CN201149610Y - 新型测试结构和包含该测试结构的测试系统 - Google Patents

新型测试结构和包含该测试结构的测试系统 Download PDF

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Abstract

本实用新型公开了一种新型测试结构,包括第一射频接头和测试夹具,其特征在于,还包括承载板,所述第一射频接头与所述承载板固定连接,所述承载板通过若干弹性部件与所述测试夹具弹性连接。本实用新型同时还公开了一种包含上述测试结构的测试系统。本实用新型中,在测试夹具垂直向PCBA板移动时,所述第一射频接头自动偏向,以便与被测产品上的射频接头的端面紧密吻合,保证了射频测试结果的准确性,并且,在测试完成之后,在弹性部件的作用下,所述第一射频接头能够自动复位。在生产测试过程中,应用本实用新型能够较大提升产品的合格率,降低重测不合格率,进而提高出货效率,节约劳动力成本。

Description

新型测试结构和包含该测试结构的测试系统
技术领域
本实用新型涉及机械技术领域,尤其涉及一种新型测试结构和包含该测试结构的测试系统。
背景技术
在进行射频功能测试的时候,需要将成品印刷电路板(Print circuitBoard Assembly,PCBA)或者接头部件(Unit)通过射频电缆(RF cable)与综合测试仪连接,才能进行校准和功能测试(Calibration and Final functiontest),射频电缆一端设置一射频接头(RF connector),连接PCBA的射频接头。PCBA板应用SMT(Surface Mounted Technology,表面组装技术)技术制成。
请参考图1和图2,图1为现有测试第一结构示意图,图2为图1的侧视图。
射频接头1与测试夹具2相连,两者通过螺丝3进行固定。
PCBA板4上设置有一射频接头41,该射频接头41与射频接头1的探头11相对应。
在测试前,控制测试夹具2带动射频接头1向下运动,直到射频接头1与射频接头41紧密连接。
由于SMT很难控制PCBA板4上射频接头1位置的一致性,也就是各个PCBA板上射频接头1的位置很难保证一致,容易造成射频接头1的探头11与射频接头41对位不准,如图3和图4所示(分别为现有测试结构的第二和第三结构示意图),进而造成射频测试(发射功率、接收功率和误码率等测试)结果不准确的问题,并由此导致产品线重测不良率的增高,严重耗费人力成本及出货效率。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型的目的在于提供一种新型测试结构和包含该测试结构的测试系统,以解决现有技术由于SMT很难控制PCBA板上射频接头位置的一致性,而容易造成射频接头与PCBA板上射频接头对位不准的问题。
本实用新型是这样实现的:
一种测试结构,包括第一射频接头和测试夹具,还包括承载板,所述第一射频接头与所述承载板固定连接,所述承载板通过若干弹性部件与所述测试夹具弹性连接。
优选的,上述测试结构中,所述弹性部件由螺丝和弹簧组成;
所述螺丝穿过设置在所述承载板上的通孔与所述测试夹具固定连接,并且,该螺丝的螺杆的一部分及螺帽外露于所述承载板外侧;
所述弹簧套接在所述螺杆上,其一端抵着所述螺帽,另一端抵着所述承载板。
优选的,上述测试结构中,所述第一射频接头的端面形状为凸圆弧状,与被测试的成品印刷电路板上的射频接头的端面形状相适配,所述成品印刷电路板上的射频接头的端面呈凹圆弧状。
优选的,上述测试结构中,所述弹性部件数量至少为3个,并且彼此中心对称。
优选的,上述测试结构中,所述第一射频接头与所述承载板通过螺丝固定。
本发明同时还公开了一种测试系统,具有一测试结构,该测试结构包括第一射频接头和测试夹具,该系统还包括用于驱动所述测试夹具的驱动单元、用于固定被测试产品的固定单元及一综合测试仪器,所述第一射频接头与所述综合测试仪器之间通过射频电缆相连,
所述测试结构还包括承载板,该承载板与所述第一射频接头固定连接,并且通过若干弹性部件与所述测试夹具弹性连接。
优选的,上述测试系统中,所述弹性部件由螺丝和弹簧组成;
所述螺丝穿过设置在所述承载板上的通孔与所述测试夹具固定连接,并且,该螺丝的螺杆的一部分及螺帽外露于所述承载板外侧;
所述弹簧套接在所述螺杆上,其一端抵着所述螺帽,另一端抵着所述承载板。
优选的,上述测试系统中,所述第一射频接头的端面形状为凸圆弧状,与被测试的成品印刷电路板上的射频接头的端面形状相适配,所述成品印刷电路板上的射频接头的端面呈凹圆弧状。
优选的,上述测试系统中,所述弹性部件数量至少为3个,并且彼此中心对称。
优选的,上述测试系统中,所述第一射频接头与所述承载板通过螺丝固定。
从上述技术方案可知,与现有技术相比,本实用新型中,第一射频接头不是直接固定在测试夹具上的,而是与一承载板固定连接,并且该承载板与所述测试夹具通过弹性部件实现弹性连接。另外,所述第一射频接头的探头端面形状呈凸圆弧形,而PCBA板上的第二射频接头的端面形状为与探头端面形状相适配的凹圆弧形。在测试夹具垂直向PCBA板移动时,所述第一射频接头自动偏向,与第二射频接头的端面紧密吻合。由此保证射频测试结果的准确性,并且,在测试完成之后,在弹性部件的作用下,所述第一射频接头能够自动复位。
在生产测试过程中,应用本实用新型能够较大提升产品的合格率,降低重测不合格率,进而提高出货效率,节约劳动力成本。
附图说明
图1为现有测试结构的第一结构示意图;
图2为图1的侧视图;
图3为现有测试结构的第二结构示意图;
图4为现有测试结构的第三结构示意图;
图5为本实用新型实施例的第一结构示意图;
图6为图5的侧视图;
图7为本实用新型实施例的第二结构示意图;
图8为本实用新型实施例的第三结构示意图;
图9为本实用新型测试系统的结构示意图。
具体实施方式
为了解决现有技术存在的问题,本实用新型提供了一种新型测试结构,将射频电缆上的射频接头与测试夹具的连接从固定连接改为弹性连接,使得射频电缆上的射频接头在弹力的作用下,能够灵活对准PCBA板上的射频接头位置。
为了本领域技术人员对本实用新型的技术方案有更好的理解,下面结合附图和实施例对本实用新型的技术方案进行详细描述。
请参考图5和图6所示,图5为本实用新型一种新型测试结构实施例的第一结构示意图,图6为图5的侧视图。
本测试结构中,第一射频接头1与承载板5固定相连,所述承载板5与测试夹具2之间通过若干弹性部件相连,以实现承载板5和测试夹具2之间的弹性连接。
所述第一射频接头1与所述承载板5之间的固定连接可以通过螺丝3或者其他连接部件连接固定。
所述弹性部件可以由螺丝6和弹簧7组成,所述螺丝6穿过设置在所述承载板5的通孔和所述测试夹具2固定相连,并且该螺丝6的螺杆的一部分及螺帽外露于所述承载板5的外侧。
所述弹簧7套接在螺丝6的螺杆上,其半径略小于螺帽的半径,其一端连接螺帽,另一端抵着所述承载板5。该弹簧7处于压缩状态,在该弹簧的作用力的作用下,所述承载板5紧贴所述测试夹具2。
所述第一射频接头1的探头11与所述PCBA板4上的第二射频接头41位置相对,形状适配:如果所述第一射频接头1为阳头,则所述第二射频接头41为阴头,如果所述第一射频接头1的探头的端面呈凸圆弧状,所述第二射频接头41的端面具有与所述第一射频接头1的探头相适配的凹圆弧状。
该测试结构的工作原理如下:
在理想的情况下,所述第一射频接头1的探头11与所述第二射频接头41位置相对,所述测试夹具2垂直向所述PCBA板4移动,直到所述第二射频接头41的端面与所述第一射频接头1的探头11的端面紧密吻合。
当所述PCBA板上的第二射频接头41的位置发生偏移,如图7所示,为本实用新型实施例的第二结构示意图,其中虚线框表示第二射频接头41的规定位置,实线框表示所述第二射频接头41的实际位置。当所述测试夹具2沿着方向I向所述PCBA板4移动,所述第一射频接头1的探头11接触所述第二射频接头41时,收到所述第二射频接头41的作用力,于是所述承载板5的一侧向上移动,离开所述测试夹具2,对弹簧7进行压缩,在此过程中,由于所述探头11端面形状为凸圆弧状,而所述第二射频接头41的端面呈凹圆弧状,因此,所述探头11自动发生偏向,其端面与所述第二射频接头41的端面紧密吻合。
由此,保证第一射频接头1和第二射频接头41接触良好,进而保证了测试(包括发射功率、接收功率和误码率功能等测试)结果的准确性。
当测试完毕后,测试夹具沿着方向I的逆方向移动,在移动过程中,所述第一射频接头1的探头端面离开所述射频接头2的端面,弹簧7恢复原始状态,在此过程中,所述承载板5离开测试夹具2的一侧在弹簧7的作用下,逐渐恢复到原始状态(与所述测试夹具2紧密连接),如图8所示,为本实用新型的第三结构示意图。
需要说明的是,所述弹性部件也可以是其他可以实现与上述螺丝和弹簧相同的功能的部件。
本实用新型实施例中,所述第一射频接头1不是直接固定在测试夹具2上的,而是与一承载板5固定连接,并且该承载板5与所述测试夹具2通过弹性部件实现弹性连接。另外,所述第一射频接头1的探头端面形状呈凸圆弧形,而第二射频接头41的端面形状为与探头11端面形状相适配的凹圆弧形。在测试夹具2垂直向PCBA板4移动时,所述第一射频接头1自动偏向,与第二射频接头41的端面紧密吻合。由此保证射频测试结果的准确性。并且,在测试完成之后,在弹性部件的作用下,所述第一射频接头1能够自动复位。
在生产测试过程中,应用本实用新型能够较大提升产品的合格率,降低重测不合格率,进而提高出货效率,节约劳动力成本。
本发明同时还公开了一种测试系统。
请参考图9,为本发明一种测试系统的结构示意图。
测试系统具有上述测试结构,还包含用于驱动所述测试结构中的测试夹具2的驱动单元10、用于固定被测试产品(PCBA板4)的固定单元20及一综合测试仪器30。
对产品进行测试的时候,所述驱动单元10驱动所述测试夹具沿着方向I移动,直到第一射频接头1的探头11的端面与PCBA板4上的第二射频接头41的端面紧密吻合为止。
测试信号从PCBA板4上的第二射频接头41传递到第一射频接头1,并通过射频电缆传送至综合测试仪器30,由所述综合测试仪器进行测试。
所述测试结构的通过在前文已经详细描述过,在此不再赘述。
以上公开的仅为本实用新型的优选实施方式,但本实用新型并非局限于此,任何本领域的技术人员能思之的没有创造性的变化,以及在不脱离本实用新型原理前提下所作的若干改进和润饰,都应落在本实用新型的保护范围内。

Claims (10)

1、一种测试结构,包括第一射频接头和测试夹具,其特征在于,还包括承载板,所述第一射频接头与所述承载板固定连接,所述承载板通过若干弹性部件与所述测试夹具弹性连接。
2、如权利要求1所述的测试结构,其特征在于,所述弹性部件由螺丝和弹簧组成;
所述螺丝穿过设置在所述承载板上的通孔与所述测试夹具固定连接,并且,该螺丝的螺杆的一部分及螺帽外露于所述承载板外侧;
所述弹簧套接在所述螺杆上,其一端抵着所述螺帽,另一端抵着所述承载板。
3、如权利要求1所述的测试结构,所述第一射频接头的端面形状为凸圆弧状,与被测试的成品印刷电路板上的射频接头的端面形状相适配,所述成品印刷电路板上的射频接头的端面呈凹圆弧状。
4、如权利要求1、2或3所述的测试结构,其特征在于,所述弹性部件数量至少为3个,并且彼此中心对称。
5、如权利要求4所述的测试结构,其特征在于,所述第一射频接头与所述承载板通过螺丝固定。
6、一种测试系统,具有一测试结构,该测试结构包括第一射频接头和测试夹具,该系统还包括用于驱动所述测试夹具的驱动单元、用于固定被测试产品的固定单元及一综合测试仪器,所述第一射频接头与所述综合测试仪器之间通过射频电缆相连,其特征在于,
所述测试结构还包括承载板,该承载板与所述第一射频接头固定连接,并且通过若干弹性部件与所述测试夹具弹性连接。
7、如权利要求6所述的测试系统,其特征在于,所述弹性部件由螺丝和弹簧组成;
所述螺丝穿过设置在所述承载板上的通孔与所述测试夹具固定连接,并且,该螺丝的螺杆的一部分及螺帽外露于所述承载板外侧;
所述弹簧套接在所述螺杆上,其一端抵着所述螺帽,另一端抵着所述承载板。
8、如权利要求6所述的测试系统,所述第一射频接头的端面形状为凸圆弧状,与被测试的成品印刷电路板上的射频接头的端面形状相适配,所述成品印刷电路板上的射频接头的端面呈凹圆弧状。
9、如权利要求6、7或8所述的测试系统,其特征在于,所述弹性部件数量至少为3个,并且彼此中心对称。
10、如权利要求9所述的测试系统,其特征在于,所述第一射频接头与所述承载板通过螺丝固定。
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