TWI524245B - An input device, a display device, and an electronic device - Google Patents

Description

輸入裝置、顯示裝置及電子機器

本發明係關於一種輸入裝置、顯示裝置及電子機器，尤其關於一種靜電電容方式之輸入裝置、以及包括此種輸入裝置之顯示裝置及電子機器。

近年來，存在如下技術：於顯示裝置之顯示面側安裝稱為觸控面板或觸摸感測器之輸入裝置，於使手指或觸控筆等輸入工具等接觸於觸控面板進行輸入動作時，檢測輸入位置進行輸出。具有此種觸控面板之顯示裝置因無需鍵盤、滑鼠、或小鍵盤等輸入裝置，故除電腦以外還可廣泛地使用於行動電話等個人數位助理等。

作為檢測觸控面板中手指等所接觸之接觸位置之檢測方式之一，存在有靜電電容方式。使用靜電電容方式之觸控面板係於觸控面板之面內設置有包括夾隔著介電層而對向配置之一對電極、即驅動電極及檢測電極的複數個電容元件。而且，於使手指或觸控筆等輸入工具接觸於電容元件進行輸入動作時，利用對電容元件追加電容從而檢測電容產生變化來檢測輸入位置。

於日本專利特開2012-73783號公報(專利文獻1)中記載有將包括液晶顯示元件之液晶顯示器件與靜電電容式之觸摸檢測器件一體化而成的所謂內嵌(In-cell)式顯示裝置。又，於上述專利文獻1中記載有使亦用作觸摸檢測器件之驅動電極之顯示用共用電極以單向延伸之方式並排設置，且使觸摸檢測器件之檢測電極以在與共用電極交叉之方向 上延伸之方式並排設置。

於日本專利特開2012-43298號公報(專利文獻2)中記載有如下技術：於輸入裝置中，使在第1方向上伸出之複數個下部透明電極於與第1方向正交之第2方向上排列，且使在第2方向上伸出之複數個上部透明電極於第1方向上排列。

於日本專利特開2012-14329號公報(專利文獻3)中記載有於輸入裝置中，藉由用於感測之電極為1個之自電容(self-capacitance)方式來檢測輸入位置之技術。又，於上述專利文獻3中記載有用於感測之電極於俯視下為包括上邊、下邊、及2個斜邊之等腰梯形。

[先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]日本專利特開2012-73783號公報

[專利文獻2]日本專利特開2012-43298號公報

[專利文獻3]日本專利特開2012-14329號公報

於上述專利文獻1中記載之內嵌式顯示裝置中所包括之輸入裝置中，驅動電極具有作為輸入裝置之驅動電極之功能、及作為顯示裝置之共用電極之功能。又，顯示裝置係對夾隔著絕緣膜而相互對向配置之共用電極與像素電極之間施加電壓，顯示圖像，但必須對每個像素控制此時所施加之電壓，故於俯視下，相鄰之2個共用電極與1個像素電極重合之情況較為欠佳。因此，驅動電極之寬度為像素電極之排列週期或寬度之整數倍，且該整數為每1根驅動電極之像素數。

然而，驅動電極之排列方向上之像素電極之數量即像素數係由作為顯示裝置之需求規格所決定，因而，存在驅動電極之排列方向之像素數無法被每1根驅動電極之像素數整除之情況。此時，將未被整 除而產生之餘數分配給驅動電極之排列之例如一端之驅動電極，故存在某一驅動電極之寬度與其他驅動電極之寬度不同之情況。

於此種情形時，檢測電極中之與該具有不同之寬度之驅動電極重合之部分的面積不同於檢測電極中之與其他驅動電極重合之部分的面積。因此，無法使該具有不同之寬度之驅動電極與檢測電極之間之靜電電容等於其他驅動電極與檢測電極之間之靜電電容。因此，存在如下擔憂：於該具有不同之寬度之驅動電極上所檢測之檢測電容之相對於ADC(Analog-to-digital converter，類比/數位轉換器)範圍之上限值或下限值之差、即裕度變小，從而檢測電容之雜訊抗擾性下降。

進而，即便以單體使用之輸入裝置、及顯示裝置與輸入裝置作為獨立個體而設置之外掛(on-cell)式顯示裝置中所包括之輸入裝置，亦存在因配置之制約等而導致某一驅動電極之寬度與其他驅動電極之寬度不同之情況。亦於此種情形時，無法使該具有不同寬度之驅動電極與檢測電極之間之靜電電容等於其他驅動電極與檢測電極之間之靜電電容。因此，存在如下擔憂：於該具有不同之寬度之驅動電極上所檢測之檢測電容之相對於ADC範圍之上限值或下限值的裕度變小，從而檢測電容之雜訊抗擾性下降。

本發明係為解決如上所述之先前技術之問題而完成者，其目的在於提供一種可抑制於具有與其他驅動電極之寬度不同之寬度的驅動電極上，檢測電容之雜訊抗擾性下降的輸入裝置及包括該輸入裝置之顯示裝置。

若對本案所揭示之發明中之具代表性者之概要簡單地進行說明，則如下所述。

具代表性之實施形態之輸入裝置包含：複數個第1電極，其等係於俯視下分別於第1方向上延伸，且於與第1方向交叉之第2方向上排 列；及第2電極，其係於俯視下配置於複數個第1電極之排列之一外側，且於第1方向上延伸。又，該輸入裝置係包含於俯視下分別於第2方向上延伸且於第1方向上排列之複數個第3電極。基於第3電極與第1電極之間之第1靜電電容、及第3電極與第2電極之間之第2靜電電容而檢測輸入位置。第2電極之第2方向之第1寬度係小於第1電極之第2方向之第2寬度，且第3電極係於俯視下在夾隔著第2電極而與複數個第1電極相反之側，包含將第3電極之面積擴展的第1擴展部。

又，具代表性之實施形態之輸入裝置包含：複數個第1電極，其等係於俯視下分別在第1方向上延伸，且於與第1方向交叉之第2方向上排列；及第2電極，其係於俯視下配置於複數個第1電極之排列之一外側或複數個第1電極之排列之中途，且於第1方向上延伸。又，該輸入裝置係包含於俯視下分別在第2方向上延伸且於第1方向上排列之複數個第3電極。基於形成於第3電極與第1電極之第1交叉部之第1靜電電容、及形成於第3電極與第2電極之第2交叉部之第2靜電電容，檢測輸入位置。第2電極之第2方向之第1寬度係不同於第1電極之第2方向之第2寬度。第3電極係於第2交叉部包含將第3電極之面積擴展之第1擴展部，且以於俯視下第3電極中與第2電極重合之部分之面積接近於第3電極中與第1電極重合之部分之面積之方式，調整第1擴展部之面積。

進而，具代表性之實施形態之輸入裝置包含：複數個第1電極，其等係於俯視下分別在第1方向上延伸，且於與第1方向交叉之第2方向上排列；及第2電極，其係於俯視下配置於複數個第1電極之排列之一外側或複數個第1電極之排列之中途，且於第1方向上延伸。又，該輸入裝置係包含於俯視下分別於第2方向上延伸且於第1方向上排列之複數個第3電極。基於形成於第3電極與第1電極之第1交叉部之第1靜電電容、及形成於第3電極與第2電極之第2交叉部之第2靜電電容而檢 測輸入位置。第2電極之第2方向之第1寬度大於第1電極之第2方向之第2寬度。第3電極係於第1交叉部包含將第3電極之面積擴展之第1擴展部，且以於俯視下，第3電極中與第2電極重合之部分之面積接近於第3電極中與第1電極重合之部分之面積之方式，調整第1擴展部之面積。

若對藉由本案所揭示之發明中之具代表性者而獲得之效果簡單地進行說明，則如下所述。

根據具代表性之實施形態，於輸入裝置及包括該輸入裝置之顯示裝置中，可防止或抑制於具有與其他驅動電極之寬度不同之寬度之驅動電極上，檢測電容之雜訊抗擾性下降。

11、12、12c‧‧‧基板

11a、12a、12d‧‧‧正面

11b、12b、12e‧‧‧背面

13‧‧‧液晶層

14‧‧‧共用電極

15‧‧‧絕緣膜

16‧‧‧像素電極

17‧‧‧彩色濾光片

18‧‧‧封膠

21、21c、22‧‧‧配線基板

21a、21b、22a‧‧‧配線

511‧‧‧前面板

512‧‧‧濾光玻璃

513‧‧‧影像顯示畫面部

522‧‧‧顯示部

523‧‧‧選單開關

524‧‧‧快門按鈕

531‧‧‧本體

532‧‧‧鍵盤

533‧‧‧顯示部

541‧‧‧本體部

542‧‧‧透鏡

543‧‧‧開始/停止開關

544‧‧‧顯示部

551‧‧‧上側殼體

552‧‧‧下側殼體

553‧‧‧連結部(鉸鏈部)

554‧‧‧顯示器

555‧‧‧次顯示器

556‧‧‧圖片燈

557‧‧‧攝影機

561‧‧‧殼體

562‧‧‧觸控螢幕

BD、BD1~BD3‧‧‧本體部

C1‧‧‧電容元件

CMD‧‧‧輸入工具

CN1~CN5‧‧‧連接部

CR1~CR3‧‧‧交叉部

CST1‧‧‧固定值

DL‧‧‧介電層

DR1、DR2‧‧‧驅動電路

DS1、DS2‧‧‧間隔

DT1‧‧‧檢測電路

DW‧‧‧驅動波形

EA1‧‧‧顯示區域

EA2‧‧‧檢測區域

LC‧‧‧液晶

LCD1、LCD2‧‧‧顯示裝置

LL1‧‧‧下限值

LN1~LN3‧‧‧長度

LS‧‧‧光源

OEA‧‧‧區域

OH1~OH5‧‧‧突出部(擴展部)

PL1、PL2‧‧‧偏光板

Rx、Rx1~Rx10‧‧‧檢測電極

SW、SW1、SW2‧‧‧信號波形

TP1~TP4‧‧‧觸控面板(輸入裝置)

TP200‧‧‧觸控面板

Tx、Tx1~Tx10‧‧‧驅動電極

UL1‧‧‧上限值

VW‧‧‧觀看者

WB、WD1~WD3、WR1~WR3‧‧‧寬度

圖1係表示靜電電容型觸控面板之概要構成之說明圖。

圖2係表示施加於圖1所示之觸控面板之驅動波形與自觸控面板輸出之信號波形之關係之例的說明圖。

圖3係示意性地表示圖1所示之驅動電極及檢測電極之排列之一例的說明圖。

圖4係表示實施形態1之顯示裝置之一例構成之俯視圖。

圖5係表示實施形態1之顯示裝置之一例構成之剖面圖。

圖6係表示實施形態1之顯示裝置之一例構成之剖面圖。

圖7係示意性地表示實施形態1之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置的俯視圖。

圖8係示意性地表示實施形態1之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第1變化例的俯視圖。

圖9係示意性地表示實施形態1之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第2變化例的俯視圖。

圖10係示意性地表示實施形態1之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第3變化例的俯視圖。

圖11係示意性地表示實施形態1之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第4變化例的俯視圖。

圖12係示意性地表示實施形態1之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第5變化例的俯視圖。

圖13係示意性地表示比較例1之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置的俯視圖。

圖14係表示於比較例1中，對複數個驅動電極之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容的曲線圖。

圖15係表示於實施例1~實施例4中，對複數個驅動電極之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容的曲線圖。

圖16係示意性地表示實施形態2之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置的俯視圖。

圖17係示意性地表示實施形態2之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第1變化例的俯視圖。

圖18係示意性地表示實施形態2之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第2變化例的俯視圖。

圖19係示意性地表示實施形態2之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第3變化例的俯視圖。

圖20係示意性地表示實施形態2之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第4變化例的俯視圖。

圖21係示意性地表示實施形態2之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第5變化例的俯視圖。

圖22係示意性地表示實施形態2之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第6變化例的俯視圖。

圖23係示意性地表示實施形態3之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置的俯視圖。

圖24係示意性地表示實施形態3之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第1變化例的俯視圖。

圖25係示意性地表示實施形態3之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第2變化例的俯視圖。

圖26係示意性地表示實施形態3之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第3變化例的俯視圖。

圖27係示意性地表示實施形態3之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第4變化例的俯視圖。

圖28係示意性地表示實施形態3之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第5變化例的俯視圖。

圖29係示意性地表示實施形態3之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第6變化例的俯視圖。

圖30係示意性地表示比較例2之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置的俯視圖。

圖31係表示於比較例2中，對複數個驅動電極之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容的曲線圖。

圖32係表示於實施例5及實施例6中，對複數個驅動電極之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容的曲線圖。

圖33係表示實施形態4之觸控面板之一例之構成的俯視圖。

圖34係表示實施形態4之觸控面板之一例之構成的剖面圖。

圖35係表示實施形態4之顯示裝置之一例之構成的剖面圖。

圖36係表示實施形態5之作為電子機器之一例之電視裝置之外觀的立體圖。

圖37係表示實施形態5之作為電子機器之一例之數位相機之外觀 的立體圖。

圖38係表示實施形態5之作為電子機器之一例之筆記型個人電腦之外觀的立體圖。

圖39係表示實施形態5之作為電子機器之一例之視訊攝影機之外觀的立體圖。

圖40係表示實施形態5之作為電子機器之一例之行動電話機之外觀的前視圖。

圖41係表示實施形態5之作為電子機器之一例之行動電話機之外觀的前視圖。

圖42係表示實施形態5之作為電子機器之一例之智慧型手機之外觀的前視圖。

於以下實施形態中，為方便起見，而於必要時分割成複數個部分或實施形態進行說明，但除了特別明示之情況以外，其等並非相互無關係，一者存在於另一者之一部分或全部之變化例、詳細情況、補充說明等關係。

又，於以下實施形態中，於提及要素之數等(包含個數、數值、量、範圍等)之情形時，除了特別明示之情況、及原理上明確地限定為特定數之情況等以外，並不限定為該特定數，既可為特定數以上，亦可為特定數以下。

進而，於以下實施形態中，關於其構成要素(亦包含要素步驟等)，除了特別明示之情況、及認為原理上明確不可缺少之情況等以外，當然未必為不可缺少。同樣地，於以下實施形態中，於提及構成要素等之形狀、位置關係等時，除了特別明示之情況、及認為原理上明確並非如此之情況等以外，實質上包含近似或類似於此形狀等者等。此情況對於上述數值及範圍而言，亦為相同。

以下，基於圖式，對本發明之實施形態進行詳細說明。再者，於用以說明實施形態之所有圖中，對於具有相同功能之構件標註相同符號，並省略其重複之說明。又，於以下實施形態中，除特別必要時以外，原則上不重複同一或相同之部分之說明。

進而，於實施形態中使用之圖式中，即便剖面圖，亦存在為了使圖式易於觀察而省略影線之情況。又，即便俯視圖，亦存在為了使圖式易於觀察而標註影線之情況。

(實施形態1) <靜電電容型輸入裝置之動作原理>

首先，對稱為靜電電容型觸控面板或觸摸感測器之輸入裝置之基本動作原理進行說明。圖1係表示靜電電容型觸控面板之概要構成之說明圖。又，圖2係表示施加於圖1所示之觸控面板之驅動波形與自觸控面板輸出之信號波形之關係之例的說明圖。進而，圖3係示意性地表示圖1所示之驅動電極及檢測電極之排列之一例的說明圖。

作為輸入裝置之靜電電容型觸控面板TP1包含複數個驅動電極Tx、及複數個檢測電極Rx。驅動電極Tx與檢測電極Rx係夾隔著介電層DL而對向配置，且藉由驅動電極Tx、介電層DL及檢測電極Rx而形成電容元件C1。

對驅動電極Tx，自輸入裝置用驅動電路DR1施加例如圖2所示之作為矩形波之驅動波形DW，作為輸入位置檢測用之電壓即驅動電壓。自檢測電極Rx例如圖2所示地流通與驅動波形DW及圖1所示之電容元件C1之靜電電容相應之電流，從而將信號波形SW輸出。自檢測電極Rx輸出之信號波形SW係輸出至檢測輸入位置之檢測電路DT1(參照圖1)。檢測電路DT1包括ADC，且藉由該ADC而將自檢測電極Rx輸出之信號波形SW即檢測電容由類比信號轉換成數位信號進行處理。

此處，如圖1所示，若使手指或觸控筆等一端連接於接地電位之 作為電容元件之輸入工具CMD接近、或接觸於觸控面板TP1之檢測電極Rx，則於靠近輸入工具CMD之位置，對電容元件C1追加輸入工具CMD之電容。因此，自配置於靠近輸入工具CMD之位置之檢測電極Rx輸出之信號波形SW1即檢測電容小於自配置於其他位置之檢測電極Rx輸出之信號波形SW2即檢測電容(例如參照圖2)。

因此，檢測電路DT1可監視即計測自複數個檢測電極Rx之各者傳輸之信號波形SW即檢測電容，並基於信號波形SW即檢測電容之變化量，確定即檢測輸入工具CMD之位置。例如，可預先對信號波形SW即檢測電容之變化量設定閾值，並參照超過閾值之檢測電極Rx之位置資料，將輸入工具CMD之位置輸出。又，例如，亦可將信號波形SW即檢測電容之值直接與閾值進行比較。

再者，對電容元件C1追加輸入工具CMD之電容之現象係除了輸入工具CMD與檢測電極Rx接觸之情形以外，亦產生於輸入工具CMD與檢測電極Rx靠近之情形時。因此，檢測電極Rx亦可不露出於配置輸入工具CMD之面，例如，可於檢測電極Rx與輸入工具CMD之間配置罩蓋構件，保護檢測電極Rx。

又，於監視即計測信號波形SW即檢測電容之方法中有各種變化例，例如，可使用計測檢測電極Rx中產生之電壓值之方法、或計測流入檢測電路DT1中之每一單位時間之電流值之累積量之方法。

關於驅動電極Tx與檢測電極Rx各者之平面配置，例如圖3所示，可將驅動電極Tx與檢測電極Rx以分別相互交叉(較佳為正交)之方式配置為帶狀。於該情形時，對複數個驅動電極Tx依序施加驅動波形DW(參照圖2)，於在俯視下，驅動電極Tx與檢測電極Rx交叉之每個交叉部，判定信號波形SW(參照圖2)之變化量。

再者，關於驅動電極Tx及檢測電極Rx之配置之詳細情況，於下文進行敍述。

<顯示裝置之構成>

其次，對本實施形態1之顯示裝置之構成進行說明。圖4係表示實施形態1之顯示裝置之一例之構成的俯視圖。圖5及圖6係表示實施形態1之顯示裝置之一例之構成的剖面圖。圖5係沿著圖4之A-A線之剖面圖。又，圖6係將圖5所示之主要部分剖面圖進一步放大地示意性表示者。

本實施形態1之顯示裝置LCD1係附帶觸摸檢測功能之顯示裝置。又，本實施形態1之顯示裝置LCD1係將包括液晶顯示元件作為顯示元件之液晶顯示裝置、與包括靜電電容型觸控面板TP1之輸入裝置一體化而成的所謂內嵌式附帶觸摸檢測功能之顯示裝置。

作為於液晶顯示裝置中，為使作為下述顯示圖像形成部發揮功能之液晶層之液晶分子之配向產生變化而施加電場的方式，主要使用以下2種方式。作為第1方式，使用在液晶顯示裝置之厚度方向即面外方向上施加電場之所謂縱電場模式。又，作為第2方式，使用在液晶顯示裝置之平面方向即面內方向上施加電場之所謂橫電場模式。進而，作為橫電場模式，使用例如IPS(In-Plane Switching，共平面切換)模式、或FFS(Fringe Field Switching，邊緣電場切換)模式等。而且，以下，作為一例，對將FFS模式之液晶顯示裝置與包括觸控面板TP1之輸入裝置一體化而成之內嵌式顯示裝置LCD1進行說明。

如圖4及圖5所示，顯示裝置LCD1包含基板11、與基板11對向配置之基板12、及配置於基板11與基板12之間之液晶層13。基板12係配置於顯示裝置LCD1之顯示面側，基板11係配置於顯示裝置LCD1之與顯示面側相反之側。

如圖6所示，基板11係包含位於基板12側之正面11a、及位於正面11a之相反側之背面11b。基板11係用作形成有各種電極或配線、薄膜電晶體(Thin Film Transistor：TFT)等之電路基板。基板11例如包括玻 璃。

於基板11上即基板11之正面11a側，於複數個像素之每一像素中配置有共用電極14。共用電極14係用以對複數個像素之每一像素供給共用電壓之電極，且包含例如ITO(Indium Tin Oxide，氧化銦錫)等具有透光性且透明之導電膜、即透明導電膜。再者，具有透光性、透明係指可見光區域中所含之具有例如550nm波長之光的透過率為例如80%以上。

共用電極14係如圖4所示於作為顯示裝置LCD1進行顯示之區域、即矩陣狀配置有複數個像素之區域的顯示區域EA1內，以單向延伸之方式並排設置。此時，共用電極14係於垂直於共用電極14所延伸之方向(使用圖7於下文敍述之X軸方向)之剖面中，配置於顯示區域EA1之內部。另一方面，如圖4所示，共用電極14亦可以其兩端延伸至顯示區域EA1之外側為止之方式形成。再者，關於共用電極14之形狀之詳細情況，於下文進行敍述。

於共用電極14上形成有絕緣膜15。又，於絕緣膜15上，對應於配置在顯示區域EA1內之複數個像素之各者而配置有像素電極16。像素電極16係對應於複數個像素之各者，配置成矩陣狀或陣列狀，且隔著絕緣膜15而與共用電極14對向。即，共用電極14與像素電極16係夾隔著絕緣膜15而相互對向配置。像素電極16係用以對每個像素供給作為用以進行顯示之像素信號之電壓的電極，且包括例如ITO等具有透光性且透明之導電膜、即透明導電膜。

雖省略圖示，但於基板11上即基板11之正面11a側，於每個像素形成有TFT等主動元件。又，於基板11上即基板11之正面11a側，形成有用以驅動像素電極16之顯示驅動器或對像素電極16供給像素信號之源極線、或驅動TFT之閘極線等配線。因如此之構成，顯示裝置LCD1於顯示期間對像素電極16施加電壓。

基板12包含作為顯示面側之正面12a及位於正面12a之相反側之背面12b，且基板12之背面12b與基板11之正面11a對向。再者，上述共用電極14及像素電極16係形成於基板12之背面12b側，故將共用電極14及像素電極16配置於基板11與基板12之間。

於基板12之背面12b形成有彩色濾光片17。彩色濾光片17係將例如紅(R)、綠(G)、藍(B)3色之彩色濾光片層週期性地排列而構成。於彩色顯示裝置中，例如將該紅(R)、綠(G)、藍(B)3色之子像素作為1組而構成1個像素或1個像素。

液晶層13設置於基板11與基板12之間。液晶層13係作為藉由對像素電極16與共用電極14之間施加顯示用電壓而形成顯示圖像之顯示圖像形成部發揮功能。液晶層13係根據所施加之電場之狀態將通過其之光進行調變者，於本實施形態1中，如上所述，可使用對應於FFS模式之液晶LC。再者，雖省略圖示，但於液晶層13與基板11、12之間分別形成有配向膜。液晶層13係藉由封膠18而密封於基板11與基板12之間。

於顯示裝置LCD1之基板11之背面11b側設置有光源LS、及將自光源LS產生之光過濾之偏光板PL1。另一方面，於基板12之正面12a側設置有將通過基板12之光過濾之偏光板PL2。

於基板11之正面11a形成有配線基板21。配線基板21係例如於樹脂膜內形成有複數個配線，且可根據配置場所之形狀，隨意地變形之所謂軟性配線基板。於配線基板21形成有配線21a。配線21a之一端係與複數個像素電極16電性連接，配線21a之另一端係與驅動電路DR2電性連接。驅動電路DR2係對像素電極16供給圖像顯示用之驅動電位。

圖4~圖6所示之顯示裝置LCD1之彩色圖像顯示方法係例如為如下所述。即，自光源LS出射之光被偏光板PL1過濾後，通過偏光板 PL1入射至液晶層13。入射至液晶層13之光係根據液晶LC之折射率之各向異性，使偏光狀態產生變化，於液晶層13中在自基板11朝向基板12之方向上傳輸，且自基板12出射。此時，藉由對像素電極16及共用電極14施加電壓所形成之電場來控制液晶配向，從而液晶層13作為光學性快門發揮功能。即，於液晶層13中，可於每個子像素中控制光之透過率。到達基板12之光係於形成於基板12之彩色濾光片17中，經實施濾色處理而自正面12a出射。又，自正面12a出射之光被偏光板PL2過濾，到達觀看者VW。

<觸控面板之構成>

接著，參照圖4~圖6，對顯示裝置LCD1中所包括之作為輸入裝置之觸控面板TP1之構成進行說明。

如使用圖1已描述般，作為輸入裝置之觸控面板TP1包含複數個驅動電極Tx、及複數個檢測電極Rx。又，顯示裝置LCD1係內嵌式液晶顯示裝置。因此，顯示裝置LCD1之共用電極14係用作觸控面板TP1之驅動電極Tx。

共用電極14係如使用圖4已描述般，配置於作為顯示裝置LCD1進行顯示之區域之顯示區域EA1內，但亦用作驅動電極Tx，故亦配置於作為觸控面板TP1檢測輸入位置之區域之檢測區域EA2內。即，作為驅動電極Tx之共用電極14係如圖4所示地於檢測區域EA2內以單向地延伸之方式並排設置。此時，作為驅動電極Tx之共用電極14係於垂直於共用電極14所延伸之方向(使用圖7於下文敍述之X軸方向)之剖面中，配置於檢測區域EA2之內部。另一方面，如圖4所示，作為驅動電極Tx之共用電極14亦可以其兩端延伸至檢測區域EA2之外側為止之方式形成。

又，顯示裝置LCD1係內嵌式液晶顯示裝置，故作為觸控面板檢測位置之區域之檢測區域EA2與作為顯示裝置進行顯示之區域之顯示 區域EA1一致。但，如利用實施形態4中於下文敍述般，於顯示裝置為外掛式顯示裝置時，作為觸控面板檢測位置之區域之檢測區域EA2亦可不與作為顯示裝置進行顯示之區域之顯示區域EA1一致。

又，關於俯視下之共用電極14即驅動電極Tx之形狀之詳細情況將於下文敍述。

於基板12之正面12a形成有複數個檢測電極Rx。複數個檢測電極Rx包括例如ITO等具有透光性且透明之導電膜、即透明導電膜。再者，關於俯視下之檢測電極Rx之形狀之詳細情況亦於下文敍述。

於基板11之正面11a，如上所述地形成有配線基板21。於配線基板21形成有配線21b。配線21b之一端係與複數個共用電極14之各者電性連接，配線21b之另一端係與驅動電路DR1電性連接。驅動電路DR1對作為驅動電極Tx之共用電極14施加使用圖2所說明之輸入位置檢測用之驅動波形DW。

例如，可藉由將某一期間劃分為觸摸檢測期間即輸入期間與顯示器寫入期間，而兼用共用電極14與驅動電極Tx。而且，可藉由兼用顯示裝置LCD1之共用電極14與觸控面板TP1之驅動電極Tx，而使顯示裝置LCD1之整體厚度薄型化。

於基板12之正面12a形成有配線基板22。配線基板22係例如於樹脂膜內形成有複數個配線，且可根據配置場所之形狀隨意地變形之所謂軟性配線基板。於配線基板22形成有配線22a。配線22a之一端係與複數個檢測電極Rx之各者電性連接，配線22a之另一端係與檢測電路DT1電性連接。檢測電路DT1基於檢測信號，檢測輸入位置。

再者，於顯示區域EA1即檢測區域EA2之外側之區域，由於形成有例如遮光層，故無法辨認檢測電極Rx及配線基板21、22。

<驅動電極及檢測電極之配置>

圖7係示意性地表示實施形態1之顯示裝置中所包括之觸控面板 中之驅動電極及檢測電極之配置的俯視圖。

如圖7所示，將於俯視下相互交叉之2個方向設為X軸方向及Y軸方向。又，如圖7所示，X軸方向與Y軸方向較佳為相互正交。再者，於本案說明書中，所謂於俯視下係指自與基板12之正面12a(參照圖6)垂直之方向觀察。

又，於以下說明中，為了便於理解，作為一例，將驅動電極Tx之根數設為10根，將檢測電極Rx之根數設為10根。但，驅動電極Tx之根數不限定於10根，且檢測電極Rx之根數不限定於10根。因此，可將驅動電極Tx之根數設為M(M為3以上之整數)根，且可將檢測電極Rx之根數設為N(N為2以上之整數)根(於本實施形態1之變化例、以及實施形態2、實施形態3及其等之變化例中，亦為同樣情況)。

如圖7所示，於觸控面板TP1，作為複數個驅動電極Tx之一例，例如設置有Tx1、Tx2、…、Tx9、Tx10之10根驅動電極Tx。又，如圖7所示，於觸控面板TP1，作為複數個檢測電極Rx之一例，例如設置有Rx1、…、Rx10之10根檢測電極Rx。

驅動電極Tx1~Tx10係於俯視下分別在X軸方向上延伸，且在Y軸方向上排列。即，驅動電極Tx1~Tx10之各者係於X軸方向上延伸，且該等驅動電極Tx1~Tx10相互空出間隔地以Tx1、Tx2、…、Tx9、Tx10之順序於Y軸方向上排列。另一方面，檢測電極Rx1~Rx10係於俯視下分別在Y軸方向上延伸，且於X軸方向上排列。即，檢測電極Rx1~Rx10之各者係於Y軸方向上延伸，且該等檢測電極Rx1~Rx10相互空出間隔地以Rx1、…、Rx10之順序於X軸方向上排列。檢測電極Rx1~Rx10之各者係於俯視下與驅動電極Tx1~Tx10交叉。

於俯視下，將驅動電極Tx2~Tx9各自之Y軸方向之寬度設為WD1，將驅動電極Tx1之Y軸方向之寬度設為WD2，將驅動電極Tx10 之Y軸方向之寬度設為WD3。此時，驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1彼此互為相等，驅動電極Tx1之寬度WD2小於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1，驅動電極Tx10之寬度WD3小於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1。

又，驅動電極Tx1係於俯視下配置於複數個驅動電極Tx2~Tx9之排列之一外側，驅動電極Tx10係於俯視下配置於複數個驅動電極Tx2~Tx9之排列之另一外側。

再者，圖7中雖省略圖示，但像素電極16(參照圖6)係對應於複數個像素之各者而於圖7中之X軸方向及Y軸方向之各者上排列，且配置成矩陣狀。

如使用圖6已描述般，共用電極14具有作為觸控面板TP1之驅動電極Tx之功能、及作為顯示裝置LCD1之共用電極14之功能。又，因必須對每個像素控制對顯示裝置LCD1之像素電極16與共用電極14之間所施加之電壓，故於俯視下相鄰之2個共用電極與1個像素電極重合之情況較為欠佳。因此，驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1係Y軸方向上之像素電極之排列週期或寬度之整數倍(2以上之整數倍)，該整數為每1根驅動電極Tx之像素數。即，驅動電極Tx2~Tx9之各者具有於俯視下如同與排列於Y軸方向上之複數個像素電極重合之寬度。

然而，Y軸方向上之像素電極之數即像素數係根據作為顯示裝置之要求規格決定。因此，存在Y軸方向之像素數無法被每1根驅動電極Tx之像素數整除之情況。於此種情形時，將未被整除而產生之餘數分開地分配給驅動電極Tx之排列之例如兩端之驅動電極Tx，且將所分配之餘數與Y軸方向上之像素電極之排列週期或寬度相乘所得的寬度分別設為驅動電極Tx1、Tx10之寬度WD2、WD3。如此般，驅動電極Tx1、Tx10之寬度WD2、WD3變得小於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1。

例如，考慮於Y軸方向上配置89個像素，且每10個像素配置1個驅動電極Tx之情況。於該情形時，將以10個為單位拆分89個像素時剩餘的9個像素分為4個像素與5個像素，並將該4個像素與5個像素分開地分配給驅動電極Tx之排列之兩端之驅動電極。因此，可將驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1設為例如10個像素之寬度，將驅動電極Tx1之寬度WD2設為4個像素之寬度，將驅動電極Tx10之寬度WD3設為5個像素之寬度。

檢測電極Rx1~Rx10可設為具有相同之形狀者，故而以下，作為檢測電極Rx，以檢測電極Rx1代表檢測電極Rx1~Rx10進行說明(於本實施形態1之變化例、以及實施形態2、實施形態3及其等之變化例中，亦情況相同)。

將驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之交叉部設為CR1，將驅動電極Tx1與檢測電極Rx之交叉部設為CR2，將驅動電極Tx10與檢測電極Rx之交叉部設為CR3。又，將驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容設為CP1，將驅動電極Tx1與檢測電極Rx之間之靜電電容設為CP2，將驅動電極Tx10與檢測電極Rx之間之靜電電容設為CP3。此時，基於靜電電容CP1、CP2、CP3，檢測輸入位置。

檢測電極Rx包含本體部BD、以及複數個突出部OH1及突出部OH2~OH5。本體部BD係於Y軸方向上延伸，且將本體部BD之X軸方向之寬度設為WB。再者，於圖7中，對設置有驅動電極Tx2之區域之內部中形成之突出部OH1、及突出部OH2、OH3標註影線。

又，以下，例示突出部OH1~OH5具有矩形形狀之情況進行說明，但突出部OH1~OH5除矩形形狀以外，還可具有三角形狀、半圓形狀及其他各種形狀(於本實施形態1之變化例、以及實施形態2、實施形態3及其等之變化例中，亦情況相同)。

複數個突出部OH1之各者係於俯視下，在設置有各個驅動電極Tx2~Tx9之區域之內部、即複數個交叉部CR1之各者，以自本體部BD分別朝向X軸方向之正方向及負方向突出之方式形成。與未形成突出部OH1之情形相比，突出部OH1係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。又，較佳為，複數個突出部OH1之面積彼此互為相等。藉此，突出部OH1之形狀具有週期性，從而變得不明顯，故可提昇顯示裝置LCD1之視認性，又，可使驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容互為相等。

再者，X軸方向之正方向及負方向係沿著X軸方向相互相反之方向，X軸方向之正方向係自檢測電極Rx1朝向檢測電極Rx10之方向，X軸方向之負方向係自檢測電極Rx10朝向檢測電極Rx1之方向。

突出部OH2係於俯視下在設置有驅動電極Tx1之區域之內部、即交叉部CR2，以自本體部BD分別朝向X軸方向之正方向及負方向突出之方式形成。與未形成突出部OH2之情形相比，突出部OH2係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。又，較佳為，突出部OH2之面積與突出部OH1之面積相等。藉此，可使突出部OH2之形狀與突出部OH1之形狀相同，從而突出部OH2變得不明顯，故可提昇顯示裝置LCD1之視認性。

突出部OH3係於俯視下在設置有驅動電極Tx10之區域之內部、即交叉部CR3，以自本體部BD分別朝向X軸方向之正方向及負方向突出之方式形成。與未形成突出部OH3之情形相比，突出部OH3係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。又，較佳為，突出部OH3之面積與突出部OH1之面積相等。藉此，可使突出部OH3之形狀與突出部OH1之形狀相同，從而突出部OH3變得不明顯，故可提昇顯示裝置LCD1之視認性。

突出部OH4係於俯視下在夾隔著驅動電極Tx1而與複數個驅動電 極Tx2~Tx9相反之側、即相對於驅動電極Tx1在Y軸方向之正方向側，以自本體部BD朝向X軸方向之正方向及負方向突出之方式形成。與未形成突出部OH4之情形相比，突出部OH4係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

突出部OH5係於俯視下在夾隔著驅動電極Tx10而與複數個驅動電極Tx2~Tx9相反之側、即相對於驅動電極Tx10在Y軸方向之負方向側，以自本體部BD朝向X軸方向之正方向及負方向突出之方式形成。與未形成突出部OH5之情形相比，突出部OH5係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

再者，Y軸方向之正方向及負方向係沿著Y軸方向相互相反之方向，且Y軸方向之正方向係自驅動電極Tx10朝向驅動電極Tx1之方向，Y軸方向之負方向係自驅動電極Tx1朝向驅動電極Tx10之方向。

將突出部OH1之X軸方向之長度設為LN1，將突出部OH1之Y軸方向之寬度設為WR1。又，將突出部OH2之X軸方向之長度設為LN2，將突出部OH2之Y軸方向之寬度設為WR2。進而，將突出部OH3之X軸方向之長度設為LN3，將突出部OH3之Y軸方向之寬度設為WR3。

於本實施形態1中，例如將突出部OH1之長度LN1、突出部OH2之長度LN2、及突出部OH3之長度LN3設為互為相等。又，例如將突出部OH1之寬度WR1、突出部OH2之寬度WR2、及突出部OH3之寬度WR3設為互為相等。此時，長度LN2與寬度WR2之乘積即突出部OH2之面積SO2變得等於長度LN1與寬度WR1之乘積即突出部OH1之面積SO1。而且，長度LN3與寬度WR3之乘積即突出部OH3之面積SO3變得等於長度LN1與寬度WR1之乘積即突出部OH1之面積SO1。

又，本體部BD中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積SB1係以寬度WB與寬度WD1之乘積表示。而且，本體部BD中之與驅動電極Tx1重合之部分之面積SB2係以寬度WB與寬度WD2之乘積表 示，本體部BD中之與驅動電極Tx10重合之部分之面積SB3係以寬度WB與寬度WD3之乘積表示。因此，檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積S1係以S1=SB1+SO1×2=WB×WD1+LN1×WR1×2 式(1)

表示。又，檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1重合之部分之面積S2係以S2=SB2+SO2×2=WB×WD2+LN2×WR2×2 式(2)

表示。進而，檢測電極Rx中之與驅動電極Tx10重合之部分之面積S3係以S3=SB3+SO3×2=WB×WD3+LN3×WR3×2 式(3)

表示。

如上所述，寬度WD2小於寬度WD1，寬度WD3小於寬度WD1，故面積SB2小於面積SB1，面積SB3小於面積SB1。又，如上所述，面積SO2與面積SO1相等，面積SO3與面積SO1相等。因此，根據上述式(1)及式(2)，面積S2變得小於面積S1，驅動電極Tx1與檢測電極Rx之間之靜電電容CP2變得小於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容CP1。又，根據上述式(1)及式(3)，面積S3變得小於面積S1，驅動電極Tx10與檢測電極Rx之間之靜電電容CP3變得小於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容CP1。

然而，本實施形態1中形成有突出部OH4。又，於俯視下，突出部OH4雖未與驅動電極Tx1重合，但可配置於驅動電極Tx1附近。因此，可藉由形成突出部OH4，而增加驅動電極Tx1與檢測電極Rx之間之靜電電容CP2，且可以該靜電電容CP2接近於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容CP1之方式進行調整。

又，本實施形態1中形成有突出部OH5。又，於俯視下，突出部OH5雖未與驅動電極Tx10重合，但可配置於驅動電極Tx10附近。因 此，可藉由形成突出部OH5，而增加驅動電極Tx10與檢測電極Rx之間之靜電電容CP3，且可以該靜電電容CP3接近於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容CP1之方式進行調整。

即，於具有較其他驅動電極之寬度小的寬度之驅動電極配置於其他驅動電極之排列之兩側之情形時，可以該具有較小寬度之驅動電極與檢測電極之間之靜電電容接近於其他驅動電極與檢測電極之間之靜電電容之方式進行調整。

再者，所謂「靜電電容CP2接近於靜電電容CP1」係指靜電電容CP2對於靜電電容CP1之比率接近於1，且較佳為，例如靜電電容CP2對於靜電電容CP1之比率為0.9~1.1。又，所謂「靜電電容CP3接近於靜電電容CP1」係指靜電電容CP3對於靜電電容CP1之比率接近於1，且較佳為，例如靜電電容CP3對於靜電電容CP1之比率為0.9~1.1。即，所謂「第2靜電電容接近於第1靜電電容」係指第2靜電電容對於第1靜電電容之比率接近於1，且較佳為，例如第2靜電電容對於第1靜電電容之比率為0.9~1.1(於本實施形態1之變化例、實施形態2及其變化例、實施形態3及其變化例、實施形態4、以及實施形態5中，亦情況相同)。

驅動電極Tx1~Tx10係於垂直於X軸方向之剖面中，配置於上述顯示區域EA1之內部。又，突出部OH4、OH5係於俯視下配置於顯示區域EA1之外側之區域OEA。進而，顯示區域EA1係形成有像素之區域，故未被遮光，但顯示區域EA1之外側之區域OEA被未圖示之遮光層遮光。因此，突出部OH4、OH5被未圖示之遮光層遮光。藉此，無法辨認突出部OH4、OH5之圖案形狀，故可提昇顯示裝置之視認性。

即，於本實施形態1中，為了調整具有較其他驅動電極之寬度小的寬度之驅動電極與檢測電極之間之靜電電容，而將擴展檢測電極之面積之擴展部於俯視下設置於顯示區域之外側。

於俯視下，突出部OH4可在突出部OH4之外周部與驅動電極Tx1相接之位置、即圖7所示之間隔DS1為0之位置以內，使突出部OH4接近於驅動電極Tx1。此處，間隔DS1係突出部OH4之Y軸方向之負方向側之外周與驅動電極Tx1之Y軸方向之正方向側之外周的距離。即，突出部OH4較佳為以突出部OH4之Y軸方向之負方向側之外周於俯視下與驅動電極Tx1之Y軸方向之正方向側之外周相接之方式形成。藉此，可一面提昇顯示裝置之視認性，一面以驅動電極Tx1與檢測電極Rx之間之靜電電容CP2接近於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容CP1之方式進行調整。

又，於俯視下，突出部OH5可在突出部OH5之外周部與驅動電極Tx10相接之位置、即圖7所示之間隔DS2為0之位置以內，使突出部OH5接近於驅動電極Tx10。此處，間隔DS2係突出部OH5之Y軸方向之正方向側之外周與驅動電極Tx10之Y軸方向之負方向側之外周的距離。即，突出部OH5較佳為以突出部OH5之Y軸方向之正方向側之外周於俯視下與驅動電極Tx10之Y軸方向之負方向側之外周相接之方式形成。藉此，可一面提昇顯示裝置之視認性，一面以驅動電極Tx10與檢測電極Rx之間之靜電電容CP3接近於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容CP1之方式進行調整。

再者，圖7係例示驅動電極Tx1~Tx10各自之兩端位於顯示區域EA1即檢測區域EA2之內部之情況。但，如圖4所示，驅動電極Tx1~Tx10各自之兩端亦可位於顯示區域EA1即檢測區域EA2之外側之區域(於本實施形態1之變化例、以及實施形態2、實施形態3及其等之變化例中，亦情況相同)。

<驅動電極及檢測電極之配置之第1變化例>

圖8係示意性地表示實施形態1之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第1變化例的俯視圖。圖8係表示驅 動電極Tx1之寬度小於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度，但驅動電極Tx10之寬度與驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度相等之例。再者，對於圖8所示之觸控面板TP1中之具有與圖7所示之觸控面板TP1之構件相同之功能的構件，標註相同之符號，並省略其重複之說明。

於本第1變化例中，驅動電極Tx2~Tx10各自之寬度WD1彼此互為相等，驅動電極Tx1之寬度WD2小於驅動電極Tx2~Tx10各自之寬度WD1。又，驅動電極Tx1於俯視下配置於複數個驅動電極Tx2~Tx10之排列之一外側。

於本第1變化例中，於沿著Y軸方向之像素數未被每1根驅動電極Tx之像素數整除之情形時，將未被整除而產生之餘數分配給驅動電極Tx之排列之一端，且將所分配之餘數與像素電極之排列週期或寬度相乘所得之寬度設為驅動電極Tx1之寬度WD2。

將驅動電極Tx2~Tx10之各者與檢測電極Rx之交叉部設為CR1，將驅動電極Tx1與檢測電極Rx之交叉部設為CR2。又，將驅動電極Tx2~Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容設為CP1，將驅動電極Tx1與檢測電極Rx之間之靜電電容設為CP2。此時，基於靜電電容CP1、CP2，檢測輸入位置。

檢測電極Rx包含本體部BD及複數個突出部OH1、以及突出部OH2、OH4，但不包含突出部OH3、OH5(參照圖7)。

複數個突出部OH1係於俯視下在設置有各個驅動電極Tx2~Tx10之區域之內部、即複數個交叉部CR1之各者，以自本體部BD分別朝向X軸方向之正方向及負方向突出之方式形成。與未形成突出部OH1之情形相比，突出部OH1係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。又，較佳為，複數個驅動電極Tx2~Tx10各自之突出部OH1之面積彼此互為相等。藉此，突出部OH1之形狀具有週期性，從而變得不明顯，故可提昇顯示裝置LCD1之視認性，再者可使驅動電極Tx2~Tx10之各 者與檢測電極Rx之間之靜電電容互為相等。

本第1變化例中之突出部OH2可設為與實施形態1中之突出部OH2相同。又，本第1變化例中之突出部OH4可設為與實施形態1中之突出部OH4相同。

本第1變化例可與實施形態1同樣地，藉由形成突出部OH4而增加驅動電極Tx1與檢測電極Rx之間之靜電電容。藉此，可以驅動電極Tx1與檢測電極Rx之間之靜電電容接近於驅動電極Tx2~Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容之方式進行調整。

即，即便具有較其他驅動電極之寬度更小的寬度之驅動電極僅配置於其他驅動電極之排列之一外側，亦可以該具有較小寬度之驅動電極與檢測電極之間之靜電電容接近於其他驅動電極與檢測電極之間之靜電電容之方式進行調整。

<驅動電極及檢測電極之配置之第2變化例及第3變化例>

圖9係示意性地表示實施形態1之顯示裝置所具備之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第2變化例的俯視圖。圖10係示意性地表示實施形態1之顯示裝置所具備之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第3變化例的俯視圖。圖9及圖10係表示突出部OH1~OH5於本體部BD之一側突出、但未突出至本體部BD之另一側之例。再者，關於第2變化例及第3變化例中之觸控面板TP1中除突出部OH1~OH5以外之各部分，與實施形態1中之觸控面板TP1之各部分相同。因此，對於圖9及圖10所示之觸控面板TP1中除突出部OH1~OH5以外之各部分、且具有與圖7所示之觸控面板TP1之構件相同之功能之構件，標註相同之符號，並省略其重複之說明。

於圖9所示之第2變化例中，複數個突出部OH1、及突出部OH2~OH5係以於俯視下，自本體部BD僅朝向X軸方向之正方向突出之方式形成，且檢測電極Rx具有梳狀之形狀。

又，於圖10所示之第3變化例中，複數個突出部OH1、及突出部OH2~OH5係以自本體部BD朝向X軸方向之正方向或負方向突出之方式形成，且檢測電極Rx具有梳狀之形狀。而且，於本第3變化例中，突出部OH1~OH5自本體部BD朝向X軸方向之正方向突出之檢測電極與突出部OH1~OH5自本體部BD朝向X軸方向之負方向突出之檢測電極係於X軸方向上交替地排列。

本第2變化例及本第3變化例中之任一者均可與實施形態1同樣地，藉由形成突出部OH4，而以驅動電極Tx1與檢測電極Rx之間之靜電電容接近於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容之方式進行調整。又，本第2變化例及本第3變化例中之任一者均可與實施形態1同樣地，藉由形成突出部OH5，而以驅動電極Tx10與檢測電極Rx之間之靜電電容接近於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容之方式進行調整。

<驅動電極及檢測電極之配置之第4變化例>

圖11係示意性地表示實施形態1之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第4變化例的俯視圖。圖11係表示複數個檢測電極之各者包含複數個本體部之例。再者，於圖11中，省略基板12、顯示區域EA1、檢測區域EA2及區域OEA(參照圖7)之圖示。又，第4變化例中之觸控面板中之除檢測電極Rx1~Rx10即檢測電極Rx以外之各部分係與實施形態1中之觸控面板TP1之各部分相同。因此，對於圖11所示之觸控面板中之除檢測電極Rx以外之各部分且具有與圖7所示之觸控面板TP1之構件相同之功能之構件，標註相同之符號，並省略其重複之說明。

於圖11所示之第4變化例中，檢測電極Rx包含3根本體部BD1、BD2、BD3、複數個連接部CN1及連接部CN2~CN5、以及複數個突出部OH1及突出部OH2~OH5。

3根本體部BD1、BD2、BD3係分別於Y軸方向上延伸，且於X軸方向上排列。3根本體部BD1、BD2、BD3係於Y軸方向之負方向側彙集成l根，且於Y軸方向之負方向側相互電性連接。再者，並不限定於檢測電極Rx包含3根本體部BD1、BD2、BD3之情形，亦可包含2根或4根以上之本體部。

複數個連接部CN1之各者係於俯視下在設置有各個驅動電極Tx2~Tx9之區域之內部，以連接本體部BD1、BD2、BD3之方式形成。連接部CN2係於俯視下在設置有驅動電極Tx1之區域之內部，以連接本體部BD1、BD2、BD3之方式形成。連接部CN3係於俯視下在設置有驅動電極Tx10之區域之內部，以連接本體部BD1、BD2、BD3之方式形成。與未形成各個連接部CN1~CN3之情形相比，連接部CN1~CN3之各者係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

複數個突出部OH1之各者係於俯視下在設置有各個驅動電極Tx2~Tx9之區域之內部，以自本體部BD1朝向X軸方向之負方向突出且自本體部BD3朝向X軸方向之正方向突出之方式形成。與未形成突出部OH1之情形相比，突出部OH1係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

又，較佳為，複數個連接部CN1各自之面積彼此互為相等，且複數個突出部OH1各自之面積彼此互為相等。藉此，連接部CN1及突出部OH1之形狀具有週期性，從而變得不明顯，故可提昇顯示裝置LCD1之視認性，又，可使驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容互為相等。

突出部OH2係於俯視下在設置有驅動電極Tx1之區域之內部，以自本體部BD1朝向X軸方向之負方向突出且自本體部BD3朝向X軸方向之正方向突出之方式形成。與未形成突出部OH2之情形相比，突出部OH2係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

又，較佳為，連接部CN2之面積與連接部CN1之面積相等，且突出部OH2之面積與突出部OH1之面積相等。藉此，可將連接部CN2之形狀設為與連接部CN1之形狀相同，將突出部OH2之形狀設為與突出部OH1之形狀相同，從而連接部CN2及突出部OH2變得不明顯，故可提昇顯示裝置LCD1之視認性。

突出部OH3係於俯視下在設置有驅動電極Tx10之區域之內部，以自本體部BD1朝向X軸方向之負方向突出且自本體部BD3朝向X軸方向之正方向突出之方式形成。與未形成突出部OH3之情形相比，突出部OH3係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

又，較佳為，連接部CN3之面積與連接部CN1之面積相等，且突出部OH3之面積與突出部OH1之面積相等。藉此，可將連接部CN3之形狀設為與連接部CN1之形狀相同，將突出部OH3之形狀設為與突出部OH1之形狀相同，從而連接部CN3及突出部OH3變得不明顯，故可提昇顯示裝置LCD1之視認性。

連接部CN4係於俯視下於夾隔著驅動電極Tx1而與複數個驅動電極Tx2~Tx9相反之側、即相對於驅動電極Tx1在Y軸方向之正方向側，以連接本體部BD1、BD2、BD3之方式形成。與未形成連接部CN4之情形相比，連接部CN4係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

突出部OH4係於俯視下於夾隔著驅動電極Tx1而與複數個驅動電極Tx2~Tx9相反之側、即相對於驅動電極Tx1在Y軸方向之正方向側，以自本體部BD1朝向X軸方向之負方向突出且自本體部BD3朝向X軸方向之正方向突出之方式形成。與未形成突出部OH4之情形相比，突出部OH4係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

連接部CN5係於俯視下於夾隔著驅動電極Tx10而與複數個驅動電極Tx2~Tx9相反之側、即相對於驅動電極Tx10在Y軸方向之負方向側，以連接本體部BD1、BD2、BD3之方式形成。與未形成連接部 CN5之情形相比，連接部CN5係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

突出部OH5係於俯視下於夾隔著驅動電極Tx10而與複數個驅動電極Tx2~Tx9相反之側、即相對於驅動電極Tx10在Y軸方向之負方向側，以自本體部BD1朝向X軸方向之負方向突出且自本體部BD3朝向X軸方向之正方向突出之方式形成。與未形成突出部OH5之情形相比，突出部OH5係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

本第4變化例可藉由形成連接部CN4及突出部OH4，而與實施形態1同樣地，以驅動電極Tx1與檢測電極Rx之間之靜電電容接近於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容之方式進行調整。又，可藉由形成連接部CN5及突出部OH5，而與實施形態1同樣地，以驅動電極Tx10與檢測電極Rx之間之靜電電容接近於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容之方式進行調整。

<驅動電極及檢測電極之配置之第5變化例>

圖12係示意性地表示實施形態1之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第5變化例的俯視圖。圖12係表示複數個檢測電極之各者包含複數個本體部之例。再者，於圖12中，省略基板12、顯示區域EA1、檢測區域EA2及區域OEA(參照圖7)之圖示。又，第5變化例中之觸控面板中之除檢測電極Rx1~Rx10即檢測電極Rx以外之部分係與實施形態1中之觸控面板TP1之各部分相同。因此，對於圖12所示之觸控面板中之除檢測電極Rx以外之部分且具有與圖7所示之觸控面板TP1之構件相同之功能之構件，標註相同之符號，並省略其重複之說明。

於圖12所示之第5變化例中，檢測電極Rx包含2根本體部BD1、BD2及連接部CN4、CN5。

2根本體部BD1、BD2係分別於Y軸方向上延伸，且於X軸方向上排列。2根本體部BD1、BD2係於Y軸方向之負方向側彙集成1根，且 於Y軸方向之負方向側相互電性連接。再者，並不限定於檢測電極Rx包含2根本體部BD1、BD2之情形，亦可包含3根以上之本體部。

連接部CN4係於俯視下於夾隔著驅動電極Tx1而與複數個驅動電極Tx2~Tx9相反之側、即相對於驅動電極Tx1在Y軸方向之正方向側，以連接本體部BD1、BD2之方式形成。與未形成連接部CN4之情形相比，連接部CN4係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

連接部CN5係於俯視下於夾隔著驅動電極Tx10而與複數個驅動電極Tx2~Tx9相反之側、即相對於驅動電極Tx10在Y軸方向之負方向側，以連接本體部BD1、BD2之方式形成。與未形成連接部CN5之情形相比，連接部CN5係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

另一方面，如圖12所示，於俯視下，於設置有各個驅動電極Tx1~Tx10之區域之內部，可不形成作為將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部的連接部或突出部。又，可不形成於俯視下，於夾隔著驅動電極Tx1而與複數個驅動電極Tx2~Tx9相反之側，自本體部BD1朝向X軸方向之負方向突出且自本體部BD2朝向X軸方向之正方向突出的突出部。進而，可不形成於俯視下，於夾隔著驅動電極Tx10而與複數個驅動電極Tx2~Tx9相反之側，自本體部BD1朝向X軸方向之負方向突出且自本體部BD2朝向X軸方向之正方向突出的突出部。

於本第5變化例中，可藉由形成連接部CN4、CN5，而與實施形態1同樣地，以驅動電極Tx1、Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容接近於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容之方式進行調整。

<關於驅動電極與檢測電極之間之靜電電容>

其次，參照比較例1，對驅動電極與檢測電極之間之靜電電容進行說明。圖13係示意性地表示比較例1之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置的俯視圖。

於比較例1中，檢測電極Rx包含本體部BD及突出部OH1~OH3，但不包含突出部OH4、OH5。本體部BD係於Y軸方向上延伸，且將本體部BD之X軸方向之寬度設為WB。

圖14係表示於比較例1中對複數個驅動電極之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容的曲線圖。於圖14中，橫軸係表示被施加驅動電壓之驅動電極，縱軸係表示檢測電容。又，圖14係表示可由ADC檢測之檢測電容之範圍即ADC範圍之下限值LL1及上限值UL1。進而，圖14所示之檢測電容係與驅動電極Tx1~Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容相等。

再者，圖13所示之比較例1之觸控面板TP100中之除檢測電極Rx1~Rx10即檢測電極Rx以外之各部分係與圖7所示之實施形態1之觸控面板TP1中之除檢測電極Rx以外之各部分相同。又，包括比較例1之觸控面板TP100之顯示裝置中之除觸控面板TP100以外之各部分亦與圖6所示之顯示裝置LCD1中之除觸控面板TP1以外之各部分相同。

即，即便比較例1，亦與實施形態1同樣地，驅動電極Tx1之寬度WD2小於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1，驅動電極Tx10之寬度WD3小於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1。

又，比較例1中之檢測電極Rx之各部分係除不包含突出部OH4、OH5之方面以外，與實施形態1中之檢測電極Rx之各部分相同。即，比較例1中之複數個突出部OH1之各者係與實施形態1中之複數個突出部OH1之各者相同。又，比較例1中之突出部OH2係與實施形態1中之突出部OH2相同。進而，比較例1中之突出部OH3係與實施形態1中之突出部OH3相同。

再者，於圖13中，對設置有驅動電極Tx2之區域之內部中所形成之突出部OH1、及突出部OH2、OH3標註影線。

即便比較例1，亦與實施形態1同樣地，驅動電極Tx1之寬度WD2 小於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1。因此，檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1重合之部分之面積S2變得小於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積S1。又，即便比較例1，亦與實施形態1同樣地，驅動電極Tx10之寬度WD3小於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1。因此，檢測電極Rx中之與驅動電極Tx10重合之部分之面積S3變得小於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積S1。因此，驅動電極Tx1、Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容變得小於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容。

於比較例1之觸控面板TP100中，如圖14所示，對驅動電極Tx2~Tx9之各者施加驅動電壓時所檢測之靜電電容即檢測電容成為固定值CST1。

然而，於比較例1之觸控面板TP100中，對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之靜電電容即檢測電容變得小於固定值CST1。若檢測電容小於固定值CST1，則存在檢測電容接近於ADC範圍之下限值LL1、或小於下限值LL1之虞。即，對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容之相對於ADC範圍之下限值LL1之差、即裕度變小，檢測電容之對於雜訊之抗擾性即雜訊抗擾性降低。其結果，於比較例1之觸控面板TP100中，存在於驅動電極Tx1、Tx10上，與驅動電極Tx2~Tx9上相比，位置檢測精度降低、或位置檢測靈敏度降低之虞。

<本實施形態之主要特徵及效果>

本實施形態1及其第1變化例~第5變化例係將檢測電極Rx配置於夾隔著驅動電極Tx1或驅動電極Tx10而與複數個驅動電極Tx2~Tx9相反之側，且例如包含突出部OH4、OH5或連接部CN4、CN5作為擴展檢測電極Rx之面積之擴展部。以下，代表突出部OH4、OH5或連接部 CN4、CN5，對突出部OH4、OH5進行說明，但突出部OH4、OH5無法增加於俯視下檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1、Tx10之各者重合之部分之面積。

然而，突出部OH4、OH5之各者係於俯視下配置於驅動電極Tx1附近或驅動電極Tx10附近，故可增加驅動電極Tx1、Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容。因此，可防止或抑制驅動電極Tx1、Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容變得小於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容。

圖15係表示於實施形態1之作為實施例之實施例1及實施例2中，對複數個驅動電極之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容的曲線圖。圖15係與圖14相同，橫軸表示被施加驅動電壓之驅動電極，縱軸表示檢測電容。又，圖15與圖14同樣地表示可由ADC檢測之檢測電容之範圍即ADC範圍之下限值LL1及上限值UL1。進而，圖15所示之檢測電容係與圖14所示之檢測電容同樣地等於驅動電極Tx1~Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容。

如圖15所示，於實施例1及實施例2中，對驅動電極Tx2~Tx9之各者施加驅動電壓時所檢測之靜電電容即檢測電容亦為固定值CST1。

此時，較佳為，以對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之靜電電容即檢測電容包含於相對固定值CST1為±10%以內之範圍內之方式，調整突出部OH4、OH5各自之面積。將檢測電極Rx包含以此方式調整之突出部OH4、OH5之情形設為圖15所示之實施例1。

圖15所示之實施例1係與圖14所示之比較例1相比，可抑制對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容之相對於ADC範圍之下限值LL1之差、即裕度變小。而且，可抑制對驅動電極 Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容之雜訊抗擾性降低。其結果，可防止或抑制於驅動電極Tx1、Tx10上，與驅動電極Tx2~Tx9上相比，位置檢測精度降低，從而可防止或抑制位置檢測靈敏度降低。因此，可提昇顯示裝置之位置檢測性能。

進而，較佳為，以對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容變得與固定值CST1相等之方式，調整突出部OH4、OH5之面積。將檢測電極Rx包含以此方式調整之突出部OH4、OH5之情形設為圖15所示之實施例2。

圖15所示之實施例2係與圖14所示之比較例1相比，可進一步確實地抑制對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容之相對於ADC範圍之下限值LL1的裕度變小。而且，可進一步確實地抑制對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容之雜訊抗擾性降低。其結果，可進一步確實地防止或抑制於驅動電極Tx1、Tx10上，與驅動電極Tx2~Tx9上相比，位置檢測精度降低，從而可進一步確實地防止或抑制位置檢測靈敏度降低。因此，可提昇顯示裝置之位置檢測性能。

(實施形態2)

於實施形態1中，為了調整具有較其他驅動電極之寬度小的寬度之驅動電極與檢測電極之間之靜電電容，而將擴展檢測電極之面積之擴展部於俯視下設置於顯示區域之外側。相對於此，於實施形態2中，為了調整具有較其他驅動電極之寬度小的寬度之驅動電極與檢測電極之間之靜電電容，而將擴展檢測電極之面積之擴展部於俯視下設置於該具有較小寬度之驅動電極上。

本實施形態2之顯示裝置中之除觸控面板TP2以外之各部分因與實施形態1之顯示裝置中之除觸控面板TP1以外之各部分相同，故省略其說明。

<驅動電極及檢測電極之配置>

圖16係示意性地表示實施形態2之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置的俯視圖。

再者，本實施形態2中之觸控面板TP2中之除檢測電極Rx1~Rx10即檢測電極Rx以外之各部分係與實施形態1中之觸控面板TP1之各部分相同。因此，對於圖16所示之觸控面板TP2中之除檢測電極Rx以外之各部分且具有與圖7所示之觸控面板TP1之構件相同之功能之構件，標註相同之符號，並省略其重複之說明。

本實施形態2係與實施形態1相同，驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1彼此互為相等。又，驅動電極Tx1之寬度WD2小於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1，驅動電極Tx10之寬度WD3小於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1。

本實施形態2係與實施形態1同樣地，將驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之交叉部設為CR1，將驅動電極Tx1與檢測電極Rx之交叉部設為CR2，將驅動電極Tx10與檢測電極Rx之交叉部設為CR3。又，將驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容、即形成於交叉部CR1之靜電電容設為CP1。進而，將驅動電極Tx1與檢測電極Rx之間之靜電電容、即形成於交叉部CR2之靜電電容設為CP2，將驅動電極Tx10與檢測電極Rx之間之靜電電容、即形成於交叉部CR3之靜電電容設為CP3。此時，基於靜電電容CP1、CP2、CP3，檢測輸入位置。

檢測電極Rx包含本體部BD、以及複數個突出部OH1及突出部OH2、OH3。本體部BD係在Y軸方向上延伸，且將本體部BD之X軸方向之寬度設為WB。再者，於圖16中，對設置有驅動電極Tx2之區域之內部中所形成之突出部OH1、及突出部OH2、OH3標註影線。

本實施形態2中之複數個突出部OH1之各者可設為與實施形態1中 之複數個突出部OH1之各者相同。

突出部OH2係於俯視下於設置有驅動電極Tx1之區域之內部、即交叉部CR2，以自本體部BD分別朝向X軸方向之正方向及負方向突出之方式形成。與未形成突出部OH2之情形相比，突出部OH2係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

突出部OH3係於俯視下於設置有驅動電極Tx10之區域之內部、即交叉部CR3，自本體部BD分別朝向X軸方向之正方向及負方向突出之方式形成。與未形成突出部OH3之情形相比，突出部OH3係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

即便本實施形態2，亦與實施形態1同樣地，將檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積設為S1，將檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1重合之部分之面積設為S2，將檢測電極Rx中之與驅動電極Tx10重合之部分之面積設為S3。此時，以面積S2接近於面積S1之方式調整突出部OH2之面積，以面積S3接近於面積S1之方式調整突出部OH3之面積。又，較佳為，以面積S2變得與面積S1相等之方式調整突出部OH2之面積，以面積S3變得與面積S1相等之方式調整突出部OH3之面積。

再者，所謂「面積S2接近於面積S1」係指面積S2對於面積S1之比率接近於1，且較佳為，例如面積S2對於面積S1之比率為0.9~1.1。又，所謂「面積S3接近於面積S1」係指面積S3對於面積S1之比率接近於1，且較佳為，例如面積S3對於面積S1之比率為0.9~1.1。即，所謂「第2面積接近於第1面積」係指第2面積對於第1面積之比率接近於1，且較佳為，例如第2面積對於第1面積之比率為0.9~1.1(於本實施形態2之變化例中，亦情況相同)。

即便本實施形態2，亦與實施形態1同樣地，將突出部OH1之X軸方向之長度設為LN1，將突出部OH1之Y軸方向之寬度設為WR1。 又，將突出部OH2之X軸方向之長度設為LN2，將突出部OH2之Y軸方向之寬度設為WR2。進而，將突出部OH3之X軸方向之長度設為LN3，將突出部OH3之Y軸方向之寬度設為WR3。

即便本實施形態2，亦與實施形態1同樣地，例如將突出部OH1之長度LN1、突出部OH2之長度LN2及突出部OH3之長度LN3設為互為相等。此時，突出部OH2之寬度WR2係以變得大於突出部OH1之寬度WR1之方式被調整，突出部OH3之寬度WR3係以變得大於突出部OH1之寬度WR1之方式被調整。即，長度LN2與寬度WR2之乘積即突出部OH2之面積SO2係以變得大於長度LN1與寬度WR1之乘積即突出部OH1之面積SO1之方式被調整。而且，長度LN3與寬度WR3之乘積即突出部OH3之面積SO3係以變得大於長度LN1與寬度WR1之乘積即突出部OH1之面積SO1之方式被調整。

又，本體部BD中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積SB1係以寬度WB與寬度WD1之乘積表示。而且，本體部BD中之與驅動電極Tx1重合之部分之面積SB2係以寬度WB與寬度WD2之乘積表示，本體部BD中之與驅動電極Tx10重合之部分之面積SB3係以寬度WB與寬度WD3之乘積表示。因此，檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積S1以上述式(1)表示。而且，檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1重合之部分之面積S2係以上述式(2)表示，檢測電極Rx中之與驅動電極Tx10重合之部分之面積S3係以上述式(3)表示。

如上所述，由於寬度WD2小於寬度WD1，寬度WD3小於寬度WD1，故面積SB2小於面積SB1，且面積SB3小於面積SB1。因此，於突出部OH2之面積SO2與突出部OH1之面積SO1相等時，面積S2變得小於面積S1，從而驅動電極Tx1與檢測電極Rx之間之靜電電容變得小於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容。又，於 突出部OH3之面積SO3與突出部OH1之面積SO1相等時，面積S3變得小於面積S1，從而驅動電極Tx10與檢測電極Rx之間之靜電電容變得小於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容。

然而，於本實施形態2中，例如寬度WR2大於寬度WR1，由此，以突出部OH2之面積SO2變得大於突出部OH1之面積SO1之方式進行調整。而且，以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1重合之部分之面積S2接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積S1之方式進行調整。因此，可以驅動電極Tx1與檢測電極Rx之間之靜電電容接近於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容之方式進行調整。

又，於本實施形態2中，例如寬度WR3大於寬度WR1，由此，以突出部OH3之面積SO3變得大於突出部OH1之面積SO1之方式進行調整。而且，以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx10重合之部分之面積S3接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積S1之方式進行調整。因此，可以驅動電極Tx10與檢測電極Rx之間之靜電電容接近於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容之方式進行調整。

即，於本實施形態2中，以於俯視下，檢測電極中之與具有較其他驅動電極之寬度小的寬度之驅動電極重合之部分之面積接近於檢測電極中之與其他驅動電極重合之部分之面積之方式進行調整。

又，於本實施形態2中，於具有較其他驅動電極之寬度小的寬度之驅動電極配置於其他驅動電極之排列之兩側之情形時，可以該具有較小寬度之驅動電極與檢測電極之間之靜電電容接近於其他驅動電極與檢測電極之間之靜電電容之方式進行調整。

進而，於本實施形態2中，為了調整具有較其他驅動電極之寬度小的寬度之驅動電極與檢測電極之間之靜電電容，而將擴展檢測電極 之面積之擴展部於俯視下設置於顯示區域之內部。

<驅動電極及檢測電極之配置之第1變化例>

圖17係示意性地表示實施形態2之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第1變化例的俯視圖。圖17係表示驅動電極Tx1之寬度小於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度，但驅動電極Tx10之寬度與驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度相等之例。再者，對於圖17所示之觸控面板TP2中之具有與圖16所示之觸控面板TP2之構件相同之功能之構件，標註相同之符號，並省略其重複之說明。

於本第1變化例中，驅動電極Tx2~Tx10各自之寬度WD1彼此互為相等，且驅動電極Tx1之寬度WD2小於驅動電極Tx2~Tx10各自之寬度WD1。

檢測電極Rx包含本體部BD、複數個突出部OH1及突出部OH2，但不包含突出部OH3(參照圖16)。即，於設置有驅動電極Tx10之區域之內部，亦形成有突出部OH1。

本第1變化例中之複數個突出部OH1之各者可設為與實施形態2中之複數個突出部OH1之各者相同。又，本第1變化例中之突出部OH2可設為與實施形態2中之突出部OH2相同。

本第1變化例係與實施形態2同樣地，以突出部OH2之面積變得大於突出部OH1之面積之方式進行調整，且以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1重合之部分之面積接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx10之各者重合之部分之面積之方式進行調整。因此，可以驅動電極Tx1與檢測電極Rx之間之靜電電容接近於驅動電極Tx2~Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容之方式進行調整。

即，即便具有較其他驅動電極之寬度小的寬度之驅動電極僅配置於其他驅動電極之排列之一外側，亦可以該具有較小寬度之驅動電極與檢測電極之間之靜電電容接近於其他驅動電極與檢測電極之間之 靜電電容之方式進行調整。

<驅動電極及檢測電極之配置之第2變化例>

圖18係示意性地表示實施形態2之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第2變化例的俯視圖。圖18係表示具有較其他驅動電極之寬度小的寬度之驅動電極未配置於驅動電極之排列之外側而配置於驅動電極之排列之中途之例。再者，對於圖18所示之觸控面板TP2中之具有與圖16所示之觸控面板TP2之構件相同之功能之構件，標註相同之符號，並省略其重複之說明。

於本第2變化例中，於俯視下，將驅動電極Tx1~Tx3、Tx5~Tx10各自之Y軸方向之寬度設為WD1，將配置於驅動電極之排列之中途之驅動電極Tx4之Y軸方向之寬度設為WD2。此時，驅動電極Tx1~Tx3、Tx5~Tx10各自之寬度WD1彼此互為相等，驅動電極Tx4之寬度WD2小於驅動電極Tx1~Tx3、Tx5~Tx10各自之寬度WD1。

根據例如作為顯示裝置之要求規格等，而存在如下情況：將具有Y軸方向之像素數未被整除而產生之餘數與Y軸方向上之像素電極之排列週期或寬度相乘所得之寬度的驅動電極配置於驅動電極之排列之中途而非驅動電極之排列之外側。於此種情形時，可使作為配置於驅動電極之排列之中途之驅動電極的例如驅動電極Tx4之寬度WD2小於作為其他驅動電極之驅動電極Tx1~Tx3、Tx5~Tx10各自之寬度WD1。

再者，亦可使寬度WD1於驅動電極Tx1~Tx3與驅動電極Tx5~Tx10之間不同。又，本第2變化例係對於具有較其他驅動電極之寬度小的寬度之驅動電極配置於排列之第4個之例進行說明，但只要為排列之中途即可，並不限定於第4個。

於本第2變化例中，將驅動電極Tx1~Tx3、Tx5~Tx10之各者與檢測電極Rx之交叉部設為CR1，將驅動電極Tx4與檢測電極Rx之交叉 部設為CR2。又，將驅動電極Tx1~Tx3、Tx5~Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容設為CP1，將驅動電極Tx4與檢測電極Rx之間之靜電電容設為CP2。此時，基於靜電電容CP1、CP2，檢測輸入位置。

本第2變化例中之複數個突出部OH1之各者可設為與實施形態2中之複數個突出部OH1之各者相同。又，本第2變化例中之突出部OH2可設為與實施形態2中之突出部OH2相同。

即便本第2變化例，亦與實施形態2同樣地，以突出部OH2之面積大於突出部OH1之面積之方式進行調整。而且，以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx4重合之部分之面積接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1~Tx3、Tx5~Tx10之各者重合之部分之面積之方式進行調整。

<驅動電極及檢測電極之配置之第3變化例及第4變化例>

圖19係示意性地表示實施形態2之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第3變化例的俯視圖。圖20係示意性地表示實施形態2之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第4變化例的俯視圖。圖19及圖20係表示突出部OH1~OH3突出至本體部BD之一側但未突出至本體部BD之另一側之例。再者，第3變化例及第4變化例中之觸控面板TP2中之除突出部OH1~OH3以外之各部分係與實施形態2中之觸控面板TP2之各部分相同。因此，對於圖19及圖20所示之觸控面板TP2中之除突出部OH1~OH3以外之各部分且具有與圖16所示之觸控面板TP2之構件相同之功能之構件，標註相同之符號，並省略其重複之說明。

於圖19所示之第3變化例中，複數個突出部OH1、及突出部OH2、OH3係以於俯視下自本體部BD僅朝向X軸方向之正方向突出之方式形成，且檢測電極Rx具有梳狀之形狀。

又，於圖20所示之第4變化例中，複數個突出部OH1、及突出部OH2、OH3係以於俯視下自本體部BD朝向X軸方向之正方向或負方向 突出之方式形成，且檢測電極Rx具有梳狀之形狀。而且，於本第4變化例中，突出部OH1~OH3自本體部BD朝向X軸方向之正方向突出之檢測電極與突出部OH1~OH3自本體部BD朝向X軸方向之負方向突出之檢測電極係於X軸方向上交替地排列。

本第3變化例及本第4變化例中之任一者均與實施形態2同樣地，以突出部OH2、OH3之面積變得大於突出部OH1之面積之方式進行調整。而且，以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1、Tx10之各者重合之部分之面積接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積之方式進行調整。

<驅動電極及檢測電極之配置之第5變化例>

圖21係示意性地表示實施形態2之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第5變化例的俯視圖。圖21係表示複數個檢測電極之各者包含複數個本體部之例。再者，於圖21中，省略基板12、顯示區域EA1、檢測區域EA2及區域OEA(參照圖16)之圖示。又，第5變化例中之觸控面板中之除檢測電極Rx1~Rx10即檢測電極Rx以外之各部分係與實施形態2中之觸控面板TP2之各部分相同。因此，對於圖21所示之觸控面板中之除檢測電極Rx以外之各部分且具有與圖16所示之觸控面板TP2之構件相同之功能之構件，標註相同之符號，並省略其重複之說明。

於圖21所示之第5變化例中，檢測電極Rx包含3根本體部BD1、BD2、BD3、複數個連接部CN1及連接部CN2、CN3、以及複數個突出部OH1及突出部OH2、OH3。

本第5變化例中之3根本體部BD1、BD2、BD3之各者可設為與實施形態1之第4變化例中之3根本體部BD1、BD2、BD3之各者相同。再者，與實施形態1之第4變化例同樣地，並不限定於檢測電極Rx包含3根本體部BD1、BD2、BD3之情形，亦可包含2根或4根以上之本體 部。

本第5變化例中之複數個連接部CN1之各者可設為與實施形態1之第4變化例中之複數個連接部CN1之各者相同。又，本第5變化例中之複數個突出部OH1之各者可設為與實施形態1之第4變化例中之複數個突出部OH1之各者相同。

連接部CN2係於俯視下在設置有驅動電極Tx1之區域之內部，以連接本體部BD1、BD2、BD3之方式形成。連接部CN3係於俯視下在設置有驅動電極Tx10之區域之內部，以連接本體部BD1、BD2、BD3之方式形成。與未形成連接部CN2、CN3之情形相比，連接部CN2、CN3係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

突出部OH2係於俯視下在設置有驅動電極Tx1之區域之內部，以自本體部BD1朝向X軸方向之負方向突出且自本體部BD3朝向X軸方向之正方向突出之方式形成。與未形成突出部OH2之情形相比，突出部OH2係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

突出部OH3係於俯視下在設置有驅動電極Tx10之區域之內部，以自本體部BD1朝向X軸方向之負方向突出且自本體部BD3朝向X軸方向之正方向突出之方式形成。與未形成突出部OH3之情形相比，突出部OH3係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

於本第5變化例中，以連接部CN2及突出部OH2各自之面積變得大於連接部CN1及突出部OH1各自之面積之方式進行調整。即，與實施形態2同樣地，以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1重合之部分之面積接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積之方式進行調整。

又，於本第5變化例中，以連接部CN3及突出部OH3各自之面積變得大於連接部CN1及突出部OH1各自之面積之方式進行調整。即，與實施形態2同樣地，以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx10重合之部分 之面積接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積之方式進行調整。

<驅動電極及檢測電極之配置之第6變化例>

圖22係示意性地表示實施形態2之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第6變化例的俯視圖。圖22係表示複數個檢測電極之各者包含複數個本體部之例。再者，於圖22中，省略基板12、顯示區域EA1、檢測區域EA2及區域OEA(參照圖16)之圖示。又，第6變化例中之觸控面板中之除檢測電極Rx1~Rx10即檢測電極Rx以外之部分係與實施形態2中之觸控面板TP2之各部分相同。因此，對於圖22所示之觸控面板中之除檢測電極Rx以外之部分且具有與圖16所示之觸控面板TP2之構件相同之功能之構件，標註相同之符號，並省略其重複之說明。

於圖22所示之第6變化例中，檢測電極Rx包含2根本體部BD1、BD2及連接部CN2、CN3。

本第6變化例中之2根本體部BD1、BD2之各者可設為與實施形態1之第5變化例中之2根本體部BD1、BD2之各者相同。再者，與實施形態1之第5變化例同樣地，並不限定於檢測電極Rx包含2根本體部BD1、BD2之情形，亦可包含3根以上之本體部。

連接部CN2係於俯視下在設置有驅動電極Tx1之區域之內部，以連接本體部BD1、BD2之方式形成。連接部CN3係於俯視下在設置有驅動電極Tx10之區域之內部，以連接本體部BD1、BD2之方式形成。與未形成連接部CN2、CN3之情形相比，連接部CN2、CN3係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

另一方面，如圖22所示，於俯視下，於設置有各個驅動電極Tx2~Tx9之區域之內部，可不形成作為擴展檢測電極Rx之面積之擴展部之連接部或突出部。

於本第6變化例中，藉由形成連接部CN2、CN3，而與實施形態2同樣地，以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1、Tx10之各者重合之部分之面積接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積之方式進行調整。

<關於驅動電極與檢測電極之間之靜電電容>

其次，與實施形態1同樣地，參照比較例1，對驅動電極與檢測電極之間之靜電電容進行說明。如使用圖13已描述般，於比較例1中，檢測電極Rx包含本體部BD及突出部OH1~OH3。又，比較例1係與實施形態2不同，突出部OH2之寬度WR2與突出部OH1之寬度WR1相等，突出部OH3之寬度WR3與突出部OH1之寬度WR1相等。

即便比較例1，亦與實施形態2同樣地，驅動電極Tx1之寬度WD2小於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1。因此，檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1重合之部分之面積S2變得小於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積S1。又，驅動電極Tx10之寬度WD3小於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1。因此，檢測電極Rx中之與驅動電極Tx10重合之部分之面積S3變得小於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積S1。因此，驅動電極Tx1、Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容變得小於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容。

因此，於比較例1之觸控面板TP100中，如使用圖14已描述般，對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容之相對於ADC範圍之下限值LL1之差、即裕度變小，檢測電容之雜訊抗擾性下降。其結果，於比較例1之觸控面板TP100中，存在於驅動電極Tx1、Tx10上，與驅動電極Tx2~Tx9上相比，位置檢測精度下降、或位置檢測靈敏度降低之虞。

<本實施形態之主要之特徵及效果>

於本實施形態2及其第1變化例~第6變化例中，檢測電極Rx係於俯視下配置在設置有驅動電極Tx1、Tx10之區域，且例如包含突出部OH2、OH3或連接部CN2、CN3作為擴展檢測電極Rx之面積之擴展部。以下，代表突出部OH2、OH3、或者連接部CN2、CN3，對突出部OH2、OH3進行說明。

以突出部OH2、OH3各自之面積變得大於突出部OH1之面積之方式進行調整，且以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1、Tx10之各者重合之部分之面積接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積之方式進行調整。因此，可以驅動電極Tx1、Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容接近於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容之方式進行調整。藉此，可防止或抑制驅動電極Tx1、Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容相較驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容變小。

上述圖15亦係表示於實施形態2之作為實施例之實施例3及實施例4中，對複數個驅動電極之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容的曲線圖。如圖15所示，於實施例3及實施例4中，對驅動電極Tx2~Tx9之各者施加驅動電壓時所檢測之靜電電容即檢測電容亦為固定值CST1。

此時，較佳為，以對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之靜電電容即檢測電容包含於相對固定值CST1為±10%以內之範圍內之方式，調整突出部OH2、OH3各自之面積。將檢測電極Rx包含以此方式調整之突出部OH2、OH3之情形設為圖15所示之實施例3。

圖15所示之實施例3係與圖14所示之比較例1相比，可抑制對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容對於ADC範圍之下限值LL1之差、即裕度變小。而且，可抑制對驅動電極 Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容之雜訊抗擾性下降。其結果，可防止或抑制於驅動電極Tx1、Tx10上，與驅動電極Tx2~Tx9上相比，位置檢測精度下降，從而防止或抑制位置檢測靈敏度下降。因此，可提昇顯示裝置之位置檢測性能。

進而，較佳為，以對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容等於固定值CST1相等之方式，調整突出部OH2、OH3各自之面積。將檢測電極Rx包含以此方式調整之突出部OH2、OH3之情形設為圖15所示之實施例4。

圖15所示之實施例4係與圖14所示之比較例1相比，可進一步確實地抑制對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容對於ADC範圍之下限值LL1的裕度變小。而且，可進一步確實地抑制對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容之雜訊抗擾性下降。其結果，可進一步確實地防止或抑制於驅動電極Tx1、Tx10上，與驅動電極Tx2~Tx9上相比，位置檢測精度降低，從而可進一步確實地防止或抑制位置檢測靈敏度下降。因此，可提昇顯示裝置之位置檢測性能。

(實施形態3)

實施形態2係以於俯視下，檢測電極中之與具有較其他驅動電極之寬度小的寬度之驅動電極重合之部分之面積變得大於檢測電極中之與其他驅動電極重合之部分之面積之方式進行調整。相對於此，實施形態3係以於俯視下，檢測電極中之與具有較其他驅動電極之寬度大的寬度之驅動電極重合之部分之面積變得小於檢測電極中之與其他驅動電極重合之部分之面積之方式進行調整。

本實施形態3之顯示裝置中之除觸控面板TP3以外之各部分係與實施形態1之顯示裝置中之除觸控面板TP1以外之各部分相同，故省略其說明。

<驅動電極及檢測電極之配置>

圖23係示意性地表示實施形態3之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置的俯視圖。

再者，關於本實施形態3中之觸控面板TP3中之除檢測電極Rx1~Rx10即檢測電極Rx以外之各部分係除了驅動電極Tx1~Tx10之寬度WD1、WD2、WD3以外，與實施形態1中之觸控面板TP1之各部分相同。因此，對於圖23所示之觸控面板TP3中之除檢測電極Rx以外之各部分且具有與圖7所示之觸控面板TP1之構件相同之功能之構件，標註相同之符號，且除了驅動電極Tx1~Tx10之寬度WD1、WD2、WD3以外，省略其重複之說明。再者，驅動電極Tx1~Tx10係於垂直於X軸方向之剖面中，配置於顯示區域EA1之內部。

本實施形態3係與實施形態1相同，驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1彼此互為相等。但，本實施形態3不同於實施形態1，驅動電極Tx1之寬度WD2大於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1，驅動電極Tx10之寬度WD3大於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1。

於實施形態1中，如上所述，驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1係像素電極之排列週期或寬度之整數倍，但Y軸方向之像素數係由作為顯示裝置之要求規格決定，故存在Y軸方向之像素數無法被每1根驅動電極Tx之像素數整除之情況。於此種情形時，將未被整除而產生之餘數分開地分配給驅動電極Tx之排列之例如兩端之驅動電極Tx，將所分配之餘數與Y軸方向上之像素電極之排列週期或寬度相乘所得之寬度分別設為驅動電極Tx1、Tx10之寬度WD2、WD3。

然而，於被分配之餘數為例如1或2等相對較小之數時，就例如製造步驟之觀點而言，存在難以將被分配之餘數與Y軸方向上之像素電極之排列週期或寬度相乘所得之寬度分別設為驅動電極Tx1、Tx10之寬度WD2、WD3之情形。於此種情形時，將每1根驅動電極Tx之像 素數加上被分配之餘數所得之像素數與Y軸方向上之像素電極之排列週期或寬度相乘所得之寬度分別設為驅動電極Tx1、Tx10之寬度WD2、WD3。以如此之方式，驅動電極Tx1、Tx10之寬度WD2、WD3變得大於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1。

例如，考慮於Y軸方向上配置103個像素，且對每10個像素配置1個驅動電極Tx之情形。於該情形時，將以10個為單位拆分103個像素時剩餘之3個像素分為1個像素與2個像素，並將相當於將該1個像素與2個像素分別加上10個像素所得之像素數的像素電極之寬度設為驅動電極Tx之排列之兩端之驅動電極之寬度。因此，可將驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1設為例如10個像素之寬度，將驅動電極Tx1之寬度WD2設為11個像素之寬度，將驅動電極Tx10之寬度WD3設為12個像素之寬度。

本實施形態3係與實施形態1同樣地，將驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之交叉部設為CR1，將驅動電極Tx1與檢測電極Rx之交叉部設為CR2，將驅動電極Tx10與檢測電極Rx之交叉部設為CR3。又，將驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容、即形成於交叉部CR1之靜電電容設為CP1。進而，將驅動電極Tx1與檢測電極Rx之間之靜電電容、即形成於交叉部CR2之靜電電容設為CP2，將驅動電極Tx10與檢測電極Rx之間之靜電電容、即形成於交叉部CR3之靜電電容設為CP3。此時，基於靜電電容CP1、CP2、CP3，檢測輸入位置。

檢測電極Rx係包含本體部BD、以及複數個突出部OH1及突出部OH2、OH3。本體部BD係在Y軸方向上延伸，且將本體部BD之X軸方向之寬度設為WB。再者，於圖23中，對設置有驅動電極Tx2之區域之內部所形成之突出部OH1、及突出部OH2、OH3標註影線。

本實施形態3中之複數個突出部OH1之各者可設為與實施形態1中 之複數個突出部OH1之各者相同。

突出部OH2係於俯視下在設置有驅動電極Tx1之區域之內部、即交叉部CR2，以自本體部BD分別朝向X軸方向之正方向及負方向突出之方式形成。與未形成突出部OH2之情形相比，突出部OH2係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

突出部OH3係於俯視下在設置有驅動電極Tx10之區域之內部、即交叉部CR3，以自本體部BD分別朝向X軸方向之正方向及負方向突出之方式形成。與未形成突出部OH3之情形相比，突出部OH3係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

本實施形態3中亦與實施形態1同樣地，將檢測電極Rx中與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積設為S1，將檢測電極Rx中與驅動電極Tx1重合之部分之面積設為S2，將檢測電極Rx中之與驅動電極Tx10重合之部分之面積設為S3。此時，以面積S2接近於面積S1之方式，調整突出部OH2之面積，且以面積S3接近於面積S1之方式，調整突出部OH3之面積。又，較佳為，以面積S2變得與面積S1相等之方式，調整突出部OH2之面積，且以面積S3變得與面積S1相等之方式，調整突出部OH3之面積。

再者，所謂「面積S2接近於面積S1」係指面積S2相對於面積S1之比率接近於1，且較佳為，例如面積S2相對於面積S1之比率為0.9~1.1。又，所謂「面積S3接近於面積S1」係指面積S3相對於面積S1之比率接近於1，且較佳為，例如面積S3相對於面積S1之比率為0.9~1.1。即，所謂「第2面積接近於第1面積」係指第2面積相對於第1面積之比率接近於1，且較佳為，例如第2面積相對於第1面積之比率為0.9~1.1(於本實施形態3之變化例中亦同)。

即便本實施形態3，亦與實施形態1同樣地，將突出部OH1之X軸方向之長度設為LN1，將突出部OH1之Y軸方向之寬度設為WR1。 又，將突出部OH2之X軸方向之長度設為LN2，將突出部OH2之Y軸方向之寬度設為WR2。進而，將突出部OH3之X軸方向之長度設為LN3，將突出部OH3之Y軸方向之寬度設為WR3。

即便本實施形態3，亦與實施形態1同樣地，例如將突出部OH1之長度LN1、突出部OH2之長度LN2及突出部OH3之長度LN3設為互為相等。此時，突出部OH2之寬度WR2係以變得小於突出部OH1之寬度WR1之方式被調整，突出部OH3之寬度WR3係以變得小於突出部OH1之寬度WR1之方式被調整。即，長度LN2與寬度WR2之乘積即突出部OH2之面積SO2係以變得小於長度LN1與寬度WR1之乘積即突出部OH1之面積SO1之方式被調整。而且，長度LN3與寬度WR3之乘積即突出部OH3之面積SO3係以變得小於長度LN1與寬度WR1之乘積即突出部OH1之面積SO1之方式被調整。

又，本體部BD中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積SB1係以寬度WB與寬度WD1之乘積表示。而且，本體部BD中之與驅動電極Tx1重合之部分之面積SB2係以寬度WB與寬度WD2之乘積表示，本體部BD中之與驅動電極Tx10重合之部分之面積SB3係以寬度WB與寬度WD3之乘積表示。因此，檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積S1係以上述式(1)表示。而且，檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1重合之部分之面積S2係以上述式(2)表示，檢測電極Rx中之與驅動電極Tx10重合之部分之面積S3係以上述式(3)表示。

如上所述，由於寬度WD2大於寬度WD1，寬度WD3大於寬度WD1，故面積SB2大於面積SB1，且面積SB3大於面積SB1。因此，於突出部OH2之面積SO2與突出部OH1之面積SO1相等時，面積S2變得大於面積S1，從而驅動電極Tx1與檢測電極Rx之間之靜電電容變得大於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容。又，於 突出部OH3之面積SO3與突出部OH1之面積SO1相等時，面積S3變得大於面積S1，從而驅動電極Tx10與檢測電極Rx之間之靜電電容變得大於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容。

然而，本實施形態3係例如寬度WR2小於寬度WR1，故以突出部OH2之面積SO2變得小於突出部OH1之面積SO1之方式進行調整。而且，以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1重合之部分之面積S2接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積S1之方式進行調整。因此，可以驅動電極Tx1與檢測電極Rx之間之靜電電容接近於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容之方式進行調整。

又，本實施形態3係例如寬度WR3小於寬度WR1，故以突出部OH3之面積SO3變得小於突出部OH1之面積SO1之方式進行調整。而且，以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx10重合之部分之面積S3接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積S1之方式進行調整。因此，可以驅動電極Tx10與檢測電極Rx之間之靜電電容接近於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容之方式進行調整。

即，於本實施形態3中，以於俯視下，檢測電極中之與具有較其他驅動電極之寬度大的寬度之驅動電極重合之部分之面積接近於檢測電極中之與其他驅動電極重合之部分之面積之方式，進行調整。

又，本實施形態3係於具有較其他驅動電極之寬度大的寬度之驅動電極配置於其他驅動電極之排列之兩側之情形時，可以該具有較大寬度之驅動電極與檢測電極之間之靜電電容接近於其他驅動電極與檢測電極之間之靜電電容之方式，進行調整。

進而，於本實施形態3中，為了調整具有較其他驅動電極之寬度大的寬度之驅動電極與檢測電極之間之靜電電容，而將擴展檢測電極 之面積之擴展部於俯視下設置於顯示區域之內部。

<驅動電極及檢測電極之配置之第1變化例>

圖24係示意性地表示實施形態3之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第1變化例的俯視圖。圖24係表示驅動電極Tx1之寬度大於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度，但驅動電極Tx10之寬度與驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度相等之例。再者，對於圖24所示之觸控面板TP3中之具有與圖23所示之觸控面板TP3之構件相同之功能之構件，標註相同之符號，並省略其重複之說明。

於本第1變化例中，驅動電極Tx2~Tx10各自之寬度WD1彼此互為相等，驅動電極Tx1之寬度WD2大於驅動電極Tx2~Tx10各自之寬度WD1。

檢測電極Rx包含本體部BD、複數個突出部OH1及突出部OH2，但不包含突出部OH3(參照圖23)。即，即便於設置有驅動電極Tx10之區域之內部，亦形成有突出部OH1。

本第1變化例中之複數個突出部OH1之各者可設為與實施形態3中之複數個突出部OH1之各者相同。又，本第1變化例中之突出部OH2可設為與實施形態3中之突出部OH2相同。

本第1變化例係與實施形態3同樣地，以突出部OH2之面積變得小於突出部OH1之面積之方式進行調整，且以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1重合之部分之面積接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx10之各者重合之部分之面積之方式進行調整。因此，可以驅動電極Tx1與檢測電極Rx之間之靜電電容接近於驅動電極Tx2~Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容之方式進行調整。

即，即便具有較其他驅動電極之寬度大的寬度之驅動電極僅配置於其他驅動電極之排列之一外側，亦可以該具有較大寬度之驅動電極與檢測電極之間之靜電電容接近於其他驅動電極與檢測電極之間之 靜電電容之方式進行調整。

<驅動電極及檢測電極之配置之第2變化例>

圖25係示意性地表示實施形態3之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第2變化例的俯視圖。圖25係表示具有較其他驅動電極之寬度大的寬度之驅動電極未配置於驅動電極之排列之外側而配置於驅動電極之排列之中途之例。再者，對於圖25所示之觸控面板TP3中之具有與圖23所示之觸控面板TP3之構件相同之功能之構件，標註相同之符號，並省略其重複之說明。

本第2變化例係於俯視下，將驅動電極Tx1~Tx3、Tx5~Tx10各自之Y軸方向之寬度設為WD1，將配置於驅動電極之排列之中途之驅動電極Tx4之Y軸方向之寬度設為WD2。此時，驅動電極Tx1~Tx3、Tx5~Tx10各自之寬度WD1彼此互為相等，且驅動電極Tx4之寬度WD2大於驅動電極Tx1~Tx3、Tx5~Tx10各自之寬度WD1。

根據例如作為顯示裝置之要求規格等，存在如下情況：將具有每1根驅動電極Tx之像素數加上Y軸方向之像素數未被整除而產生之餘數所得之像素數與像素電極之排列週期或寬度相乘所得之寬度的驅動電極配置於驅動電極之排列之中途而非配置於驅動電極之排列之外側。於此種情形時，使配置於驅動電極之排列之中途之驅動電極即例如驅動電極Tx4之寬度WD2大於作為其他驅動電極之驅動電極Tx1~Tx3、Tx5~Tx10各自之寬度WD1。

再者，亦可使寬度WD1於驅動電極Tx1~Tx3與驅動電極Tx5~Tx10之間不同。又，於本第2變化例中，對具有較其他驅動電極之寬度大的寬度之驅動電極配置於排列之第4個之例進行說明，但只要為排列之中途即可，並不限定於第4個。

於本第2變化例中，將驅動電極Tx1~Tx3、Tx5~Tx10之各者與檢測電極Rx之交叉部設為CR1，將驅動電極Tx4與檢測電極Rx之交叉 部設為CR2。又，將驅動電極Tx1~Tx3、Tx5~Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容設為CP1，將驅動電極Tx4與檢測電極Rx之間之靜電電容設為CP2。此時，基於靜電電容CP1、CP2，檢測輸入位置。

本第2變化例中之複數個突出部OH1之各者可設為與實施形態3中之複數個突出部OH1之各者相同。又，本第2變化例中之突出部OH2可設為與實施形態3中之突出部OH2相同。

即便本第2變化例，亦與實施形態3同樣地，以突出部OH2之面積變得小於突出部OH1之面積之方式進行調整。而且，以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx4重合之部分之面積接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1~Tx3、Tx5~Tx10之各者重合之部分之面積之方式進行調整。

<驅動電極及檢測電極之配置之第3變化例>

圖26係示意性地表示實施形態3之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第3變化例的俯視圖。圖26係表示突出部OH1~OH3突出至本體部BD之一側但未突出至本體部BD之另一側之例。再者，第3變化例中之觸控面板TP3中之除突出部OH1~OH3以外之各部分係與實施形態3中之觸控面板TP3之各部分相同。因此，對於圖26所示之觸控面板TP3中之除突出部OH1~OH3以外之各部分且具有與圖23所示之觸控面板TP3之構件相同之功能之構件，標註相同之符號，並省略其重複之說明。

於圖26所示之第3變化例中，複數個突出部OH1、及突出部OH2、OH3以於俯視下自本體部BD僅朝向X軸方向之正方向突出之方式形成，且檢測電極Rx具有梳狀之形狀。

即便本第3變化例，亦與實施形態3同樣地，以突出部OH2、OH3之面積變得小於突出部OH1之面積之方式進行調整。而且，以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1、Tx10之各者重合之部分之面積接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積之方式進 行調整。

再者，關於本第3變化例，亦與圖20所示之實施形態2之第4變化例同樣地，複數個突出部OH1、及突出部OH2、OH3亦可以自本體部BD朝向X軸方向之正方向或負方向突出之方式形成。而且，突出部OH1~OH3自本體部BD朝向X軸方向之正方向突出之檢測電極與突出部OH1~OH3自本體部BD朝向X軸方向之負方向突出之檢測電極亦可於X軸方向上交替地排列。

<驅動電極及檢測電極之配置之第4變化例>

圖27係示意性地表示實施形態3之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第4變化例的俯視圖。圖27係表示複數個檢測電極之各者包含複數個本體部之例。再者，於圖27中，省略基板12、顯示區域EA1、檢測區域EA2及區域OEA(參照圖23)之圖示。又，第4變化例中之觸控面板中之除檢測電極Rx1~Rx10即檢測電極Rx以外之各部分係與實施形態3中之觸控面板TP3之各部分相同。因此，對於圖27所示之觸控面板中之除檢測電極Rx以外之各部分且具有與圖23所示之觸控面板TP3之構件相同之功能之構件，標註相同之符號，並省略其重複之說明。

於圖27所示之第4變化例中，檢測電極Rx包含3根本體部BD1、BD2、BD3、複數個連接部CN1及連接部CN2、CN3、以及複數個突出部OH1及突出部OH2、OH3。

本第4變化例中之3根本體部BD1、BD2、BD3之各者可設為與實施形態1之第4變化例中之3根本體部BD1、BD2、BD3之各者相同。再者，與實施形態1之第4變化例同樣地，並不限定於檢測電極Rx包含3根本體部BD1、BD2、BD3之情形，亦可包含2根或4根以上之本體部。

本第4變化例中之複數個連接部CN1之各者可設為與實施形態1之 第4變化例中之複數個連接部CN1之各者相同。又，本第4變化例中之複數個突出部OH1之各者可設為與實施形態1之第4變化例中之複數個突出部OH1之各者相同。

連接部CN2係於俯視下在設置有驅動電極Tx1之區域之內部，以連接本體部BD1、BD2、BD3之方式形成。連接部CN3係於俯視下在設置有驅動電極Tx10之區域之內部，以連接本體部BD1、BD2、BD3之方式形成。與未形成連接部CN2、CN3之情形相比，連接部CN2、CN3係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

突出部OH2係於俯視下在設置有驅動電極Tx1之區域之內部，以自本體部BD1朝向X軸方向之負方向突出，且自本體部BD3朝向X軸方向之正方向突出之方式形成。與未形成突出部OH2之情形相比，突出部OH2係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

突出部OH3係於俯視下在設置有驅動電極Tx10之區域之內部，以自本體部BD1朝向X軸方向之負方向突出，且自本體部BD3朝向X軸方向之正方向突出之方式形成。與未形成突出部OH3之情形相比，突出部OH3係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

於本第4變化例中，以連接部CN2及突出部OH2各自之面積變得小於連接部CN1及突出部OH1各自之面積之方式進行調整。即，與實施形態3同樣地，以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1重合之部分之面積接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積之方式進行調整。

又，於本第4變化例中，以連接部CN3及突出部OH3各自之面積變得小於連接部CN1及突出部OH1各自之面積之方式進行調整。即，與實施形態3同樣地，以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx10重合之部分之面積接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積之方式進行調整。

<驅動電極及檢測電極之配置之第5變化例>

圖28係示意性地表示實施形態3之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第5變化例的俯視圖。圖28係表示複數個檢測電極之各者包含複數個本體部之例。再者，於圖28中，省略基板12、顯示區域EA1、檢測區域EA2及區域OEA(參照圖23)之圖示。又，第5變化例中之觸控面板中之除檢測電極Rx1~Rx10即檢測電極Rx以外之部分係與實施形態3中之觸控面板TP3之各部分相同。因此，對圖28所示之觸控面板中之除檢測電極Rx以外之部分且具有與圖23所示之觸控面板TP3之構件相同之功能之構件，標註相同之符號，並省略其重複之說明。

於圖28所示之第5變化例中，檢測電極Rx包含2根本體部BD1、BD2及連接部CN1。

本第5變化例中之2根本體部BD1、BD2之各者可設為與實施形態1之第5變化例中之2根本體部BD1、BD2之各者相同。再者，與實施形態1之第5變化例同樣地，並不限定於檢測電極Rx包含2根本體部BD1、BD2之情形，亦可包含3根以上之本體部。

連接部CN1係於俯視下在設置有各個驅動電極Tx2~Tx9之區域之內部，以連接本體部BD1、BD2之方式形成。與未形成連接部CN1之情形相比，連接部CN1係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

另一方面，如圖28所示，於俯視下，於設置有各個驅動電極Tx1、Tx10之區域之內部，可不形成作為將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部之連接部或突出部。

於本第5變化例中，藉由形成連接部CN1，而與實施形態3同樣地，以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1、Tx10之各者重合之部分之面積接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積之方式，調整連接部CN1之面積。

再者，即便本第5變化例，亦與實施形態3之第2變化例同樣地，具有較其他驅動電極之寬度大的寬度之驅動電極亦可不配置於驅動電極之排列之外側而配置於驅動電極之排列之中途。

<驅動電極及檢測電極之配置之第6變化例>

圖29係示意性地表示實施形態3之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置之第6變化例的俯視圖。圖29係表示調整突出部之長度而非寬度之例。再者，對圖29所示之觸控面板TP3中之具有與圖23所示之觸控面板TP3之構件相同之功能之構件，標註相同之符號，並省略其重複之說明。

於圖29所示之第6變化例中，檢測電極Rx包含本體部BD、以及複數個突出部OH1及突出部OH2、OH3。本體部BD係於Y軸方向上延伸，且將本體部BD之X軸方向之寬度設為WB。再者，於圖29中，對設置有驅動電極Tx2之區域之內部中所形成之突出部OH1、及突出部OH2、OH3標註影線。

本第6變化例中之複數個突出部OH1之各者可設為與實施形態3中之複數個突出部OH1之各者相同。

突出部OH2係於俯視下在設置有驅動電極Tx1之區域之內部、即交叉部CR2，以自本體部BD分別朝向X軸方向之正方向及負方向突出之方式形成。與未形成突出部OH2之情形相比，突出部OH2係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

突出部OH3係於俯視下在設置有驅動電極Tx10之區域之內部、即交叉部CR3，以自本體部BD分別朝向X軸方向之正方向及負方向突出之方式形成。與未形成突出部OH3之情形相比，突出部OH3係將檢測電極Rx之面積擴展之擴展部。

本第6變化例係與實施形態3不同，例如將突出部OH1之寬度WR1、突出部OH2之寬度WR2及突出部OH3之寬度WR3設為互為相 等。此時，例如突出部OH2之長度LN2係以變得小於突出部OH1之長度LN1之方式被調整，突出部OH3之長度LN3係以變得小於突出部OH1之長度LN1之方式被調整。

於本第6變化例中，例如長度LN2小於長度LN1，由此，以突出部OH2之面積變得小於突出部OH1之面積之方式進行調整。而且，與實施形態3同樣地，以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1重合之部分之面積接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積之方式進行調整。

又，於本第6變化例中，例如長度LN3小於長度LN1，由此，以突出部OH3之面積變得小於突出部OH1之面積之方式進行調整。而且，與實施形態3同樣地，以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx10重合之部分之面積接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積之方式進行調整。

<關於驅動電極與檢測電極之間之靜電電容>

其次，參照比較例2，對驅動電極與檢測電極之間之靜電電容進行說明。圖30係示意性地表示比較例2之顯示裝置中所包括之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置的俯視圖。

於比較例2中，檢測電極Rx包含本體部BD及突出部OH1~OH3，但突出部OH1之面積、突出部OH2之面積及突出部OH3之面積互為相等。本體部BD係於Y軸方向上延伸，且將本體部BD之X軸方向之寬度設為WB。

圖31係表示於比較例2中，對複數個驅動電極之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容的曲線圖。於圖31中，與圖14同樣地，橫軸表示被施加驅動電壓之驅動電極，縱軸表示檢測電容。又，圖31係與圖14同樣地表示可由ADC檢測之檢測電容之範圍即ADC範圍之下限值LL1及上限值UL1。進而，圖31所示之檢測電容係與圖14所示之檢測 電容同樣地，等於驅動電極Tx1~Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容。

再者，圖30所示之比較例2之觸控面板TP200中之除檢測電極Rx1~Rx10即檢測電極Rx以外之各部分係與圖23所示之實施形態3之觸控面板TP3中之除檢測電極Rx以外之各部分相同。又，包括比較例2之觸控面板TP200之顯示裝置中之除觸控面板TP200以外之各部分亦與圖6所示之顯示裝置LCD1中之除觸控面板TP1以外之各部分相同。

即，即便比較例2，亦與實施形態3相同，驅動電極Tx1之寬度WD2大於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1，驅動電極Tx10之寬度WD3大於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1。

又，比較例2中之檢測電極Rx之各部分係除突出部OH1之面積、突出部OH2之面積及突出部OH3之面積互為相等之方面以外，與實施形態3中之檢測電極Rx之各部分相同。

再者，於圖30中，對設置有驅動電極Tx2之區域之內部中所形成之突出部OH1、及突出部OH2、OH3標註影線。

即便比較例2，亦與實施形態3相同，驅動電極Tx1之寬度WD2大於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1。因此，檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1重合之部分之面積S2變得大於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積S1。又，驅動電極Tx10之寬度WD3大於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1。因此，檢測電極Rx中之與驅動電極Tx10重合之部分之面積S3變得大於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積S1。因此，驅動電極Tx1、Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容變得大於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容。

於比較例2之觸控面板TP200中，如圖31所示，對驅動電極Tx2~Tx9之各者施加驅動電壓時所檢測之靜電電容即檢測電容成為固定值 CST1。

然而，於比較例2之觸控面板TP200中，對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之靜電電容即檢測電容變得大於固定值CST1。若檢測電容大於固定值CST1，則存在檢測電容接近於ADC範圍之上限值UL1、或變得大於上限值UL1之虞。即，對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容相對於ADC範圍之上限值UL1之差、即裕度變小，從而檢測電容之雜訊抗擾性下降。其結果，於比較例2之觸控面板TP200中，存在於驅動電極Tx1、Tx10上，與驅動電極Tx2~Tx9上相比，位置檢測精度下降、或位置檢測靈敏度下降之虞。

<本實施形態之主要之特徵及效果>

於本實施形態3及其第1變化例~第6變化例中，檢測電極Rx係於俯視下配置於設置有驅動電極Tx1、Tx10之區域，且例如包含突出部OH2、OH3或連接部CN2、CN3或者連接部CN1作為擴展檢測電極之面積之擴展部。以下，代表突出部OH2、OH3或連接部CN2、CN3或者連接部CN1，對突出部OH2、OH3進行說明。

以突出部OH2、OH3各自之面積變得小於突出部OH1之面積之方式進行調整，且以檢測電極Rx中之與驅動電極Tx1、Tx10之各者重合之部分之面積接近於檢測電極Rx中之與驅動電極Tx2~Tx9之各者重合之部分之面積之方式進行調整。因此，可以驅動電極Tx1、Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容接近於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容之方式進行調整。藉此，可防止或抑制驅動電極Tx1、Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容相較驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容變大。

圖32係表示於實施形態3之作為實施例之實施例5及實施例6中，對複數個驅動電極之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容的曲線 圖。於圖32中，與圖15同樣地，橫軸表示被施加驅動電壓之驅動電極，縱軸表示檢測電容。又，於圖32中，與圖15同樣地，表示可由ADC檢測之檢測電容之範圍即ADC範圍之下限值LL1及上限值UL1。進而，圖32所示之檢測電容係與圖15所示之檢測電容同樣地，等於驅動電極Tx1~Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容。

如圖32所示，即便實施例5及實施例6中，對驅動電極Tx2~Tx9之各者施加驅動電壓時所檢測之靜電電容即檢測電容亦為固定值CST1。

此時，較佳為，以對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之靜電電容即檢測電容包含於相對固定值CST1為±10%以內之範圍內之方式，調整突出部OH2、OH3各自之面積。將檢測電極Rx包含以此方式調整之突出部OH2、OH3之情形設為圖32所示之實施例5。

於圖32所示之實施例5中，與圖31所示之比較例2相比，可抑制對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容相對於ADC範圍之上限值UL1之差、即裕度。而且，可抑制對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容之雜訊抗擾性降低。其結果，可防止或抑制於驅動電極Tx1、Tx10上，與驅動電極Tx2~Tx9上相比，位置檢測精度下降，從而防止或抑制位置檢測靈敏度下降。因此，可提昇顯示裝置之位置檢測性能。

進而，較佳為，以對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容等於固定值CST1之方式，調整突出部OH2、OH3各自之面積。將檢測電極Rx包含以此方式調整之突出部OH2、OH3之情形設為圖32所示之實施例6。

於圖32所示之實施例6中，與圖31所示之比較例2相比，可進一步確實地抑制對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之 檢測電容相對於ADC範圍之上限值UL1的裕度變小。而且，可進一步確實地抑制對驅動電極Tx1、Tx10之各者施加驅動電壓時所檢測之檢測電容之雜訊抗擾性下降。其結果，可進一步確實地防止或抑制於驅動電極Tx1、Tx10上，與驅動電極Tx2~Tx9上相比，位置檢測精度下降，從而進一步確實地防止或抑制位置檢測靈敏度下降。因此，可提昇顯示裝置之位置檢測性能。

(實施形態4)

於實施形態1~實施形態3中，對將包含具有與其他驅動電極之寬度不同之寬度之驅動電極的作為輸入裝置之觸控面板應用於內嵌式液晶顯示裝置中所包括之輸入裝置之例進行了說明。相對於此，於實施形態4中，將對將包含具有與其他驅動電極之寬度不同之寬度之驅動電極的作為輸入裝置之觸控面板應用於單體之輸入裝置或外掛式顯示裝置中所包括之輸入裝置之例進行說明。

再者，本實施形態4之觸控面板可應用於在以液晶顯示裝置為主之有機EL顯示裝置等各種顯示裝置上設置有輸入裝置的外掛式顯示裝置中所包括之輸入裝置。

<觸控面板之構成>

其次，對本實施形態4之觸控面板之構成進行說明。

圖33係表示實施形態4之觸控面板之一例之構成的俯視圖。圖34係表示實施形態4之觸控面板之一例之構成的剖面圖。圖34係沿著圖33之A-A線之剖面圖。

如圖33所示，觸控面板TP4具有基板12c。基板12c包含作為檢測面側之正面12d及位於正面12d之相反側之背面12e。

再者，於本實施形態4中，所謂於俯視下係指自與基板12c之正面12d垂直之方向觀察顯示裝置。

於基板12c之背面12e形成有複數個驅動電極Tx。複數個驅動電 極Tx包括例如ITO等具有透光性且透明之導電膜、即透明導電膜。複數個驅動電極Tx係如圖33所示，於觸控面板檢測位置之區域即檢測區域EA2內，以單向地延伸之方式並排設置。此時，驅動電極Tx係於沿著A-A線之剖面中，配置於檢測區域EA2之內部。另一方面，如圖33所示，驅動電極Tx亦可以其兩端延伸至檢測區域EA2之外側為止之方式形成。

又，於本實施形態4中，即便將觸控面板配備於顯示裝置，該顯示裝置亦為外掛式顯示裝置。因此，觸控面板檢測位置之區域即檢測區域EA2亦可不與顯示裝置進行顯示之區域即顯示區域EA1(參照圖4)一致。

於基板12c之正面12d形成有複數個檢測電極Rx。複數個檢測電極Rx包括例如ITO等具有透光性且透明之導電膜、即透明導電膜。

於基板12c之背面12e形成有配線基板21c。可將配線基板21c與實施形態1之配線基板21同樣地設為例如所謂軟性配線基板。於配線基板21c形成有配線21b。配線21b之一端係與複數個驅動電極Tx電性連接，配線21b之另一端係與驅動電路DR1電性連接。驅動電路DR1係對驅動電極Tx施加使用圖2所說明之輸入位置檢測用之驅動波形DW。

於基板12c之正面12d形成有配線基板22。與實施形態1同樣地，可將配線基板22設為例如所謂軟性配線基板。於配線基板22形成有配線22a。配線22a之一端係與複數個檢測電極Rx之各者電性連接，配線22a之另一端係與檢測電路DT1電性連接。檢測電路DT1係基於檢測信號，檢測輸入位置。

<顯示裝置之構成>

圖35係表示實施形態4之顯示裝置之一例之構成的剖面圖。圖35所示之顯示裝置係於使用圖6在上文所述之包括液晶顯示裝置之顯示 裝置中之除檢測電極Rx、配線21b及驅動電路DR1以外之顯示裝置LCD2之基板12之正面12a側，安裝觸控面板TP4，製成外掛式之附帶觸摸檢測功能之顯示裝置。因此，顯示裝置LCD2之各部分係與圖6所示之顯示裝置LCD1中之除檢測電極Rx、配線21b及驅動電路DR1以外之各部分相同，因而省略其說明。

此時，顯示裝置LCD2中所包括之共用電極14不用作觸控面板之檢測電極。又，於作為液晶顯示裝置之顯示裝置LCD2中，作為為使液晶層之液晶分子之配向產生變化而施加電場之方式中之縱電場模式，例如可使用TN(Twisted Nematic，扭轉向列)模式、或VA(Vertical Alignment，垂直配向)模式。進而，作為橫電場模式，可使用上述IPS模式、或FFS模式等。

<驅動電極及檢測電極之配置>

作為本實施形態4之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置，可應用實施形態1及其第1變化例~第5變化例中之任一者之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置。又，作為本實施形態4之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置，可應用實施形態2及其第1變化例~第6變化例中之任一者之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置。

即便以單體使用之觸控面板、及外掛式顯示裝置中所包括之觸控面板，亦因配置之制約等而存在某一驅動電極之寬度變得小於其他驅動電極之寬度之情況。

然而，於本實施形態4中，可應用實施形態1及其第1變化例~第5變化例中之任一者所示之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置。藉此，如使用圖7等所說明，於驅動電極Tx1之寬度WD2、及驅動電極Tx10之寬度WD3小於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1時，亦可使驅動電極Tx1、Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容增加。因此，可防止或抑制驅動電極Tx1、Tx10之各者與檢測電極Rx之 間之靜電電容變得小於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容。

又，於本實施形態4中，可應用實施形態2及其第1變化例~第6變化例中之任一者所示之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置。藉此，如使用圖16等所說明，於驅動電極Tx1之寬度WD2、及驅動電極Tx10之寬度WD3小於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1時，亦可使驅動電極Tx1、Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容增加。因此，可防止或抑制驅動電極Tx1、Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容變得小於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容。

進而，作為本實施形態4之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置，可應用實施形態3及其第1變化例~第6變化例中之任一者之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置。

即便以單體使用之觸控面板、及外掛式顯示裝置中所包括之觸控面板，亦因配置之制約等而存在某一驅動電極之寬度變得大於其他驅動電極之寬度之情況。

然而，於本實施形態4中，可應用實施形態3及其第1變化例~第6變化例中之任一者所示之觸控面板中之驅動電極及檢測電極之配置。藉此，如使用圖23等所說明，於驅動電極Tx1之寬度WD2、及驅動電極Tx10之寬度WD3大於驅動電極Tx2~Tx9各自之寬度WD1時，亦可減少驅動電極Tx1、Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容。因此，可防止或抑制驅動電極Tx1、Tx10之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容變得大於驅動電極Tx2~Tx9之各者與檢測電極Rx之間之靜電電容。

如此般，於本實施形態4中，於單體之觸控面板、或外掛式顯示裝置中所包括之觸控面板中，可以具有與其他驅動電極之寬度不同之 寬度之驅動電極與檢測電極之間之靜電電容接近於其他驅動電極與檢測電極之間之靜電電容之方式進行調整。

藉此，可防止對具有與其他驅動電極之寬度不同之寬度之驅動電極施加驅動電壓時所檢測之檢測電容相對於ADC範圍之下限值或上限值的裕度變小，從而防止或抑制檢測電容之雜訊抗擾性下降。因此，可與實施形態1~實施形態3同樣地，防止或抑制於具有與其他驅動電極之寬度不同之寬度之驅動電極上，與其他驅動電極上相比，位置檢測精度下降，從而防止或抑制位置檢測靈敏度下降。因此，可提昇單體之觸控面板或外掛式顯示裝置中所包括之觸控面板之位置檢測性能。

(實施形態5)

其次，參照圖36~圖42，對在實施形態1~實施形態4及其等之變化例中說明之顯示裝置之作為應用例的電子機器進行說明。實施形態1~實施形態4及其等之變化例之附帶觸摸檢測功能之顯示裝置等可應用於電視裝置、數位相機、筆記型個人電腦、行動電話機等移動終端裝置或視訊攝影機等所有領域之電子機器。換言之，實施形態1~實施形態4及其等之變化例之附帶觸摸檢測功能之顯示裝置等可應用於將自外部輸入之影像信號或於內部產生之影像信號以圖像或影像顯示之所有領域的電子機器。

<電視裝置>

圖36係表示實施形態5之作為電子機器之一例之電視裝置之外觀的立體圖。該電視裝置例如具有包含前面板511及濾光玻璃512之影像顯示畫面部513。而且，影像顯示畫面部513包括實施形態1~實施形態4及其等之變化例中說明的內嵌式之附帶觸摸檢測功能之顯示裝置或外掛式之附帶觸摸檢測功能之顯示裝置。

<數位相機>

圖37係表示實施形態5之作為電子機器之一例之數位相機之外觀的立體圖。該數位相機例如包含顯示部522、選單開關523及快門按鈕524。而且，顯示部522包括實施形態1~實施形態4及其等之變化例中說明的內嵌式之附帶觸摸檢測功能之顯示裝置或外掛式之附帶觸摸檢測功能之顯示裝置。

<筆記型個人電腦>

圖38係表示實施形態5之作為電子機器之一例之筆記型個人電腦之外觀的立體圖。該筆記型個人電腦例如包含本體531、用於字符等之輸入操作之鍵盤532及顯示圖像之顯示部533。而且，顯示部533包括實施形態1~實施形態4及其等之變化例中說明的內嵌式之附帶觸摸檢測功能之顯示裝置或外掛式之附帶觸摸檢測功能之顯示裝置。

<視訊攝影機>

圖39係表示實施形態5之作為電子機器之一例之視訊攝影機之外觀的立體圖。該視訊攝影機例如包含本體部541、設置於該本體部541之正面之被攝體攝影用之透鏡542、攝影時之開始/停止開關543及顯示部544。而且，顯示部544包括實施形態1~實施形態4及其等之變化例中說明的內嵌式之附帶觸摸檢測功能之顯示裝置或外掛式之附帶觸摸檢測功能之顯示裝置。

<行動電話機>

圖40及圖41係表示實施形態5之作為電子機器之一例之行動電話機之外觀的前視圖。圖41係表示圖40所示之行動電話機摺疊之狀態。該行動電話機係例如利用連結部(鉸鏈部)553連結上側殼體551及下側殼體552而成者，且包含顯示器554、次顯示器555、圖片燈556及攝影機557。而且，顯示器554或次顯示器555包括實施形態1~實施形態4及其等之變化例之附帶觸摸檢測功能之顯示裝置等。

<智慧型手機>

圖42係表示實施形態5之作為電子機器之一例之智慧型手機之外觀的前視圖。該智慧型手機例如包含殼體561及觸控螢幕562。觸控螢幕562例如包括作為輸入裝置之觸控面板、及作為顯示部之液晶面板，且包括實施形態1~實施形態4及其等之變化例中說明之內嵌式之附帶觸摸檢測功能之顯示裝置或外掛式之附帶觸摸檢測功能之顯示裝置。

觸控螢幕562之觸控面板包括例如使用圖6所說明之觸控面板TP1，且設置於包括例如使用圖6所說明之顯示裝置LCD1之液晶面板之表面。若使用者使用手指或觸控筆，對觸控面板進行觸控操作或拖曳操作等手勢操作，則觸控螢幕562之觸控面板檢測對應於該手勢操作之位置之座標並輸出至未圖示之控制部。

觸控螢幕562之液晶面板係如上所述包括例如使用圖6所說明之顯示裝置LCD1。又，包括顯示裝置LCD1之觸控螢幕562之液晶面板具有包括圖42中省略圖示但例如使用圖6所說明之驅動電路DR2的驅動部。包括驅動電路DR2之驅動部係於例如使用圖6所說明之顯示裝置LCD1中，藉由對與矩陣狀配置之複數個像素之各者對應地配置之像素電極，分別以固定之時序施加作為圖像信號之電壓而執行顯示。

<本實施形態之主要之特徵及效果>

於本實施形態5中，於上述各種電子機器之顯示裝置中所包括之輸入裝置中，可以具有與其他驅動電極之寬度不同之寬度之驅動電極與檢測電極之間之靜電電容接近於其他驅動電極與檢測電極之間之靜電電容之方式進行調整。

藉此，可防止對具有與其他驅動電極之寬度不同之寬度之驅動電極施加驅動電壓時所檢測之檢測電容相對於ADC範圍之下限值或上限值的裕度變小，從而防止或抑制檢測電容之雜訊抗擾性下降。因此，可與實施形態1~實施形態4及其等之變化例同樣地，防止或抑制 於具有與其他驅動電極之寬度不同之寬度之驅動電極上，與其他驅動電極上相比，位置檢測精度下降，從而防止或抑制位置檢測靈敏度下降。因此，可提昇上述各種電子機器之性能。

以上，將由本發明者所完成之發明基於其實施形態具體地進行了說明，當然，本發明並不限定於上述實施形態，可於不脫離其精神之範圍內進行各種變更。

[產業上之可利用性]

本發明應用於輸入裝置、顯示裝置及電子機器，較為有效。

12‧‧‧基板

BD‧‧‧本體部

CR1~CR3‧‧‧交叉部

DS1、DS2‧‧‧間隔

EA1‧‧‧顯示區域

EA2‧‧‧檢測區域

LN1~LN3‧‧‧長度

OEA‧‧‧區域

OH1~OH5‧‧‧突出部(擴展部)

Rx、Rx1、Rx10‧‧‧檢測電極

TP1‧‧‧觸控面板(輸入裝置)

Tx1、Tx2、Tx9、Tx10‧‧‧驅動電極

WB、WD1~WD3、WR1~WR3‧‧‧寬度

Claims (19)

1. 一種靜電電容方式之輸入裝置，其包含：複數個第1電極，其等係於俯視下分別於第1方向上延伸，且於與上述第1方向交叉之第2方向上排列；第2電極，其係於俯視下配置於上述複數個第1電極之排列之一外側，且在上述第1方向上延伸；及複數個第3電極，其等係於俯視下分別於上述第2方向上延伸，且於上述第1方向上排列；基於上述第3電極與上述第1電極之間之第1靜電電容、及上述第3電極與上述第2電極之間之第2靜電電容而檢測輸入位置，上述第2電極之上述第2方向之第1寬度小於上述第1電極之上述第2方向之第2寬度，上述第3電極係於俯視下在夾隔著上述第2電極而與上述複數個第1電極相反之側，包含將上述第3電極之面積擴展的第1擴展部。
2. 如請求項1之靜電電容方式之輸入裝置，其中上述第1擴展部係以上述第1靜電電容與上述第2靜電電容變得相等之方式，擴展上述第3電極之面積。
3. 如請求項1之靜電電容方式之輸入裝置，其中上述第1擴展部係於俯視下與上述第2電極相接。
4. 如請求項1之靜電電容方式之輸入裝置，其中上述第3電極係包含於俯視下在上述第2方向上延伸之本體部，上述第1擴展部係於俯視下在夾隔著上述第2電極而與上述複數個第1電極相反之側，自上述本體部於上述第1方向上突出的 突出部。
5. 如請求項1之靜電電容方式之輸入裝置，其包含：第4電極，其係於俯視下配置於上述複數個第1電極之排列之另一外側，且在上述第1方向上延伸；且基於上述第1靜電電容、上述第2靜電電容、及上述第3電極與上述第4電極之間之第3靜電電容而檢測上述輸入位置，上述第4電極之上述第2方向之第3寬度小於上述第2寬度，上述第3電極係於俯視下在夾隔著上述第4電極而與上述複數個第1電極相反之側，包含將上述第3電極之面積擴展的第2擴展部。
6. 一種顯示裝置，其包括如請求項1之輸入裝置，且包含：第1基板；第2基板，其係與上述第1基板對向配置；複數個第5電極，其等係配置於上述第1基板與上述第2基板之間；複數個第6電極，其等係配置於上述第1基板與上述第2基板之間；及顯示圖像形成部，其係配置於上述第1基板與上述第2基板之間，且藉由對上述複數個第5電極與上述複數個第6電極之間施加電壓而形成顯示圖像；上述複數個第5電極包含上述複數個第1電極、及上述第2電極，上述第3電極係形成於夾隔著上述第2基板而與上述第5電極相反之側。
7. 如請求項6之顯示裝置，其中上述顯示圖像形成部係液晶層。
8. 如請求項6之顯示裝置，其包含：顯示區域，其係於俯視下配置有複數個像素；且上述複數個第6電極之各者係對應於上述複數個像素之各者而配置，上述複數個第1電極及上述第2電極係於垂直於上述第1方向之剖面中，配置於上述顯示區域之內部，上述第1擴展部係配置於上述顯示區域之外部。
9. 一種電子機器，其包括如請求項6之顯示裝置。
10. 一種靜電電容方式之輸入裝置，其包含：複數個第1電極，其等係於俯視下分別於第1方向上延伸，且於與上述第1方向交叉之第2方向上排列；第2電極，其係於俯視下配置於上述複數個第1電極之排列之一外側或上述複數個第1電極之排列之中途，且於上述第1方向上延伸；及複數個第3電極，其等係於俯視下分別於上述第2方向上延伸，且於上述第1方向上排列；基於形成於上述第3電極與上述第1電極之第1交叉部之第1靜電電容、及形成於上述第3電極與上述第2電極之第2交叉部之第2靜電電容而檢測輸入位置，上述第2電極之上述第2方向之第1寬度不同於上述第1電極之上述第2方向之第2寬度，上述第3電極係於上述第2交叉部包含將上述第3電極之面積擴展之第1擴展部，以於俯視下上述第3電極中與上述第2電極重合之部分之面積接近於上述第3電極中與上述第1電極重合之部分之面積之方式，調整上述第1擴展部之面積。
11. 如請求項10之靜電電容方式之輸入裝置，其中上述複數個第1電極各自之上述第2寬度彼此互為相等。
12. 如請求項10之靜電電容方式之輸入裝置，其中以於俯視下，上述第3電極中與上述第2電極重合之部分之面積變得與上述第3電極中與上述第1電極重合之部分之面積相等之方式，調整上述第1擴展部之面積。
13. 如請求項10之靜電電容方式之輸入裝置，其中上述第3電極係於上述第1交叉部包含將上述第3電極之面積擴展之第2擴展部，於上述第1寬度小於上述第2寬度時，以上述第1擴展部之面積變得大於上述第2擴展部之面積之方式予以調整，於上述第1寬度大於上述第2寬度時，以上述第1擴展部之面積變得小於上述第2擴展部之面積之方式予以調整。
14. 如請求項10之靜電電容方式之輸入裝置，其中上述第2電極係於俯視下配置於上述複數個第1電極之排列之上述一外側，且上述輸入裝置包含於俯視下配置於上述複數個第1電極之排列之另一外側且在上述第1方向上延伸的第4電極，基於上述第1靜電電容、上述第2靜電電容、及形成於上述第3電極與上述第4電極之第3交叉部之第3靜電電容而檢測上述輸入位置，於上述第1寬度小於上述第2寬度時，上述第4電極之上述第2方向之第3寬度小於上述第2寬度，於上述第1寬度大於上述第2寬度時，上述第3寬度大於上述第2寬度，上述第3電極係於上述第3交叉部包含將上述第3電極之面積擴 展之第3擴展部，且以於俯視下，上述第3電極中與上述第4電極重合之部分之面積接近於上述第3電極中與上述第1電極重合之部分之面積之方式，調整上述第3擴展部之面積。
15. 一種顯示裝置，其包括如請求項10之輸入裝置，且包含：第1基板；第2基板，其係與上述第1基板對向配置；複數個第5電極，其等係配置於上述第1基板與上述第2基板之間；複數個第6電極，其等係配置於上述第1基板與上述第2基板之間；及顯示圖像形成部，其係配置於上述第1基板與上述第2基板之間，且藉由對上述複數個第5電極與上述複數個第6電極之間施加電壓而形成顯示圖像；上述複數個第5電極包含上述複數個第1電極、及上述第2電極，上述第3電極係形成於夾隔著上述第2基板而與上述第5電極相反之側。
16. 如請求項15之顯示裝置，其中上述顯示圖像形成部係液晶層。
17. 如請求項15之顯示裝置，其包含：顯示區域，其係於俯視下配置有複數個像素；且上述複數個第6電極之各者係對應於上述複數個像素之各者而配置，上述複數個第1電極及上述第2電極係於垂直於上述第1方向之剖面中，配置於上述顯示區域之內部， 上述第1擴展部係配置於上述顯示區域之內部。
18. 一種電子機器，其包括如請求項15之顯示裝置。
19. 一種靜電電容方式之輸入裝置，其包括：複數個第1電極，其等係於俯視下分別於第1方向上延伸，且於與上述第1方向交叉之第2方向上排列；第2電極，其係於俯視下配置於上述複數個第1電極之排列之一外側或上述複數個第1電極之排列之中途，且在上述第1方向上延伸；及複數個第3電極，其等係於俯視下分別於上述第2方向上延伸，且於上述第1方向上排列；基於形成於上述第3電極與上述第1電極之第1交叉部之第1靜電電容、及形成於上述第3電極與上述第2電極之第2交叉部之第2靜電電容而檢測輸入位置，上述第2電極之上述第2方向之第1寬度大於上述第1電極之上述第2方向之第2寬度，上述第3電極係於上述第1交叉部包含將上述第3電極之面積擴展之第1擴展部，且以於俯視下，上述第3電極中與上述第2電極重合之部分之面積接近於上述第3電極中與上述第1電極重合之部分之面積之方式，調整上述第1擴展部之面積。