TWI621862B - 測試裝置 - Google Patents

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TWI621862B TW104110353A TW104110353A TWI621862B TW I621862 B TWI621862 B TW I621862B TW 104110353 A TW104110353 A TW 104110353A TW 104110353 A TW104110353 A TW 104110353A TW I621862 B TWI621862 B TW I621862B
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Abstract

一種測試裝置，用於對一主機板進行測試，該主機板上設有多個引腳，該測試裝置包括底座以及安裝於該底座上的測試部，該測試部包括活動部和固定部，該活動部包括上蓋板以及控制該上蓋板移動的氣缸；該固定部包括下蓋板、固定板和多個定位件，該下蓋板上設有與所述主機板形狀和大小相同的凹槽，所述定位件一端固定於所述固定板上，另一端穿過所述下蓋板並收納於所述凹槽內，每一定位件上均安裝有多個探針，所述上蓋板在所述氣缸的帶動下靠近下蓋板，並驅動所述下蓋板向靠近所述固定板的方向移動，使所述探針一端與所述主機板上引腳接觸。

Description

測試裝置
本發明涉及一種測試裝置，尤其涉及一種能夠在電子產品主機板進行測試時進行精密對位元的測試裝置。
電子產品以其方便、高效的優點受到了人們的歡迎，在工業生產和家庭使用中都能看到電子產品的身影。電子產品在生產過程中需要對各個部分的性能進行測試，以保證產品合格，其中，主機板作為電子產品中最重要的組成部分，其合格與否關係到產品的最終性能。現階段對主機板的測試主要是將主機板上的柔性電路手動插接到測試裝置，或者使用探針連接主機板上的電路或柔性電路的連接頭，以上測試方式都需要測試人員手動操作，在主機板集成度日益增大的今天，這樣的測試方法顯然已經不能滿足生產的要求。
有鑑於此，有必要提供一種能夠提高主機板測試效率的測試裝置，以解決上述問題。
一種測試裝置，用於對一主機板進行測試，該主機板上設有多個連接頭，每一連接頭上均設有多個引腳，該測試裝置包括底座以及安裝於該底座上的測試部，該測試部包括：活動部，該活動部包括上蓋板以及控制該上蓋板移動的氣缸；固定部，該固定部包括： 下蓋板，該下蓋板上設有與所述主機板形狀和大小相同的凹槽，該凹槽中設有多個貫穿該下蓋板的第一開口；固定板，該固定板在與所述下蓋板具有所述多個第一開口的位置一一對應的設有多個第二開口；多個定位件，該多個定位件中每一定位件一端固定於所述固定板的第二開口中，另一端穿過所述下蓋板的第一開口並收納於所述凹槽中，每一定位件設有多個通孔，每一通孔中安裝有一探針；所述上蓋板在所述氣缸的帶動下向靠近所述下蓋板的方向移動，並驅動所述下蓋板向靠近所述固定板的方向移動，使所述探針一端與所述主機板上連接頭的引腳接觸並電連接。
本發明之測試裝置，所述主機板在被所述上蓋板壓下時，所述探針即與該主機板上連接頭的引腳接觸並電連接，免去了人工連接的麻煩，提高了測試精度和生產效率。
100‧‧‧測試裝置
10‧‧‧底座
20‧‧‧測試部
21‧‧‧活動部
210‧‧‧固定件
2101‧‧‧氣缸
211‧‧‧上蓋板
2110‧‧‧滑竿
22‧‧‧固定部
220‧‧‧下蓋板
2201‧‧‧第一凹槽
2202‧‧‧第一開口
221‧‧‧固定板
2210‧‧‧第二開口
222‧‧‧轉接電路板
223‧‧‧支撐座
2230‧‧‧第二凹槽
224‧‧‧第一定位件
2241‧‧‧第一主體
2242‧‧‧第一凸出部
2243‧‧‧限位柱
2244‧‧‧第一通孔
2245‧‧‧探針
2246‧‧‧外殼
2247‧‧‧第一端部
2248‧‧‧第二端部
225‧‧‧第二定位件
2251‧‧‧第二主體
2252‧‧‧第二凸出部
2253‧‧‧限位槽
2254‧‧‧第二通孔
226‧‧‧連接柱
30‧‧‧待測主機板
31‧‧‧第一連接頭
310‧‧‧第三凹槽
311‧‧‧第三凸出部
312‧‧‧第一引腳
32‧‧‧第二連接頭
320‧‧‧第四凹槽
321‧‧‧第二引腳
圖1為本發明一實施方式中的測試裝置的立體圖。
圖2為圖1中測試部的分解圖。
圖3為圖2中第一定位件的立體圖。
圖4為圖2中第二定位件的立體圖。
圖5為本發明中使用到的待測主機板的立體圖。
圖6為圖5中第一連接頭的立體圖。
圖7為圖5中第二連接頭的立體圖。
圖8為圖2中測試部與待測主機板的組裝圖。
圖9為圖8中測試部和待測主機板沿I-I方向的部分剖視圖。
下面將結合附圖，對本發明作進一步的詳細說明。
請一併參閱圖1和圖2，本發明提供了一種測試裝置100，該測試裝置100包括底座10以及安裝於該底座10上的測試部20，該測試部20包括相對設置的活動部21和固定部22。該活動部21包括固定於測試裝置100上的固定件210以及可相對於該固定件210沿豎直方向移動的上蓋板211。在本實施方式中，活動部21一側面上設有一氣缸2101，上蓋板211上也設有滑竿2110，該滑竿2110插入氣缸2101中，進而由該氣缸2101控制上蓋板211的移動。
固定部22包括下蓋板220、固定板221、轉接電路板222和支撐座223，該下蓋板220與上蓋板211的形狀和大小相同，該下蓋板220上設有第一凹槽2201，該第一凹槽2201中開設有多個貫穿該下蓋板220的第一開口2202。
固定板221與下蓋板220的形狀和大小相同，該固定板221在與下蓋板220的第一開口2202的位置一一對應的設有多個第二開口2210。該固定板221通過多個連接柱226與下蓋板220連接，在本實施方式中，該多個連接柱226中每一連接桿上均套設有一彈簧，使下蓋板220在上蓋板211的驅動下可相對於固定板221沿軸向上下移動。
轉接電路板222固定於支撐座223上，該轉接電路板222與測試設備(圖未示)電連接，以實現資料傳輸。支撐座223上設有第二凹槽2230，該第二凹槽2230的形狀和大小與轉接電路板222相同，該轉接電路板222通過多個螺釘固定於該第二凹槽2230內。
請一併參閱圖3和圖4，固定部22還包括多個第一定位件224和第二定位件225，該第一定位件224和第二定位件225的數量總和與下蓋板220上第一開口2202的數量相同，且每個第一定位件224和每個第二定位件225的一端均固定於固定板221的第二開口2210內，另一端均穿過下蓋板220的第一開口2202並收納於第一凹槽2201中。
第一定位件224包括第一主體2241以及從該第一主體2241一端延伸出的第一凸出部2242，該第一凸出部2242在遠離第一主體2241的一端凸設有多個限位柱2243以及多個貫穿該第一凸出部2242和第一主體2241的第一通孔2244。在本實施方式中，該多個限位柱2243的數量為兩個，分別設置於第一凸出部2242的兩端，第一通孔2244設置於該兩個限位柱2243之間。
第一定位件224還包括多個探針2245，該多個探針2245的數量與第一通孔2244的數量相同，且該多個探針2245中每一探針2245均一一對應 的安裝於第一通孔2244中。在本實施方式中，每一探針2245包括外殼2246以及安裝於該外殼2246兩端的由金屬材料製成的第一端部2247和第二端部2248，該第一端部2247和第二端部2248在外殼2246內通過一金屬彈簧(圖未示)連接，使該第一端部2247和第二端部2248可在外力的驅動下在外殼2246內沿軸向移動。
第二定位件225包括第二主體2251以及從該第二主體2251一端延伸出的第二凸出部2252，該第二凸出部2252在遠離第二主體2251的一端凹設有一限位槽2253，該限位槽2253的底面上設有多個第二通孔2254，每一第二通孔2254中均安裝有一探針2245。
請一併參閱圖5、圖6和圖7，測試裝置100用於對一待測主機板30進行測試，該待測主機板30的形狀和大小與下蓋板220上的第一凹槽2201相配合，該待測主機板30上設有多個第一連接頭31和第二連接頭32，其中每一第一連接頭31和每一第二連接頭32均與該待測主機板30電連接。該第一連接頭31在一側面上設有第三凹槽310，該第三凹槽310上凸設有第三凸出部311。多個第一引腳312設置於該第一連接頭31上，每一第一引腳312一端與待測主機板30電連接，另一端固定於第三凹槽310中。
第二連接頭32在一側面上設有第四凹槽320，多個第二引腳321設置於第二連接頭32上，每一第二引腳321一端與待測主機板30電連接，另一端固定於第四凹槽320的內側壁上。
請一併參閱圖8和圖9，在對待測主機板30進行測試時，先將待測主機板30放入下蓋板220的第一凹槽2201中，此時由於下蓋板220和固定板221之間連接柱226上的彈簧彈力作用，該下蓋板220和固定板221之間具有一個較大的距離，同時探針2245一端插接在轉接電路板222上，另一端收納於下蓋板220的第一凹槽2201中。然後由氣缸2101控制上蓋板211向下移動，並將下蓋板220向下壓，下蓋板220和待測主機板30向靠近固定板221的方向移動。直到下蓋板220抵持在第一定位件224的第一主體2241或第二定位件225的第二主體2251上。此時探針2245收納於第一凹槽2201中的一端與第一連接頭31上的第一引腳312或第二連接頭32上的第二引腳321接觸並電連接，使待測主機板30與轉接電路板222進行資料交換，以測試該待測主機板30。
對於實施例中所闡述的僅是本發明的優選實施方式，應當指出，對於本領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明構思的前提下，還可以做出若干的變形和改進，這些也應該視為屬於本發明的保護範圍之內。

Claims (4)

  1. 一種測試裝置，用於對一主機板進行測試，該主機板上設有多個連接頭，每一連接頭上均設有多個引腳，其改良在於，該測試裝置包括底座以及安裝於該底座上的測試部，該測試部包括：活動部，該活動部包括上蓋板，該上蓋板在一氣缸的控制下移動；固定部，該固定部包括：下蓋板，該下蓋板上設有與所述主機板形狀和大小相同的凹槽，用於承載所述主機板於該凹槽中，該凹槽中設有多個貫穿該下蓋板的第一開口；固定板，該固定板上設有多個第二開口，該多個第二開口的位置與所述下蓋板上的多個第一開口一一對應，其中，所述下蓋板和固定板之間通過多個連接柱連接，每個連接柱上套設有一彈簧，使該下蓋板能夠在所述上蓋板的驅動下向靠近所述固定板的方向移動；多個定位件，該多個定位件中每一定位件一端固定於所述固定板的第二開口中，另一端穿過所述下蓋板的第一開口並收納於所述凹槽中，每一定位件設有多個通孔，每一通孔中安裝有一探針；所述上蓋板在所述氣缸的帶動下向靠近所述下蓋板的方向移動，並驅動所述下蓋板向靠近所述固定板的方向移動，使所述探針一端與所述主機板上連接頭的引腳接觸並電連接。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中，所述多個定位件包括多個第一定位件和多個第二定位件，該第一定位件包括第一主體以及從該第一主體上延伸出的第一凸出部，該第一凸出部上設有兩個限位柱，所述多個通孔設於該兩個限位柱之間；所述第二定位件包括第二主體以及從該第二主體延伸出的第二凸出部，該第二凸出部上設有一限位槽，所述多個通孔設於該限位槽的底面上。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中，所述探針包括外殼以及安裝於該外殼兩端的兩端部，該兩端部在所述外殼內通過一金屬彈簧連接，使該兩端部能夠在外力驅動下在所述外殼內沿軸向移動。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中，所述固定部還包括一轉接電路板，該轉接電路板固定於所述底座上並與其他測試設備連接，所述主機板在測試時，所述探針一端插接在該轉接電路板上，另一端與所述連接頭的引腳接觸並電連接。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105424987B (zh) * 2015-12-11 2019-01-01 苏州世纪福智能装备股份有限公司 电连接器电性检测夹具及电连接器电性测试系统
CN115372783A (zh) * 2016-01-15 2022-11-22 北京大基康明医疗设备有限公司 一种电路板测试装置
CN106291005A (zh) * 2016-10-17 2017-01-04 周末 一种航空电子仪器检测部件
CN107367684B (zh) * 2017-09-04 2023-10-10 歌尔科技有限公司 拼版pcba测试装置及测试方法
CN107621603B (zh) * 2017-11-08 2023-09-29 深圳市强瑞精密技术股份有限公司 一种主板mmi测试自动机构
CN108169618B (zh) * 2018-01-08 2021-02-09 四川九洲电器集团有限责任公司 一种测试装置及测试方法
CN108957241A (zh) * 2018-08-16 2018-12-07 苏州市运泰利自动化设备有限公司 定位测试装置
US10753986B2 (en) 2018-10-04 2020-08-25 Genmark Diagnostics, Inc. Systems and methods for assessing electrical connectivity between elements of assay devices
US10352983B1 (en) * 2018-10-04 2019-07-16 Genmark Diagnostics, Inc. Systems and methods for assessing electrical connectivity between elements of assay devices
CN116559628B (zh) * 2023-06-12 2024-04-30 广东汉为信息技术有限公司 一种电路板模块测试治具

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080174326A1 (en) * 2007-01-23 2008-07-24 Nictech Co., Ltd. Probe, probe assembly and probe card for electrical testing
WO2009019944A1 (ja) * 2007-08-08 2009-02-12 Syswave Corporation 半導体デバイスの試験用ソケット
TWM399987U (en) * 2010-09-02 2011-03-11 Jih Hong Electronic Co Ltd Electronic component testing mechanism
TW201302401A (zh) * 2011-07-13 2013-01-16 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 定位機構

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6005404A (en) * 1997-04-30 1999-12-21 Rpi, Inc. Environmental test apparatus with partition-isolated thermal chamber
US7084659B2 (en) * 2003-06-09 2006-08-01 Credence Systems Corporation Power supply arrangement for integrated circuit tester
CN201096804Y (zh) * 2007-07-10 2008-08-06 翔宏兴业有限公司 一种芯片测试装置
US9279852B2 (en) * 2009-11-30 2016-03-08 Essai, Inc. Systems and methods for conforming test tooling to integrated circuit device profiles with sockets having secured and replaceable bushings
US9229049B2 (en) * 2009-11-30 2016-01-05 Essai, Inc. Systems and methods for conforming test tooling to integrated circuit device profiles with compliant pedestals
CN201589822U (zh) * 2009-12-30 2010-09-22 长城信息产业股份有限公司 一种gps板卡装配前测试装置
CN202033386U (zh) * 2011-03-16 2011-11-09 华容电子（昆山）有限公司 一种液晶电视主板测试夹具
JP5685502B2 (ja) * 2011-07-25 2015-03-18 株式会社アドバンテスト コネクタ及び半導体試験装置
TW201321760A (zh) * 2011-11-18 2013-06-01 Askey Technology Jiangsu Ltd 印刷電路板測試裝置
CN103207290A (zh) * 2012-01-12 2013-07-17 瑞统企业股份有限公司 改良的电路板的测试治具结构
JP6033130B2 (ja) * 2013-03-13 2016-11-30 新光電気工業株式会社 プローブガイド板及びその製造方法
US9453875B2 (en) * 2013-10-21 2016-09-27 Dell Products L.P. Multi-stage circuit board test

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080174326A1 (en) * 2007-01-23 2008-07-24 Nictech Co., Ltd. Probe, probe assembly and probe card for electrical testing
WO2009019944A1 (ja) * 2007-08-08 2009-02-12 Syswave Corporation 半導体デバイスの試験用ソケット
TWM399987U (en) * 2010-09-02 2011-03-11 Jih Hong Electronic Co Ltd Electronic component testing mechanism
TW201302401A (zh) * 2011-07-13 2013-01-16 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 定位機構

Also Published As

Publication number Publication date
TW201544821A (zh) 2015-12-01
CN105093000A (zh) 2015-11-25
CN105093000B (zh) 2019-03-15
US9817055B2 (en) 2017-11-14
US20150331037A1 (en) 2015-11-19

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