TWI765180B - 三軸加速度計 - Google Patents

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Abstract

一種三軸加速度計，其係包括單一整合式質量塊，此整合式質量塊包括至少一橫向（XY）檢測質量塊及至少一垂向（Z）檢測質量塊。直向檢測質量塊為蹺蹺板式質量塊，位於該橫向檢測質量塊內。該直向檢測質量塊係透過一或多個扭力彈簧而以機械方式耦接於該橫向檢測質量塊，且該橫向檢測質量塊係透過一或多個橫向彈簧而以機械方式耦接於一或多個錨柱。至少一直向檢測質量塊可於該三軸加速度計之一或多個軸兩側為對稱設置，俾使該三軸加速度計具有平面對稱性。所述三軸加速度計較不易受到機械性串擾或噪音影響，且能夠以較小之封裝感測三個方向之加速度。

Description

三軸加速度計
本發明係關於微機電系統(MEMS)慣性感測器。
某些微機電系統(MEMS)慣性感測器係用於測量一或多個方向之加速，因此稱為加速度計。加速度計通常具有以彈簧耦接於基板之檢測質量塊，於經歷加速時，此檢測質量塊會產生位移。在彈簧聯接器之作用下，檢測質量塊往往會因應加速產生擺盪。而透過電容式感測技術，可測量檢測質量塊之移位及/或擺動頻率，產生代表移位或擺動之類比輸出訊號。某些加速度計稱為諧振式加速度計，其係使用驅動器以一預設頻率擺動檢測質量塊。檢測質量塊之擺動頻率會隨加速產生變化。測量擺動頻率與預設驅動頻率相較之偏差即可判定施加之加速度。
某些習知三軸加速度計係就每一感測方向各設獨立之檢測質量塊。亦即，三軸加速度計具有三個分離且在機械上為獨立之檢測質量塊，每一檢測質量塊對應一個方向。通常，橫向檢測質量塊(例如X軸及/或Y軸檢測質量塊)是在單一平面內位移及/或擺動。直向檢測質量塊(例如Z軸檢測質量塊)一般而言是對單一平面移入移出及/或擺入擺出。
一種三軸加速度計，包括單一整合式質量塊，所述質量塊包括至少一與至少一直向移動(Z)質量塊整合之橫向移動(XY)質量塊。垂直移動質量塊為一蹺蹺板式質量塊，位於橫向移動質量塊內部。垂直移動質量塊係經由一或多個扭力彈簧而以機械方式耦接於橫向移動質量塊，且橫向移動質量塊係經由一或多個橫向移動彈簧而以機械方式耦接於一或多個錨柱或支撐物。至少一垂直移動質量塊可沿三軸加速度計之一或多軸對稱設置，俾使三軸加速度計具有平面對稱性。三軸加速度計可提供多種益處，例如較其他三軸加速度計結構不易受機械性串擾或噪音影響，且在晶片上所需佔用之面積小於其他三軸加速度計結構。
於某些實施例中，單一質量塊整合式三軸加速度計包括單一質量塊之XY加速偵測部及單一質量塊之蹺蹺板式Z軸加速偵測部，其中Z軸加速偵測部係內嵌於XY加速偵測部中。
於某些實施例中，整合式三軸加速度計包括耦接於基板之錨柱、結合式XY加速偵測檢測質量塊及內嵌於XY加速偵測檢測質量塊中之第一及第二蹺蹺板式Z軸加速偵測檢測質量塊。結合式XY加速偵測檢測質量塊係經由第一繫鏈耦接於錨柱，且第一及第二蹺蹺板式Z軸加速偵測檢測質量塊係分別經由第二繫鏈及第三繫鏈耦接於XY加速偵測檢測質量塊。
於某些實施例中，單一質量塊整合式三軸加速度計包括單一質量塊之XY加速偵測部及單一質量塊之至少一蹺蹺板式Z軸加速偵測部，其中Z軸加速偵測部係內嵌於XY加速偵測部中。此加速度計係沿其X軸及Y軸為對稱配置。
100:三軸加速度計
102:基板
104:錨柱
110:XY軸檢測質量塊
112:XY繫鏈
114:框格
120:Z軸檢測質量塊
122:第一部分
124:第二部分
126:Z繫鏈
200:三軸加速度計
202:基板
204:錨柱
212:XY繫鏈
220a:Z軸檢測質量塊
220b:Z軸檢測質量塊
222a:第一部分
222b:第一部分
224a:第二部分
224b:第二部分
226:Z繫鏈
300:三軸加速度計
302:基板
304:錨柱
312:XY繫鏈
320a:Z軸檢測質量塊
320b:Z軸檢測質量塊
322a:第一部分
322b:第一部分
324a:第二部分
324b:第二部分
326:Z繫鏈
400:三軸加速度計
402:基板
404:錨柱
410:XY軸檢測質量塊
412:XY繫鏈
414:手指
416a:正電極
416b:負電極
420a:Z軸檢測質量塊
420b:Z軸檢測質量塊
420c:Z軸檢測質量塊
420d:Z軸檢測質量塊
422a:第一部分
422b:第一部分
422c:第一部分
422d:第一部分
424a:第二部分
424b:第二部分
424c:第二部分
424d:第二部分
426:Z繫鏈
500:三軸加速度計
502:基板
504:錨柱
510:XY軸檢測質量塊
512:XY繫鏈
520a:Z軸檢測質量塊
520b:Z軸檢測質量塊
520c:Z軸檢測質量塊
520d:Z軸檢測質量塊
522a:第一部分
522b:第一部分
522c:第一部分
522d:第一部分
524a:第二部分
524b:第二部分
524c:第二部分
524d:第二部分
526:Z繫鏈
600:汽車
601:控制單元
604:機載電腦
本發明之各種態樣及實施例將配合以下附圖加以說明。應知附圖未必依照比例繪製。各圖中所示之相同元件係以相同參考編號標示。
圖1係為一三軸加速度計實施例之上視圖，該三軸加速度計係在一個XY軸檢測質量塊中嵌設有一個Z軸檢測質量塊；圖2係為一三軸加速度計實施例之上視圖，該三軸加速度計係在一個XY軸檢測質量塊中嵌設有兩個Z軸檢測質量塊；圖3係依據圖2所繪製之替代實施例上視圖，圖中顯示之三軸加速度計係在一個XY軸檢測質量塊中嵌設有兩個Z軸檢測質量塊；圖4係為一三軸加速度計實施例之上視圖，該三軸加速度計係在一個XY軸檢測質量塊中嵌設有四個Z軸檢測質量塊；以及圖5係依據圖4所繪製之替代實施例上視圖，圖中顯示之三軸加速度計係在一個XY軸檢測質量塊中嵌設有四個Z軸檢測質量塊。
圖6繪示一輛配備有本發明非限制性實施例中三軸加速度計之汽車。
本案發明人發現習知技術中以多個獨立檢測質量塊分別對應不同感測軸之三軸加速度計於許多應用中有過於龐大及/或過於昂貴之失。由於每一檢測質量塊均需要單獨感測電路系統以及錨柱與彈簧，是以此種三軸加速度計頗佔空間(晶片有效面積)。某些三軸加速度計僅利用單一實心檢測質量塊感測三個方向上之加速，藉此解決上述問題。然而，本案發明人發現，由於有時單一實心檢測質量塊不論受到三個感測方向中何者之作用力，均可能在任一 方向上受到激動，因而此種結構極易受到機械應力及/或機械性串擾影響。此種機械應力及/或機械性串擾會造成加速度計性能變差，因而不為吾人所喜。
為解決上述問題，某些三軸加速度計採用之整合式檢測質量塊係以一獨立之Z軸檢測質量塊環繞一XY軸質量塊。然而，本案發明人發現此種加速度計具有準確性差且Z軸偏移誤差大等缺點。單一外側質量塊Z軸檢測質量塊於其樞軸兩側並不對稱，因此可能使三軸加速度計產生模態串擾。此外，本案發明人發現，在此結構中，由於Z軸檢測質量塊訊號與樞軸間之距離必須較未將XY軸質量塊設於其中時之距離更大，Z軸檢測質量塊之訊號偏移誤差會因而加大。
有鑑於此，本發明之態樣提供一種整合式之三軸加速度計，其係包括一內嵌有檢測質量塊之XY軸檢測質量塊，該檢測質量塊係用以偵測Z軸加速。此一佈置較其他設計所需面積更小，且由於機械性串擾及Z軸偏移誤差較小，準確性亦較習知單一質量塊加速度計更佳。
依據本發明之一種態樣，一種單一質量塊整合式三軸加速度計係包括一可在平面上沿橫向移動(例如X及Y方向)之XY軸檢測質量塊。該XY軸檢測質量塊包括一可樞轉出垂直方向(例如Z方向)平面之內嵌質量塊。於某些實施例中，所述內嵌質量塊為一可旋轉出入XY平面之蹺蹺板式質量塊。由於此內嵌Z軸檢測質量塊係包含在XY軸檢測質量塊中，其亦貢獻於XY動作。因此，所述加速度計堪稱為單一質量塊三軸加速度計。
依據本發明之另一態樣，單一質量塊整合式三軸加速度計包括一檢測質量塊可在平面上沿橫向移動，其具有二或多個可移出Z方向平面之內嵌質量塊。此加速度計可沿一或多個軸為對稱配置，例如沿X軸及Y軸為對稱配置(在此稱為「平面對稱性」)。上述對稱結構可減少X、Y與Z軸操作模式間之機械性串擾情形，且有助於提升偏移性能。
依據本發明之又一態樣，單一質量塊整合式三軸加速度計包括一單一檢測質量塊，其具有一個XY加速偵測部及一個內嵌於XY加速偵測部中之Z加速偵測部。所述加速度計可沿其X軸及Y軸均為對稱配置，從而展現平面對稱性。
如在此所稱，「XY軸檢測質量塊」是可在XY平面上移動之質量塊。「Z軸檢測質量塊」是可沿Z方向移動之質量塊，所述移動例如是繞XY平面旋轉。
圖1描繪本發明一非限制性實施例中之三軸加速度計100。於此非限制性實施例中，三軸加速度計100包括內嵌有Z軸檢測質量塊120之XY軸檢測質量塊(x-y axis proof mass)110。所述XY軸檢測質量塊110係耦接於一固定支撐物，例如一基板，且內嵌Z軸檢測質量塊120係耦接於XY軸檢測質量塊110。參照附圖，三軸加速度計100包括一XY軸檢測質量塊110及一包括第一部分122及第二部分124(亦分別稱為正向部及負向部)之內嵌Z軸檢測質量塊120。此三軸加速度計100亦包括一基板102、錨柱104、XY繫鏈112及Z繫鏈126。
基板102係為此三軸加速度計100之底座。亦即，基板102可支撐XY軸檢測質量塊110，且XY軸檢測質量塊110可相對於基板102移動。基板102可為適合材料，例如半導體材料(例如矽)。基板102可包括驅動及/或感測電路系統，例如電極、驅動器電路、濾波器電路或任何其他用於操作三軸加速度計之電路系統。於某些實施例中，錨柱104係自基板102延伸而出，例如為與基板垂直之柱體。然亦可為其他替代設計。例如，於某些實施例中，可另以其他材料形成錨柱104。錨柱104本身可連接至XY繫鏈112，以將XY軸檢測質量塊110(且間接將Z軸檢測質量塊120)懸置於基板102上方。
XY軸檢測質量塊110可偵測X方向及Y方向之加速。具體而言，XY軸檢測質量塊110可因應橫向(X方向及Y方向)之加速而沿此等方向移動。 測量XY軸檢測質量塊110因此產生之移動後可據此算出X方向及Y方向中至少一者之加速度。XY繫鏈112可將XY軸檢測質量塊110耦接於錨柱104，並允許XY軸檢測質量塊110在X方向及Y方向上動作。此外，XY繫鏈112在Z方向上不可移動，以減少或消除XY軸檢測質量塊110之機械性串擾。XY繫鏈112對XY軸檢測質量塊110提供恢復力。於此非限制性範例中，XY繫鏈112係為箱型彈簧，於第一方向(例如X方向)上壓縮，且於一第二平面方向(例如Y方向)上旋轉。然而，XY繫鏈112亦可採用其他配置方式。
XY軸檢測質量塊110可具有各種適合之形狀及尺寸，且可以任何適合材料製成。於圖中之非限制性範例中，XY軸檢測質量塊110實質上為矩形，具有實質上呈矩形之外周。XY軸檢測質量塊110之尺寸可為任何適合之尺寸。例如，XY軸檢測質量塊110外周之邊可各為50-500微米(包括任何於此範圍內之數值)，或任何其他適合之數值。XY軸檢測質量塊110可以任何適合材料製成，例如矽。於某些實施例中，XY軸檢測質量塊110係經由在基板102上蝕刻形成，然亦可使用其他製程。於某些實施例中，XY繫鏈112係以相同材料製作。例如，XY軸檢測質量塊110及XY繫鏈112可藉由蝕刻基板102上之共同矽層而形成。
於某些實施例中，XY軸檢測質量塊110可包括驅動/感測電極。例如，可利用梳型手指偵測XY軸檢測質量塊110之動作，所述之梳型手指可設置於XY軸檢測質量塊110之任何適合位置。例如，梳型手指可位於由框格114所界定之區域內，且可具有任何適合之結構。基板102可包括對應之驅動/感測電極。所述電極可對XY軸檢測質量塊110之動作進行電容式感測。若具有多個梳狀致動器時，可利用差動式感測提升加速度計之準確性與精度。X軸及Y軸可各自具有專屬之梳狀致動器。於某些實施例中，可利用驅動電極可，使XY軸檢測質量塊110及Z軸檢測質量塊120以一預設頻率，圍繞靜止位置進行擺動。
Z軸檢測質量塊120為一蹺蹺板式質量塊，具有第一部分122及第二部分124，代表Z軸檢測質量塊120在Z繫鏈126樞軸不同側上之部分。據此，Z軸檢測質量塊120可轉入或轉出XY平面。第一部分122之質量大於第二部分124。質量不平衡之配置可使Z軸檢測質量塊120因應施加於Z方向之加速產生旋轉。Z繫鏈126為扭力彈簧，用以抵抗XY軸檢測質量塊110旋轉並使Z軸檢測質量塊120回歸靜止位置。Z繫鏈126將Z軸檢測質量塊120耦接至XY軸檢測質量塊110。因為Z軸檢測質量塊120僅耦接至XY軸檢測質量塊110，而非直接耦接於基板102，Z軸檢測質量塊120在XY平面上隨XY軸檢測質量塊110移動，因此可將之視為XY軸檢測質量塊110之一部分。Z軸檢測質量塊120嵌設於XY軸檢測質量塊110中，隨XY軸檢測質量塊110移動。由於Z軸檢測質量塊120內嵌在XY軸檢測質量塊110中，Z軸檢測質量塊120貢獻於XY感測方向。然而，Z軸檢測質量塊120在Z方向上卻是經由Z繫鏈126之作用而與XY軸檢測質量塊110呈解耦狀態，使得XY軸檢測質量塊110並不貢獻於Z方向感測。因為Z軸檢測質量塊120內嵌在XY軸檢測質量塊110中，可將兩者視同形成為單一檢測質量塊，即XY軸檢測質量塊110代表單一檢測質量塊之一部分，Z軸檢測質量塊120代表檢測質量塊之第二部分。因此，至少在部分態樣中，本發明可提供用以感測三方向加速之單一整合式檢測質量塊，且此單一整合式檢測質量塊可包括一XY加速偵測部及一Z加速偵測部。
Z軸檢測質量塊120可包括用以感測/驅動其動作之電極。例如，第一部分122及第二部分124可經摻雜而具傳導性，或可包括傳導層(例如金屬層)，且可與基板102上位於Z軸檢測質量塊120下方之結構(例如電極)形成電阻。所形成之電阻可供進行電阻式感測及/或驅動Z軸檢測質量塊120。
如圖1所示，三軸加速度計100沿X軸呈對稱配置。亦即，在平行於X軸加速度計之縱向中心線A-A'之任一側具有均等分佈之質量塊，包括XY軸 檢測質量塊110及Z軸檢測質量塊120。依據圖1之實施例，三軸加速度計100並不沿Y軸對稱。由於Z軸檢測質量塊120係蹺蹺板式質量塊，其沿Y軸之重量分佈並不均等。據此，此三軸加速度計100具有部分平面對稱性，即沿X軸及Y軸其中一者之對稱性，而非總體平面對稱性(沿X軸及Y軸兩者之對稱性)。於某些實施例中，基板、錨柱及驅動及/或感應電極可具有部分或總體平面對稱性或任何其他適合之佈置，本發明不以此為限。
XY繫鏈112可為各種變化，包括數量、位置、方位、形狀及材料。於某些實施例中，XY繫鏈112可為分離之X繫鏈及Y繫鏈。亦即，三軸加速度計100包括X繫鏈及Y繫鏈，X繫鏈允許XY軸檢測質量塊110沿X方向移位，允許XY軸檢測質量塊110沿Y方向移位。分離之X繫鏈及Y繫鏈可為任何適合之彈簧，可在XY軸檢測質量塊110上提供恢復力。例如，可使用之X繫鏈及Y繫鏈包括但不限於壓縮彈簧、扭力彈簧及箱型彈簧。XY繫鏈112可設於任何適合之位置且為任何適合之方位，以促進XY軸檢測質量塊110沿一預設方向移位，並於該方向上提供恢復力。可使用任何適合數量之XY繫鏈112，或X繫鏈及Y繫鏈，達成所需之XY軸檢測質量塊110動作。因此，圖1中所用之四個XY繫鏈112並非限制性。
Z繫鏈126亦可為各種變化。依據圖1所描繪之實施例，Z繫鏈126可為扭力彈簧，其所提供之恢復力可在Z軸檢測質量塊120轉出XY平面時使Z軸檢測質量塊120返回靜止位置。Z繫鏈126可為任何適合之扭力彈簧，然本發明不以此為限。圖1雖以兩個Z繫鏈126為例，然亦可為不同之數量。於某些實施例中，XY繫鏈及Z繫鏈126可不為彈簧，而為任何可將XY軸檢測質量塊110及Z軸檢測質量塊120懸置於基板102上方且允許各質量塊移動之適合支撐物。
於某些實施例中，繫鏈之厚度可影響繫鏈對於一或多個感測方向間機械性串擾之靈敏性。更具體而言，剛性夠高之繫鏈可防止不理想之模態。亦即，若繫鏈剛性夠高，則機械性串擾模態之頻率會提高至無法由一般操作條 件所激發之程度。於某些實施例中，繫鏈(例如XY繫鏈112及Z繫鏈126)可具有適合之材料厚度以減少機械性串擾。例如，繫鏈之厚度(在圖1中Z方向上測得者)可大於2微米、5微米、8微米、10微米、15微米、20微米、25微米、30微米，介於2與35微米之間，或任何其他適合之厚度。對應於此，繫鏈之厚度可少於35微米、28微米、23微米、18微米、13微米、9微米、7微米、4微米，及/或任何其他適合之厚度。上述範圍之組合可包括但不限於，25與35微米間、10與23微米間以及5與13微米間之厚度。當然，本發明可使用任何適合之繫鏈厚度，不以此為限。
於某些情況下，繫鏈之厚度可對應於繫鏈之特定寬度(在圖1中XY平面上測得者)，俾使繫鏈具有所需剛性以減少機械性串擾。例如，繫鏈之厚度與寬度比可大於0.5、2、4、6、8、10、15、20及/或任何其他適合之比率。對應於此，繫鏈之厚度與寬度比例可小於25、20、15、10、8、6、4、1及/或為任何其他適合之比率。上開範圍之組合可包括但不限於，0.5與4、10與25以及6與15。當然，本發明可使用任何適合之繫鏈厚度與寬度比，不以此為限。
圖2描繪另一實施例之三軸加速度計200，其可進行差動Z方向加速感測，且包括一個XY軸檢測質量塊210及兩個Z軸檢測質量塊220a、220b，所述Z軸檢測質量塊220a、220b各包括一第一部分222a、222b及一第二部分224a、224b。此加速度計亦包括基板202、錨柱204、XY繫鏈212及Z繫鏈226。如同圖1非限制性實施例中之基板102，此處之基板202係為三軸加速度計200之底座，且係直接連接至錨柱204。基板202亦具固定平台之作用，可包括能夠移動XY軸檢測質量塊210及Z軸檢測質量塊220a、220b及/或測量其移動之驅動器或感測元件。錨柱204可連接至XY繫鏈212並使XY軸檢測質量塊210(且間接使得Z軸檢測質量塊220a、220b)懸置於基板202上方。XY軸檢測質量塊210可沿橫向(X方向及Y方向)移動，其移動經測量後可用於計算X方向及Y方向中至少一者之 加速度。XY繫鏈212可將XY軸檢測質量塊210耦接至錨柱204並對XY軸檢測質量塊210提供恢復力。尤其，XY繫鏈212可為箱型彈簧，其在第一方向(例如Y方向)上壓縮，並在第二平面方向(例如X方向)上旋轉。圖2之實施例與圖1之差異在於兩者之XY繫鏈212定向不同，如圖所示。Z軸檢測質量塊220a、220b係為蹺蹺板式質量塊，包含第一部分222a、222b及第二部分224a、224b。據此，Z軸檢測質量塊220a、220b可轉入或轉出XY平面，且因此沿Z方向移動。第一部分222a、222b之質量大於第二部分224a、224b。上述質量不平衡之配置可使Z軸檢測質量塊220a、220b因應所受之Z方向加速而旋轉。Z繫鏈226係為扭力彈簧，可抵抗XY軸檢測質量塊210之旋轉並使Z軸檢測質量塊220a、220b返回靜止位置。Z繫鏈226將Z軸檢測質量塊220a、220b耦接至XY軸檢測質量塊210。
如圖2所示，兩個Z軸檢測質量塊220a、220b係內嵌在XY軸檢測質量塊210中。此二Z軸檢測質量塊220a、220b係相對於三軸加速度計200之Y軸而為相互反向設置。亦即，第一部分222a、222b與Y軸等距分離且第二部分224a、224b同樣與Y軸等距分離。依據圖2之實施例，此二Z軸檢測質量塊224a、224b在三軸加速度計200之X軸兩側亦呈對稱配置。據此，兩個Z軸檢測質量塊224a、224b呈現總體平面對稱性，在X軸及Y軸兩側均具有相等之質量分佈。亦即，兩個Z軸檢測質量塊224a、224b為對稱配置，於縱向中心線B-B'及橫向中心線C-C'之兩側具有相等之質量分佈。此一佈置可減少三軸加速度計200之機械性串擾並改善其準確性。依據圖2之實施例，可將此二Z軸檢測質量塊220a、220b之輸出結合，產生代表Z方向加速度之單一輸出訊號。例如，可偵測兩個Z軸檢測質量塊220a、220b之輸出差值(亦即差動偵測)以減少單一Z軸檢測質量塊所產生訊號之噪音及偏移誤差。此一佈置與僅具有單一Z軸檢測質量塊之加速度計相較，可改善準確性。當然，上述Z軸檢測質量塊訊號可為任何適合之組合或可經任何適合之處理，本發明不以此為限。
依據圖2之實施例，XY軸檢測質量塊210圍繞兩個Z軸檢測質量塊220a、220b且具有總體平面對稱性。亦即，XY軸檢測質量塊210在縱向中心線B-B'及橫向中心線C-C'兩側具有相等之質量分佈。據此，三軸加速度計200較不易受機械性串擾所影響。如圖2所示，XY軸檢測質量塊210係經由XY繫鏈212耦接於基板202，XY繫鏈212為箱型彈簧，耦接於固定在基板202上之錨柱204。XY繫鏈212及錨柱204係於X軸及Y軸兩側為對稱設置，因而此三軸加速度計200具有總體平面對稱性。
圖3描繪圖2之替代實施例，此三軸加速度計300包括一個XY軸檢測質量塊310及兩個Z軸檢測質量塊320a、320b，各Z軸檢測質量塊320a、320b包括一第一部分322a、322b及一第二部分324a、324b。三軸加速度計300亦包括基板302、錨柱304、XY繫鏈312及Z繫鏈326。如同圖1非限制性實施例中之基板102，此處之基板302係為三軸加速度計300之底座，且係直接連接至錨柱304。基板302亦具固定平台之作用，可包括能夠移動XY質量塊310及Z軸檢測質量塊320a、320b及/或測量其移動之驅動器或感測元件。錨柱304可連接XY繫鏈312並使XY軸檢測質量塊310(且間接使得Z軸檢測質量塊320a、320b)懸置於基板302上方。XY軸檢測質量塊310可沿橫向(X方向及Y方向)移動，其移動經測量後可用於計算X方向及Y方向中至少一者之加速度。XY繫鏈312可將XY軸檢測質量塊310耦接至錨柱304並對XY軸檢測質量塊310提供恢復力。尤其，XY繫鏈312可為箱型彈簧，其在第一方向(例如X方向)上壓縮，並在第二平面方向(例如Y方向)上旋轉。圖3之實施例與圖2之差異在於兩者之XY繫鏈312定向不同，如圖所示。Z軸檢測質量塊320a、320b係為蹺蹺板式質量塊，包含第一部分322a、322b及第二部分324a、324b。據此，Z軸檢測質量塊320a、320b可轉入或轉出XY平面，且因此沿Z方向移動。第一部分322a、322b之質量大於第二部分324a、324b。上述質量不平衡之配置可使Z軸檢測質量塊320a、320b因應所受之Z方向 加速而旋轉。Z繫鏈326係為扭力彈簧，可抵抗XY軸檢測質量塊310之旋轉並使Z軸檢測質量塊320a、320b返回靜止位置。Z繫鏈326將Z軸檢測質量塊320a、320b耦接至XY軸檢測質量塊310。
如圖3所示，兩個Z軸檢測質量塊320a、320b係以類似於圖2之方式內嵌於XY軸檢測質量塊310中。兩個Z軸檢測質量塊320a、320b係相對於三軸加速度計300之Y軸而為相互反向設置。亦即，第一部分322a、322b與Y軸等距分離且第二部分324a、324b同樣與Y軸等距分離。依據圖2之實施例，此二Z軸檢測質量塊320a、320b在三軸加速度計300之X軸兩側亦呈對稱配置。據此，兩個Z軸檢測質量塊320a、320b呈現總體平面對稱性，在X軸及Y軸兩側均具有相等之質量分佈。亦即，兩個Z軸檢測質量塊320a、320b為對稱配置，於縱向中心線D-D'及橫向中心線E-E'之兩側具有相等之質量分佈。依據圖3之實施例且類似於圖2之實施例，可將兩個Z軸檢測質量塊320a、320b之輸出結合以產生一代表Z方向加速度之單一輸出訊號。
依據圖3之實施例，XY軸檢測質量塊310圍繞兩個Z軸檢測質量塊320a、320b且具有類似於圖2實施例之總體平面對稱性。亦即，XY軸檢測質量塊310在縱向中心線D-D'及橫向中心線E-E'兩側具有相等之質量分佈。據此，三軸加速度計300較不易受機械性串擾所影響。如圖3所示，XY軸檢測質量310塊係經由XY繫鏈312耦接於基板302，XY繫鏈312為箱型彈簧，耦接於固定在基板302上之錨柱304。XY繫鏈312及錨柱304係於X軸及Y軸兩側為對稱設置，因而此三軸加速度計300具有總體平面對稱性。對比於圖2之實施例，XY繫鏈312及錨柱304相對於圖2之XY繫鏈212為垂直定向。據此，錨柱304位置更遠離三軸加速度計300之中心，且兩個Z軸檢測質量塊320a、320b所佔之相對面積大於XY軸檢測質量塊310，因此具有較大之質量。具有較大質量之Z軸檢測質量塊320a、320b可使用較厚之繫鏈，藉此減少上述之不理想模態，並從而減少機械性串擾。
圖4實施例描繪具有總體平面對稱性之三軸加速度計400，其係包括一個XY軸檢測質量塊410及四個Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d，所述Z軸檢測質量塊各包括一第一部分422a、422b、422c、422d及一第二部分424a、424b、424c、424d。三軸加速度計400亦包括基板402、錨柱404、XY繫鏈412、四個Z繫鏈426、手指414、正電極416a及負電極416b。XY軸檢測質量塊410可沿橫向(X方向及Y方向)平移。各Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d可轉出XY軸檢測質量塊410之平面。各第一部分422a、422b、422c、422d之值量大於各第二部分424a、424b、424c、424d，且因此Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d會於受到Z方向之加速度時產生旋轉。每一第一部分422a、422b、422c、422d與其對應之第二部分424a、424b、424c、424d形成一蹺蹺板式Z軸加速偵測部。換言之，Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d分別為第一、第二、第三及第四蹺蹺板式Z軸加速偵測部。該四個蹺蹺板式Z軸加速偵測部被設置為互相獨立旋轉。
如圖4所示，錨柱404係固定於基板402上，且連接至XY繫鏈412。XY繫鏈412包括一第一繫鏈並為箱型彈簧，且將XY軸檢測質量塊410懸置於基板上方，並允許XY軸檢測質量塊410沿X方向及Y方向移動，同時提供使XY軸檢測質量塊410返回靜止位置之恢復力。該四個Z繫鏈426包括一第二繫鏈、一第三繫鏈、一第四繫鏈及一第五繫鏈，且為扭力彈簧，可將Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d分別懸置於基板402上方，並以機械方式將XY軸檢測質量塊410分別耦接至Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d。Z繫鏈亦提供一恢復力，可於Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d轉出XY平面時使各Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d返回靜止位置。手指414係耦接於XY軸檢測質量塊410，或於某些實施例中可為其一部分，且當XY軸檢測質量塊410移動時，可隨XY軸檢測質量塊410移動。手指414可設於正電極416a與負電極416b之間，固定於基板402 且可用於測量手指414與正與負電極416a、416b間之距離。例如，正與負電極416a、416b可用於測量手指414與電極間對應XY軸檢測質量塊410特定位置之電阻。正與負電極416a、416b亦可用於以一特定頻率驅動XY軸檢測質量塊410並測量所述頻率之變化以偵測加速度。當然，正與負電極416a、416b及手指414可用為任何適合之加速度測量功能，本發明不以此為限。
依據圖4之實施例，四個Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d可各具設置於基板402上之對應電極(例如第一及第二電極，亦稱為正電極及負電極)。正電極416a之位置可靠近Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d之第一部分422a、422b、422c、422d，且負電極416b之位置可靠近第二部分424a、424b、424c、424d或為相反之佈置。電極可偵測基板402與Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d所形成之電阻。於某些實施例中，正電極416a及負電極416b可用於以一預設頻率驅動Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d並測量因應所受加速度而產生之頻率變化。於某些實施例中，來自各Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d之訊號可結合成差動訊號或其他某些組合以改善三軸加速度計400之準確性。例如，若為平面旋轉，相反側之各Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d會因應旋轉而沿相反方向移動，此現象可利用分離Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d間之差動發訊加以抵銷。依據此範例，使用差動訊號組合可消除共模訊號或噪音。
如圖4所示，三軸加速度計400為正方形。亦即，基板402為方形且所有組件均設於基板402上，位在基板402邊界之內。此一佈置可進一步減少噪音及X、Y及Z方向間之機械性串擾。依據圖4之實施例，各組件係沿X軸及Y軸對稱定向，俾使三軸加速度計400具有總體平面對稱性。組件在縱向中心線F-F'及橫向中心線G-G'之兩側具有相等之質量分佈，為對稱設置。在此情況下，三軸加速度計400亦具有正方形之對稱性，而可進一步降低受到機械性串擾影響之 程度。換言之，各該四個蹺蹺板式Z軸加速偵測部係各自整體設置於該單一質量塊整合式三軸加速度計之一個象限中，所述象限係由該單一質量塊整合式三軸加速度計之該X軸及該Y軸所定義。舉例而言，如上所述，由於各Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d可於三軸加速度計400之相反側邊或角落反向回應例如平面旋轉等干擾，因而可抵消共模噪音。
依據圖4所示之實施例，Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d於設置時可使錨柱404位置靠近中心。當錨柱404更靠近基板402中心時，便較不易受到因基板402上熱應力或機械應力而產生之偏移誤差所影響。亦即，若基板402發生翹曲情形，中心處與邊緣處相較不致於大幅變形。據此，使Z軸檢測質量塊420a、420b、420c、420d中之錨柱404對應於中心設置，有助於減少或消除偏移誤差。
圖5描繪圖4之替代實施例，此三軸加速度計500包括一個XY軸檢測質量塊510及四個Z軸檢測質量塊520a、520b、520c、520d，各Z軸檢測質量塊520a、520b、520c、520d包括一第一部分522a、522b、522c、522d及一第二部分524a、524b、524c、524d。所述三軸加速度計500亦包括基板502、錨柱504、XY繫鏈512及Z繫鏈526。XY軸檢測質量塊510可沿橫向(X方向及Y方向)平移。各Z軸檢測質量塊520a、520b、520c、520d可轉出XY軸檢測質量塊510之平面。各第一部分522a、522b、522c、522d之質量大於各第二部分524a、524b、524c、524d，且因此Z軸檢測質量塊520a、520b、520c、520d會於受到Z方向之加速度時產生旋轉。錨柱504係固定於基板502，且可連接至XY繫鏈512。XY繫鏈512為箱型彈簧，且使XY軸檢測質量塊510懸置於基板502上方，並允許XY軸檢測質量塊510沿X方向及Y方向移動，同時提供恢復力而可使XY軸檢測質量510塊返回靜止位置。Z繫鏈526為扭力彈簧，使Z軸檢測質量塊懸置於基板502上方，且以機械方式將XY軸檢測質量塊510耦接至Z軸檢測質量塊520a、520b、520c、520d， 亦提供一恢復力恢復力而可使Z軸檢測質量塊520a、520b、520c、520d在轉出XY平面時返回靜止位置。
依據圖5所示之實施例，三軸加速度計500可包括手指，其係靠近XY軸檢測質量塊510之外側邊緣且耦接於XY軸檢測質量塊510而可隨XY軸檢測質量塊510移動。可利用正電極及負電極測量XY軸檢測質量塊手指及電極之位置及/或頻率。同樣，三軸加速度計500可包括電極，其係設於基板上Z軸檢測質量塊520a、520b、520c、520d下方，用以偵測Z軸檢測質量塊之位置及/或頻率。
如圖5所示，三軸加速度計500為正方形且具有總體平面對稱性。亦即，組件在縱向中心線H-H'及橫向中心線I-I'之兩側具有相等之質量分佈，為對稱設置。據此，三軸加速度計500可抵至因應特定加速度(例如平面旋轉)之共模噪音，且降低機械性串擾，從而改善三軸加速度計500之準確性，如上所述。
依據圖5之實施例，Z軸檢測質量塊520a、520b、520c、520d於接近三軸加速度計500中心處之質量可大於或遠大於朝向外周處之質量。舉例而言，如上所述，第一部分522a、522b、522c、522d可之質量可大於第二部分524a、524b、524c、524d。此一配置有助於在Z軸檢測質量塊520a、520b、520c、520d上使用較粗之彈簧，藉此進一步降低機械性串擾。
本發明之某些實施例可應用於低加速或高加速環境，包括但不限於汽車、穿戴式裝置及機器健康狀態監控。在圖6所繪示之非限制性實例中，係將本發明所述類型之三軸加速度計用於汽車。圖6所示範例中之汽車600包括一控制單元601，其係經由有線或無線連接方式耦接於車輛之機載電腦604。此控制單元601可包括至少一個在此所述類型之三軸加速度計。此一非限制性範例係以至少一個三軸加速度計感應沿驅動方向及/或垂直於驅動方向所發生之加速度。至少一三軸加速度計可亦be配置為感應垂直加速度，可例如用於監控汽車 600懸吊裝置之狀態。控制單元601可自機載電腦604接收電力及控制訊號，且可對機載電腦604供應在此所述類型之輸出訊號。
大幅縮小單一質量塊加速度計之封裝可降低其所發生之機械性串擾，有益於特定應用。於某些實施例中，加速度計之晶粒面積係大於0.5平方公釐、0.75平方公釐、1平方公釐、1.25平方公釐、1.5平方公釐、1.75平方公釐、2平方公釐、2.5平方公釐、3平方公釐及/或任何其他適合面積。對應於此，加速度計可小於3.5平方公釐、2.75平方公釐、2.25平方公釐、2平方公釐、1.75平方公釐、1.5平方公釐、1.25平方公釐、1平方公釐、0.75平方公釐及/或任何其他適合之面積。上開範圍之組合可包括但不限於，0.5與1.75平方公釐、1與2.25平方公釐以及1.5與3.5平方公釐。當然，可使用任何適合之晶粒面積，本發明不以此為限。
雖然在本發明之內容在此係連同各種實施例及範例進行說明，本發明並不拘於此等實施例或範例。反之，熟悉此技藝人士所可思及之各種替代方案、修改及等效佈置亦應包含於本發明之範疇。據此，上述說明及圖面僅為例示之用。
「大略」及「約略」等語於某些實施例中可指目標值之正負20%以內，於某些實施例中可指目標值之正負10%以內，於某些實施例中可指目標值之正負5%以內，於某些實施例中可指目標值之正負2%以內。「大略」及「約略」等語可將目標值包括在內。
100:三軸加速度計
102:基板
104:錨柱
110:XY軸檢測質量塊
112:XY繫鏈
114:框格
120:Z軸檢測質量塊
122:第一部分
124:第二部分
126:Z繫鏈

Claims (18)

  1. 一種單一質量塊整合式三軸加速度計，其係包含：該單一質量塊之XY加速偵測部；以及該單一質量塊之四個蹺蹺板式Z軸加速偵測部，內嵌於該XY加速偵測部中，其中該四個蹺蹺板式Z軸加速偵測部被設置為互相獨立旋轉。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之單一質量塊整合式三軸加速度計，其中該XY加速偵測部係經由一錨柱耦接於一基板，且每一該等蹺蹺板式Z軸加速偵測部係經由一個別繫鏈耦接於該XY加速偵測部。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之單一質量塊整合式三軸加速度計，其中該等蹺蹺板式Z軸加速偵測部並不直接耦接於該基板及該錨柱。
  4. 如申請專利範圍第2項所述之單一質量塊整合式三軸加速度計，其中該個別繫鏈係一扭力彈簧。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之單一質量塊整合式三軸加速度計，其中該單一質量塊整合式三軸加速度計係於該單一質量塊整合式三軸加速度計之一X軸及一Y軸中至少一者之兩側為對稱設置。
  6. 一種整合式三軸加速度計，其係包含：一錨柱，耦接於一基板；一結合式XY加速偵測檢測質量塊，其中該結合式XY加速偵測檢測質量塊係經由一第一繫鏈耦接於該錨柱；以及第一、第二、第三及第四蹺蹺板式Z軸加速偵測檢測質量塊，內嵌於該結合式XY加速偵測檢測質量塊中，其中該第一、第二、第三及第四蹺蹺板式Z軸加速偵測檢測質量塊係分別經由一第二繫鏈、一第三繫鏈、一第四繫鏈及一第五 繫鏈耦接於該結合式XY加速偵測檢測質量塊，且其中該第一、第二、第三及第四蹺蹺板式Z軸加速偵測檢測質量塊被設置為互相獨立旋轉。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之整合式三軸加速度計，其中該整合式三軸加速度計係於該整合式三軸加速度計之一X軸及一Y軸中至少一者之兩側為對稱設置。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之整合式三軸加速度計，其中該整合式三軸加速度計係於該整合式三軸加速度計之X軸及Y軸之兩側均為對稱設置。
  9. 如申請專利範圍第6項所述之整合式三軸加速度計，其中該第一繫鏈係一箱型彈簧。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之整合式三軸加速度計，其中該第二繫鏈、該第三繫鏈、該第四繫鏈及該第五繫鏈係扭力繫鏈。
  11. 如申請專利範圍第6項所述之整合式三軸加速度計，其中該第一、第二、第三及第四蹺蹺板式Z軸加速偵測檢測質量塊並不直接耦接於該錨柱及該基板。
  12. 一種單一質量塊整合式三軸加速度計，其係包含：該單一質量塊之一XY加速偵測部；以及該單一質量塊之四個蹺蹺板式Z軸加速偵測部，其係內嵌於該XY加速偵測部中，該加速度計係於該單一質量塊整合式三軸加速度計之X軸及Y軸兩側均為對稱設置且於一XY平面上呈現旋轉對稱，且其中該加速度計為正方形，其中各該四個蹺蹺板式Z軸加速偵測部係各自整體設置於該單一質量塊整合式三軸加速度計之一個象限中，所述象限係由該單一質量塊整合式三軸加速度計之該X軸及該Y軸所定義。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之單一質量塊整合式三軸加速度計，其中該XY加速偵測部係經由一錨柱耦接於一基板，其中該四個蹺蹺板式Z 軸加速偵測部係經由多個繫鏈耦接於該XY加速偵測部，且其中該四個蹺蹺板式Z軸加速偵測部並不直接耦接於該基板及該錨柱。
  14. 如申請專利範圍第12項所述之單一質量塊整合式三軸加速度計，其中該四個蹺蹺板式Z軸加速偵測部被設置為互相獨立旋轉。
  15. 如申請專利範圍第12項所述之單一質量塊整合式三軸加速度計，其中該結合式XY加速偵測檢測質量塊係經由一第一繫鏈耦接於一錨柱，其中各該四個蹺蹺板式Z軸加速偵測檢測質量塊係經由一第二繫鏈、一第三繫鏈、一第四繫鏈及一第五繫鏈耦接於該結合式XY加速偵測檢測質量塊。
  16. 如申請專利範圍第15項所述之單一質量塊整合式三軸加速度計，其中該第一繫鏈係一箱型彈簧。
  17. 如申請專利範圍第16項所述之單一質量塊整合式三軸加速度計，其中該第二繫鏈、該第三繫鏈、該第四繫鏈及該第五繫鏈係扭力彈簧。
  18. 如申請專利範圍第15項所述之單一質量塊整合式三軸加速度計，其中各該四個蹺蹺板式Z軸加速偵測部係耦接於該第二繫鏈、該第三繫鏈、該第四繫鏈及該第五繫鏈中個別之一者。
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6922594B2 (ja) * 2017-09-22 2021-08-18 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー、物理量センサーデバイス、電子機器、携帯型電子機器および移動体
US11099207B2 (en) 2018-10-25 2021-08-24 Analog Devices, Inc. Low-noise multi-axis accelerometers and related methods
JP6870761B2 (ja) * 2019-05-15 2021-05-12 株式会社村田製作所 ロバストなｚ軸加速度センサ
US20210385586A1 (en) * 2020-06-04 2021-12-09 Georgia Tech Research Corporation Systems and methods having multi-axis sensitivity and translational mode shapes
FR3116111B1 (fr) * 2020-11-12 2022-11-04 4Nrj Dispositif de mesure de variation de l’inclinaison d’un mât
CN116601500A (zh) 2020-12-18 2023-08-15 美国亚德诺半导体公司 具有质量平移运动的加速度计
US11714102B2 (en) 2021-06-08 2023-08-01 Analog Devices, Inc. Fully differential accelerometer
CN114487482A (zh) * 2022-01-14 2022-05-13 瑞声开泰科技(武汉)有限公司 加速度传感器
CN114487480A (zh) * 2022-01-14 2022-05-13 瑞声开泰科技(武汉)有限公司 微机电系统加速度计
EP4215922A1 (en) * 2022-01-19 2023-07-26 Murata Manufacturing Co., Ltd. Three-axis accelerometer with two masses
CN114594281A (zh) * 2022-04-29 2022-06-07 苏州米洛微纳电子科技有限公司 一种mems加速度计及其形成方法
CN115389781A (zh) * 2022-07-29 2022-11-25 瑞声开泰科技(武汉)有限公司 一种加速度计

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100122579A1 (en) * 2008-11-18 2010-05-20 Industrial Technology Research Institute Multi-axis capacitive accelerometer
TW201020549A (en) * 2008-11-18 2010-06-01 Ind Tech Res Inst Multi-axis capacitive accelerometer
CN203720200U (zh) * 2013-12-06 2014-07-16 杭州士兰微电子股份有限公司 多轴电容式加速度计
US20170023608A1 (en) * 2015-07-21 2017-01-26 Freescale Semiconductor, Inc. Multi-axis inertial sensor with dual mass and integrated damping structure
US20170108529A1 (en) * 2015-10-20 2017-04-20 Analog Devices, Inc. Multiple-axis resonant accelerometers

Family Cites Families (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69521235T2 (de) 1994-03-30 2002-05-16 Oxford Instr Uk Ltd Prüfmassenträger und Erfassungsanordnung
US7106066B2 (en) * 2002-08-28 2006-09-12 Teravicta Technologies, Inc. Micro-electromechanical switch performance enhancement
US20040231420A1 (en) 2003-02-24 2004-11-25 Huikai Xie Integrated monolithic tri-axial micromachined accelerometer
US6845670B1 (en) 2003-07-08 2005-01-25 Freescale Semiconductor, Inc. Single proof mass, 3 axis MEMS transducer
US6981416B2 (en) * 2003-11-21 2006-01-03 Chung-Shan Institute Of Science And Technology Multi-axis solid state accelerometer
US7367232B2 (en) 2004-01-24 2008-05-06 Vladimir Vaganov System and method for a three-axis MEMS accelerometer
TWI255341B (en) * 2004-06-10 2006-05-21 Chung Shan Inst Of Science Miniature accelerator
US7121141B2 (en) 2005-01-28 2006-10-17 Freescale Semiconductor, Inc. Z-axis accelerometer with at least two gap sizes and travel stops disposed outside an active capacitor area
US7178401B2 (en) * 2005-04-14 2007-02-20 General Electric Company Three axis accelerometer with variable axis sensitivity
US7258011B2 (en) 2005-11-21 2007-08-21 Invensense Inc. Multiple axis accelerometer
US7757555B2 (en) 2006-08-30 2010-07-20 Robert Bosch Gmbh Tri-axis accelerometer having a single proof mass and fully differential output signals
US7624638B2 (en) * 2006-11-09 2009-12-01 Mitsubishi Electric Corporation Electrostatic capacitance type acceleration sensor
CN100516882C (zh) * 2007-03-09 2009-07-22 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 用波形比较法进行冲击加速度传感器横向响应的测试方法
DE102008017156A1 (de) 2008-04-03 2009-10-08 Continental Teves Ag & Co. Ohg Mikromechanischer Beschleunigungssensor
DE102008001442A1 (de) * 2008-04-29 2009-11-05 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches Bauelement und Verfahren zum Betrieb eines mikromechanischen Bauelements
DE102008040855B4 (de) * 2008-07-30 2022-05-25 Robert Bosch Gmbh Dreiachsiger Beschleunigungssensor
US8171793B2 (en) 2008-07-31 2012-05-08 Honeywell International Inc. Systems and methods for detecting out-of-plane linear acceleration with a closed loop linear drive accelerometer
US8020443B2 (en) * 2008-10-30 2011-09-20 Freescale Semiconductor, Inc. Transducer with decoupled sensing in mutually orthogonal directions
JP2010286471A (ja) * 2009-05-15 2010-12-24 Seiko Epson Corp Ｍｅｍｓセンサー、電子機器
US8739626B2 (en) 2009-08-04 2014-06-03 Fairchild Semiconductor Corporation Micromachined inertial sensor devices
CN101876665B (zh) * 2009-12-11 2012-04-25 紫光股份有限公司 一种全解耦双轴电容式微机械加速度计
CN201561986U (zh) * 2009-12-11 2010-08-25 紫光股份有限公司 全解耦双轴电容式微机械加速度计
US8637943B1 (en) 2010-01-04 2014-01-28 MCube Inc. Multi-axis integrated MEMS devices with CMOS circuits and method therefor
IT1401001B1 (it) * 2010-06-15 2013-07-05 Milano Politecnico Accelerometro capacitivo triassiale microelettromeccanico
EP2616772B1 (en) 2010-09-18 2016-06-22 Fairchild Semiconductor Corporation Micromachined monolithic 3-axis gyroscope with single drive
US8539836B2 (en) 2011-01-24 2013-09-24 Freescale Semiconductor, Inc. MEMS sensor with dual proof masses
CN102798734B (zh) 2011-05-24 2016-01-06 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 Mems三轴加速度计及其制造方法
JP2013117396A (ja) * 2011-12-01 2013-06-13 Denso Corp 加速度センサ
US9062972B2 (en) 2012-01-31 2015-06-23 Fairchild Semiconductor Corporation MEMS multi-axis accelerometer electrode structure
US8978475B2 (en) 2012-02-01 2015-03-17 Fairchild Semiconductor Corporation MEMS proof mass with split z-axis portions
US9246017B2 (en) 2012-02-07 2016-01-26 Mcube, Inc. MEMS-based dual and single proof-mass accelerometer methods and apparatus
US9316666B2 (en) * 2012-11-27 2016-04-19 Murata Manufacturing Co., Ltd. Acceleration sensor having a capacitor array located in the center of an inertial mass
US10132630B2 (en) 2013-01-25 2018-11-20 MCube Inc. Multi-axis integrated MEMS inertial sensing device on single packaged chip
US9506756B2 (en) 2013-03-15 2016-11-29 Freescale Semiconductor, Inc. Multiple axis rate sensor
US9213045B2 (en) 2013-05-23 2015-12-15 Freescale Semiconductor, Inc. Active lateral force stiction self-recovery for microelectromechanical systems devices
US20150268269A1 (en) * 2014-03-20 2015-09-24 Freescale Semiconductor, Inc. Sensor with combined sense elements for multiple axis sensing
CN103941041B (zh) 2014-03-28 2016-08-17 武汉瑞芯科微电子技术有限公司 一种三框架结构的单质量块三轴mems加速度计
CN104198763B (zh) * 2014-09-17 2017-01-11 安徽北方芯动联科微系统技术有限公司 Tsv圆片级封装的三轴mems加速度计
US10031156B2 (en) * 2014-09-23 2018-07-24 Nxp Usa, Inc. Three-axis microelectromechanical systems devices
US9360496B2 (en) 2014-10-03 2016-06-07 Freescale Semiconductor, Inc. Three-axis microelectromechanical systems device with single proof mass
EP3239723B1 (en) * 2014-12-25 2019-09-04 Goertek. Inc Inertia measurement module and three-axis accelerometer
WO2016108770A1 (en) 2014-12-31 2016-07-07 Aydemir Akin A three axis capacitive mems accelerometer on a single substrate
JP6450198B2 (ja) 2015-01-19 2019-01-09 セイコーインスツル株式会社 印刷装置、およびコンピュータプログラム
CN104714050B (zh) 2015-03-07 2017-12-29 南京中诺斯特传感器科技有限公司 一种三轴电容式mems加速度传感器及制备方法
US10436812B2 (en) * 2015-03-20 2019-10-08 Nxp Usa, Inc. Micro-electro-mechanical acceleration sensor device
US20160370403A1 (en) 2015-06-22 2016-12-22 Adel Merdassi Capacitive accelerometer devices and wafer level vacuum encapsulation methods
EP3190421B1 (en) 2016-01-07 2019-05-22 Analog Devices, Inc. Two- or three-axis angular accelerometer
US20180031602A1 (en) * 2016-07-27 2018-02-01 Lumedyne Technologies Incorporated Converting rotational motion to linear motion
US10429407B2 (en) * 2017-03-27 2019-10-01 Nxp Usa, Inc. Three-axis inertial sensor for detecting linear acceleration forces
US10809277B2 (en) * 2017-12-18 2020-10-20 Nxp Usa, Inc. Single axis inertial sensor with suppressed parasitic modes

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100122579A1 (en) * 2008-11-18 2010-05-20 Industrial Technology Research Institute Multi-axis capacitive accelerometer
TW201020549A (en) * 2008-11-18 2010-06-01 Ind Tech Res Inst Multi-axis capacitive accelerometer
CN203720200U (zh) * 2013-12-06 2014-07-16 杭州士兰微电子股份有限公司 多轴电容式加速度计
US20170023608A1 (en) * 2015-07-21 2017-01-26 Freescale Semiconductor, Inc. Multi-axis inertial sensor with dual mass and integrated damping structure
US20170108529A1 (en) * 2015-10-20 2017-04-20 Analog Devices, Inc. Multiple-axis resonant accelerometers

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