TWI739663B - 校正傳送器的方法 - Google Patents

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Abstract

本申請提出一種用於校正傳送器的方法,該傳送器具有振盪器、第一訊號路徑以及第二訊號路徑,該第一訊號路徑與該第二訊號路徑上包含第一校正單元於第一低通濾波器和第二低通濾波器之前,及第二校正單元於該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之後,該校正方法包含:通過設定該第一校正單元及該第二校正單元並產生傳送訊號,並對該傳送訊號進行頻譜分析來得到頻譜分析結果以產生該第一校正單元的最佳第一補償值及該第二校正單元的最佳第二補償值。

Description

校正傳送器的方法
本申請內容係關於校正方法,尤指一種能夠校正傳送器的本地振盪器滲漏的方法。
當本地振盪器與傳送端的混頻器以及低雜訊放大器之間的隔離度不完美,便有可能會產生本地振盪訊號滲漏(leakage)的情況,使傳送訊號受到干擾。一般習知的方法都是透過分析I、Q兩路訊號經過自混頻後所產生的實數訊號中由原始訊號與本地振盪訊號滲漏所混成之成分,並據以調整補償值一直到有一個最佳的結果。然而,此方法同樣具有速度慢的缺點,因此,在通訊系統中,如何快速且精確地補償本地振盪訊號滲漏已成為此領域中一個相當重要的議題。
本申請揭露一種用於校正傳送器的方法,其中該傳送器具有振盪器、第一訊號路徑以及第二訊號路徑,該第一訊號路徑與該第二訊號路徑之一係為同相訊號路徑,該第一訊號路徑與該第二訊號路徑之另一係為正交訊號路徑,該第一訊號路徑包含第一低通濾波器,該第二訊號路徑包含第二低通濾波器,該振盪器對該第一訊號路徑與該第二訊號路徑在該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之前的部分造成第一本地振盪器滲漏,該振盪器對該第一訊號路徑與該第二訊號路徑在該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之後的部分造成第二本地振盪器滲漏,且該第一訊號路徑與該第二訊號路徑上包含第一校正單元於該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之前,該第一校正單元可被設定第一補償值,以及第二校正單元於該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之後,該第二校正單元可被設定第二補償值,該校正方法包含:設定該第一補償值為零以及該第二補償值為第一預設值,並且使單頻訊號經過該傳送器以產生第一傳送訊號;回送該第一傳送訊號,並且針對該第一傳送訊號進行頻譜分析來得到第一頻譜分析結果;設定該第一補償值為零以及該第二補償值為第二預設值,並且使該單頻訊號經過該傳送器以產生第二傳送訊號;回送該第二傳送訊號,並且針對該第二傳送訊號進行頻譜分析來得到第二頻譜分析結果;控制該第一低通濾波器和該第二低通濾波器的增益正負反相,設定該第一補償值為零以及該第二補償值為該第一預設值,並且使單頻訊號經過該傳送器以產生第三傳送訊號;回送該第三傳送訊號,並且針對該第三傳送訊號進行頻譜分析來得到第三頻譜分析結果;控制該第一低通濾波器和該第二低通濾波器的增益正負反相,設定該第一補償值為零以及該第二補償值為該第二預設值,並且使該單頻訊號經過該傳送器以產生第四傳送訊號;回送該第四傳送訊號,並且針對該第四傳送訊號進行頻譜分析得到第四頻譜分析結果;以及依據該第一頻譜分析結果、該第二頻譜分析結果、該第三頻譜分析結果、該第四頻譜分析結果、該第一預設值及該第二預設值來最佳化該第二補償值並產生最佳第二補償值。 本申請揭露一種用於校正傳送器的方法,其中該傳送器具有振盪器、第一訊號路徑以及第二訊號路徑,該第一訊號路徑與該第二訊號路徑之一係為同相訊號路徑,該第一訊號路徑與該第二訊號路徑之另一係為正交訊號路徑,該第一訊號路徑包含第一低通濾波器,該第二訊號路徑包含第二低通濾波器,該振盪器對該第一訊號路徑與該第二訊號路徑在該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之前的部分造成第一本地振盪器滲漏,該振盪器對該第一訊號路徑與該第二訊號路徑在該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之後的部分造成第二本地振盪器滲漏,且該第一訊號路徑與該第二訊號路徑上包含第一校正單元於該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之前,該第一校正單元可被設定第一補償值,以及第二校正單元於該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之後,該第二校正單元可被設定第二補償值,該校正方法包含:設定該第一補償值為第一預設值以及該第二補償值為零,並且使單頻訊號經過該傳送器以產生第一傳送訊號;回送該第一傳送訊號,並且針對該第一傳送訊號進行頻譜分析來得到第一頻譜分析結果;設定該第一補償值為第二預設值以及該第二補償值為零,並且使該單頻訊號經過該傳送器以產生第二傳送訊號;回送該第二傳送訊號,並且針對該第二傳送訊號進行頻譜分析來得到第二頻譜分析結果;控制該第一低通濾波器和該第二低通濾波器的增益正負反相,設定該第一補償值為該第一預設值以及該第二補償值為零,並且使單頻訊號經過該傳送器以產生第三傳送訊號;回送該第三傳送訊號,並且針對該第三傳送訊號進行頻譜分析來得到第三頻譜分析結果;控制該第一低通濾波器和該第二低通濾波器的增益正負反相,設定該第一補償值為該第二預設值以及該第二補償值為零,並且使該單頻訊號經過該傳送器以產生第四傳送訊號;回送該第四傳送訊號,並且針對該第四傳送訊號進行頻譜分析來得到第四頻譜分析結果;以及依據該第一頻譜分析結果、該第二頻譜分析結果、該第三頻譜分析結果、該第四頻譜分析結果、該第一預設值及該第二預設值來最佳化該第一補償值並產生最佳第一補償值。 本申請揭露一種用於校正傳送器的方法,其中該傳送器具有振盪器、第一訊號路徑以及第二訊號路徑,該第一訊號路徑與該第二訊號路徑之一係為同相訊號路徑,該第一訊號路徑與該第二訊號路徑之另一係為正交訊號路徑,該第一訊號路徑包含第一低通濾波器,該第二訊號路徑包含第二低通濾波器,該振盪器對該第一訊號路徑與該第二訊號路徑在該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之前的部分造成第一本地振盪器滲漏,該振盪器對該第一訊號路徑與該第二訊號路徑在該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之後的部分造成第二本地振盪器滲漏,且該第一訊號路徑與該第二訊號路徑上包含第一校正單元於該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之前,該第一校正單元可被設定第一補償值,以及第二校正單元於該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之後,該第二校正單元可被設定第二補償值,該校正方法包含:控制該第一低通濾波器和該第二低通濾波器的增益為第一增益,並設定該第一補償值為零以及該第二補償值為第一預設值,並且使單頻訊號經過該傳送器以產生第一傳送訊號;回送該第一傳送訊號,並且針對該第一傳送訊號進行頻譜分析來得到第一頻譜分析結果;控制該第一低通濾波器和該第二低通濾波器的增益為該第一增益,並設定該第一補償值為零以及該第二補償值為該第二預設值,並且使單頻訊號經過該傳送器以產生第二傳送訊號;回送該第二傳送訊號,並且針對該第二傳送訊號進行頻譜分析來得到第二頻譜分析結果;以及依據該第一頻譜分析結果、該第二頻譜分析結果、該第一預設值及該第二預設值來最佳化該第二補償值並產生第一前置最佳值。 上述校正方法能夠分別校正傳送器的基頻電路和前端調變電路的本地振盪器滲漏。
圖1為依據本發明的傳送器的實施例的示意圖,其中傳送器100具有第一訊號路徑與第二訊號路徑,其中之一係為同相(I)訊號路徑,該第一訊號路徑與該第二訊號路徑之另一係為正交(Q)訊號路徑。 如圖1所示,傳送器100包含有:傳送端104、功率放大器106、自混頻器108、類比數位轉換器(DAC)110、頻譜分析單元112、校正係數計算單元114以及控制單元116,其中傳送端104包括第一訊號路徑、第二訊號路徑及加法器1056,例如該第一訊號路徑為同相訊號路徑,經過第一數位類比轉換器1042、第一低通濾波器1046以及第一混頻器1050;該第二訊號路徑為正交訊號路徑,經過第二數位類比轉換器1044、第二低通濾波器1048以及第二混頻器1052。 在本實施例中,傳送器100每次在重新啟動後(例如上電後或是系統重置後),並且在一般的資料傳送模式正式開始之前,為了降低振盪器1054造成的本地振盪器滲漏,以降低傳送訊號所受到的干擾,傳送器100會先進入校正參數計算模式;換句話說,在該校正參數計算模式下,傳送器100的傳送信號會回送至自混頻器108,經過DAC 110、頻譜分析單元112及校正係數計算單元114,以針對振盪器1054的滲漏問題進行最佳化的校正參數計算,之後才會讓傳送端104進入一般的資料傳送模式,在該一般的資料傳送模式下,傳送信號不再回送至自混頻器108,並使用在該校正參數計算模式下所得到的校正參數來開始進行正式的資料傳收。 具體地說,本實施例針對傳送器100之傳送端104額外加入了第一校正單元102以及第二校正單元103,其中第一校正單元102包含加法器1024及1026,其使用補償值DBC來補償振盪器1054在第一低通濾波器1046及第二低通濾波器1048之前的電路(即對應基頻電路)產生的滲漏DB;第二校正單元103包含加法器1034及1036,其使用補償值DMC來補償振盪器1054在第一低通濾波器1046及第二低通濾波器1048之後的電路(即對應前端調變電路)產生的滲漏DM。應注意的是,加法器1024、1026、1034及1036實務上可使用如電流數位類比轉換器(IDAC)等方式實現,且全文中提到的滲漏和補償值皆為複數,其實部和虛部分別對應I路徑和Q路徑。 本申請分別補償第一低通濾波器1046及第二低通濾波器1048前後的電路的振盪器滲漏的好處在於,可以使基頻電路產生的信號在滲漏DB已被補償的狀況下進入前端調變電路,因此在前端調變電路中的滲漏DM不含有滲漏DB的成分,滲漏DB也不會被前端調變電路的增益放大。補償值DMC的最佳值DMCT和補償值DBC的最佳值DBCT的獲得方式將說明如下。 步驟202至216為本申請在該校正參數計算模式下計算DMCT和DBCT的第一實施例。請參考圖1,在步驟202中,由控制單元116將第一校正單元102的補償值DBC設為0,並將第二校正單元103的補償值DMC設為DMC1後,再由控制單元116輸入頻率為w的單一頻率測試訊號,則頻譜分析單元112針對-w進行傅利葉轉換的結果P1(即頻率-w處的能量功率)可以表示為:
Figure 02_image001
(1) 其中G為第一低通濾波器1046和第二低通濾波器1048對該單一頻率測試訊號造成的增益,符號
Figure 02_image003
表示成正比。 在步驟204中,由控制單元116將第一校正單元102的補償值DBC設為0,並將第二校正單元103的補償值DMC設為不同於DMC1的DMC2後,再由控制單元116輸入頻率為w的單一頻率測試訊號,則頻譜分析單元112針對-w進行傅利葉轉換的結果P2可以表示為:
Figure 02_image005
(2) 在步驟206中,控制第一低通濾波器1046和第二低通濾波器1048的增益的正負號反相(例如通過將該第一訊號路徑上的差動對信號互換,以及將該第二訊號路徑上的差動對信號互換),並重複步驟202,則頻譜分析單元112針對-w進行傅利葉轉換的結果P3可以表示為:
Figure 02_image007
(3) 在步驟208中,控制第一低通濾波器1046和第二低通濾波器1048的增益的正負號反相,並重複步驟204,則頻譜分析單元112針對-w進行傅利葉轉換的結果P4可以表示為:
Figure 02_image009
(4) 在步驟210中,校正係數計算單元114將P1和P3相加,以及將P2和P4相加,分別得到:
Figure 02_image011
(5)
Figure 02_image013
(6) 由於振盪器1054造成在前端調變電路中的滲漏DM為固定值,因此方程式(5)和(6)中,DMC1、DMC2和
Figure 02_image015
Figure 02_image017
為線性關係。因此,校正係數計算單元114利用線性外插或是線性內插的原理即可推算出最佳補償值DMCT。如圖2所示,利用DMC1、DMC2、
Figure 02_image019
在二維座標上得到的兩點連成直線後,該直線延伸和X軸的交會點即為DMCT。應注意的是,在圖2中係將本實施例的概念簡化為二維以方便理解,實際上的情況為四維。 在步驟212中,由控制單元116將第二校正單元103的補償值DMC設為DMCT使前端調變電路中的滲漏DM被完美補償,並將第一校正單元102的補償值DBC設為DBC1,再由控制單元116輸入頻率為w的單一頻率測試訊號,則頻譜分析單元112針對-w進行傅利葉轉換的結果P5可以表示為:
Figure 02_image021
(7) 在步驟214中,由控制單元116將第二校正單元103的補償值DMC設為DMCT,並將第一校正單元102的補償值DBC設為不同於DBC1的DBC2,再由控制單元116輸入頻率為w的單一頻率測試訊號,則頻譜分析單元112針對-w進行傅利葉轉換的結果P1可以表示為:
Figure 02_image023
(8) 在步驟216中,由於振盪器1054造成在基頻電路中的滲漏DB為固定值,因此方程式(7)和(8)中,DBC1、DBC2和P5、P6為線性關係。校正係數計算單元114利用線性外插或是線性內插的原理可推算出最佳補償值DBCT。 步驟302至316為本申請該校正參數計算模式下計算DMCT和DBCT的第二實施例。和第一實施例的差異在於第二實施例是先計算DBCT再計算DMCT。請參考圖1,在步驟302中,由控制單元116將第二校正單元103的補償值DMC設為0,並將第一校正單元102的補償值DBC設為DBC3後,再由控制單元116輸入頻率為w的單一頻率測試訊號,則頻譜分析單元112針對-w進行傅利葉轉換的結果P7可以表示為:
Figure 02_image025
(9) 在步驟304中,由控制單元116將第二校正單元103的補償值DMC設為0,並將第一校正單元102的補償值DBC設為不同於DBC3的DBC4後,再由控制單元116輸入頻率為w的單一頻率測試訊號,則頻譜分析單元112針對-w進行傅利葉轉換的結果P8可以表示為:
Figure 02_image027
(10) 在步驟306中,控制第一低通濾波器1046和第二低通濾波器1048的增益的正負號反相,並重複步驟302,則頻譜分析單元112針對-w進行傅利葉轉換的結果P9可以表示為:
Figure 02_image029
(11) 在步驟308中,控制第一低通濾波器1046和第二低通濾波器1048的增益的正負號反相,並重複步驟304,則頻譜分析單元112針對-w進行傅利葉轉換的結果P4可以表示為:
Figure 02_image031
(12) 在步驟310中,校正係數計算單元114將P7和P9相減,以及將P8和P10相減,分別得到:
Figure 02_image033
(13)
Figure 02_image035
(14) 校正係數計算單元114利用線性外插或是線性內插的原理即可推算出最佳補償值DBCT。 在步驟312中,由控制單元116將第一校正單元102的補償值DBC設為DBCT使基頻電路中的滲漏DB被完美補償,並將第二校正單元103的補償值DMC設為DMC3,再由控制單元116輸入頻率為w的單一頻率測試訊號,則頻譜分析單元112針對-w進行傅利葉轉換的結果P11可以表示為:
Figure 02_image037
(15) 在步驟314中,由控制單元116將第一校正單元102的補償值DBC設為DBCT使基頻電路中的滲漏DB被完美補償,並將第二校正單元103的補償值DMC設為不同於DMC3的DMC4,再由控制單元116輸入頻率為w的單一頻率測試訊號,則頻譜分析單元112針對-w進行傅利葉轉換的結果P12可以表示為:
Figure 02_image039
(16) 在步驟316中,校正係數計算單元114利用線性外插或是線性內插的原理可推算出最佳補償值DMCT。 步驟402至416為本申請該校正參數計算模式下計算DMCT和DBCT的第三實施例。請參考圖1,在步驟402中,控制單元116將第一低通濾波器1046和第二低通濾波器1048的增益設為G1,並將第一校正單元102的補償值DBC設為0,以及將第二校正單元103的補償值DMC設為DMC5後,再由控制單元116輸入頻率為w的單一頻率測試訊號,則頻譜分析單元112針對-w進行傅利葉轉換的結果P13可以表示為:
Figure 02_image041
(17) 在步驟404中,控制單元116將第一低通濾波器1046和第二低通濾波器1048的增益設為G1,並將第一校正單元102的補償值DBC設為0,以及將第二校正單元103的補償值DMC設為不同於DMC5的DMC6後,再由控制單元116輸入頻率為w的單一頻率測試訊號,則頻譜分析單元112針對-w進行傅利葉轉換的結果P14可以表示為:
Figure 02_image043
(18) 在步驟406中,由於振盪器1054造成的DM和DB為固定值,因此方程式(17)和(18)中,DMC5、DMC6和P13、P14為線性關係。因此,校正係數計算單元114利用線性外插或是線性內插的原理即可找出第一低通濾波器1046和第二低通濾波器1048的增益為G1的情況下,可同時補償DB和DM的補償值DM,在此稱前置最佳值DMPT1,使:
Figure 02_image045
(19) 在步驟408中,控制單元116將第一低通濾波器1046和第二低通濾波器1048的增益設為G2,其餘步驟同步驟402,則頻譜分析單元112針對-w進行傅利葉轉換的結果P15可以表示為:
Figure 02_image047
(20) 在步驟410中,控制單元116將第一低通濾波器1046和第二低通濾波器1048的增益設為G2,其餘步驟同步驟404,則頻譜分析單元112針對-w進行傅利葉轉換的結果P16可以表示為:
Figure 02_image049
(21) 在步驟412中,校正係數計算單元114利用線性外插或是線性內插的原理即可找出第一低通濾波器1046和第二低通濾波器1048的增益為G2的情況下,可同時補償DB和DM的補償值DM,在此稱前置最佳值DMPT2,使:
Figure 02_image051
(22) 在步驟414中,校正係數計算單元114依據方程式(19)和(22)可得到:
Figure 02_image053
(23)
Figure 02_image055
(24) 即:
Figure 02_image057
(25)
Figure 02_image059
(26) 上文的敘述簡要地提出了本申請某些實施例之特徵,而使得本申請所屬技術領域具有通常知識者能夠更全面地理解本申請內容的多種態樣。本申請所屬技術領域具有通常知識者當可明瞭,其可輕易地利用本申請內容作為基礎,來設計或更動其他製程與結構,以實現與此處該之實施方式相同的目的和/或達到相同的優點。應瞭解到,在本申請之方法流程圖中所提及的步驟,除特別敘明其順序者外,均可依實際需要調整其前後順序,甚至可同時或部分同時執行。此外,上述各個模組或方法步驟,可依據設計者的需求,藉由硬體、軟體或是韌體來實現。本申請所屬技術領域具有通常知識者應當明白,這些均等的實施方式仍屬於本申請內容之精神與範圍,且其可進行各種變更、替代與更動,而不會悖離本申請內容之精神與範圍。
100:傳送器 102:第一校正單元 103:第二校正單元 104:傳送端 106:功率放大器 108:自混頻器 110:類比數位轉換器 112:頻譜分析單元 114:校正係數計算單元 116:控制單元 1024,1024,1034,1036,1056:加法器 1042:第一數位類比轉換器 1044:第二數位類比轉換器 1046:第一低通濾波器 1048:第二低通濾波器 1050:第一混頻器 1052:第二混頻器
圖1為本發明的傳送器的實施例的示意圖。 圖2為利用線性外插或是線性內插的原理即可推算出最佳補償值的示意圖。
100:傳送器
102:第一校正單元
103:第二校正單元
104:傳送端
106:功率放大器
108:自混頻器
110:類比數位轉換器
112:頻譜分析單元
114:校正係數計算單元
116:控制單元
1024,1024,1034,1036,1056:加法器
1042:第一數位類比轉換器
1044:第二數位類比轉換器
1046:第一低通濾波器
1048:第二低通濾波器
1050:第一混頻器
1052:第二混頻器
100:傳送器
102:第一校正單元
103:第二校正單元

Claims (10)

  1. 一種用於校正傳送器的方法,其中該傳送器具有振盪器、第一訊號路徑以及第二訊號路徑,該第一訊號路徑與該第二訊號路徑之一係為同相訊號路徑,該第一訊號路徑與該第二訊號路徑之另一係為正交訊號路徑,該第一訊號路徑包含第一低通濾波器,該第二訊號路徑包含第二低通濾波器,該振盪器對該第一訊號路徑與該第二訊號路徑在該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之前的部分造成第一本地振盪器滲漏,該振盪器對該第一訊號路徑與該第二訊號路徑在該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之後的部分造成第二本地振盪器滲漏,且該第一訊號路徑與該第二訊號路徑上包含第一校正單元於該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之前,該第一校正單元可被設定第一補償值,以及第二校正單元於該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之後,該第二校正單元可被設定第二補償值,該校正方法包含: 設定該第一補償值為零以及該第二補償值為第一預設值,並且使單頻訊號經過該傳送器以產生第一傳送訊號; 回送該第一傳送訊號,並且針對該第一傳送訊號進行頻譜分析來得到第一頻譜分析結果; 設定該第一補償值為零以及該第二補償值為第二預設值,並且使該單頻訊號經過該傳送器以產生第二傳送訊號; 回送該第二傳送訊號,並且針對該第二傳送訊號進行頻譜分析來得到第二頻譜分析結果; 控制該第一低通濾波器和該第二低通濾波器的增益正負反相,設定該第一補償值為零以及該第二補償值為該第一預設值,並且使單頻訊號經過該傳送器以產生第三傳送訊號; 回送該第三傳送訊號,並且針對該第三傳送訊號進行頻譜分析來得到第三頻譜分析結果; 控制該第一低通濾波器和該第二低通濾波器的增益正負反相,設定該第一補償值為零以及該第二補償值為該第二預設值,並且使該單頻訊號經過該傳送器以產生第四傳送訊號; 回送該第四傳送訊號,並且針對該第四傳送訊號進行頻譜分析來得到第四頻譜分析結果;以及 依據該第一頻譜分析結果、該第二頻譜分析結果、該第三頻譜分析結果、該第四頻譜分析結果、該第一預設值及該第二預設值來最佳化該第二補償值並產生最佳第二補償值。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的校正方法,其中該最佳第二補償值係針對補償該第二本地振盪器滲漏且不補償該第一本地振盪器滲漏。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的校正方法,其中在針對該第一傳送訊號、該第二傳送訊號、該第三傳送訊號及該第四傳送訊號進行該頻譜分析的步驟中,係針對該第一傳送訊號、該第二傳送訊號、該第三傳送訊號及該第四傳送訊號在該特定頻率的負一倍頻進行傅利葉轉換。
  4. 如申請專利範圍第1項所述的校正方法,其中最佳化該第二補償值的步驟係基於線性外插或線性內差來產生該最佳第二補償值。
  5. 如申請專利範圍第1項所述的校正方法,還包含: 設定該第一補償值為第三預設值以及該第二補償值為該最佳第二補償值,並且使該單頻訊號經過該傳送器以產生第五傳送訊號; 回送該第五傳送訊號,並且針對該第五傳送訊號進行頻譜分析來得到第五頻譜分析結果; 設定該第一補償值為第四預設值以及該第二補償值為該最佳第二補償值,並且使該單頻訊號經過該傳送器以產生第六傳送訊號; 回送該第六傳送訊號,並且針對該第六傳送訊號進行頻譜分析來得到第六頻譜分析結果;以及 依據該第五頻譜分析結果、該第六頻譜分析結果、該第三預設值及該第四預設值來最佳化該第一補償值並產生最佳第一補償值。
  6. 如申請專利範圍第5項所述的校正方法,其中該最佳第一補償值係針對補償該第一本地振盪器滲漏且不補償該第二本地振盪器滲漏。
  7. 如申請專利範圍第5項所述的校正方法,其中最佳化該第一補償值的步驟係基於線性外插或線性內差來產生該最佳第一補償值。
  8. 一種用於校正傳送器的方法,其中該傳送器具有振盪器、第一訊號路徑以及第二訊號路徑,該第一訊號路徑與該第二訊號路徑之一係為同相訊號路徑,該第一訊號路徑與該第二訊號路徑之另一係為正交訊號路徑,該第一訊號路徑包含第一低通濾波器,該第二訊號路徑包含第二低通濾波器,該振盪器對該第一訊號路徑與該第二訊號路徑在該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之前的部分造成第一本地振盪器滲漏,該振盪器對該第一訊號路徑與該第二訊號路徑在該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之後的部分造成第二本地振盪器滲漏,且該第一訊號路徑與該第二訊號路徑上包含第一校正單元於該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之前,該第一校正單元可被設定第一補償值,以及第二校正單元於該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之後,該第二校正單元可被設定第二補償值,該校正方法包含: 設定該第一補償值為第一預設值以及該第二補償值為零,並且使單頻訊號經過該傳送器以產生第一傳送訊號; 回送該第一傳送訊號,並且針對該第一傳送訊號進行頻譜分析來得到第一頻譜分析結果; 設定該第一補償值為第二預設值以及該第二補償值為零,並且使該單頻訊號經過該傳送器以產生第二傳送訊號; 回送該第二傳送訊號,並且針對該第二傳送訊號進行頻譜分析來得到第二頻譜分析結果; 控制該第一低通濾波器和該第二低通濾波器的增益正負反相,設定該第一補償值為該第一預設值以及該第二補償值為零,並且使單頻訊號經過該傳送器以產生第三傳送訊號; 回送該第三傳送訊號,並且針對該第三傳送訊號進行頻譜分析來得到第三頻譜分析結果; 控制該第一低通濾波器和該第二低通濾波器的增益正負反相,設定該第一補償值為該第二預設值以及該第二補償值為零,並且使該單頻訊號經過該傳送器以產生第四傳送訊號; 回送該第四傳送訊號,並且針對該第四傳送訊號進行頻譜分析來得到第四頻譜分析結果;以及 依據該第一頻譜分析結果、該第二頻譜分析結果、該第三頻譜分析結果、該第四頻譜分析結果、該第一預設值及該第二預設值來最佳化該第一補償值並產生最佳第一補償值。
  9. 一種用於校正傳送器的方法,其中該傳送器具有振盪器、第一訊號路徑以及第二訊號路徑,該第一訊號路徑與該第二訊號路徑之一係為同相訊號路徑,該第一訊號路徑與該第二訊號路徑之另一係為正交訊號路徑,該第一訊號路徑包含第一低通濾波器,該第二訊號路徑包含第二低通濾波器,該振盪器對該第一訊號路徑與該第二訊號路徑在該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之前的部分造成第一本地振盪器滲漏,該振盪器對該第一訊號路徑與該第二訊號路徑在該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之後的部分造成第二本地振盪器滲漏,且該第一訊號路徑與該第二訊號路徑上包含第一校正單元於該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之前,該第一校正單元可被設定第一補償值,以及第二校正單元於該第一低通濾波器和該第二低通濾波器之後,該第二校正單元可被設定第二補償值,該校正方法包含: 控制該第一低通濾波器和該第二低通濾波器的增益為第一增益,並設定該第一補償值為零以及該第二補償值為第一預設值,並且使單頻訊號經過該傳送器以產生第一傳送訊號; 回送該第一傳送訊號,並且針對該第一傳送訊號進行頻譜分析來得到第一頻譜分析結果; 控制該第一低通濾波器和該第二低通濾波器的增益為該第一增益,並設定該第一補償值為零以及該第二補償值為該第二預設值,並且使單頻訊號經過該傳送器以產生第二傳送訊號; 回送該第二傳送訊號,並且針對該第二傳送訊號進行頻譜分析來得到第二頻譜分析結果;以及 依據該第一頻譜分析結果、該第二頻譜分析結果、該第一預設值及該第二預設值來最佳化該第二補償值並產生第一前置最佳值。
  10. 如申請專利範圍第9項所述的校正方法,其中該第一前置最佳值係針對補償該第一本地振盪器滲漏及該第二本地振盪器滲漏。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI819710B (zh) * 2022-07-18 2023-10-21 瑞昱半導體股份有限公司 發送器電路、補償值校正裝置與補償值校正方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11515901B1 (en) * 2021-11-12 2022-11-29 SiTune Corporation Integrated high speed wireless transceiver

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200726152A (en) * 2005-11-30 2007-07-01 Nokia Corp Local oscillator leakage cancellation in radio transmitter
TW200915744A (en) * 2007-09-27 2009-04-01 Realtek Semiconductor Corp Transmitter and receiver for reducing local oscillation leakage and I/Q mismatch and adjusting method thereof
US8559488B1 (en) * 2006-11-20 2013-10-15 Marvell International Ltd. On-chip IQ imbalance and LO leakage calibration for transceivers
CN104052507A (zh) * 2013-03-14 2014-09-17 美国亚德诺半导体公司 使用回送电路的发射器lo泄漏校准方案
US9184773B2 (en) * 2013-09-12 2015-11-10 Vayyar Imaging Ltd. Apparatus and methods for signal generation, reception, and self-calibration

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005022833A2 (en) * 2003-08-27 2005-03-10 Wavion Ltd. Wlan capacity enhancement using sdm
US20150118980A1 (en) * 2013-10-29 2015-04-30 Qualcomm Incorporated Transmitter (tx) residual sideband (rsb) and local oscillator (lo) leakage calibration using a reconfigurable tone generator (tg) and lo paths
TWI528764B (zh) * 2013-12-04 2016-04-01 瑞昱半導體股份有限公司 校正傳送器/接收器的第一、第二訊號路徑之間的不匹配的校正方法與校正裝置
CN104935539B (zh) * 2014-03-17 2019-02-05 深圳市中兴微电子技术有限公司 一种校准射频收发机的系统及方法
TWI536779B (zh) * 2014-05-29 2016-06-01 瑞昱半導體股份有限公司 校正傳送器/接收器的第一、第二訊號路徑之間的不匹配的校正方法與校正裝置
JP2019057878A (ja) * 2017-09-22 2019-04-11 株式会社東芝 直交変調器におけるキャリアリーク補正方法
US10116485B1 (en) * 2017-10-31 2018-10-30 Qualcomm Incorporated TX/RX imbalance and carrier leakage calibration
US10812294B2 (en) * 2018-11-28 2020-10-20 Texas Instruments Incorporated Channel estimation method and system for IQ imbalance and local oscillator leakage correction

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200726152A (en) * 2005-11-30 2007-07-01 Nokia Corp Local oscillator leakage cancellation in radio transmitter
US8559488B1 (en) * 2006-11-20 2013-10-15 Marvell International Ltd. On-chip IQ imbalance and LO leakage calibration for transceivers
TW200915744A (en) * 2007-09-27 2009-04-01 Realtek Semiconductor Corp Transmitter and receiver for reducing local oscillation leakage and I/Q mismatch and adjusting method thereof
CN104052507A (zh) * 2013-03-14 2014-09-17 美国亚德诺半导体公司 使用回送电路的发射器lo泄漏校准方案
US9184773B2 (en) * 2013-09-12 2015-11-10 Vayyar Imaging Ltd. Apparatus and methods for signal generation, reception, and self-calibration

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI819710B (zh) * 2022-07-18 2023-10-21 瑞昱半導體股份有限公司 發送器電路、補償值校正裝置與補償值校正方法

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