CN102090022B - 利用回送分组生成来测试数据分组收发器的方法 - Google Patents
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Abstract
一种通过在一个或多个测试仪和被测设备(DUT)之间传送多个数据分组来测试作为被测设备(DUT)的数据分组收发器的方法,所述多个数据分组具有至少一种相互不同的信号特性,诸如数据分组类型、传输功率或传输频率。
Description
技术领域
本发明涉及电子信号收发器的测试方法,更具体地说,涉及测试借助数据分组进行通信的数字信号收发器的测试方法。
背景技术
当进行数字信号收发器的制造测试时,常常需要创建专用制造测试软件驱动器。这样的驱动器可以是独立的并专用于测试被测设备(DUT),或者可以是加入到包括在最终产品中并在最终产品中使用的普通软件驱动器中的补充功能。这样的驱动器一般提供实现特殊测试模式所需的特殊功能,以确保最终产品的全面测试。这种测试模式有时是早先在设计过程中开发的,以帮助芯片设计人员在早期开发阶段访问和测试设备。然而,如果在制造测试中也使用这些驱动器,那么它们常常导致对批量生产来说不那么理想的实现。
已证明在制造测试时间方面带来显著改进的一种方法是使用采用多个数据分组的测试。在下面的美国专利申请(其公开内容均在此引为参考)中描述了这样的方法:2005年8月12日提交的美国专利申请11/161,692,“Method For Measuring Multiple Parameters Of A SignalTransmitted By A Signal Generator”;2007年6月21日提交的美国专利申请11/766,282,“System And Method For Testing WirelessDevices”;和2007年8月16日提交的美国专利申请11/839,814,“System For Testing An Embedded Wireless Transceiver”。然而,提供进行采用多个数据分组的测试的能力常常要求把一些额外功能并入制造软件驱动器内,这些额外功能不是生产芯片开发的一部分,即,对正常的芯片操作来说是不必要的,但是为了支持采用多个数据分组的制造测试,又必须将这些额外功能添加到软件驱动器中。
在一些情况下,添加用于进行这种制造测试的必需功能会有问题,因为有时必须按照难以在没有相当大的额外软件开销,有时甚至呈集成电路内的额外可编程互连形式的硬件开销的情况下,使DUT执行期望功能的方式来编写软件,而所述额外的软件开销和硬件开销会降低采用多个数据分组的测试的效率,以及不利地影响以后的正常操作。
此外,在一些情况下,当开发测试软件时,不可能识别在测试期间对DUT部分的所有要求。因此,导致软件的多次反复,或者另一方面,软件功能的不必要的“过度设计”。
因此,理想的是获得由采用多个数据分组的测试带来的好处,同时避免这些限制和缺点。
发明内容
按照本发明,提供一种通过在一个或多个测试仪和被测设备(DUT)之间传送多个数据分组来测试作为被测设备(DUT)的数据分组收发器的方法,所述多个数据分组具有至少一种相互不同的信号特性,诸如数据分组类型、传输功率或传输频率。
按照本发明的一个实施例,通过在一个或多个测试仪和被测设备(DUT)之间传送多个数据分组来测试作为被测设备(DUT)的数据分组收发器的方法包括:
编程DUT进行回送操作,其中,接收的数据分组被解码以产生解码数据,以及解码数据被编码以产生供传输的对应新数据分组;
利用一个或多个测试仪发送多个顺序的测试数据分组以便由DUT接收,其中,发送的多个顺序的测试数据分组的至少第一部分和第二部分具有多种相互不同的信号特性中的至少一种信号特性,所述多种相互不同的信号特性包括数据分组类型、传输功率和传输频率;
利用一个或多个测试仪接收来自DUT的多个顺序的DUT数据分组;以及
处理所述多个顺序的DUT数据分组。
按照本发明的另一个实施例,通过在一个或多个测试仪和被测设备(DUT)之间传送多个数据分组来测试作为被测设备(DUT)的数据分组收发器的方法包括:
编程DUT进行回送操作,其中,接收的数据分组被解码以产生解码数据,以及解码数据被编码以产生供传输的对应新数据分组;
通过下述操作,在一个或多个测试仪和DUT之间传送相应的多个数据分组:
利用一个或多个测试仪编码多个测试数据以产生测试数据分组,
利用一个或多个测试仪发送所述测试数据分组,
利用DUT接收所述测试数据分组,
利用DUT解码接收的测试数据分组以产生多个DUT数据,
利用DUT编码所述多个DUT数据以产生DUT数据分组,
利用DUT发送所述DUT数据分组,
利用一个或多个测试仪接收所述DUT数据分组,以及
重复多个测试数据的编码、测试数据分组的发送、测试数据分组的接收、接收的测试数据分组的解码、多个DUT数据的编码、DUT数据分组的发送、和DUT数据分组的接收,以产生多个测试数据分组、多个发送的测试数据分组、和多个接收的DUT数据分组,其中,多个发送的测试数据分组中的所选各个测试数据分组具有多种相互不同的信号特性中的至少一种信号特性,所述多种相互不同的信号特性包括数据分组类型、传输功率和传输频率;以及。
处理多个接收的DUT数据分组。
附图说明
图1是描述按照本发明,借助一个或多个测试仪的被测设备(DUT)的生产测试的功能方框图。
图2描述按照本发明的一个例证实施例的测试方法的信号序列。
图3描述按照本发明的一个例证实施例的测试方法的信号序列。
图4是按照本发明的一个例证实施例的测试方法的流程图。
图5是按照本发明的一个例证实施例,识别以各个发送功率发送的各个数据分组的表。
图6描述按照本发明的一个例证实施例的测试方法的信号序列。
图7是按照本发明的一个例证实施例的测试方法的流程图。
具体实施方式
下面参考附图,详细说明目前要求保护的发明的例证实施例。这样的说明只是例证性的,而不是对本发明范围的限制。足够详细地说明了本发明的实施例,以使本领域的普通技术人员能够实践本发明,显然可以稍加变化地实践其它的实施例,而不脱离本发明的精神或范围。
参见图1,按照本发明,一个或多个测试仪10被用于测试其中采用回送22操作的DUT 20。如下更详细所述,这使测试的大部分控制(即使不是全部控制)可从DUT 20转移到测试仪10。测试仪10发送期望分析的各种数据分组,响应于所述数据分组,DUT 20稍加延迟地向测试仪10回送这种数据分组的复制品以便分析(如这里所述,测试仪10需要提供信号发送、信号接收和信号分析功能。易于认识到,取决于这些功能是如何实现的,这样的测试设备可由一个测试仪实现,或者可通过把多个测试仪耦接在一起来实现)。
发送的信号11包括由测试仪10产生的数据分组100。作为其回送操作22的一部分,DUT 22接收这些数据分组100,解码数据,随后重新对数据进行编码,以产生包含供测试仪10分析的对应数据分组200的返回发送信号21。可关于各种发送参数,例如,功率、质量(例如,误差向量幅度(EVM))、频谱性质(例如,相关频谱、或者传输、屏蔽等),分析这样的返回数据分组200。此外,由于DUT 20接收测试数据分组100并回送它们,因此测试仪10知道可期待什么样的返回数据,并且一旦被解码,这样的返回数据分组可与原始测试数据分组进行比较,从而使得可以确定DUT 20的误码率(BER)。如果DUT 20未收到一个或多个测试数据分组100,那么将不会作为返回数据分组的一部分而收到对应的数据分组,从而使得可以确定DUT 20的分组差错率(PER)。本领域的技术人员易于认识到,这样的测试可以并行地进行,即,可以发送测试数据分组100,同时基本上在同时接收返回数据分组200,从而允许并行地测试DUT 20的发送和接收功能。
因此,实现这种测试所需的实际上是提供给DUT 20的一个或多个适当的控制信号或编程23,响应于所述控制信号23,对DUT 20设定正确的工作频率,或者接收输入信号11的频率和发送输出信号21的频率,并启动回送模式22。
最好,作为这种回送测试模式的一部分,由测试仪10发送的测试数据分组100包括具有不同信号特性、包括不同的数据分组类型、不同的数据分组传输电平或者功率、以及不同的数据分组传输频率的数据分组序列。
参见图2,按照本发明的一个例证实施例,测试数据分组100包括数据分组序列102、104、106,响应于所述数据分组序列102、104、106,DUT 20返回数据分组序列202、204、206。具有平均传输功率103的第一测试数据分组102被DUT 20(图1)接收,DUT 20解码接收的数据,随后重新对接收的数据进行编码,以发送具有平均传输功率201的返回数据分组202。(易于认识到,平均传输功率201较高,并且在整个返回数据分组200中通常是恒定的,因为所述返回数据分组200是以DUT 20的物理传输电平发送的,并只被DUT 20和测试仪10之间的损耗衰减)。利用返回数据分组202,测试仪10能够分析接收信号202的性能,诸如其功率电平201、频谱性能、传输质量(例如,EVM)等。另外,测试仪10能够解调和解码接收的数据分组202,并比较接收的数据分组202和最初传给DUT 20的对应测试数据,由此能够得到BER。类似地,能够通过确认来自DUT 20的接收数据分组是否对应于最初传送的测试数据分组,或者另一方面,仅仅确认是否收到有效数据分组,来确定PER。通过在它所发送的分组内包括循环冗余校验(CRC)数据,测试仪10能够容易地确认DUT 20对有效数据分组的接收。如果DUT 20收到存在CRC错误的分组,那么该分组将被丢弃或者被忽略,并将不向测试仪10回送任何返回分组。因此,仅仅通过计数返回的数据分组的数目,测试仪10就能够计算PER。
在收到第一个返回数据分组202之后,发送另一个测试数据分组104。该下一个数据分组104具有不同类型,并且具有不同的传输功率105。对数据分组104来说,传输功率105较高,以获得较高的信噪比(SNR),从而向DUT 20提供更高的输入功率电平,这在与DUT传输信号21的质量的测试并行地测试DUT 20的BER和PER时是有益的。作为响应,DUT 20返回对应的数据分组204。随后发送下一个测试数据分组106,数据分组106同样具有不同的传输功率107,并且具有不同的数据分组或调制类型。作为响应,DUT 20以预期传输功率201的对应数据分组206进行应答。
通常,由于DUT 20以比测试仪10的功率电平103、105、107高的功率电平201进行发送,因此测试仪不应当经历与低SNR相关的接收困难,以及如果传输质量令人满意,通常能够解调返回的数据分组202、204、206的各个比特。由于传输质量,即DUT 20的传输质量被监测,因此将确保测试的质量。保持高SNR下的最低传输质量将确保返回数据分组202、204、206的正确解调,从而确保能够假定任何比特错误只在DUT 20内引起而不是在测试仪10内引起的。
至此的讨论假定DUT 20将收到所有的发送数据分组100。然而,如果DUT 20未收到一个或多个数据分组(通过测试仪10未能收到对应的返回数据分组来识别),那么测试仪10可以酌情简单地发送相同类型的一个或多个额外的数据分组。如果需要,也可增大测试数据分组100的传输功率,如果DUT 20继续收不到测试数据分组100的话。然而,在某一时刻,如果DUT 20继续收不到测试数据分组100,那么这可能指示DUT 20不能正常工作,并且可终止测试数据分组100的传输。
本领域的普通技术人员易于认识到,这里讨论的发送和接收功能可以相互排斥,在时分双工(TDD)系统中,情况通常就是这样。当然,如果DUT 20能够同时进行发送和接收,那么在测试过程中可以利用这种并行或者同时的发送和接收能力,其间将存在时间偏移(在测试数据分组100和返回数据分组200之间),DUT 20内的发送器和接收器将按不同的频率工作。
参见图3,DUT 20在不同频率下的接收和发送使它能够在开始接收数据分组102、104、106之后立刻开始发送其返回数据分组202、204、206。在收到第一个测试数据分组102之后,DUT 20可开始发送其第一个返回数据分组202,例如,在仍在接收第二个测试数据分组104的时候。(在这个例子中,发送器和接收器未被完全同步;然而,对本领域的普通技术人员来说,显然可以使发送器和接收器同步,以使发送的数据分组和接收的数据分组在规定的时隙中对准。如图中所示,在接收的测试数据分组和其对应的返回数据分组之间存在时延,所述时延至少与在DUT 20内完成回送操作22所用时间一样长)。
参见图4,按照本发明的例证实施例的测试方法40从测试仪10的准备42和DUT 20的准备44(例如通过把DUT 20编程为按回送模式工作)开始(尽管这里是顺次表示的,然而可以按任何顺序或者并行地启动这些准备42、44)。测试仪10的准备42包括期望的测试序列、数据分组的类型、传输功率和传输频率、以及数据比较和分析的类型的准备。DUT 20的准备44包括把DUT 20编程为在期望频率下进行回送操作,还可包括把DUT 20编程为通过向测试仪发送初始数据分组以建立系统定时和指示它准备就绪来启动测试。在下面的讨论中,假定测试仪10启动测试序列。
当测试仪10和DUT 20准备就绪时,测试仪10通过向DUT 20发送数据分组来开始测试46。当数据分组已被发送时,内部分组计数器被递增48。测试仪10随后等待来自DUT 20的返回数据分组的接收50。如果未返回任何分组,那么测试仪10发送另一个数据分组46。易于认识到,在一些情况下,在DUT 20开始以它自己的数据分组应答之前,可能需要发送多于一个的数据分组。
如果收到返回数据分组,那么接收数据分组计数器被递增52,从而能够计算发送数据分组和接收数据分组之间的比率。如果测试要求包括BER计算54,那么可以解调接收数据分组,并比较其内容和最初发送的测试数据分组的内容。
另外,当收到返回数据分组时,首先可检查是否要求分析56。如果是,那么分析数据分组58。另一方面,数据分组可被保存在存储器中供以后分析,例如,在结束整个测试序列之后。当分析所需的时间大于数据分组之间的时间时,这在时间同步系统中通常是期望的。
随后,确定任何要求的分析60。如果要求另外的分析,那么发送另一个数据分组46,并且重复这些过程。然而,如果不要求另外的分析,或者根本不要求任何分析,那么能够通过计算未收到的预期返回数据分组的数目与发送的测试数据分组的数目的比率来计算PER62,之后结束测试64。
如上所述,如果在测试期间发送多于一种类型的测试数据分组,那么理想的是通过分别跟踪发送的数据分组的类型、接收的数据分组的类型和对应的比特差错计数,来区分BER测试和PER测试。类似地,可能需要区分从分析获得的发送数据。例如,如果计算相同数据分组的多次捕获的平均EVM,那么通常相对于DUT 20所发送的数据分组的类型来区分EVM。例如,按照蓝牙标准,关于具有不同限制从而在分析前需要区分EVM值的2Mbps分组和3Mbps分组来分析EVM。然而,这是简单的,因为测试仪10控制被发送的数据分组,并且能够计数和根据需要分别跟踪返回的数据分组。类似地,在发送测试数据分组而没有接收对应的返回数据分组的情况下,测试仪10能够记录对分析来说必需的数据分组的数目,可能需要发送比必需的数据分组更多的测试数据分组。然而,如果数据分组未被正确地接收并因此好像是类型与发送的数据分组不同的数据分组,那么测试仪10能够分析接收的数据比特以识别这样的坏分组。
根据上面的讨论,显然这种测试方法允许以简单的方式测试DUT 20,同时在DUT 20和测试仪10之间需要的交互最少。例如,一旦设定了DUT 20的工作频率,测试仪10就能够开始向DUT 20发送数据分组100,DUT 20随后向测试仪10回送作为返回数据分组200的数据分组。测试仪10能够并行地测试发送性能和接收性能。然而,在不另外提供DUT 20的更大范围控制的情况下,DUT 20的传输功率和频率通常保持固定在相应的预定值。在不另外提供把控制或测试数据从DUT传给测试仪10,例如,通过某种形式的询问功能的情况下,不能容易地实现呈接收信号强度指示(RSSI)形式的DUT 20的接收能力的进一步测试。
然而,按照本发明的一个例证实施例,DUT 20可被编程为按照预定序列改变其传输功率。例如,DUT可被编程为每收到N个测试数据分组改变其传输功率。DUT传输功率的这种改变不会影响其接收功能测试,从而测试仪10能够按与DUT传输功率无关的相同电平,在这样的序列期间发送所有的测试数据分组。
参见图5,按照这种技术的一个例子,在发送收到的每50个(N=50)测试数据分组之后,DUT 20将改变其传输功率。该表每次被读取一列。从而,按照第一列(TXpower1),测试仪10将发送类型1的分组,直到DUT 20收到10个这样的测试数据分组为止(响应于此,DUT 20发送10个返回数据分组)。测试仪10随后发送类型2的分组,直到DUT 20收到10个这样的数据分组为止。对数据分组类型3、4和5重复该过程,所有这样的数据分组都是以相同的传输功率发送的。在已收到50个测试数据分组(10个类型1分组+10个类型2分组+10个类型3分组+10个类型4分组+10个类型5分组)的情况下,DUT 20现在改变到下一个传输功率电平(TXpower2),在该传输功率电平下,测试仪10再次发送每种数据分组类型10个分组,之后,DUT 20改变到下一个传输功率(TXpower3)。在功率电平TXpower3下,测试仪10改变传输序列,使得发送20个类型1的数据分组,之后发送类型3、4和5的各10个测试数据分组。当收到又50个测试数据分组时,DUT 20把其传输功率改变成下一个功率电平TXpower4。在功率电平TXpower4下,测试仪10发送20个类型2的测试数据分组,之后发送类型3、4和5的各10个测试数据分组,合计又50个测试数据分组。DUT 20随后把其传输功率改变成下一个功率电平TXpower5,在功率电平TXpower5下,再次发送、接收和返回每种类型10个测试数据分组。随后DUT 20在相应的传输功率电平TXpower6、TXpower7、TXpower8、TXpower9、TXpower10下,返回每种数据分组类型1、2、3、4和5的50个数据分组(分组类型和传输功率的这些组合仅仅是例证性的,按照本发明,组合的数目实际上可以是无限的)。
DUT 20只需计数它需要按每个传输功率电平发送的分组的总数。测试仪10通过向DUT 20发送适当数据分组类型来控制DUT 20回送什么类型的数据分组。因此,DUT 20内的实现简单,因为它只需计数正确接收的数据分组,一旦收到期待的数目,传输功率电平就可被改变成下一个预定电平。
可进一步扩展这种排序以包括多个频率。例如,第一功率电平TXpower1和频率TXfrequeny1下的50个数据分组,之后是第二功率电平TXpower2和频率TXfrequeny2下的50个数据分组,之后是第三功率电平TXpower3和频率TXfrequeny3下的50个数据分组,等等,实际上可以是功率电平和频率的任意数目的组合。
如上所述,从DUT 20取回RSSI信息是较复杂的。由于数据分组内的数据是由从测试仪10发送的测试数据定义的,因此当回送数据分组而不修改数据分组时,DUT不能传送RSSI信息。尽管可以使DUT 20保存RSSI信息以便稍后取回,然而在制造测试期间从DUT 20访问数据会经常成问题并且比较费时。
然而,按照本发明,当DUT 20的内部RSSI测量指示与预定水平匹配或者在预定范围内时,可以使DUT 20回送,即返回数据分组。随后,通过以各种传输功率发送测试数据分组100,测试仪10能够搜索期望的水平或范围,例如按照“温度计”搜索。另一方面,DUT 20可被编程为当测得的RSSI大于或等于期望的水平时回送数据分组,从而能够使用二分搜索算法,因为能够简单地确定值是小于、大于还是等于期望值。二分搜索更为有利,因为它常常在预定数目的接收数据分组内得到结果,从DUT 20可关于已知数目的数据分组进入RSSI测试模式,随后当收到规定数目的数据分组时,自动退出这种测试模式。“温度计”搜索需要更大数目的测试数据分组,除非知道测试开始于预期的RSSI阈值附近,在这种情况下,两种技术都应是令人满意的。(在这样的测试模式下,DUT 20的接收功能和发送功能的并行测试会更复杂,因为不知道在搜索期间将从DUT 20返回多少数据分组,这将取决于给定信号电平的RSSI信息)。
参见图6,按照本发明的一个例证实施例,能够实现利用二分搜索方法的RSSI测试。假定当测量的RSSI水平低于或等于期望的水平时DUT 20将返回数据分组。因此,以低功率电平113发送第一个测试数据分组112,功率电平113被选择成低于核实DUT 20确实能够可靠地接收数据分组112所需的功率电平。作为响应,DUT 20返回对应的数据分组212,从而指示接收的功率电平113事实上低于或等于期望的功率电平。测试仪10随后改变成新的功率电平115,在功率电平115发送下一个数据分组114。DUT 20不以数据分组应答,从而指示接收的功率电平高于期望的功率电平。测试仪10把传输功率降到较低的值117,在该功率发送下一个数据分组116。同样,该传输功率117仍然过高,从而DUT 20不应答。测试仪10随后把功率进一步降到更低的值119,以发送下一个数据分组118。这导致来自DUT20的返回数据分组218,从而指示测试数据分组功率电平119低于或等于预期的RSSI水平。测试仪10随后把传输功率增大到新的功率电平121,在该功率电平发送下一个数据分组120。如果RSSI水平仍然低于或等于预期的水平,那么DUT 20通过返回对应的数据分组220而作出响应。易于认识到,测试仪10可继续增大传输功率电平,直到DUT 20再次未能返回对应的数据分组,从而确认预期的RSSI水平。
这种技术可用于RSSI的校准和验证,因为测试仪10发送的最终功率电平和DUT 20的预期RSSI水平是已知的,从而允许计算输入电平和预期RSSI之间的差。这可用于计算期望的偏移量,或者仅仅确定RSSI水平的通过与否。
另一种有益的能力是校准传输信号功率的能力。存在许多校准方法,许多方法包括前馈校准,其中DUT 20按一个或多个预定功率电平进行发送(或者控制寄存器设置,例如关于IQ失配的寄存器设置),从测量的数据和有关DUT 20内使用的传输设置的信息外推出期望的性能。这可以与序列法相结合,在序列法中,通过给定的功率设置来发送预定数目的数据分组,之后控制参数被改变成不同的设置,并重复所述序列。
参见图7,按照本发明的一个例证实施例的校准序列开始于测试仪10的准备72和DUT 20的准备74,以执行定义的一组序列,段计数器/索引n被重置为0(n=0)。随后启动n=0的第一序列76。测试仪10发送测试数据分组78。如果DUT 20返回数据分组80,那么分析测试仪所接收的数据分组82。如果未从DUT 20返回任何数据分组,那么测试仪10将发送新的数据分组78。当收到和分析返回的数据分组时82,测试仪10和DUT 20将确认该序列是否完成84。如果否,那么测试仪10发送另一个数据分组。如果序列完成,那么段计数器n被递增86,准备选择DUT 20中的下一个序列。这通常将导致不同的设置被编程到DUT 20内的控制寄存器中,例如,控制功率、频率或其它参数。如果执行了所有序列88,那么结束测试90。如果否,那么根据新的序列计数器值n来选择下一个序列76,测试继续进行。
有利的是,如上所述的回送测试模式允许例如在要求从充当蓝牙增强数据速率(EDR)发送器的DUT 20返回10个数据分组的序列中并行地执行多个校准。有时,当发送器按照基本模式(高斯频移键控(GFSK)调制)工作,随后按照DER模式(8相移键控(8PSK)调制)工作时,需要独立的功率校准。DUT 20只知道它需要接收并返回10个数据分组的副本。因此,测试仪10能够向DUT 20发送基本速率分组,直到从DUT 20返回了5个分组,之后测试仪10可切换成发送EDR分组,直到从DUT 20返回了剩余的5个分组。这将允许实际上并行地(例如交织地)发生两种模式的校准,因为假定作为完整的校准序列的一部分,将测试多个电平。
在这样的校准序列中,不必分析所有返回的数据分组。例如,测试仪10可以只计数从DUT 20返回的第一组数据分组,并只分析剩余的数据分组。这允许DUT发送器在分析之前稳定到正确的功率电平。另外,可以并行地进行RSSI测试和校准序列。此外,可在各个功率电平以及在不同的频率进行所有这些测试和序列,从而使得能够在单个序列内进行测试。可按照在2007年8月16日提交的题为“Apparatus,System And Method For Calibrating And Verifying A WirelessCommunication Device”的美国专利申请11/839,788中公开的技术来实现测试仪10和DUT 20之间的同步,该专利申请的公开内容在此通过引用而并入。
对本领域的技术人员来说,本发明的结构和操作方法方面的各种其它修改和变更将是显而易见的,而不脱离本发明的范围和精神。尽管结合具体的优选实施例说明了本发明,然而应明白要求保护的发明不应不适当地局限于这样的具体实施例。下面的权利要求限定了本发明的范围,从而覆盖在这些权利要求及其等同物的范围内的结构和方法。
Claims (18)
1.一种通过在一个或多个测试仪和被测设备(DUT)之间传送多个数据分组来测试作为所述被测设备(DUT)的数据分组收发器的方法,包括:
编程所述DUT进行回送操作,其中,接收的数据分组被解码以产生解码数据,所述解码数据被编码以产生供传输的相应的新数据分组;
利用所述一个或多个测试仪来发送多个顺序的测试数据分组以便由所述DUT接收,其中,与所述DUT的所述编程相对应,所述发送的多个顺序的测试数据分组的至少第一部分和第二部分具有多种相互不同的信号特性中的至少一种信号特性,所述多种相互不同的信号特性包括数据分组类型、传输功率和传输频率;
利用所述一个或多个测试仪来接收来自所述DUT的多个顺序的DUT数据分组,其中,根据所述DUT的所述编程,所述多个顺序的DUT数据分组的至少第一部分和第二部分具有所述多种相互不同的信号特性中的至少一种信号特性;以及
处理所述多个顺序的DUT数据分组。
2.按照权利要求1所述的方法,其中,所述多个顺序的测试数据分组的所述发送和所述多个顺序的DUT数据分组的所述接收包含:与接收所述多个顺序的DUT数据分组的一部分基本上同时地发送所述多个顺序的测试数据分组的一部分。
3.按照权利要求1所述的方法,其中:
所述多个顺序的测试数据分组的所述发送包括:
编码多个测试数据以产生测试数据分组以及发送所述测试数据分组;
所述方法进一步包括:
利用所述DUT接收所述测试数据分组,
利用所述DUT解码所述接收的测试数据分组以产生多个DUT数据,
利用所述DUT编码所述多个DUT数据以产生DUT数据分组,以及
利用所述DUT发送所述DUT数据分组;
所述多个顺序的DUT数据分组的所述接收包括接收所述DUT数据分组;以及
所述处理所述多个顺序的DUT数据分组包括:
解码所述接收的DUT数据分组以产生多个接收数据,和
比较所述多个测试数据和接收数据。
4.按照权利要求1所述的方法,其中,所述处理所述多个顺序的DUT数据分组包括:比较所述多个顺序的DUT数据分组中的相应DUT数据分组与所述多个顺序的测试数据分组中的对应测试数据分组。
5.按照权利要求1所述的方法,其中,所述处理所述多个顺序的DUT数据分组包括:计算所述DUT的分组差错率(PER)。
6.按照权利要求1所述的方法,其中,所述处理所述多个顺序的DUT数据分组包括:计算所述DUT的误码率(BER)。
7.按照权利要求1所述的方法,其中,所述处理所述多个顺序的DUT数据分组包括下述中的一个或多个:
计算所述DUT的误差向量幅度(EVM);
测量来自所述DUT的所述接收的多个顺序的DUT数据分组的功率电平;和
测量与来自所述DUT的所述接收的多个顺序的DUT数据分组相关的频谱屏蔽。
8.按照权利要求1所述的方法,进一步包括编程所述DUT在所述回送操作期间进行排序,其中:
多个接收的数据分组被解码以产生多个解码数据;
所述多个解码数据被编码以产生供传输的相应多个新的数据分组;和
利用相互不同的传输功率电平和传输频率中的至少一个来发送所述多个新的数据分组的相应部分。
9.按照权利要求1所述的方法,其中:
所述多个顺序的测试数据分组的每一个测试数据分组包括循环冗余校验(CRC)数据;和
当遭遇CRC错误时,所述多个顺序的DUT数据分组小于所述多个顺序的测试数据分组。
10.一种通过在一个或多个测试仪和被测设备(DUT)之间传送多个数据分组来测试作为所述被测设备(DUT)的数据分组收发器的方法,包括:
编程所述DUT进行回送操作,其中,接收的数据分组被解码以产生解码数据,所述解码数据被编码以产生供传输的相应新数据分组;
通过下述操作,在所述一个或多个测试仪和所述DUT之间传送相应的多个数据分组:
利用所述一个或多个测试仪编码多个测试数据以产生测试数据分组,
利用所述一个或多个测试仪发送所述测试数据分组,
利用所述DUT接收所述测试数据分组,
利用所述DUT解码所述接收的测试数据分组以产生多个DUT数据,
利用所述DUT编码所述多个DUT数据以产生DUT数据分组,
利用所述DUT发送所述DUT数据分组,
利用所述一个或多个测试仪接收所述DUT数据分组,和
重复多个测试数据的所述编码、所述测试数据分组的所述发送、所述测试数据分组的所述接收、所述接收的测试数据分组的所述解码、所述多个DUT数据的所述编码、所述DUT数据分组的所述发送、和所述DUT数据分组的所述接收,以产生多个测试数据分组、多个发送的测试数据分组、和多个接收的DUT数据分组,其中,
与所述DUT的所述编程相对应,所述多个发送的测试数据分组中的所选各个测试数据分组具有多种相互不同的信号特性中的至少一种信号特性,所述多种相互不同的信号特性包括数据分组类型、传输功率和传输频率,以及
根据所述DUT的所述编程,所述多个接收的DUT数据分组中的所选各个DUT数据分组具有所述多种相互不同的信号特性中的至少一种信号特性;以及
处理所述多个接收的DUT数据分组。
11.按照权利要求10所述的方法,其中,所述发送所述测试数据分组和所述发送所述DUT数据分组包含:至少部分与所述发送所述DUT数据分组同时地发送所述测试数据分组。
12.按照权利要求10所述的方法,其中,所述处理所述多个接收的DUT数据分组包括:
解码所述多个接收的DUT数据分组中的每一个以产生相应的多个接收数据;和
比较所述多个测试数据和接收数据。
13.按照权利要求10所述的方法,其中,所述处理所述多个接收的DUT数据分组包括:比较所述多个接收的DUT数据分组中的相应DUT数据分组与所述多个测试数据分组中的对应测试数据分组。
14.按照权利要求10所述的方法,其中,所述处理所述多个接收的DUT数据分组包括:计算所述DUT的分组差错率(PER)。
15.按照权利要求10所述的方法,其中,所述处理所述多个接收的DUT数据分组包括:计算所述DUT的误码率(BER)。
16.按照权利要求10所述的方法,其中,所述处理所述多个接收的DUT数据分组包括下述中的一个或多个:
计算所述DUT的误差向量幅度(EVM);
测量来自所述DUT的所述接收的多个顺序的DUT数据分组的功率电平;和
测量与来自所述DUT的所述接收的多个顺序的DUT数据分组相关的频谱屏蔽。
17.按照权利要求10所述的方法,进一步包括编程所述DUT在所述回送操作期间进行排序,其中:
多个接收的数据分组被解码以产生多个解码数据;
所述多个解码数据被编码以产生供传输的对应多个新的数据分组;和
利用相互不同的传输功率电平和传输频率中的至少一个来发送所述多个新的数据分组的相应部分。
18.按照权利要求10所述的方法,其中:
所述测试数据分组包括循环冗余校验(CRC)数据;和
当遭遇CRC错误时,所述多个接收的DUT数据分组小于所述多个发送的测试数据分组。
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