CN110208972A - 一种点灯治具及其使用方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种点灯治具及其使用方法，所述点灯治具包括箱体、背光源以及支架压头；所述点灯治具的使用方法包括支架压头第一上移步骤、显示面板放置步骤以及支架压头下移步骤；本发明提供一种点灯治具及其使用方法，在显示面板被放置于点灯治具后，将阵列基板、上偏光片及下偏光片直接或间接接地，以便将阵列基板、上偏光片、下偏光片的静电及时导出，释放偏光片与液晶分子之间产生的静电，可以有效地保护显示面板半成品，提高电灯测试的准确性，提升显示面板的良率。

Description

一种点灯治具及其使用方法

技术领域

本发明设计显示面板测试领域，尤其涉及一种点灯治具及其使用方法。

背景技术

在显示面板的生产领域中，必须要通过点灯检测设备对显示面板进行点灯测试(Light On Inspection，LOI)，点灯测试阶段对于显示面板品质的管控相当重要，在此阶段中可以检测出显示面板是否有坏点(例如：亮点或暗点)，让用户可以对不良的显示面板进行及时的拦截，避免造成浪费资源，以及可以让用户尽早对制程进行改善处理。

现有技术中，由于液晶显示面板的背光源设置在阵列基板侧，因此在对液晶显示面板进行点灯测试时，将液晶显示面板的阵列基板朝下、彩膜基板朝上放置在基台上，探针部件对阵列基板的PAD(走线)区域进行点灯测试，探针部件上设置有与待测液晶显示面板PAD区域匹配的栅线测试板和数据线测试板，栅线测试板上设置的栅线针与待测液晶显示面板PAD区域的栅线接口对应，数据线测试板上设置的数据线针与待测液晶显示面板PAD区域的数据线接口对应。在对液晶显示面板进行点灯测试时，将测液晶显示面板放置于基台上，待测液晶显示面板的栅线接口与栅线测试板的栅线针连接，待测液晶显示面板的数据线接口与数据线测试板的数据线针连接，点亮背光源，通过栅线针和数据线针控制待测液晶显示面板，检测待测液晶显示面板是否能够正常工作，是否有光点或亮线。在对液晶显示面板进行点灯测试时，因为整个阵列基板都放在基台上，较平稳且不会产生应力，故而PinMiss(即探针部件上的探针与PAD区域的接口不一一对应，出现错位)较少，点灯较为正常。

现有技术中，在阵列基板下方及彩膜基板上方均设有偏光片，液晶层设于阵列基板与彩膜基板之间。偏光片包括离型膜、偏光片本体以及偏光片保护膜。在制作显示面板的过程中，用户需要将离型膜撕掉后，才将偏光片贴到阵列基板下方或者彩膜基板上方。但在离型膜被撕掉的过程中，偏光片非常容易产生静电。在偏光片贴附完成之后，偏光片上残留的静电无法导出，偏光片容易与液晶层的液晶分子产生附加电场，在点灯测试时，液晶分子在电场作用下易发生偏转，影响点灯测试的准确性以及显示面板的良率。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种点灯治具及其使用方法，以解决现有技术中存在的偏光片容易与液晶分子产生静电，影响点灯测试的准确性以及显示面板良率的技术问题。

为了实现上述目的，本发明提供一种点灯治具，包括箱体、背光源以及支架压头；所述箱体包括顶板、底板及侧板，围成一空腔；所述顶板设有一矩形通孔；所述背光源设于所述底板上表面，所述背光源顶部设有向上突起的第一连接端子；所述支架压头设于所述矩形通孔一侧边；所述支架压头包括锁紧件、水晶头、探针以及第二端子；所述锁紧件可拆卸式安装至所述顶板的上表面；所述水晶头连接至所述锁紧件，且穿过所述矩形通孔；两个以上所述探针设于所述水晶头底面，且朝向所述底板；所述第二连接端子连接至所述水晶头。进一步地，当一显示面板被放置于所述箱体内时，所述显示面板包括下偏光片、上偏光片，所述第一连接端子连接至下偏光片；所述第二连接端子连接至上偏光片。

进一步地，当所述一显示面板被放置于所述箱体内时，所述显示面板包括阵列基板，所述探针连接至所述阵列基板一侧边缘。

进一步地，所述的点灯治具还包括驱动结构，用以驱动所述支架压头升降运动。

进一步地，所述第一连接端子、所述第二连接端子为良性导体。

进一步地，所述顶板为矩形环状；所述支架压头可拆卸连接至所述矩形通孔一侧边。

为了实现上述目的，本发明还提供一种前文所述的点灯治具的使用方法，包括如下步骤，支架压头第一上移步骤，上移支架压头；显示面板放置步骤，将一显示面板放置于箱体内的背光源上方；以及支架压头下移步骤，下移所述支架压头。

进一步地，在所述显示面板放置步骤中，背光源的第一连接端子连接至所述显示面板的下偏光片。

进一步地，在所述支架压头下移步骤中，所述支架压头探针连接至所述显示面板的阵列基板，所述支架压头的第二连接端子连接至所述显示面板的上偏光片。

进一步地，在所述支架压头下移步骤之后还包括如下步骤，显示面板固定步骤，将所述显示面板固定于所述箱体内；点灯步骤，对所述显示面板进行点灯测试；支架压头第二上移步骤，上移所述支架压头；以及显示面板移除步骤，从所述箱体内移除所述显示面板。

本发明的技术效果在于，提供一种点灯治具及其使用方法，在显示面板被放置于点灯治具后，将阵列基板、上偏光片及下偏光片直接或间接接地，以便将阵列基板、上偏光片、下偏光片的静电及时导出，释放偏光片与液晶分子之间产生的静电，可以有效地保护显示面板半成品，提高电灯测试的准确性，提升显示面板的良率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实施例所述点灯治具的结构示意图；

图2为本实施例所述显示面板被放置于箱体内的结构示意图；

图3为本实施例所述点灯治具的使用方法的流程图。

附图中部分标识如下：

1箱体； 2背光源；

3支架压头； 4驱动装置；

11顶板； 12底板；

13侧板； 14矩形通孔；

31锁紧件； 32水晶头；

33探针；

10第一连接端子； 20第二连接端子；

101下偏光层； 102阵列基板；

103液晶层； 104彩膜基板；

105上偏光层；

311第一支撑单元； 312第二支撑单元；

313锁紧按钮；

1011下偏光片保护膜； 1012下偏光片；

1051上偏光片保护膜； 1052上偏光片。

具体实施方式

以下参考说明书附图介绍本发明的优选实施例，用以举例证明本发明可以实施，这些实施例可以向本领域中的技术人员完整介绍本发明的技术内容，使得本发明的技术内容更加清楚和便于理解。然而本发明可以通过许多不同形式的实施例来得以体现，本发明的保护范围并非仅限于文中提到的实施例。

本发明的说明书和权利要求书以及上述附图中的术语“第一”、“第二”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应当理解，这样描述的对象在适当情况下可以互换。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。

如图1～2所示，本实施例提供一种点灯治具，用以对显示面板进行光学检测，判断显示面板是否达到用户标准的要求。所述点灯治具包括箱体1、背光源2、支架压头3以及驱动装置4。

箱体1包括顶板11、底板12及侧板13，围成一空腔；顶板11为矩形环状，顶板11中部设有一矩形通孔14，该矩形通孔14可以方便显示面板的取放。

背光源2设于底板12上表面，背光源2顶部设有向上突起的第一连接端子10，第一连接端子10为良性导体。

支架压头3可拆卸连接至矩形通孔14一侧边。支架压头3包括锁紧件31、水晶头32、探针33以及第二连接端子20，第二连接端子20为良性导体。

锁紧件31可拆卸式安装至顶板11的上表面。锁紧件31包括第一支撑单元311、第二支撑单元312以及锁紧按钮313。第一支撑单元311设于顶板11上方，且连接至水晶头33，第二支撑单元312设于第一支撑单元311上表面，锁紧按钮313设于第二支撑单元312中部。

水晶头32连接至锁紧件31，且穿过矩形通孔14。两个以上探针33设于水晶头32底面，且朝向底板12。第二连接端子20连接至水晶头32。

驱动装置4为机械臂，用以驱动支架压头3升降运动，使得探针33与显示面板接触。

如图2所示，显示面板依次包括下偏光层101、阵列基板102、液晶层103、彩膜基板104以及上偏光层105。其中，下偏光层101包括下偏光片保护膜1011与下偏光片1012，下偏光片1012设于下偏光片保护膜1011的上表面；上偏光片105包括上偏光片保护膜1051与上偏光片1052，上偏光片保护膜1051设于上偏光片1052的上表面。

一般来说，在制作显示面板的工艺过程中，用户在阵列基板上表面涂覆液晶分子形成液晶层；然后将阵列基板与彩膜基板进行对组处理；最后分别在阵列基板、彩膜基板一侧的表面贴附一偏光片层。由于，每一偏光层包括偏光片、偏光片保护膜以及离型膜。用户在贴附偏光层之前，需要将通过机器所述离型膜撕除后，才能将偏光层分别贴附在阵列基板、彩膜基板的一侧表面。但是，偏光片与离型膜分离的过程中，偏光片极容易产生静电，在完成偏光层贴附后，偏光片上残留的静电无法导出，容易导致偏光片与液晶层间的液晶分子产生附加电场，导致液晶分子偏转，影响点灯测试的效果。

如图2所示，当一显示面板被放置于所述点灯治具的箱体1内时，第一连接端子10连接至下偏光片1012，第二连接端子20连接至上偏光片1052，探针33连接至阵列基板102一侧边缘，可以实现显示面板的点灯测试。在点灯测试的过程中，第一连接端子10可以释放残留在下偏光片1012的静电，第二连接端子20可以释放残留在上偏光片1052的静电，探针33可以释放阵列基板102及其他部件产生静电，可以有效地保护显示面板的半成品，提高点灯测试的准确性，提升最终产品的良率。

如图3所示，本实施还提供一种前文所述的点灯治具的使用方法，包括如下步骤S1～S7。

S1支架压头第一上移步骤，用户可以采用驱动装置上移支架压头，在水晶头与点灯治具箱体顶面之间形成空隙，以便可以放置显示面板。

S2显示面板放置步骤，将一显示面板穿过矩形通孔放置于箱体内，将显示面板放置于背光源上方。显示面板的一侧边缘处设有插孔，贯穿于该显示面板的阵列基板，在放置过程中，所述显示面板设有插孔的一侧边与所述支架压头的水晶头对应。

当所述显示面板被放置于所述背光源上方时，背光源的第一连接端子连接至所述显示面板的下偏光片，可以释放残留在所述下偏光片的静电，可以避免所述下偏光片与所述液晶层中的液晶分子产生附加电场，在点灯过程中，液晶分子不会发生异常偏转，从而保证面板点灯测试的效果。

S3支架压头下移步骤，下移所述支架压头。

采用驱动装置驱动所述支架压头下移，使得所述支架压头探针插入至显示面板的插孔，且连接至所述显示面板的阵列基板；同时，使得所述支架压头的第二连接端子连接至所述显示面板的上偏光片。所述第二连接端子可以释放残留在所述上偏光片的静电，所述探针可以进一步地释放残留在阵列基板及其他部件的静电，可以有效地保护所述显示面板的半成品，提高最终产品的良率。

S4显示面板固定步骤，用户拨动锁紧按钮，使得所述显示面板被固定于所述箱体内。

S5点灯步骤，用户对所述显示面板进行点灯测试，判断所述显示面板是否合格。

S6支架压头第二上移步骤，用户可以采用驱动装置上移支架压头，在水晶头与点灯治具箱体顶面之间形成空隙，以便取走显示面板。

S7显示面板移除步骤，所述显示面板从所述箱体内被移除，被送至下一工序。所述点灯治具准备对另一显示面板进行点灯测试。

综上所述，本实施例提供一种点灯治具及其使用方法，在显示面板被放置于点灯治具后，将阵列基板、上偏光片及下偏光片直接或间接接地，以便将阵列基板、上偏光片、下偏光片的静电及时导出，释放偏光片与液晶分子之间产生的静电，可以有效地保护显示面板半成品，提高电灯测试的准确性，提升显示面板的良率。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种点灯治具，其特征在于，包括：

箱体，包括顶板、底板及侧板，围成一空腔；所述顶板设有一矩形通孔；

背光源，设于所述底板上表面，所述背光源顶部设有向上突起的第一连接端子；以及

支架压头，设于所述矩形通孔一侧边；

所述支架压头包括

锁紧件，可拆卸式安装至所述顶板的上表面；

水晶头，连接至所述锁紧件，且穿过所述矩形通孔；

两个以上探针，设于所述水晶头底面，且朝向所述底板；以及

第二连接端子，连接至所述水晶头。

2.如权利要求1所述的点灯治具，其特征在于，

当一显示面板被放置于所述箱体内时，

所述显示面板包括下偏光片、上偏光片，

所述第一连接端子连接至下偏光片；

所述第二连接端子连接至上偏光片。

3.如权利要求1所述的点灯治具，其特征在于，

当一显示面板被放置于所述箱体内时，

所述显示面板包括阵列基板，

所述探针连接至所述阵列基板一侧边缘。

4.如权利要求1所述的点灯治具，其特征在于，还包括

驱动装置，用以驱动所述支架压头探针升降运动。

5.如权利要求1所述的点灯治具，其特征在于，

所述第一连接端子、所述第二连接端子为良性导体。

6.如权利要求1所述的点灯治具，其特征在于，

所述顶板为矩形环状；

所述支架压头可拆卸连接至所述矩形通孔一侧边。

7.一种如权利要求1所述的点灯治具的使用方法，其特征在于，包括如下步骤：

支架压头第一上移步骤，上移支架压头；

显示面板放置步骤，将一显示面板放置于箱体内的背光源上方；以及

支架压头下移步骤，下移所述支架压头。

8.如权利要求6所述点灯治具的使用方法，其特征在于，

在所述显示面板放置步骤中，

背光源的第一连接端子连接至所述显示面板的下偏光片。

9.如权利要求6所述点灯治具的使用方法，其特征在于，

在支架压头下移步骤中，

所述支架压头探针连接至所述显示面板的阵列基板，

所述支架压头的第二连接端子连接至所述显示面板的上偏光片。

10.如权利要求6所述点灯治具的使用方法，其特征在于，

在所述支架压头下移步骤之后，还包括如下步骤：

显示面板固定步骤，将所述显示面板固定于所述箱体内；

点灯步骤，对所述显示面板进行点灯测试；

支架压头第二上移步骤，上移所述支架压头；以及

显示面板移除步骤，从所述箱体内移除所述显示面板。