CN116559628B - 一种电路板模块测试治具 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种电路板模块测试治具，包括多条可弹性伸缩的测试探针，多条测试探针竖置，针底下方留有安装位供电路测试装置放入触通多条测试探针的针底，多条测试探针针顶所处高度不完全相同，本测试治具设有电路板定位柱对放置到测试所需的各条测试探针上方的电路板进行定位，电路板定位柱上设有供第一螺母旋入的第一螺纹，第一螺母旋入第一螺纹下压电路板使电路板把所处位置较高的针顶压低直至电路板上的测试所需的各个测试引脚分别触通测试所需的各条测试探针。本测试治具使用螺母下压电路板，如此电路板上方无压块和下压柱等遮挡物妨碍拆装模块操作，无需进行移开遮挡物操作就能拆装模块，节省了操作步骤，能简便地对模块进行拆装。

Description

一种电路板模块测试治具
技术领域
本发明涉及电路板测试技术领域，尤其涉及一种电路板模块测试治具。
背景技术
电路板出厂前需进行性能测试，测试合格后，方能出厂。电路板测试分为电路板整板测试和例如对电路板中的核心板、扩展板等模块进行的电路板模块测试。电路板整板测试，系往测试治具中置入电路板，测试完毕就取出，然后往测试治具置入另一块电路板，进行下一轮测试。电路板模块测试，系往测试治具上放置电路板后，往电路板插入模块，测试完毕就拔出，然后往电路板插入另一个模块就能进行下一轮测试。现有的测试治具包括底箱，底箱顶板设有载板和支架，支架上设有压块和快速夹，压块设有多个朝下伸出的下压柱，压块连同下压柱位于载板正上方，对准载板。使用该测试治具进行电路板整板测试，往载板中置入电路板，操作快速夹使压块带着下压柱向下移动，让下压柱向下按压电路板，这样电路板就会通电进行电路板测试，测试完毕后，操作快速夹使压块连同下压柱向上移离电路板，然后取出该电路板置入另一块电路板就能进行下一轮测试。使用该测试治具进行电路板模块测试，往载板中放置电路板，往电路板插入模块，然后操作快速夹使压块带着下压柱向下移动，让下压柱向下按压电路板，这样电路板就会通电进行电路板模块测试，测试完毕后，由于电路板上方有压块和下压柱等遮挡物遮挡，妨碍进行模块插拔操作，需操作快速夹，将压块和下压柱往上移开后，才能拔下该模块插入另一个模块进行下一轮测试，操作步骤多，不简便。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种电路板模块测试治具，其进行电路板模块测试时，电路板上方无遮挡物妨碍操作，能简便地对模块进行拆装。
为解决上述技术问题，本发明提供一种电路板模块测试治具，包括多条可弹性伸缩的测试探针，多条测试探针竖置，针底下方留有安装位供电路测试装置放入触通多条测试探针的针底，多条测试探针针顶所处高度不完全相同，本测试治具设有电路板定位柱对放置到测试所需的各条测试探针上方的电路板进行定位，电路板定位柱上设有供第一螺母旋入的第一螺纹，第一螺母旋入第一螺纹下压本发明给出的电路板使电路板把所处位置较高的针顶压低直至电路板上的测试所需的各个测试引脚分别触通测试所需的各条测试探针，则形成第一状态，第一状态下电路板上可进行模块插拔操作。
进一步地，本电路板模块测试治具亦可对电路板整板进行测试，为此设有可升降的下压装置，下压装置对放置到测试所需的各条测试探针上方的电路板进行下压使电路板上的测试所需的各个测试引脚分别触通测试所需的各条测试探针，则形成第二状态，第二状态为对电路板进行测试的工作状态；下压装置可横向移动离开。
进一步地，包括可升降的载板，载板具有供电路板放置的放置部，放置部开有第一定位孔，本发明给出的电路板定位柱往上依次穿过第一定位孔和放置在放置部的电路板实现对电路板定位，此状态下电路板定位柱上的第一螺纹裸露在电路板上方；放置部开有上下贯穿的护针孔，本发明给出的测试探针的针顶往上伸入到护针孔中，载板连同放置在放置部的电路板一起下降则测试探针的针顶裸露在载板上方供电路板上的测试引脚触通。
进一步地，设有承托载板的弹性柱；设有载板定位柱，载板定位柱设有供第二螺母旋入的第二螺纹，载板在放置部外开有第二定位孔，载板定位柱往上穿过第二定位孔对载板进行定位，此状态下载板定位柱的第二螺纹裸露在载板上方，第二螺母旋入第二螺纹克服弹性柱的弹力下压载板使护针孔内测试所需的各条测试探针的针顶裸露在载板上方，此状态下，第一螺母如上所述地旋入第一螺纹下压本发明给出的电路板使电路板上的测试所需的各个测试引脚分别触通测试所需的各条测试探针。
进一步地，载板在放置部旁侧设有防止电路板侧向偏移的侧挡部。
进一步地，在载板下方设有用于限制载板下降幅度的限位块。
进一步地，在载板下方设有针板，本发明给出的测试探针、电路板定位柱、载板定位柱设在针板上。
进一步地，包括针板，本发明给出的测试探针和电路板定位柱设在针板上。
进一步地，设有导轨以及装在导轨上可横向移动的横移座，下压装置装在横移座上实现横向移动；导轨的靠近测试探针的端部设有第一磁吸物，横移座的靠近测试探针的端部设有第二磁吸物，横移座连同下压装置横向移动至导轨的靠近测试探针的端部则被第一吸物磁吸固定住，从而使下压装置固定在测试所需的各条测试探针的正上方以准备如上所述地对放置到测试所需的各条测试探针上方的电路板进行下压。
进一步地，包括具有容物腔的底箱，本发明给出的安装位设在容物腔中，安装位中安装有本发明给出的电路测试装置，本发明给出的测试探针穿设在底箱的顶盖上，测试所需的各条测试探针的针底朝下伸入到容物腔中触通本发明给出的电路测试装置；底箱顶盖可打开让电路测试装置露出进行维护。
与现有的电路板模块测试治具使用压块和下压柱下压电路板相比，本发明的电路板模块测试治具使用螺母下压电路板，如此电路板上方无压块和下压柱等遮挡物妨碍拆装模块操作，无需进行移开遮挡物操作就能拆装模块，节省了操作步骤，能简便地对模块进行拆装。具体测试操作如下：把电路板的定位孔对准电路板定位柱放到测试所需的测试探针上方，往电路板定位柱的第一螺纹顶部旋入第一螺母下压电路板，使电路板把所处位置较高的针顶压低，直至电路板上测试所需的各个测试引脚触通测试所需的各条测试探针，然后往电路板上插入模块就能进行模块测试了。该模块测试完毕，因为电路板上方没有压块和下压柱等遮挡物遮挡，所以可直接拔下模块插入另一个模块从而进行下一轮测试。
附图说明
图1是电路板模块测试治具的立体示意图，图中压块远离载板上方；
图2是电路板模块测试治具的立体示意图，图中压块移至载板正上方；
图3是电路板模块测试治具打开底箱的示意图；
图4是电路板模块测试之前，载板和针板的立体示意图；
图5是图4的主视示意图，图中隐藏了直线轴承组件；
图6是往第二螺纹旋入第二螺母后的示意图，图中隐藏了直线轴承组件；
图7是往图6中的第一螺纹旋入第一螺母后的示意图；
图8是底箱的立体示意图。
附图标记说明：1、底箱；101、顶盖；102、容物腔；103、穿通口；104、针板定位柱；2、横移座；3、快速夹；4、压板；5、压块；6、下压柱；7、针板；8、载板；9、电路板；91、引脚；10、载板定位柱；11、电路板定位柱；12、弹性柱；13、限位块；14、调平垫脚；15、活动板；16、直线导轨；17、滑块；181、前挡块；182、后挡块；19、合叶；20、直线轴承；21、导向轴；22、护针孔；23、测试探针；241、第一螺纹；242、第一螺母；251、第二螺纹；252、第二螺母；26、第一拉紧扣；27、第二拉紧扣；28、放置部；281、侧挡部。
具体实施方式
以下结合具体实施方式对本发明创造作进一步详细说明。
本实施例给出的测试治具可进行电路板模块测试和电路板整板测试。见图1，本测试治具包括底箱1，底箱1设有顶盖101，见图3，顶盖101通过底箱1后壁上的合叶19实现开合。合上后见图1，底箱1上设有第一拉紧扣26，第一拉紧扣26把顶盖101前端固定在底箱1上。见图3，底箱1具有容物腔102，可内置收纳测试所需的电路测试装置，即容物腔102中设有电路测试装置安装位。顶盖101上设有针板7，见图5，针板7上穿设有多条可弹性伸缩的双头测试探针23，各条测试探针23竖置，各条测试探针23针顶所处高度不完全相同。见图8，顶盖101上开有连通容物腔102的穿通口103。测试探针23针底朝下穿过穿通口103伸入到容物腔102中。见图8，顶盖101在穿通口103边沿外侧设有针板定位柱104。针板7相应地开有第三定位孔，针板定位柱104朝上穿过第三定位孔对针板7进行定位。见图4，本测试治具在针板7的上方设有载板8。针板7上设有可上下弹性伸缩的弹性柱12，弹性柱12托起载板8。载板8具有供电路板放置的放置部28，在放置部28旁侧设有防止电路板侧向偏移的侧挡部281。放置部28开有上下贯通的护针孔22。见图5，测试探针23针顶朝上伸入到护针孔22中内藏。针板7上设有电路板定位柱11，放置部28开有第一定位孔，电路板定位柱11朝上穿过第一定位孔，如图6所示，进而穿过放置在放置部28中的电路板9上的定位孔，对电路板9进行定位。电路板定位柱11外侧壁设有第一螺纹241，该第一螺纹241的顶部裸露在放置部28的上方。见图4、6，针板7上设有载板定位柱10，载板8在放置部28外开有第二定位孔，载板定位柱10朝上穿过第二定位孔对载板8进行定位。载板定位柱10外侧壁设有第二螺纹251，该第二螺纹251的顶部裸露在载板8的上方。见图4，针板7上设有上下两端开口的筒状直线轴承20，该直线轴承20下端口朝下穿过穿通口103伸入到底箱1的容物腔102中，上端口平齐于针板7上表面。载板8在放置部28外设有导向轴21，导向轴21朝下插入直线轴承20中。载板8通过导向轴21和直线轴承20实现平稳升降。见图1，本测试治具包括下压装置和快速夹3，下压装置包括压板4和压块5，压块5顶部通过铜柱可拆卸地固定在压板4底部，压块5底部设有多根朝下伸出的下压柱6。快速夹3底部固定在压板4上，快速夹3以向下按压压板4的方式驱动压板4带着压块5连同下压柱6下降。顶盖101上设有可前后横向移动的横移座2。下压装置设在横移座2上，通过横移座2实现前后横向移动。顶盖101上相应地设有前后横向放置的直线导轨16，横移座2通过滑块17在直线导轨16上实现前后横向移动。直线导轨16前端设有前挡块181，后端设有后挡块182，前挡块181后端和后挡块182前端各自设有第一磁吸物质（未图示），滑块17的前端和后端亦各设有第二磁吸物质（未图示）。为了让直线导轨16后端远离载板8，顶盖101后端往后延伸，位于底箱1后壁的后方，如此直线导轨16后端设在顶盖101后端位置处，就会远离载板8。从顶盖101后端向下伸出有调平垫脚14，利用调平垫脚14可以把顶盖101的后端调至与前端水平。
使用本测试治具进行电路板模块测试，操作如下：打开顶盖101，如图3所示，然后往底箱1容物腔102中置入用于对电路板模块进行测试的第一电路测试装置，让第一电路测试装置电连接测试所需的测试探针23针底。合上顶盖101，往载板定位柱10的第二螺纹251的顶部旋入第二螺母252，如图6所示，第二螺母252克服弹性柱12的弹力往下压使载板8下降，直至测试所需的各条测试探针23针顶从护针孔22中露出到载板8上方。针板7上设有用于限制载板8下降幅度的限位块13，可避免第二螺母252过度下压载板8导致电路板变形。然后，往测试治具上放置电路板9，直至电路板9支撑在所处位置较高的针顶上，此过程中电路板定位柱11会穿过电路板9的定位孔，电路板定位柱11的第一螺纹241的顶部就会裸露在电路板9的上方，如图6所示。然后往电路板定位柱11的第一螺纹241的顶部旋入第一螺母242，第一螺母242往下压电路板9使电路板9把所处位置较高的针顶压低，直至电路板9上的测试所需的各个测试引脚91分别触通测试所需的各条测试探针23，形成如图7所示的第一状态，此状态下可往电路板9上插入例如扩展卡、核心板等电路板模块进行电路板模块测试。测试完毕就拔下该电路板模块，插入另一块电路板模块，进行下一轮电路板模块测试。全部模块测试完毕，就取下第一螺母242和第二螺母252，让载板8和测试探针23上升复位，如图5所示，然后取下电路板9。
以上是对电路板模块测试的操作过程，如需对电路板整板进行测试，则操作如下：打开顶盖101，取出第一电路测试装置，往底箱1容物腔102中置入用于对电路板整板进行测试的第二电路测试装置。操作横移座2使横移座2带着下压装置向前横向移动至电路板9的正上方，如图2所示，前挡块181后端的第一磁吸物质就会把滑块17前端的第二磁吸物质磁吸固定住，让下压装置就固定在电路板9的正上方。然后操作快速夹3使压块5带着下压柱6下降从而下压电路板9，此过程中载板8被间接下压遂下降，使测试所需的各条测试探针23的针顶露出，电路板9就能接触到测试所需测试探针23的针顶，并把所处位置较高的针顶压低，直至电路板9上的测试所需的各个测试引脚91分别触通测试所需的各条测试探针23，形成第二状态（未图示），此状态为对电路板9进行整板测试的工作状态。测试完毕，就操作快速夹3使压块5带着下压柱6上升复位离开电路板9，则弹性柱12、载板8、导向轴21和被压低的测试探针23也上升复位至图2所示的状态，就取出该电路板9，然后放入另一块电路板，进行下一轮电路板整板测试。此乃对电路板整板测试的操作过程，如需进行电路板模块测试，则操作横移座2使横移座2带着下压装置向后横向移动远离电路板9上方，后挡块182前端的第一磁吸物质就会把滑块17后端的第二磁吸物质磁吸固定住，让下压装置固定在此远离电路板9上方的位置处，如图1所示。此状态下电路板9上方无下压装置遮挡，释放操作空间，便于在电路板9上进行电路板模块插拔操作。移开下压装置后，可使用第二螺母252、第一螺母242分别对载板8、电路板9进行下压，具体操作可按照上段所述的电路板模块测试操作进行，在此不作过多赘述。
电路测试装置不工作的状态下，操作人员可如图3所示地原地打开顶盖101对电路测试装置进行维护，为此需先收起调平垫脚14。为了让调平垫脚14能够收起，见图1，本实施例在顶盖101后端设有活动板15，调平垫脚14设在该活动板15上。活动板15上设有第二拉紧扣27，第二拉紧扣27把活动板15固定在顶盖101后端。活动板15后壁上开有与后挡块182对应的扣接孔（未图示）。操作者解开第二拉紧扣27，让活动板15带着调平垫脚14往后翻转，即可收起调平垫脚14，然后让所述的扣接孔卡住后挡块182，即可让调平垫脚14固定为收起状态，无需人手扶持。
如上所述仅为本发明创造的实施方式，不以此限定专利保护范围。本领域技术人员在本发明创造的基础上作出非实质性的变化或替换，仍落入专利保护范围。

Claims (6)

1.一种电路板模块测试治具，包括多条可弹性伸缩的测试探针(23)，多条测试探针(23)竖置，针底下方留有安装位供电路测试装置放入触通多条测试探针(23)的针底，多条测试探针(23)针顶所处高度不完全相同；包括具有容物腔(102)的底箱(1)，所述的安装位设在容物腔(102)中，安装位中安装有所述的电路测试装置，底箱(1)顶盖(101)上设有针板(7)，所述的测试探针(23)穿设在针板(7)上，测试所需的各条测试探针(23)的针底朝下伸入到容物腔(102)中触通所述的电路测试装置；针板(7)上方设有可升降的载板(8)，载板(8)具有供电路板放置的放置部(28)；针板(7)上设有电路板定位柱(11)，放置部(28)开有第一定位孔，所述的电路板定位柱(11)往上依次穿过第一定位孔和放置在放置部(28)的电路板对电路板进行定位；放置部(28)开有上下贯穿的护针孔(22)，所述的测试探针(23)的针顶往上伸入到护针孔(22)中，载板(8)连同放置在放置部(28)的电路板一起下降则测试探针(23)的针顶裸露在载板(8)上方供电路板上的测试引脚(91)触通；针板(7)上设有承托载板(8)的弹性柱(12)；针板(7)上设有载板定位柱(10)，载板(8)在放置部(28)外开有第二定位孔，载板定位柱(10)往上穿过第二定位孔对载板(8)进行定位，其特征在于：
电路板定位柱(11)上设有供第一螺母(242)旋入的第一螺纹(241)，电路板定位柱(11)对电路板定位的状态下，电路板定位柱(11)上的第一螺纹(241)裸露在电路板上方，第一螺母(242)旋入第一螺纹(241)下压所述的电路板使电路板把所处位置较高的针顶压低直至电路板上的测试所需的各个测试引脚(91)分别触通测试所需的各条测试探针(23)，则形成第一状态，第一状态下电路板上可进行模块插拔操作；
载板定位柱(10)设有供第二螺母(252)旋入的第二螺纹(251)，载板定位柱(10)对载板(8)定位的状态下，载板定位柱(10)的第二螺纹(251)裸露在载板(8)上方，第二螺母(252)旋入第二螺纹(251)克服弹性柱(12)的弹力下压载板(8)使护针孔(22)内测试所需的各条测试探针(23)的针顶裸露在载板(8)上方，此状态下，第一螺母(242)旋入第一螺纹(241)下压所述的电路板使电路板上的测试所需的各个测试引脚(91)分别触通测试所需的各条测试探针(23)。
2.根据权利要求1所述的电路板模块测试治具，其特征在于：本电路板模块测试治具亦可对电路板整板进行测试，为此设有可升降的下压装置，下压装置对放置到测试所需的各条测试探针(23)上方的电路板进行下压使电路板上的测试所需的各个测试引脚(91)分别触通测试所需的各条测试探针(23)，则形成第二状态，第二状态为对电路板进行测试的工作状态；下压装置可横向移动离开。
3.根据权利要求1所述的电路板模块测试治具，其特征在于：载板(8)在放置部(28)旁侧设有防止电路板侧向偏移的侧挡部(281)。
4.根据权利要求1所述的电路板模块测试治具，其特征在于：在载板(8)下方设有用于限制载板(8)下降幅度的限位块(13)。
5.根据权利要求2所述的电路板模块测试治具，其特征在于：底箱(1)顶盖(101)上设有导轨(16)以及装在导轨(16)上可横向移动的横移座(2)，下压装置装在横移座(2)上实现横向移动；导轨(16)的靠近测试探针(23)的端部设有第一磁吸物，横移座(2)的靠近测试探针(23)的端部设有第二磁吸物，横移座(2)连同下压装置横向移动至导轨(16)的靠近测试探针(23)的端部则被第一吸物磁吸固定住，从而使下压装置固定在测试所需的各条测试探针(23)的正上方以对放置到测试所需的各条测试探针(23)上方的电路板进行下压。
6.根据权利要求1所述的电路板模块测试治具，其特征在于：底箱(1)顶盖可打开让电路测试装置露出进行维护。
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