鐵列之間朝可受到磁通密度之垂直分量所產生之磁力之朝向配置動子而使磁力有效率地被供給至動子之線性馬達。
但是，若將磁鐵列設為對線性馬達有效之磁鐵陣列，由於磁通密度之垂直分量相較於平行分量極大，因此於具備有如上述般對特定位置上之磁通密度之平行分量及垂直分量進行檢測之檢測元件之磁感測器中，難以檢測相對於磁通密度之位置之變化。因此，存在有該構成之磁感測器即便使用利用檢測元件所得到之檢測結果，亦無法算出電相位角，而無法算出磁感測器之位置之問題。因此，本發明之發明人等找出可有效地對磁通密度之垂直分量相較於 平行分量形成極大之磁場之磁鐵列之位置進行檢測之構成的磁感測器、及使用該磁感測器之檢測結果來算出位置之算出方法。
以下，一邊參照圖式一邊對包含本發明之實施形態之位置檢測系統及移行系統之物品搬送裝置進行說明。再者，各圖係模式圖，並不一定為嚴格地加以圖示者。
又，以下所說明之實施形態係表示本發明一具體例者。以下之實施形態所顯示之數值、形狀、材料、構成元件、構成元件之配置位置及連接形態、步驟、步驟之順序等係一例，並非用以限定本發明者。又，以下之實施形態之構成元件中，表示最上位概念之獨立請求項所未記載之構成元件，係作為任意之構成元件而加以說明。
(實施形態) [構成]
首先，使用圖1及圖2，對本發明之實施形態之物品搬送裝置100之概要進行說明。
圖1係用以對實施形態中物品搬送裝置之構成進行說明之立體圖。圖2係自搬送台車之移行方向觀察實施形態之物品搬送裝置之概略圖。再者，於圖1中所示之物品搬送裝置100中，雖然移行路徑在俯視下具有環狀之形狀，但於以下之說明中，對移行方向為X軸方向之直線區間進行說明。亦即，以下，以移行方向作為X軸方向來進行說明。
如圖1及圖2所示，物品搬送裝置100係具備有移行軌道110、一次側定子群120、以及第1搬送台車210及第2搬送台車220之移行系統。又，物品搬送裝置100進一步具備有動力源130及位置感測器140。
移行軌道110係沿著移行路徑(於圖1及圖2中沿著X軸方向延伸之路徑)被配置之構件。移行軌道110具體上係沿著與移行路徑正交之方向排列且沿著移行路徑較長之長條狀之2根構件，例如由鋁、鋁合金等之金屬所構成。再者，移行軌道110亦可由樹脂所構成。於本實施形態中，如圖1所示，移行軌道110與搬送物品10之搬送裝置400之搬送路徑410交叉，包含有在與搬送裝置400之間移載物品10之移載區間A11。
一次側定子群120係由複數個定子所構成之定子群之一例。一次側定子群120沿著移行路徑被配置。一次側定子群120具體上由沿著移行路徑較長之長條板狀之基板及沿著該基板之長邊方向排列配置之複數個線圈所構成。亦即，實質上，複數個線圈分別作為構成一次側定子群120之複數個定子而發揮功能。再者，一次側定子群120之基板與水平方向平行(即與XY平面平行)地被配置。
構成一次側定子群120之複數個線圈，藉由被控制器300(參照圖3)個別地加以控制，而分別獨立地產生磁場。如此，一次側定子群120藉由被控制器300個別地加以控制，而對被設置於第1搬送台 車210及第2搬送台車220之二次側動子211賦予磁作用，藉此對二次側動子211朝X軸方向賦予力，而使第1搬送台車210及第2搬送台車220於移行軌道110上移動。
動力源130被配置於移行路徑上，對第1搬送台車210及第2搬送台車220所具有之移載部212賦予力，而使該移載部212動作。
位置感測器140係用以偵測第1搬送台車210及第2搬送台車220之各者之位置之感測器。位置感測器140係磁感測器，偵測被設置於第1搬送台車210及第2搬送台車220之各者之作為被偵測部(參照後述之內容)之永久磁鐵之位置。
位置感測器140沿著移行路徑上被配置。具體而言，位置感測器140遍及配置有一次側定子群120之區間而被配置。具體而言，位置感測器140於移行路徑上分別與以特定長度單位被配置複數個之一次側定子群120相鄰而配置有複數個。藉此，物品搬送裝置100根據由位置感測器140所偵測到之第1搬送台車210及第2搬送台車220之各者之位置，來控制與該位置對應之一次側定子群120，藉此可控制第1搬送台車210及第2搬送台車220之各者之移行動作。
使用圖2，具體地對第1搬送台車210進行說明。
第1搬送台車210具有二次側動子211，係藉由二次側動子211受到來自一次側定子群120之磁作用而於移行軌道110上移行從而搬 送物品之搬送台車。第1搬送台車210除了二次側動子211以外，還具有移載部212、成為基台之框架217、及被設置於框架217之移行用之滾輪218。
二次側動子211係動子之一例，兼作為被偵測部。二次側動子211例如由複數個永久磁鐵所構成。構成二次側動子211之複數個永久磁鐵，沿著第1搬送台車210之移行方向排列地被配置。二次側動子211於第1搬送台車210被配置於移行軌道110之狀態下，與一次側定子群120之Z軸方向之兩側對向，而被配置於框架217之下方。亦即，二次側動子211係於一次側定子群120之Z軸方向之兩側，複數個永久磁鐵排成2列之構成。2列之各列之複數個永久磁鐵沿著X軸方向排列。第1搬送台車210利用由被配置於特定路徑上之一次側定子群120及第1搬送台車210所具有之二次側動子211所構成之地上一次式線性馬達系統，而可個別地停止或加減速地移行。
移載部212受到來自動力源130之力，而朝與移行路徑交叉之交叉方向(Y軸方向)移載物品。再者，於本實施形態中，移載部212雖朝Y軸方向移載物品，但並不限定於Y軸方向，只要為與移行路徑(第1搬送台車210之移行方向)交叉之方向，亦可不完全與特定路徑正交。例如，移載部212亦可相對於移行路徑(第1搬送台車210之移行方向)以45度交叉。
具體而言，移載部212具有二次側轉子213、移載用輸送機214及輸送帶215。二次側轉子213藉由沿著第1搬送台車210之移行方向 延伸之旋轉軸進行旋轉。二次側轉子213藉由受到來自動力源130之一次側定子131之磁作用所產生之磁力進行旋轉，而驅動移載用輸送機214。二次側轉子213被設置於自框架217朝Z軸負方向側延伸且自Z軸負方向側之端部朝Y軸負方向側延伸之支撐構件219之前端。支撐構件219於自X軸方向所觀察之情形時具有L字形之形狀。
再者，第1搬送台車210亦可不具有移載部212，而物品搬送裝置100亦可不具有動力源130。
此處，使用圖2，對動力源130之細節進行說明。
動力源130由如下之剖面為大致C字形狀之一次側定子131所構成，該一次側定子131被配置於在第1搬送台車210之移行時，於第1搬送台車210具有之二次側轉子213所通過之大致圓柱狀之區域中，包圍該區域之位置。動力源130藉由使一次側定子131產生特定磁場，而對第1搬送台車210所具有之二次側轉子213施加磁作用所產生之磁力。一次側定子131具有包圍繞第1搬送台車210之移行方向(X軸方向)約270度之範圍之形狀。換言之，一次側定子131具有在圓筒形狀之側面中相當於約90度之範圍之一部分之側面被去除之形狀。一次側定子131以圓筒形狀之中被去除之形狀之部分朝向Y軸正方向之朝向被配置。動力源130於移行路徑上，被配置於應驅動第1搬送台車210之移載部212之區間，而於第1搬送台車210通過該區間之期間，在移載來自外部之物品10或朝向外部移載物品10之情形時，由控制器300所控制，從而驅動第1搬送台車210之移載部 212。
移載用輸送機214利用二次側轉子213經由輸送帶215而朝交叉方向被驅動。移載用輸送機214例如為朝Y軸方向被驅動之輸送帶輸送機，且被配置於第1搬送台車210之上表面。亦即，移載用輸送機214構成第1搬送台車210之物品10之載置面，藉由朝Y軸方向被驅動，而將來自第1搬送台車210之Y軸方向之外側之物品10移載至第1搬送台車210之上表面(即移載用輸送機214之上表面)、或將被載置於第1搬送台車210之上表面之物品10自該上表面朝向第1搬送台車210之Y軸方向之外側移載。移載用輸送機214並不限定於輸送帶輸送機，而亦可為滾輪輸送機。
輸送帶215係將二次側轉子213之旋轉軸與用以驅動移載用輸送機214之旋轉軸加以連接，而將來自二次側轉子213之旋轉軸之旋轉朝向用以驅動移載用輸送機214之旋轉軸傳遞之動力傳遞用的輸送帶。輸送帶215於自X軸方向所觀察之情形時，以沿著第1搬送台車210所具有之框架217及支撐構件219之位置之方式，以環狀之形狀被配置。輸送帶215之環狀形狀係藉由在被設置於框架217及支撐構件219之X軸方向之端面之複數個滑輪架設有輸送帶215所形成。
如此，輸送帶215由於以沿著第1搬送台車210所具有之框架217及支撐構件219之位置之方式而以環狀形狀被配置，因此可縮小因輸送帶215之配置所產生之無效空間。又，由於輸送帶215大致垂直地貫通框架217，因此，縮小用以貫通框架217之開口的大小。因此， 可抑制異物侵入框架217之內部之情形。
再者，輸送帶215例如為橡膠輸送帶。輸送帶215並不限定於橡膠輸送帶，亦可為鏈條。
第2搬送台車220具有二次側動子221、移載部222、成為基台之框架227、被設置於框架227之移行用之滾輪228、及支撐構件229。
二次側動子221與二次側動子211為相同之構成。
移載部222與移載部212為相同之構成。亦即，移載部222所具有之二次側轉子223、移載用輸送機224及輸送帶225，分別與二次側轉子213、移載用輸送機214及輸送帶215為相同之構成。
又，框架227、滾輪228及支撐構件229，分別與框架217、滾輪218及支撐構件229為相同之構成。
圖3係表示實施形態之物品搬送裝置之功能性構成之方塊圖。
物品搬送裝置100具備有控制器300、一次側定子群120、動力源130、位置感測器140、及第1搬送台車210。又，位置感測器140與第1搬送台車210之二次側動子211，構成位置檢測系統150。
再者，關於一次側定子群120、動力源130、位置感測器140及 第1搬送台車210(第2搬送台車220)，由於已使用圖1及圖2進行說明，因此省略說明。亦即，此處，對控制器300進行說明。
控制器300對由一次側定子群120及第1搬送台車210之二次側動子211所構成之地上一次式線性馬達系統之動作進行控制。控制器300例如在使第1搬送台車210及第2搬送台車220之各者停止於移載區間A11之狀態下，於第1搬送台車210及第2搬送台車220之各者與搬送裝置400之間經由移載部212、222來移載物品。
又，控制器300亦可藉由控制一次側定子群120，使第1搬送台車210及第2搬送台車220同步地移行。
控制器300例如由執行既定程式之處理器、及儲存有既定程式之記憶體等所構成。又，控制器300亦可由專用電路所構成。
[位置檢測系統之構成]
其次，對位置檢測系統150之構成進行說明。
圖4係表示實施形態之位置檢測系統之構成之一例之概略圖。
圖4顯示二次側動子211與位置感測器140之關係。
二次側動子211由2列磁鐵列510、520所構成。2列磁鐵列510、520之各者，由沿著作為移行方向之X軸方向以陣列圖案為1個週期 而週期性地被重複排列之複數個磁鐵511~514、521~524所構成。磁鐵列510係以使4個磁鐵511~514依序地排列之陣列圖案為1個週期而使複數個週期量被重複地排列所得者。磁鐵列520亦與磁鐵列510同樣地，係以使4個磁鐵521~524依序地排列之陣列圖案為1個週期而使複數個週期量被重複地排列所得者。藉此，於使4個磁鐵511~514排列之陣列圖案中，該陣列圖案之X軸方向上之寬度係1個週期量之距離L1。2列磁鐵列510、520之陣列圖案例如為如圖4所示之海爾貝克陣列。
又，於2列磁鐵列510、520中，於X軸方向上之任意位置，一磁鐵列510之磁鐵與另一磁鐵列520之磁鐵以具有不同極性之面相互地對向。例如，磁鐵列510之磁鐵511之N極之面與磁鐵列520之磁鐵521之S極之面，於Z軸方向上相互地對向。又，磁鐵列510之磁鐵513之S極之面與磁鐵列520之磁鐵523之N極之面，於Z軸方向上相互地對向。如此，2列磁鐵列510、520由於在X軸方向之特定位置，不同極性之面彼此相互地對向，因此如圖4之中空箭頭D1~D2所示，成為磁通線(或磁力線)自N極朝向S極幾乎完全筆直地延伸之狀態。
如此藉由以海爾貝克陣列構成2列磁鐵列510、520，2列磁鐵列510、520之間之空間之Z軸方向之磁通密度例如成為圖5所示之磁通密度波形之分佈。
圖5係表示2列磁鐵列之間之空間中X軸方向之磁通密度分佈之磁通密度波形。
如圖5所示，可知在2列磁鐵列510、520之間之空間中，根據X軸方向上之位置，Z軸方向之磁通密度週期性地產生變化。磁通密度之1個週期與距離L1一致。如此，磁通密度之大小由於根據X軸方向之位置而不同，因此可藉由對磁通密度進行檢測來檢測後述之磁感測器600之X軸方向上之位置。再者，僅在僅於X軸方向上之1點對磁通密度進行檢測，由於存在有會於不同之2點的位置檢測到相同之磁通密度之情形，因此例如磁感測器600可在離開該磁通密度波形之1/4週期量之2點對磁通密度進行檢測。藉此，磁感測器600可檢測磁感測器600相對於2列磁鐵列510、520之X軸方向上之相對位置。
再者，關於磁感測器600相對於2列磁鐵列510、520之X軸方向上之相對位置，亦可分別以磁感測器600之2個檢測元件中之1個檢測元件之位置及2列磁鐵列510、520所產生之磁通密度分佈之零交叉之位置作為基準位置而加以算出。該相對位置例如為自上述磁通密度分佈之零交叉之位置至上述一檢測元件之位置之距離。該相對位置亦可進一步包含自上述磁通密度分佈之零交叉之位置朝向上述一檢測元件之位置之方向。再者，磁感測器600之基準位置並不限定於上述者，例如，亦可設為位相自磁通密度分佈之零交叉之位置偏離半週期量之位置。又，2列磁鐵列510、520之基準位置並非限定於上述者，亦可以2個檢測元件離開規定之距離之位置作為基準位置。
藉由預先於記憶體儲存表示作為磁感測器600之2個檢測元件中之1個檢測元件位於2列磁鐵列510、520之X軸方向上之各位置之情形時之檢測結果之位置與檢測結果之關係之關係資訊，可容易地根據檢測結果來算出磁感測器600相對於2列磁鐵列510、520之相對位置。
關係資訊例如亦可為式1所示之下述之關係式。
位置=(L1/2π)×θa (式1)
此處，L1表示陣列圖案之1個週期量之長度，而θa表示後述之平均電相位角。
關係資訊只要為表示位置與磁通密度之關係之資訊即可，並不限定於上述關係式，例如既可為表格、圖表等，亦可為與藉由預先校正所得到之位置對應之檢測結果。
位置感測器140被配置於2列磁鐵列510、520之間，包含在X軸方向上相對於2列磁鐵列之相對位置可變化之磁感測器600。具體而言，位置感測器140具有第1檢測元件601、第2檢測元件602、第3檢測元件603、及第4檢測元件604。各檢測元件601~604係對Z軸方向上之磁通密度進行檢測之元件。各檢測元件601~604例如由霍耳元件、線圈等所構成。各檢測元件601~604於由霍耳元件所構成之情形時，該霍耳元件之檢測面朝與一磁鐵列510對向之朝向被配置。 各檢測元件601~604於由線圈所構成之情形時，朝該線圈之軸相對於2列磁鐵列510、520垂直之朝向被配置。
第1檢測元件601與第2檢測元件602，於X軸方向上相互地離開陣列圖案之1/4週期量之距離L2。亦即，第2檢測元件602被配置於自第1檢測元件601朝X軸正方向離開距離L2之位置。距離L2由於為陣列圖案之1/4週期量之距離，因此為距離L1之1/4。
第3檢測元件603被配置於自第1檢測元件601朝向X軸正方向離開陣列圖案之1/8週期量之距離L3之位置。於本實施形態中，第3檢測元件603被配置於第1檢測元件601及第2檢測元件602之間。距離L3由於為陣列圖案之1/8週期量之距離，因此為距離L2之1/2。亦即，第3檢測元件603被配置於第1檢測元件601所配置之位置及第2檢測元件602所配置之位置之正中間地點。
第4檢測元件604被配置於自第3檢測元件603朝X軸正方向離開陣列圖案之1/4週期量之距離L4之位置。因此，距離L4與距離L2相等。又，由於離開相等距離之2組檢測元件被配置於僅偏離該距離1/2之位置，因此，第1至第4檢測元件601~604以既定之陣列圖案之1/8週期量之間隔等間隔地被配置。再者，所配置之順序係自X軸負方向側起依序為第1檢測元件601、第3檢測元件603、第2檢測元件602、及第4檢測元件604之順序。
位置感測器140係使用第1至第4檢測元件601~604之檢測結果 來檢測位置感測器140相對於2列磁鐵列510、520之相對位置之感測器。亦即，於位置感測器140中，進行用以根據第1至第4檢測元件601~604之檢測結果來算出位置感測器140相對於2列磁鐵列510、520之相對位置之處理。使用圖6對用以執行在位置感測器140所進行之上述處理之構成進行說明。
圖6係表示位置感測器之功能構成之一例之方塊圖。
如圖6所示，就功能上，位置感測器140具有第1至第4檢測元件601~604及決定部141。決定部141根據作為磁感測器600之第1至第4檢測元件601~604之檢測值，來決定該磁感測器600相對於2列磁鐵列510、520之X軸方向上之位置。
決定部141例如自第1檢測元件601取得表示第1磁通密度之第1電壓，並自第2檢測元件602取得表示第2磁通密度之第2電壓。然後，決定部141藉由求出所取得之第1電壓及第2電壓之比率，來算出第1比率R1，並藉由算出所算出之第1比率R1之反正切來算出第1電相位角θ12。
又，決定部141例如自第3檢測元件603取得表示第3磁通密度之第3電壓，並自第4檢測元件604取得表示第4磁通密度之第4電壓。然後，決定部141藉由求出所取得之第3電壓與第4電壓之比率，來算出第2比率R2，並藉由算出所算出之第2比率R2之反正切來算出第2電相位角θ34。
其次，決定部141算出所算出之第1電相位角θ12與第2電相位角θ34之算術平均值即平均電相位角θa。然後，決定部141使用所算出之平均電相位角θa與表示平均電相位角及位置之關係的關係資訊，並將上述關係資訊中與所算出之平均電相位角θa對應之位置，決定為磁感測器600之位置。
決定部141亦可以既定之採樣週期來重複上述之位置決定之處理，且每移動1個陣列圖案便進行計數，例如進行遞增1之處理。藉此，藉由參照計數所得之數，則即便在磁感測器600位於2列磁鐵列510、520之第2個以後之陣列圖案之情形時，亦可特定出該位置為第幾個陣列圖案中之位置。
再者，決定部141例如由執行既定程式之處理器、及儲存有既定程式之記憶體等所構成。又，決定部141亦可由專用電路所構成。又，亦可由控制器300具有決定部141之功能。
[位置檢測系統之動作]
其次，對位置檢測系統之動作進行說明。
圖7係表示位置檢測系統之動作之一例之流程圖。
於位置檢測系統150中，第1至第4檢測元件601~604對第1至第4磁通密度進行檢測(S1)。
其次，決定部141使用第1至第4磁通密度，來算出第1比率R1及第2比率R2(S2)。
其次，決定部141算出第1電相位角θ12及第2電相位角θ34(S3)。
再者，第1比率R1及第2比率R2之算出方法、及第1電相位角θ12及第2電相位角θ34具體之算出方法由於如上所述，因此省略詳細之說明。
然後，決定部141藉由算出第1電相位角θ12及第2電相位角θ34之算術平均值來算出平均電相位角θa(S4)。
最後，決定部141將關係資訊中與平均電相位角θa對應之位置決定為磁感測器600之位置、即位置感測器140之位置(S5)。藉此，位置感測器140可對第1搬送台車210相對於2列磁鐵列510、520之位置進行檢測。
[效果等]
本實施形態之位置檢測系統150對磁感測器600相對於磁鐵列之位置進行檢測。位置檢測系統150具備有2列磁鐵列510、520、磁感測器600、及決定部141。2列磁鐵列510、520由在作為移行方向之X軸方向以既定之陣列圖案為1個週期而週期性地被重複排列之複數個磁鐵所構成。2列磁鐵列510、520係於X軸方向上之特定位置 上一磁鐵列510之磁鐵與另一磁鐵列520之磁鐵以具有不同極性之面相互地對向。磁感測器600被配置於2列磁鐵列510、520之間，且被配置為可相對於2列磁鐵列510、520朝X軸方向相對地移動。決定部141根據磁感測器600之檢測值來決定磁感測器600相對於2列磁鐵列510、520之X軸方向上之位置。磁感測器600具有檢測磁通密度之第1檢測元件601及第2檢測元件602。第2檢測元件602被配置於自第1檢測元件601朝X軸方向離開既定之陣列圖案之1/4週期量之距離L2之位置。決定部141藉由算出由第1檢測元件601所檢測出之第1磁通密度、及由第2檢測元件602所檢測出之第2磁通密度之第1比率R1之反正切，來算出第1電相位角θ12。其次，決定部141使用所算出之第1電相位角θ12，來決定磁感測器600之位置。
如此，位置檢測系統150使用由第1檢測元件601、及被配置於自第1檢測元件601朝X軸方向離開既定之陣列圖案之1/4週期量之距離L2之位置之第2檢測元件602所檢測出之第1磁通密度及第2磁通密度而算出第1電相位角θ12，來決定對應於所算出之第1電相位角θ12之位置。因此，即便為利用具有在特定位置，極性不同之磁極彼此對向之陣列之2列磁鐵列510、520之位置檢測系統150，亦可有效地檢測該2列磁鐵列510、520之間之磁通密度之對應於X軸方向上之位置之變化。因此，磁感測器600根據由第1檢測元件601及第2檢測元件602檢測出之2點各自之磁通密度之值，而可適當地檢測出磁感測器600相對於2列磁鐵列510、520之X軸方向上之相對位置。
此處，圖8係表示對圖5之磁通密度波形進行高速傅立葉變換之 結果的圖。
如圖8所示，可知在由2列磁鐵列510、520所形成之磁場中，一次諧波之三次諧波及五次諧波之分量較大。藉此，存在有在該磁場中，獨立於一次諧波而包含如三次諧波或五次諧波般之週期誤差，會導致檢測誤差之另一課題。因此，發明人等為了減少週期誤差而如以下般設置誤差檢測元件。
又，於位置檢測系統150中，磁感測器600進一步具有被配置於自第1檢測元件601或第2檢測元件602離開既定之陣列圖案之1/8週期量之距離L3之位置之作為誤差檢測元件之第3檢測元件603及第4檢測元件604。如此，位置檢測系統150由於具有誤差檢測元件，因此可減少使用第1檢測元件601及第2檢測元件602之檢測結果所求出之磁感測器600相對於2列磁鐵列510、520之X軸方向上之相對位置之誤差。
具體而言，於位置檢測系統150中，誤差檢測元件具有對磁通密度進行檢測之第3檢測元件603及第4檢測元件604。第3檢測元件603被配置於第1檢測元件601及第2檢測元件602之間，且被配置於自第1檢測元件601朝X軸方向離開既定之陣列圖案之1/8週期量之距離L3之位置。第4檢測元件604被配置於自第3檢測元件603朝第2檢測元件602側離開既定之陣列圖案之1/4週期量之距離L4之位置。決定部141進一步使用由第3檢測元件603所檢測出之第3磁通密度及由上述第4檢測元件所檢測出之第4磁通密度之第2比率R2，來 算出第2電相位角θ34。然後，決定部141藉由求出第1電相位角θ12與第2電相位角θ34之算術平均值，來算出平均電相位角θa。決定部141使用所算出之平均電相位角、與表示平均電相位角及位置之關係的關係資訊，而將關係資訊中與所算出之平均電相位角對應之位置，決定為磁感測器600之位置。
據此，於位置檢測系統150中，使用藉由設置第3檢測元件603及第4檢測元件604所得到之第2電相位角θ34，來算出與第1電相位角θ12之算術平均值，並根據藉由所算出之算術平均值所得到之平均電相位角θa來決定磁感測器600之位置。
圖9係表示使用第1及第2電相位角之各者所算出之位置的位置檢測誤差及使用平均電相位角所算出之位置之位置檢測誤差的圖。位置檢測誤差係使用各電相位角所算出之位置與位置感測器140之實際位置之差量。
如圖9所示，可知使用平均電相位角所算出之位置的位置檢測誤差，相較於使用第1及第2電相位角之各者所算出之位置的位置檢測誤差，誤差會減少。
如此，藉由求出平均電相位角θa可消除三次諧波及五次諧波之高次諧波分量，而該平均電相位角θa係藉由在離開1/4週期量之位置上所檢測出之第1電相位角θ12與第2電相位角θ34之算術平均值所得者。因此，可減少2列磁鐵列510、520所產生之磁場之週期誤差， 而可精度良好地決定磁感測器600之位置。
又，於位置檢測系統150中，2列磁鐵列510、520之既定之陣列圖案係海爾貝克陣列。因此，可使磁力線集中於2列磁鐵列510、520之間。
又，於位置檢測系統150中，第1檢測元件601及第2檢測元件602亦可分別為霍耳元件，且以檢測面與一磁鐵列510對向之朝向被配置。於該情形時，第1檢測元件601及第2檢測元件602可有效地對Z軸方向之磁通密度進行檢測。
又，於位置檢測系統150中，第1檢測元件601及第2檢測元件602亦可分別為線圈，且以線圈之軸相對於2列磁鐵列510、520垂直之朝向被配置。於該情形時，第1檢測元件601及第2檢測元件602可有效地對Z軸方向之磁通密度進行檢測。
又，作為移行系統之物品搬送裝置100具備有：位置檢測系統150；作為移行車之第1搬送台車210，其藉由以2列磁鐵列510、520為動子之線性馬達所驅動；及控制器300，其根據在位置檢測系統150所檢測出之磁感測器600之位置來驅動線性馬達，藉此控制第1搬送台車210之移行。
如此，可將作為用以使第1搬送台車210移行之線性馬達之動子而使用之2列磁鐵列510、520，使用於用以檢測第1搬送台車210之 位置之位置檢測系統150中。因此，可使製造成本減少。又，2個磁鐵列510、520由於為海爾貝克陣列，因此線性馬達可有效率地得到藉由電磁感應所產生之驅動力。
[變化例]
於上述實施形態之位置檢測系統150中，第1檢測元件601及第2檢測元件602雖設為朝X軸正方向離開陣列圖案之1/4週期量之距離L2，但並不限定於此。只要第1檢測元件601與第2檢測元件602朝X軸方向相互地離開陣列圖案之(2A+1)/4週期量(上述A為0以上之整數)之距離即可，例如，既可離開陣列圖案之3/4週期量之距離，亦可離開5/4週期量之距離。
於上述實施形態之位置檢測系統150中，第3檢測元件603雖設為被配置於自第1檢測元件601朝X軸正方向離開陣列圖案之1/8週期量之距離L3之位置，但並不限定於此。第3檢測元件603只要自第1檢測元件601朝X軸正方向離開陣列圖案之(4B+1)/8週期量(上述B為0以上之整數)之距離即可，例如，既可離開陣列圖案之5/8週期量之距離，亦可離開9/8週期量之距離。
於上述實施形態之位置檢測系統150中，第4檢測元件604雖設為被配置於自第3檢測元件603朝X軸正方向離開陣列圖案之1/4週期量之距離L4之位置，但並不限定於此。第4檢測元件604只要自第3檢測元件603朝X軸正方向離開陣列圖案之(2C+1)/4週期量(上述C為0以上之整數)之距離即可，例如，既可離開陣列圖案之3/4週期量 之距離，亦可離開5/4週期量之距離。
上述實施形態之位置檢測系統150雖設為作為誤差檢測元件而具備有第3檢測元件603及第4檢測元件604之構成，但亦可設為不具備有誤差檢測元件之構成。
於該情形時，決定部141使用所算出之第1電相位角θ12與表示第1電相位角θ12及位置之關係的關係資訊，並將關係資訊中對應於第1電相位角θ12之位置，決定為磁感測器600之位置。如此，即便為磁感測器600僅具有第1檢測元件601及第2檢測元件602之構成，亦可對磁感測器600之位置進行檢測。
上述實施形態之位置檢測系統150作為誤差檢測元件雖使用2個檢測元件603、604，但亦可藉由使用1個檢測元件，來修正藉由第1檢測元件601及第2檢測元件602之檢測結果所算出之第1電相位角θ12。
又，於上述實施形態之位置檢測系統150中，2列磁鐵列510、520之陣列圖案雖設為海爾貝克陣列，但並不限定於此。例如，亦可為2列磁鐵列中之一磁鐵列以每1個磁鐵或每複數個磁鐵為單位使N極與S極交替地重複之方式被排列，且另一磁鐵列以與一磁鐵列不同之磁極而對向之方式被排列之構成。
圖10係表示變化例之位置檢測系統之構成之一例之概略圖。
於位置檢測系統150a中，二次側動子211a具有2列磁鐵列510a、520a。磁鐵列510a係以N極朝向磁鐵列520a側之磁鐵511a與S極朝向磁鐵列520a側之磁鐵512a為1個週期地重複排列有複數個週期量而成者。同樣地，磁鐵列520a係以S極朝向磁鐵列510a側之磁鐵521a與N極朝向磁鐵列510a側之磁鐵522a為1個週期地重複排列有複數個週期量而成者。磁鐵列510a之磁鐵511a之N極之面與磁鐵列520a之磁鐵521a之S極之面，在Z軸方向上相互地對向。如此，2列磁鐵列510a、520a由於在X軸方向之特定位置上不同極性之面彼此相互地對向，因此如圖10之中空箭頭D11、D12所示般，成為磁通線(或磁力線)自N極朝向S極幾乎完全筆直地延伸之狀態。
又，上述實施形態之物品搬送裝置100雖設為地上一次式線性馬達系統，但亦可藉由地上二次式線性馬達系統來實現。亦即，亦可為磁鐵列510、520被配置於定子側，而磁感測器600被配置於動子側。於該情形時，磁鐵列510、520為線性馬達之定子。
以上，雖已根據實施形態，對本發明之一個或複數個態樣之物品搬送裝置進行說明，但本發明並非被限定於該實施形態者。只要不脫離本發明之主旨，則對本實施形態施以本發明所屬技術領域中具有通常知識者可想到之各種變化而成者、或將不同實施形態之構成元件加以組合所構建之形態，亦可包含於本發明之一個或複數個態樣之範圍內。
(產業上之可利用性)
本發明作為如下之位置檢測系統、移行系統等很有用：於磁感測器被配置於具有在特定位置，極性不同之磁極彼此對向之陣列之2列磁鐵列之間之位置之情形時，適當地對磁感測器相對於2列磁鐵列之位置進行檢測。
140‧‧‧位置感測器
150‧‧‧位置檢測系統
211‧‧‧二次側動子
510、520‧‧‧磁鐵列
511~514、521~524‧‧‧磁鐵
600‧‧‧磁感測器
601‧‧‧第1檢測元件
602‧‧‧第2檢測元件
603‧‧‧第3檢測元件
604‧‧‧第4檢測元件
D1、D2‧‧‧中空箭頭
L1~L4‧‧‧距離

Claims (9)

  1. 一種位置檢測系統，係檢測磁感測器相對於磁鐵列之位置者；其具備有：2列磁鐵列，其等由沿著檢測方向以陣列圖案為1個週期而週期性地被重複排列之複數個磁鐵所構成，且於上述檢測方向上之特定位置，一磁鐵列之磁鐵與另一磁鐵列之磁鐵以具有不同極性之面相互地對向；磁感測器，其被配置於上述2列磁鐵列之間，於上述檢測方向上可相對於上述2列磁鐵列之相對位置變化；及決定部，其根據上述磁感測器之檢測值來決定上述磁感測器相對於上述2列磁鐵列之上述檢測方向上之位置；上述磁感測器具有：第1檢測元件，其對磁通密度進行檢測；及第2檢測元件，其對磁通密度進行檢測，且被配置於自上述第1檢測元件朝上述檢測方向離開上述陣列圖案之(2A+1)/4週期量(上述A為0以上之整數)之距離之位置；且上述決定部藉由算出作為第1磁通密度與第2磁通密度之比率的第1比率之反正切來算出第1電相位角，並使用所算出之上述第1電相位角來決定上述磁感測器之位置，其中，該第1磁通密度由上述第1檢測元件所檢測出，而該第2磁通密度由上述第2檢測元件所檢測出。
  2. 如請求項1之位置檢測系統，其中，上述決定部使用所算出之上述第1電相位角、與表示第1電相位角及上述位置之關係之第1關係資訊，而將上述第1關係資訊中與上述第1電相位角對應之位置決定為上述磁感測器之位置。
  3. 如請求項1之位置檢測系統，其中，上述磁感測器具有：第3檢測元件，其對磁通密度進行檢測，且被配置於自上述第1檢測元件朝上述檢測方向離開上述陣列圖案之(4B+1)/8週期量(上述B為0以上之整數)之距離之位置；及第4檢測元件，其對磁通密度進行檢測，且被配置於自上述第3檢測元件朝上述檢測方向離開上述陣列圖案之(2C+1)/4週期量(上述C為0以上之整數)之距離之位置；且上述決定部進一步：(1)藉由算出作為第3磁通密度與第4磁通密度之比率的第2比率之反正切來算出第2電相位角，其中，該第3磁通密度由上述第3檢測元件所檢測出，而該第4磁通密度由上述第4檢測元件所檢測出；(2)算出作為上述第1電相位角與上述第2電相位角之算術平均值之平均電相位角；(3)使用所算出之上述平均電相位角與表示平均電相位角及上述位置之關係之第2關係資訊，而將上述第2關係資訊中與上述平均電相位角對應之位置決定為上述磁感測器之位置。
  4. 如請求項1至3中任一項之位置檢測系統，其中，上述2列磁鐵列之上述陣列圖案係海爾貝克陣列。
  5. 如請求項1至3中任一項之位置檢測系統，其中，上述第1檢測元件及上述第2檢測元件分別為霍耳元件，且以檢測面與上述一磁鐵列對向之朝向所配置。
  6. 如請求項4之位置檢測系統，其中，上述第1檢測元件及上述第2檢測元件分別為霍耳元件，且以檢測 面與上述一磁鐵列對向之朝向所配置。
  7. 如請求項1至3中任一項之位置檢測系統，其中，上述第1檢測元件及上述第2檢測元件分別為線圈，且以上述線圈之軸相對於上述2列磁鐵列垂直之朝向所配置。
  8. 如請求項4之位置檢測系統，其中，上述第1檢測元件及上述第2檢測元件分別為線圈，且以上述線圈之軸相對於上述2列磁鐵列垂直之朝向所配置。
  9. 一種移行系統，其具備有：請求項1至8中任一項所記載之位置檢測系統；移行車，其由上述2列磁鐵列為定子或動子之線性馬達所驅動；及控制器，其根據在上述位置檢測系統所檢測出之上述磁感測器之位置來驅動上述線性馬達，藉此控制上述移行車之移行。
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