CN201053973Y - 两段式测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种两段式测试治具，用以测试电子线路集成板，包括上下模、上下载板(10)、上下固定针板(21)、探针组件及定位系统，载板(10)用以保护待测板(50)和导正测试针点，探针组件包括探针(30)、针套(35)，由复位弹簧(40)确保每次测试完后探针(30)和载板(10)复位，治具还装设有上下活动针板(22)，多次测量时始终接触到测试针点的固定探针(31)通过其针套环固定在固定针板(21)上，在一些测试过程中会干扰的或不需测试的活动探针(32)通过其针套环固定在活动针板(22)上。本实用新型在使用中能按测量要求很方便地使会干扰或不须测试的探针脱离，能方便二次测量；在使用中探针不易偏移且有自动导正作用。

Description

两段式测试治具

技术领域

本实用新型涉及一种治具，尤其是一种两段式测试治具。

背景技术

电子线路集成板(PCB板)在生产过程中需要经历很多的环节，每一环节都需要有相应的测试仪器来检测产品的好坏。治具是一个提供PCB板测试的平台，其工作原理是利用探针将PCB板上的待测点与测试机器中的对应点导通，通过调用测试机器中对应的程序来实现最终的测试。

现有的治具一般分为上下模、上下载板、针板、各类定位系统、探针组件及输出牛角。治具通过其天板和底框固定在测试机器上的，上下载板用来保护待测板和导正测试针点，定位系统是确保待测点与探针能准确的定位，牛角是用来转接探针与测试机台中的对应点。现有治具的结构如图1、图2、图3所示。探针组件包括探针和针套，探针是通过针套环固定在针板上的，复位弹簧确保每次测试完后探针和载板都能复位。

但是，现有结构的治具在使用中还存在一些问题：

①使用于ATE(or ICT)的Power on(上电)测试：在所有ATE(orICT)测试机都有上电测试的功能，Power on后可以使UUT(待测板)局部上电后进行数字组件的功能测量。近些年，电路板功能越来越强，线路结构越复杂，也越讲究省电功能(工作电压也越低)；当ATE治具压合测试到Power on阶段，某些数字组件会因特定Nets(线路节点)接触探针致使阻抗增加，引发保护功能致使该类组件因无法得到额定的工作电压而无法进行功能测试。

使用原有治具时的传统解决方式：是用人工把这些针点一一拔除，再进行测试，这样做的不利因素是：如果把这些针点一一拔除，会造成对产品测试的测试零件的含盖率不足，产生有些零件无法测试对产品良率间接造成影响。另外，在插拔探针时，容易使针套偏移，造成探针无法准确接触测试点，影响测试结果。

②使用于MDA测试(泛指静态、不上电的测试)合并ATX(局部线路电压测量)测试：此类电子厂的测试流程是将MDA测试，与局部线路电压测量(ATX)分成两个站别进行测试。如能将上述两站合并，即可减少测试成本(测试机器+治具+劳务)，又可缩短测试时间。

实用新型内容

本实用新型的目的是：提供一种两段式测试治具，在使用中能按测量要求很方便地使已设定的会干扰或不须测试的探针脱离，能方便进行二次测量；并且，在使用中探针不易偏移且有自动导正作用。

本实用新型的技术方案是：一种两段式测试治具，用以测试电子线路集成板，包括上下模、上下载板、上下固定针板、探针组件及各类定位系统，所述载板用以保护待测板和导正测试针点，所述探针组件包括探针、针套，由复位弹簧确保每次测试完后探针和载板复位，治具还包括装设有上下活动针板，多次测量时始终接触到测试针点的探针通过其针套环固定在固定针板上，在一些测试过程中会干扰的或不需测试的探针通过其针套环固定在活动针板上。

所述上下活动针板各设置有汽缸带动其运动。

本实用新型的两段式治具与现有技术中类似治具相比，其优点是：

1.当治具在DEBUG(第二次测量)时，可将已设定后会干扰或不须测试的探针脱离，方便DEBUG。

2.当DEBUG时发现探针错位时，可将针套移除，另换针套环不同高度的针套，将其重新敲入，且敲套高度同其它针套保持不变，如原本固定在固定针板上的探针，其中有一些会干扰或不须测试的探针，将其拔出，换上另一种针套环较深的针套，将其敲入，因为所有针套高度一致，所以此针套的环将卡在活动针板上，因此当活动针板向下移动时，此针套将变为脱离测试板，同理可用于将脱离的探针改为在固定针板上要测试的探针。

3.当活动针板在移动时，所有针套(固定针板上的针套及活动针板上的针套)都保持在针板的孔内，可使针点不易偏移且有自动导正作用。

情况如下：活动针板上的针套上下移动时，针套前端保持在固定针板的针套孔内，因此，固定针板的针套孔内壁可限制活动针板上的针套偏移，因此可导正活动的探针，使其偏移量固定于公差的范围内。

活动针板在上下移动时，固定针板上的针套后端保持在活动针板的针套孔内，因此，活动针板的针套孔内壁可限制固定针板上的针套偏移，因此可导正固定针板的探针，使其偏移量固定于公差的范围内。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的描述：

图1为现有技术治具的结构示意图；

图2为图1治具从另一方向观察的结构示意图；

图3为现有技术治具的局部示意图；

图4为本实用新型的结构示意图；

图5为本实用新型治具的局部示意图；

图6为本实用新型治具第一次测试时的示意图(局部)；

图7为本实用新型治具第二次测试时的示意图(局部)。

其中：10载板；20固定针板；21固定针板；22活动针板；30探针；31固定探针；32活动探针；35针套；36针套环；37针套环；40复位弹簧；50待测板；51待测点；60接地板；70汽缸；80垫片；81天板；82底框；83上支撑柱；84累计记数器；88牛角；89针板导柱。

具体实施方式

实施例：如图4、图5所示，一种两段式测试治具，用以测试电子线路集成板，包括上下模、上下载板10、上下固定针板21、上下活动针板22、探针组件及各类定位系统及输出牛角88。

图4所示的天板81和底框82是固定在测试机器上的，上下载板10用来保护待测板50和导正测试针点，探针组件包括探针30、针套35，由复位弹簧40确保每次测试完后探针30和载板10复位，定位系统是确保待测点51与探针30能准确的定位，牛角88是用来转接探针30与测试机台中的对应点。

多次测量时始终接触到测试针点的固定探针31通过其针套环36固定在固定针板21上，在一些测试过程中会干扰的或不需测试的活动探针32通过其针套环37固定在活动针板22上。

上下活动针板22各设置有汽缸70带动其运动，利用汽缸70控制活动针板22的高度。

本实用新型利用固定针板21、活动针板22高度产生的落差，使会干扰的或不须测试的活动探针32向下移动以达到目的。

其测量过程图6、图7所示：

1、如图6所示，当固定针板21和活动针板22贴合时，所有探针针点高度相同，其利用针套环位置的不同，将需固定的固定探针31(始终接触到测试针点的探针)固定于固定针板21上，将需脱离的活动探针32(在一些测试过程中会干扰的或不需测试)固定在活动针板22上。

2、如图7所示，当固定针板21和活动针板22(利用汽缸70向下移动)，上下产生一定的高度时，活动针板22上的活动探针32便无法再接触到待测板50上的针点，于是只有固定针板21上的固定探针31接触到测试点51，而不需测试的或会干扰的活动探针32向下移开，达到第二次测试的条件。

当然，本实用新型的两段式测试治具还可具有多种变换及改型，并不局限于上述实施方式的具体结构。总之，本实用新型的保护范围应包括那些对于本领域普通技术人员来说显而易见的变换或替代以及改型。

Claims (2)

1.一种两段式测试治具，用以测试电子线路集成板，包括上下模、上下载板(10)、上下固定针板(21)、探针组件及各类定位系统，所述载板(10)用以保护待测板(50)和导正测试针点，所述探针组件包括探针(30)、针套(35)，由复位弹簧(40)确保每次测试完后探针(30)和载板(10)复位，其特征在于：治具还包括装设有上下活动针板(22)，多次测量时始终接触到测试针点的固定探针(31)通过其针套环(36)固定在固定针板(21)上，在一些测试过程中会干扰的或不需测试的活动探针(32)通过其针套环(37)固定在活动针板(22)上。

2.根据权利要求1所述的两段式测试治具，其特征在于：所述上下活动针板(22)各设置有汽缸(70)带动其运动。

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