KR101779703B1 - 검출 장치 및 표시 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 금속 재료 등의 도전성 재료의 검출 전극을 사용하면서, 복수의 산재하는 광점이 시인될 가능성을 저감할 수 있는, 외부 근접 물체를 검출 가능한 검출 장치 및 표시 장치를 제공하기 위한 것으로, 검출 장치는, 외부 근접 물체를 검출 가능하며, 기판과, 검출 전극을 포함한다. 검출 전극은, 복수의 제1 세선편과 복수의 제2 세선편이 전기적으로 연결되는, 복수의 도전성 세선을 구비한다. 도전성 세선에 포함되는, 제1 방향으로 연장되는 제1 세선편과, 제1 방향과 상이한 제2 방향으로 연장되는 제2 세선편이 교차해서 이루는 각도가 일정하고, 또한, 상이한 도전성 세선 상의 제1 세선편끼리의 거리가 일정하지 않다.

Description

검출 장치 및 표시 장치{DETECTION DEVICE AND DISPLAY DEVICE}
본 발명은 외부 근접 물체를 검출 가능한 검출 장치에 관한 것으로, 특히 정전 용량의 변화에 기초하여 외부 근접 물체를 검출 가능한 검출 장치 및 표시 장치에 관한 것이다.
최근 들어, 소위 터치 패널이라고 불리는, 외부 근접 물체를 검출 가능한 검출 장치가 주목받고 있다. 터치 패널은, 액정 표시 장치 등의 표시 장치 상에 장착 또는 일체화되는, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치에 사용되고 있다. 그리고, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치는, 표시 장치에 각종 버튼 화상 등을 표시시킴으로써, 터치 패널을 통상의 기계식 버튼의 대신으로서 정보 입력을 가능하게 하고 있다. 이러한 터치 패널을 갖는 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치는, 키보드나 마우스, 키패드와 같은 입력 장치를 필요로 하지 않기 때문에, 컴퓨터 이외에, 휴대 전화와 같은 휴대 정보 단말기 등에서도, 사용이 확대되는 경향이 있다.
터치 검출 장치의 방식으로서, 광학식, 저항식, 정전 용량식 등 몇 가지 방식이 존재한다. 정전 용량식 터치 검출 장치는, 휴대 단말기 등에 사용하여, 비교적 단순한 구조를 갖고, 또한 저소비 전력을 실현할 수 있다. 예를 들어, 특허문헌 1에는, 투광성 전극 패턴의 불가시화 대책이 되어 있는 터치 패널이 기재되어 있다.
또한, 외부 근접 물체를 검출 가능한 검출 장치에서는, 박형화, 대형 화면화 또는 고정밀화를 위해서, 검출 전극의 저저항화가 요구되고 있다. 검출 전극은, 투광성 전극의 재료로서 ITO(Indium Tin Oxide) 등의 투광성 도전 산화물이 사용되고 있다. 검출 전극을 저저항으로 하기 위해서는, 금속 재료 등의 도전성 재료를 사용하는 것이 유효하다. 그러나, 금속 재료 등의 도전성 재료를 사용하면, 표시 장치의 화소와 금속 재료 등의 도전성 재료와의 간섭에 의해 무아레가 시인될 가능성이 있다.
일본 특허 공개 제2010-197576호 공보 일본 특허 공개 제2014-041589호 공보
그래서, 특허문헌 2에는, 검출 전극이 금속 재료 등의 도전성 재료의 검출 전극을 사용해도, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있는 검출 장치가 기재되어 있다. 특허문헌 2에 기재된 검출 장치에서는, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있지만, 가시광이 입사되면 복수의 검출 전극에서 회절 또는 산란되는 광강도 패턴이 복수 산재되는 광점에 가까워져, 광점이 시인될 가능성이 있다.
본 발명은, 이러한 문제점을 감안하여 이루어진 것으로, 그 목적은, 금속 재료 등의 도전성 재료의 검출 전극을 사용하면서, 복수 산재되는 광점이 시인될 가능성을 저감할 수 있는, 외부 근접 물체를 검출 가능한 검출 장치 및 표시 장치를 제공하는 데 있다.
제1 형태에 의하면, 외부 근접 물체를 검출 가능한 검출 장치이며, 기판과, 상기 기판의 표면과 평행한 면으로 연장되는, 금속 재료로 제1 단부와 제2 단부를 직선으로 연결한 제1 세선편 및 제2 세선편을 각각 복수 포함하고, 적어도 상기 제1 세선편의 1개와 상기 제2 세선편의 1개가 접속부에서 접속되어, 복수의 상기 세선편끼리가 전기적으로 연결되는, 도전성 세선을 복수 구비하는 검출 전극을 갖고, 상기 도전성 세선에 포함되는, 제1 방향으로 연장되는 상기 제1 세선편과, 상기 제1 방향과 상이한 제2 방향으로 연장되는 상기 제2 세선편이 교차해서 이루는 각도가 일정하고, 또한, 상이한 상기 도전성 세선 상의 상기 제1 세선편끼리의 거리가 일정하지 않다.
제2 형태에 의하면, 표시 장치는, 기판과, 상기 기판의 표면과 평행한 면으로 연장되는, 금속 재료로 제1 단부와 제2 단부를 직선으로 연결한 제1 세선편 및 제2 세선편을 각각 복수 포함하고, 적어도 상기 제1 세선편의 1개와 상기 제2 세선편의 1개가 접속부에서 접속되어, 복수의 상기 세선편끼리가 전기적으로 연결되는, 도전성 세선을 복수 구비하는 검출 전극을 갖고, 상기 도전성 세선에 포함되는, 제1 방향으로 연장되는 상기 제1 세선편과, 상기 제1 방향과 상이한 제2 방향으로 연장되는 상기 제2 세선편이 교차해서 이루는 각도가 일정하고, 또한, 상이한 상기 도전성 세선 상의 상기 제1 세선편끼리의 거리가 일정하지 않은, 외부 근접 물체를 검출 가능한 검출 장치와, 상기 기판의 표면과 평행한 면에, 복수의 색 영역을 포함하는 화소가 행렬 형상으로 배치되는 표시 영역을 구비하고, 상기 표시 영역과 상기 검출 전극은 기판과 수직인 방향으로 중첩된다.
도 1은 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 일 구성예를 도시하는 블록도.
도 2는 정전 용량형 터치 검출 방식의 기본 원리를 설명하기 위해서, 손가락이 접촉 또는 근접해 있지 않은 상태를 도시하는 설명도.
도 3은 도 2에 도시하는 손가락이 접촉 또는 근접해 있지 않은 상태의 등가 회로예를 도시하는 설명도.
도 4는 정전 용량형 터치 검출 방식의 기본 원리를 설명하기 위해서, 손가락이 접촉 또는 근접한 상태를 도시하는 설명도.
도 5는 도 4에 도시하는 손가락이 접촉 또는 근접한 상태의 등가 회로예를 도시하는 설명도.
도 6은 구동 신호 및 터치 검출 신호의 파형 일례를 도시하는 도면.
도 7은 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치를 실장한 모듈의 일례를 도시하는 도면.
도 8은 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치를 실장한 모듈의 일례를 도시하는 도면.
도 9는 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 개략적인 단면 구조를 도시하는 단면도.
도 10은 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 화소 배치를 도시하는 회로도.
도 11은 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 구동 전극 및 검출 전극의 일 구성예를 도시하는 사시도.
도 12는 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 일 동작예를 도시하는 타이밍 파형도.
도 13은 실시 형태 1에 관한 검출 전극의 배치를 도시하는 도면.
도 14는 실시 형태 1의 변형예 1에 관한 세선편의 제1 단부와 제2 단부와의 상대적인 위치 관계를 설명하는 모식도.
도 15는 실시 형태 1의 변형예 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치에 대한 무아레 평가를 도시한 도면.
도 16은 실시 형태 1의 변형예 2에 관한 세선편의 제1 단부와 제2 단부와의 상대적인 위치 관계를 설명하는 모식도.
도 17은 실시 형태 1의 변형예 2에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치에 대한 무아레 평가를 도시한 도면.
도 18은 실시 형태 2에 관한 검출 전극의 배치를 도시하는 도면.
도 19는 실시 형태 2의 변형예 1에 관한 검출 전극의 배치 일부를 도시하는 도면.
도 20은 실시 형태 2의 변형예 2에 관한 검출 전극의 배치 일부를 도시하는 도면.
도 21은 실시 형태 3에 관한 검출 전극의 배치 일부를 도시하는 도면.
도 22는 실시 형태 3의 변형예 1에 관한 검출 전극의 배치 일부를 도시하는 도면.
도 23은 실시 형태 4에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 개략적인 단면 구조를 도시하는 단면도.
도 24는 실시 형태 4의 변형예 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 개략적인 단면 구조를 도시하는 단면도.
도 25는 실시 형태 4의 변형예 2에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 개략적인 단면 구조를 도시하는 단면도.
이하, 발명을 실시하기 위한 형태(실시 형태)에 대해서, 도면을 참조하면서 상세하게 설명한다. 이하의 실시 형태에 기재한 내용에 의해 본 발명이 한정되는 것은 아니다. 또한, 이하에 기재한 구성 요소에는, 당업자가 용이하게 상정할 수 있는 것, 실질적으로 동일한 것이 포함된다. 또한, 이하에 기재한 구성 요소는 적절히 조합하는 것이 가능하다. 또한, 개시는 어디까지나 일례에 블과하며, 당업자에게 있어서, 발명의 주지를 유지한 적시 변경에 대해서 용이하게 상도할 수 있는 것에 대해서는, 당연히 본 발명의 범위에 함유되는 것이다. 또한, 도면은 설명을 보다 명확하게 하기 위해서, 실제의 형태에 비해, 각 부의 폭, 두께, 형상 등에 대해서 모식적으로 표현되는 경우가 있지만, 어디까지나 일례이며, 본 발명의 해석을 한정하는 것은 아니다. 또한, 본 명세서와 각 도면에 있어서, 기출 도면에 대해서 전술한 것과 마찬가지의 요소에는, 동일한 부호를 부여하고, 상세한 설명을 적절히 생략하는 경우가 있다.
(실시 형태 1)
도 1은, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 일 구성예를 도시하는 블록도이다. 정보 처리 장치(1)는, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)와, 제어부(11)와, 게이트 드라이버(12)와, 소스 드라이버(13)와, 구동 전극 드라이버(14)와, 터치 검출부(40)를 구비하고 있다. 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)는, 표시 소자로서 액정 표시 소자를 사용하고 있는 액정 표시 장치(20)와 정전 용량형 검출 장치(30)를 일체화한 장치이다. 또한, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)는, 표시 소자로서 액정 표시 소자를 사용하고 있는 액정 표시 장치(20) 상에 정전 용량형 검출 장치(30)를 장착한 장치여도 된다. 또한, 액정 표시 장치(20)는, 예를 들어 유기 EL 표시 장치여도 된다.
액정 표시 장치(20)는, 후술하는 바와 같이, 게이트 드라이버(12)로부터 공급되는 주사 신호 Vscan에 따라, 1수평 라인씩 순차 주사해서 표시를 행하는 장치이다. 제어부(11)는, 외부로부터 공급된 영상 신호 Vdisp에 기초하여, 게이트 드라이버(12), 소스 드라이버(13), 구동 전극 드라이버(14) 및 터치 검출부(40)에 대하여 각각 제어 신호를 공급하고, 이들이 서로 동기해서 동작하도록 제어하는 회로(제어 장치)이다.
게이트 드라이버(12)는, 제어부(11)로부터 공급되는 제어 신호에 기초하여, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)의 표시 구동의 대상이 되는 1수평 라인을 순차 선택하는 기능을 갖고 있다.
소스 드라이버(13)는, 제어부(11)로부터 공급되는 제어 신호 Vsig에 기초하여, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)의, 후술하는 각 부화소 SPix에 화소 신호 Vpix를 공급하는 회로이다.
구동 전극 드라이버(14)는, 제어부(11)로부터 공급되는 제어 신호에 기초하여, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)의, 후술하는 구동 전극 COML에 구동 신호 Vcom을 공급하는 회로이다.
터치 검출부(40)는, 제어부(11)로부터 공급되는 제어 신호와, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)의 검출 장치(30)로부터 공급된 터치 검출 신호 Vdet에 기초하여, 검출 장치(30)에 대한 터치(후술하는 접촉 또는 근접 상태)의 유무를 검출하고, 터치가 있을 경우에 있어서 터치 검출 영역에 있어서의 그 좌표 등을 구하는 회로이다. 이 터치 검출부(40)는, 터치 검출 신호 증폭부(42)와, A/D 변환부(43)와, 신호 처리부(44)와, 좌표 추출부(45)와, 검출 타이밍 제어부(46)를 구비하고 있다.
터치 검출 신호 증폭부(42)는, 검출 장치(30)로부터 공급되는 터치 검출 신호 Vdet를 증폭한다. 터치 검출 신호 증폭부(42)는, 터치 검출 신호 Vdet에 포함되는 높은 주파수 성분(노이즈 성분)을 제거하고, 터치 성분을 취출해서 각각 출력하는 저역 통과 아날로그 필터를 구비하고 있어도 된다.
(정전 용량형 터치 검출의 기본 원리)
검출 장치(30)는, 정전 용량형 근접 검출의 기본 원리에 기초하여 동작하고, 터치 검출 신호 Vdet를 출력한다. 도 1 내지 도 6을 참조하여, 실시 형태 1의 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)에 있어서의 터치 검출의 기본 원리에 대해서 설명한다. 도 2는, 정전 용량형 터치 검출 방식의 기본 원리를 설명하기 위해서, 손가락이 접촉 또는 근접해 있지 않은 상태를 도시하는 설명도이다. 도 3은, 도 2에 도시하는 손가락이 접촉 또는 근접해 있지 않은 상태의 등가 회로예를 도시하는 설명도이다. 도 4는, 정전 용량형 터치 검출 방식의 기본 원리를 설명하기 위해서, 손가락이 접촉 또는 근접한 상태를 도시하는 설명도이다. 도 5는, 도 4에 도시하는 손가락이 접촉 또는 근접한 상태의 등가 회로예를 도시하는 설명도이다. 도 6은, 구동 신호 및 터치 검출 신호의 파형 일례를 도시하는 도면이다.
예를 들어, 도 2 및 도 4에 도시하는 바와 같이, 용량 소자 C1, C1'는, 유전체 D를 사이에 두고 서로 대향 배치된 한 쌍의 전극, 구동 전극 E1 및 검출 전극 E2를 구비하고 있다. 도 3에 도시하는 바와 같이, 용량 소자 C1은, 그 일단부가 교류 신호원(구동 신호원) S에 접속되고, 타단부는 전압 검출기(터치 검출부) DET에 접속된다. 전압 검출기 DET는, 예를 들어 도 1에 도시하는 터치 검출 신호 증폭부(42)에 포함되는 적분 회로이다.
교류 신호원 S로부터 구동 전극 E1(용량 소자 C1의 일단부)에 소정의 주파수(예를 들어 몇 ㎑ 내지 몇백 ㎑ 정도)의 교류 구형파 Sg를 인가하면, 검출 전극 E2(용량 소자 C1의 타단부) 측에 접속된 전압 검출기 DET를 통하여, 출력 파형(터치 검출 신호 Vdet)이 나타난다. 또한, 이 교류 구형파 Sg는, 후술하는 터치 구동 신호 Vcomt에 상당하는 것이다.
손가락이 접촉(또는 근접)하지 않은 상태(비접촉 상태)에서는, 도 2 및 도 3에 도시하는 바와 같이, 용량 소자 C1에 대한 충방전에 수반하여, 용량 소자 C1의 용량값에 따른 전류 I0이 흐른다. 도 6에 도시하는 바와 같이 전압 검출기 DET는, 교류 구형파 Sg에 따른 전류 I0의 변동을 전압의 변동(실선의 파형 V0)으로 변환한다.
한편, 손가락이 접촉(또는 근접)한 상태(접촉 상태)에서는, 도 4에 도시하는 바와 같이, 손가락에 의해 형성되는 정전 용량 C2가 검출 전극 E2와 접하고 있거나 또는 근방에 있음으로써, 구동 전극 E1 및 검출 전극 E2 사이에 있는 프린지 분의 정전 용량이 차단되고, 용량 소자 C1의 용량값보다도 용량값이 작은 용량 소자 C1'로서 작용한다. 그리고, 도 5에 도시하는 등가 회로에서 보면, 용량 소자 C1'에 전류 I1이 흐른다. 도 6에 도시하는 바와 같이, 전압 검출기 DET는, 교류 구형파 Sg에 따른 전류 I1의 변동을 전압의 변동(점선의 파형 V1)으로 변환한다. 이 경우, 파형 V1은, 상술한 파형 V0과 비교해서 진폭이 작아진다. 이에 의해, 파형 V0과 파형 V1과의 전압 차분의 절댓값|ΔV|은, 손가락 등의 외부로부터 근접하는 물체의 영향에 따라서 변화하게 된다. 또한, 전압 검출기 DET는, 파형 V0과 파형 V1과의 전압 차분의 절댓값|ΔV|을 고정밀도로 검출하기 위해서, 회로 내의 스위칭에 의해, 교류 구형파 Sg의 주파수에 맞춰서, 콘덴서의 충방전을 리셋하는 기간 Reset를 설정한 동작으로 하는 것이 보다 바람직하다.
도 1에 도시하는 검출 장치(30)는, 구동 전극 드라이버(14)로부터 공급되는 구동 신호 Vcom(후술하는 터치 구동 신호 Vcomt)에 따라, 1검출 블록씩 순차 주사해서 터치 검출을 행하게 되어 있다.
검출 장치(30)는, 복수의 후술하는 검출 전극 TDL로부터, 도 3 또는 도 5에 도시하는 전압 검출기 DET를 통하여, 검출 블록마다 터치 검출 신호 Vdet를 출력하고, 터치 검출부(40)의 A/D 변환부(43)에 공급하게 되어 있다.
A/D 변환부(43)는, 구동 신호 Vcom에 동기한 타이밍에서, 터치 검출 신호 증폭부(42)로부터 출력되는 아날로그 신호를 각각 샘플링해서 디지털 신호로 변환하는 회로이다.
신호 처리부(44)는, A/D 변환부(43)의 출력 신호에 포함되는, 구동 신호 Vcom을 샘플링한 주파수 이외의 주파수 성분(노이즈 성분)을 저감하는 디지털 필터를 구비하고 있다. 신호 처리부(44)는, A/D 변환부(43)의 출력 신호에 기초하여, 검출 장치(30)에 대한 터치의 유무를 검출하는 논리 회로이다. 신호 처리부(44)는, 손가락에 의한 차분의 전압만 취출하는 처리를 행한다. 이 손가락에 의한 차분의 전압은, 상술한 파형 V0과 파형 V1과의 차분의 절댓값|ΔV|이다. 신호 처리부(44)는, 1검출 블록당의 절댓값|ΔV|을 평균화하는 연산을 행하고, 절댓값|ΔV|의 평균값을 구해도 된다. 이에 의해, 신호 처리부(44)는, 노이즈에 의한 영향을 저감할 수 있다. 신호 처리부(44)는, 검출한 손가락에 의한 차분의 전압을 소정의 역치 전압과 비교하고, 이 역치 전압 이상이면, 외부로부터 근접하는 외부 근접 물체의 접촉 상태라고 판단하고, 역치 전압 미만이면, 외부 근접 물체의 비접촉 상태라고 판단한다. 이와 같이 하여, 터치 검출부(40)는, 터치 검출이 가능하게 된다.
좌표 추출부(45)는, 신호 처리부(44)에 있어서 터치가 검출되었을 때, 그 터치 패널 좌표를 구하는 논리 회로이다. 검출 타이밍 제어부(46)는, A/D 변환부(43)와, 신호 처리부(44)와, 좌표 추출부(45)가 동기해서 동작하도록 제어한다. 좌표 추출부(45)는, 터치 패널 좌표를 신호 출력 Vout로서 출력한다.
(모듈)
도 7 및 도 8은, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치를 실장한 모듈의 일례를 도시하는 도면이다. 도 7에 도시하는 바와 같이, 정보 처리 장치(1)는, 모듈에 실장함에 있어서, 유리 기판의 TFT 기판(21) 상에 상술한 구동 전극 드라이버(14)를 형성해도 된다.
도 7에 도시하는 바와 같이, 정보 처리 장치(1)는, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)와, 구동 전극 드라이버(14)와, COG(Chip On Glass)(19A)를 갖고 있다. 이 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)는, 후술하는 TFT 기판(21)의 표면에 대한 수직 방향에 있어서, 구동 전극 COML과, 구동 전극 COML과 입체 교차하게 형성된 검출 전극 TDL을 모식적으로 도시하고 있다. 즉, 구동 전극 COML은, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)의 한 변을 따르는 방향에 형성되어 있고, 검출 전극 TDL은, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)의 다른 변을 따르는 방향으로 형성되어 있다. 검출 전극 TDL의 출력은, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)의 상기 타변측에 설치되고, 플렉시블 기판 등에 의해 구성된 단자부 T를 통하여, 이 모듈의 외부에 실장된 터치 검출부(40)와 접속되어 있다. 구동 전극 드라이버(14)는, 유리 기판인 TFT 기판(21)에 형성되어 있다. COG(19A)는, TFT 기판(21)에 실장된 칩이며, 도 1에 도시한 제어부(11), 게이트 드라이버(12), 소스 드라이버(13) 등, 표시 동작에 필요한 각 회로를 내장한 것이다. 또한, 도 8에 도시하는 바와 같이, 정보 처리 장치(1)는, COG(Chip On Glass)에 구동 전극 드라이버(14)를 내장해도 된다.
도 8에 도시하는 바와 같이, 정보 처리 장치(1)는, 모듈은 COG(19B)를 갖고 있다. 도 8에 도시하는 COG(19B)는, 상술한 표시 동작에 필요한 각 회로 외에, 구동 전극 드라이버(14)를 더 내장한 것이다. 정보 처리 장치(1)는, 후술하는 바와 같이, 표시 동작 시에, 1수평 라인씩 선 순차 주사를 행한다. 즉, 정보 처리 장치(1)는, 표시 주사를, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)의 한 변을 따르는 방향과 평행하게 행한다. 한편, 정보 처리 장치(1)는, 터치 검출 동작 시에, 구동 전극 COML에 구동 신호 Vcom을 순차 인가함으로써, 1검출 라인씩 선 순차 주사가 행하여진다. 즉, 정보 처리 장치(1)는, 터치 검출 주사를, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)의 다른 변을 따르는 방향과 평행하게 행한다.
(터치 검출 기능을 구비한 표시 장치)
이어서, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)의 구성예를 상세하게 설명한다. 도 9는, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 개략적인 단면 구조를 도시하는 단면도이다. 도 10은, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 화소 배치를 도시하는 회로도이다. 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)는, 화소 기판(2)과, 이 화소 기판(2)의 표면에 수직인 방향에 대향해서 배치된 대향 기판(3)과, 화소 기판(2)과 대향 기판(3) 사이에 끼워 형성된 액정층(6)을 구비하고 있다.
화소 기판(2)은, 회로 기판으로서의 TFT 기판(21)과, 이 TFT 기판(21) 상에 행렬 형상으로 배치된 복수의 화소 전극(22)과, TFT 기판(21) 및 화소 전극(22) 사이에 형성된 복수의 구동 전극 COML과, 화소 전극(22)과 구동 전극 COML을 절연하는 절연층(24)을 포함한다. TFT 기판(21)에는, 도 10에 도시하는 각 부화소 SPix의 박막 트랜지스터(TFT;Thin Film Transistor) 소자 Tr, 도 9에 도시하는 각 화소 전극(22)에 화소 신호 Vpix를 공급하는 신호선 SGL, 각 TFT 소자 Tr을 구동하는 주사선 GCL 등의 배선이 형성되어 있다. 이와 같이, 신호선 SGL은, TFT 기판(21) 표면과 평행한 평면으로 연장되고, 화소에 화상을 표시하기 위한 화소 신호 Vpix를 공급한다. 도 10에 도시하는 액정 표시 장치(20)는, 행렬 형상으로 배치한 복수의 부화소 SPix를 갖고 있다. 부화소 SPix는, TFT 소자 Tr 및 액정 소자 LC를 구비하고 있다. TFT 소자 Tr은, 박막 트랜지스터를 포함하는 것이며, 이 예에서는, n채널의 MOS(Metal Oxide Semiconductor)형 TFT를 포함하고 있다. TFT 소자 Tr의 소스 또는 드레인의 한쪽은 신호선 SGL에 접속되고, 게이트는 주사선 GCL에 접속되고, 소스 또는 드레인의 다른 쪽은 액정 소자 LC의 일단부에 접속되어 있다. 액정 소자 LC는, 예를 들어 일단부가 TFT 소자 Tr의 드레인에 접속되고, 타단부가 구동 전극 COML에 접속되어 있다.
도 10에 도시하는 부화소 SPix는, 주사선 GCL에 의해, 액정 표시 장치(20)의 동일한 행에 속하는 다른 부화소 SPix와 서로 접속되어 있다. 주사선 GCL은, 게이트 드라이버(12)와 접속되고, 게이트 드라이버(12)로부터 주사 신호 Vscan이 공급된다. 또한, 부화소 SPix는, 신호선 SGL에 의해, 액정 표시 장치(20)의 동일한 열에 속하는 다른 부화소 SPix와 서로 접속되어 있다. 신호선 SGL은, 소스 드라이버(13)와 접속되고, 소스 드라이버(13)로부터 화소 신호 Vpix가 공급된다. 또한, 부화소 SPix는, 구동 전극 COML에 의해, 액정 표시 장치(20)의 동일한 행에 속하는 다른 부화소 SPix와 서로 접속되어 있다. 구동 전극 COML은, 구동 전극 드라이버(14)와 접속되고, 구동 전극 드라이버(14)로부터 구동 신호 Vcom이 공급된다. 즉, 이 예에서는, 동일한 1행에 속하는 복수의 부화소 SPix가 1개의 구동 전극 COML을 공유하게 되어 있다. 실시 형태 1의 구동 전극 COML이 연장되는 방향은, 주사선 GCL이 연장되는 방향과 평행하다. 실시 형태 1의 구동 전극 COML이 연장되는 방향은, 한정되지 않고, 예를 들어 구동 전극 COML이 연장되는 방향은, 신호선 SGL이 연장되는 방향과 평행한 방향이어도 된다.
도 1에 도시하는 게이트 드라이버(12)는, 주사 신호 Vscan을, 도 10에 도시하는 주사선 GCL을 통하여, 화소 Pix의 TFT 소자 Tr의 게이트에 인가함으로써, 액정 표시 장치(20)에 행렬 형상으로 형성되어 있는 부화소 SPix 중 1행(1수평 라인)을 표시 구동의 대상으로서 순차 선택한다. 도 1에 도시하는 소스 드라이버(13)는, 화소 신호 Vpix를, 도 10에 도시하는 신호선 SGL을 통하여, 게이트 드라이버(12)에 의해 순차 선택되는 1수평 라인을 구성하는 각 부화소 SPix에 각각 공급한다. 그리고, 이 부화소 SPix에서는, 공급되는 화소 신호 Vpix에 따라, 1수평 라인의 표시가 이루어지게 되어 있다. 도 1에 도시하는 구동 전극 드라이버(14)는, 구동 신호 Vcom을 인가하고, 도 7 및 도 8에 도시하는, 소정의 개수의 구동 전극 COML을 포함하는 블록마다 구동 전극 COML을 구동한다.
상술한 바와 같이, 액정 표시 장치(20)는, 게이트 드라이버(12)가 주사선 GCL을 시분할적으로 선 순차 주사하도록 구동함으로써, 1수평 라인이 순차 선택된다. 또한, 액정 표시 장치(20)는, 1수평 라인에 속하는 부화소 SPix에 대하여 소스 드라이버(13)가 화소 신호 Vpix를 공급함으로써, 1수평 라인씩 표시가 행하여진다. 이 표시 동작을 행할 때, 구동 전극 드라이버(14)는, 그 1수평 라인에 대응하는 구동 전극 COML을 포함하는 블록에 대하여 구동 신호 Vcom을 인가하게 되어 있다.
실시 형태 1에 관한 구동 전극 COML은, 액정 표시 장치(20)의 구동 전극으로서 기능함과 함께, 검출 장치(30)의 구동 전극으로서도 기능한다. 도 11은, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 구동 전극 및 검출 전극의 일 구성예를 도시하는 사시도이다. 도 11에 도시하는 구동 전극 COML은, 도 9에 도시하는 바와 같이, TFT 기판(21)의 표면에 대한 수직 방향에 있어서, 화소 전극(22)에 대향하고 있다. 검출 장치(30)는, 화소 기판(2)에 설치된 구동 전극 COML과, 대향 기판(3)에 설치된 검출 전극 TDL에 의해 구성되어 있다. 검출 전극 TDL은, 구동 전극 COML의 전극 패턴의 연장 방향과 교차하는 방향으로 연장되는 스트라이프 형상의 전극 패턴으로 구성되어 있다. 그리고, 검출 전극 TDL은, TFT 기판(21)의 표면에 대한 수직인 방향에 있어서, 구동 전극 COML과 대향하고 있다. 검출 전극 TDL의 각 전극 패턴은, 터치 검출부(40)의 터치 검출 신호 증폭부(42)의 입력에 각각 접속되어 있다. 구동 전극 COML과 검출 전극 TDL에 의해 서로 교차한 전극 패턴은, 그 교차 부분에 정전 용량을 발생시키고 있다. 또한, 검출 전극 TDL 또는 구동 전극 COML(구동 전극 블록)은 스트라이프 형상으로 복수로 분할되는 형상에 한정되지 않는다. 예를 들어, 검출 전극 TDL 또는 구동 전극 COML(구동 전극 블록)은 빗살 형상이어도 된다. 또는 검출 전극 TDL 또는 구동 전극 COML(구동 전극 블록)은 복수로 분할되어 있으면 되고, 구동 전극 COML을 분할하는 슬릿의 형상은 직선이어도, 곡선이어도 된다. 검출 전극 TDL은, TFT 기판(21)의 표면에 대한 수직 방향에 있어서, 구동 전극 COML과 입체 교차 또는 대향하고 있으면 된다. 이로 인해, 검출 전극 TDL은, 대향 기판(3)에 설치되지 않고, 별도의 기판에 설치하도록 해도 된다.
이 구성에 의해, 검출 장치(30)에 있어서 터치 검출 동작을 행할 때, 구동 전극 드라이버(14)가 구동 전극 블록을 시분할적으로 선 순차 주사하도록 구동한다. 이에 의해, 스캔 방향 Scan으로 구동 전극 COML의 1검출 블록이 순차 선택된다. 그리고, 검출 전극 TDL로부터 터치 검출 신호 Vdet를 출력한다. 이렇게 검출 장치(30)는, 1검출 블록의 터치 검출이 행하여지게 되어 있다. 즉, 구동 전극 블록은, 상술한 터치 검출의 기본 원리에 있어서의 구동 전극 E1에 대응하고, 검출 전극 TDL은, 검출 전극 E2에 대응하는 것이며, 검출 장치(30)는 이 기본 원리에 따라서 터치를 검출하게 되어 있다. 도 11에 도시하는 바와 같이, 서로 교차한 전극 패턴은, 정전 용량식 터치 센서를 행렬 형상으로 구성하고 있다. 따라서, 검출 장치(30)의 터치 검출면 전체에 걸쳐 주사함으로써, 외부 근접 물체의 접촉 또는 근접이 발생한 위치의 검출도 가능하게 되어 있다.
액정층(6)은 전계의 상태에 따라서 그곳을 통과하는 광을 변조하는 것이며, 예를 들어 FFS(프린지 필드 스위칭) 또는 IPS(인플레인 스위칭) 등의 횡전계 모드의 액정을 사용한 액정 표시 장치가 사용된다. 또한, 도 9에 도시하는 액정층(6)과 화소 기판(2) 사이 및 액정층(6)과 대향 기판(3) 사이에는, 각각 배향막이 배치되어도 된다.
대향 기판(3)은, 유리 기판(31)과, 이 유리 기판(31)의 한쪽 면에 형성된 컬러 필터(32)를 포함한다. 유리 기판(31)의 다른 쪽 면에는, 검출 장치(30)의 검출 전극인 검출 전극 TDL이 형성되고, 또한 이 검출 전극 TDL 상에는, 편광판(35)이 배치되어 있다.
도 9에 도시하는 컬러 필터(32)는, 예를 들어 적(R), 녹(G), 청(B)의 3색으로 착색된 컬러 필터의 색 영역을 주기적으로 배치하고, 상술한 도 10에 도시하는 각 부화소 SPix에 R, G, B의 3색의 색 영역(32R, 32G, 32B)(도 10 참조)이 대응지어지고, 색 영역(32R, 32G, 32B)을 1조로 해서 화소 Pix를 구성하고 있다. 화소 Pix는, 주사선 GCL과 평행한 방향 및 신호선 SGL과 평행한 방향을 따라서 행렬 형상으로 배치되고, 후술하는 표시 영역 Ad를 형성한다. 컬러 필터(32)는, TFT 기판(21)과 수직인 방향에 있어서, 액정층(6)과 대향한다. 이와 같이, 부화소 SPix는, 단색의 색 표시를 행할 수 있다. 또한, 컬러 필터(32)는, 상이한 색으로 착색되어 있으면, 다른 색의 조합이어도 된다. 또한, 컬러 필터(32)는 없어도 된다. 이와 같이, 컬러 필터(32)가 존재하지 않는 영역, 즉 착색되지 않는 부화소 SPix가 있어도 된다.
계속해서, 실시 형태 1의 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)의 동작 및 작용에 대해서 설명한다.
구동 전극 COML은, 액정 표시 장치(20)의 공통 구동 전극으로서 기능함과 함께, 검출 장치(30)의 구동 전극으로서도 기능하기 때문에, 구동 신호 Vcom이 서로 영향을 미칠 가능성이 있다. 이로 인해, 구동 전극 COML은, 표시 동작을 행하는 표시 기간 B와, 터치 검출 동작을 행하는 터치 검출 기간 A로 나누어 구동 신호 Vcom이 인가된다. 구동 전극 드라이버(14)는, 표시 동작을 행하는 표시 기간 B에 있어서는 표시 구동 신호로서 구동 신호 Vcom을 인가한다. 그리고, 구동 전극 드라이버(14)는, 터치 검출 동작을 행하는 터치 검출 기간 A에 있어서는 터치 구동 신호로서 구동 신호 Vcom을 인가한다. 이하의 설명에서는, 표시 구동 신호로서의 구동 신호 Vcom을, 표시 구동 신호 Vcomd로서 기재하고, 터치 구동 신호로서의 구동 신호 Vcom을, 터치 구동 신호 Vcomt로서 기재한다.
제어부(11)는, 외부로부터 공급된 영상 신호 Vdisp에 기초하여, 게이트 드라이버(12), 소스 드라이버(13), 구동 전극 드라이버(14) 및 터치 검출부(40)에 대하여 각각 제어 신호를 공급하고, 이들이 서로 동기해서 동작하도록 제어한다. 게이트 드라이버(12)는, 표시 기간 B에 있어서, 액정 표시 장치(20)에 주사 신호 Vscan을 공급하고, 표시 구동의 대상으로 되는 1수평 라인을 순차 선택한다. 소스 드라이버(13)는, 표시 기간 B에 있어서, 게이트 드라이버(12)에 의해 선택된 1수평 라인을 구성하는 각 화소 Pix에, 화소 신호 Vpix를 공급한다.
표시 기간 B에서는, 구동 전극 드라이버(14)가 1수평 라인에 관한 구동 전극 블록에 표시 구동 신호 Vcomd를 인가하고, 터치 검출 기간 A에서는, 구동 전극 드라이버(14)가 터치 검출 동작에 관한 구동 전극 블록에 대하여 터치 구동 신호 Vcomt를 순차 인가하고, 1검출 블록을 순차 선택한다. 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)는, 표시 기간 B에 있어서, 게이트 드라이버(12), 소스 드라이버(13) 및 구동 전극 드라이버(14)에 의해 공급된 신호에 기초하여 표시 동작을 행한다. 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)는, 터치 검출 기간 A에 있어서, 구동 전극 드라이버(14)에 의해 공급된 신호에 기초하여 터치 검출 동작을 행하고, 검출 전극 TDL로부터 터치 검출 신호 Vdet를 출력한다. 터치 검출 신호 증폭부(42)는, 터치 검출 신호 Vdet를 증폭해서 출력한다. A/D 변환부(43)는, 터치 구동 신호 Vcomt에 동기한 타이밍에서, 터치 검출 신호 증폭부(42)로부터 출력되는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환한다. 신호 처리부(44)는, A/D 변환부(43)의 출력 신호에 기초하여, 검출 장치(30)에 대한 터치의 유무를 검출한다. 좌표 추출부(45)는, 신호 처리부(44)에 있어서 터치 검출이 이루어졌을 때, 그 터치 패널 좌표를 구한다.
이어서, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)의 상세 동작을 설명한다. 도 12는, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 일 동작예를 도시하는 타이밍 파형도이다. 도 12에 도시하는 바와 같이, 액정 표시 장치(20)는, 게이트 드라이버(12)로부터 공급되는 주사 신호 Vscan에 따라, 주사선 GCL 중, 인접하는 (n-1)행째, n행째, (n+1)행째의 주사선 GCL의 1수평 라인씩 순차 주사해서 표시를 행한다. 마찬가지로, 구동 전극 드라이버(14)는, 제어부(11)로부터 공급되는 제어 신호에 기초하여, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)의, 구동 전극 COML 중, 인접하는 (m-1)열째, m열째, (m+1)열째에 구동 신호 Vcom을 공급한다.
이와 같이, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)에서는, 1표시 수평 기간(1H)마다, 터치 검출 동작(터치 검출 기간 A)과 표시 동작(표시 기간 B)을 시분할적으로 행한다. 터치 검출 동작에서는, 1표시 수평 기간(1H)마다, 상이한 구동 전극 COML을 선택해서 구동 신호 Vcom을 인가함으로써, 터치 검출의 주사를 행한다. 이하에, 그 동작을 상세하게 설명한다.
먼저, 게이트 드라이버(12)가 (n-1)행째의 주사선 GCL에 대하여 주사 신호 Vscan을 인가하고, 주사 신호 Vscan(n-1)이 저레벨로부터 고레벨로 변화된다. 이에 의해, 1표시 수평 기간(1H)이 개시된다.
이어서, 터치 검출 기간 A에 있어서, 구동 전극 드라이버(14)가 (m-1)열째의 구동 전극 COML에 대하여 구동 신호 Vcom을 인가하고, 구동 신호 Vcom(m-1)이 저레벨로부터 고레벨로 변화된다. 이 구동 신호 Vcom(m-1)은 정전 용량을 통하여 검출 전극 TDL에 전달되고, 터치 검출 신호 Vdet가 변화된다. 이어서, 구동 신호 Vcom(m-1)이 고레벨로부터 저레벨로 변화되면, 터치 검출 신호 Vdet는 마찬가지로 변화된다. 이 터치 검출 기간 A에 있어서의 터치 검출 신호 Vdet의 파형은, 상술한 터치 검출의 기본 원리에 있어서의, 터치 검출 신호 Vdet에 대응하는 것이다. A/D 변환부(43)는, 이 터치 검출 기간 A에 있어서의 터치 검출 신호 Vdet를 A/D 변환함으로써 터치 검출을 행한다. 이에 의해, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)에서는, 1검출 라인의 터치 검출이 행하여진다.
이어서, 표시 기간 B에 있어서, 소스 드라이버(13)가, 신호선 SGL에 대하여 화소 신호 Vpix를 인가하고, 1수평 라인에 대한 표시를 행한다. 또한, 도 12에 도시하는 바와 같이, 이 화소 신호 Vpix의 변화가, 기생 용량을 통하여 검출 전극 TDL에 전달되고, 터치 검출 신호 Vdet가 변화될 수 있지만, 표시 기간 B에서는 A/D 변환부(43)가 A/D 변환을 행하지 않도록 함으로써, 이 화소 신호 Vpix의 변화의 터치 검출에 대한 영향을 억제할 수 있다. 소스 드라이버(13)에 의한 화소 신호 Vpix의 공급이 종료한 후, 게이트 드라이버(12)가 (n-1)행째의 주사선 GCL의 주사 신호 Vscan(n-1)을 고레벨로부터 저레벨로 변화시키고, 1표시 수평 기간이 종료된다.
이어서, 게이트 드라이버(12)는, 이전과는 상이한 n행째의 주사선 GCL에 대하여 주사 신호 Vscan을 인가하고, 주사 신호 Vscan(n)이 저레벨로부터 고레벨로 변화된다. 이에 의해, 다음 1표시 수평 기간이 개시된다.
다음 터치 검출 기간 A에 있어서, 구동 전극 드라이버(14)가 이전과는 상이한 m열째의 구동 전극 COML에 대하여 구동 신호 Vcom을 인가한다. 그리고, 터치 검출 신호 Vdet의 변화를, A/D 변환부(43)가 A/D 변환함으로써, 이 1검출 라인의 터치 검출이 행하여진다.
이어서, 표시 기간 B에 있어서, 소스 드라이버(13)가 신호선 SGL에 대하여 화소 신호 Vpix를 인가하고, 1수평 라인에 대한 표시를 행한다. 또한, 구동 전극 드라이버(14)가 표시 구동 신호 Vcomd를 구동 전극 COML에 공통 전위로서 인가하고 있다. 여기서, 표시 구동 신호 Vcomd의 전위는, 예를 들어 터치 검출 기간 A에 있어서의 터치 구동 신호 Vcomt의 저레벨의 전위로 되어 있다. 또한, 실시 형태 1의 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)는, 도트 반전 구동을 행하기 때문에, 소스 드라이버(13)가 인가하는 화소 신호 Vpix는, 이전의 1표시 수평 기간의 것과 비하여, 그 극성이 반전되어 있다. 이 표시 기간 B가 종료한 후, 이 1표시 수평 기간(1H)이 종료된다.
이 이후, 상술한 동작을 반복함으로써, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)는, 표시면 전체면에 걸친 주사에 의해 표시 동작을 행함과 함께, 터치 검출면 전체면에 걸친 주사에 의해 터치 검출 동작을 행한다.
터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)에서는, 1표시 수평 기간(1H)에 있어서, 터치 검출 동작은 터치 검출 기간 A에 행하고, 표시 동작은 표시 기간 B에 행하도록 하고 있다. 이와 같이, 터치 검출 동작과 표시 동작을 별개의 기간에 행하도록 했으므로, 동일한 1표시 수평 기간에 있어서 표시 동작과 터치 검출 동작의 양쪽을 행할 수 있음과 함께, 표시 동작의 터치 검출에 대한 영향을 억제할 수 있다.
(검출 전극)
도 13은, 실시 형태 1에 관한 검출 전극 TDL의 배치를 도시하는 도면이다. 도 13에 도시하는 바와 같이, 실시 형태 1에 관한 검출 전극 TDL은, 대향 기판(3)과 평행한 평면 상에, 전체를 부감해 보면 방향 Da로 연장되는 복수의 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7을 포함한다. 각 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML5, ML6, ML7은, 접속부 TDC1, TDC2, TDC3, TDC4, TDC5에서 접는 지그재그선 또는 파선이다. 이와 같이, 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7은, 접속부 TDC1, TDC2, TDC3, TDC4, TDC5 각각이 굴곡부로 되어 있다.
도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML5, ML6, ML7은, 동일한 재료로 형성된다. 도전성 세선 ML1, ML2 및 ML3은, 도전성 세선 ML1의 단부 ML1e, 도전성 세선 ML2의 단부 ML2e 및 도전성 세선 ML3의 단부 ML3e에서 제1 도통부 TDB1을 통하여 접속되어 도통하고 있다. 도전성 세선 ML1, ML2 및 ML3은, 제1 도통부 TDB1에서 접속되는 부분을 제외하고 서로 교차하는 부분을 갖지 않도록 연장되고, 검출 영역 TDA에 속한다. 또한, 도전성 세선 ML5, ML6 및 ML7은, 도전성 세선 ML5의 단부 ML5e, 도전성 세선 ML6의 단부 ML6e 및 도전성 세선 ML7의 단부 ML7e에서 제1 도통부 TDB1을 통하여 접속되어 도통하고 있다. 도전성 세선 ML5, ML6 및 ML7은, 제1 도통부 TDB1에서 접속되는 부분을 제외하고 서로 교차하는 부분을 갖지 않도록 연장되고, 검출 영역 TDA에 속한다.
복수의 검출 영역 TDA는, 서로 일정한 간격을 갖고 연장되어 있다. 복수의 검출 영역 TDA는, 제1 도통부 TDB1끼리가 제2 도통부 TDB2를 통하여 접속되어 도통하고 있다. 제2 도통부 TDB2는, 검출 배선 TDG를 통하여 도 1에 도시하는 터치 검출부(40)에 접속된다. 또한, 제1 도통부 TDB1 및 제2 도통부 TDB2는, 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML5, ML6, ML7과 동일한 재료로 형성된다. 상기 구성에 의해, 도전성 세선수를 줄임과 동시에, 일정한 범위에 대하여 복수의 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML5, ML6, ML7에서 검출을 행하기 때문에, 검출을 행할 때의 저항을 낮게 할 수 있다. 또한, 검출 영역 TDA는, 4개 이상의 도전성 세선을 포함해도 되고, 1개 또는 2개의 도전성 세선을 포함해도 된다.
도 13에 도시하는 바와 같이, 복수의 검출 영역 TDA는, 서로 일정한 간격을 갖고 배치되어 있다. 검출 전극 TDL의 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML5, ML6, ML7이 배치되는 영역과, 검출 전극 TDL의 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML5, ML6, ML7이 없는 영역에서는, 차광성에 차가 있으므로, 검출 전극 TDL이 시인되기 쉬워질 가능성이 있다. 이로 인해, 대향 기판(3)에는, 검출 배선 TDG에 접속되어 있지 않은 더미 전극으로서, 도전성 세선 ML4가 인접하는 검출 영역 TDA 사이에 배치되어 있다. 더미 전극의 도전성 세선 ML4는, 검출 전극 TDL의 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML5, ML6, ML7과 동일한 재료로 형성된다. 더미 전극의 도전성 세선 ML4는, 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML5, ML6, ML7과 동일 정도의 차광성을 갖고 있으면, 상이한 재료여도 된다.
상술한 바와 같이, 검출 전극 TDL은, 구동 전극 COML의 전극 패턴의 연장 방향과 교차하는 방향(방향 Da)으로 연장하여, 전체적으로는 스트라이프 형상의 전극 패턴이라고 볼 수 있다. 구동 전극 COML의 전극 패턴의 연장 방향으로는, 도 13에 도시하는 검출 전극 TDL이 복수 배열되어 있으므로, 인접하는 검출 전극 TDL 사이도 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML5, ML6, ML7이 없는 영역이 될 가능성이 있다. 이로 인해, 인접하는 검출 전극 TDL 사이에도, 더미 전극의 도전성 세선 ML4와 동일한 도전성 세선을 배치해도 된다.
도전성 세선 ML1은, 세선편 Ua 및 세선편 Ub를 포함한다. 도전성 세선 ML1은, 단부 ML1e로부터 방향 Da를 향해서 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub 순으로 접속되어 있다. 세선편 Ua는 제1 방향 Fa로 연장되어 있고, Ub는, 제2 방향 Fb로 연장되어 있다. 세선편 Ua 및 Ub가 연장되는 방향은, 서로 상이한 방향이다. 세선편 Ua는, 도전성 재료의 패턴이며, 제1 단부 Ua1과 제2 단부 Ua2를 포함한다. 세선편 Ub는, 도전성 재료의 패턴이며, 제1 단부 Ub1과 제2 단부 Ub2를 포함한다.
세선편 Ua와 세선편 Ub는, 세선편 Ua의 제2 단부 Ua2와 세선편 Ub의 제1 단부 Ub1이 접속되어 도통하고 있다. 도전성 세선 ML1이 단부 ML1e로부터 방향 Da를 향해서 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub 순으로 접속되어 있다. 그 접속되는 부분은, 접속부 TDC1이다. 또한, 세선편 Ub와 세선편 Ua는, 세선편 Ub의 제2 단부 Ub2와 세선편 Ua의 제1 단부 Ua1이 접속되어 도통하고 있다. 그 접속되는 부분은, 접속부 TDC2이다.
세선편 Ua끼리는 평행하게 연장되어 있고, 세선편 Ub끼리도 평행하게 연장되어 있기 때문에, 세선편 Ua 및 세선편 Ub가 이루는 각도θ1과, 세선편 Ub 및 세선편 Ua가 이루는 각도θ2는 동일해진다. 더미 전극의 도전성 세선 ML4는, 분할부 TDDS에 있어서, 세선편 Ua의 연장선과 세선편 Ub의 연장선이 가상점 TDC6에서 이루는 각도는, 마찬가지로 각도θ1이다. 마찬가지로, 세선편 Ub의 연장선과 세선편 Ua의 연장선이 가상점 TDC7에서 이루는 각도는, 마찬가지로 각도θ2이다.
도전성 세선 ML2는, 세선편 Ua 및 세선편 Ub를 포함한다. 도전성 세선 ML2는, 단부 ML2e로부터 방향 Da를 향해서 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub 순으로 접속되어 있다. 도전성 세선 ML2는, 2개의 단부 ML2e와 도전성 세선 ML1의 2개의 단부 ML1e를 겹쳤을 때, 도전성 세선 ML1과 겹치지 않는 부분을 포함한다. 이로 인해, 도전성 세선 ML2는, 도전성 세선 ML1과 상이한 형상이다.
도전성 세선 ML3은, 세선편 Ua 및 세선편 Ub를 포함한다. 도전성 세선 ML3은, 단부 ML3e로부터 방향 Da를 향해서 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub 순으로 접속되어 있다. 도전성 세선 ML3은, 2개의 단부 ML3e와 도전성 세선 ML1의 2개의 단부 ML1e를 겹쳤을 때, 도전성 세선 ML1과 겹치지 않는 부분을 포함한다. 도전성 세선 ML3은, 2개의 단부 ML3e와 도전성 세선 ML2의 2개의 단부 ML2e를 겹쳤을 때, 도전성 세선 ML2와 겹치지 않는 부분을 포함한다. 이로 인해, 도전성 세선 ML3은, 도전성 세선 ML1 및 도전성 세선 ML2와 상이한 형상이다.
도전성 세선 ML1, ML2 및 ML3은, 각각의 세선편 Ua 및 세선편 Ub가 이루는 각도θ1이 동일하다. 또한, 도전성 세선 ML1, ML2 및 ML3은, 단부 ML1e, ML2e, ML3e에 접속되는 각 세선편 Ua의 길이가 상이하지만, 세선편 Ub 사이에 끼워져서 접속되는 세선편 Ua의 길이는 동일하다. 도전성 세선 ML1, ML2 및 ML3은, 제1 도통부 TDB1에 직접 접속되는 각 세선편 Ub의 길이가 상이하지만, 세선편 Ua 사이에 끼워져서 접속되는 세선편 Ub의 길이는 동일하다. 이에 의해, 도전성 세선 ML1, ML2 및 ML3은, 각각이 갖는 접속부 TDC1의 방향 Da의 위치를 비교하면 상이하다. 예를 들어, 접속부 TDC1의 방향 Da의 위치의 차는, 1㎛ 이상 15㎛ 이하이다. 도전성 세선 ML1, ML2 및 ML3은, 마찬가지로 각각이 갖는 접속부 TDC2, TDC3, TDC4, TDC5의 방향 Da의 위치를 비교하면 상이하다.
도전성 세선 ML1, ML2 및 ML3은, 단부 ML1e, ML2e, ML3e에 접속되는 각 세선편 Ua의 길이를 동일하게 하고, 세선편 Ub 사이에 끼워져서 접속되는 세선편 Ua의 길이의 1 이상을 상이하게 해도 된다. 이에 의해, 도전성 세선 ML1, ML2 및 ML3은, 각각이 갖는 접속부 TDC1끼리, TDC2끼리, TDC3끼리, TDC4끼리, TDC5끼리의 방향 Da의 위치를 비교하면, 상이하게 할 수 있다.
도 13에 도시하는 바와 같이, 도전성 세선 ML1의 1개의 세선편 Ua와 도전성 세선 ML2의 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa11은, 도전성 세선 ML1의 1개의 세선편 Ub와 도전성 세선 ML2의 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb21과 상이하다. 또한, 거리 Wb21은, 도전성 세선 ML1의 1개의 세선편 Ua와 도전성 세선 ML2의 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa31과 상이하다. 또한, 거리 Wa31은, 도전성 세선 ML1의 1개의 세선편 Ub와 도전성 세선 ML2의 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb41과 상이하다. 인접하는 도전성 세선 ML1, ML2 사이의 거리는, 방향 Da에서 보았을 때, 거리 Wa11, 거리 Wb21, 거리 Wa31, 거리 Wb41과 같이, 일정하지 않다.
마찬가지로, 도전성 세선 ML2의 1개의 세선편 Ua와 도전성 세선 ML3의 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa12는, 도전성 세선 ML2의 1개의 세선편 Ub와 도전성 세선 ML3의 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb22와 상이하다. 또한, 거리 Wb22는, 도전성 세선 ML2의 1개의 세선편 Ua와 도전성 세선 ML3의 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa32와 상이하다. 또한, 거리 Wa32는, 도전성 세선 ML2의 1개의 세선편 Ub와 도전성 세선 ML3의 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb42와 상이하다. 인접하는 도전성 세선 ML2, ML3 사이의 거리는, 방향 Da에서 보았을 때, 거리 Wa12, 거리 Wb22, 거리 Wa32, 거리 Wb42와 같이, 일정하지 않다.
상술한 바와 같이, 도전성 세선 ML4는, 세선편 Ua 및 세선편 Ub를 포함한다. 또한, 더미 전극의 도전성 세선 ML4는, 세선편 Ua와 세선편 Ub 사이 및 세선편 Ub와 세선편 Ua 사이에, 도전성의 금속 재료가 없는 슬릿인 분할부 TDDS를 갖는다. 분할부 TDDS는, 세선편 Ua와 세선편 Ub와의 전기적인 도통 및 세선편 Ub와 세선편 Ua와의 전기적인 도통을 방해하고, 검출 전극 TDL과의 용량 차를 발생시킨다. 이로 인해, 터치 검출 시, 손가락이 도전성 세선 ML3 또는 도전성 세선 ML5와, 더미 전극의 도전성 세선 ML4의 양쪽에 근접한 경우에도, 더미 전극 TDD가, 도 6에서 나타낸 절댓값|ΔV|에 미치는 영향을 작게 할 수 있다. 이와 같이, 더미 전극의 도전성 세선 ML4는, 분할부 TDDS를 포함함으로써, 검출 전극 TDL에 대하여 정전 용량의 차가 발생하기 때문에, 터치 검출 정밀도에의 영향을 작게 할 수 있다.
도전성 세선 ML4는, 단부 ML4e로부터 방향 Da를 향해서 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub 순으로 배열되어 있다. 세선편 Ua는 제1 방향 Fa로 연장되어 있고, Ub는, 제2 방향 Fb로 연장되어 있다. 이로 인해, 검출 전극 TDL이 배치되는 영역과, 검출 전극 TDL이 배치되지 않는 영역과의 차광성의 차가 작아지기 때문에, 검출 전극 TDL이 시인될 가능성을 저감할 수 있다.
도 13에 도시하는 바와 같이, 도전성 세선 ML3의 1개의 세선편 Ua와 도전성 세선 ML4의 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa13은, 도전성 세선 ML3의 1개의 세선편 Ub와 도전성 세선 ML4의 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb23과 상이하다. 또한, 거리 Wb23은, 도전성 세선 ML3의 1개의 세선편 Ua와 도전성 세선 ML4의 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa33과 상이하다. 또한, 거리 Wa33은, 도전성 세선 ML3의 1개의 세선편 Ub와 도전성 세선 ML4의 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb43과 상이하다. 인접하는 도전성 세선 ML3, ML4 사이의 거리는, 방향 Da에서 보았을 때, 거리 Wa13, 거리 Wb23, 거리 Wa33, 거리 Wb43과 같이, 일정하지 않다. 그리고, 인접하는 도전성 세선 ML3, ML4 사이의 거리는, 방향 Da에서 보았을 때, 규칙성이 없고, 랜덤한 값을 취한다.
도전성 세선 ML5는, 세선편 Ua 및 세선편 Ub를 포함한다. 도전성 세선 ML5는, 단부 ML5e로부터 방향 Da를 향해서 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub 순으로 접속되어 있다. 도전성 세선 ML5는, 2개의 단부 ML5e와 도전성 세선 ML1의 2개의 단부 ML1e를 겹쳤을 때, 도전성 세선 ML1과 겹치지 않는 부분을 포함한다. 이로 인해, 도전성 세선 ML5는, 도전성 세선 ML1과 상이한 형상이다. 예를 들어, 도전성 세선 ML5는, 방향 Da로 배열되는 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub 각각의 각 길이가, 도전성 세선 ML1에 있어서의 방향 Da로 배열되는 대응하는 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub 각각의 각 길이와 상이한 부분이 있다.
도전성 세선 ML6은, 세선편 Ua 및 세선편 Ub를 포함한다. 도전성 세선 ML6은, 단부 ML6e로부터 방향 Da를 향해서 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub 순으로 접속되어 있다. 도전성 세선 ML6은, 2개의 단부 ML6e와 도전성 세선 ML5의 2개의 단부 ML5e를 겹쳤을 때, 도전성 세선 ML5와 겹치지 않는 부분을 포함한다. 이로 인해, 도전성 세선 ML6은, 도전성 세선 ML5와 상이한 형상이다.
도전성 세선 ML7은, 세선편 Ua 및 세선편 Ub를 포함한다. 도전성 세선 ML7은, 단부 ML7e로부터 방향 Da를 향해서 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub, 세선편 Ua, 세선편 Ub 순으로 접속되어 있다. 도전성 세선 ML7은, 2개의 단부 ML7e와 도전성 세선 ML6의 2개의 단부 ML6e를 겹쳤을 때, 도전성 세선 ML6과 겹치지 않는 부분을 포함한다. 도전성 세선 ML7은, 2개의 단부 ML7e와 도전성 세선 ML5의 2개의 단부 ML5e를 겹쳤을 때, 도전성 세선 ML5와 겹치지 않는 부분을 포함한다. 이로 인해, 도전성 세선 ML7은, 도전성 세선 ML5 및 도전성 세선 ML6과 상이한 형상이다.
도전성 세선 ML5, ML6 및 ML7은, 각각의 세선편 Ua 및 세선편 Ub가 이루는 각도θ1이 동일하다. 또한, 도전성 세선 ML5, ML6 및 ML7은, 단부 ML5e, ML6e, ML7e에 접속되는 각 세선편 Ua의 길이가 상이하지만, 세선편 Ub 사이에 끼워져서 접속되는 세선편 Ua의 길이도 상이하다. 도전성 세선 ML5, ML6 및 ML7은, 제1 세선편 Ua의 제1 단부 Ua1과 제1 세선편 Ua의 제2 단부 Ua2를 직선으로 연결한 길이가 랜덤하게 상이하다. 또한, 도전성 세선 ML5, ML6 및 ML7은, 제2 세선편 Ub의 제1 단부 Ub1과 제2 세선편 Ub의 제2 단부 Ub2를 직선으로 연결한 길이가 랜덤하게 상이하다. 이에 의해, 도전성 세선 ML5, ML6 및 ML7은, 각각이 갖는 접속부 TDC1의 방향 Da의 위치를 비교하면 상이하다. 예를 들어, 접속부 TDC1의 방향 Da의 위치의 차는, 1㎛ 이상 15㎛ 이하이다. 도전성 세선 ML5, ML6 및 ML7은, 마찬가지로 각각이 갖는 접속부 TDC2끼리, TDC3끼리, TDC4끼리, TDC5끼리의 방향 Da의 위치를 비교하면 상이하다.
도전성 세선 ML5, ML6 및 ML7은, 도전성 세선 ML1, ML2 및 ML3과 마찬가지로, 단부 ML1e, ML2e, ML3e에 접속되는 각 세선편 Ua의 길이가 상이하지만, 세선편 Ub 사이에 끼워져서 접속되는 세선편 Ua의 길이는 동일하게 해도 된다.
도 13에 도시하는 바와 같이, 도전성 세선 ML4의 1개의 세선편 Ua와 도전성 세선 ML5의 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa14는, 도전성 세선 ML4의 1개의 세선편 Ub와 도전성 세선 ML5의 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb24와 상이하다. 또한, 거리 Wb24는, 도전성 세선 ML4의 1개의 세선편 Ua와 도전성 세선 ML5의 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa34와 상이하다. 또한, 거리 Wa34는, 도전성 세선 ML4의 1개의 세선편 Ub와 도전성 세선 ML5의 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb44와 상이하다. 인접하는 도전성 세선 ML4, ML5 사이의 거리는, 방향 Da에서 보았을 때, 거리 Wa14, 거리 Wb24, 거리 Wa34, 거리 Wb44와 같이, 일정하지 않다. 그리고, 인접하는 도전성 세선 ML4, ML5 사이의 거리는, 방향 Da에서 보았을 때, 규칙성이 없고, 랜덤한 값을 취한다.
마찬가지로, 도전성 세선 ML5의 1개의 세선편 Ua와 도전성 세선 ML6의 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa15는, 도전성 세선 ML5의 1개의 세선편 Ub와 도전성 세선 ML6의 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb25와 상이하다. 또한, 거리 Wb25는, 도전성 세선 ML5의 1개의 세선편 Ua와 도전성 세선 ML6의 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa35와 상이하다. 또한, 거리 Wa35는, 도전성 세선 ML5의 1개의 세선편 Ub와 도전성 세선 ML6의 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb45와 상이하다. 인접하는 도전성 세선 ML5, ML6 사이의 거리는, 방향 Da에서 보았을 때, 거리 Wa15, 거리 Wb25, 거리 Wa35, 거리 Wb45와 같이, 일정하지 않다. 그리고, 인접하는 도전성 세선 ML5, ML6 사이의 거리는, 방향 Da에서 보았을 때, 규칙성이 없고, 랜덤한 값을 취한다.
마찬가지로, 도전성 세선 ML6의 1개의 세선편 Ua와 도전성 세선 ML7의 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa16은, 도전성 세선 ML6의 1개의 세선편 Ub와 도전성 세선 ML7의 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb26과 상이하다. 또한, 거리 Wb26은, 도전성 세선 ML6의 1개의 세선편 Ua와 도전성 세선 ML7의 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa36과 상이하다. 또한, 거리 Wa36은, 도전성 세선 ML6의 1개의 세선편 Ub와 도전성 세선 ML7의 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb46과 상이하다. 인접하는 도전성 세선 ML6, ML7 사이의 거리는, 방향 Da에서 보았을 때, 거리 Wa16, 거리 Wb26, 거리 Wa36, 거리 Wb46과 같이, 일정하지 않다. 그리고, 인접하는 도전성 세선 ML6, ML7 사이의 거리는, 방향 Da에서 보았을 때, 규칙성이 없고, 랜덤한 값을 취한다.
또한, 세선편 Ua 및 세선편 Ub의 폭은, 3㎛ 이상 또한 10㎛ 이하의 범위에 있는 것이 바람직하다. 세선편 Ua 및 세선편 Ub의 폭은, 10㎛ 이하이면, 표시 영역 Ad 중 블랙 매트릭스 또는 주사선 GCL 및 신호선 SGL으로 광의 투과를 억제받지 않는 개구부를 덮는 면적이 작아져, 개구율을 손상시킬 가능성이 낮아지기 때문이다. 또한, 세선편 Ua 및 세선편 Ub의 폭은, 3㎛ 이상이면, 형상이 안정되고, 단선될 가능성이 낮아지기 때문이다. 세선편 Ua 및 세선편 Ub의 폭이 3㎛ 미만인 경우, 단선에의 대책을 위해서, 인접하는 도전성 세선의 끼리가 접속되어 도통해도 된다.
검출 전극 TDL의 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7은, 도전성의 금속 재료이며, 알루미늄(Al), 구리(Cu), 은(Ag), 몰리브덴(Mo), 크롬(Cr), 텅스텐(W), 이들 합금의 금속 재료로 형성된다. 또는, 검출 전극 TDL의 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7은, 알루미늄(Al), 구리(Cu), 은(Ag), 몰리브덴(Mo), 크롬(Cr), 텅스텐(W), 이들 산화물(금속 산화물)로 형성되고, 도전성을 갖고 있다. 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7은, 상술한 금속 재료와, 상술한 금속 산화물을 1 이상 적층한 적층체로 패터닝되어 있어도 된다. 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7은, 상술한 금속 재료 또는 금속 산화물과, 투광성 전극의 재료로서 ITO(Indium Tin Oxide) 등의 투광성 도전 산화물을 1 이상 적층한 적층체로 패터닝되어 있어도 된다. 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7은, 투광성 전극의 재료로서 ITO(Indium Tin Oxide) 등의 투광성 도전 산화물보다도 저저항이다. 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7의 재료는, 동일한 막 두께에서의 투과율이 ITO(Indium Tin Oxide)의 투과율보다도 낮다. 예를 들어, 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7의 재료는, 투과율이 10% 이하이어도 된다.
화소 Pix는, 상기한 바와 같이 주사선 GCL과 평행한 방향 및 신호선 SGL과 평행한 방향을 따라서 행렬 형상으로 배치되어 있다. 주사선 GCL 및 신호선 SGL이 블랙 매트릭스로 덮여 있는 경우에는, 블랙 매트릭스가 광의 투과를 억제한다. 주사선 GCL 및 신호선 SGL이 블랙 매트릭스로 덮여 있지 않은 경우에는, 주사선 GCL 및 신호선 SGL이 광의 투과를 억제한다. 실시 형태 1에 있어서 주사선 GCL과 평행한 방향을 따른 복수의 직선 형상의 모양이며, 주기성을 갖는 모양이, 표시 영역 Ad 상에 나타나기 쉬워진다. 또한, 신호선 SGL과 평행한 방향을 따른 복수의 직선에 의해, 주기성을 갖는 모양이, 표시 영역 Ad 상에 나타나기 쉬워진다. 이로 인해, 표시 영역 Ad의 표면에 대하여 수직인 방향으로, 검출 전극 TDL을 겹친 경우, 표시 영역 Ad 상에 나타나는 모양과 검출 전극 TDL이 간섭하여 명암 모양을 형성함으로써, 무아레가 시인될 가능성이 있다.
실시 형태 1에 있어서, 인접하는 도전성 세선 ML1 및 도전성 세선 ML2의 형상이 상이하고, 인접하는 도전성 세선 ML3 및 도전성 세선 ML4의 형상이 상이하다. 이와 같이, 도전성 세선 ML1로부터 도전성 세선 ML7 중 인접하는 도전성 세선의 형상이 상이하기 때문에, 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7과 상기 표시 영역 Ad 상에 나타나는 모양이 이루는 각도는, 장소에 따라 상이하다. 따라서, 실시 형태 1에 있어서는, 상기 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성이 저감된다.
실시 형태 1에 있어서, 도전성 세선 ML1, 도전성 세선 ML2 및 도전성 세선 ML3을 제1 도통부 TDB1을 통하여 조합한 형상과, 도전성 세선 ML5, 도전성 세선 ML6 및 도전성 세선 ML7을 제1 도통부 TDB1을 통하여 조합한 형상이 상이한 형상이다. 이로 인해, 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML5, ML6, ML7과 상기 표시 영역 Ad 상에 나타나는 모양이 이루는 각도는, 장소에 따라 상이하다. 따라서, 실시 형태 1에 관한 검출 장치는, 상기 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.
특허문헌 1에 기재된 기술에서는, 가시광이 입사되면 복수의 검출 전극에서 회절 또는 산란되는 광강도 패턴이 복수 산재하는 광점에 가까워진다. 시인자가 검출 장치 자체를 기울임으로써, 산재하는 복수의 광강도 패턴의 광점의 위치 또는 수를 바꿀 수 있지만, 복수의 광강도 패턴의 광점 시인을 저감시키는 것이 어렵다. 특허문헌 1에 기재된 기술에서는, 인접하는 세선편 a 및 세선편 b가 이루는 각도가 랜덤하다. 이로 인해, 시인자가 검출 장치 자체를 기울임으로써, 새로운 회절 또는 산란이 발생하기 쉬워, 산재하는 복수의 광강도 패턴의 광점이 발현되기 쉽다고 생각된다.
이에 비해, 실시 형태 1의 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7 중 1개의 도전성 세선의 전체에서, 인접하는 세선편 a 및 세선편 b가 이루는 각도θ1 및 각도θ2가 일정하다. 이로 인해, 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7에, 가시광이 입사되면, 각각의 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7에서 회절 또는 산란되는 광강도 패턴이 확산되기 어려워진다. 이로 인해, 각각의 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7에서 회절 또는 산란되는 광강도 패턴이 4방향으로 모이기 쉬워, 일정한 지향성이 발현되기 쉽다. 그리고, 시인자가 실시 형태 1에 관한 검출 장치 자체를 기울임으로써, 광강도 패턴이 발현되기 쉬운 각도를 회피하기 쉬워진다. 그 결과, 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7에서 회절 또는 산란되는 광강도 패턴은, 시인하기 어려워진다.
이상 설명한 바와 같이, 실시 형태 1에 관한 검출 장치는, 외부 근접 물체를 검출 가능하며, 대향 기판(3)과, 검출 전극 TDL을 포함한다. 검출 전극 TDL은, 복수의 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7을 포함한다. 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML5, ML6, ML7은, 금속 재료로 제1 단부 Ua1과 제2 단부 Ua2를 직선으로 연결한 제1 세선편 Ua와, 금속 재료에서 제1 단부 Ub1과 제2 단부 Ub2를 직선으로 연결한 제2 세선편 Ub를 각각 복수 포함한다. 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML5, ML6, ML7은, 제1 세선편 Ua의 1개와 제2 세선편 Ub의 1개가 접속부에서 접속되어 연속해서 연결되고, 대향 기판(3)의 표면과 평행한 면으로 연장된다. 그리고, 1개의 제1 세선편 Ua가 연장되는 제1 방향 Fa와, 제1 방향 Fa와 상이한 방향이며 1개의 제2 세선편 Ub가 연장되는 제2 방향 Fb가 교차해서 이루는 각도θ1 또는 각도θ2가 1개의 도전성 세선 전체에서 일정하다. 또한, 상이한 도전성 세선 상에 있어서, 인접하는 제1 세선편 Ua끼리의 거리가 일정하지 않다. 이에 의해, 인접하는 복수개의 도전성 세선끼리 중 적어도 인접하는 어느 2개간의 거리가, 다른 인접하는 어느 2개간의 거리와 상이하다.
이에 의해, 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다. 또한, 검출 전극 TDL에 의해 회절 또는 산란되는 광강도 패턴이 시인되기 어렵다.
나아가서는, 상술한 바와 같은 구성 외에, 검출 전극 TDL에 포함되는 복수의 상기 도전성 세선에 포함되는 각도θ1 또는 각도θ2 모두가 일정한 것이 바람직하다. 이와 같은 구성에 의하면, 무아레의 시인을 억제할 수 있음과 함께, 검출 전극 TDL에 의해 회절 또는 산란되는 광강도 패턴에 의한 번쩍임이 시인되는 것을 억제할 수 있다.
또한, 인접하는 제1 세선편 Ua끼리의 거리가 소정 방향(방향 Da)의 위치에 따라 랜덤하게 상이하도록 하면, 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.
이상 설명한 바와 같이, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)는, 표시 영역 Ad에 설치된 복수의 화소 전극(22)과, 화소 전극(22)과 대향해서 설치되고, 복수로 분할된 구동 전극 COML을 구비한다. 제어부(11)는, 표시 동작을 행하는 표시 기간 B에 있어서, 영상 신호 Vdisp에 기초하여, 복수의 화소 전극(22)과 구동 전극 COML 사이에 표시용 구동 전압을 인가한다. 제어부(11)는, 터치 검출 동작을 행하는 터치 검출 기간 A에 있어서, 복수의 구동 전극 COML 중 구동 신호를 공급하는 구동 전극 COML을 선택해서 주사하고, 검출 전극 TDL의 정전 용량의 변화로, 터치 검출부(40)가 외부 근접 물체를 검출 가능하게 한다.
(실시 형태 1의 변형예 1)
도 14는, 실시 형태 1의 변형예 1에 관한 세선편의 제1 단부와 제2 단부와의 상대적인 위치 관계를 설명하는 모식도이다. 실시 형태 1의 변형예 1에 있어서, 세선편 Ua 및 세선편 Ub가 연장되는 방향이 화소 Pix의 배열에 의해 규정되는, 도 13에 도시한 검출 전극 TDL이다. 구체적으로는, 세선편 Ua 및 세선편 Ub가 연장되는 방향은, 도 14에 도시하는 화소 배열 방향 Dy에 대하여 이루는 각도로 규정된다. 또한, 검출 전극 TDL이 연장되는 방향 Da는, 도 14에 도시하는 화소 배열 방향 Dy와 평행하다.
도 14에 도시하는 화소 배열 방향 Dy와 화소 직교 방향 Dx에 대해서 설명한다. 상술한 바와 같이, 표시 영역 Ad는, 각 부화소 SPix에 색 영역(32R, 32G, 32B)이 대응지어지고, 색 영역(32R, 32G, 32B)를 1조로 한 화소 Pix를 복수 포함한다. 복수의 화소 Pix는, 주사선 GCL과 평행한 방향 및 신호선 SGL과 평행한 방향을 따라서 행렬 형상으로 배치된다. 또한, 화소 Pix는, 색 영역(32R, 32G, 32B)이 각각 주사선 GCL을 사이에 두고 인접하게 배치한다.
화소 배열 방향 Dy는, 사람의 시감도가 가장 높은 색 영역이 배열되는 방향이다. 화소 직교 방향 Dx는, 대향 기판(3)의 표면과 평행한 평면 상에 있어서 화소 배열 방향 Dy에 대하여 직교하는 방향이다. R(적색), G(녹색), B(청색)의 3색 중에서는, 사람의 시감도가 가장 높은 색은 G(녹색)이다. 도 14에서, 색 영역(32G)이 배열되는 것은 신호선 SGL과 평행한 방향이기 때문에, 실시 형태 1의 변형예 1에 있어서 화소 배열 방향 Dy는 신호선 SGL과 평행한 방향이 된다.
예로서, 세선편 Ub의 제1 단부 Ub1과 제2 단부 Ub2와의 상대적인 위치 관계의 설명을 위해서, 도 14에 있어서, 주사선 GCL과 신호선 SGL의 교차부 중에서 임의의 점을 원점 P00이라고 하고, 원점 P00의 좌표를 (0, 0)이라고 하는 xy 좌표를 정의한다. 화소 직교 방향 Dx와 평행한 방향에 x축을 설정하고, 화소 배열 방향 Dy와 평행한 방향에 y축을 설정한다. x 방향의 화소 Pix1개분의 최대 길이를 x 방향의 단위 길이로 하고, y 방향의 화소 Pix1개분의 최대 길이를 y 방향의 단위 길이로 한다. x 방향의 화소 Pix1개분의 최대 길이는, 제1 단위 길이 Lx1이며, y 방향의 화소 Pix1개분의 최대 길이는, 제2 단위 길이 Ly1이다. 예를 들어, 실시 형태 1의 변형예 1에 관한 제1 단위 길이 Lx1과 제2 단위 길이 Ly1의 비는, 1:1이다.
예를 들어, 원점 P00으로부터 x 방향으로 제1 단위 길이 Lx1 진행하고, 또한 y 방향으로 제2 단위 길이 Ly1 진행한 점의 좌표는 (1, 1)이 된다. 이 xy 좌표에 있어서, 점 P01은, 좌표가 (0, 1)인 점이다. 점 P15는, 좌표가 (1, 5)인 점이다. 점 P14는, 좌표가 (1, 4)인 점이다. 점 P13은, 좌표가 (1, 3)인 점이다. 점 P12는, 좌표가 (1, 2)인 점이다. 점 P35는, 좌표가 (3, 5)인 점이다. 점 P23은, 좌표가 (2, 3)인 점이다. 점 P34는, 좌표가 (3, 4)인 점이다. 점 P45는, 좌표가 (4, 5)인 점이다. 점 P56은, 좌표가 (5, 6)인 점이다. 점 P11은, 좌표가 (1, 1)인 점이다. 점 P65는, 좌표가 (6, 5)인 점이다. 점 P54는, 좌표가 (5, 4)인 점이다. 점 P43은, 좌표가 (4, 3)인 점이다. 점 P32는, 좌표가 (3, 2)인 점이다. 점 P53은, 좌표가 (5, 3)인 점이다. 점 P21은, 좌표가 (2, 1)인 점이다. 점 P31은, 좌표가 (3, 1)인 점이다. 점 P41은, 좌표가 (4, 1)인 점이다. 점 P51은, 좌표가 (5, 1)인 점이다. 점 P10은, 좌표가 (1, 0)인 점이다.
(화소 배열 방향 Dy에 대한 각도에 관한 평가예)
여기서, 세선편 Ub의 제1 단부 Ub1을 점 P00의 위치로 했을 때의, 제2 단부 Ub2가 위치하는 방향을 변화시켜, 무아레의 시인에 대해서 평가를 행하였다. 이하, 평가 결과는, 도 15에 도시하는 평가예 1 내지 21로서 설명한다.
[평가]
무아레 평가는, 평가예 1 내지 평가예 21에 대응하는 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)의 표시 화상을, 사람의 눈으로 본 경우의 무아레 관찰법을 4단계로 평가하고 있다. 구체적으로는, 무아레 평가의 기준은, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)의 표면과 사람의 눈과의 거리가 30㎝ 미만이어도 무아레를 시인할 수 없는 경우를 이중 동그라미(◎)로 하고 있다. 또한, 무아레 평가의 기준은, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)와 사람의 눈과의 거리가 30㎝ 이상이면 무아레를 시인할 수 없는 경우를 동그라미(○)로 하고 있다. 또한, 무아레 평가의 기준은, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)와 사람의 눈과의 거리가 60㎝ 이상이면 무아레를 시인할 수 없는 경우를 삼각(△)으로 하고 있다. 그리고, 무아레 평가의 기준은, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)와 사람의 눈과의 거리가 60㎝ 이상이어도 무아레를 시인할 수 있는 경우를 엑스(×)로 하고 있다.
평가예 6 내지 10 및 평가예 12 내지 16에 있어서, 세선편 Ub의 제2 단부 Ub2가 제1 단부 Ub1로부터 목표 위치를 향하는 방향에 있다. 이 목표 위치는 제1 단부 Ub1에 대하여 화소 직교 방향 Dx에 있어서 제1 단위 길이 Lx1의 정수배에서 2 이상의 배수로 이격되고, 화소 배열 방향 Dy에 있어서 제2 단위 길이 Ly1의 정수배에서 2 이상의 배수로 이격되어 있다. 평가예 6 내지 10 및 평가예 12 내지 16은 제1 단위 길이 Lx1의 정수배의 배수값과, 제2 단위 길이 Ly1의 정수배의 배수값은 상이하다고 하는 제1 조건을 만족하고 있다. 그리고, 평가예 6 내지 10 및 평가예 12 내지 16에 있어서는, 세선편 Ub가 연장되는 방향이, 화소 배열 방향 Dy에 대하여 27도보다 크고 또한 45도 미만에 있는 각도 또는 45도보다 크고 또한 63도 미만에 있는 각도를 이룬다는 조건을 만족하고 있다. 그리고, 제1 조건을 만족하는, 실시 형태 1의 변형예 1에 관한 도전성 세선은, 도 15에 도시하는 바와 같이 평가예 6 내지 10 및 평가예 12 내지 16의, 무아레 평가가 ◎, ○ 및 △이며, 무아레의 시인이 억제되고 있다.
또한, 평가예 6, 평가예 8 내지 10, 평가예 12 내지 14 및 평가예 16에 있어서는, 제1 단위 길이 Lx1의 정수배의 배수값과, 제2 단위 길이 Ly1의 정수배의 배수값은 3 이상이라는 제2 조건을 만족하고 있다. 그리고, 제2 조건을 만족하는 평가예 6, 평가예 8 내지 10, 평가예 12 내지 14 및 평가예 16은 무아레 평가가 ◎ 또는 ○이며, 또한 무아레의 시인이 억제되고 있다.
평가예 8 내지 10 및 평가예 12 내지 14에 있어서, 제1 단위 길이 Lx1의 정수배의 배수값과, 제2 단위 길이 Ly1의 정수배의 배수값과의 차는 1이라고 하는 제3 조건을 만족하고 있다. 그리고, 평가예 8 내지 10 및 평가예 12 내지 14의 경우에는, 무아레 평가가 ◎이며, 또한 무아레의 시인이 억제되고 있다.
화소 Pix는, 상기한 바와 같이 주사선 GCL과 평행한 방향 및 신호선 SGL과 평행한 방향을 따라서 행렬 형상으로 배치되어 있다. 주사선 GCL 및 신호선 SGL이 블랙 매트릭스로 덮여 있는 경우에는, 블랙 매트릭스가 광의 투과를 억제한다. 주사선 GCL 및 신호선 SGL이 블랙 매트릭스로 덮여 있지 않은 경우에는, 주사선 GCL 및 신호선 SGL이 광의 투과를 억제한다. 실시 형태 1의 변형예 1에 있어서 주사선 GCL과 평행한 방향을 따른, 화소 직교 방향 Dx와 평행한 복수의 직선 형상의 모양이며, 주기성을 갖는 모양이, 표시 영역 Ad 상에 나타나기 쉬워진다. 또한, 신호선 SGL과 평행한 방향을 따른, 화소 배열 방향 Dy와 평행한 복수의 직선에 의해, 주기성을 갖는 모양이, 표시 영역 Ad 상에 나타나기 쉬워진다. 이로 인해, 표시 영역 Ad의 표면에 대하여 수직인 방향으로, 검출 전극 TDL을 겹친 경우, 표시 영역 Ad 상에 나타나는 모양과 검출 전극 TDL이 간섭하여 명암 모양을 형성함으로써, 무아레가 시인될 가능성이 있다.
실시 형태 1의 변형예 1에 있어서는, 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7이, 제1 조건을 만족하는 세선편 Ub를 포함함으로써, 명암 모양의 주기가, 사람이 시인할 수 없을 정도로 짧아지기 쉬워진다. 예를 들어, 세선편 Ub는, 화소 직교 방향 Dx 및 화소 배열 방향 Dy에 대하여 각도를 갖고 연장되어 있다. 제1 조건을 만족하면, 그 각도가 일정한 크기 이상으로 되기 때문에, 명암 모양의 주기가 짧아지기 쉽다. 그 결과, 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7이, 제1 조건을 만족하는 세선편 Ub를 포함함으로써, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다. 또한, 세선편 Ua 및 세선편 Ub가 제1 조건을 만족시키는 경우, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.
또한, 세선편 Ub가 화소 배열 방향 Dy에 대하여 각도를 갖는 방향으로 연장되고, 그 각도의 정접값은, 제1 단위 길이 Lx1의 값을 제2 단위 길이 Ly1의 2배의 값으로 나눈 값보다 크고, 제1 단위 길이 Lx1의 2배의 값을 제2 단위 길이 Ly1의 값으로 나눈 값보다 작은 범위에 있어, 또한 제1 단위 길이 Lx1의 값을 제2 단위 길이 Ly1의 값으로 나눈 값과는 상이하다. 이로 인해, 세선편 Ub가 연장되는 방향이 화소 직교 방향 Dx 및 화소 배열 방향 Dy에 대하여 이루는 각도는, 일정한 크기 이상이 되고, 명암 모양의 주기가 짧아지기 쉽다. 그 결과, 실시 형태 1의 변형예 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)는, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.
또한, 검출 전극 TDL과 구동 전극 COML이 금속 재료 등의 도전성 재료로 형성되는 경우, 전식이 발생할 가능성이 있다. 이로 인해, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)는, 검출 전극 TDL과 구동 전극 COML이, 유리 기판(31)의 표면에 대한 수직 방향에 있어서, 유리 기판(31)을 사이에 끼워서 상이한 면 상에 위치하고 있다. 이에 의해, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)는, 전식의 발생을 억제할 수 있다. 또한, 구동 전극 COML은, 투광성의 재료로 형성되는 것이 바람직하다. 이에 의해, 검출 전극 TDL과 구동 전극 COML과의 간섭에 의한 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.
또한, 구동 전극 COML은, 유리 기판(31)의 표면에 수직인 방향에 있어서 대향하는 TFT 기판(21) 상에 있다. 유리 기판(31)의 표면과 구동 전극 COML이, 유리 기판(31)의 표면에 대한 수직 방향에 있어서 이격되어 있는 경우에는, 사람이 시인하는 각도에 따라, 표시 영역 Ad 상에 나타나는 모양의 주기와 구동 전극 COML의 배치의 주기와의 차가 변화된다. 그러나, TFT 기판(21) 상에 구동 전극 COML을 배치함으로써, 사람이 시인하는 각도에 따른, 표시 영역 Ad 상에 나타나는 모양의 주기와 구동 전극 COML의 배치의 주기와의 차의 변화를 작게 할 수 있다. 또한, 실시 형태 1에 관한 구동 전극 COML은, 상술한 화소 배열 방향 Dy 또는 화소 직교 방향 Dx으로 연장되도록 배치된다. 이에 의해, 구동 전극 COML이 주사선 GCL과 평행한 방향 또는 신호선 SGL과 평행한 방향으로 연장되어, 개구율이 낮아질 가능성을 저감할 수 있다.
(실시 형태 1의 변형예 2)
도 16은, 실시 형태 1의 변형예 2에 관한 세선편의 제1 단부와 제2 단부와의 상대적인 위치 관계를 설명하는 모식도이다. 실시 형태 1의 변형예 2에 있어서 검출 전극 TDL은, 세선편 Ua 및 세선편 Ub가 연장되는 방향이 화소 Pix의 배열에 의해 규정되는, 도 13에 도시한 검출 전극 TDL이다. 구체적으로는, 세선편 Ua 및 세선편 Ub가 연장되는 방향은, 도 16에 도시하는 화소 배열 방향 Dy에 대하여 이루는 각도로 규정된다. 또한, 검출 전극 TDL이 연장되는 방향 Da는, 도 16에 도시하는 화소 배열 방향 Dy와 동일하다.
도 16에 도시하는 화소 배열 방향 Dy와 화소 직교 방향 Dx에 대해서 설명한다. 상술한 바와 같이, 표시 영역 Ad는, 각 부화소 SPix에 색 영역(32R, 32G, 32B, 32W)이 대응지어지고, 색 영역(32R, 32G, 32B, 32W)을 1조로 한 화소 Pix를 복수 포함한다. 복수의 화소 Pix는, 주사선 GCL과 평행한 방향 및 신호선 SGL과 평행한 방향을 따라서 행렬 형상으로 배치된다. 또한, 화소 Pix는, 색 영역(32R, 32G, 32B, 32W)이 각각 주사선 GCL을 사이에 두고 인접하게 배치한다.
화소 배열 방향 Dy는, 사람의 시감도가 가장 높은 색 영역이 배열되는 방향이다. R(적색), G(녹색), B(청색), W(백색)의 4색 중에서는, 사람의 시감도가 가장 높은 색은 W(백색)이다. 도 16에 있어서, 색 영역(32W)이 배열되는 것은 신호선 SGL과 평행한 방향이기 때문에, 화소 배열 방향 Dy는 신호선 SGL과 평행한 방향이 된다.
예로서, 세선편 Ub의 제1 단부 Ub1과 제2 단부 Ub2와의 상대적인 위치 관계의 설명을 위해서, 도 16에 있어서, 주사선 GCL과 신호선 SGL의 교차부 중에서 임의의 점을 원점 Q00으로 하고, 원점 Q00의 좌표를 (0, 0)으로 하는 xy 좌표를 정의한다. 화소 직교 방향 Dx와 평행한 방향에 x축을 설정하고, 화소 배열 방향 Dy와 평행한 방향에 y축을 설정한다. x 방향의 화소 Pix1개분의 최대 길이를 x 방향의 단위 길이로 하고, y 방향의 화소 Pix1개분의 최대 길이를 y 방향의 단위 길이로 한다. x 방향의 화소 Pix1개분의 최대 길이는, 제1 단위 길이 Lx2이며, y 방향의 화소 Pix1개분의 최대 길이는, 제2 단위 길이 Ly2이다. 예를 들어, 실시 형태 1의 변형예 2에 관한 제1 단위 길이 Lx2와 제2 단위 길이 Ly2의 비는, 4:3이다.
예를 들어, 원점 Q00으로부터 x 방향으로 제1 단위 길이 Lx2 진행하고, 또한 y 방향으로 제2 단위 길이 Ly2 진행한 점의 좌표는 (1, 1)이 된다. 이 xy 좌표에 있어서, 점 Q01은, 좌표가 (0, 1)인 점이다. 점 Q15는, 좌표가 (1, 5)인 점이다. 점 Q14는, 좌표가 (1, 4)인 점이다. 점 Q13은, 좌표가 (1, 3)인 점이다. 점 Q12는, 좌표가 (1, 2)인 점이다. 점 Q35는, 좌표가 (3, 5)인 점이다. 점 Q23은, 좌표가 (2, 3)인 점이다. 점 Q34는, 좌표가 (3, 4)인 점이다. 점 Q45는, 좌표가 (4, 5)인 점이다. 점 Q56은, 좌표가 (5, 6)인 점이다. 점 Q11은, 좌표가 (1, 1)인 점이다. 점 Q65는, 좌표가 (6, 5)인 점이다. 점 Q54는, 좌표가 (5, 4)인 점이다. 점 Q43은, 좌표가 (4, 3)인 점이다. 점 Q32는, 좌표가 (3, 2)인 점이다. 점 Q53은, 좌표가 (5, 3)인 점이다. 점 Q21은, 좌표가 (2, 1)인 점이다. 점 Q31은, 좌표가 (3, 1)인 점이다. 점 Q41은, 좌표가 (4, 1)인 점이다. 점 Q51은, 좌표가 (5, 1)인 점이다. 점 Q10은, 좌표가 (1, 0)인 점이다.
(화소 배열 방향 Dy에 대한 각도에 관한 평가예)
여기서, 세선편 Ub의 제1 단부 Ub1을 점 Q00의 위치로 했을 때의, 제2 단부 Ub2가 위치하는 방향을 변화시켜, 무아레의 시인에 대해서 평가를 행하였다. 이하, 평가 결과는, 도 17에 나타내는 평가예 22 내지 42로서 설명한다.
[평가]
무아레 평가는, 평가예 22 내지 평가예 42에 대응하는 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)의 표시 화상을, 사람의 눈으로 본 경우의 무아레 관찰법을 4단계로 평가하고 있다. 구체적으로는, 무아레 평가의 기준은, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)의 표면과 사람의 눈과의 거리가 30㎝ 미만이어도 무아레를 시인할 수 없는 경우를 이중 동그라미(◎)로 하고 있다. 또한, 무아레 평가의 기준은, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)와 사람의 눈과의 거리가 30㎝ 이상이면 무아레를 시인할 수 없는 경우를 동그라미(○)로 하고 있다. 또한, 무아레 평가의 기준은, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)와 사람의 눈과의 거리가 60㎝ 이상이면 무아레를 시인할 수 없는 경우를 삼각(△)으로 하고 있다. 그리고, 무아레 평가의 기준은, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)와 사람의 눈과의 거리가 60㎝ 이상이어도 무아레를 시인할 수 있는 경우를 엑스(×)로 하고 있다.
평가예 27 내지 31 및 평가예 33 내지 37에 있어서, 세선편 Ub의 제2 단부 Ub2가 제1 단부 Ub1로부터 목표 위치를 향하는 방향에 있다. 이 목표 위치는 제1 단부 Ub1에 대하여 화소 직교 방향 Dx에 있어서 제1 단위 길이 Lx2의 정수배에서 2 이상의 배수로 이격되고, 화소 배열 방향 Dy에 있어서 제2 단위 길이 Ly2의 정수배에서 2 이상의 배수로 이격되어 있고, 제1 단위 길이 Lx2의 정수배의 배수값과, 제2 단위 길이 Ly2의 정수배의 배수값은 상이하다는 제1 조건을 만족하고 있다. 그리고, 평가예 27 내지 31 및 평가예 33 내지 37의 경우에는, 무아레 평가가 ◎, ○ 및 △이며, 무아레의 시인이 억제되고 있다.
평가예 27, 평가예 29 내지 31, 평가예 33 내지 35 및 평가예 37에 있어서는, 제1 단위 길이 Lx2의 정수배의 배수값과, 제2 단위 길이 Ly2의 정수배의 배수값은 3 이상이라는 제2 조건을 만족하고 있다. 그리고, 평가예 27, 평가예 29 내지 31, 평가예 33 내지 35 및 평가예 37은 무아레 평가가 ◎ 또는 ○이며, 또한 무아레의 시인이 억제되고 있다.
평가예 29 내지 31 및 평가예 33 내지 35에 있어서는, 제1 단위 길이 Lx2의 정수배의 배수값과, 제2 단위 길이 Ly2의 정수배의 배수값과의 차는 1이라는 제3 조건을 만족하고 있다. 평가예 29 내지 31 및 평가예 33 내지 35의 경우에는, 무아레 평가가 ◎이며, 또한 무아레의 시인이 억제되고 있다.
실시 형태 1의 변형예 2에 있어서, 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7이, 제2 조건을 만족하는 세선편 Ub를 포함함으로써, 명암 모양의 주기가, 사람이 시인할 수 없을 정도로 짧아지기 쉬워진다. 예를 들어, 세선편 Ub는, 화소 직교 방향 Dx 및 화소 배열 방향 Dy에 대하여 각도를 갖고 연장하고 있다. 제2 조건을 만족하면, 그 각도가 일정한 크기 이상이 되기 때문에, 명암 모양의 주기가 짧아지기 쉽다. 그 결과, 도전성 세선 ML1, ML2, ML3, ML4, ML5, ML6, ML7이, 제2 조건을 만족하는 세선편 Ub를 포함함으로써, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다. 또한, 세선편 Ua 및 세선편 Ub가 제2 조건을 만족시키는 경우, 무아레가 시인될 가능성이 저감된다.
또한, 세선편 Ub가 화소 배열 방향 Dy에 대하여 각도를 갖는 방향으로 연장되고, 그 각도의 정접값은, 제1 단위 길이 Lx2의 값을 제2 단위 길이 Ly2의 2배의 값으로 나눈 값보다 크고, 제1 단위 길이 Lx2의 2배의 값을 제2 단위 길이 Ly2의 값으로 나눈 값보다 작은 범위에 있고, 또한 제1 단위 길이 Lx2의 값을 제2 단위 길이 Ly2의 값으로 나눈 값과는 상이하다. 이로 인해, 세선편 Ub가 연장되는 방향이 화소 직교 방향 Dx 및 화소 배열 방향 Dy에 대하여 이루는 각도는, 일정한 크기 이상이 되고, 명암 모양의 주기가 짧아지기 쉽다. 그 결과, 실시 형태 1의 변형예 2에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)는, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.
(실시 형태 2)
도 18은, 실시 형태 2에 관한 검출 전극의 배치 일부를 도시하는 도면이다. 실시 형태 2에 관한 검출 전극 TDL은, 대향 기판(3)과 평행한 평면 상에, 접속부끼리가 교차부로서 접하는 부분을 갖게 연장되는 복수의 세선편 Ua 및 세선편 Ub를 포함한다. 세선편 Ua는 제1 방향 Fa로 연장되어 있고, 세선편 Ub는, 제2 방향 Fb로 연장되어 있다. 세선편 Ua 및 Ub가 연장되는 방향은, 서로 상이한 방향이다. 세선편 Ua는, 접속부 TDC 사이에 끼워져 있다. 마찬가지로 세선편 Ub는, 접속부 TDC 사이에 끼워져 있다. 바꿔 말하면, 실시 형태 2에 관한 검출 전극 TDL은, 접속부에서 접는 지그재그선 또는 파선인 도전성 세선이 망 형상으로 되어 있다. 또한, 실시 형태 2는 설명을 위해서 더미 전극의 기재는 하지 않았지만, 실시 형태 1과 마찬가지로, 더미 전극이 있어도 된다. 또한, 상술한 실시 형태 1에서 설명한 것과 동일한 구성 요소에는 동일한 부호를 부여해서 중복되는 설명은 생략한다.
세선편 Ua끼리는 평행하게 연장되어 있고, 세선편 Ub끼리도 평행하게 연장되어 있기 때문에, 세선편 Ua 및 세선편 Ub가 이루는 각도θ1로 교차한다.
1개의 세선편 Ua와, 이것과 인접하는 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa11은, 이 세선편 Ua와 다음에 인접하는 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa12와 상이하다. 인접하는 2개의 세선편 Ua의 거리는, 제2 방향 Fb에서 보았을 때, 거리 Wa11, 거리 Wa12, 거리 Wa13, 거리 Wa14와 같이, 일정하지 않다.
마찬가지로, 1개의 세선편 Ua와, 이것과 인접하는 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa21은, 이 세선편 Ua와 다음에 인접하는 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa22와 상이하다. 인접하는 2개의 세선편 Ua의 거리는, 제2 방향 Fb에서 보았을 때, 거리 Wa21, 거리 Wa22, 거리 Wa23, 거리 Wa24, 거리 Wa25와 같이, 일정하지 않다. 이상 설명한 바와 같이, 그리고 인접하는 2개의 세선편 Ua의 거리는, 제2 방향 Fb에서 보았을 때, 규칙성이 없고, 랜덤한 값을 취한다.
1개의 세선편 Ub와, 이것과 인접하는 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb11은, 이 세선편 Ub와 다음에 인접하는 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb12와 상이하다. 인접하는 2개의 세선편 Ub의 거리는, 제1 방향 Fa에서 보았을 때, 거리 Wb11, 거리 Wb12와 같이, 일정하지 않다.
마찬가지로, 1개의 세선편 Ub와, 이것과 인접하는 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb21은, 이 세선편 Ub와 다음에 인접하는 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb22와 상이하다. 인접하는 2개의 세선편 Ub의 거리는, 제1 방향 Fa에서 보았을 때, 거리 Wb21, 거리 Wb22, 거리 Wb23, 거리 Wb24와 같이, 일정하지 않다. 이상 설명한 바와 같이, 인접하는 2개의 세선편 Ub의 거리는, 제1 방향 Fa에서 보았을 때, 규칙성이 없고, 랜덤한 값을 취한다.
실시 형태 2에 있어서도 실시 형태 1과 마찬가지로, 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다. 또한, 실시 형태 2에 있어서, 인접하는 세선편 a 및 세선편 b가 이루는 각도θ1이 일정하다. 이로 인해, 검출 전극 TDL에, 가시광이 입사되면, 검출 전극 TDL에 의해 회절 또는 산란되는 광강도 패턴이 확산되기 어려워진다. 이로 인해, 광강도 패턴이 4방향으로 모이기 쉬워, 일정한 지향성이 발현되기 쉽다. 그리고, 시인자가 실시 형태 2에 관한 검출 장치 자체를 기울임으로써, 광강도 패턴이 발현되기 쉬운 각도를 회피하기 쉬워진다. 그 결과, 검출 전극 TDL에 의해 회절 또는 산란되는 광강도 패턴은, 시인하기 어려워진다.
(실시 형태 2의 변형예 1)
도 19는, 실시 형태 2의 변형예 1에 관한 검출 전극의 배치 일부를 도시하는 도면이다. 또한, 상술한 실시 형태 1 및 실시 형태 2에서 설명한 것과 동일한 구성 요소에는 동일한 부호를 부여해서 중복되는 설명은 생략한다.
실시 형태 2에 있어서 거리 Wa11과 거리 Wa21이 동일했지만, 실시 형태 2의 변형예 1에 있어서는, 거리 Wa11과 거리 Wa22가 상이하다. 실시 형태 2에 있어서 거리 Wb11과 거리 Wb22가 동일했지만 실시 형태 2의 변형예 1에 있어서는, 거리 Wb11과 거리 Wb21이 상이하다. 이와 같이, 인접하는 2개의 세선편 Ua의 거리는, 제2 방향 Fb에서 보았을 때, 일정하지 않다. 인접하는 2개의 세선편 Ub의 거리는, 제1 방향 Fa에서 보았을 때, 일정하지 않다.
실시 형태 2의 변형예 1에 관한 검출 전극은, 실시 형태 2에 관한 검출 전극 TDL과 동일한 작용 효과를 발휘한다.
(실시 형태 2의 변형예 2)
도 20은, 실시 형태 2의 변형예 2에 관한 검출 전극의 배치 일부를 도시하는 도면이다. 또한, 상술한 실시 형태 1 및 실시 형태 2에서 설명한 것과 동일한 구성 요소에는 동일한 부호를 부여해서 중복되는 설명은 생략한다.
실시 형태 2에 관한 검출 전극 TDL은, 예를 들어 세선편 Ua가 제2 방향 Fb로 배열되는 수가 위치에 따라 동일했지만, 실시 형태 2의 변형예 2에서는, 세선편 Ua가 제2 방향 Fb로 배열되는 수가 위치에 따라 상이하다. 이와 같이, 인접하는 2개의 세선편 Ua의 거리는, 제2 방향 Fb에서 보았을 때, 일정하지 않다. 인접하는 2개의 세선편 Ub의 거리는, 제1 방향 Fa에서 보았을 때, 일정하지 않다.
실시 형태 2의 변형예 2에 관한 검출 전극 TDL은, 실시 형태 2에 관한 검출 전극 TDL과 동일한 작용 효과를 발휘한다.
또한, 도 20에 도시하는 바와 같이, 실시 형태 2의 변형예 2에 관한 검출 전극은, 세선편 Ua가 세선편 Uab와 접속되지 않은 부분이 있어도 된다.
(실시 형태 3)
도 21은, 실시 형태 3에 관한 검출 전극의 배치 일부를 도시하는 도면이다. 실시 형태 3에 관한 검출 전극 TDL은, 대향 기판(3)과 평행한 평면 상에, 접속부끼리가 접하는 부분을 갖게 연장되는 복수의 세선편 Ua, 세선편 Ub 및 세선편 Uc를 포함한다. 세선편 Ua는 제1 방향 Fa로 연장되어 있고, 세선편 Ub는, 제2 방향 Fb로 연장되어 있다. 세선편 Uc는, 제3 방향 Fc로 연장되어 있다. 세선편 Ua 및 Ub가 연장되는 방향은, 서로 상이한 방향이다. 세선편 Uc가 연장되는 방향은, 세선편 Ua 및 Ub가 연장되는 방향과 상이하다. 세선편 Ua와 세선편 Ub는, 접속부 TDC11, 12, 13, 15, 17, 18 사이에 각각 끼워져 있다. 바꿔 말하면, 실시 형태 3에 관한 검출 전극 TDL은, 세선편 Ua와 세선편 Ub가 접속부 TDC11, 12, 13, 15, 17, 18 중 어느 하나에서 접는 지그재그선 또는 파선인 도전성 세선을 갖는다. 마찬가지로, 세선편 Ua와 세선편 Ub는, 접속부 TDC21, 23, 24, 25, 28, 29, 31, 33 사이에 각각 끼워져 있다. 또한, 실시 형태 3은 설명을 위해서 더미 전극의 기재는 하지 않았지만, 실시 형태 1과 마찬가지로, 더미 전극이 있어도 된다. 또한, 상술한 실시 형태 1 및 실시 형태 2에서 설명한 것과 동일한 구성 요소에는 동일한 부호를 부여해서 중복되는 설명은 생략한다.
세선편 Ua끼리는 평행하게 연장되어 있고, 세선편 Ub끼리도 평행하게 연장되어 있기 때문에, 세선편 Ua 및 세선편 Ub가 이루는 각도θ1로 교차한다.
1개의 세선편 Ua와, 이것과 인접하는 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa11은, 이 세선편 Ua와 다음에 인접하는 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa12와 상이하다. 인접하는 2개의 세선편 Ua의 거리는, 제2 방향 Fb에서 보았을 때, 거리 Wa11, 거리 Wa12, 거리 Wa13과 같이, 일정하지 않다.
마찬가지로, 1개의 세선편 Ua와, 이것과 인접하는 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa21은, 이 세선편 Ua와 다음에 인접하는 1개의 세선편 Ua와의 거리 Wa22와 상이하다. 인접하는 2개의 세선편 Ua의 거리는, 제2 방향 Fb에서 보았을 때, 거리 Wa21, 거리 Wa22, 거리 Wa23과 같이, 일정하지 않다.
1개의 세선편 Ub와, 이것과 인접하는 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb11은, 이 세선편 Ub와 다음에 인접하는 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb12와 상이하다. 인접하는 2개의 세선편 Ub의 거리는, 제1 방향 Fa에서 보았을 때, 거리 Wb11, 거리 Wb12와 같이, 일정하지 않다.
마찬가지로, 1개의 세선편 Ub와, 이것과 인접하는 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb21은, 이 세선편 Ub와 다음에 인접하는 1개의 세선편 Ub와의 거리 Wb22와 상이하다. 인접하는 2개의 세선편 Ub의 거리는, 제1 방향 Fa에서 보았을 때, 거리 Wb21, 거리 Wb22, 거리 Wb23과 같이, 일정하지 않다.
1개의 세선편 Uc와, 이것과 인접하는 1개의 세선편 Uc와의 거리 Wc11은, 이 세선편 Uc와 다음에 인접하는 1개의 세선편 Uc와의 거리 Wc12와 상이하다. 인접하는 2개의 세선편 Uc의 거리는, 방향 Da에서 보았을 때, 거리 Wc11, 거리 Wc12, 거리 Wc13과 같이, 일정하지 않다.
마찬가지로, 1개의 세선편 Uc와, 이것과 인접하는 1개의 세선편 Uc와의 거리 Wc21은, 이 세선편 Uc와 다음에 인접하는 1개의 세선편 Uc와의 거리 Wc22와 상이하다. 인접하는 2개의 세선편 Uc의 거리는, 방향 Da에서 보았을 때, 거리 Wc21, 거리 Wc22, 거리 Wc23, 거리 Wc24와 같이, 일정하지 않다.
마찬가지로, 1개의 세선편 Uc와, 이것과 인접하는 1개의 세선편 Uc와의 거리 Wc31은, 이 세선편 Uc와 다음에 인접하는 1개의 세선편 Uc와의 거리 Wc32와 상이하다. 인접하는 2개의 세선편 Uc의 거리는, 방향 Da에서 보았을 때, 거리 Wc31, 거리 Wc32, 거리 Wc33과 같이 일정하지 않다.
실시 형태 3에 있어서도 실시 형태 1과 마찬가지로, 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다. 또한, 실시 형태 3에 있어서, 인접하는 세선편 a 및 세선편 b가 이루는 각도θ1, θ11, θ12가 일정하다. 이로 인해, 검출 전극 TDL에, 가시광이 입사되면, 검출 전극 TDL에 의해 회절 또는 산란되는 광강도 패턴이 확산되기 어려워진다. 이로 인해, 광강도 패턴이 6방향으로 모이기 쉬워, 일정한 지향성이 발현되기 쉽다. 그리고, 시인자가 실시 형태 3에 관한 검출 장치 자체를 기울임으로써, 광강도 패턴이 발현되기 쉬운 각도를 회피하기 쉬워진다. 그 결과, 검출 전극 TDL에 의해 회절 또는 산란되는 광강도 패턴은, 시인하기 어려워진다.
(실시 형태 3의 변형예 1)
도 22는, 실시 형태 3의 변형예 1에 관한 검출 전극의 배치 일부를 도시하는 도면이다. 또한, 상술한 실시 형태 1 및 실시 형태 2에서 설명한 것과 동일한 구성 요소에는 동일한 부호를 부여해서 중복되는 설명은 생략한다.
실시 형태 3에 관한 검출 전극은, 제3 방향 Fc에서 보았을 때, 상이한 세선편 Uc가 일직선 상에 배열되어 있었지만, 실시 형태 3의 변형예 1에 관한 검출 전극은, 제3 방향 Fc에서 보았을 때, 상이한 세선편 Uc가 일직선 상에 배열되어 있지 않다.
실시 형태 3의 변형예 1에 관한 검출 전극은, 실시 형태 2에 관한 검출 전극 TDL과 동일한 작용 효과를 발휘한다.
(실시 형태 4)
도 23은, 실시 형태 4에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 개략적인 단면 구조를 도시하는 단면도이다. 상기 실시 형태 1 내지 3 및 이들의 변형예에 있어서, FFS, IPS 등의 각종 모드의 액정을 사용한 액정 표시 장치(20)와 검출 장치(30)를 일체화해서 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)로 하고 있다. 이 대신에, 도 23에 나타내는 실시 형태 4에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(10)는, TN(Twisted Nematic: 트위스티드 네마틱), VA(Vertical Alignment: 수직 배향), ECB(Electrically Controlled Birefringence: 전계 제어 복굴절) 등의 각종 모드의 액정과 터치 검출 장치를 일체화해도 된다.
이상, 본 발명의 적합한 실시 형태를 설명했지만, 본 발명은 이러한 실시 형태에 한정되는 것은 아니다. 실시 형태에서 개시된 내용은 어디까지나 일례에 부과하며, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 다양한 변경이 가능하다. 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 행하여진 적절한 변경에 대해서도, 당연히 본 발명의 기술적 범위에 속한다.
도 24는, 실시 형태 4의 변형예 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 개략적인 단면 구조를 도시하는 단면도이다. 도 24에 도시하는 바와 같이, 표시 장치(4)는, 검출 전극 TDL 및 구동 전극 COML이 없고, 소위 공통 전극 COM을 구비한다. 검출 장치(7)는, 제3 기판(71)의 표면과 평행한 면으로 연장되는 구동 전극 COML과, 제4 기판(72)의 표면으로 연장되는 검출 전극 TDL을 구비한다. 검출 전극 TDL 및 구동 전극 COML이 대향하도록, 제3 기판(71)과 제4 기판(72)이 광학 접착층(73) 등으로 접합되어 있다. 검출 장치(7)는, 표시 장치(4)와 기판(72)의 수직인 방향으로 중첩되고, 광학 접착층(79) 등으로 고정되어 있다. 이에 의해, 상술한 표시 영역 Ad와 검출 전극 TDL은 기판(72)의 수직인 방향으로 중첩된다.
도 25는, 실시 형태 4의 변형예 2에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 개략적인 단면 구조를 도시하는 단면도이다. 도 25에 도시하는 바와 같이, 표시 장치(4)는, 검출 전극 TDL 및 구동 전극 COML이 없고, 소위 공통 전극 COM을 구비한다. 검출 장치(7)는, 제3 기판(71)의 표면과 평행한 면으로 연장되는 구동 전극 COML을 구비하고 있지 않고, 제4 기판(72)의 표면으로 연장되는 검출 전극 TDL만을 구비한다. 검출 전극 TDL을 보호하도록, 제3 기판(71)과 제4 기판(72)이 광학 접착층(73) 등으로 접합되어 있다. 검출 장치(7)는, 표시 장치(4)와 제4 기판(72)의 수직인 방향으로 중첩되고, 광학 접착층(79) 등으로 고정되어 있다. 이에 의해, 상술한 표시 영역 Ad와 검출 전극 TDL은 기판(72)의 수직인 방향으로 중첩된다. 상술한, 터치 검출부(40)는, 검출 전극 TDL만의 자기 정전 용량의 변화를 검출하는 검출을 행한다. 검출 전극 TDL은, 구동 전극 COML이 없고, 전위차가 발생하지 않기 때문에, 금속의 부식, 마이그레이션이 일어나기 어렵다.
또한, 검출 전극 TDL이 복수의 섬 형상으로 균등 배치되어 있어도 된다. 이 경우, 복수의 검출 전극 TDL이 터치 검출부(40)와 각각 전기적으로 접속된다. 그리고, 터치 검출부(40)에 의해, 외부 근접 물체의 접촉 또는 근접이 발생한 섬 형상의 검출 전극 TDL의 위치가 자기 정전 용량의 변화에 따라 검출된다. 또한, 제4 기판(72)의 표면으로 연장되는 검출 전극 TDL은, 절연층을 통하여 대향하는 2층 구조이며, 각각의 검출 전극 TDL이 상이한 2방향으로 연장되어 있게 해도 된다. 이 경우, 터치 검출부(40)는, 상이한 2방향으로 연장되어 있는 검출 전극 TDL끼리의 평면에서 본 교차 부분의 자기 정전 용량의 변화를 검출한다.
1 : 정보 처리 장치
2 : 화소 기판
3 : 대향 기판
6 : 액정층
10 : 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치
11 : 제어부
12 : 게이트 드라이버
13 : 소스 드라이버
14 : 구동 전극 드라이버
20 : 액정 표시 장치
21 : TFT 기판
22 : 화소 전극
24 : 절연층
30 : 검출 장치
31 : 유리 기판
32 : 컬러 필터
32R, 32G, 32B, 32W : 색 영역
35 : 편광판
40 : 터치 검출부
Ad : 표시 영역
COML : 구동 전극
Dx : 화소 직교 방향
Dy : 화소 배열 방향
GCL : 주사선
ML1 내지 ML7 : 도전성 세선
Pix : 화소
SGL : 신호선
SPix : 부화소
TDA : 검출 영역
TDB1 : 제1 도통부
TDB2 : 제2 도통부
TDD : 더미 전극
TDDS : 분할부
TDG : 검출 배선
TDL : 검출 전극

Claims (19)

  1. 외부 근접 물체를 검출 가능한 검출 장치로서,
    기판과,
    상기 기판의 표면과 평행한 면으로 연장되는, 금속 재료로 제1 단부와 제2 단부를 직선으로 연결한 제1 세선편 및 제2 세선편을 각각 복수 포함하고, 적어도 상기 제1 세선편의 1개와 상기 제2 세선편의 1개가 접속부에서 접속되고, 복수의 세선편끼리가 전기적으로 연결되는, 도전성 세선을 복수 구비하는 복수의 검출 전극을 갖고,
    상기 도전성 세선에 포함되는, 제1 방향으로 연장되는 상기 제1 세선편과, 상기 제1 방향과 상이한 제2 방향으로 연장되는 상기 제2 세선편이 교차해서 이루는 각도가 일정하고,
    또한, 상이한 상기 도전성 세선 상의 상기 제1 세선편끼리의 거리가 일정하지 않고,
    복수의 상기 제1 세선편과 복수의 상기 제2 세선편이 전기적으로 연결되는 복수의 도전성 세선을 구비하고,
    상기 복수의 도전성 세선 중, 인접하는 제1 도전성 세선과 제2 도전성 세선 사이에서, 상기 제1 도전성 세선에 있어서의 1개의 상기 제1 세선편과, 상기 제2 도전성 세선에 있어서의 1개의 상기 제1 세선편은, 제1 단부와 제2 단부를 직선으로 연결한 길이가 상이하고,
    상기 제1 도전성 세선에 있어서의 다른 복수의 상기 제1 세선편과, 상기 제2 도전성 세선에 있어서의 다른 복수의 상기 제1 세선편은, 제1 단부와 제2 단부를 직선으로 연결한 길이가 동일한, 검출 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 검출 전극에 구비된 복수의 도전성 세선에 포함되는, 복수의 상기 제1 세선편과 복수의 상기 제2 세선편이 교차해서 이루는 각도가 모두 일정한, 검출 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 검출 전극에 구비된 복수의 도전성 세선 중, 상이한 도전성 세선 상의 인접하는 상기 제1 세선편끼리의 거리가 랜덤한, 검출 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상이한 직선 상에 있고, 인접하는 상기 제1 세선편끼리는, 상기 제1 세선편의 상기 제1 단부와 상기 제1 세선편의 상기 제2 단부를 직선으로 연결한 길이가 일정하지 않은, 검출 장치.
  5. 삭제
  6. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
    상이한 도전성 세선 상에 있어서, 인접하는 상기 제2 세선편끼리의 거리가 일정하지 않은, 검출 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상이한 도전성 세선 상에 있어서, 인접하는 상기 제2 세선편끼리는, 상기 제2 세선편의 상기 제1 단부와 상기 제2 세선편의 상기 제2 단부를 직선으로 연결한 길이가 일정하지 않은, 검출 장치.
  8. 제6항에 있어서,
    복수의 상기 제1 세선편과 복수의 상기 제2 세선편이 전기적으로 연결되는 복수의 도전성 세선을 구비하고,
    상기 복수의 도전성 세선 중, 인접하는 제1 도전성 세선과 제2 도전성 세선 사이에서, 상기 제1 도전성 세선에 있어서의 1개의 상기 제2 세선편과, 상기 제2 도전성 세선에 있어서의 1개의 상기 제2 세선편은, 제1 단부와 제2 단부를 직선으로 연결한 길이가 상이하고,
    상기 제1 도전성 세선에 있어서의 다른 복수의 상기 제2 세선편과, 상기 제2 도전성 세선에 있어서의 다른 복수의 상기 제2 세선편은, 제1 단부와 제2 단부를 직선으로 연결한 길이가 동일한, 검출 장치.
  9. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 접속부가 상기 제1 세선편과 상기 제2 세선편의 굴곡부인, 검출 장치.
  10. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 접속부가 상기 제1 세선편과 상기 제2 세선편의 교차부이며, 상기 검출 전극이 망 형상인, 검출 장치.
  11. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 검출 전극은, 금속 재료로 제1 단부와 제2 단부를 직선으로 연결한 제3 세선편을 복수 포함하고,
    상기 제3 세선편은, 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향과는 상이한 방향으로 연장되고, 상기 제1 세선편의 1개 및 상기 제2 세선편의 1개 중 적어도 1개에 접속부에서 접속되어 전기적으로 연결되는, 검출 장치.
  12. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 검출 전극에 대하여 정전 용량을 갖고, 구동 신호를 인가하기 위한 복수의 구동 전극을 더 구비하는, 검출 장치.
  13. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 검출 전극만의 자기 정전 용량의 변화를 검출하는, 검출 장치.
  14. 기판과, 상기 기판의 표면과 평행한 면으로 연장되는, 금속 재료로 제1 단부와 제2 단부를 직선으로 연결한 제1 세선편 및 제2 세선편을 각각 복수 포함하고, 적어도 상기 제1 세선편의 1개와 상기 제2 세선편의 1개가 접속부에서 접속되고, 복수의 세선편끼리가 전기적으로 연결되는, 도전성 세선을 복수 구비하는 검출 전극을 갖고, 상기 도전성 세선에 포함되는, 제1 방향으로 연장되는 상기 제1 세선편과, 상기 제1 방향과 상이한 제2 방향으로 연장되는 상기 제2 세선편이 교차해서 이루는 각도가 일정하고, 또한, 상이한 상기 도전성 세선 상의 상기 제1 세선편끼리의 거리가 일정하지 않은 외부 근접 물체를 검출 가능한 검출 장치와,
    상기 기판의 표면과 평행한 면에, 복수의 색 영역을 포함하는 화소가 행렬 형상으로 배치되는 표시 영역을 구비하고,
    상기 표시 영역과 상기 검출 전극은 기판과 수직인 방향으로 중첩되고,
    복수의 상기 색 영역 중, 사람의 시감도가 가장 높은 색 영역이 배열되는 방향을 화소 배열 방향으로 하고, 상기 기판의 표면과 평행한 면 상에 있어서 상기 화소 배열 방향에 대하여 직교하는 화소 직교 방향에 있어서의, 상기 화소 1개분의 최대 길이를 제1 단위 길이로 하고, 상기 화소 배열 방향과 평행한 방향에 있어서의, 상기 화소 1개분의 최대 길이를 제2 단위 길이로 한 경우,
    상기 제1 세선편 또는 상기 제2 세선편은, 상기 화소 배열 방향에 대하여 각도를 갖는 방향으로 연장되고, 그 각도의 정접값은, 상기 제1 단위 길이의 값을 상기 제2 단위 길이의 2배의 값으로 나눈 값보다 크고, 상기 제1 단위 길이의 2배의 값을 상기 제2 단위 길이의 값으로 나눈 값보다 작은 범위에 있고, 또한 상기 제1 단위 길이의 값을 상기 제2 단위 길이의 값으로 나눈 값과는 상이한, 표시 장치.
  15. 삭제
  16. 제14항에 있어서,
    상기 제1 단위 길이의 정수배의 배수값과, 상기 제2 단위 길이의 정수배의 배수값은, 3 이상의 값인, 표시 장치.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 제1 단위 길이의 정수배의 배수값과, 상기 제2 단위 길이의 정수배의 배수값과의 차는, 1인, 표시 장치.
  18. 제14항, 제16항 및 제17항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 표시 영역에 설치된 복수의 화소 전극과,
    상기 화소 전극과 대향해서 설치된, 복수의 구동 전극과,
    화상 신호에 기초하여, 상기 복수의 화소 전극과 상기 구동 전극 사이에 표시용 구동 전압을 인가하는 제어 장치와,
    상기 구동 전극과 대향하는 상기 검출 전극과,
    상기 검출 전극에 접속된 검출부를 구비하고,
    상기 제어 장치는, 상기 복수의 구동 전극 중 구동 신호를 공급하는 구동 전극을 선택해서 주사하고, 상기 검출 전극의 정전 용량 변화로, 상기 검출부가 외부 근접 물체를 검출 가능하게 하는, 표시 장치.
  19. 외부 근접 물체를 검출 가능한 검출 장치로서,
    기판과,
    상기 기판의 표면과 평행한 면으로 연장되는, 금속 재료로 제1 단부와 제2 단부를 직선으로 연결한 제1 세선편 및 제2 세선편을 각각 복수 포함하고, 적어도 상기 제1 세선편의 1개와 상기 제2 세선편의 1개가 접속부에서 접속되고, 복수의 세선편끼리가 전기적으로 연결되는, 도전성 세선을 복수 구비하는 복수의 검출 전극을 갖고,
    상기 도전성 세선에 포함되는, 제1 방향으로 연장되는 상기 제1 세선편과, 상기 제1 방향과 상이한 제2 방향으로 연장되는 상기 제2 세선편이 교차해서 이루는 각도가 일정하고,
    또한, 상이한 상기 도전성 세선 상의 상기 제1 세선편끼리의 거리가 일정하지 않고, 상이한 도전성 세선 상에 있어서, 인접하는 상기 제2 세선편끼리의 거리가 일정하지 않고,
    복수의 상기 제1 세선편과 복수의 상기 제2 세선편이 전기적으로 연결되는 복수의 도전성 세선을 구비하고,
    상기 복수의 도전성 세선 중, 인접하는 제1 도전성 세선과 제2 도전성 세선 사이에서, 상기 제1 도전성 세선에 있어서의 1개의 상기 제2 세선편과, 상기 제2 도전성 세선에 있어서의 1개의 상기 제2 세선편은, 제1 단부와 제2 단부를 직선으로 연결한 길이가 상이하고,
    상기 제1 도전성 세선에 있어서의 다른 복수의 상기 제2 세선편과, 상기 제2 도전성 세선에 있어서의 다른 복수의 상기 제2 세선편은, 제1 단부와 제2 단부를 직선으로 연결한 길이가 동일한, 검출 장치.
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