TWI584409B - 用於薄基板之可攜式靜電夾盤載體 - Google Patents
用於薄基板之可攜式靜電夾盤載體 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI584409B TWI584409B TW102132224A TW102132224A TWI584409B TW I584409 B TWI584409 B TW I584409B TW 102132224 A TW102132224 A TW 102132224A TW 102132224 A TW102132224 A TW 102132224A TW I584409 B TWI584409 B TW I584409B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- electrostatic chuck
- portable electrostatic
- ultra
- substrate
- portable
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6831—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using electrostatic chucks
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6831—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using electrostatic chucks
- H01L21/6833—Details of electrostatic chucks
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
本發明多個實施例概括地關於一種可攜式靜電夾盤(portable electrostatic chunk,e-chunk),該可攜式靜電夾盤用以保持(retain)基板以供處理。
隨著電子元件顯示器的關鍵尺寸在厚度上持續地微縮(同時在總體尺寸上增加),對於可適當地支撐和處理大型極薄基板(該極薄基板配置在處理腔室中)的半導體處理設備而言,需求逐漸地增加。
通常,基板厚得足以透過大型多片(large sheets)的方式操縱(handle),且該基板由放置在處理腔室中的銷(pin)或滾子(roller)系統所支撐,以進行處理(例如薄膜電晶體液晶顯示器(TFT-LCD)所使用的玻璃)。靜電夾盤通常是實體地設置且固定(fix)在處理腔室內,且該靜電夾盤通常支撐基板且將該基板保持在腔室內的保持位置。當基板被靜電夾盤(e-chuck)所托住(hold),各種處理施加在基板上,以例如沉積或從基板表面移除材料。然而,多個大型超薄基板(例如厚度約10微米至200微米且面積約500毫
米平方至約3公尺平方)較像是多個薄型金屬箔片,舉例來說,該些薄型金屬箔片不能如同標準厚度(例如約0.7毫米)的玻璃以多片式操縱。此外,目前處理腔室無法裝備成用以應付多個超薄基板的卷對卷(roll-to-roll)處理。
此外,本發明人已經觀察到:由於玻璃表面的介電性質(即無電荷消散),故靜電夾盤可能不易鬆開(de-chuck),因此難以操縱大片薄玻璃,該些大片薄玻璃為下個世代顯示器所需求。
因此,發明人已提供多個方法和設備,用以支撐在現有處理腔室中的超薄基板。
在此提供一種可攜式靜電夾盤的多個實施例,該可攜式靜電夾盤使用在基板處理腔室中,當超薄基板配置在該可攜式靜電夾盤上時,該可攜式靜電夾盤支撐該超薄基板。在一些實施例中,一種可攜式靜電夾盤可包括:載體(carrier),該載體包括介電材料;導電層,該導電層配置在該載體的頂表面上;介電層,該介電層配置在該導電層上方,以使該導電層配置在該載體和該介電層之間;以及至少一個導體,該至少一個導體耦接至該導電層,其中該可攜式靜電夾盤經裝設以將該超薄基板靜電式保持於該可攜式靜電夾盤,其中該可攜式靜電夾盤進一步經裝設以藉由該基板處理腔室外面的基板處理設備所操縱和移動,以及其中該可攜式靜電夾盤按尺寸製作(sized)成支撐多個大型超薄基板。
在一些實施例中,一種用於操縱將在一或多個處理
腔室中處理的超薄基板之方法包括下列步驟:在可攜式靜電夾盤上配置該超薄基板,該可攜式靜電夾盤配置在該一或多個處理腔室外面,該可攜式靜電夾盤具有至少一個介電層、導電層和耦接至該導電層的至少一個電極;施加第一電力(power)至該電極,以相對於該超薄基板提供偏壓,以將該超薄基板靜電式保持於該可攜式靜電夾盤;將該可攜式靜電夾盤和被靜電式保持的該超薄基板移動通過第一處理腔室中的開口而進入該第一處理腔室中,以執行第一組的一或多個基板處理;在該第一組的該些基板處理執行之後,使該可攜式靜電夾盤和被靜電式保持的該超薄基板通過該第一處理腔室中的該開口從該第一處理腔室移出;以及施加釋出電力至該電極,以從該可攜式靜電夾盤釋出該超薄基板。
200‧‧‧可攜式靜電夾盤
201‧‧‧夾持表面
202‧‧‧載體
204‧‧‧導電層
206‧‧‧介電層
208‧‧‧導體
210‧‧‧電源
212‧‧‧超薄基板
214‧‧‧氣體源
216‧‧‧導管
218‧‧‧氣體貯存器
220‧‧‧基座支撐件
222‧‧‧氣體擴散孔
224‧‧‧間隙
232‧‧‧氣體擴散孔
234‧‧‧氣體擴散孔
236‧‧‧氣體擴散孔
300‧‧‧方法
302‧‧‧步驟
304‧‧‧步驟
306‧‧‧步驟
308‧‧‧步驟
310‧‧‧步驟
312‧‧‧步驟
400‧‧‧設備
402‧‧‧處理腔室
404‧‧‧處理空間
405‧‧‧內部空間
406‧‧‧排氣空間
412‧‧‧開口
414‧‧‧噴淋頭
416‧‧‧氣體供應器
418‧‧‧狹縫閥
420‧‧‧排氣系統
422‧‧‧入口
424‧‧‧泵送氣室
426‧‧‧泵送通口
428‧‧‧真空泵
430‧‧‧閥
432‧‧‧排氣出口
434‧‧‧上升機構
440‧‧‧電極
442‧‧‧頂壁
446‧‧‧匹配網絡
448‧‧‧射頻電源
藉由參考附圖中所描述的本發明說明性多個實施例,可理解本發明的多個實施例(簡要總結如上和更詳細討論如下)。然而,應注意的是,附圖僅說明本發明的多個典型實施例,因此附圖不應被認為限制本發明的範圍,因為本發明可承認其它同樣有效的多個實施例。
第1圖描述典型具正常厚度的玻璃基板之垂直剖面。
第2圖為根據本發明的一些實施例描述可攜式靜電夾盤和支撐基座的垂直剖面。
第3圖描述一方法,該方法用於操縱在一或多個處理腔室中將處理的超薄基板。
第4圖根據本發明一些實施例描述用於裝載和卸載多個基板的設備。
為了便於理解,在可能的情況下,相同的元件符號已被使用來指定圖示中所共有的相同元件。圖示不是按比例繪製,且圖示為清楚起見可以簡化。可以思考的是,一個實施例中的元件和特徵可有利地結合在其它實施例中,且該元件和特徵無需進一步敘述。
本發明的多個實施例提供用於操縱將於一或多個處理腔室中處理的超薄型基板的方法和設備,該些處理腔室裝設成用於操縱較厚的基板。舉例來說,與本發明相符的多個實施例能處理多個超薄基板(例如厚度約介於10微米至200微米之間),而不會改變現有的處理腔室中現有的片材至片材間(sheet-to-sheet)的多個製造程序。在一個示例性的應用中,在此呈現的靜電夾盤之多個實施例可便於在用於液晶顯示器(LCD)的多個薄玻璃基板(例如約100微米)上進行例如薄膜電晶體(TFT)的處理,而不會改變現有的片材到片材間的製造程序(該製造程序習知上用於製造液晶顯示器應用的薄膜電晶體)。
第1圖描述典型玻璃基板的垂直剖面,該典型玻璃基板用於液晶顯示器製造。如圖所示,典型玻璃基板約0.7毫米。在此厚度下,玻璃基板足夠硬以藉由多個支撐銷或滾子而得到支撐,並且該玻璃基板可如同多個片材的方式被操縱和處理(即,習知上,多片基板可放置在多個基板支撐件
(包括被固定的靜電夾盤)上,該些基板支撐件固定在處理腔室內。
然而,多個新型超薄基板較像是多個薄型金屬箔片,舉例來說,該些薄型金屬箔片不能如同上述標準厚度的多個玻璃基板以多片式處理。為了能在習知的、基於片材的多個基板處理系統處理這些多個超薄型基板,本發明人已提供了一種載體,該載體用於將超薄基板保持在該載體上。載體具有類似習知基板的形狀因子(form factor),使得載體和基板可如同使用現有配備和基礎設施的載體和基板那樣地移動。
舉例來說,第2圖根據本發明的一些實施例描述一部分可攜式靜電夾盤200(例如用於超薄基板的載體)的垂直剖面,其中該發明的一些實施例能操縱使用在一或多個處理腔室中的多個超薄基板212,以處理該多個超薄基板。可攜式靜電夾盤200可被移動至處理腔室中的裝載站或卸載站,且可攜式靜電夾盤200被基座支撐件(pedestal support)220所支撐。可攜式靜電夾盤200經裝設以靜電式保持超薄基板212。在一些實施例中,偏壓可施加在處理腔室外面的可攜式靜電夾盤200,以將超薄基板212靜電式固定至可攜式靜電夾盤200。在符合本發明的一些實施例中,為了將超薄基板212靜電式固定至可攜式靜電夾盤200,並不需要施加連續電力至可攜式靜電夾盤200(例如,當需要時,偏壓可一次地或間歇地施加)。一旦超薄基板212被靜電式固定在裝載站中的可攜式靜電夾盤200,該可攜式靜電夾盤200可移入和移出不同
的處理腔室,用以對基板進行處理。
可攜式靜電夾盤200的厚度可被選擇以提供足夠的剛性(stiffness)給配置在可攜式靜電夾盤200上的超薄基板212,以使超薄基板212可在現有一或多個處理腔室中如同一片材的方式被處理,而不會損壞該超薄基板212。舉例來說,在一些實施例中,可攜式靜電夾盤200可按尺寸製作,以使可攜式靜電夾盤200和超薄基板212(例如液晶顯示器玻璃)加在一起的厚度約0.7毫米(即,如同目前處理的典型液晶顯示器玻璃基板),且可攜式靜電夾盤200和超薄基板212可以如同典型液晶顯示器處理方式操縱。可處理的大型超薄平板基板在500毫米×500毫米至約3公尺×3公尺的等級,或者在未來的世代該些基板為較前述尺寸更大之等級。因此,可攜式靜電夾盤按尺寸製作以支撐多個大型超薄平板基板。換句話說,在一些實施例中,可攜式靜電夾盤實質上為矩形或正方形,且可攜式靜電夾盤可在500毫米平方至約3公尺平方的等級。
在一些實施例中,可攜式靜電夾盤200可使用在水平處理腔室中,以使可攜式靜電夾盤200支撐實質上平行於地面的超薄基板212。在其它實施例中,可攜式靜電夾盤200使用在垂直處理腔室中,以使可攜式靜電夾盤200支撐實質上垂直於地面的超薄基板212。由於可攜式靜電夾盤200將超薄基板212保持在可攜式靜電吸盤200上,可攜式靜電夾盤200可被托住或沿任何走向(orientation)上移動,而不會損壞超薄基板212。在一些實施例中,輸送系統(例如自動控制
裝置組件(robotic assembly)、滾子等)可用於將可攜式靜電夾盤200移入和移出不同處理腔室中的開口。雖然為了描述各種特徵而可能在此使用方向性術語(例如頂部和底部),但這樣的術語並非將符合本發明的多個實施例限制於特定走向。
可攜式靜電夾盤200包括載體202,該載體202可由適合的材料製成,該材料包括例如玻璃、氧化鋁(Al2O3)、氮化鋁(AlN)、矽(Si)、不銹鋼、鋁、陶瓷、具有低熱膨脹係數的鎳鐵合金(例如64鎳鐵(64FeNi),舉例來說,INVAR®)或類似物。如果載體材料是介電質,用於靜電夾盤200的導電層204(例如夾持電極)可直接沉積在載體202上。在載體材料不為介電質的多個實施例中,介電層可配置在載體202和導電層204之間。介電材料層(例如氧化鋁(Al2O3)、氧化矽(SiO2)、氮化矽(SiN)、玻璃、陶瓷或類似物)配置在導電層204上方以對於超薄基板212提供支撐表面。在一些實施例中,載體202由與超薄基板212相同的材料製成,或是載體202由一材料製成,該材料的熱膨脹係數和用於超薄基板212之材料的熱膨脹係數實質上相等。此舉有利地在在基板處理期間加熱時,防止載體202和超薄基板212之間的破裂和非均勻的熱膨脹/形變。載體202厚度按尺寸製作以提供足夠的剛性給可攜式靜電夾盤200,以使當超薄基板212配置在可攜式靜電夾盤200上時,超薄基板212可在現有的處理腔室中如同一片材的方式進行處理/操縱。載體202厚度可視處理中的基板類型而變化。在一些實施例中,
載體202和基板212的厚度應與多個習知基板的厚度相匹配,該多個習知基板係針對特定類型的基板進行處理。舉例來說,對於液晶顯示器的應用,載體202和基板212的厚度應與多個習知液晶顯示器基板的厚度(例如約0.4至0.7毫米)相匹配。透過使載體202和超薄基板212的厚度匹配多個習知基板的厚度(該些習知基板係針對一特定類型的基板進行處理),能夠有利地透過設計用於操縱硬基板的工具對可撓的超薄基板212進行操縱和處理。
可攜式靜電夾盤200包括配置在載體202頂表面上的導電層204。導電層204可由任何適合用在基板處理中的導電性材料製成,例如鋁、銅、鉬等。在一些實施例中,導電層204的厚度約介於100奈米至500奈米之間。
導電層204可被沉積和圖案化以形成夾持電極。導電層204可圖案化,以形成單一電極或複數個電極。舉例來說,在一些實施例中,導電層204可圖案化以形成複數個夾持電極,該些夾持電極經定位以將複數個超薄基板212保持在單一載體上。舉例來說,複數個超薄基板212可以陣列方式被托在可攜式靜電夾盤200上,以使該些超薄基板212可被同時處理。
可攜式靜電夾盤200包括配置在導電層204上方的介電層206,以使導電層204配置在載體202和介電層206之間。介電層206可由與超薄基板212和/或載體202相同的材料製成,或是介電層206由一材料製成,該材料的熱膨脹係數與用於超薄基板212和/或載體202之材料的熱膨脹係數
實質上相等。當超薄基板212配置在可攜式靜電夾盤200上時,介電層206支撐實質上平行可攜式靜電夾盤200頂表面的超薄基板212。在一些實施例中,介電層206厚度為介於約100奈米至約0.2毫米之間。介電層厚度可視所需的靜電夾持力和電阻率而變化。舉例來說,介電層越厚,靜電夾持力越小。電阻率越小,靜電夾盤200在不需再充電下托住基板的時間越長。
可攜式靜電夾盤200進一步包括耦接至導電層204的至少一個導體208。該至少一個導體208可耦接至電源210。在一些實施例中,當來自電源210的電力施加至該至少一個導體208時,相對於超薄基板212提供偏壓至可攜式靜電夾盤200,而使該超薄基板212靜電式吸引至可攜式靜電夾盤200,以使可攜式靜電夾盤200足以將超薄基板212保持在可攜式靜電夾盤200上。在一些實施例中,導體208的數量為兩個。舉例來說,在一些實施例中,可攜式靜電夾盤200可為雙極性靜電夾盤。
在一些實施例中,電源210為耦接至可攜式靜電夾盤200的可攜式電池電源。可攜式電池電源可耦接至少一個導體208,以相對於超薄基板212提供偏壓至可攜式靜電夾盤200,以將超薄基板212靜電式保持於可攜式靜電夾盤200。當可攜式靜電夾盤200攜帶超薄基板212例如進入和離開一或多個處理腔室時,可攜式電池電源可隨著可攜式靜電夾盤200移動。在其它實施例中,電源可為固定的直流電源,例如固定的電池、直流電源供應器、充電站(power charging
station)或類似物。在一些實施例中,一或多個充電站(未圖示)可位在該一或多個處理腔室外面,用以在一或多個處理腔室內對基板進行處理的期間,提供直流能量給可攜式靜電夾盤200,以將超薄基板212靜電式保持於可攜式靜電夾盤200上,而不需要連續地提供電力至可攜式靜電夾盤200(即,如果可攜式靜電夾盤200的放電速率緩慢,則不需要用以維持住電荷的恆定電壓)。
上面描述的可攜式靜電夾盤200提供夾持力以將基板保持於載體202上。然而,發明人已觀察到由於玻璃表面具有無法快速或不易排除靜電電荷的介電性質,靜電夾盤可能不易鬆開,因而超薄基板212(例如大片的薄玻璃)難以鬆開。為了彌補在夾持期間形成的靜電電荷,在本發明的一些實施例中,真空夾盤的多個元件引入至可攜式靜電夾盤200。詳細來說,發明人已觀察到,透過增加一間隙224中的壓力(該間隙224配置在介電層206的頂夾持表面201和超薄基板212之間),靜電夾持力被抵消且基板將被釋放/鬆開。在一些實施例中,當超薄基板212配置在夾持表面201上時,間隙224藉由夾持表面201和超薄基板212的多個不平坦接觸表面所形成。在其它實施例中,間隙224可藉由多個間隔物(spacer)或其它構造特徵形成,該多個間隔物或其它構造特徵接近夾持表面且會在固定位置支撐超薄基板212以界定該間隙224。在一些實施例中,間隙224可在微米範圍內,最多到幾微米。
如第2圖所示,在一些實施例中,氣體貯存器218
可配置在基座支撐件220的主體內。可經由導管216由氣體源214提供氣體至氣體貯存器218。氣體貯存器218中所含的氣體可擴散穿過多個氣體擴散孔222,該多個氣體擴散孔222以穿過基座支撐件220的方式配置。當可攜式靜電夾盤200配置在基座支撐件220上時,載體202、導電層204和介電層206各別具有對應的一組多個氣體擴散孔232、234、236,且該些組多個氣體擴散孔232、234、236分別對齊多個氣體擴散孔222,用以提供氣體至間隙224。換句話說,多個氣體擴散孔232、234、236將載體202的底表面流體連通式(fluidly)耦接介電層206的頂表面,從而將多個擴散孔222流體連通式耦接至間隙224。在一些實施例中,多個擴散孔222可被均勻地分佈遍及夾持表面201。當夾持表面201和超薄基板212之間所提供的氣體壓力超過的靜電夾持力時,基板212將被釋放。
在一些例子中,為了達到鬆開之目的,當壓力建立在超薄基板212之下時,超薄基板212上可能會發生局部變形、應變或甚至破裂。為了防止這種情況,在一些實施例中,可提供電荷源以覆蓋超薄基板的整個背面,用以協助抵消靜電夾持力。詳細來說,在一些實施例中,可提供帶電離子化氣體(例如電漿)至氣體貯存器218。在一些實施例中,藉由使用燈絲或小型直流或射頻電漿腔室(配置靠近夾盤),氣體將被部分地預先離子化。電漿含有離子和電子。因此,如果夾持表面201帶負電荷時,它會吸引離子朝向它以補償電荷。如果夾持表面201帶正電荷時,它會吸引電子朝向它以
補償電荷。因此,提供來自電漿的額外電荷有助於降低夾持力(這是透過減少累積的電荷而達成),從而降低了薄基板下方欲鬆開薄基板所需的壓力,故降低薄基板損壞的可能性。
在一些實施例中,多個擴散孔222和孔232、234、236各別的直徑為約30微米至約300微米。在一些實施例中,多個擴散孔222(和/或孔232、234、236)的數量和直徑決定所提供至間隙224的氣體/電漿量。在一些實施例中,間隙224可為形成在介電層206的頂夾持表面201上的溝槽,以將氣體分配在超薄基板212和介電層206的頂夾持表面201之間。
在一些實施例中,當載體202配置在基座支撐件220上方時,可提供多個對準特徵以協助將多個擴散孔222對準孔232、234、236。舉例來說,在一些實施例中,在載體202和/或基座支撐件220上可包括對準標記(mark)或凸出部(tab)。在一些實施例中,對準可藉由使載體202和基座支撐件220支撐表面的直徑相同來達成。
在一些實施例中,電漿可被直接提供至間隙224。換句話說,當超薄基板212配置在可攜式靜電夾盤200上時,小間隙形成在基板212的背面和夾持表面201之間。為了鬆開,氣體或電漿可被直接提供至間隙224。
在一些實施例中,該至少一個導體208也可接受反向電壓或釋出電力以從可攜式靜電夾盤200鬆開(即釋放)超薄基板212。在一些實施例中,可使用反向電壓(例如,提供一電壓,該電壓與提供用以夾持基板之電壓的極性相反)結合上述討論的一些鬆開特徵以助於鬆開。
第3圖描述操縱將在一或多個處理腔室中處理的超薄基板的方法。方法300開始於步驟302,其中超薄基板配置在可攜式靜電夾盤上。超薄基板可配置在位於一或多個處理腔室外的可攜式靜電夾盤上。如上文針對第2圖所述,可攜式靜電夾盤可包括一或多層介電層、導電層和耦接至該導電層的至少一個電極。
接著,在步驟304中,第一電力施加至該電極,以相對於該超薄基板提供偏壓至該可攜式靜電夾盤,以將該超薄基板靜電保持於該可攜式靜電夾盤。在一些實施例中,於初始充電站將第一電力施加至可攜式靜電夾盤。在其它實施例中,第一電源可透過電池施加至可攜式靜電夾盤,該電池可便於攜帶且可隨可攜式靜電夾盤移動。
在步驟306中,該可攜式靜電夾盤和被靜電式保持的該超薄基板通過第一處理腔室中的開口移動至該第一處理腔室中,以執行第一組的一或多個基板處理。在一些實施例中,該組的一或多個基板處理可包括在多個超薄玻璃基板(例如厚度介於約20微米至約100微米之間)上形成多個薄膜電晶體。舉例來說,在一些實施例中,多個薄膜電晶體可形成在超薄玻璃基板上以用於液晶顯示器上的應用。在其它實施例中,該組的一或多個基板處理可包括處理矽超薄基板(例如厚度介於約20微米至約100微米之間)。舉例來說,在一些實施例中,複數個矩形(或其它形狀因子)的矽基板可被保持在單一可攜式靜電夾盤上,用以生長結晶矽(c-Si)層以用在光伏(PV)元件的製造中。在太陽能電力中,矽基板(相
較於玻璃基板)上所形成的光伏元件已激起快速擴張和成本急劇減少。本發明能操縱用於光伏元件之製造上的複數個矽基板,而可進一步導致光伏元件生產成本降低。
接著,在步驟308中,在該第一組的該些處理執行之後,從該第一處理腔室透過該第一處理腔室的該開口移出該可攜式靜電夾盤和被靜電式保持的該超薄基板。
在一些實施例中,於步驟310,可視情況而選擇將該可攜式靜電夾盤和被靜電式保持的該超薄基板通過第二處理腔室的開口移動至第二處理腔室中,以執行第二組的一或多個基板處理。在一些實施例中,舉例來說,在直流電力不連續地提供至多個夾持電極下,可視情況而選擇施加第二電力以確保超薄基板被靜電式保持於可攜式靜電夾盤,接著才移動可攜式靜電夾盤和被靜電式保持的超薄基板至第二處理腔室中。在一些實施例中,可在中間充電站將該第二電力施加至可攜式靜電夾盤。
最後,在步驟312中,將釋放電力施加至電極以從該可攜式靜電夾盤釋放超薄基板。
因此,已提供用於操縱超薄基板的方法與設備之實施例,該些超薄基板將於裝設成用於操縱較厚基板的一或多個處理腔室中進行處理。在薄玻璃基板將受處理的一些實施例中,靜電夾盤載體可由玻璃或具有與玻璃類似的熱膨脹係數之材料製成。介電質(例如氧化鋁或氮化鋁)可覆蓋於結構化薄金屬層(例如圖案化的鋁層)以形成靜電夾盤載體。在液晶顯示器工廠處理薄玻璃之前,基板會放置在靜電夾盤
載體玻璃頂部上且電壓會施加。此舉連接靜電夾盤載體玻璃和薄玻璃。在處理完成之後,反向電壓會施加(鬆開)且薄片玻璃可作為液晶顯示器電視背板使用。
第4圖根據本發明一些實施例描述示例性基板處理腔室的示意剖視圖。處理腔室可為任何形式以適合方便製造微電子元件的腔室,該微電子元件包括,但不侷限於,薄膜電晶體-液晶顯示器元件、光伏元件之結晶矽磊晶沉積或類似物。處理腔室可為任何形式的腔室,該腔室適合於理想尺寸的基板,舉例來說,該基板例如為尺寸在500毫米平方至約3公尺平方等級的平板基板。此外,處理腔室可為任何形式的腔室,該腔室適合於理想形狀的基板,舉例來說,例如該基板為圓形晶圓(例如200毫米、300毫米、450毫米或類似的半導體基板)、矩形或正方形平板(例如用於顯示器、太陽能、發光二極體(LED)和其它類似的應用)或類似物。合適腔室的範例包括,但不限侷於,用於水平處理之AKT電漿化學氣相沉積(PECVD)和用於垂直處理之AKT Alzenau PiVoT或New Aristo腔室,前述腔室的每一腔室可購自美國加州Santa Clara的應用材料公司。來自應用材料公司或其它製造商的其它處理腔室也可能受益於在此揭露的本發明之設備。雖然下文就某些裝設方式(configuration)和支撐設備進行描述,但下文的描述純粹是說明性的,且可攜式靜電夾盤可連同具有不同裝設方式的多個處理腔室一併使用。
處理腔室402具有內部空間405,該內部空間405可包括處理空間404和排氣空間406。處理空間404可被界
定例如在配置於處理腔室402內的基座支撐件220和一或多個氣體入口(例如噴淋頭414和/或提供在理想位置的噴嘴)之間。基座支撐件220支撐可攜式靜電夾盤200(上文針對第2圖所述)。在處理期間,可攜式靜電夾盤200用以支撐在該可攜式靜電夾盤200上的基板212(例如超薄基板)。
可攜式靜電夾盤200可透過習知的操縱機構(例如移送機器人(transfer robot)、在基座支撐件220中的升舉銷或類似物))移送至基座支承件220。基座支撐件220可包括電極440,或其它機構(該機構在處理期間用於協助將可攜式靜電夾盤200保持在適當的地方)。在一些實施例中,電極440可耦接至電源210。電源210可提供電力至電極440和/或導體208,以將基板212保持在適當的地方。在一些實施例中,氣體供應器214可透過導管216提供鬆開氣體給可攜式靜電夾盤200。在一些實施例中,基座支撐件220(或可攜式靜電夾盤200)可包括用於控制基板溫度的機構。
可攜式靜電夾盤200(和被靜電式保持在可攜式靜電夾盤200上的基板212)可經由在處理腔室402壁中的開口412進入處理腔室402。透過狹縫閥418或其它機構(該機構用於透過開口412以選擇地提供進入腔室內部的機會),開口412可選擇性地密封。基座支撐件220可耦接至升舉機構434,該升舉機構434可控制基座支撐件220的位置在一下方位置(如圖所示)和一可選擇的上方位置之間,該下方位置適合透過開口412移送可攜式靜電夾盤200和基板進出腔室,該可選擇的上方位置適合進行處理。處理位置可以經選
擇而用以對特定的處理步驟最大化處理均勻性。當在上升處理位置中的至少一個位置時,基座支撐件220可配置在開口412上方以提供對稱的處理區域。
該一或多個氣體入口(例如噴淋頭414)可耦接至氣體供應器416,該氣體供應器416用以提供一或多個處理氣體進入處理腔室402的處理空間404內。雖然第4圖中示出噴淋頭414,然而可提供額外的或替代性的多個氣體入口,該些氣體入口例如為配置在下述位置的噴嘴或入口:頂壁442中、或處理腔室402的側壁上、或適合如期望般提供氣體至處理腔室402的其它位置(例如處理腔室的基部、基板支撐件的周圍、或類以處)。
一或多個電漿電源(圖中示出一個射頻(RF)電源448)可以耦接至處理腔室402,用以透過一或多個各別的匹配網絡(圖中示出一個匹配網絡446)供應射頻電力給目標414。在一些實施例中,設備400可利用感應耦合射頻電力以進行處理。舉例來說,處理腔室402可具有由介電材料製成的頂壁442和介電噴淋頭414。頂壁442可以是實質上平坦的,但也可利用其它型式的頂壁(例如圓頂狀頂壁或類似物)。在頻率約2百萬赫茲(MHz)和/或頻率約13.56百萬赫茲(MHz)或更高的頻率(例如27百萬赫茲(MHz)和/或60百萬赫茲(MHz))下,該一或多個電漿源能夠產生高達5000瓦特(W)。
排氣空間406可界定例如在基座支撐件220和處理腔室402底部之間。排氣空間406可以流體連通式耦接至排
氣系統420,或排氣空間406可被認為是排氣系統420的一部分。排氣系統420一般包括泵送氣室(pumping plenum)424和一或多個導管,該一或多個導管將該泵送氣室424耦接處理腔室402的內部空間405(且一般耦接排氣空間406)。
每個導管具有入口422和出口(圖中未示),該入口422耦接至內部空間405(或,在一些實施例中,耦接至排氣空間406)且該出口以流體連通式耦接至泵送氣室424。舉例來說,每個導管可具有配置在處理腔室402的底板或側壁的下方區域的入口422。在一些實施例中,多個入口實質上等間隔地彼此隔開。
真空泵428可經過泵送通口(pump port)426耦接至泵送氣室424,用以從處理腔室402將廢氣排出。真空泵428可以流體連通式耦接至排氣出口432,用以發送(route)所需要至適當排氣處理設備的廢氣。閥430(例如閘閥或類似物)可配置在泵送氣室424中,以便於結合真空泵428的操作來控制廢氣的流速。雖然所示為z方向運動閘閥,也可利用任何適合且和處理相容的閥(用以控制廢氣流速)。
雖然前述針對本發明的多個實施例,在不脫離本發明基本範圍的情況下仍可以設計本發明的其它以及進一步的多個實施例。
200‧‧‧可攜式靜電夾盤
201‧‧‧夾持表面
202‧‧‧載體
204‧‧‧導電層
206‧‧‧介電層
208‧‧‧導體
210‧‧‧電源
212‧‧‧超薄基板
214‧‧‧氣體源
216‧‧‧導管
218‧‧‧氣體貯存器
220‧‧‧基座支撐件
222‧‧‧氣體擴散孔
224‧‧‧間隙
232‧‧‧氣體擴散孔
234‧‧‧氣體擴散孔
236‧‧‧氣體擴散孔
Claims (20)
- 一種可攜式靜電夾盤,該可攜式靜電夾盤使用在一基板處理腔室中,當一超薄基板配置在該可攜式靜電夾盤上時,該可攜式靜電夾盤支撐該超薄基板,該可攜式靜電夾盤包括:一載體,該載體包括一介電材料;一導電層,該導電層配置在該載體的一頂表面上;一介電層,該介電層配置在該導電層上方,以使該導電層配置在該載體和該介電層之間;以及至少一個導體,該至少一個導體耦接至該導電層,其中該可攜式靜電夾盤經裝設以將該超薄基板靜電保持(retain)至該可攜式靜電夾盤,其中該可攜式靜電夾盤進一步經裝設以藉由該基板處理腔室外面的基板處理設備所操縱(handle)和移動,且其中該可攜式靜電夾盤按尺寸製作(sized)成支撐多個大型超薄基板。
- 如申請專利範圍第1項所述之可攜式靜電夾盤,其中該可攜式靜電夾盤和該多個大型超薄基板的形狀為矩形。
- 如申請專利範圍第1項所述之可攜式靜電夾盤,其中該可攜式靜電夾盤約500毫米平方至約3公尺平方。
- 如申請專利範圍第1項至第3項的任何一項所述之可攜式靜電夾盤,其中該載體經裝設以提供足夠的剛性(stiffness)給該可攜式靜電夾盤,以使當該超薄基板配置在該可攜式靜 電夾盤上時,該超薄基板可在該一或多個處理腔室中如同一片材(sheet)的方式被處理。
- 如申請專利範圍第1項至第3項的任何一項所述之可攜式靜電夾盤,其中該可攜式靜電夾盤的一厚度介於約0.4毫米至約0.7毫米之間。
- 如申請專利範圍第5項所述之可攜式靜電夾盤,其中該載體的一厚度比0.7毫米小約10至200微米。
- 如申請專利範圍第1項至第3項的任何一項所述之可攜式靜電夾盤,其中該載體由玻璃、氧化鋁(Al2O3)、氮化鋁(AlN)、矽(Si)、不銹鋼、鋁、陶瓷、或具有一低熱膨脹係數的多個鎳鐵合金之其中至少一者製成。
- 如申請專利範圍第1項至第3項的任何一項所述之可攜式靜電夾盤,其中該載體包括一材料,該材料的熱膨脹係數和將處理之該超薄基板的熱膨脹係數實質上相等。
- 如申請專利範圍第1項至第3項的任何一項所述之可攜式靜電夾盤,其中該載體、該導電層和該介電層中的每一者包括多個氣體擴散孔,該些氣體擴散孔貫穿該載體、該導電層和該介電層中的每一者而形成,該些氣體擴散孔將該載體的一底表面以流體連通式(fluidly)耦接該介電層的一頂表面。
- 如申請專利範圍第9項所述之可攜式靜電夾盤,其中該載體、該導電層和該介電層中的每一者之該些氣體擴散孔的直徑介於30微米至300微米之間。
- 如申請專利範圍第1項至第3項的任何一項所述之可攜式靜電夾盤,進一步包括一可攜式電池電源,該可攜式電池電源耦接至該至少一個導體,以相對於該超薄基板提供一偏壓至該可攜式靜電夾盤,以將該超薄基板靜電式保持於該可攜式靜電夾盤。
- 如申請專利範圍第1項至第3項的任何一項所述之可攜式靜電夾盤,其中該至少一個導體經裝設以耦接至一或多個充電站(power charging station),該一或多個充電站在該一或多個處理腔室外面,用以相對於該超薄基板提供一偏壓至該可攜式靜電夾盤,在該一或多個處理腔室內對基板進行處理的期間將該超薄基板靜電式保持於該可攜式靜電夾盤。
- 一種用於處理操縱一超薄基板之方法,該超薄基板將在一或多個處理腔室中處理,該方法包括下列步驟:在一可攜式靜電夾盤上配置該超薄基板,該可攜式靜電夾盤配置在該一或多個處理腔室外面,該可攜式靜電夾盤具有至少一個介電層、一導電層和耦接至該導電層的至 少一個電極,且其中該可攜式靜電夾盤按尺寸製作成支撐多個大型超薄基板;施加一第一電力(power)至該電極,以相對於該超薄基板提供一偏壓至該可攜式靜電夾盤,以將該超薄基板靜電式保持於該可攜式靜電夾盤;將該可攜式靜電夾盤和被靜電式保持的該超薄基板通過該第一處理腔室中的一開口移動至該第一處理腔室中,以執行一第一組的一或多個基板處理;在該第一組的該些基板處理執行之後,透過該第一處理腔室的該開口,從該第一處理腔室移出該可攜式靜電夾盤和被靜電式保持的該超薄基板;以及執行一鬆開(de-chuck)處理以從該可攜式靜電夾盤釋出該超薄基板。
- 如申請專利範圍第13項所述之方法,其中該可攜式靜電夾盤約500毫米平方至約3公尺平方。
- 如申請專利範圍第13項至第14項的任何一項所述之方法,其中該方法進一步包括下列步驟:施加一第二電力,以確保該超薄基板被靜電式保持於該可攜式靜電夾盤;以及移動該可攜式靜電夾盤和被靜電式保持的該超薄基板至一第二處理腔室中。
- 如申請專利範圍第15項所述之方法,其中該第一電力於一初始充電站施加至該可攜式靜電夾盤,且其中該第二電力於一中間充電站施加至該可攜式靜電夾盤。
- 如申請專利範圍第13項至第14項的任何一項所述之方法,其中該超薄基板為一玻璃基板,該玻璃基板的一厚度介於約10微米至200微米之間。
- 如申請專利範圍第13項至第14項的任何一項所述之方法,其中該鬆開處理包括下列步驟:在該可攜式靜電夾盤和該超薄基板之間提供一氣體以從該可攜式靜電夾盤釋出該超薄基板。
- 如申請專利範圍第18項所述之方法,其中該氣體為一帶電離子化電漿,以及其中該帶電離子化電漿藉由降低在該超薄基板上的一累積電荷以降低夾持力。
- 一種用以卸載一超薄基板的設備,該設備包括:一可攜式靜電夾盤,包括:一載體,該載體包括一介電材料;一導電層,該導電層配置在該載體的一頂表面上;一介電層,該介電層具有一基板支撐表面,其中該介電層配置在該導電層上方,以使該導電層配置在該載體和該介電層之間;以及 複數個氣體擴散孔,該些氣體擴散孔貫穿該載體、該導電層和該介電層而形成,該些氣體擴散孔將該載體的一底表面流體連通式(fluidly)耦接該介電層的該基板支撐表面;以及一基座支撐件(pedestal support),該基座支撐件具有一支撐表面,當該可攜式靜電夾盤配置在該基座支撐件上時,該支撐表面支撐該可攜式靜電夾盤,該基座支撐件包括:一主體;一氣體貯存器,該氣體貯存器配置在該主體中;以及複數個氣體擴散孔,該些氣體擴散孔將該氣體貯存器流體連通式耦接該支撐表面,其中該基板支撐件的該些氣體擴散孔對齊該可攜式靜電夾盤的該些氣體擴散孔。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201261697915P | 2012-09-07 | 2012-09-07 | |
US201261714924P | 2012-10-17 | 2012-10-17 | |
US14/018,959 US9343347B2 (en) | 2012-09-07 | 2013-09-05 | Portable electrostatic chuck carrier for thin substrates |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201413869A TW201413869A (zh) | 2014-04-01 |
TWI584409B true TWI584409B (zh) | 2017-05-21 |
Family
ID=50233065
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW102132224A TWI584409B (zh) | 2012-09-07 | 2013-09-06 | 用於薄基板之可攜式靜電夾盤載體 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9343347B2 (zh) |
JP (1) | JP3199713U (zh) |
KR (1) | KR20150053775A (zh) |
CN (1) | CN104603928B (zh) |
TW (1) | TWI584409B (zh) |
WO (1) | WO2014039655A1 (zh) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008083002A1 (en) * | 2006-12-26 | 2008-07-10 | Fujifilm Dimatix, Inc. | Printing system with conductive element |
CN104603928B (zh) * | 2012-09-07 | 2017-08-25 | 应用材料公司 | 便携式静电夹盘 |
SG11201602922RA (en) * | 2013-12-22 | 2016-07-28 | Applied Materials Inc | Extreme ultraviolet lithography system having chuck assembly and method of manufacturing thereof |
TWI560803B (en) * | 2014-06-13 | 2016-12-01 | Mobile electrostatic chuck and manufacturing method of the same | |
US10546768B2 (en) | 2015-02-25 | 2020-01-28 | Corning Incorporated | Apparatus and method to electrostatically chuck substrates to a moving carrier |
US10332773B2 (en) * | 2015-06-04 | 2019-06-25 | Applied Materials, Inc. | Transparent electrostatic carrier |
CN106486409A (zh) * | 2015-08-25 | 2017-03-08 | 英属开曼群岛商精曜有限公司 | 基板载具 |
WO2017066311A1 (en) * | 2015-10-12 | 2017-04-20 | Applied Materials, Inc. | Substrate carrier for active/passive bonding and de-bonding of a substrate |
JP6690918B2 (ja) * | 2015-10-16 | 2020-04-28 | 日本特殊陶業株式会社 | 加熱部材、静電チャック、及びセラミックヒータ |
CN105540252B (zh) * | 2016-02-02 | 2017-03-15 | 宁德新能源科技有限公司 | 电池自动上下料装置 |
TWI582898B (zh) * | 2016-06-22 | 2017-05-11 | Linco Technology Co Ltd | Movable disk drive for production lines |
EP3497066A1 (en) | 2016-08-10 | 2019-06-19 | Corning Incorporated | Apparatus and method to coat glass substrates with electrostatic chuck and van der waals forces |
US10460969B2 (en) * | 2016-08-22 | 2019-10-29 | Applied Materials, Inc. | Bipolar electrostatic chuck and method for using the same |
JP6925711B2 (ja) * | 2017-04-12 | 2021-08-25 | 株式会社ディスコ | フレームユニット及び被加工物のレーザー加工方法 |
US20190115241A1 (en) * | 2017-10-12 | 2019-04-18 | Applied Materials, Inc. | Hydrophobic electrostatic chuck |
US11685990B2 (en) | 2017-12-08 | 2023-06-27 | Applied Materials, Inc. | Textured processing chamber components and methods of manufacturing same |
US10665494B2 (en) | 2018-01-31 | 2020-05-26 | Applied Materials, Inc. | Automated apparatus to temporarily attach substrates to carriers without adhesives for processing |
JP7020284B2 (ja) * | 2018-05-14 | 2022-02-16 | トヨタ自動車株式会社 | 接合用冶具 |
CN112313871A (zh) * | 2018-06-28 | 2021-02-02 | 3M创新有限公司 | 低电压静电挤压装置 |
JP7135529B2 (ja) * | 2018-07-19 | 2022-09-13 | 日新電機株式会社 | プラズマ処理装置 |
KR102522181B1 (ko) * | 2019-01-15 | 2023-04-14 | 주식회사 엘지화학 | 정전척 및 정전척의 용도 |
CN113614282A (zh) * | 2019-03-20 | 2021-11-05 | 应用材料公司 | 处理系统、用于在处理系统中运输基板的载体和用于运输载体的方法 |
US11196360B2 (en) | 2019-07-26 | 2021-12-07 | Applied Materials, Inc. | System and method for electrostatically chucking a substrate to a carrier |
CN111026275B (zh) * | 2019-12-12 | 2021-02-26 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 静电反馈显示阵列及主动驱动方法、电路 |
KR102539964B1 (ko) * | 2021-04-30 | 2023-06-05 | 주식회사 바이텍시스템 | 정전척 및 이를 이용한 기판 검사장치 |
KR102451733B1 (ko) * | 2021-12-20 | 2022-10-11 | 김순훈 | 내구성이 향상된 정전척 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20060172536A1 (en) * | 2005-02-03 | 2006-08-03 | Brown Karl M | Apparatus for plasma-enhanced physical vapor deposition of copper with RF source power applied through the workpiece |
US20060267294A1 (en) * | 2003-03-13 | 2006-11-30 | Karl-Hermann Busse | Mobile transportable electrostatic substrate holder |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3457477B2 (ja) | 1995-09-06 | 2003-10-20 | 日本碍子株式会社 | 静電チャック |
US6108189A (en) * | 1996-04-26 | 2000-08-22 | Applied Materials, Inc. | Electrostatic chuck having improved gas conduits |
TWI327336B (en) * | 2003-01-13 | 2010-07-11 | Oc Oerlikon Balzers Ag | Arrangement for processing a substrate |
KR100755874B1 (ko) * | 2005-11-30 | 2007-09-05 | 주식회사 아이피에스 | 진공처리장치의 정전척, 그를 가지는 진공처리장치 및정전척의 제조방법 |
JP4855177B2 (ja) * | 2006-08-10 | 2012-01-18 | 住友大阪セメント株式会社 | 静電チャック装置 |
DE102006055618B4 (de) * | 2006-11-24 | 2011-05-12 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Mobiler elektrostatischer Trägerwafer mit elektrisch isoliertem Ladungsspeicher, Anordnung zur Halterung und Verfahren zum Halten und Lösen eines scheibenförmigen Bauteils |
US7667944B2 (en) * | 2007-06-29 | 2010-02-23 | Praxair Technology, Inc. | Polyceramic e-chuck |
WO2010095720A1 (ja) | 2009-02-20 | 2010-08-26 | 日本碍子株式会社 | セラミックス-金属接合体及びその製法 |
JP5470601B2 (ja) * | 2009-03-02 | 2014-04-16 | 新光電気工業株式会社 | 静電チャック |
JP5611718B2 (ja) * | 2009-08-27 | 2014-10-22 | 三星ディスプレイ株式會社Samsung Display Co.,Ltd. | 薄膜蒸着装置及びこれを利用した有機発光表示装置の製造方法 |
DE102009042467A1 (de) * | 2009-09-23 | 2011-03-24 | Audi Ag | Fügeverfahren, Fügevorrichtung und Befestigungselement |
TWI501365B (zh) * | 2010-10-13 | 2015-09-21 | Ind Tech Res Inst | 封裝單元及其堆疊結構與製造方法 |
US20120227886A1 (en) * | 2011-03-10 | 2012-09-13 | Taipei Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Substrate Assembly Carrier Using Electrostatic Force |
US8868002B2 (en) * | 2011-08-31 | 2014-10-21 | Xirrus, Inc. | System and method for conducting wireless site surveys |
TW201334213A (zh) * | 2011-11-01 | 2013-08-16 | Intevac Inc | 處理太陽能電池晶圓的靜電吸盤 |
US9030797B2 (en) * | 2012-06-01 | 2015-05-12 | Infineon Technologies Ag | Thin substrate electrostatic chuck system and method |
CN104603928B (zh) * | 2012-09-07 | 2017-08-25 | 应用材料公司 | 便携式静电夹盘 |
-
2013
- 2013-09-05 CN CN201380046661.1A patent/CN104603928B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2013-09-05 WO PCT/US2013/058228 patent/WO2014039655A1/en active Application Filing
- 2013-09-05 KR KR1020157008372A patent/KR20150053775A/ko not_active Application Discontinuation
- 2013-09-05 JP JP2015600079U patent/JP3199713U/ja not_active Expired - Fee Related
- 2013-09-05 US US14/018,959 patent/US9343347B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2013-09-06 TW TW102132224A patent/TWI584409B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20060267294A1 (en) * | 2003-03-13 | 2006-11-30 | Karl-Hermann Busse | Mobile transportable electrostatic substrate holder |
US20060172536A1 (en) * | 2005-02-03 | 2006-08-03 | Brown Karl M | Apparatus for plasma-enhanced physical vapor deposition of copper with RF source power applied through the workpiece |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN104603928A (zh) | 2015-05-06 |
TW201413869A (zh) | 2014-04-01 |
JP3199713U (ja) | 2015-09-10 |
WO2014039655A1 (en) | 2014-03-13 |
US9343347B2 (en) | 2016-05-17 |
KR20150053775A (ko) | 2015-05-18 |
CN104603928B (zh) | 2017-08-25 |
US20140071581A1 (en) | 2014-03-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI584409B (zh) | 用於薄基板之可攜式靜電夾盤載體 | |
CN105579612B (zh) | 具有一体式静电夹盘的基板载体 | |
CN201436515U (zh) | 基板支撑组件 | |
US6676761B2 (en) | Method and apparatus for dechucking a substrate | |
KR100373878B1 (ko) | 기판상의박막층을에칭하기위한장치및방법,그리고이를위하여기판지지부재의수용부상에기판을위치시키고클램핑시키는장치및방법 | |
KR102582667B1 (ko) | 플라즈마 식각 장치를 이용한 반도체 소자의 제조 방법 | |
CN102468106A (zh) | 等离子体处理装置 | |
TW202102066A (zh) | 接地帶組件 | |
TWI455192B (zh) | 避免在pecvd製程腔壁上沉積薄膜的設備及方法 | |
JP2000021947A (ja) | 乾式処理装置 | |
US10658159B2 (en) | Plasma reactor vessel having improved plasma uniformity comprised of a first electrode, a second electrode opposed to the first electrode, and a third electrode between a substrate carrier and the second electrode | |
TWI673815B (zh) | 基板處理系統、基板傳送裝置和傳送方法 | |
JP2020501364A (ja) | 基板搬送装置 | |
US20190382891A1 (en) | Method and solution for resolving cgt mura issue |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |