TWI639107B - 觸控陣列基板 - Google Patents
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Abstract
一種觸控陣列基板，包括基板、多個開關元件、多個畫素電極、第一觸控電極、第二觸控電極、第一觸控電極導線、第二觸控電極導線以及修補結構。開關元件位於基板上。畫素電極電性連接至對應的開關元件。第一觸控電極與第二觸控電極重疊於畫素電極。第一觸控電極鄰近於第二觸控電極的一邊緣具有第一凸出部。第一觸控電極導線與第二觸控電極導線中的至少一個與對應的第一觸控電極或第二觸控電極電性連接。修補結構位於第一觸控電極與第二觸控電極之間。修補結構重疊於第一凸出部。
Description
本發明是有關於一種觸控陣列基板，且特別是有關於一種具有修復結構的觸控陣列基板。
觸控型電子裝置通常同時具有顯示功能與觸控功能，讓使用者可以利用觸碰的方式直接控制顯示面板所顯示出來的圖示。一般而言，觸控型電子裝置包含了以陣列的方式排列之多個觸控電極以及多條觸控電極導線。觸控電極導線連接該些觸控電極，並負責將訊號傳遞至該些觸控電極。
在現有技術中，為了讓顯示面板的厚度更薄，目前開發了許多將觸控電極導線與觸控電極設置在顯示面板內（In cell）的技術。然而，若觸控電極和觸控電極導線是設置在顯示面板內，很難在不影響顯示品質的前提下，維修故障的觸控電極導線或故障的觸控電極。若因為觸控電極導線或觸控電極故障就換掉整個顯示面板，又需要付出過高的成本。因此，目前亟需一種新的觸控裝置的修補技術。
本發明提供一種觸控陣列基板，可以提升成功修復觸控電極的機率。
本發明的一種觸控陣列基板包括基板、多個開關元件、多個畫素電極、第一觸控電極、第二觸控電極、第一觸控電極導線、第二觸控電極導線以及修補結構。多個開關元件位於基板上。多個畫素電極分別電性連接至對應的開關元件。第一觸控電極與第二觸控電極於垂直基板的方向上分別重疊於部分畫素電極。第一觸控電極鄰近於第二觸控電極的邊緣具有第一凸出部。第一觸控電極導線與第二觸控電極導線於垂直基板的方向上分別重疊於第一觸控電極與第二觸控電極。第一觸控電極導線與第二觸控電極導線中的至少一個與對應的第一觸控電極或第二觸控電極電性連接。修補結構於基板上的垂直投影位於第一觸控電極與第二觸控電極於基板上的垂直投影之間。修補結構與第一觸控電極及第二觸控電極分別部分重疊。
本發明至少一實施例中，即使觸控電極導線與觸控電極在連接處斷開導致觸控電極故障，仍然可以用重疊於觸控電極的修補結構來修復故障的觸控電極，因此可以提升成功修復觸控電極的機率。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
圖1A是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板1的上視示意圖。圖1B是沿著圖1A線AA’、BB’以及CC’的剖面示意圖。
請參考圖1A與圖1B，觸控陣列基板1，包括基板SB、多個開關元件T、多個畫素電極PE、第一觸控電極100、第二觸控電極200、第一觸控電極導線120、第二觸控電極導線220以及修補結構300。
多個開關元件T位於基板SB上。在本實施例中，觸控陣列基板1還包括分別與多個開關元件T電性連接的多條掃描線SL以及多條資料線DL，其中掃描線SL沿著方向D2延伸而資料線DL沿著方向D1延伸，方向D1與方向D2彼此交錯。開關元件T例如是底部閘極型薄膜電晶體，其包括閘極G、通道M、源極S以及汲極D。閘極G與掃描線SL電性連接。通道M位於閘極G的上方，且與閘極G間隔有絕緣層GI。源極S以及汲極D分別位於通道M上方的兩側，且源極S與資料線DL電性連接。根據另一實施例，主動元件也可以其他種類之薄膜電晶體，例如頂部閘極型薄膜電晶體、雙閘極型薄膜電晶體。
絕緣層P1覆蓋開關元件T。第一觸控電極100與第二觸控電極200位於絕緣層P1上且彼此相鄰但未電性連接。第一觸控電極導線120與第二觸控電極導線220於垂直基板SB的方向D3上分別重疊於第一觸控電極100與第二觸控電極200。在本實施例中，第一觸控電極導線120位於基板SB與第一觸控電極100之間，且第二觸控電極導線220位於基板SB與第二觸控電極200之間。在本實施例中，資料線DL、第一觸控電極導線120、第二觸控電極導線220、源極S、汲極D屬於同一膜層，且資料線DL、第一觸控電極導線120及第二觸控電極導線220係彼此平行設置。資料線DL、第一觸控電極導線120、第二觸控電極導線220、源極S、汲極D例如是藉由同一道圖案化製程所定義出來的。
在一些實施例中，第一觸控電極100可以重疊於多條觸控電極導線，例如包括多條第一觸控電極導線120。在一些實施例中，第二觸控電極200可以重疊於多條觸控電極導線，例如包括多條第二觸控電極導線220。在本實施例中，第一觸控電極100穿過絕緣層P1中的開口H1而與至少一第一觸控電極導線120電性連接，且第二觸控電極200穿過絕緣層P1中的開口H2而與至少一第二觸控電極導線220電性連接。
在一些實施例中，第一觸控電極導線120與第二觸控電極導線220可以將驅動元件DR（繪示於圖5）所發出的訊號分別傳遞給第一觸控電極100與第二觸控電極200。第一觸控電極導線120與第二觸控電極導線220例如可以用來傳遞共用電壓訊號與觸控訊號，並於不同時序時切換為共用電壓訊號與觸控訊號。因此，第一觸控電極100與第二觸控電極200可以具有共用電極的功能與觸控電極的功能。
在一些實施例中，第一觸控電極100與第二觸控電極200上包括多個開口O2，開口O2例如可以重疊於掃描線SL、資料線DL、第一觸控電極導線120、第二觸控電極導線220及/或開關元件T，以減少第一觸控電極100與第二觸控電極200所產生的寄生電容。
在本實施例中，第一觸控電極100的邊緣100a具有第一凸出部110，鄰近於第二觸控電極200。在本實施例中，第一凸出部110是朝向第二觸控電極200的邊緣200a凸出，且第一凸出部110例如是大致上沿著方向D2延伸，但本發明不以此為限。在一些實施例中，第一凸出部110大致上沿著方向D1延伸，依據兩觸控電極所相鄰的方向而定。在本實施例中，第二觸控電極200的邊緣200a在對應第一凸出部110的位置具有凹槽U。
絕緣層P2覆蓋絕緣層P1、第一觸控電極100及第二觸控電極200。多個畫素電極PE位於絕緣層P2上，且分別電性連接至對應的開關元件T。在本實施例中，開口O貫穿絕緣層P1與絕緣層P2，畫素電極PE穿過開口O並電性連接至開關元件T的汲極D。
第一觸控電極100與第二觸控電極200於垂直基板SB的方向D3上分別重疊於畫素電極PE。在本實施例中，至少部分第一觸控電極100與至少部分第二觸控電極200位於該些畫素電極PE與基板SB之間，因此，第一觸控電極100與第二觸控電極200上包括多個對應於開口O的開口O’，且開口O’大於開口O，使該些畫素電極PE可以穿過第一觸控電極100與第二觸控電極200並且避免彼此電性接觸，但本發明不以此為限。在一些實施例中，畫素電極PE位於第一觸控電極100與基板SB之間或第二觸控電極200與基板SB之間，因此不需要在第一觸控電極100和第二觸控電極200設置開口O’。
在本實施例中，畫素電極PE具有多個狹縫O1，但本發明不以此為限。在一些實施例中，第一觸控電極100和第二觸控電極200具有狹縫。
在本實施例中，修補結構300位於絕緣層GI上，修補結構300於基板SB上的垂直投影位於第一觸控電極100與第二觸控電極200於基板SB上的垂直投影之間。修補結構300例如包含第一部份310、第二部分320及連接於第一部分310與第二部分320之間的直線段330，其中第一部分310於垂直基板SB的方向D3上與第一觸控電極100重疊，且第二部分320於垂直基板SB方向D3上與第二觸控電極200重疊，但本發明不以此為限。在一些實施例中，修補結構300例如只包含第一部份310與第二部分320而不具有直線段。在本實施例中，資料線DL、第一觸控電極導線120、第二觸控電極導線220以及修補結構300屬於同一膜層。第二觸控電極200穿過絕緣層P1中的開口H3電性連接修補結構300之第二部分320。在本實施例中，第二觸控電極200將修補結構300電性連接至第二觸控電極導線220。
修補結構300之第一部分310於垂直基板SB的方向D3上重疊於第一凸出部110。修補結構300與第一凸出部110在熔接區WR中重疊。
第一觸控電極導線120與第二觸控電極導線220中的至少一個與對應的第一觸控電極100或第二觸控電極200電性連接。在一些實施例中，若第一觸控電極100與第二觸控電極200皆未出現故障，第一觸控電極導線120與第二觸控電極導線220分別與對應的第一觸控電極100與第二觸控電極200電性連接，第一觸控電極100與修補結構300電性分離。
在一些實施例中，當第一觸控電極導線120斷路時，例如是第一觸控電極導線120斷掉或第一觸控電極100與第一觸控電極導線120未於開口H1處連接，因此，無法提供適當的觸控訊號至第一觸控電極100。此時可以利用雷射或其他類似的手段，使第一觸控電極100電性連接至修補結構300。故障的第一觸控電極100透過修補結構300以及第二觸控電極200而電性連接至第二觸控電極導線220，使第二觸控電極導線220代替斷路的第一觸控電極導線120傳送訊號至故障的第一觸控電極100。
在一些實施例中，當第二觸控電極導線220斷路時，例如是第二觸控電極導線220斷掉或第二觸控電極200與第二觸控電極導線220未於開口H2處連接，因此，無法提供適當的觸控訊號至第二觸控電極200。此時可以利用雷射或其他類似的手段，使第一觸控電極100電性連接至修補結構300。故障的第二觸控電極200透過修補結構300以及第一觸控電極100而電性連接至第一觸控電極導線120，使第一觸控電極導線120代替斷路的第二觸控電極導線220傳送訊號至第二觸控電極200。
在一些實施例中，前述的雷射還可以熔化部分的修補結構300，使修補結構300與第一觸控電極100能更佳的電性連接在一起。
基於上述，即使第一觸控電極導線120與第一觸控電極100在連接處斷開導致第一觸控電極100故障，或第二觸控電極導線220與第二觸控電極200在連接處斷開導致第二觸控電極200故障，仍然可以用重疊於第一觸控電極100的修補結構300來修復故障的第一觸控電極100或第二觸控電極200，因此，可以提升成功修復觸控陣列基板1的機率。
圖2是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板2的上視示意圖。在此必須說明的是，圖2的實施例沿用圖1A、圖1B的實施例的元件標號與部分內容，其中採用相同或近似的標號來表示相同或近似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施例，在此不贅述。
請參考圖2，在本實施例中，觸控陣列基板2的第一觸控電極導線120斷路，例如是在缺陷區DF出現斷線。利用雷射或其他類似的手段形成熔接點W，使第一觸控電極100的第一凸出部110與修補結構300熔接，使第一觸控電極100的第一凸出部110與修補結構300電性連接。第一觸控電極100透過修補結構300以及第二觸控電極200而電性連接至第二觸控電極導線220，使第二觸控電極導線220代替斷路的第一觸控電極導線120傳送訊號至第一觸控電極100。
在本實施例中，是由於第一觸控電極導線120斷線導致第一觸控電極導線120斷路，但本發明不以此為限。在一些實施例中，第一觸控電極導線120與第一觸控電極100在連接處斷開造成第一觸控電極導線120斷路，並導致第一觸控電極100故障，依然可以用本實施例形成熔接點W的方式來修復故障的第一觸控電極100。
在本實施例中，形成熔接點W是為了修復故障的第一觸控電極100，但本發明不以此為限。在一些實施例中，第一觸控電極100正常運作，第二觸控電極導線220斷路導致第二觸控電極200故障，可以用本實施例形成熔接點W的方式來修復故障的第二觸控電極200。
圖3A是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板3的上視示意圖。圖3B是沿著圖3A線AA’、BB’以及CC’的剖面示意圖。在此必須說明的是，圖3A、圖3B的實施例沿用圖1A、圖1B的實施例的元件標號與部分內容，其中採用相同或近似的標號來表示相同或近似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施例，在此不贅述。
請參考圖3A與圖3B，第一觸控電極100與第二觸控電極200的開口O’露出開關元件T，能減少第一觸控電極100與開關元件T之間的寄生電容以及第二觸控電極200與開關元件T之間的寄生電容。在本實施例中，開口O’露出開關元件T，且其中一個畫素電極PE穿過開口O’而與其中一個開關元件T電性連接。
在本實施例中，掃描線SL、資料線DL以及修補結構300屬於不同膜層。修補結構300、第一觸控電極導線120以及第二觸控電極導線220屬於同一膜層，修補結構300、第一觸控電極導線120以及第二觸控電極導線220例如是藉由同一道圖案化製程所定義出來的。在本實施例中，修補結構300、第一觸控電極導線120以及第二觸控電極導線220位於絕緣層P1上，絕緣層P3覆蓋修補結構300、第一觸控電極導線120以及第二觸控電極導線220，且絕緣層P3位於絕緣層P1與絕緣層P2之間。第一觸控電極100穿過絕緣層P3中的開口H1而電性連接至第一觸控電極導線120。第二觸控電極200穿過絕緣層P3中的開口H2而電性連接至第二觸控電極導線220。第二觸控電極200穿過絕緣層P3中的開口H3而電性連接至修補結構300。在本實施例中，於垂直基板SB的方向D3上，資料線DL被修補結構300、第一觸控電極導線120以及第二觸控電極導線220所覆蓋，但本發明不以此為限。在其他實施例中，資料線DL可以不被修補結構300、第一觸控電極導線120以及第二觸控電極導線220所覆蓋。
在本實施例中，第一觸控電極100與第二觸控電極200皆未出現故障，故第一觸控電極100與修補結構300電性分離。
在一些實施例中，當第一觸控電極導線120斷路導致第一觸控電極100故障時，可以利用雷射或其他類似的手段，使第一觸控電極100電性連接至修補結構300。故障的第一觸控電極100透過修補結構300以及第二觸控電極200而電性連接至第二觸控電極導線220，使第二觸控電極導線220代替斷路的第一觸控電極導線120傳送訊號至故障的第一觸控電極100。
在一些實施例中，當第二觸控電極導線220斷路導致第二觸控電極200故障時，可以利用雷射或其他類似的手段，使第一觸控電極100電性連接至修補結構300。故障的第二觸控電極200透過修補結構300以及第一觸控電極100而電性連接至第一觸控電極導線120，使第一觸控電極導線120代替斷路的第二觸控電極導線220傳送訊號至故障的第二觸控電極200。
基於上述，即使第一觸控電極導線120與第一觸控電極100在連接處斷開導致第一觸控電極100故障，或第二觸控電極導線220與第二觸控電極200在連接處斷開導致第二觸控電極200故障，仍然可以用重疊於第一觸控電極100的修補結構300來修復故障的第一觸控電極100或故障的第二觸控電極200，因此，可以提升成功修復觸控陣列基板3的機率。
圖4是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板4的上視示意圖。在此必須說明的是，圖4的實施例沿用圖3A、圖3B的實施例的元件標號與部分內容，其中採用相同或近似的標號來表示相同或近似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施例，在此不贅述。
請參考圖4，掃描線SL、資料線DL以及修補結構300屬於不同膜層。在本實施例中，修補結構300、第一觸控電極導線120以及第二觸控電極導線220屬於同一膜層。修補結構300、第一觸控電極導線120以及第二觸控電極導線220例如是藉由同一道圖案化製程所定義出來的。
在本實施例中，觸控陣列基板4的第一觸控電極導線120斷路，例如是在缺陷區DF出現斷線，導致第一觸控電極100故障。
利用雷射或其他類似的手段形成熔接點W，使故障的第一觸控電極100的第一凸出部110與修補結構300熔接，使第一觸控電極100的第一凸出部110與修補結構300電性連接。故障的第一觸控電極100透過修補結構300以及第二觸控電極200而電性連接至第二觸控電極導線220，使第二觸控電極導線220代替斷路的第一觸控電極導線120傳送訊號至故障的第一觸控電極100。
圖5A是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板的上視示意圖。圖5B是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板的上視示意圖。圖5C是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板的上視示意圖。在此必須說明的是，圖5A、圖5B、圖5C的實施例沿用圖1A、圖1B的實施例的元件標號與部分內容，其中採用相同或近似的標號來表示相同或近似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施例，在此不贅述。
請參考圖5A，觸控陣列基板包括多個觸控電極E（包括前述的第一觸控電極100與第二觸控電極200）、多條觸控電極導線R（包括前述的第一觸控電極導線120與第二觸控電極導線220）以及驅動元件DR。觸控電極導線R可以將驅動元件DR所發出的訊號分別傳遞給對應的觸控電極E。驅動元件DR例如可以產生共用電壓訊號與觸控訊號。
請參考圖5B，圖5B之實施例與圖5A之實施例的不同之處在於：圖5B之實施例的觸控電極導線R除了從驅動元件DR延伸至與其電性連接的觸控電極E之外，還會繼續延伸並超過與其電性連接的觸控電極E，藉此降低不同觸控電極導線R之間的長度差異，改善觸控陣列基板透光度不均勻或顏色不均勻的問題。
圖5C例如是圖5A之觸控陣列基板的一種實施態樣，為了方便說明，圖5C取了圖5A中之其中一個觸控電極E和相鄰於該觸控電極E上下左右的其他觸控電極E做為說明。觸控陣列基板5包括第一觸控電極100、第二觸控電極200、第一觸控電極導線120以及第二觸控電極導線220。第一觸控電極導線120與第二觸控電極導線220可以將驅動元件DR所發出的訊號分別傳遞給第一觸控電極100與第二觸控電極200。驅動元件DR例如可以產生共用電壓訊號與觸控訊號。在本實施例中，第一觸控電極100例如是重疊於一條第一觸控電極導線120以及至少一條第二觸控電極導線220，但本發明不以此為限。第一觸控電極100與第二觸控電極200都可以重疊於多條第一觸控電極導線120以及多條第二觸控電極導線220。
在資料線（繪示於圖1A）的延伸方向D1上，第一觸控電極100位於與其相鄰的兩個第二觸控電極200A/200B之間，兩個修補結構300A/300B於基板SB上的垂直投影分別位於第一觸控電極100於基板SB上的垂直投影與兩個第二觸控電極200A/200B於基板SB上的垂直投影之間。修補結構300A/300B分別透過開口H5與開口H6而與第一觸控電極100電性連接。修補結構300A/300B分別重疊於第二觸控電極200A/200B的第二凸出部210A/210B。
在掃描線（繪示於圖1A）的延伸方向D2上，第一觸控電極100位於與其相鄰的另外兩個第二觸控電極200C/200D之間，另外兩個修補結構300C/300D於基板SB上的垂直投影分別位於第一觸控電極100於基板SB上的垂直投影與另外兩個第二觸控電極200C/200D於基板SB上的垂直投影之間。修補結構300C/300D分別透過開口H3與開口H4電性連接至第二觸控電極200C/200D。修補結構300C/300D分別重疊於第一觸控電極100的第一凸出部110C/110D。
基於上述，即使第一觸控電極導線120與第一觸控電極100在連接處斷開導致第一觸控電極100故障，或第二觸控電極導線220與第二觸控電極200在連接處斷開導致第二觸控電極200故障，又或是第一觸控電極導線120斷線，或是第二觸控電極導線220斷線，仍然可以用重疊於第一觸控電極100的修補結構300來修復故障的第一觸控電極100或第二觸控電極200，因此，可以提升成功修復觸控陣列基板5的機率。
圖6是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板6的上視示意圖。在此必須說明的是，圖6的實施例沿用圖5的實施例的元件標號與部分內容，其中採用相同或近似的標號來表示相同或近似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施例，在此不贅述。
請參考圖6，觸控陣列基板6包括多個第一觸控電極100、多個第二觸控電極200、多條第一觸控電極導線120以及多條第二觸控電極導線220。
在本實施例中，觸控陣列基板6的第一觸控電極導線120斷路，例如是在缺陷區DF出現斷線，導致第一觸控電極100故障。利用雷射或其他類似的手段形成熔接點W，使故障的第一觸控電極100之第一凸出部110C與修補結構300C熔接，使第一觸控電極100的第一凸出部110與修補結構300C電性連接。故障的第一觸控電極100透過修補結構300C而電性連接至第二觸控電極200C，並藉由第二觸控電極200C而被修復。
在本實施例中，是由於第一觸控電極導線120於缺陷區DF斷線導致第一觸控電極100斷路，但本發明不以此為限。在一些實施例中，第一觸控電極導線120與第一觸控電極100在連接處（例如於開口H1處）斷開造成第一觸控電極導線120斷路，並導致第一觸控電極100故障，依然可以用本實施例形成熔接點W的方式來修復故障的第一觸控電極100。
在本實施例中，熔接點W形成於第一凸出部110C，但本發明不以此為限。在一些實施例中，熔接點W形成於第一凸出部110D，第一觸控電極100透過修補結構300D而電性連接至第二觸控電極200D。在一些實施例中，熔接點W形成於第二凸出部210A，第一觸控電極100透過修補結構300A而電性連接至第二觸控電極200A。在一些實施例中，熔接點W形成於第二凸出部210B，第一觸控電極100透過修補結構300B而電性連接至第二觸控電極200B。
在本實施例的觸控陣列基板6中，當第一觸控電極100故障時，可以利用修補結構300A/300B/300C/300D電性連接故障的第一觸控電極100與第二觸控電極200A/200B/200C/200D中之其中一個，以修復故障之第一觸控電極100。
基於上述，即使第一觸控電極導線120與第一觸控電極100在連接處斷開導致第一觸控電極100故障，或第二觸控電極導線220與第二觸控電極200在連接處斷開導致第二觸控電極200故障，又或是第一觸控電極導線120斷線，或是第二觸控電極導線220斷線，仍然可以用重疊於第一觸控電極100的修補結構300來修復故障的第一觸控電極100或第二觸控電極200，因此，可以提升成功修復觸控陣列基板6的機率。
圖7A是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板7的上視示意圖。圖7B是沿著圖7A線AA’、BB’以及CC’的剖面示意圖。在此必須說明的是，圖7A、圖7B的實施例沿用圖1A、圖1B的實施例的元件標號與部分內容，其中採用相同或近似的標號來表示相同或近似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施例，在此不贅述。
請參考圖7A與圖7B，修補結構300位於絕緣層P2上，且與畫素電極PE屬於同一膜層。修補結構300例如與畫素電極PE是在同一道圖案化製程中所定義出來的。第二觸控電極200的邊緣200a包括第二凸出部210，鄰近第一觸控電極100。在本實施例中，第二凸出部210沿著方向D1延伸，但本發明不以此為限。在其他實施例中，第二凸出部210沿著方向D2延伸。修補結構300於垂直基板SB的方向D3上重疊於第一凸出部110以及第二凸出部120。
在本實施例中，第一觸控電極100與第一觸控電極導線120電性連接，第二觸控電極200與第二觸控電極導線220電性連接。第一觸控電極100與第二觸控電極200皆未發生故障。在本實施例中，第一觸控電極100及第二觸控電極200皆未發生故障，故修補結構300為浮置電極。
基於上述，當第一觸控電極導線120與第一觸控電極100在連接處斷開導致第一觸控電極100故障，或第二觸控電極導線220與第二觸控電極200在連接處斷開導致第二觸控電極200故障，又或是第一觸控電極導線120斷線，或是第二觸控電極導線220斷線，仍然可以用重疊於第一觸控電極100的修補結構300來修復故障的第一觸控電極100或第二觸控電極200，因此，可以提升成功修復觸控陣列基板7的機率。
圖8是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板8的上視示意圖。在此必須說明的是，圖8的實施例沿用圖7A、圖7B的實施例的元件標號與部分內容，其中採用相同或近似的標號來表示相同或近似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施例，在此不贅述。
在本實施例中，觸控陣列基板8的第一觸控電極導線120斷路，例如是在缺陷區DF出現斷線，導致第一觸控電極100故障。利用雷射或其他類似的手段形成熔接點W，使第一觸控電極100的第一凸出部110、第二觸控電極200的第二凸出部210以及修補結構300熔接，使第一觸控電極100的第一凸出部110、第二觸控電極200的第二凸出部210與修補結構300電性連接。第一觸控電極100透過修補結構300與第二觸控電極200而電性連接至第二觸控電極導線220。第二觸控電極導線220代替斷路的第一觸控電極導線120傳送訊號至故障的第一觸控電極100。
在本實施例中，是由於第一觸控電極導線120斷線導致第一觸控電極100斷路，但本發明不以此為限。在一些實施例中，第一觸控電極導線120與第一觸控電極100在連接處斷開（例如於開口H1的位置）造成第一觸控電極導線120斷路，並導致第一觸控電極100故障，依然可以用形成熔接點W的方式來修復故障的第一觸控電極100。
在本實施例中，形成熔接點W是為了修復故障的第一觸控電極100，但本發明不以此為限。在一些實施例中，第一觸控電極100正常運作，第二觸控電極導線220斷路導致第二電極200故障，依然可以用本實施例形成熔接點W的方式來修復故障的第二電極200。
在本實施例中，形成一個熔接點W使第一觸控電極100的第一凸出部110、第二觸控電極200的第二凸出部210以及修補結構300熔接，使第一觸控電極100的第一凸出部110、第二觸控電極200的第二凸出部210與修補結構300電性連接，但本發明不以此為限。在一些實施例中，分別在第一凸出部110與第二凸出部210處形成熔接點W，換句話說，可以形成兩個以上的熔接點以使第一凸出部110、第二觸控電極200的第二凸出部210以及修補結構300熔接，使第一觸控電極100的第一凸出部110、第二觸控電極200的第二凸出部210與修補結構300電性連接。
基於上述，即使第一觸控電極導線120與第一觸控電極100在連接處斷開導致第一觸控電極100故障，或第二觸控電極導線220與第二觸控電極200在連接處斷開導致第二觸控電極200故障，又或是第一觸控電極導線120斷線，或是第二觸控電極導線220斷線，仍然可以用重疊於第一觸控電極100的修補結構300來修復故障的第一觸控電極100或第二觸控電極200，因此，可以提升成功修復觸控陣列基板8的機率。
圖9A是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板9的上視示意圖。圖9B是沿著圖9A線AA’、BB’以及CC’的剖面示意圖。在此必須說明的是，圖9A、圖9B的實施例沿用圖7A、圖7B的實施例的元件標號與部分內容，其中採用相同或近似的標號來表示相同或近似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施例，在此不贅述。
請參考圖9A與圖9B，修補結構300位於絕緣層GI上，且資料線DL、第一觸控電極導線120、第二觸控電極導線220、源極S、汲極D以及修補結構300屬於同一膜層，也可以說資料線DL、第一觸控電極導線120、第二觸控電極導線220、源極S、汲極D以及修補結構300是在同一道圖案化製程中所定義出來的。
在本實施例中，第一觸控電極100與第一觸控電極導線120電性連接，第二觸控電極200與第二觸控電極導線220電性連接。第一觸控電極100與第二觸控電極200皆未發生故障。未故障的第一觸控電極100及/或第二觸控電極200所對應之修補結構300為浮置電極。
圖10是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板10的上視示意圖。在此必須說明的是，圖10的實施例沿用圖9A、圖9B的實施例的元件標號與部分內容，其中採用相同或近似的標號來表示相同或近似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施例，在此不贅述。
在本實施例中，觸控陣列基板10的第一觸控電極導線120斷路，例如是在缺陷區DF出現斷線，導致第一觸控電極100故障。
利用雷射或其他類似的手段形成熔接點W，使故障的第一觸控電極100的第一凸出部110、第二觸控電極200的第二凸出部210以及修補結構300熔接，使第一觸控電極100的第一凸出部110、第二觸控電極200的第二凸出部210與修補結構300電性連接。故障的第一觸控電極100透過修補結構300與第二觸控電極200而電性連接至第二觸控電極導線220，使第二觸控電極導線220代替斷路的第一觸控電極導線120傳送訊號至故障的第一觸控電極100。
在本實施例中，是由於第一觸控電極導線120斷線導致第一觸控電極導線120斷路，但本發明不以此為限。在一些實施例中，第一觸控電極導線120與第一觸控電極100在連接處（例如是開口H1的位置）斷開造成第一觸控電極導線120斷路，並導致第一觸控電極100故障，依然可以用本實施例形成熔接點W的方式來修復故障的第一觸控電極100。
在本實施例中，形成熔接點W是為了修復故障的第一觸控電極100，但本發明不以此為限。在一些實施例中，第一觸控電極100正常運作，第二觸控電極導線220斷路導致第二電極200故障，依然可以用本實施例形成熔接點W的方式來修復故障的第二電極200。
在本實施例中，形成一個熔接點W使第一觸控電極100的第一凸出部110、第二觸控電極200的第二凸出部210以及修補結構300熔接，使第一觸控電極100的第一凸出部110、第二觸控電極200的第二凸出部210與修補結構300電性連接，但本發明不以此為限。在一些實施例中，分別在第一凸出部110與第二凸出部210形成熔接點W，換句話說，可以形成兩個以上的熔接點以使第一凸出部110、第二觸控電極200的第二凸出部210以及修補結構300熔接。
基於上述，即使第一觸控電極導線120與第一觸控電極100在連接處斷開導致第一觸控電極100故障，或第二觸控電極導線220與第二觸控電極200在連接處斷開導致第二觸控電極200故障，又或是第一觸控電極導線120斷線，或是第二觸控電極導線220斷線，仍然可以用重疊於第一觸控電極100的修補結構300來修復故障的第一觸控電極100或第二觸控電極200，因此，可以提升成功修復觸控陣列基板10的機率。
圖11是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板11的上視示意圖。在此必須說明的是，圖11的實施例沿用圖10的實施例的元件標號與部分內容，其中採用相同或近似的標號來表示相同或近似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施例，在此不贅述。
請參考圖11，圖11例如是圖5A之觸控陣列基板的另外一種實施態樣，且圖11取了圖5A中之其中一個觸控電極10和相鄰於該觸控電極10上下左右的其他觸控電極做為說明。在方向D1上，第一觸控電極100位於與其相鄰的兩個第二觸控電極200A/200B之間，兩個修補結構300A/300B於基板SB上的垂直投影分別位於第一觸控電極100於基板SB上的垂直投影與兩個第二觸控電極200A/200B於基板SB上的垂直投影之間。修補結構300A/300B分別重疊於第一觸控電極100的第一凸出部110A/110B，且修補結構300A/300B分別重疊於第二觸控電極200A/200B的第二凸出部210A/210B。
在方向D2上，第一觸控電極100位於與其相鄰的另外兩個第二觸控電極200C/200D之間，另外兩個修補結構300C/300D於基板SB上的垂直投影分別位於第一觸控電極100於基板SB上的垂直投影與另外兩個第二觸控電極200C/200D於基板SB上的垂直投影之間。修補結構300C/300D分別重疊於第一觸控電極100的第一凸出部110C/110D，且修補結構300C/300D分別重疊於第二觸控電極200C/200D的第二凸出部210C/210D。
基於上述，即使第一觸控電極導線120與第一觸控電極100在連接處斷開導致第一觸控電極100故障，或第二觸控電極導線220與第二觸控電極200在連接處斷開導致第二觸控電極200故障，又或是第一觸控電極導線120斷線，或是第二觸控電極導線220斷線，仍然可以用重疊於第一觸控電極100的修補結構300來修復故障的第一觸控電極100或第二觸控電極200，因此可以提升成功修復的機率。
圖12是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板12的上視示意圖。在此必須說明的是，圖12的實施例沿用圖11的實施例的元件標號與部分內容，其中採用相同或近似的標號來表示相同或近似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施例，在此不贅述。
請參考圖12，觸控陣列基板12的第一觸控電極導線120斷路，例如是在缺陷區DF出現斷線，導致第一觸控電極100故障。
利用雷射或其他類似的手段形成熔接點W，使第一凸出部110C、第二凸出部210C與修補結構300C熔接，使第一凸出部110C、第二凸出部210C與修補結構300C電性連接。第一觸控電極100透過修補結構300C而電性連接至第二觸控電極200C，使第一觸控電極100能藉由第二觸控電極200C而被修復。
在本實施例中，是由於第一觸控電極導線120斷線導致第一觸控電極導線120斷路，但本發明不以此為限。在一些實施例中，第一觸控電極導線120與第一觸控電極100在連接處斷開造成第一觸控電極導線120斷路，並導致第一觸控電極100故障，依然可以用本實施例形成熔接點W的方式來修復故障的第一觸控電極100。
在本實施例中，熔接點W形成於第一凸出部110C與第二凸出部210C，但本發明不以此為限。在一些實施例中，熔接點W形成於第一凸出部110D與第二凸出部210D，第一觸控電極100透過修補結構300D而電性連接至第二觸控電極200D。在一些實施例中，熔接點W形成於第一凸出部110A與第二凸出部210A，第一觸控電極100透過修補結構300A而電性連接至第二觸控電極200A。在一些實施例中，熔接點W形成於第一凸出部110B與第二凸出部210B，第一觸控電極100透過修補結構300B而電性連接至第二觸控電極200B。
基於上述，即使第一觸控電極導線120與第一觸控電極100在連接處斷開導致第一觸控電極100故障，仍然可以用重疊於第一觸控電極100的修補結構300來修復故障的第一觸控電極100或第二觸控電極200，因此，可以提升成功修復觸控陣列基板12的機率。
在本發明至少一實施例的觸控陣列基板中，第一觸控電極相鄰於四個第二觸控電極，當第一觸控電極故障時，可以利用修補結構電性連接故障的第一觸控電極與相鄰的其中一個第二觸控電極，以修復故障之該第一觸控電極。
在本發明至少一實施例的觸控陣列基板中，即使觸控電極導線與觸控電極在連接處斷開導致觸控電極故障，仍然可以用重疊於觸控電極的修補結構來修復故障的觸控電極，因此可以提升成功修復觸控電極的機率。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12‧‧‧觸控陣列基板
100‧‧‧第一觸控電極
100a、200a‧‧‧邊緣
110、110A、110B、110C、110D‧‧‧第一凸出部
120‧‧‧第一觸控電極導線
200、200A、200B、200C、200D‧‧‧第二觸控電極
210、210A、210B、210C、210D‧‧‧第二凸出部
220‧‧‧第二觸控電極導線
300、300A、300B、300C、300D‧‧‧修補結構
310‧‧‧第一部分
320‧‧‧第二部分
330‧‧‧直線段
D‧‧‧汲極
D1、D2、D3‧‧‧方向
DF‧‧‧缺陷區
DL‧‧‧資料線
DR‧‧‧驅動元件
E‧‧‧觸控電極
G‧‧‧閘極
GI‧‧‧絕緣層
H1、H2、H3、H4、H5、H6、H7、O、O’、O2‧‧‧開口
M‧‧‧通道
O1‧‧‧狹縫
P1、P2、P3‧‧‧絕緣層
PE‧‧‧畫素電極
R‧‧‧觸控電極導線
S‧‧‧源極
SB‧‧‧基板
SL‧‧‧掃描線
T‧‧‧開關元件
U‧‧‧凹槽
W‧‧‧熔接點
WR‧‧‧熔接區
圖1A是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板的上視示意圖。 圖1B是沿著圖1A線AA’、BB’以及CC’的剖面示意圖。 圖2是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板的上視示意圖。 圖3A是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板的上視示意圖。 圖3B是沿著圖3A線AA’、BB’以及CC’的剖面示意圖。 圖4是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板的上視示意圖。 圖5A是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板的上視示意圖。 圖5B是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板的上視示意圖。 圖5C是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板的上視示意圖。 圖6是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板的上視示意圖。 圖7A是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板的上視示意圖。 圖7B是沿著圖7A線AA’、BB’以及CC’的剖面示意圖。 圖8是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板的上視示意圖。 圖9A是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板的上視示意圖。 圖9B是沿著圖9A線AA’、BB’以及CC’的剖面示意圖。 圖10是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板的上視示意圖。 圖11是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板的上視示意圖。 圖12是依照本發明的一實施例的一種觸控陣列基板的上視示意圖。
Claims (16)
- 一種觸控陣列基板，包括：一基板；多個開關元件，位於該基板上；多個畫素電極，分別電性連接至對應的該開關元件；一第一觸控電極與一第二觸控電極，於垂直該基板的方向上分別重疊於部分該些畫素電極，該第一觸控電極鄰近於該第二觸控電極的一邊緣具有一第一凸出部；一第一觸控電極導線與一第二觸控電極導線，於垂直該基板的方向上分別重疊於該第一觸控電極與該第二觸控電極，其中該第一觸控電極導線與該第二觸控電極導線中的至少一個與對應的該第一觸控電極或該第二觸控電極電性連接，且該第一觸控電極導線及該第二觸控電極導線係彼此平行設置；以及一修補結構，該修補結構於該基板上的垂直投影位於該第一觸控電極與該第二觸控電極於該基板上的垂直投影之間，且該修補結構與該第一觸控電極及該第二觸控電極分別部分重疊。
- 如申請專利範圍第1項所述的觸控陣列基板，其中該第二觸控電極電性連接該修補結構與該第二觸控電極導線。
- 如申請專利範圍第1項所述的觸控陣列基板，更包括：多條掃描線與多條資料線，分別與該些開關元件電性連接，其中該些資料線、該第一觸控電極導線、該第二觸控電極導線以及該修補結構屬於同一膜層。
- 如申請專利範圍第3項所述的觸控陣列基板，其中該第一觸控電極與該第一觸控電極導線電性連接，且該第一觸控電極與該修補結構電性分離。
- 如申請專利範圍第2項所述的觸控陣列基板，其中該第一觸控電極的該第一凸出部與該修補結構電性連接。
- 如申請專利範圍第2項所述的觸控陣列基板，更包括：多條掃描線與多條資料線，分別與該些開關元件電性連接，其中該些掃描線、該些資料線以及該修補結構屬於不同膜層。
- 如申請專利範圍第6項所述的觸控陣列基板，其中該第一觸控電極與該第一觸控電極導線電性連接，且該第一觸控電極與該修補結構電性分離。
- 如申請專利範圍第6項所述的觸控陣列基板，其中該第一觸控電極的該第一凸出部與該修補結構電性連接，且該修補結構電性連接該第二觸控電極。
- 如申請專利範圍第1項所述的觸控陣列基板，其中該第二觸控電極鄰近該第一觸控電極的一邊緣包括一第二凸出部，該修補結構於垂直該基板的方向上重疊於該第一凸出部以及該第二凸出部。
- 如申請專利範圍第9項所述的觸控陣列基板，其中該修補結構與該些畫素電極屬於同一膜層。
- 如申請專利範圍第10項所述的觸控陣列基板，其中該第一觸控電極與該第一觸控電極導線電性連接，該第二觸控電極與該第二觸控電極導線電性連接，且該修補結構為浮置電極。
- 如申請專利範圍第10項所述的觸控陣列基板，其中該第一凸出部以及該第二凸出部皆與該修補結構電性連接。
- 如申請專利範圍第9項所述的觸控陣列基板，更包括：多條掃描線與多條資料線，分別與該些開關元件電性連接，其中該些資料線、該第一觸控電極導線、該第二觸控電極導線以及該修補結構屬於同一膜層。
- 如申請專利範圍第13項所述的觸控陣列基板，其中該第一觸控電極與該第一觸控電極導線電性連接，該第二觸控電極與該第二觸控電極導線電性連接，且該修補結構為浮置電極。
- 如申請專利範圍第13項所述的觸控陣列基板，其中該第一凸出部以及該第二凸出部皆與該修補結構電性連接。
- 如申請專利範圍第1項所述的觸控陣列基板，更包括：多條掃描線與多條資料線，分別與該些開關元件電性連接，其中：在該些資料線的延伸方向上，該第一觸控電極位於與其相鄰的兩個第二觸控電極之間，兩個修補結構於該基板上的垂直投影分別位於該第一觸控電極於該基板上的垂直投影與該兩個第二觸控電極於該基板上的垂直投影之間；且在該些掃描線的延伸方向上，該第一觸控電極位於與其相鄰的另外兩個第二觸控電極之間，另外兩個修補結構於該基板上的垂直投影分別位於該第一觸控電極於該基板上的垂直投影與該另外兩個第二觸控電極於該基板上的垂直投影之間。
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