CN106814222A - 电路板植针治具底座 - Google Patents
电路板植针治具底座 Download PDFInfo
- Publication number
- CN106814222A CN106814222A CN201610485482.3A CN201610485482A CN106814222A CN 106814222 A CN106814222 A CN 106814222A CN 201610485482 A CN201610485482 A CN 201610485482A CN 106814222 A CN106814222 A CN 106814222A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- plate
- needle
- support
- circuit board
- datum
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Accommodation For Nursing Or Treatment Tables (AREA)
Abstract
本发明公开了电路板植针治具底座,其主要包括底架和移动板,底架和移动板之间设置有滑轨,移动板能相对底架滑动,移动板上方设置有基准板,基准板上方设置有盖板,基准板和盖板之间有间隙,底架两侧设置有多个斜块,还包括下针板和上针板,下针板位于基准板上方,上针板设置在盖板下方,上针板上设置有载板,载板上设置有针点,使得下针板上的测试探针可以通过载板上的针点伸出,下针板的下方设置有多个支撑脚,所述支撑脚位于斜块上,支撑脚可沿斜块运动,通过推动移动板可使下针板沿斜块逐渐上移,本发明的电路板植针治具底座使用方便,且移动板一侧还设置有气缸,无需人工推动移动板,减少了工人的劳动强度。
Description
技术领域
本发明涉及笔记本主板、双联板等电路板检测领域,特别涉及电路板植针治具底座。
背景技术
在对笔记本主板、双联板等电路板进行检测时,需要将电路板压合在上针板和下针板之间,通过针点与电路板的接触进行对电路板的检测,目前市场上检测时,需要人工压合,使得上针板和下针板上的测试针与测试点接触,且当检测下一块电路板时,还需重复上述步骤,人工压合,效率低下,且精准度不高。
发明内容
本发明解决的技术问题是提供一种使用方便且提高测试精度的电路板植针治具底座。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:包括底架和移动板,底架和移动板之间设置有滑轨,使得移动板能相对底架滑动,移动板上方设置有基准板,基准板上方设置有盖板,基准板和盖板之间有间隙,移动板和基准板四周都设置有对应的第一定位孔,底架两侧设置有多个斜块,还包括下针板和上针板,下针板上设置有与第一定位孔对应的第二定位孔,第一定位孔与第二定位孔通过连接件连接使得下针板位于基准板上方,上针板设置在盖板下方,上针板上设置有载板,载板上设置有针点,使得下针板上的测试探针可以通过载板上的针点伸出,下针板的下方设置有多个支撑脚,所述支撑脚位于斜块上,支撑脚可沿斜块运动,通过推动移动板可使下针板沿斜块逐渐上移。
进一步的是:还包括用于驱动移动板的气缸,底座上设置有前推按钮和复位按钮,还包括与气缸、前推按钮、复位按钮连接的控制板。
进一步的是:盖板的四周设置有加强板。
进一步的是:盖板一侧设置有支撑杆,当盖板翻起时,支撑杆起到盖板与基准板之间的支撑作用。
进一步的是:支撑脚上设置有滚轮。
本发明的有益效果是:本发明的电路板植针治具底座使用方便,测试时,只需将待测电路板放置在载板上,推动移动板使其待测电路板与上针板接触即可进行测试,且移动板一侧还设置有气缸,无需人工推动移动板,减少了工人的劳动强度,且盖板侧边设置有支撑杆,当盖板翻起时能起到支撑作用,无需工人在安装下针板或放置电路板时还需用手支撑住盖板。
附图说明
图1为电路板植针治具底座示意图。
图2为电路板植针治具底中的底架示意图。
图中标记为:底架1、移动板2、基准板3、斜块4、下针板5、上针板6、载板7、气缸8、前推按钮9、复位按钮10、加强板11、盖板12、支撑杆13。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本发明进一步说明。
如图1至图2所示的电路板植针治具底座,包括底架1和移动板2,底架1和移动板2之间设置有滑轨,使得移动板2能相对底架1滑动,移动板2上方设置有基准板3,基准板3上方设置有盖板12,基准板3和盖板12之间有间隙,移动板2和基准板3四周都设置有对应的第一定位孔,底架1两侧设置有多个斜块4,还包括下针板5和上针板6,下针板5上设置有与第一定位孔对应的第二定位孔,第一定位孔与第二定位孔通过连接件连接使得下针板5位于基准板3上方,所述连接件可以为螺栓、螺钉等,上针板6设置在盖板12下方,上针板6上设置有载板7,载板7上设置有针点,使得下针板5上的测试探针可以通过载板7上的针点伸出,下针板5的下方设置有多个支撑脚,所述支撑脚位于斜块4上,支撑脚可沿斜块4运动,通过推动移动板可使下针板沿斜块逐渐上移,由于不同型号的电路板构造不同,因此在对不同型号的电路板进行测试时,需更换不同的上针板6、下针板5和载板7,且上针板6和下针板5与外部的测试处理器连接,使用时,工人将电路板放置在载板7上,使载板7上伸出的测试探针与电路板上的测试点接触,工人推动移动板2,移动板2向前移动使得下针板5沿着斜块4同时向前和向上移动,在上压过程中,使得电路板的上表面与上针板6上的测试探针接触,进行电路板测试,本电路板植针治具底座为共用底座,只需更换不同的上针板6、下针板5和载板7即可满足不同型号的电路板的测试要求,且测试前,上针板6、下针板5和载板7已提前安装好,测试时,只需将电路板放置在载板7上即可,这使得电路板植针治具底座使用更为方便,且上针板6安装后位置固定,移动板2前推后到达固定位置使电路板和上针板6接触,增加了电路板测试的精确度。
此外,所述移动板2一侧连接有气缸8,底座上设置有前推按钮9和复位按钮10,还包括与气缸8、前推按钮9、复位按钮10连接的控制板,当按动前推按钮9时,控制板控制气缸8向前运动,气缸8推动移动板2向前运动,使得电路板与上针板6接触进行测试,测试完成后,气缸8拉动移动板2后拉,使得移动板2恢复到原始位置,这使得在从使用时只需按动按钮即可控制移动板2,无需手动控制移动板2,减少了工人的劳动强度。
并且,盖板12的四周设置有加强板11,使得盖板12的结构更牢固,同时也可防止上针板6在与电路板接触过程中受到外力导致变形,使得测试出现误差。
此外,盖板12侧边设置有支撑杆13,当盖板12翻起时,支撑杆13起到盖板12与基准板3之间的支撑作用,无需工人在安装下针板5或放置电路板时还需用手支撑住盖板12。
此外,支撑脚上还设置有滚轮,减小了支撑脚与斜块4之间的摩擦力,使得支撑脚更容易在斜块4上被推动,减小了支撑脚和斜块4之间因为长时间的摩擦而磨损的情况,增加了电路板植针治具底座的使用寿命。
以上所述的具体实施例,对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本发明的具体实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (5)
1.电路板植针治具底座,其特征在于:包括底架(1)和移动板(2),底架(1)和移动板(2)之间设置有滑轨,使得移动板(2)能相对底架(1)滑动,移动板(2)上方设置有基准板(3),基准板(3)上方设置有盖板(12),基准板(3)和盖板(12)之间有间隙,移动板(2)和基准板(3)四周都设置有对应的第一定位孔,底架(1)两侧设置有多个斜块(4),还包括下针板(5)和上针板(6),下针板(5)上设置有与第一定位孔对应的第二定位孔,第一定位孔与第二定位孔通过连接件连接使得下针板(5)位于基准板(3)上方,上针板(6)设置在盖板(12)下方,上针板(6)上设置有载板(7),载板(7)上设置有针点,使得下针板(5)上的测试探针可以通过载板(7)上的针点伸出,下针板(5)的下方设置有多个支撑脚,所述支撑脚位于斜块(4)上,支撑脚可沿斜块(4)运动,通过推动移动板可使下针板沿斜块逐渐上移。
2.如权利要求1所述的电路板植针治具底座,其特征在于:还包括用于驱动移动板的气缸(8),底座上设置有前推按钮(9)和复位按钮(10),还包括与气缸(8)、前推按钮(9)、复位按钮(10)连接的控制板。
3.如权利要求1所述的电路板植针治具底座,其特征在于:盖板(12)的四周设置有加强板。
4.如权利要求1所述的电路板植针治具底座,其特征在于:盖板(12)侧边设置有支撑杆(13),当盖板(12)翻起时,支撑杆(13)起到盖板(12)与基准板(3)之间的支撑作用。
5.如权利要求1所述的电路板植针治具底座,其特征在于:支撑脚上设置有滚轮。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610485482.3A CN106814222B (zh) | 2016-06-28 | 2016-06-28 | 电路板植针治具底座 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610485482.3A CN106814222B (zh) | 2016-06-28 | 2016-06-28 | 电路板植针治具底座 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN106814222A true CN106814222A (zh) | 2017-06-09 |
CN106814222B CN106814222B (zh) | 2019-05-07 |
Family
ID=59105880
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201610485482.3A Active CN106814222B (zh) | 2016-06-28 | 2016-06-28 | 电路板植针治具底座 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN106814222B (zh) |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5410259A (en) * | 1992-06-01 | 1995-04-25 | Tokyo Electron Yamanashi Limited | Probing device setting a probe card parallel |
CN201053973Y (zh) * | 2007-06-29 | 2008-04-30 | 昆山鸿汉电子有限公司 | 两段式测试治具 |
CN201788193U (zh) * | 2010-02-10 | 2011-04-06 | 中兴通讯股份有限公司 | 凸轮斜面组合机构及模块电源测试夹具 |
CN102841224A (zh) * | 2012-09-24 | 2012-12-26 | 昆山迈致治具科技有限公司 | 适用于测试pcb的自动化治具 |
CN203535075U (zh) * | 2013-09-18 | 2014-04-09 | 深圳市艾特讯科技有限公司 | 一种基带测试屏蔽箱 |
US20150160262A1 (en) * | 2013-09-17 | 2015-06-11 | Michael Stanley Jackson | Probe System designed for Probing of Electronic Parts Mounted into Application or Test Boards |
CN204789636U (zh) * | 2015-06-17 | 2015-11-18 | 杭州长川科技股份有限公司 | 一种晶圆测试用升降机构 |
-
2016
- 2016-06-28 CN CN201610485482.3A patent/CN106814222B/zh active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5410259A (en) * | 1992-06-01 | 1995-04-25 | Tokyo Electron Yamanashi Limited | Probing device setting a probe card parallel |
CN201053973Y (zh) * | 2007-06-29 | 2008-04-30 | 昆山鸿汉电子有限公司 | 两段式测试治具 |
CN201788193U (zh) * | 2010-02-10 | 2011-04-06 | 中兴通讯股份有限公司 | 凸轮斜面组合机构及模块电源测试夹具 |
CN102841224A (zh) * | 2012-09-24 | 2012-12-26 | 昆山迈致治具科技有限公司 | 适用于测试pcb的自动化治具 |
US20150160262A1 (en) * | 2013-09-17 | 2015-06-11 | Michael Stanley Jackson | Probe System designed for Probing of Electronic Parts Mounted into Application or Test Boards |
CN203535075U (zh) * | 2013-09-18 | 2014-04-09 | 深圳市艾特讯科技有限公司 | 一种基带测试屏蔽箱 |
CN204789636U (zh) * | 2015-06-17 | 2015-11-18 | 杭州长川科技股份有限公司 | 一种晶圆测试用升降机构 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN106814222B (zh) | 2019-05-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW200951442A (en) | Probe card inclination adjusting method and inclination detecting method | |
CN105866661B (zh) | Pcba定位检测装置及检测机构 | |
CN205193386U (zh) | 一种搭载异形柔性线路板的液晶模块测试治具 | |
CN208091349U (zh) | 一种电线电缆的检测量具 | |
CN104914374A (zh) | 用于芯片电性能检测的装置 | |
CN206096451U (zh) | 一种距离检测装置 | |
CN201084721Y (zh) | 晶圆定位装置 | |
CN109099861A (zh) | 一种新型键帽检测机 | |
CN204422390U (zh) | 直角剥离试验装置 | |
CN103809072A (zh) | 一种电池导通检查机的电池检测机构 | |
CN208780111U (zh) | 手机支架平整度检测设备 | |
TW200710415A (en) | Probe for testing flat display panel | |
CN106814222A (zh) | 电路板植针治具底座 | |
CN202048869U (zh) | 一种检测pcb板背面引脚高度的限高治具 | |
CN205374680U (zh) | 一种顶灯控制开关pcb下线检测设备 | |
CN204302113U (zh) | 钢化玻璃膜的韧性测试仪 | |
TW200801538A (en) | Jig for substrate inspection and substrate inspection apparatus equipped with the same | |
CN205940770U (zh) | 一种颜色传感器测试工装 | |
CN210774310U (zh) | 一种身高体重足长信息采集装置 | |
CN210072009U (zh) | 电路板测试工装 | |
CN202102086U (zh) | 一种用于测继电器的追踪、上压力机 | |
CN102012198A (zh) | Crtsⅲ型轨道板钢模大小钳口检测工装 | |
CN208057628U (zh) | 混凝土应力应变检测装置的安装结构 | |
CN202661024U (zh) | 平行度测量装置 | |
JP2012037362A (ja) | プローブユニット及び検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |