CN108957241A - 定位测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种定位测试装置，包括上部定位结构、底座及定位块，所述底座设有导向槽，所述上部定位结构包括导向件，所述定位块设有抵触定位结构，所述定位块设有探针测试孔，所述定位块固定于所述底座，待测试连接器固定于所述导向件，所述导向件配合收容于所述导向槽进行初次定位，所述待测试连接器抵触于所述抵触定位结构进行二次定位，所述待测试连接器包括抵触片，测试探针穿过所述探针测试孔抵触于所述抵触片进行测试，实现测试探针与待测试连接器垂直接触及转接，解决了压伤产品、损坏探针、重测率偏高等问题，双次定位降低了对零部件加工精度及组装精度的要求，降低了加工成本，方便了工人师傅的操作。

Description

定位测试装置

技术领域

本发明涉及电路板测试领域，尤其涉及一种定位测试装置。

背景技术

目前，在连接器测试领域，传统的设计模式为：POGOPIN模组靠连接器外形导向定位，在受力后，POGOPIN模组的探针与产品触点接触，实现信号的传输，但该测试模式存在明显的弊端：当产品连接器因为组装精度达不到，超出POGOPIN自身可适用的偏差范围后，POGOPIN会直接压到连接器外形从而导致压伤产品、损坏探针、重测率偏高和对零部件加工精度及组装精度要求极高等问题，定位不便，给测试带来麻烦。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种定位测试装置，其能解决定位不便测试麻烦的问题。

本发明的目的之一采用如下技术方案实现：

一种定位测试装置，包括上部定位结构、底座及定位块，所述底座设有导向槽，所述上部定位结构包括导向件，所述定位块设有抵触定位结构，所述定位块设有探针测试孔，所述定位块固定于所述底座，待测试连接器固定于所述导向件，所述导向件配合收容于所述导向槽进行初次定位，所述待测试连接器抵触于所述抵触定位结构进行二次定位，所述待测试连接器包括抵触片，测试探针穿过所述探针测试孔抵触于所述抵触片进行测试。

进一步地，所述上部定位结构还包括本体，所述本体设有定位槽，所述导向件配合收容于所述定位槽。

进一步地，所述本体包括导套，所述底座还包括导柱，所述导柱配合收容于所述导套。

进一步地，所述上部定位结构还包括两个固定结构，所述固定结构包括固定板、抵触部、转动部、螺丝、转轴及弹簧，所述抵触部和所述转动部固定于所述固定板，所述抵触部通过所述螺丝可拆卸固定于所述本体，所述转动部通过所述转轴转动安装于所述本体，所述弹簧两端通过卡销分别固定于所述固定板和所述本体。

进一步地，所述底座包括四导向台，所述导向台设有倾斜面，所述上部定位结构沿所述倾斜面滑入四所述导向台之间。

进一步地，所述抵触定位结构包括第一凸起及第二凸起，所述待测试连接器配合收容于所述第一凸起及所述第二凸起之间。

进一步地，所述抵触定位结构的数量为两个，两所述抵触定位结构位于所述待测试连接器两侧。

进一步地，所述定位块还包括前端凸起及后端凸起，所述前端凸起及后端凸起分别固定于所述第一凸起及所述第二凸起之间，所述待测试连接器配合收容于所述第一凸起及所述第二凸起之间。

进一步地，所述第一凸起设有第一倾斜端面，所述第二凸起设有第二倾斜端面，所述前端凸起设有前端倾斜端面，所述后端凸起设有后端倾斜端面，所述待测试连接器抵触于所述第一倾斜端面、所述第二倾斜端面、所述前端倾斜端面及所述后端倾斜端面进行再次定位。

进一步地，所述第一倾斜端面正对所述第二倾斜端面，所述前端倾斜端面正对所述后端倾斜端面。

相比现有技术，本发明的有益效果在于：

所述定位块设有探针测试孔，所述定位块固定于所述底座，待测试连接器固定于所述导向件，所述导向件配合收容于所述导向槽进行初次定位，所述待测试连接器抵触于所述抵触定位结构进行二次定位，所述待测试连接器包括抵触片，测试探针穿过所述探针测试孔抵触于所述抵触片进行测试，实现测试探针与待测试连接器垂直接触及转接，解决了压伤产品、损坏探针、重测率偏高等问题，双次定位降低了对零部件加工精度及组装精度的要求，降低了加工成本，方便了工人师傅的操作。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

图1为本发明定位测试装置中一较佳实施例的分解图；

图2为图1所示定位测试装置的立体图；

图3为图1所示定位测试装置中一上部定位结构的立体图；

图4为图3所示定位测试装置中一固定结构的立体图；

图5为图4所示固定结构的内部结构图；

图6为图3所示上部定位结构的立体图；

图7为图6所示上部定位结构中A处的局部放大图；

图8为图6所示上部定位结构中一导向件的俯视图；

图9为图1所示定位测试装置中一定位块的立体图；

图10为图9所示定位块的另一立体图；

图11为图9所示定位块的再一立体图；

图12为图1所示定位测试装置中一底座的立体图。

图中：100、定位测试装置；10、上部定位结构；11、导向件；12、本体；121、导套；122、定位槽；13、固定结构；131、固定板；132、抵触部；133、转动部；134、螺丝；135、转轴；136、弹簧；20、底座；21、导向槽；22、导向台；221、倾斜面；23、导柱；30、待测试连接器；31、抵触片；40、定位块；41、探针测试孔；42、抵触定位结构；421、第一凸起；4211、第一倾斜端面；422、第二凸起；4311、第二倾斜端面；43、前端凸起；431、前端倾斜端面；44、后端凸起；441、后端倾斜端面。

具体实施方式

下面，结合附图以及具体实施方式，对本发明做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。

需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参阅图1-12，一种定位测试装置100包括上部定位结构10、底座20及定位块40，所述底座20设有导向槽21，所述上部定位结构10包括导向件11，所述定位块40设有抵触定位结构42，所述定位块40设有探针测试孔41，所述定位块40固定于所述底座20，待测试连接器30固定于所述导向件11，所述导向件11配合收容于所述导向槽21进行初次定位，所述待测试连接器30抵触于所述抵触定位结构42进行二次定位，所述待测试连接器30包括抵触片31，测试探针穿过所述探针测试孔41抵触于所述抵触片31进行测试，实现测试探针与待测试连接器30垂直接触及转接，解决了压伤产品、损坏探针、重测率偏高等问题，双次定位降低了对零部件加工精度及组装精度的要求，降低了加工成本，方便了工人师傅的操作。

优选的，所述上部定位结构10还包括本体12，所述本体12设有定位槽122，所述导向件11配合收容于所述定位槽122，所述本体12包括导套121，所述底座20还包括导柱23，所述导柱23配合收容于所述导套121，进一步解决了导向定位的需求，避免探针偏离，同时安装方便，避免模块过大过重带来的安装不便的问题，导向安装，降低了工人师傅的安装难度。

优选的，所述上部定位结构10还包括两个固定结构13，所述固定结构13包括固定板131、抵触部132、转动部133、螺丝134、转轴135及弹簧136，所述抵触部132和所述转动部133固定于所述固定板131，所述抵触部132通过所述螺丝134可拆卸固定于所述本体12，所述转动部133通过所述转轴135转动安装于所述本体12，所述弹簧136两端通过卡销分别固定于所述固定板131和所述本体12，当处于安装状态时，可通过所述螺丝134固定于所述本体12，所述待测试连接器30固定于所述导向件11，所述抵触部132抵触于使所述导向件11固定于所述本体12，当需要更换所述待测试连接器30时，可拆卸所述螺丝134，所述抵触部132脱离所述导向件11，安装简便。

所述底座20包括四导向台22，所述导向台22设有倾斜面221，所述上部定位结构10沿所述倾斜面221滑入四所述导向台22之间，循序渐进的安装方式，避免直接插入导致安装误差。

优选的，所述抵触定位结构42包括第一凸起421及第二凸起422，所述待测试连接器30配合收容于所述第一凸起421及所述第二凸起422之间，所述抵触定位结构42的数量为两个，两所述抵触定位结构42位于所述待测试连接器30两侧，所述定位块40还包括前端凸起43及后端凸起44，所述前端凸起43及后端凸起44分别固定于所述第一凸起421及所述第二凸起422之间，所述待测试连接器30配合收容于所述第一凸起421及所述第二凸起422之间，所述第一凸起421设有第一倾斜端面4211，所述第二凸起422设有第二倾斜端面4311，所述前端凸起43设有前端倾斜端面431，所述后端凸起44设有后端倾斜端面441，所述待测试连接器30抵触于所述第一倾斜端面4211、所述第二倾斜端面4311、所述前端倾斜端面431及所述后端倾斜端面441进行再次定位，解决了测试探针与所述待测试连接器30的测试问题，同时多次定位进一步降低了整个测试装置的加工精度，众所周知，高精度的配件每提高一次精度等级，加工费用增加很大，节约生产成本。

优选的，所述第一倾斜端面4211正对所述第二倾斜端面4311，所述前端倾斜端面431正对所述后端倾斜端面441，结构新颖，设计巧妙，适用性强，便于推广。

上述实施方式仅为本发明的优选实施方式，不能以此来限定本发明保护的范围，本领域的技术人员在本发明的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本发明所要求保护的范围。

Claims (10)

1.一种定位测试装置，包括上部定位结构、底座及定位块，其特征在于：所述底座设有导向槽，所述上部定位结构包括导向件，所述定位块设有抵触定位结构，所述定位块设有探针测试孔，所述定位块固定于所述底座，待测试连接器固定于所述导向件，所述导向件配合收容于所述导向槽进行初次定位，所述待测试连接器抵触于所述抵触定位结构进行二次定位，所述待测试连接器包括抵触片，测试探针穿过所述探针测试孔抵触于所述抵触片进行测试。

2.如权利要求1所述的定位测试装置，其特征在于：所述上部定位结构还包括本体，所述本体设有定位槽，所述导向件配合收容于所述定位槽。

3.如权利要求2所述的定位测试装置，其特征在于：所述本体包括导套，所述底座还包括导柱，所述导柱配合收容于所述导套。

4.如权利要求2所述的定位测试装置，其特征在于：所述上部定位结构还包括两个固定结构，所述固定结构包括固定板、抵触部、转动部、螺丝、转轴及弹簧，所述抵触部和所述转动部固定于所述固定板，所述抵触部通过所述螺丝可拆卸固定于所述本体，所述转动部通过所述转轴转动安装于所述本体，所述弹簧两端通过卡销分别固定于所述固定板和所述本体。

5.如权利要求1所述的定位测试装置，其特征在于：所述底座包括四导向台，所述导向台设有倾斜面，所述上部定位结构沿所述倾斜面滑入四所述导向台之间。

6.如权利要求1所述的定位测试装置，其特征在于：所述抵触定位结构包括第一凸起及第二凸起，所述待测试连接器配合收容于所述第一凸起及所述第二凸起之间。

7.如权利要求6所述的定位测试装置，其特征在于：所述抵触定位结构的数量为两个，两所述抵触定位结构位于所述待测试连接器两侧。

8.如权利要求7所述的定位测试装置，其特征在于：所述定位块还包括前端凸起及后端凸起，所述前端凸起及后端凸起分别固定于所述第一凸起及所述第二凸起之间，所述待测试连接器配合收容于所述第一凸起及所述第二凸起之间。

9.如权利要求8所述的定位测试装置，其特征在于：所述第一凸起设有第一倾斜端面，所述第二凸起设有第二倾斜端面，所述前端凸起设有前端倾斜端面，所述后端凸起设有后端倾斜端面，所述待测试连接器抵触于所述第一倾斜端面、所述第二倾斜端面、所述前端倾斜端面及所述后端倾斜端面进行再次定位。

10.如权利要求9所述的定位测试装置，其特征在于：所述第一倾斜端面正对所述第二倾斜端面，所述前端倾斜端面正对所述后端倾斜端面。