CN103837817A - Pcb板推块两段式测试结构 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种PCB板推块两段式测试结构，包括沿厚度方向上顺序设置的载板、限位板和针板，载板和限位板之间具有供真空吸合的间隙，载板背向限位板的一侧用于放置待测PCB板，对应待测PCB板上多次测试时始终需要探针接触的待测试针点，针板厚度方向上穿设有长探针，对应待测PCB板上多次测试时不需要探针始终接触的待测试针点，针板厚度方向上设有短探针，真空吸合时，限位板能够使长探针和短探针同时穿过探针通孔触及待测试针点和仅使长探针穿过探针通孔触及待测试针点，具有结构简单，便于操作实施的优点，能够确保在一次测试之后，按照测量要求很方便的将会干扰或不需测试的探针脱离，方便二次测试的进行，确保二次测试的结果。
Description
技术领域
本发明涉及一种PCB板测试装置，具体是涉及一种PCB板推块两段式测试结构。
背景技术
PCB板在生产过程中需要经历很多环节，其中每个环节都需要进行相应的测试来检测产品的好坏，PCB板测试治具为PCB板的测试提供一个良好的平台，基本工作原理是利用将PCB板上的待测点与测试机中的对应点相连接，通过相应的程序来实现最终的测试。
真空治具是PCB板测试常用的治具，主要包括上、下模和底框三部分，上、下模主要包括上、下针板、上、下载板、探针组件及密封组件，底框内含界面版，上、下载板用于保护待测PCB板和导正测试针点，上、下针板用于固定加长探针和普通探针等探针组件，密封组件用于上下模结合时确保治具内部处于密封状态，上、下模的测试针点与界面板上的针点用导线连接，界面板上的针点再与测试机上的针点一一对应，但是，随着PCB板功能越来越强，线路结构也越复杂，需要测试的点也越来越多，而相应的真空治具的测试探针也越来越多，因此，经常会遇到一些测试过程中存在一些会干扰和不需测试的探针接触PCB板的情况，进而影响其他探针的测试结果，现有技术解决上述问题的方法是使用人工一一拔除这些干扰和不需测试的探针，再进行测试，需要时再重新插回去，这种方式会造成对产品测试的测试零件的含盖率不足，且在插拔探针过程中，容易使针套偏移，造成探针无法准备接触测试点，影响测试结果。也有采用两段式的测试治具，设置固定针板和活动针板，多次测试时始终接触到测试针点的探针设为固定探针，固定在固定针板上，在一些测试过程中会干扰的或不需测试探针设为活动探针，固定在活动针板上，通过调整活动针板相对测试点的距离来调整探针是否与测试点接触，从而一定程度上解决了测试过程中所有探针同时接触PCB板影响测试结果的问题，但是这种方式需要设置固定针板和活动针板，活动针板通过一定的驱动机构带动，这种结构较为复杂，实施起来带来很多不便。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明提出一种PCB板推块两段式测试结构，具有结构简单，便于操作实施的优点，且通过设置长、短探针结合限位板的限位作用，可以精确控制真空吸合时针板和载板间距离，从而能够确保在一次测试之后，按照测量要求很方便的将会干扰或不需测试的探针脱离，方便二次测试的进行，确保二次测试的结果。
本发明的技术方案是这样实现的：
一种PCB板推块两段式测试结构，包括沿厚度方向上顺序设置的载板、限位板和针板，所述载板和所述限位板之间具有供真空吸合的间隙，所述载板背向所述限位板的一侧用于放置待测PCB板，对应待测PCB板上多次测试时始终需要探针接触的待测试针点，所述针板厚度方向上穿设有长探针，对应待测PCB板上多次测试时不需要探针始终接触的待测试针点，所述针板厚度方向上设有短探针，对应每一个探针，所述载板和所述限位板上设有相匹配的探针通孔，真空吸合时，所述限位板能够使所述长探针和所述短探针同时穿过所述探针通孔触及所述待测试针点和仅使所述长探针穿过所述探针通孔触及所述待测试针点。
作为本发明的进一步改进，真空吸合时，所述限位板能够使所述长探针和所述短探针同时穿过所述探针通孔触及所述待测试针点和仅使所述长探针穿过所述探针通孔触及所述待测试针点的结构是：所述载板朝向所述限位板的一侧固设有若干个限位柱，对应每一个限位柱，所述限位板上设有与所述限位柱匹配的限位通孔，所述针板上设有与所述限位柱匹配的限位槽，另设有若干个驱动机构，所述驱动机构能够择一驱动所述限位板沿所述针板长度和宽度方向上运动，使所述限位柱、限位通孔和限位槽位于同一线上和不在同一线上。
作为本发明的进一步改进，设有两个所述驱动机构，所述驱动机构为气缸。
本发明的有益效果是：本发明提供一种PCB板推块两段式测试结构，包括沿厚度方向上顺序设置的载板、限位板和针板，所述载板和所述限位板之间具有供真空吸合的间隙，所述载板背向所述限位板的一侧用于放置待测PCB板，对应待测PCB板上多次测试时始终需要探针接触的待测试针点，所述针板厚度方向上穿设有长探针，对应待测PCB板上多次测试时不需要探针始终接触的待测试针点，所述针板厚度方向上设有短探针，对应每一个探针，所述载板和所述限位板上设有相匹配的探针通孔，真空吸合时，所述限位板能够使所述长探针和所述短探针同时穿过所述探针通孔触及所述待测试针点和仅使所述长探针穿过所述探针通孔触及所述待测试针点，这样，通过长探针和短探针的设置结合限位板的限位作用，可以将多次测试时始终需要接触的待测试针点与多次测试时不需要始终接触的待测试针分为两段进行测试，从而能够确保在一次测试之后，按照测量要求很方便的将会干扰或不需测试的探针脱离，方便二次测试的进行，确保二次测试的结果，特别的，限位板的运动通过气缸驱动，能够自动化精确控制探针的行程，且本发明具有结构简单，便于操作实施的优点。
附图说明
图1为本发明结构示意图（真空吸合前，长探针和短探针均未触及待测PCB板的待测试针点）；
图2为本发明第一次测试时的结构示意图（真空吸合后，长探针和短探针同时触及待测PCB板的待测试针点）。
图3为本发明第二次测试时的结构示意图（真空吸合后，仅长探针触及待测PCB板的待测试针点）。
结合附图，作以下说明：
1——载板 2——限位板
3——针板 4——间隙
5——待测PCB板 6——长探针
7——短探针 11——限位柱
21——限位通孔 31——限位槽
具体实施方式
如图1、图2和图3所示，一种PCB板推块两段式测试结构，包括沿厚度方向上顺序设置的载板1、限位板2和针板3，所述载板和所述限位板之间具有供真空吸合的间隙4，所述载板背向所述限位板的一侧用于放置待测PCB板5，对应待测PCB板上多次测试时始终需要探针接触的待测试针点，所述针板厚度方向上穿设有长探针6，对应待测PCB板上多次测试时不需要探针始终接触的待测试针点，所述针板厚度方向上设有短探针7，对应每一个探针，所述载板和所述限位板上设有相匹配的探针通孔，真空吸合时，所述限位板能够使所述长探针和所述短探针同时穿过所述探针通孔触及所述待测试针点和仅使所述长探针穿过所述探针通孔触及所述待测试针点，这样，通过长探针和短探针的设置结合限位板的限位作用，可以将多次测试时始终需要接触的待测试针点与多次测试时不需要始终接触的待测试针分为两段进行测试，从而能够确保在一次测试之后，按照测量要求很方便的将会干扰或不需测试的探针脱离，方便二次测试的进行，确保二次测试的结果。
优选的，真空吸合时，所述限位板能够使所述长探针和所述短探针同时穿过所述探针通孔触及所述待测试针点和仅使所述长探针穿过所述探针通孔触及所述待测试针点的结构是：所述载板朝向所述限位板的一侧固设有若干个限位柱11，对应每一个限位柱，所述限位板上设有与所述限位柱匹配的限位通孔21，所述针板上设有与所述限位柱匹配的限位槽31，另设有若干个驱动机构，所述驱动机构能够择一驱动所述限位板沿所述针板长度和宽度方向上运动，使所述限位柱、限位通孔和限位槽位于同一线上和不在同一线上。
优选的，设有两个所述驱动机构，所述驱动机构为气缸。
本发明PCB板推块两段式测试结构适用于PCB板真空治具，具体工作原理如下：
PCB板测试前，载板、限位板和针板顺序设置，将PCB板置于载板背向限位板的一侧上，处于初始静止状态，此时，载板与针板之间具有供真空吸合的间隙，载板的限位柱、限位板的限位通孔和针板的限位槽位于同一线上，长探针和短探针均未触及待测PCB的待测点，驱动机构气缸与限位板连接；第一次测试时，进行真空吸合，在真空吸合的作用下，载板和限位板之间的间隙缩小，限位柱朝向限位板和针板运动，并穿过限位板上的限位通孔，进入针板上的限位槽内，在限位柱运动的同时，置于载板上的待测PCB板随同载板朝向长探针和短探针运动，长探针和短探针穿过限位板和载板上探针通孔同时触及待测PCB板的待测点，进行第一次测试；第一次测试完成后，放掉真空，各机构回到初始静止状态，进行第二次测试时，启动驱动机构气缸，气缸作动，驱动限位板沿针板长度或者宽度方向上运动一定距离，使限位柱、限位通孔和限位槽不在同一线上，即限位板上的限位通孔与限位柱和定位槽错开，限位板盖住载板上的限位槽，使限位柱的行程将缩短，同时，也就缩短了载板和置于其上的待测PCB板的行程，由于限位板的厚度与长探针和短探针的落差是预先匹配好的，因此，可以确保只有长探针能够触及待测PCB板的待测试针点，而短探针无法触及，再次真空吸合，从而完成第二次测试。
以上实施例是参照附图，对本发明的优选实施例进行详细说明，本领域的技术人员通过对上述实施例进行各种形式上的修改或变更，但不背离本发明的实质的情况下，都落在本发明的保护范围之内。
Claims (3)
1.一种PCB板推块两段式测试结构，其特征在于：包括沿厚度方向上顺序设置的载板（1）、限位板（2）和针板（3），所述载板和所述限位板之间具有供真空吸合的间隙（4），所述载板背向所述限位板的一侧用于放置待测PCB板（5），对应待测PCB板上多次测试时始终需要探针接触的待测试针点，所述针板厚度方向上穿设有长探针（6），对应待测PCB板上多次测试时不需要探针始终接触的待测试针点，所述针板厚度方向上设有短探针（7），对应每一个探针，所述载板和所述限位板上设有相匹配的探针通孔，真空吸合时，所述限位板能够使所述长探针和所述短探针同时穿过所述探针通孔触及所述待测试针点和仅使所述长探针穿过所述探针通孔触及所述待测试针点。
2.根据权利要求1所述的PCB板推块两段式测试结构，其特征在于：真空吸合时，所述限位板能够使所述长探针和所述短探针同时穿过所述探针通孔触及所述待测试针点和仅使所述长探针穿过所述探针通孔触及所述待测试针点的结构是：所述载板朝向所述限位板的一侧固设有若干个限位柱（11），对应每一个限位柱，所述限位板上设有与所述限位柱匹配的限位通孔（21），所述针板上设有与所述限位柱匹配的限位槽（31），另设有若干个驱动机构，所述驱动机构能够择一驱动所述限位板沿所述针板长度和宽度方向上运动，使所述限位柱、限位通孔和限位槽位于同一线上和不在同一线上。
3.根据权利要求1所述的PCB板推块两段式测试结构，其特征在于：设有两个所述驱动机构，所述驱动机构为气缸。
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