TWI445352B - 用以使用回送封包產生法測試資料封包收發機之方法 - Google Patents

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Description

用以使用回送封包產生法測試資料封包收發機之方法 發明領域
本發明係有關電子信號收發機之測試方法，更特定於，經由資料封包傳遞來測試數位信號收發機之測試方法。
 發明背景
當執行製造數位信號收發機之測試時，通常需建立專屬的製造測試軟體驅動器。該類驅動器可以是獨立的並專屬於測試該受測裝置(DUT)，或可以是附加在包括與使用於該最終產品之正常軟體驅動器的輔助功能。該類驅動器典型可提供需達到特別的測試模式之特別功能，以確定該最終產品之綜合測試。該類測試模式有時於設計程序之初期開發以協助晶片設計者於初期開發時期可接取與測試該裝置。然而，若該等驅動器亦使用於製造測試期間，則大量生產時其通常會造成一次佳的實施態樣。
一種已證明於製造測試時可提供顯著改善之方法係使用多個資料封包來測試。該類方法於下列美國專利申請案中說明，在此每一申請案之揭示內容合併於本文中以供參考：2005年8月12日申請之美國專利申請案第11/161,692號，名為“用以測量一信號產生器發射之一信號的多個參數之方法”；2007年6月21日申請之美國專利申請案第11/766,282號，名為“用以測試無線裝置之系統與方法”；以及2007年8月16日申請之美國專利申請案第11/839,814號，名為“用以測試一嵌式無線收發機之系統”。然而，提供以多個資料封包來執行測試之功能通常需要該製造軟體驅動器中非該產品晶片開發之其他部分的功能合併，亦即，該等額外功能對於正常晶片操作是不需要的，但其必須加入該軟體驅動器以支援使用多個資料封包來測試的製造方法。
某些實例中，加入執行該類製造測試所需的功能可能有問題，因為該軟體有時必須以一種方式來寫入，該方式使該DUT執行所期待之功能而不需額外重要的軟體附加負擔變得更加困難，而有時甚至有以該積體電路中額外的可規劃互連體的型式之硬體附加負擔，兩者皆會降低以多個資料封包來測試的效益，以及負面影響稍後的正常操作。
此外，某些實例中，開發該測試軟體時之測試期間，可能無法識別該DUT部分之所有需求。因此，造成該軟體之多個疊代，或者，該軟體之功能性的不必要“過度設計”。
於是，所期待的是能達到以多個資料封包測試所提供的益處，同時避免該等限制與缺點。
 發明概要
根據本請求專利發明，其提供一種藉由於一或更多測試儀器與一受測裝置(DUT)間傳遞具有諸如資料封包類型、傳輸功率或傳輸頻率之至少一種互相不同的信號特性之多個資料封包來測試該DUT之一資料封包收發機的方法。
根據本請求專利發明之一實施例，一種藉由於一或更多測試儀器與一受測裝置(DUT)間傳遞多個資料封包來測試該DUT之一資料封包收發機的方法，其包含下列步驟：規劃該DUT之回送操作，其中一接收之資料封包受解碼來產生解碼資料，而該解碼資料受編碼來產生一對應的新資料封包以供發射；以一或更多測試儀器來發射多個連續測試資料封包以供該DUT接收，其中該等多個發射的連續測試資料封包之至少第一與第二部分具有包括資料封包類型、傳輸功率與傳輸頻率之多個互相不同的信號特性之至少一種；以該一或更多測試儀器來接收來自該DUT之多個連續DUT資料封包；以及處理該等多個連續DUT資料封包。
根據本請求專利發明之另一實施例，一種藉由於一或更多測試儀器與一受測裝置(DUT)間傳遞多個資料封包來測試該DUT之一資料封包收發機的方法，其包含下列步驟：規劃該DUT之回送操作，其中一接收之資料封包受解碼來產生解碼資料，而該解碼資料受編碼來產生一對應的新資料封包以供發射；於該一或更多測試儀器與該DUT之間，藉由下列步驟來傳遞多個個別的資料封包，該步驟包括下列步驟：以該一或更多測試儀器對多個測試資料編碼以產生一測試資料封包，以該一或更多測試儀器來發射該測試資料封包，以該DUT來接收該測試資料封包，以該DUT來對該接收之測試資料封包解碼以產生多個DUT資料，以該DUT來對該等多個DUT資料編碼以產生一DUT資料封包，以該DUT來發射該DUT資料封包，以該一或更多測試儀器來接收該DUT資料封包；以及重複多個測試資料之編碼、該發射該測試資料封包、該接收該測試資料封包、該將該接收之測試資料封包解碼、該將該等多個DUT資料編碼、該發射該DUT資料封包以及該接收該DUT資料封包來產生多個測試資料封包、多個發射之測試資料封包以及多個接收之DUT資料封包，其中該等多個發射之測試資料封包中所選定的個別封包具有包括資料封包類型、傳輸功率與傳輸頻率之多個互相不同信號特性的至少其中之一；以及處理該等多個接收之DUT資料封包。
圖式簡單說明
第1圖是一描述根據本請求專利發明，具有一或更多測試儀器之一受測裝置(DUT)的產品測試之功能方塊圖。
第2圖是一描述根據本請求專利發明之一示範實施例的一測試方式之信號序列。
第3圖是一描述根據本請求專利發明之一示範實施例的一測試方式之信號序列。
第4圖是一根據本請求專利發明之一示範實施例的一測試方式之流程圖。
第5圖是一識別根據本請求專利發明之一示範實施例，以各種不同傳輸功率發射之各種不同資料封包的表格。
第6圖是一描述根據本請求專利發明之一示範實施例的一測試方式之信號序列。
第7圖是一根據本請求專利發明之一示範實施例的一測試方式之流程圖。
 較佳實施例之詳細說明
下列詳細說明參照該等伴隨圖示係本要求專利發明之示範實施例。參照本發明之範疇該類說明意欲舉例解說而非加以限制。該類實施例相當詳細說明使得業界熟於此技者可實作本主題發明，而應了解在不違背本主題發明之精神或範疇下，其他實施例具有某些變化型態時亦可加以實作。
參照第1圖，根據本要求發明，一或更多測試儀器10用來測試使用一回送操作22之該DUT 20。如下文更詳細討論，此允許該測試之控制的大部分，若非全部，從該DUT 20移至該(等)測試儀器10。該(等)測試儀器10用以響應該DUT 20於某些延遲後轉回該類資料封包之複本至該(等)測試儀器10以供分析而發射分析所需之資料封包的類型。(如本文所述，該(等)測試儀器10應提供信號發射、信號接收與信號分析的功能。可容易體認，根據該等功能如何被加以實施，該類儀器設備可由一部測試儀器或藉由將多部測試儀器耦合一起來加以實施。)
該發射信號11包括該(等)測試儀器10產生之資料封包100。該DUT 20，其回送操作22之一部分，接收該等資料封包100、將該資料解碼並且之後將該資料重新編碼以產生包含供該(等)測試儀器10分析之對應資料封包200的一轉回發射信號21。該類轉回資料封包200可針對，諸如功率、品質(例如，錯誤向量值(EVM))、光譜特性(例如，相關光譜、或傳輸、遮罩)、等等之各種不同的發射參數來加以分析。此外，因為該DUT 20接收該等測試資料封包100並將其回送，所以該(等)測試儀器10了解應期待何種轉回資料，一旦解碼後，該類轉回資料封包可與該等原始的測試資料封包比較，使該DUT 20之該位元錯誤比率(BER)被加以判定。若該等測試資料封包100的其中之一或更多封包尚未由該DUT 20接收，則無對應的資料封包被接收來作為該等轉回資料封包200之一部分，因而使該DUT 20之該封包錯誤比率(PER)被加以判定。業界熟於此技者可容易體認該類測試可並列實施，亦即，測試資料封包100被發射時轉回資料封包200實質上同時被接收，因而使得該DUT 20之發射與接收功能兩者被並列測試。
因此，實際上容許該測試類型所需的是，用以響應該DUT 20設定該正確操作頻率或多個頻率以接收該進入信號11以及發射該向外信號21，而提供至該DUT 20之一或更多適當的控制信號或程式設計23，因此容許該回送模式22。
較佳情況是，該(等)測試儀器10發射之該等測試資料封包100為該測試回送模式之一部分，其包括具有不同信號特性之一序列資料封包，該等特性包括不同的資料封包類型、不同的資料封包傳輸準位、或功率、與不同的資料封包傳輸頻率。
參照第2圖，根據本請求專利發明之一示範實施例，用以響應該DUT 20轉回一序列資料封包信號202、204、206，該等測試資料封包100包括一序列資料封包102、104、106。具有一平均傳輸功率103之該第一測試資料封包102由該DUT 20接收(第1圖)，該DUT 20將其解碼之後並將該接收資料重新編碼以發射具有一平均傳輸功率201之一轉回資料封包202。(應容易體認該平均傳輸功率201較高並且於所有轉回資料封包200中一般為常數，因為其以該DUT 20之該實體發射準位來發射並僅因該DUT 20與測試儀器10間之耗損而衰減)使用該轉回資料封包202，該(等)測試儀器10可分析該接收信號202之特性，諸如其功率準位201、光譜特性、傳輸品質(例如，EVM)、等等。此外，該(等)測試儀器10可將該接收資料封包202解調變與解碼，並與該DUT 20原始發射會衍生該BER之該對應測試資料作比較。同樣地，該PER可藉由確認從該DUT 20接收之一資料封包是否對應一原始發射的測試資料封包來加以判定，或者，僅確認是否已接收一正確的資料封包。藉由包括該(等)測試儀器10發射之封包中的循環冗餘檢測(CRC)資料，該(等)測試儀器10可輕易確認該DUT 20接收正確的資料封包。若該DUT 20接收具有一CRC錯誤之一封包，則該封包將被丟棄或不理會，並且無轉回封包送回該(等)測試儀器10。於是，該(等)測試儀器10可藉由僅計數該轉回資料封包之數量來計算PER。
接收該第一轉回資料封包202之後，便發射另一測試資料封包104。該下一資料封包104為一不同類型並位於一不同的傳輸準位105。針對該資料封包104，該傳輸準位105較高以達成一較高信號雜訊比(SNR)，因此提供該DUT 20一較高的輸入功率準位，當並列測試該DUT 20之BER與PER與測試該DUT傳輸信號21之品質時是相當有用的。該DUT 20用以響應而轉回一對應資料封包204。之後再以一不同傳輸準位107以及一不同資料類型或調變類型來發射該下一測試資料封包106。該DUT 20轉回時，以該期待之傳輸功率201來答覆一對應資料封包206。
一般而言，由於該DUT 20以較該(等)測試儀器10之該等功率準位103、105、107高的功率準位201來發射，所以該(等)測試儀器應不會經歷與一低SNR相關聯之接收問題，而若該傳輸品質令人滿意時，該等轉回資料封包202、204、206之該等個別位元一般可被解調變。該傳輸品質，亦即，該DUT 20之部分會被監控，亦可確保該測試之品質。保持該最小傳輸品質具有一高SNR可確保該等轉回資料封包202、204、206之正確解調變，因而確保任何的位元錯誤可假設僅於該DUT 20中而非該(等)測試儀器10中發生。
目前為止該討論已假設該DUT 20會接收所有該等發射資料封包100。然而，若有一或更多資料封包該DUT 20無法接收(以該(等)測試儀器10接收對應的轉回資料封包失敗來辨識)，則必要時該(等)測試儀器10可僅發射相同類型之一或更多額外的資料封包。若測試資料封包100繼續被該DUT 20遺漏，則若有需要，該等測試資料封包100之傳輸功率亦可增加。然而，於某些點，若該等測試資料封包100繼續被該DUT 20遺漏，則可能表示一損壞的DUT 20而該等測試資料封包100之傳輸應終止。
業界熟於此技者應容易了解，如本文所述，該等發射與接收功能可能互斥，諸如分時雙工(TDD)系統中通常是正確的。當然，若該DUT 20能夠同時發射與接收，諸如並列、或同時進行，則發射與接收功能可用於該測試期間、時間上(亦即，該等測試資料封包100與轉回資料封包200之間)有一偏置期間，而該DUT 20中之發射器與接收器可以不同頻率來操作。
參照第3圖，該DUT 20中以不同頻率接收與發射可使其開始接收該等測試資料封包102、104、106後，立即開始發射其轉回資料封包202、204、206。例如，接收該第一測試資料封包102後，該DUT 20可開始發射其第一轉回資料封包202，而仍同時接收該第二測試資料封包104。(此範例中，該發射器與接收器不完全同步；然而，業界熟於此技者應容易了解，該發射器與接收器可同步藉此發射與接收之資料封包可於定義之時槽中對齊。)(如圖中所見，該接收之測試資料封包與其對應之轉回資料封包間會有一時間延遲，但只要該DUT 20中之該回送操作22完成則其可縮至最小。)
參照第4圖，例如，藉由規劃該DUT 20於一回送模式中操作，則根據本請求專利發明之一示範實施例40的一測試方式從該(等)測試儀器10之準備儀器42與該DUT 20之準備DUT 44開始。(雖然在此連續顯示，但該等準備42與44可以任何順序或並列開始。)該(等)測試儀器10之準備儀器42包括該所欲之測試序列、資料封包類型、傳輸功率與傳輸頻率、以及資料比較與分析之類型的準備。該DUT 20之準備DUT 44包括規劃該DUT 20於該所欲頻率時回送操作，並亦可包括規劃該DUT 20藉由將一初始資料封包送至該(等)測試儀器以建立該系統時序並指出其讀數來開始測試。下列說明中，假設該(等)測試儀器10開始該測試序列。
當該(等)測試儀器10與該DUT 20就緒時，該(等)測試儀器10藉由將一資料封包發射至該DUT 20來開始46。該資料封包已發射時，該內部封包計數器便增加48。之後儀器10等待接收來自該DUT 20之一轉回資料封包。若無封包轉回，則該(等)測試儀器10送出另一資料封包46。可容易體認某些實例中，該DUT 20開始以其自身資料封包答覆前，需有超過一個資料封包被發射。
若接收到一轉回資料封包，則該接收資料封包計數器便增加52，因而允許計算發射與接收資料封包間之一比例。若測試需求包括一BER變換54，則該接收資料封包可破解調變而其內容會與該初始發射之測試資料封包的內容作比較。
此外，接收到一轉回資料封包時，其一開始可檢查是否需要分析56。若需要，則該資料封包被分析58。或者，該資料封包可被儲存於記憶體中以供稍後分析，例如，於完成整個測試序列之後。分析所需之時間較資料封包間之時間長時，於時間同步系統中通常需此步驟。
接著是任何所需分析之一判定60。若需進一步分析，則發射另一資料封包46，而該等程序一直重複。然而，若不需進一步分析、或無任何分析，則可計算該PER 62，例如，藉由計算期待未接收之轉回資料封包的數量與發射測試資料封包的數量之比例，接著該測試完成64。
如上所述，若該測試期間超過一種測試資料封包的類型被發射，則可能需要分開該BER與PER測試，例如，藉由分開追蹤發射的資料封包類型、接收的資料封包類型以及該對應的位元錯誤計數。同樣地，從該分析取得之發射資料需被分開。例如，若計算該相同資料封胞之多個擷取的平均EVM，則相關該DUT 20發射之資料封包的類型，該EVM一般是分開的。例如，根據藍芽標準，該EVM針對2 Mbps與3 Mbps封包來分析，其具有不同的限制，因而分析前需要分開的EVM值。然而，這很簡單，因為若有需要，該(等)測試儀器10可控制該等發射之資料封包並可考量與分開追蹤轉回之資料封包。同樣地，於發射測試至資料封包而不接收對應的轉回資料封包之案例中，該(等)測試儀器10可持續追蹤分析所需之資料封包的數量，而此可能比其他需要需發射更多測試至資料封包。然而，若未正確接收一資料封包，而因此出現不同於發射的類型，則該(等)測試儀器10可分析該等接收之資料位元來識別該類的錯誤封包。
從上述說明中應相當明顯地，該類測試方法允許一DUT 20以該DUT 20與該(等)測試儀器10間所需之最少互動的一種簡單方式來測試。例如，一旦該DUT 20之操作頻率已被設定，則該(等)測試儀器10可開始將資料封包100送至該DUT 20，之後其將該等資料封包回送來作為轉回資料封包200至該(等)測試儀器10。該(等)測試儀器10可並列測試該發射效能與接收效能。然而，亦不提供該DUT 20之更廣泛控制的情況下，該DUT 20之該傳輸功率與頻率通常保持固定於個別預定值。亦不提供一種方式來將控制或測試資料從該DUT 20轉移至該(等)測試儀器10的情況下，例如，藉由某些型式之查詢功能，以一種接收信號強度指示(RSSI)型式之該DUT 20的接收功能之進一步測試便無法輕易達成。
然而，根據本請求專利發明之一示範實施例，該DUT 20可根據該預定序列來規劃以改變其傳輸功率。例如，該DUT可規劃針對每N個接收之測試資料封包來改變其傳輸功率。該DUT傳輸功率之如此改變並不影響其接收功能，因此該(等)測試儀器10可以與該DUT傳輸功率無關之相同準位於該序列期間來發射所有測試資料封包。
參照第5圖，根據本技術之一範例，每50(N=50)個接收之測試資料封包發射後，該DUT 20將改變其傳輸功率。此表格一次讀取一直行。因此，根據該第一直行(TXpower1)，該(等)測試儀器10(用以響應該DUT 20發射十個轉回資料封包而)發射類型1之封包直到該DUT 20已接收十個該類測試資料封包為止。該(等)測試儀器10之後發射類型2資料封包直到該DUT 20已接收十個該類資料封包為止。此程序重複資料封包類型3、4與5，而所有該類資料封包以該相同傳輸功率發射。現在已接收五十個測試資料封包(十個類型1+十個類型2+十個類型3+十個類型4+十個類型5)，該DUT 20現在改變至該下一傳輸功率準位(TXpower2)，其中每一資料封包類型之十個封包再次由該(等)測試儀器10發射，接著該DUT 20改變至該下一發射功率準位(TXpower3)。該功率準位TXpower3時，該(等)測試儀器10改變該發射序列藉此二十個類型1的資料封包接著十個類型3、4與5的測試資料封包發射。現在已接收另外五十個測試資料封包，該DUT 20改變其傳輸功率至該下一準位TXpower4。該功率準位TXpower4時，該(等)測試儀器10發射二十個類型2的測試資料封包，之後十個類型3、4與5的測試資料封包另一全部五十個的測試資料封包。該DUT 20之後改變其傳輸功率至該下一準位TXpower5，而再次發射、接收與轉回十個每一類型的測試資料封包。之後接著該DUT 20於個別的功率傳輸準位TXpower6、TXpower7、TXpower8、TXpower9、TXpower10來轉回五十個針對資料封包類型1、2、3、4與5之每一類型的資料封包。(該等封包類型與傳輸功率之組合僅為範例，而事實上根據本請求專利發明可有一無限之組合數量。)
該DUT 20僅需計數其需以每一傳輸功率準位發射之所有封包數量。該(等)測試儀器10藉由將該等適當的資料封包類型發射至該DUT 20來控制發射何種資料封包類型以供該DUT 20轉回。於是，該DUT 20中之實施態樣相當簡單，因為其僅需計數該等適當的接收資料封包而一旦已接收該期待之數量，該傳輸功率準位可改變至該下一預定準位。
該序列可進一步延伸以包括多種頻率。例如，針對實際上之功率準位與頻率的任何組合數量，於一第一功率準位TXpower1與頻率TXfrequency1之五十個資料封包、接著於一第二功率準位TXpower2與頻率TXfrequency2之五十個資料封包、接著於一第三功率準位TXpower3與頻率TXfrequency3之另外五十個資料封包、等等。
如上所述，從該DUT 20擷取RSSI資訊會更加困難。因為該等資料封包中之該資料由從該(等)測試儀器10發射之該測試資料來定義，當回送該等資料封包而不修改RSSI資訊時，該DUT無法傳達RSSI資訊。可使該DUT 20儲存RSSI資訊以供之後的擷取，於製造測試期間從一DUT 20接取資料通常有問題並且相當耗時。
然而，根據本請求專利發明，當其內部RSSI測量指出與一預定準位或於一預定範圍中匹配時，即可使該DUT 20回送，亦即，轉回資料封包。該(等)測試儀器10之後可藉由以各種不同傳輸功率發射測試資料封包100來搜尋該所欲準位或範圍，例如，根據一“溫度計”搜尋。或者，該測量之RSSI大於或等於一所欲準位時，該DUT 20可規劃來回送資料封包，因而可使用一二進制搜尋演算法，因為其可輕易被判定一數值是否小於、大於或等於一所欲數值。因為一二進制搜尋通常於一預定數量之接收資料封包中產生該結果所以其更有利，所以該DUT 20針對一已知數量之資料封包可進入一RSSI測試模式，並且之後已接收該特定數量之資料封包時自動離開該類測試模式。一“溫度計”搜尋會需要一較大量之測試資料封包，除非已知該測試於接近該期待之RSSI臨界值時開始，其中每一技術皆應令人滿意。(該類測試模式中，該DUT 20之接收與發射功能的並列測試更加複雜，因為該搜尋期間可能不知有多少資料封包從該DUT 20轉回，針對一給定信號準位其將根據該RSSI資訊。)
參照第6圖，根據本請求專利發明之一示範實施例，可加以實施使用一二進制搜尋方法之一RSSI測試。假設該測量RSSI準位低於或等於該所欲準位時，該DUT 20將轉回一資料封包。因此，該第一測試資料封包112以一低功率準位113來發射，該準位選擇為低於需確認該DUT 20可確保可靠接收該類資料封包112的準位。該DUT 20用以響應而轉回一對應資料封包212，因而指出事實上，該接收功率準位113低於或等於該所欲準位。該(等)測試儀器10之後改變至該下一資料封包114發射時之一新功率準位115。該DUT 20並不以一資料封包來答覆，因而指出該接收之功率準位高於該所欲之功率準位。該(等)測試儀器10將傳輸功率降低至該下一資料封包116發射時之一較低值117。此外，該傳輸功率117仍太高所以該DUT 20不答覆。該(等)測試儀器10之後進一步降低功率至一較低值119以供發射該下一資料封包118。此造成從該DUT 20轉回一資料封包218，因而指出該測試資料封包功率準位119低於或等於該期待之RSSI準位。該(等)測試儀器10之後將該傳輸功率增加至該下一資料封包120發射時之一新準位121。若該RSSI準位仍低於或等於該期待準位時，該DUT 20藉由轉回一對應資料封包220來回應。可容易體認該(等)測試儀器10可繼續增加該傳輸功率準位直到該DUT 20再次轉回一對應資料封包失敗時為止，因而確認該期待之RSSI準位。
此技術可針對RSSI之校準與確認兩者來運作，因為該(等)測試儀器10發射之該最後功率準位與該DUT 20之該期待RSSI準位已知，因而允許該輸入準位與該期待RSSI間之差異的計算。此可用來計算該所需偏置或僅判定該RSSI準位通過或失敗。
另一有用功能是校準傳輸信號功率。現存有許多校準方法，而許多方法包括一前授校準，其中該DUT 20以一或更多預定之功率準位(或控制暫存器設定，例如，針對IQ失配)來發射，而該所欲之效能可從有關該DUT 20中使用之該等發射設定的該測量資料與資訊來推斷。此之後可與一預定數量之資料封包以一給定的功率設定來發射，之後該等控制參數改變至不同設定而重複該序列的一連續方法來結合。
參照第7圖，根據本請求專利發明之一示範實施例的一校準序列從該(等)測試儀器10之準備儀器72與該DUT 20之準備序列74開始，以執行一定義之序列組合，而該部段計數器/索引n重置為零(n=0)。該n=0之第一序列之後受致動76。該(等)測試儀器10發射一測試資料封包78。若該DUT 20轉回一資料封包80，則該(等)測試儀器接收之該資料封包受分析82。若無資料封包從該DUT 20轉回，則該(等)測試儀器10將送出一新的資料封包78。當一轉回資料封包已被接收並分析82時，不論該序列是否已完成，該(等)測試儀器10與該DUT 20將確認84。若未完成，則另一資料封包從該(等)測試儀器10發射。若該序列完成，則該部段計數器n增加86以準備選定該DUT 20中之下一序列。此通常造成規劃進入該DUT 20中之控制暫存器的不同設定，例如，控制該功率、頻率或其他參數。若所有序列已被執行88，則該測試完成90。若未執行，則根據該新的序列計數器值n來選定該下一序列76，而該測試繼續下去。
有利情況是，如上述之該回送測試模式允許並列執行多個校準，例如，於需要十個資料封包從作為一藍芽增強資料速率(EDR)發射器之一DUT 20轉回的一序列中。當一發射器於基本模式(高斯頻率移位鍵控(GFSK)調變)操作，而之後於一EDR模式(8相移位鍵控(8PSK)調變)操作時，有時需要一分開的功率校準。該DUT 20僅知道其需接收與轉回十個資料封包之複製封包。因此，該(等)測試儀器10可將基本速率封包送至該DUT 20直到有五個封包已從該DUT 20轉回為止，接著其可改變送出EDR封包直到剩餘五個封包已從該DUT 20轉回為止。此允許該等兩種模式之校準實際上並列發生(例如，相交叉)，因為假設多個準位已被測試作為一完整校準序列之一部分。
該類校準序列期間，不需分析所有轉回資料封包。例如，該(等)測試儀器10可僅計數從該DUT 20轉回之該第一群組資料封包並僅分析該等剩餘資料封包。此允許分析之前該DUT發射器便決定該正確的功率準位。此外，可並列執行該RSSI測試與校準序列。再者，所有該等測試與序列可於各種不同功率準位上、以及不同頻率上執行，因而使該測試可於一單一序列中執行。該(等)測試儀器10與該DUT 20間之同步可根據2007年8月16日申請之美國專利申請案第11/839,788號，名為“用以校準與確認一無線通訊設備之裝置、系統與方法”中揭示之該等技術來完成，其揭示內容合併於本文中以供參考。
在不違背本發明之範疇與精神下，對業界之熟於此技者而言很明顯地本發明之操作的結構與方法可作其他各種不同的修改與替代。雖然本發明以相關特定的較佳實施例來加以說明，但應了解本要求發明不應過度地侷限於該類特定實施例中。下列申請專利範圍意欲定義本發明之範疇而該等申請專利範圍之範疇中的結構與方法以及其等效元件亦涵蓋其中。
1、2、3、4、5．．．資料封包類型
10．．．測試儀器
11．．．發射信號
20．．．受測裝置
21．．．轉回發射信號
22．．．回送操作
23．．．程式設計
40．．．示範實施例
42、72．．．準備儀器
44．．．準備DUT
46、78．．．送出封包
48．．．內部封包計數增加
50、80．．．接收封包
52．．．接收封包計數增加
54．．．BER整流
56．．．是否需分析
58、82．．．分析資料封包
60．．．判定是否需分析
62．．．計算PER
64、90．．．測試完成
74．．．準備序列
76．．．設定DUT序列
84．．．判定序列已完成？
86．．．部段計數器增加
88．．．已執行所有序列
100．．．資料封包
102、104、106．．．測試資料封包
103、201．．．平均傳輸功率
105、107．．．傳輸功率
112．．．第一測試資料封包
113、115．．．功率準位
114、116、118、120．．．資料封包
117、119、121．．．傳輸功率值
200、202、204、206．．．轉回資料封包
212、220．．．對應資料封包
218．．．轉回資料封包
第1圖是一描述根據本請求專利發明，具有一或更多測試儀器之一受測裝置(DUT)的產品測試之功能方塊圖。
第2圖是一描述根據本請求專利發明之一示範實施例的一測試方式之信號序列。
第3圖是一描述根據本請求專利發明之一示範實施例的一測試方式之信號序列。
第4圖是一根據本請求專利發明之一示範實施例的一測試方式之流程圖。
第5圖是一識別根據本請求專利發明之一示範實施例，以各種不同傳輸功率發射之各種不同資料封包的表格。
第6圖是一描述根據本請求專利發明之一示範實施例的一測試方式之信號序列。
第7圖是一根據本請求專利發明之一示範實施例的一測試方式之流程圖。
10．．．測試儀器
11．．．發射信號
20．．．受測裝置
21．．．轉回發射信號
22．．．回送操作
23．．．程式設計
100．．．資料封包
200．．．轉回資料封包

Claims (18)

  1. 一種藉由於一或更多測試儀器與一受測裝置(DUT)間傳遞多個資料封包來測試該DUT之一資料封包收發機的方法，包含下列步驟：規劃該DUT之回送操作，其中一接收之資料封包受解碼來產生解碼資料，而該解碼資料受編碼來產生一對應的新資料封包以供發射；以該一或更多測試儀器來發射多個連續測試資料封包以供該DUT接收，其中，依照該DUT之該規劃，該等多個發射連續測試資料封包之至少第一與第二部分具有包括資料封包類型、傳輸功率與傳輸頻率之多個互相不同的信號特性之至少一種；以該一或更多測試儀器來接收來自該DUT之多個連續DUT資料封包，其中，與該DUT之該規劃相符，該等多個連續DUT資料封包之該至少第一與第二部分具有該等多個互相不同的信號特性之至少一種；以及處理該等多個連續DUT資料封包。
  2. 如申請專利範圍第1項之方法，其中該發射該等多個連續測試資料封包以及該接收該等多個連續DUT資料封包，包含實質上同時發射該等多個連續測試資料封包之一部分以及接收該等多個連續DUT資料封包之一部分。
  3. 如申請專利範圍第1項之方法，其中：該發射該等多個連續測試資料封包之步驟包含下列步驟： 對多個測試資料編碼以產生一測試資料封包，以及發射該測試資料封包；該方法更包含下列步驟：以該DUT來接收該測試資料封包，以該DUT來對該接收之測試資料封包解碼以產生多個DUT資料，以該DUT來對該等多個DUT資料編碼以產生一DUT資料封包，以及以該DUT來發射該DUT資料封包；該接收該等多個連續DUT資料封包之步驟包含接收該DUT資料封包；以及該處理該等多個連續DUT資料封包包含下列步驟：對該接收之DUT資料封包解碼以產生多個接收資料，以及比較該等多個測試資料與接收資料。
  4. 如申請專利範圍第1項之方法，其中該處理該等多個連續DUT資料封包之步驟包含比較該等多個連續DUT資料封包之個別封包與該等多個連續測試資料封包之相對應封包。
  5. 如申請專利範圍第1項之方法，其中該處理該等多個連續DUT資料封包之步驟包含計算該DUT之一封包錯誤比例(PER)。
  6. 如申請專利範圍第1項之方法，其中該處理該等多個連續DUT資料封包之步驟包含計算該DUT之一位元錯誤 比例(BER)。
  7. 如申請專利範圍第1項之方法，其中該處理該等多個連續DUT資料封包之步驟包含下列步驟之一或更多步驟：計算該DUT之一錯誤向量值(EVM)；測量從該DUT接收之該等多個連續DUT資料封包的一功率準位；以及測量與從該DUT接收之該等多個連續DUT資料封包相關聯的一光譜遮罩。
  8. 如申請專利範圍第1項之方法，更包含規劃該DUT於回送操作期間之排序，其中：多個接收資料封包受解碼來產生多個解碼資料；該等多個解碼資料受編碼來產生一對應的多個新資料封包以供發射；以及該等多個新資料封包之個別部分以至少一種互相不同的傳輸功率準位與傳輸頻率來發射。
  9. 如申請專利範圍第1項之方法，其中：該等多個連續測試資料封包之每一封包包括循環冗餘檢測(CRC)資料；以及遭遇一CRC錯誤時，該等多個連續DUT資料封包小於該等多個連續測試資料封包。
  10. 一種藉由於一或更多測試儀器與一受測裝置(DUT)間傳遞多個資料封包來測試該DUT之一資料封包收發機的方法，包含下列步驟：規劃該DUT之回送操作，其中一接收之資料封包受 解碼來產生解碼資料，而該解碼資料受編碼來產生一對應的新資料封包以供發射；於該一或更多測試儀器與該DUT之間，藉由下列步驟來傳遞多個個別的資料封包，該步驟包括下列步驟：以該一或更多測試儀器對多個測試資料編碼以產生一測試資料封包，以該一或更多測試儀器來發射該測試資料封包，以該DUT來接收該測試資料封包，以該DUT來對該接收之測試資料封包解碼以產生多個DUT資料，以該DUT來對該等多個DUT資料編碼以產生一DUT資料封包，以該DUT來發射該DUT資料封包，以該一或更多測試儀器來接收該DUT資料封包，以及重複多個測試資料之編碼、該發射該測試資料封包、該接收該測試資料封包、該將該接收之測試資料封包解碼、該將該等多個DUT資料編碼、該發射該DUT資料封包以及該接收該DUT資料封包來產生多個測試資料封包、多個發射之測試資料封包以及多個接收之DUT資料封包，其中該等多個發射之測試資料封包中所選定的個別封包具有包括資料封包類型、傳輸功率與傳輸頻率之多個互相不同信號特性的至少其中之一；以及 處理該等多個接收之DUT資料封包。
  11. 如申請專利範圍第10項之方法，其中該發射該測試資料封包以及該發射該DUT資料封包，包含至少部分同時發射該測試資料封包與該發射該DUT資料封包。
  12. 如申請專利範圍第10項之方法，其中該處理該等多個接收之DUT資料封包包含下列步驟：對該等多個接收之DUT資料封包的每一封包解碼以產生一對應多個接收資料，以及比較該等多個測試資料與接收資料。
  13. 如申請專利範圍第10項之方法，其中該處理該等多個接收之DUT資料封包之步驟包含比較該等多個接收之DUT資料封包之個別封包與該等多個測試資料封包之相對應封包。
  14. 如申請專利範圍第10項之方法，其中該處理該等多個接收之DUT資料封包之步驟包含計算該DUT之一封包錯誤比例(PER)。
  15. 如申請專利範圍第10項之方法，其中該處理該等多個接收之DUT資料封包之步驟包含計算該DUT之一位元錯誤比例(BER)。
  16. 如申請專利範圍第10項之方法，其中該處理該等多個接收之DUT資料封包之步驟包含下列步驟之一或更多步驟：計算該DUT之一錯誤向量值(EVM)；測量從該DUT接收之該等多個連續DUT資料封包的一功率準位；以及 測量與從該DUT接收之該等多個連續DUT資料封包相關聯的一光譜遮罩。
  17. 如申請專利範圍第10項之方法，更包含規劃該DUT於該回送操作期間之排序，其中：多個接收資料封包受解碼來產生多個解碼資料；該等多個解碼資料受編碼來產生一對應的多個新資料封包以供發射；以及該等多個新資料封包之個別部分以至少一種互相不同的傳輸功率準位與傳輸頻率來發射。
  18. 如申請專利範圍第10項之方法，其中：該測試資料封包包括循環冗餘檢測(CRC)資料；以及遭遇一CRC錯誤時，該等多個接收之DUT資料封包小於該等多個發射之測試資料封包。
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