CN107621603B - 一种主板mmi测试自动机构 - Google Patents

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Abstract

一种主板MMI测试自动机构,通过设置多个对应不同测试模块的微针模组,微针模组结构主要由微针接触底板、支撑架、探针、微针、支撑架盖、微针接触顶盖组成。通过驱动单元驱动弹力压块组件向下压合,使得测试主板上的BTB接口与微针接触顶盖上的BTB连接器接触,同时通过探针给主板上电,从而达到通讯的目的,这就取代了人工BTB扣合,减少对主板BTB的损伤,提高生产效率。

Description

一种主板MMI测试自动机构
技术领域
本发明涉及主板测试设备领域,尤其涉及一种主板MMI测试自动机构。
背景技术
对手机PCBA板的MMI功能全自动化测试,通过图像、声音、信号采集和分析,由电脑上的测试系统软件判断手机PCBA主板的各项功能是否达标,完全取代现有工人手工操作检测的方法,大大的提高了生产的品质和效率。
目前业界常用的主板MMI测试都是采用人工手动扣合BTB接口方式,这种方式对主板BTB接口的损伤比较大,而且测试稳定性一般,误侧率比较高。
发明内容
针对上述技术中存在的不足之处,本发明提供一种主板MMI测试自动机构,可以自动扣合BTB接口不需要人工扣合,对BTB接口的伤害减少到最低,提高测试的稳定性。
本发明采用的技术方案是:一种主板MMI测试自动机构,包括驱动单元、弹力压块组件、箱体、测试主板、多个微针模组;其中所述箱体的表面设有工作平台,所述驱动单元、微针模组设置在工作平台上;所述弹力压块组件与驱动单元驱动连接,且所述弹力压块组件设置在微针模组的正上方;其中所述微针模组的一端设有BTB连接器;所述微针模组另一端通过排线与被测试模块电性连接;其中测试主板上集成有多个BTB接口,所述测试主板放置在微针模组上,所述驱动单元驱动弹力压块组件向下压合并使得测试主板上的BTB接口与多个微针模组上的BTB连接器相互扣合。
进一步说明,所述微针模组包括微针接触底板、支撑架、探针、微针、支撑架盖、微针接触顶盖;其中所述支撑架固定设置在微针接触底板和支撑架盖之间;其中所述微针接触顶盖设置在支撑架盖的表面,所述BTB连接器固定设置在微针接触顶盖的表面;其中所述探针和微针的一端分别穿过微针接触底板、支撑架盖以及微针接触顶盖并与BTB连接器电性连接,所述探针和微针的另一端通过排线与被测试模块连接。
进一步说明,驱动单元包括压合气缸、固定板,其中所述固定板固定设置在工作平台上,所述压合气缸固定设置在固定板的一侧。
进一步说明,弹力压块组件包括上盖板、下盖板、弹力柱;所述上盖板固定设置在压合气缸的下端,其中若干个弹力柱均匀铺设在上盖板上,且所述弹力柱穿过上盖板与下盖板固定连接。
进一步说明,还包括行程导杆,其中所述行程导杆的一端设置在固定板上,行程导杆的另一端垂直穿过上盖板并与工作平台固定连接,且所述行程导杆的上套设有行程定位块。
进一步说明,所述被测试模块包括TPLCD模组、后摄像头模组、指纹识别器模组、副板模组。
本发明的有益效果是:通过设置多个对应不同测试模块的微针模组,微针模组其中所述微针模组的一端设有BTB连接器;所述微针模组另一端通过排线与被测试模块电性连接;通过驱动单元驱动弹力压块组件向下压合,使得测试主板上的BTB接口与微针接触顶盖上的BTB连接器接触,同时通过探针给主板上电,从而达到通讯的目的,这就取代了人工BTB扣合,减少对主板BTB的损伤,提高生产效率。
附图说明
图1是本发明结构示意图。
图2是本发明弹力压块组件结构示意图。
图3是本发明微针模组和测试主板连接示意图。
图4是本发明微针模组结构示意图。
图5是本发明TPLCD模组和微针模组连接示意图。
附图标号说明:1-压合气缸;2-弹力压块组件;21-上盖板;22-下盖板;23-弹力柱;24-行程导杆;25-行程定位块;3-测试主板;4-微针模组;41-微针接触底板;42-支撑架;43-探针;44-微针;45-支撑架盖;46-微针接触顶盖;47-BTB连接器;5-指纹识别器模组;6-箱体;61-工作平台;7-TPLCD模组;8-固定板;9-副板模组;91-USB接口;10-排线。
具体实施方式
为了更清楚地表述本发明,下面结合附图对本发明作进一步地描述。
如图1-5所示,一种主板MMI测试自动机构,包括四个测试模块、四个微针模组4、驱动单元、弹力压块组件2、固定板8、箱体6;其中箱体6设有工作平台61,其中固定板8以及微针模组4设置在工作平台61上。
其中驱动单元固定设置在固定板8上,所述驱动单元与弹力压块组件2驱动连接,且所述弹力压块组件2设置在微针模组4的正上方;
如图4所示,其中所述微针模组4包括微针接触底板41、支撑架42、探针43、微针44、支撑架盖45、微针接触顶盖46;其中所述支撑架42固定设置在微针接触底板41和支撑架盖45之间;所述微针接触顶盖46设置在支撑架盖45的表面,且所述微针接触顶盖46的表面还设有BTB连接器47;其中所述探针43和微针44的分别穿过微针接触底板41、支撑架盖45以及微针接触顶盖46,且所述探针43和微针44的一端与BTB连接器47电性连接,其中所述探针43和微针44的另一端通过排线10与对应的测试模块电性连接;其中测试主板3上集成有与各个测试模块所对应的BTB接口,其中所述测试主板3放置在微针接触顶盖46上,其中测试主板3上集成有各个测试模块所对应BTB接口与多个微针模组4上的BTB连接器47对齐,所述驱动单元驱动弹力压块组件2向下运动,并使得BTB接口与BTB连接器47相互扣合。
其中,所述驱动单元为压合气缸1。在本具体所述例中,所采用的驱动单元为压合气缸1,这仅仅是对本发明的优选实施方式进行描述,并非对本发明的范围进行限定;作为另外的选择,可以采用伺服电机、皮带轮和皮带的组合,构成一个可以驱动弹力压块组件2上下移动的机构。
如图2所示,作为进一步的说明,所述弹力压块组件2包括上盖板21、下盖板22、弹力柱23;所述上盖板21固定设置在压合气缸1的活塞杆上,且所述上盖板21的表面均匀铺设有若干个弹力柱23,且所述弹力柱23穿过上盖板21并与下盖板22固定连接。其中由于压合气缸1驱动整个弹力压块组件2向下移动,当位于下方的下盖板22与测试主板3压合,由于弹力柱23的作用下,在下盖板22不会再往下压合,而是压合气缸1驱动进行带动上盖板21向下移动,当弹力柱23内弹簧压缩到一定程度,整个弹力压块组件2就会向下压合测试主板3;故弹力柱23起到缓冲作用,在检测时能防止弹力压块组件2损伤测试主板3。
如图2所示,其中,还包括行程导杆24,其中所述行程导杆24的一端设置在固定板8上,行程导杆24的另一端垂直穿设过上盖板21并与工作平台61固定连接,且所述行程导杆24上套设有行程定位块25。其中压合气缸1驱动整个弹力压块组件2沿行程导杆24的方向来回移动,可以确保工作时的稳定性,而且在行程导杆24适当的位置上套设有行程定位块25,控制上盖板21只能移动到行程定位块25的位置,可以起到限位的作用,间接通过行程导杆24和行程定位块25来控制压合的力度。
如图5所示,具体地,其中所述四个测试模块分别为TPLCD模组7、后摄像头模组、指纹识别器模组5、副板模组9,其中副板模组9上还设有USB接口91。其中测试主板3通过微针模组4和TPLCD模组7连接,测试主板3发送电信号点亮屏幕;指纹识别器模组5,副板模组9,后摄像头模组的直接通过排线10与微针模组4连接,测试主板3通过微针模组4传递电信号给指纹识别器模组5,副板模组9,后摄像头模组;减少了对主板BTB接口的损伤,测试也比较稳定,误侧率较低,实现了微针自动化测试。
以上实施方式仅仅是对本发明的优选实施方式进行描述,并非对本发明的范围进行限定,在不脱离本发明设计精神的前提下,本领域普通工程技术人员对本发明的技术方案作出的各种变形和改进,均应落入本发明的权利要求书确定的保护范围内。

Claims (5)

1.一种主板MMI测试自动机构,其特征在于,包括驱动单元、弹力压块组件、箱体、测试主板、多个微针模组;其中所述箱体的表面设有工作平台,所述驱动单元、微针模组设置在工作平台上;所述弹力压块组件与驱动单元驱动连接,且所述弹力压块组件设置在微针模组的正上方;其中所述微针模组的一端设有BTB连接器;所述微针模组另一端通过排线与被测试模块电性连接;其中测试主板上集成有多个BTB接口,所述测试主板放置在微针模组上,所述驱动单元驱动弹力压块组件向下压合并使得测试主板上的BTB接口与多个微针模组上的BTB连接器相互扣合;
所述微针模组包括微针接触底板、支撑架、探针、微针、支撑架盖、微针接触顶盖;其中所述支撑架固定设置在微针接触底板和支撑架盖之间;其中所述微针接触顶盖设置在支撑架盖的表面,所述BTB连接器固定设置在微针接触顶盖的表面;其中所述探针和微针的一端分别穿过微针接触底板、支撑架盖以及微针接触顶盖并与BTB连接器电性连接,所述探针和微针的另一端通过排线与被测试模块连接。
2.根据权利要求1所述的一种主板MMI测试自动机构,其特征在于,所述驱动单元包括压合气缸、固定板,其中所述固定板固定设置在工作平台上,所述压合气缸固定设置在固定板的一侧。
3.根据权利要求2所述的一种主板MMI测试自动机构,其特征在于,所述弹力压块组件包括上盖板、下盖板、弹力柱;所述上盖板固定设置在压合气缸的下端,其中若干个弹力柱均匀铺设在上盖板上,且所述弹力柱穿过上盖板与下盖板固定连接。
4.根据权利要求2所述的一种主板MMI测试自动机构,其特征在于,还包括行程导杆,其中所述行程导杆的一端设置在固定板上,行程导杆的另一端垂直穿过上盖板并与工作平台固定连接,且所述行程导杆的上套设有行程定位块。
5.根据权利要求1所述的一种主板MMI测试自动机构,其特征在于,所述被测试模块为TPLCD模组、后摄像头模组、指纹识别器模组、副板模组中的一种。
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