CN116092404A - 一种点灯治具及点灯治具检测液晶显示面板的检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种点灯治具及点灯治具检测液晶显示面板的检测方法，通过增设电压发生器，该电压发生器能够降低输出的直流信号的电压值，该降低的电压值最终输入至子像素的数据端，从而减少在点灯测试时的像素充电量，这样可以减少下电后残留在像素里的残留电荷，进而减小下电后数据线和公共电极之间的压差，从而可以避免或者减少液晶极化现象，这样在下次面板显示时，可以避免或者减轻显示有闪屏现象，提高显示质量。

Description

一种点灯治具及点灯治具检测液晶显示面板的检测方法

技术领域

本发明涉及显示面板测试技术领域，特别涉及一种点灯治具及点灯治具检测液晶显示面板的检测方法。

背景技术

TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，薄膜晶体管液晶显示装置)已经成为了现代信息技术、视讯产品中重要的显示平台。TFT-LCD的主要工作原理是通过适当的电压加载在阵列(Array)玻璃基板与彩色滤光片(Color Filter，CF)玻璃基板之间的液晶层间，使液晶层中的液晶分子在电压作用下发生偏转，通过不同电压控制得到不同的穿透率，从而实现显示。

在液晶显示面板的生产领域中，在贴POL、绑定IC/FPC、贴合、组装等模组工艺之前，必须要通过点灯检测设备对显示面板进行点灯测试，点灯测试阶段对于显示面板品质的管控相当重要，在此阶段中可以检测出显示面板是否有坏点(例如：亮点或暗点)，让用户可以对不良的显示面板进行及时的拦截，避免造成浪费资源，以及可以让用户尽早对制程进行改善处理。

发明内容

本发明实施例提供了一种点灯治具及点灯治具检测液晶显示面板的检测方法，用以避免或者减少液晶显示面板测试时的电荷残留在液晶显示面板里造成的液晶极化，从而避免或者减轻液晶显示面板下电后再上电时显示有闪屏现象，提高显示质量。

本发明实施例提供的一种点灯治具，用于检测液晶显示面板，所述点灯治具包括：

供电主板，具有串联的第一直流信号输出通道和第二直流信号输出通道；

电压发生器，设置在所述供电主板上，所述电压发生器具有控制直流信号通道，所述控制直流信号通道与所述第一直流信号输出通道电连接；所述电压发生器被配置为通过所述控制直流信号通道将所述第一直流信号输出通道输出的第一直流信号转换为第二直流信号，并通过所述第二直流信号输出通道将所述第二直流信号输出，所述第二直流信号的电压值小于所述第一直流信号的电压值。

可选地，在本发明实施例提供的上述点灯治具中，所述供电主板还具有串联的第一脉冲信号输出通道和第二脉冲信号输出通道，所述电压发生器还具有控制脉冲信号通道，所述控制脉冲信号通道与所述第一脉冲信号输出通道电连接，所述第二脉冲信号输出通道被配置为输出与所述第一脉冲信号输出通道相同的脉冲信号。

可选地，在本发明实施例提供的上述点灯治具中，还包括设置在所述供电主板上的延时放电模块，所述延时放电模块具有第一输入通道、第一输出通道、第二输入通道和第二输出通道；所述第一输入通道与所述第二直流信号输出通道电连接，所述第一输出通道被配置为输出与所述第一输入通道相同的所述第二直流信号；所述第二输入通道与所述第二脉冲信号输出通道电连接，所述延时放电模块被配置为在完成所述待测液晶显示面板检测之后的残留电荷释放阶段，延长所述第二输出通道输出的脉冲信号的拉高放电保持时间。

可选地，在本发明实施例提供的上述点灯治具中，在所述残留电荷释放阶段，所述第二输出通道输出的脉冲信号的拉高放电保持时间大于输入至所述第二输入通道的脉冲信号的拉高放电保持时间。

可选地，在本发明实施例提供的上述点灯治具中，所述第二输出通道输出的脉冲信号的拉高放电保持时间为35ms～1000ms，输入至所述第二输入通道的脉冲信号的拉高放电保持时间为35ms～1000ms。

可选地，在本发明实施例提供的上述点灯治具中，还包括设置在所述供电主板上的转接板、连接器、转接FPC、探针和探针压头，所述第一输出通道和所述第二输出通道分别与所述转接板的不同输入端电连接，所述转接板的各输出端通过所述连接器与所述转接FPC的一端电连接，所述转接FPC的另一端与所述探针电连接，所述探针安装在所述探针压头上。

可选地，在本发明实施例提供的上述点灯治具中，所述待测液晶显示面板包括显示区和非显示区，所述显示区包括栅线和数据线，所述非显示区包括与所述数据线电连接的数据线测试接口以及与所述栅线电连接的栅线测试接口，所述探针与所述数据测试接口通过所述探针压头按压电连接，所述探针与所述栅线测试接口通过所述探针压头按压电连接。

相应地，本发明实施例还提供了一种点灯治具检测液晶显示面板的检测方法，所述点灯治具为本发明实施例提供的上述点灯治具，所述检测方法包括：

固定阶段，将待测液晶显示面板固定于所述点灯治具上，所述待测液晶显示面板的测试接口与所述点灯治具的探针电连接；

点灯阶段，启动供电主板，对所述待测液晶显示面板进行点灯测试；

下电阶段，对所述点灯治具进行下电；

产品更换阶段，将完成检测的液晶显示面板从所述点灯治具内取出，并更换其余待测液晶显示面板进行检测。

可选地，在本发明实施例提供的上述检测方法中，在所述下电阶段之后，且在所述产品更换阶段之前，还包括：

残留电荷释放阶段，通过延时放电模块延长其第二输出通道输出的脉冲信号的拉高放电保持时间。

可选地，在本发明实施例提供的上述检测方法中，控制所述液晶显示面板在点灯测试时的屏幕按照预设的刷新频率显示画面帧，所述预设的刷新频率大于所述液晶显示面板在正常显示时的屏幕刷新频率。

可选地，在本发明实施例提供的上述检测方法中，所述预设的刷新频率为30Hz～90Hz，所述液晶显示面板在正常显示时的屏幕刷新频率为30Hz～90Hz。

本发明实施例的有益效果如下：

本发明实施例提供的一种点灯治具及点灯治具检测液晶显示面板的检测方法，通过增设电压发生器，该电压发生器能够降低输出的直流信号的电压值，该降低的电压值最终输入至子像素的数据端，从而减少在点灯测试时的像素充电量，这样可以减少下电后残留在像素里的残留电荷，进而减小下电后数据线和公共电极之间的压差，从而可以避免或者减少液晶极化现象，这样在下次面板显示时，可以避免或者减轻显示有闪屏现象，提高显示质量。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种点灯治具的结构示意图；

图2为电压发生器控制降低第一直流信号输出通道输出的电压示意图；

图3为下电时启动延时放电模块延长脉冲信号的拉高放电保持时间示意图；

图4为本发明实施例提供的一种点灯治具检测液晶显示面板的一种检测方法流程示意图；

图5为本发明实施例提供的一种点灯治具检测液晶显示面板的又一种检测方法流程示意图；

图6为程序函数设定的刷新频率；

图7为Normal点灯治具获得的液晶显示面板的亮度变化曲线；

图8为本发明的点灯治具获得的液晶显示面板的亮度变化曲线。

具体实施方式

为了使本发明的目的，技术方案和优点更加清楚，下面结合附图，对本发明实施例提供的一种点灯治具及点灯治具检测液晶显示面板的检测方法的具体实施方式进行详细地说明。

附图中各形状不反映点灯治具的真实比例，目的只是示意说明本发明内容。

在对液晶显示面板进行点灯测试时，将测液晶显示面板放置于点灯治具上，待测液晶显示面板的栅线测试接口与点灯治具上的栅线探针连接，待测液晶显示面板的数据线测试接口与点灯治具上的数据线探针连接，点亮背光源，通过栅线探针和数据线探针控制待测液晶显示面板，检测待测液晶显示面板是否能够正常工作，是否有光点或亮线。

然而，在点灯测试结束之后，即在液晶显示面板下电后，数据线或者公共电极上的电荷会残留在像素里，虽然相关技术中会通过下电时栅极打开，像素通过数据线和公共电极接地放电，但由于液晶显示面板自身的原因，残留电荷在实际情况下无法彻底释放，因此数据线和公共电极间会有压差，导致液晶极化，这样在下一次显示时，会看到闪屏现象。

有鉴于此，本发明实施例提供了一种点灯治具，用于检测液晶显示面板，如图1所示，该点灯治具包括：

供电主板1，具有串联的第一直流信号输出通道11和第二直流信号输出通道12；

电压发生器2，设置在供电主板1上，电压发生器2具有控制直流信号通道21，控制直流信号通道21与第一直流信号输出通道11电连接；电压发生器2被配置为通过控制直流信号通道21将第一直流信号输出通道11输出的第一直流信号转换为第二直流信号，并通过第二直流信号输出通道12将第二直流信号输出，第二直流信号的电压值小于第一直流信号的电压值。

本发明实施例提供的上述点灯治具，通过增设电压发生器，该电压发生器能够降低输出的直流信号的电压值，该降低的电压值最终输入至子像素的数据端，例如在点灯测试时，相关技术中输入至待测液晶显示面板的子像素的数据端的直流信号为第一直流信号(即充电电压，例如5V，如图2所示)，本发明中输入至待测液晶显示面板的子像素的数据端的直流信号为第二直流信号(即充电电压，例如4.5V，如图2所示)，从而本发明减少了在点灯测试时的像素充电量，这样可以减少下电后残留在像素里的残留电荷，进而减小下电后数据线和公共电极之间的压差，从而可以避免或者减少液晶极化现象，这样在下次面板显示时，可以避免或者减轻显示有闪屏现象，提高显示质量。

需要说明的是，电压发生器为具有将输出电压降低功能的设备，类似于IC的电荷泵(charge pump)。

具体地，如图1所示，供电主板1自身包括由电阻、电容(RC表示)等元件构成的电路系统，另外，供电主板1上还安装有中央处理器(CPU)，CPU主要用于处理软件中的数据，以通过供电主板1上的信号输出通道输出与外接设备接合。供电主板1和CPU的具体工作原理与现有技术相同，本发明对此不做详述。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述点灯治具中，如图1所示，供电主板1还具有串联的第一脉冲信号输出通道13和第二脉冲信号输出通道14，电压发生器2还具有控制脉冲信号通道22，控制脉冲信号通道22与第一脉冲信号输出通道13电连接，第二脉冲信号输出通道14被配置为输出与第一脉冲信号输出通道13相同的脉冲信号。具体的，在点灯测试时，第二脉冲信号输出通道14输出的脉冲信号最终输入至子像素的控制端(栅极)，通过第二脉冲信号输出通道14输出的脉冲信号的拉高时间控制子像素的栅极打开，将第二直流信号输入至子像素的数据端，以实现显示画面检测，并确认液晶显示面板是否存在光点或亮线或其他缺陷不良；在点灯测试结束时，对没有缺陷不良的液晶显示面板，通过脉冲信号的拉高放电保持时间控制子像素的栅极打开，数据线和公共电极接地放电，释放子像素内的残留电荷。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述点灯治具中，如图1所示，还包括设置在供电主板1上的延时放电模块3，延时放电模块3具有第一输入通道31、第一输出通道32、第二输入通道33和第二输出通道34；第一输入通道31与第二直流信号输出通道12电连接，第一输出通道32被配置为输出与第一输入通道31相同的第二直流信号(例如4.5V)；第二输入通道33与第二脉冲信号输出通道14电连接，延时放电模块3被配置为在完成待测液晶显示面板检测之后的残留电荷释放阶段，延长第二输出通道34输出的脉冲信号的拉高放电保持时间。这样在残留电荷释放阶段，液晶显示面板的子像素的控制端的开启时间延迟，从而可以起到充分放电作用，将残留电荷彻底释放。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述点灯治具中，如图1所示，在残留电荷释放阶段，第二输出通道34输出的脉冲信号的拉高放电保持时间大于输入至第二输入通道33的脉冲信号的拉高放电保持时间。可选地，相关技术中输入至第二输入通道33的脉冲信号的拉高放电保持时间可以为35ms～1000ms，优选地，可以为35ms～100ms，更优选地，可以为100ms，如图3所示；本发明实施例通过延时放电模块3延长第二输出通道34输出的脉冲信号的拉高放电保持时间，例如第二输出通道34输出的脉冲信号的拉高放电保持时间可以为35ms～1000ms，优选地，可以为100ms～1000ms，更优选地，可以为1000ms，如图3所示，这样可以实现充分放电，避免电荷残留。

当然，第二输出通道34输出的脉冲信号的拉高放电保持时间和输入至第二输入通道33的脉冲信号的拉高放电保持时间不限于此，可以设置第二输出通道34输出的脉冲信号的拉高放电保持时间为输入至第二输入通道33的脉冲信号的拉高放电保持时间的至少10倍，这样相比相关技术中大大延长了下电后的放电时间。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述点灯治具中，如图1所示，还包括设置在供电主板1上的转接板4、连接器5、转接FPC 6、探针7和探针压头8，第一输出通道32和第二输出通道34分别与转接板4的不同输入端电连接，转接板4的各输出端通过连接器5与转接FPC 6的一端电连接，转接FPC6的另一端与探针7电连接，探针7安装在探针压头8上。具体地，转接板4、连接器5、转接FPC 6、探针7和探针压头8的具体连接方式以及工作原理与现有技术相同，本发明对此不做详述。

在具体实施时，待测液晶显示面板包括显示区和非显示区，显示区包括栅线和数据线，非显示区包括与数据线电连接的数据线测试接口以及与栅线电连接的栅线测试接口，探针与数据测试接口通过探针压头按压电连接，探针与栅线测试接口通过探针压头按压电连接。具体地，第一输出通道32输出的第二直流信号分别通过转接板4、连接器5、转接FPC 6和探针7输入至待测液晶显示面板的数据线测试接口，然后通过数据线测试接口传输至子像素的数据端；第二输出通道34输出的脉冲信号分别通过转接板4、连接器5、转接FPC6和探针7输入至待测液晶显示面板的栅线测试接口，然后通过栅线测试接口传输至子像素的控制端，实现栅极开启。

在具体实施时，如图1所示，探针压头8用于下压将探针7与待测液晶显示面板的测试接口进行连通，当供电主板1的第一直流信号输出通道11输出第一直流信号时，电压发生器2启动将第一直流信号降低为第二直流信号后通过第二直流信号输出通道12输出，然后第二直流信号通过延时放电模块3、转接板4、连接器5、转接FPC 6传输至探针7，最终输入至液晶显示面板的测试接口实现点亮测试，点亮确认产品是否存在光点或亮线等缺陷后关机下电，延时放电模块3启动，延长第二输出通道34输出的脉冲信号的拉高放电保持时间，即延长控制子像素的控制端开启时间，以充分放电，避免电荷残留。

可选地，连接器5可以为ZIF连接器，探针7可以为PIN针。

需要说明的是，各通道之间可以采用排线10连接。

需要说明的是，电压发生器2、延时放电模块3、转接板4、连接器5、转接FPC 6、探针7和探针压头8均为堆叠设置在供电主板1上的结构，本发明图1所示的平面结构是为了更清楚的示意各结构。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种点灯治具检测液晶显示面板的检测方法，点灯治具为本发明实施例提供的图1所示的点灯治具，如图4所示，检测方法包括：

S401、固定阶段，将待测液晶显示面板固定于点灯治具上，待测液晶显示面板的测试接口与点灯治具的探针电连接；

S402、点灯阶段，启动供电主板，对待测液晶显示面板进行点灯测试；

S403、下电阶段，对点灯治具进行下电；

S404、产品更换阶段，将完成检测的液晶显示面板从点灯治具内取出，并更换其余待测液晶显示面板进行检测。

本发明实施例提供的上述点灯治具检测液晶显示面板的检测方法，由于点灯治具为本发明实施例提供的图1所示的点灯治具，即通过增设电压发生器，该电压发生器能够降低输入至待测液晶显示面板的子像素的数据端的直流信号的电压值，从而减少了在点灯测试时的像素充电量，这样可以减少下电后残留在像素里的残留电荷，进而减小下电后数据线和公共电极之间的压差，从而可以避免或者减少液晶极化现象，这样在下次面板显示时，可以避免或者减轻显示有闪屏现象，提高显示质量。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述点灯治具中，如图5所示，在下电阶段之后，且在产品更换阶段之前，还包括：

S403’、残留电荷释放阶段，通过延时放电模块延长其第二输出通道输出的脉冲信号的拉高放电保持时间。具体地，延时放电模块的工作过程及带来的有益效果可以参见前述一种点灯治具中的延时放电模块，在此不做赘述。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述点灯治具中，在点灯测试之前，可以通过程序函数设定液晶显示面板在点灯测试时的屏幕按照预设的刷新频率显示画面帧，例如预设的刷新频率大于液晶显示面板在正常显示时的屏幕刷新频率。这样可以将一帧的充电时间缩短，进一步减少像素充电量，可以进一步减少下电后残留在像素里的残留电荷。可选地，预设的刷新频率可以为30Hz～90Hz，优选地，可以为60Hz～90Hz，更优选地，可以为90Hz，如图6所示；液晶显示面板在正常显示时的屏幕刷新频率可以为30Hz～90Hz，优选地，可以为30Hz～60Hz，更优选地，可以为60Hz，如图6所示。这样在点灯测试时，将一帧的充电时间由60Hz的16.67ms降低至90Hz的11.11ms，减少像素充电量，减少残留电荷。

当然，预设的刷新频率和正常显示时的屏幕刷新频率不限于此。

下面采用图1所示的点灯治具对检测液晶显示面板的检测方法进行详细说明。

(1)将待测液晶显示面板固定于点灯治具上，并将待测液晶显示面板的栅线测试接口和数据线测试接口分别与点灯治具的探针对应电连接。

(2)设定液晶显示面板在点灯测试时的屏幕按照预设的刷新频率(例如90Hz)显示画面帧。启动供电主板1，将第二脉冲信号输出通道14输出的脉冲信号分别通过延时放电模块3、转接板4、连接器5、转接FPC 6和探针7输入至待测液晶显示面板的栅线接口，然后通过栅线接口传输至子像素的控制端，实现栅极开启；供电主板1通过第一直流信号输出通道11输出第一直流信号，此时启动电压发生器2，电压发生器2的控制直流信号通道21作用在第一直流信号输出通道11上，将第一直流信号降低为第二直流信号后通过第二直流信号输出通道12输出，然后第二直流信号通过延时放电模块3、转接板4、连接器5、转接FPC 6传输至探针7，最终输入至液晶显示面板的数据线测试接口实现点灯测试，以减少像素充电量。

(3)点亮确认产品是否存在光点或亮线等缺陷后关机下电。

(4)启动延时放电模块3，延长第二输出通道34输出的脉冲信号的拉高放电保持时间，即延长控制子像素的控制端开启时间，以充分放电，避免电荷残留。

(5)将完成检测的液晶显示面板从点灯治具内取出，并更换其余待测液晶显示面板，之后重复上述(1)～(5)过程进行检测。

本案的发明人为了确保采用本发明实施例提供的点灯治具检测液晶显示面板后，可以有效改善闪屏现象，发明人分别使用本发明提供的点灯治具与Normal点灯治具点灯监控1min内液晶显示面板的亮度变化曲线，使用Normal点灯治具获得的亮度变化曲线如图7所示，可见亮度明暗变化明显，存在闪屏现象；使用本发明的点灯治具获得的亮度变化曲线如图8所示，可见亮度基本无变化，闪屏现象可以有效改善。

综上所述，本发明实施例通过设定液晶显示面板在点灯测试时的屏幕刷新频率，在点灯治具上增加电压发生器及延时放电模块，可以减少像素充电量以及延长放电时间，实现残留电荷的彻底释放，经项目验证，本发明实施例可将7％的闪屏不良彻底改善。

本发明实施例公开的一种点灯治具及点灯治具检测液晶显示面板的检测方法，通过增设电压发生器，该电压发生器能够降低输出的直流信号的电压值，该降低的电压值最终输入至子像素的数据端，从而减少在点灯测试时的像素充电量，这样可以减少下电后残留在像素里的残留电荷，进而减小下电后数据线和公共电极之间的压差，从而可以避免或者减少液晶极化现象，这样在下次面板显示时，可以避免或者减轻显示有闪屏现象，提高显示质量。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (11)

1.一种点灯治具，用于检测液晶显示面板，其特征在于，所述点灯治具包括：

供电主板，具有串联的第一直流信号输出通道和第二直流信号输出通道；

电压发生器，设置在所述供电主板上，所述电压发生器具有控制直流信号通道，所述控制直流信号通道与所述第一直流信号输出通道电连接；所述电压发生器被配置为通过所述控制直流信号通道将所述第一直流信号输出通道输出的第一直流信号转换为第二直流信号，并通过所述第二直流信号输出通道将所述第二直流信号输出，所述第二直流信号的电压值小于所述第一直流信号的电压值。

2.如权利要求1所述的点灯治具，其特征在于，所述供电主板还具有串联的第一脉冲信号输出通道和第二脉冲信号输出通道，所述电压发生器还具有控制脉冲信号通道，所述控制脉冲信号通道与所述第一脉冲信号输出通道电连接，所述第二脉冲信号输出通道被配置为输出与所述第一脉冲信号输出通道相同的脉冲信号。

3.如权利要求2所述的点灯治具，其特征在于，还包括设置在所述供电主板上的延时放电模块，所述延时放电模块具有第一输入通道、第一输出通道、第二输入通道和第二输出通道；所述第一输入通道与所述第二直流信号输出通道电连接，所述第一输出通道被配置为输出与所述第一输入通道相同的所述第二直流信号；所述第二输入通道与所述第二脉冲信号输出通道电连接，所述延时放电模块被配置为在完成所述待测液晶显示面板检测之后的残留电荷释放阶段，延长所述第二输出通道输出的脉冲信号的拉高放电保持时间。

4.如权利要求3所述的点灯治具，其特征在于，在所述残留电荷释放阶段，所述第二输出通道输出的脉冲信号的拉高放电保持时间大于输入至所述第二输入通道的脉冲信号的拉高放电保持时间。

5.如权利要求4所述的点灯治具，其特征在于，所述第二输出通道输出的脉冲信号的拉高放电保持时间为35ms～1000ms，输入至所述第二输入通道的脉冲信号的拉高放电保持时间为35ms～1000ms。

6.如权利要求3所述的点灯治具，其特征在于，还包括设置在所述供电主板上的转接板、连接器、转接FPC、探针和探针压头，所述第一输出通道和所述第二输出通道分别与所述转接板的不同输入端电连接，所述转接板的各输出端通过所述连接器与所述转接FPC的一端电连接，所述转接FPC的另一端与所述探针电连接，所述探针安装在所述探针压头上。

7.如权利要求6所述的点灯治具，其特征在于，所述待测液晶显示面板包括显示区和非显示区，所述显示区包括栅线和数据线，所述非显示区包括与所述数据线电连接的数据线测试接口以及与所述栅线电连接的栅线测试接口，所述探针与所述数据测试接口通过所述探针压头按压电连接，所述探针与所述栅线测试接口通过所述探针压头按压电连接。

8.一种点灯治具检测液晶显示面板的检测方法，其特征在于，所述点灯治具为如权利要求1-7任一项所述的点灯治具，所述检测方法包括：

固定阶段，将待测液晶显示面板固定于所述点灯治具上，所述待测液晶显示面板的测试接口与所述点灯治具的探针电连接；

点灯阶段，启动供电主板，对所述待测液晶显示面板进行点灯测试；

下电阶段，对所述点灯治具进行下电；

产品更换阶段，将完成检测的液晶显示面板从所述点灯治具内取出，并更换其余待测液晶显示面板进行检测。

9.如权利要求8所述的检测方法，其特征在于，在所述下电阶段之后，且在所述产品更换阶段之前，还包括：

残留电荷释放阶段，通过延时放电模块延长其第二输出通道输出的脉冲信号的拉高放电保持时间。

10.如权利要求8或9所述的检测方法，其特征在于，控制所述液晶显示面板在点灯测试时的屏幕按照预设的刷新频率显示画面帧，所述预设的刷新频率大于所述液晶显示面板在正常显示时的屏幕刷新频率。

11.如权利要求10所述的检测方法，其特征在于，所述预设的刷新频率为30Hz～90Hz，所述液晶显示面板在正常显示时的屏幕刷新频率为30Hz～90Hz。

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