CN108873412A - 一种用于检测面板的点灯治具 - Google Patents

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Abstract

本发明提供的用于检测面板的点灯治具,包括:基台,所述基台上设置有多个挡板,且所述多个挡板围成一尺寸可调的容纳空间,所述容纳空间用于放置待测面板;治具压头,所述治具压头设置在所述容纳空间的一侧,且所述治具压头朝向所述容纳空间的一侧设置有多个可移动的水晶头,所述水晶头用于连接所述待测面板上的引脚。

Description

一种用于检测面板的点灯治具
技术领域
本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种用于检测面板的点灯治具。
背景技术
目前,为适应市场需要,推出了各种不同尺寸的液晶显示装置,这样就需要各种不同尺寸的液晶面板。在液晶面板出现不良的时候要对液晶面板进行分析,在分析的过程中需要使用点灯治具对液晶面板进行点灯,即通过点灯治具来进行加载信号确认。
由于不同尺寸的液晶面板的电路测试点的分布位置不一样;即使同一尺寸不同型号的液晶面板的电路测试点的分布位置也不一样。而传统的点灯治具的探针的位置是固定的,不能够进行调节。所以针对不同型号的液晶面板都会对应一个点灯治具,这样就导致点灯治具的型号很多,不仅提高了生产成本,并且还会使得提高产线点灯检查效率下降。降低生产成本,提高产线点灯检查效率
发明内容
本发明实施例提供一种用于检测面板的点灯治具,检测面板时,可以根据面板尺寸进行相应调节,不仅可以降低生产成本,并且还可以提高产线点灯检查效率。
本发明提供了一种用于检测面板的点灯治具,包括:
基台,所述基台上设置有多个挡板,且所述多个挡板围成一尺寸可调的容纳空间,所述容纳空间用于放置待测面板;
治具压头,所述治具压头设置在所述容纳空间的一侧,且所述治具压头朝向所述容纳空间的一侧设置有多个可移动的水晶头,所述水晶头用于连接所述待测面板上的引脚。
根据本发明一优选实施例,所述挡板包括相对设置的第一挡板和第二挡板,以及相对设置的第三挡板和第四挡板;其中,所述第一挡板和所述第四挡板可移动,所述第二挡板和所述第三挡板固定设置在所述基台上。
根据本发明一优选实施例,所述第一挡板沿第一方向滑动,所述第四挡板沿第二方向滑动,其中,所述第一方向与所述第二方向垂直。
根据本发明一优选实施例,所述第一挡板靠近所述第四挡板的一侧还设置有一滑槽,所述第四挡板嵌于所述滑槽中,以使所述第一挡板、第二挡板、第三挡板和第四挡板围成一尺寸可调的容纳空间。
根据本发明一优选实施例,所述治具压头包括一主体部以及设置在所述主体部一侧的导轨;其中,所述导轨设置在所述主体部朝向所述容纳空间的一侧上,所述水晶头与所述导轨相连接,以使所述多个水晶头根据待测面板的尺寸移动。
根据本发明一优选实施例,所述水晶头包括一壳体以及设置在所述壳体靠近所述导轨一侧的夹具,所述夹具的夹持端夹持在所述导轨上,以使所述多个水晶头根据待测面板的尺寸移动。
根据本发明一优选实施例,所述导轨具有一朝向所述容纳空间的第一表面以及,与所述第一表面相对设置的第二表面,所述夹持端包括第一夹持端和第二夹持端;
其中,所述第一表面上设置有第一定位槽,所述第二表面上设置有第二定位槽;
所述第一夹持端夹内嵌于所述第一定位槽内,所述第二夹持端夹内嵌于所述第二定位槽内,以使所述多个水晶头根据待测面板的尺寸移动。
根据本发明一优选实施例,所述水晶头还包括设置在所述壳体内部的多个探针,所述探针用于连接待测面板的引脚。
根据本发明一优选实施例,所述多个探针以矩阵网格形式分布,且所述多个探针的形状、大小均一致。
根据本发明一优选实施例,还包括检测单元,所述检测单元用于检测待测面板的发光程度。
本发明提供的用于检测面板的点灯治具,包括:基台,所述基台上设置有多个挡板,且所述多个挡板围成一尺寸可调的容纳空间,所述容纳空间用于放置待测面板;治具压头,所述治具压头设置在所述容纳空间的一侧,且所述治具压头朝向所述容纳空间的一侧设置有多个可移动的水晶头,所述水晶头用于连接所述待测面板上的引脚。通过在基台上设置多个挡板,并在治具压头设置多个可移动的水晶头,检测面板时,可以根据面板尺寸进行相应调节,不仅可以降低生产成本,并且还可以提高产线点灯检查效率。
附图说明
为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的点灯治具的结构示意图;
图2为本发明一优选实施例提供的点灯治具的结构示意图;
图3为本发明一优选实施例提供的点灯治具的部分放大示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施方式,所述实施方式的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的,仅用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接或可以相互通讯;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触,也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开,下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然,它们仅仅为示例,并且目的不在于限制本发明。此外,本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母,这种重复是为了简化和清楚的目的,其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外,本发明提供了的各种特定的工艺和材料的例子,但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。
请参阅图1,图1为本发明实施例提供的点灯治具的结构示意图。
本发明实施例提供一种用于检测面板的点灯治具,包括:
基台10,所述基台10上设置有多个挡板100,且所述多个挡板100围成一尺寸可调的容纳空间20,所述容纳空间20用于放置待测面板;
治具压头30,所述治具压头30设置在所述容纳空间20的一侧,且所述治具压头30朝向所述容纳空间20的一侧设置有多个可移动的水晶头40,所述水晶头40用于连接所述待测面板上的引脚。
点灯测试时,将待测面板放入尺寸可调的容纳空间20中,根据该待测面板的尺寸,调节挡板100的位置以对该容纳空间20进行调节,使得待测面板能够放入容纳空间20中。紧接着,通过设置在容纳空间20的一侧的治具压头30固定待测面板,并利用治具压头30上的多个可移动的水晶头40检测待测面板。
优选的,请继续参阅图1,在本发明一些实施例中,所述挡板100包括相对设置的第一挡板101和第二挡板102,以及相对设置的第三挡板103和第四挡板104;其中,所述第一挡板101和所述第四挡板104可移动,所述第二挡板102和所述第三挡板103固定设置在所述基台10上。其中,所述第一挡板101沿第一方向滑动,所述第四挡板104沿第二方向滑动,所述第一方向与所述第二方向垂直。例如,第一方向可以是水平方向,第二方向可以是竖直方向。
为了使得挡板100更好地固定待测面板,可以将第二挡板102和第三挡板103固定在基台上,并且,将设置可移动的第一挡板101和可移动的第四挡板104。在提高点灯检测的稳定性的同时,不需要更换治具就可以实现为不同类型的面板进行点灯检测,因此提升了点灯检查效率,降低了生产成本。
进一步的,请参阅图2,图2为本发明一优选实施例提供的点灯治具的结构示意图。
所述第一挡板101靠近所述第四挡板104的一侧还设置有一滑槽105,所述第四挡板104嵌于所述滑槽105中,以使所述第一挡板101、第二挡板102、第三挡板103和第四挡板104围成一尺寸可调的容纳空间。需要说明的是,在第一挡板101的一侧设置一滑槽105,使得第四挡板104可以通过该滑槽105进行滑动,实现调节容纳空间20的目的。并且,无需增加额外的轨道使第四挡板104进行滑动。
其中,滑槽105的尺寸具体根据第四挡板104的尺寸进行设置,并且,滑槽105的截面可以为梯形,从而更好的实现第四挡板104在第一挡板101内部进行滑动。
紧接着,请参阅图3,图3为本发明一优选实施例提供的点灯治具的部分放大示意图。所述治具压头30包括一主体部301以及设置在所述主体部301一侧的导轨302;其中,所述导轨302设置在所述主体部301朝向所述容纳空间20的一侧上,所述水晶头40与所述导轨302相连接,以使所述多个水晶头40可以根据待测面板的尺寸移动。
优选的,所述水晶头40包括一壳体以及设置在所述壳体靠近所述导轨302一侧的夹具,所述夹具的夹持端夹持在所述导轨上,以使所述多个水晶头40根据待测面板的尺寸移动。
所述导轨302具有一朝向所述容纳空间20的第一表面以及,与所述第一表面相对设置的第二表面,所述夹持端包括第一夹持端和第二夹持端;
其中,所述第一表面上设置有第一定位槽,所述第二表面上设置有第二定位槽;
所述第一夹持端夹内嵌于所述第一定位槽内,所述第二夹持端夹内嵌于所述第二定位槽内,以使所述多个水晶头40根据待测面板的尺寸移动。
优选的,所述水晶头40还包括设置在所述壳体内部的多个探针,所述探针用于连接待测面板的引脚。
优选的,多个探针以矩阵网格形式分布,且所述多个探针的形状、大小均一致。
优选的,该点灯治具还包括检测单元,所述检测单元用于检测待测面板的发光程度。
在本实施例中,通过在基台上设置可移动的第一挡板101和第四挡板104,并且在基台上设置固定的第二挡板102和第三挡板103,以及在治具压头30设置多个可移动的水晶头40,检测面板时,可以根据面板尺寸进行相应调节,不仅可以降低生产成本,并且还可以提高产线点灯检查效率。
以上对本发明实施例提供的用于检测面板的点灯治具进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明。同时,对于本领域的技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种用于检测面板的点灯治具,其特征在于,包括:
基台,所述基台上设置有多个挡板,且所述多个挡板围成一尺寸可调的容纳空间,所述容纳空间用于放置待测面板;
治具压头,所述治具压头设置在所述容纳空间的一侧,且所述治具压头朝向所述容纳空间的一侧设置有多个可移动的水晶头,所述水晶头用于连接所述待测面板上的引脚。
2.根据权利要求1所述的点灯治具,其特征在于,所述挡板包括相对设置的第一挡板和第二挡板,以及相对设置的第三挡板和第四挡板;其中,所述第一挡板和所述第四挡板可移动,所述第二挡板和所述第三挡板固定设置在所述基台上。
3.根据权利要求2所述的点灯治具,其特征在于,所述第一挡板沿第一方向滑动,所述第四挡板沿第二方向滑动,其中,所述第一方向与所述第二方向垂直。
4.根据权利要求3所述的点灯治具,其特征在于,所述第一挡板靠近所述第四挡板的一侧还设置有一滑槽,所述第四挡板嵌于所述滑槽中,以使所述第一挡板、第二挡板、第三挡板和第四挡板围成一尺寸可调的容纳空间。
5.根据权利要求1所述的点灯治具,其特征在于,所述治具压头包括一主体部以及设置在所述主体部一侧的导轨;其中,所述导轨设置在所述主体部朝向所述容纳空间的一侧上,所述水晶头与所述导轨相连接,以使所述多个水晶头根据待测面板的尺寸移动。
6.根据权利要求5所述的点灯治具,其特征在于,所述水晶头包括一壳体以及设置在所述壳体靠近所述导轨一侧的夹具,所述夹具的夹持端夹持在所述导轨上,以使所述多个水晶头根据待测面板的尺寸移动。
7.根据权利要求6所述的点灯治具,其特征在于,所述导轨具有一朝向所述容纳空间的第一表面以及,与所述第一表面相对设置的第二表面,所述夹持端包括第一夹持端和第二夹持端;
其中,所述第一表面上设置有第一定位槽,所述第二表面上设置有第二定位槽;
所述第一夹持端夹内嵌于所述第一定位槽内,所述第二夹持端夹内嵌于所述第二定位槽内,以使所述多个水晶头根据待测面板的尺寸移动。
8.根据权利要求7所述的点灯治具,其特征在于,所述水晶头还包括设置在所述壳体内部的多个探针,所述探针用于连接待测面板的引脚。
9.根据权利要求8所述的点灯治具,其特征在于,所述多个探针以矩阵网格形式分布,且所述多个探针的形状、大小均一致。
10.根据权利要求1所述的点灯治具,其特征在于,还包括检测单元,所述检测单元用于检测待检测面板的发光程度。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110208972A (zh) * 2019-05-27 2019-09-06 武汉华星光电技术有限公司 一种点灯治具及其使用方法
WO2020019722A1 (zh) * 2018-07-24 2020-01-30 武汉华星光电技术有限公司 用于检测面板的点灯治具
CN111427174A (zh) * 2020-04-17 2020-07-17 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板点灯测试治具及测试方法
CN111653507A (zh) * 2020-06-16 2020-09-11 中山绿威科技有限公司 一种芯片定位装置及方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN200997028Y (zh) * 2007-01-23 2007-12-26 英志企业股份有限公司 全域式面板检测结构
JP2009251529A (ja) * 2008-04-10 2009-10-29 Micronics Japan Co Ltd 点灯検査装置
KR20100121171A (ko) * 2009-05-08 2010-11-17 (주)소닉스 액정셀 검사장치 및 검사방법
CN201654377U (zh) * 2010-04-16 2010-11-24 华映视讯(吴江)有限公司 点灯平台装置
CN202126546U (zh) * 2011-04-19 2012-01-25 上海储谱实业有限公司 液晶屏测试机
CN205103510U (zh) * 2015-10-27 2016-03-23 北京兆维科技开发有限公司 一种用于液晶面板缺陷检测的显微镜组移载机构

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005141035A (ja) * 2003-11-07 2005-06-02 Sharp Corp 液晶パネルの点灯検査用治具および点灯検査方法
CN101887180A (zh) * 2009-05-15 2010-11-17 东捷科技股份有限公司 移动式点灯机构
CN201796208U (zh) * 2010-09-06 2011-04-13 均豪精密工业股份有限公司 液晶面板点灯检测机的探针组定位装置
CN202995185U (zh) * 2012-12-28 2013-06-12 京东方科技集团股份有限公司 单盒点灯装置
CN108873412A (zh) * 2018-07-24 2018-11-23 武汉华星光电技术有限公司 一种用于检测面板的点灯治具

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN200997028Y (zh) * 2007-01-23 2007-12-26 英志企业股份有限公司 全域式面板检测结构
JP2009251529A (ja) * 2008-04-10 2009-10-29 Micronics Japan Co Ltd 点灯検査装置
KR20100121171A (ko) * 2009-05-08 2010-11-17 (주)소닉스 액정셀 검사장치 및 검사방법
CN201654377U (zh) * 2010-04-16 2010-11-24 华映视讯(吴江)有限公司 点灯平台装置
CN202126546U (zh) * 2011-04-19 2012-01-25 上海储谱实业有限公司 液晶屏测试机
CN205103510U (zh) * 2015-10-27 2016-03-23 北京兆维科技开发有限公司 一种用于液晶面板缺陷检测的显微镜组移载机构

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020019722A1 (zh) * 2018-07-24 2020-01-30 武汉华星光电技术有限公司 用于检测面板的点灯治具
CN110208972A (zh) * 2019-05-27 2019-09-06 武汉华星光电技术有限公司 一种点灯治具及其使用方法
CN111427174A (zh) * 2020-04-17 2020-07-17 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板点灯测试治具及测试方法
CN111427174B (zh) * 2020-04-17 2022-09-27 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板点灯测试治具及测试方法
CN111653507A (zh) * 2020-06-16 2020-09-11 中山绿威科技有限公司 一种芯片定位装置及方法

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