CN105628069A - 射频测试平移式自动对芯浮动装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种射频测试平移式自动对芯浮动装置，包括：测试探针固定设置在水平浮动板中心；安装板可平移的套设在测试探针上，水平浮动减摩擦滚珠分散设置在安装板和水平浮动板之间；每个水平浮动限位结构穿过水平浮动板并与固定在安装板上，且每个水平浮动限位结构与水平浮动板之间能相对平移运动；每个垂直弹性结构依次穿过安装板和水平浮动板，每个垂直弹性结构分别与安装板和水平浮动板之间能相对水平运动，且每个垂直弹性结构可带动水平浮动板进行垂直运动，在安装板和水平浮动板之间分散设置的摩擦滚珠，使安装板和水平浮动板的摩擦力很小即可带动测试探头进行水平移动，调整到最佳位置，有效提高射频测试的准确度。

Description

射频测试平移式自动对芯浮动装置

技术领域

本发明实施例涉及产品测试技术，尤其涉及一种射频测试平移式自动对芯浮动装置。

背景技术

自动对位在产品测试领域中被广泛应用，根据产品的不同，对位精度的要求也不同，由于器件外形、产品组装或贴片等公差不同，自动精确对位在半自动、自动测试时精确对位尤为重要，即测试的半自动化和自动化是测试领域发展的趋势，特别是射频(英文：RadioFrequency，简称：RF)测试的技术。

现有技术中，以主流的RF测试为例，均采用RF探针针芯顶开射频开关(英文：RadioFrequencySwitch，简称：RFSW)中心弹片，断开单板上信号，同时将信号通过针芯导入测试的方案,RFSW实际贴片位置与RF探针安装测试位置总会有一定的偏移，均靠RFSW的开孔与探针的开孔相互导向来导正，将探针安装在一个固定的结构上，导正时无法使RF探针或者被测物移动到相互对准的位置，具体的：通过定制相应的RF探针和RFSW来减少接触类的误测，部分设计牺牲部分高频信号损耗，采用浮动针头倾斜对准和浮动针安装块使RF探针倾斜来解决对芯问题。

但是上述技术均采用纯弹簧和结构件来实现，由于贴装的RFSW位置有较大误差，夹具安装定位也会有一定偏差，并采用倾斜插入导致RF测试探头无法正常插入到RFSW孔中，使得RF测试探头与RFSW开孔对位不准、并且测试探头在导正过程中要快速移动，从而导致同类型的半自动或自动测试中针芯对位无法快速对准，出现误测的问题。

发明内容

本发明实施例提供的射频测试平移式自动对芯浮动装置，用于解决现有技术中测试探头在导正过程中要快速移动，从而导致同类型的半自动或自动测试中针芯对位无法快速对准，出现误测的问题。

本发明第一方面提供一种射频测试平移式自动对芯浮动装置，包括：

测试探针、水平浮动板、安装板、对称设置的垂直弹性结构、对称设置的水平浮动限位结构和水平浮动减摩擦滚珠；

所述测试探针固定设置在所述水平浮动板中心；所述安装板可平移的套设在所述测试探针上，且所述安装板位于所述水平浮动板上部；所述水平浮动减摩擦滚珠分散设置在所述安装板和所述水平浮动板之间；

所述每个水平浮动限位结构穿过所述水平浮动板并与固定在所述安装板上，用于连接所述安装板和所述水平浮动板，且每个所述水平浮动限位结构与所述水平浮动板之间能相对平移运动；

所述每个垂直弹性结构依次穿过所述安装板和所述水平浮动板，每个所述垂直弹性结构分别与所述安装板和所述水平浮动板之间能相对水平运动，且每个所述垂直弹性结构可带动所述水平浮动板进行垂直运动。

结合第一方面，在第一方面的第一种可能的实施方式中，每个所述垂直弹性结构包括浮动弹簧、导向柱和固定结构件；所述固定结构件设置在所述导向柱的末端，所述导向柱的首端依次穿过所述安装板上设置的第一通孔和所述水平浮动板上设置的第一通孔；所述浮动弹簧套设在所述导向柱的外部，且所述浮动弹簧位于所述水平浮动板与所述固定结构件之间，用于推动所述水平浮动板带动所述测试探头垂直运动。

结合第一方面和第一方面的第一种可能的实施方式，在第一方面的第二种可能的实施方式中，每个所述水平浮动限位结构水平浮动限位模块和连接螺栓；所述水平浮动限位模块套接在所述连接螺栓的头部，所述连接螺栓的螺杆穿过所述水平浮动板上设置的第二通孔，并固定所述的安装板上；所述连接螺栓的螺杆与所述水平浮动板之间可以相对水平移动，且所述水平浮动限位模块位于所述水平浮动板的下部。

本发明第二方面提供一种射频测试平移式自动对芯浮动装置，包括：

测试探针、水平浮动板、垂直浮动板、安装板、对称设置的垂直弹性结构、对称设置的水平浮动限位结构和水平浮动减摩擦滚珠；

所述测试探针固定设置在所述水平浮动板中心；所述安装板可平移的套设在所述测试探针上，且所述安装板位于所述水平浮动板下部；所述垂直浮动板可平移的套设在所述测试探针上，且所述垂直浮动板位于所述水平浮动板的上部，所述至少三个水平浮动减摩擦滚珠分散设置在所述安装板和所述水平浮动板之间；

所述每个水平浮动限位结构依次穿过所述安装板和所述水平浮动板，并与所述垂直浮动板固定连接，且每个所述水平浮动限位结构与所述水平浮动板之间能相对平移运动；

所述每个垂直弹性结构穿过所述垂直浮动板，且每个所述垂直弹性结构可带动所述水平浮动板垂直运动。

结合第二方面，在第二方面的第一种可能的实施方式中，每个所述垂直弹性结构包括浮动弹簧、导向柱和固定结构件；所述固定结构件设置在所述导向柱的末端，所述浮动弹簧套设在所述导向柱的外部，所述导向柱的首端穿过所述垂直浮动板上设置的第一通孔，用于与测试夹具进行固定；

所述浮动弹簧位于所述垂直浮动板与所述固定结构件之间，用于推动通过所述垂直浮动板与所述水平浮动限位结构带动所述测试探头垂直运动。

结合第二方面和第二方面的第一种可能的实施方式，在第二方面的第二种可能的实施方式中，每个所述水平浮动限位结构包括水平浮动限位模块和连接螺栓；所述水平浮动限位模块套接在所述连接螺栓的头部，所述连接螺栓的螺杆依次穿过所述安装板上设置的第二通孔和所述水平浮动板上设置的第三通孔，并固定所述垂直运动浮动板上；所述连接螺栓的螺杆与所述水平浮动板之间可以相对水平移动，且所述水平浮动限位模块位于所述安装板的下部。

本发明实施例提供的射频测试平移式自动对芯浮动装置，通过将测试探针固定设置在水平浮动板中心，将安装板可平移的套设在测试探针上，并在安装板和水平浮动板之间分散设置水平浮动减摩擦滚珠，每个水平浮动限位结构连接所述安装板和所述水平浮动板，并且能够在测试探针需要水平移动的时候由水平浮动板带动测试探针进行一定范围内的水平调整，垂直弹性结构带动所述水平浮动板进行垂直运动，从而带动测试探针在垂直方向上的浮动，在进行射频测试过程中，将该射频测试平移式自动对芯浮动装置固定在夹具针板上，测试探针可以根据RFSW的开孔的位置，在安装板和水平浮动板之间分散设置的水平浮动减摩擦滚珠，使得安装板和水平浮动板之间的摩擦力非常小，即可带动测试探头自动进行水平移动，调整到最佳位置，使得测试探头能够迅速导，有效提高射频测试的准确度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1a为本发明射频测试平移式自动对芯浮动装置实施例一的主视图；

图1b为本发明射频测试平移式自动对芯浮动装置实施例一的俯视图；

图1c为本发明射频测试平移式自动对芯浮动装置实施例一的俯视图；

图2a为本发明射频测试平移式自动对芯浮动装置实施例三的主视图；

图2b为本发明射频测试平移式自动对芯浮动装置实施例三的俯视图；

图2c为本发明射频测试平移式自动对芯浮动装置实施例三的俯视图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

业界现有技术基本通过提高各产品、贴片、器件和夹具等精度，定制相应的RF探针(或其他BTB测试头)和RFSwitch(或其他BTB被测物)来减少R接触类的误测，部分产品更牺牲部分高频信号损耗，采用浮动针头和浮动针安装块来解决对芯问题，但是实际探针和Switch在测试时无法保证垂直关系，本申请提供的射频测试平移式自动对芯浮动装置，适用于各种板对板测试中，能够实现测试探针保持垂直、并迅速定位的功能。

图1a为本发明射频测试平移式自动对芯浮动装置实施例一的主视图；图1b为本发明射频测试平移式自动对芯浮动装置实施例一的俯视图；图1c为本发明射频测试平移式自动对芯浮动装置实施例一的俯视图；如图1a、图1b、图1c所示，该射频测试平移式自动对芯浮动装置，包括：测试探针11、水平浮动板12、安装板13、对称设置的垂直弹性结构14、对称设置的水平浮动限位结构15和水平浮动减摩擦滚珠16。

所述测试探针11固定设置在所述水平浮动板12中心；所述安装板13可平移的套设在所述测试探针11上，且所述安装板13位于所述水平浮动板12上部；所述水平浮动减摩擦滚珠16分散设置在所述安装板13和所述水平浮动板12之间。

所述每个水平浮动限位结构15穿过所述水平浮动板12并与固定在所述安装板13上，用于连接所述安装板13和所述水平浮动板12，且每个所述水平浮动限位结构15与所述水平浮动板12之间能相对平移运动。

所述每个垂直弹性结构14依次穿过所述安装板13和所述水平浮动板12，每个所述垂直弹性结构14分别与所述安装板13和所述水平浮动板12之间能相对水平运动，且每个所述垂直弹性结构14可带动所述水平浮动板12进行垂直运动。

在本实施例中，测试探针11(包括RF测试探头或者其他测试探头)固定设置在水平浮动板12上，水平浮动板12根据测试探针11与被测物导向能力，设计了水平浮动限位结构15，该水平浮动限位结构15至少对称设置两个，用来限定测试探针11和水平浮动板12能够相对安装板13水平运动的范围，安装板13上设置了能够使测试探针11穿过并在预先设定的水平移动范围内的水平移动的通孔，安装板13通过该通孔可以拆卸的套接在测试探针11上，位于水平浮动板12的上部。

另外，在水平浮动板12和安装板13之间设置多个水平浮动减摩擦滚珠16。优选的，分散设置至少三个水平浮动减摩擦滚珠16，保证安装板13和水平浮动板12之间水平各方向移动时摩擦力小到轻微力量既可以使测试探针11快速水平移动。本实施例中通过滚珠方案实现测试探针11与被测物在水平的XY方向无摩擦的对位移动，不产生倾斜，在该安装板13和水平浮动板12之间的该水平移动可以不限于滚珠来实现，还可以是其它降摩擦方法，例如：光滑平面、液体金属面自成型面、同磁性对应悬浮等方案，对此本发明不作限制。

进一步的，还对称设置垂直弹性结构14，一般设置至少两个，常见情况下选择两个或者四个或者其他偶数个垂直弹性结构14，每个垂直弹性结构14的部分依次穿过所述安装板13和所述水平浮动板12，并且每个所述垂直弹性结构14与安装板13和水平浮动板12之间能相对水平运动，即穿过的通孔足够的大，能使得垂直弹性结构14与水平浮动板12或安装板13都能在一定范围内水平移动，且每个所述垂直弹性结构14还设置了弹性结构，能够带动所述水平浮动板进行垂直运动。

本实施例提供的射频测试平移式自动对芯浮动装置，通过将测试探针固定设置在水平浮动板中心，将安装板可平移的套设在测试探针上，并在安装板和水平浮动板之间分散设置水平浮动减摩擦滚珠，水平浮动限位结构连接所述安装板和所述水平浮动板，并且能够在测试探针需要水平移动的时候由水平浮动板带动测试探针进行一定范围内的水平调整，垂直弹性结构带动所述水平浮动板进行垂直运动，从而带动测试探针在垂直方向上的浮动，在进行射频测试过程中，将该射频测试平移式自动对芯浮动装置固定在夹具针板上，测试探针可以根据RFSW的开孔的位置，在安装板和水平浮动板之间分散设置的水平浮动减摩擦滚珠，使得安装板和水平浮动板之间的摩擦力非常小，即可带动测试探头自动进行水平移动，调整到最佳位置，使得测试探头能够迅速导，有效提高射频测试的准确度。

在本发明射频测试平移式自动对芯浮动装置的实施例二中，在上述实施例一的基础上，具体的，如图1a、图1b、图1c所示，每个所述垂直弹性结构14包括浮动弹簧141、导向柱142和固定结构件143；所述固定结构件143设置在所述导向柱142的末端，所述导向柱142的首端依次穿过所述安装板13上设置的第一通孔和所述水平浮动板12上设置的第一通孔，所述浮动弹簧141套设在所述导向柱142的外部，且所述浮动弹簧141位于所述水平浮动板12与所述固定结构件143之间，用于推动所述水平浮动板12带动所述测试探针11垂直运动。

在本实施例中，垂直弹性结构14的导向柱142的下部套有浮动弹簧141，并且导向柱142自身末端设有固定结构件143，用于固定浮动弹簧141，使得浮动弹簧141可以推动水平浮动结构15在垂直方向移动，本申请中该固定结构件143选用的是螺母和垫片，根据具体情况可以选择其他部件进行固定，导向柱142上部自下而上穿过水平浮动板12上设置的第一通孔和安装板13上设置的第一通孔，导向柱142的顶端用于与夹具针板进行固定。

通过至少两个垂直弹性结构14，根据测试对象和测试探针11压力特性，设计弹性系数，使该垂直弹性结构14推动水平浮动结构15在Z方向弹性自适应可靠接触，另外，该弹性可以不限于弹簧，可以是其它弹性材料，对此不作具体限制。

每个所述水平浮动限位结构15水平浮动限位模块151和连接螺栓152；所述水平浮动限位模块151套接在所述连接螺栓152的头部，所述连接螺栓152的螺杆穿过所述水平浮动板12上设置的第二通孔，并固定所述的安装板13上；所述连接螺栓152的螺杆与所述水平浮动板12之间可以相对水平移动，且所述水平浮动限位模块151位于所述水平浮动板12的下部。

在本实施例中，每个水平浮动限位结构15包括限位模块151和连接螺栓152，该连接螺栓152的螺杆从水平浮动板12上的第二通孔穿过，螺杆末端固定在安装板13上，该连接螺栓152的头部和水平浮动板12之间设置有限位模块151，该限位模块151套在所述连接螺栓152的螺杆上，具体的在使用本发明的射频测试平移式自动对芯浮动装置进行检测时，采用调校销钉，将水平浮动定住，安装时保证测试探头与被测物设计中心(设计安装板)对齐，调校好后将调校销钉拔出，可以测试使用，该装置在测试过程中可以对测试探头的位置进行自动微调。本实施例中选用的限位模块151为等高限位销钉。

本实施例提供的射频测试平移式自动对芯浮动装置，通过限位模块及连接螺栓连接到安装板，安装板与水平浮动板直接采用水平浮动减摩擦滚珠隔离，保证安装板和水平浮动板之间水平各方向移动时摩擦力小到轻微力量既可以使测试头快速水平移动，通过测量头与产品间的导向，自动快速对准测试区域中心，实现简单快速准确的对位移动，不产生倾斜，并通过垂直弹性结构中的弹簧推动水平浮动结构在Z方向弹性自适应可靠接触，有效的提高了类似射频测试的测试准确性。

图2a为本发明射频测试平移式自动对芯浮动装置实施例三的主视图；图2b为本发明射频测试平移式自动对芯浮动装置实施例三的俯视图；图2c为本发明射频测试平移式自动对芯浮动装置实施例三的俯视图，如图2a、2b和2c所示，本实施例中的射频测试平移式自动对芯浮动装置，包括：

测试探针21、水平浮动板22、垂直浮动板23、安装板24、对称设置的垂直弹性结构25、对称设置的水平浮动限位结构26和水平浮动减摩擦滚珠27。

所述测试探针21固定设置在所述水平浮动板22中心；所述安装板24可平移的套设在所述测试探针21上，且所述安装板24位于所述水平浮动板22下部；所述垂直浮动板23可平移的套设在所述测试探针21上，且所述垂直浮动板23位于所述水平浮动板22的上部，所述水平浮动减摩擦滚珠27分散设置在所述安装板24和所述水平浮动板22之间。

所述每个水平浮动限位结构26依次穿过所述安装板24和所述水平浮动板22，并与所述垂直浮动板23固定连接，且每个所述水平浮动限位结构26与所述水平浮动板22之间能相对平移运动；所述每个垂直弹性结构25穿过所述垂直浮动板23，且每个所述垂直弹性结构25可带动所述水平浮动板22垂直运动。

在本实施例中，测试探针21(包括RF测试探头或者其他测试探头)固定设置在水平浮动板22的中心位置上，水平浮动板22根据测试探针与被测物导向能力，设计了水平浮动限位结构26，该水平浮动限位结构26至少对称的设置两个，用来限定测试探针21和水平浮动板22能够相对安装板24水平运动的范围，安装板24上设置了能够使测试探针11穿过并在预先设定的水平移动范围内的水平移动的通孔，安装板24通过该通孔可以拆卸的套接在测试探针21上，位于水平浮动板22的上部。

另外，在水平浮动板22的上部，还设有垂直浮动板23，该垂直浮动板23通过中心位置设置的通孔套在测试探针21上，测试探针21与所述垂直浮动板23之间能有在一定范围内相对水平运动，在水平浮动板22的下部设有安装板24，安装板24也是通过中心的通孔，套接测试探针21的末端，并且该安装板24与测试探针21之间也可以相对水平移动，即穿过的通孔足够的大。在水平浮动板22和安装板24之间分散设置多个水平浮动减摩擦滚珠27，优选的，可以设置至少三个水平浮动减摩擦滚珠27保证安装板24和水平浮动板22之间水平各方向移动时摩擦力小到轻微力量既可以使测试头快速水平移动。在该安装板24和水平浮动板22之间的该水平移动可以不限于滚珠来实现，还可以是其它降摩擦方法，例如：光滑平面、液体金属面自成型面、同磁性对应悬浮等方案，对此本发明不作限制。

还对称设置垂直弹性结构25，一般情况下选择两个或者四个或者其他偶数个垂直弹性结构25，每个垂直弹性结构25固定设置在垂直浮动板23上，并且该垂直弹性结构25整体位于该垂直浮动板23的下部，并且每个所述垂直弹性结构25与安装板24和水平浮动板22之间相互独立不连接。

所述每个水平浮动限位结构26自下而上依次穿过安装板24和水平浮动板22，并与所述垂直浮动板23固定连接(连接方式可以为螺纹连接、黏合等方式)，且每个所述水平浮动限位结构26与所述水平浮动板22之间能相对平移运动，但是水平浮动限位结构26与垂直浮动板23之间是固定的。

在实际进行测试时，将该装置固定在夹具针板上，垂直弹性结构25可以推动垂直浮动板23在垂直方向上进行移动，由于水平浮动限位结构26与该垂直浮动板23是固定连接的，所以垂直浮动板23在垂直方向上进行移动可以带动该水平浮动限位结构26在垂直方向上的移动，从而带动水平浮动板22和安装板24整体在垂直方向上移动，从而调整测试探针21在垂直方向的位置，在水平方向上，在探针收到很小的力时，水平浮动板22和安装板24之间通过滚珠在微小的摩擦力作用下即可产生相对水平运动，从而调整测试探针的位置。

本实施例提供的射频测试平移式自动对芯浮动装置，通过将测试探针固定设置在水平浮动板中心，将安装板可平移的套设在测试探针位于水平浮动版下部的末端上，并在安装板和水平浮动板之间分散设置多个水平浮动减摩擦滚珠，水平浮动限位结构连接所述安装板和所述水平浮动板，并与垂直浮动板相对固定，能够在测试探针需要水平移动的时候由水平浮动板带动测试探针进行一定范围内的水平调整，垂直弹性结构带动所述垂直浮动板进行垂直运动，从而带动安装板、水平浮动板和测试探针整体在垂直方向上的浮动，在进行射频测试过程中，将该射频测试平移式自动对芯浮动装置固定在夹具针板上，测试探针可以根据RFSW的开孔的位置，在安装板和水平浮动板之间分散设置的水平浮动减摩擦滚珠，使得安装板和水平浮动板之间的摩擦力非常小，即可带动测试探头自动进行水平移动，调整到最佳位置，使得测试探头能够迅速导，有效提高射频测试的准确度。

在本发明射频测试平移式自动对芯浮动装置的实施例四中，在上述实施例三的基础上，具体的，如图2a、图2b、图2c所示，每个所述垂直弹性结构包括浮动弹簧251、导向柱252和固定结构件253；所述固定结构件253设置在所述导向柱252的末端，所述浮动弹簧251套设在所述导向柱252的外部，所述导向柱252的首端穿过所述垂直浮动板23上设置的第一通孔，用于与测试夹具进行固定；所述浮动弹簧251位于所述垂直浮动板23与所述固定结构件253之间，用于推动通过所述垂直浮动板23与所述水平浮动限位结构26带动所述测试探针21垂直运动。

在本实施例中，导向柱252本身末端设有固定结构件253，用于固定浮动弹簧251，使得浮动弹簧251可以推动垂直浮动板23在垂直方向移动，本申请中该固定结构件253选用的是螺母和垫片，根据具体情况可以选择其他部件进行固定。

每个所述水平浮动限位结构26包括水平浮动限位模块261和连接螺栓262；所述水平浮动限位模块262套接在所述连接螺栓262的头部，所述连接螺栓262的螺杆依次穿过所述安装板24上设置的第二通孔和所述水平浮动板22上设置的第三通孔，并固定所述垂直运动浮动板23上；所述连接螺栓262的螺杆与所述水平浮动板24之间可以相对水平移动，且所述水平浮动限位模块261位于所述安装板24的下部。

在本实施例中，连接螺栓262的螺杆依次穿过安装板24上设置的第二通孔241和水平浮动板22上设置的第三通孔固定在垂直运动浮动板23上，该水平浮动限位模块261套接在连接螺栓262的螺杆上，位于安装板24和连接螺栓262的头部之间，用于限制水平浮动板22浮动范围，水平浮动限位模块261位于水平浮动板22的下部。

通过至少两个垂直弹性结构25，根据测试对象和测试探针压力特性，设计弹性系数，使该垂直弹性结构推动垂直浮动板在Z方向弹性自适应可靠接触，带动测试探针的垂直适应性移动，另外，该弹性可以不限于弹簧，可以是其它弹性材料，对此不作具体限制。

本实施例提供的射频测试平移式自动对芯浮动装置，通过限位模块及连接螺栓连接到安装板，安装板与水平浮动板直接采用水平浮动减摩擦滚珠隔离，保证安装板和水平浮动板之间水平各方向移动时摩擦力小到轻微力量既可以使测试头快速水平移动，通过测量头与产品间的导向，自动快速对准测试区域中心，实现简单快速准确的对位移动，不产生倾斜，并通过垂直弹性结构中的弹簧推动垂直浮动板在Z方向弹性自适应可靠接触，从而带动安装板、水平浮动板和测试探针整体在垂直方向移动，有效的提高了类似射频测试的测试准确性。

在上述任一实施例的基础上，本发明提供的射频测试平移式自动对芯浮动装置的方案能够大幅提高RF测试探针与RFSW水平对位精度和保证垂直高度方向的接触力，降低和避免因接触导致的RF测试误测，该结构同时可以解决类似的通用串行接口(英文：UniversalSerialBus，简称：USB)、高清晰度多媒体接口(英文：HighDefinitionMultimediaInterface，简称：HDMI)、音频等BTB方式的对位、以解决对位不准、接触不良误测、测试头快速磨损损坏、被测头压伤不良等问题，还可以解决同类的半自动、自动测试中BTB接口对位问题。除了上下对位之外，还可以延伸使用于侧面对位方案。

具体的，申请人在S8VOGUECT、BT测试过程中对上述装置进行验证，将采用射频测试平移式自动対芯浮动装置的测试数据(内部部分非接触类问题没有单独排除)与现有其他结构测试的测试数据进行对比得到：采用现有装置测试的误测率为1.3％左右，验证采用射频测试平移式自动対芯浮动装置的误测在0.3％以下，现有的测试装置和手段RF测试探头的寿命2000～5000左右，而采用本申请中的平移式自动対芯浮动装置设计测试探头的寿命已达10000次，已经突破10000次并且在保证误测率不提高情况下还在继续使用。

通过申请人在华为M1型号平板产品的CT、BT测试上实际应用，该装置不但能够延长探头的寿命，提高测试的准确度，还可以减少维护换针时间，由于寿命提高，换针时间节省每次15～20分钟，减少换线时间。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (6)

1.一种射频测试平移式自动对芯浮动装置，其特征在于，包括：

测试探针、水平浮动板、安装板、对称设置的垂直弹性结构、对称设置的水平浮动限位结构和水平浮动减摩擦滚珠；

所述测试探针固定设置在所述水平浮动板中心；所述安装板可平移的套设在所述测试探针上，且所述安装板位于所述水平浮动板上部；所述水平浮动减摩擦滚珠分散设置在所述安装板和所述水平浮动板之间；

所述每个水平浮动限位结构穿过所述水平浮动板并与固定在所述安装板上，用于连接所述安装板和所述水平浮动板，且每个所述水平浮动限位结构与所述水平浮动板之间能相对平移运动；

所述每个垂直弹性结构依次穿过所述安装板和所述水平浮动板，每个所述垂直弹性结构分别与所述安装板和所述水平浮动板之间能相对水平运动，且每个所述垂直弹性结构可带动所述水平浮动板进行垂直运动。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，每个所述垂直弹性结构包括浮动弹簧、导向柱和固定结构件；所述固定结构件设置在所述导向柱的末端，所述导向柱的首端依次穿过所述安装板上设置的第一通孔和所述水平浮动板上设置的第一通孔；所述浮动弹簧套设在所述导向柱的外部，且所述浮动弹簧位于所述水平浮动板与所述固定结构件之间，用于推动所述水平浮动板带动所述测试探头垂直运动。

3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，每个所述水平浮动限位结构水平浮动限位模块和连接螺栓；所述水平浮动限位模块套接在所述连接螺栓的头部，所述连接螺栓的螺杆穿过所述水平浮动板上设置的第二通孔，并固定所述的安装板上；所述连接螺栓的螺杆与所述水平浮动板之间可以相对水平移动，且所述水平浮动限位模块位于所述水平浮动板的下部。

4.一种射频测试平移式自动对芯浮动装置，其特征在于，包括：

测试探针、水平浮动板、垂直浮动板、安装板、对称设置的垂直弹性结构、对称设置的浮动限位结构和水平浮动减摩擦滚珠；

所述测试探针固定设置在所述水平浮动板中心；所述安装板可平移的套设在所述测试探针上，且所述安装板位于所述水平浮动板下部；所述垂直浮动板可平移的套设在所述测试探针上，且所述垂直浮动板位于所述水平浮动板的上部，所述水平浮动减摩擦滚珠分散设置在所述安装板和所述水平浮动板之间；

所述每个水平浮动限位结构依次穿过所述安装板和所述水平浮动板，并与所述垂直浮动板固定连接，且每个所述水平浮动限位结构与所述水平浮动板之间能相对平移运动；

所述每个垂直弹性结构穿过所述垂直浮动板，且每个所述垂直弹性结构可带动所述水平浮动板垂直运动。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，每个所述垂直弹性结构包括浮动弹簧、导向柱和固定结构件；所述固定结构件设置在所述导向柱的末端，所述浮动弹簧套设在所述导向柱的外部，所述导向柱的首端穿过所述垂直浮动板上设置的第一通孔，用于与测试夹具进行固定；

所述浮动弹簧位于所述垂直浮动板与所述固定结构件之间，用于推动通过所述垂直浮动板与所述水平浮动限位结构带动所述测试探头垂直运动。

6.根据权利要求4或5所述的装置，其特征在于，每个所述水平浮动限位结构包括水平浮动限位模块和连接螺栓；所述水平浮动限位模块套接在所述连接螺栓的头部，所述连接螺栓的螺杆依次穿过所述安装板上设置的第二通孔和所述水平浮动板上设置的第三通孔，并固定所述垂直运动浮动板上；所述连接螺栓的螺杆与所述水平浮动板之间可以相对水平移动，且所述水平浮动限位模块位于所述安装板的下部。