JP4490415B2 - 増加的冗長性なしの誤り率を決定するための方法及び測定装置 - Google Patents
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Description
本発明に従った方法について詳細に説明する前に、まず、図1を参照しながら増加的冗長性を用いるデータ伝送について説明する。データ伝送は空中インターフェイスを通じて行われ、情報は送受信ステーション1から送受信装置2へ、またその逆に送信される。
誤り率は、正確にまたは不正確に送信されたデータ・ブロックの数に関する情報に基づいてコントローラ95によって決定され、例えばディスプレイ96に表示するために送られる。
Claims (12)
- 送受信ステーション(1)から送受信装置(2)へのデータ伝送における誤り率を決定するための方法であって、
第一のデータ・ブロック及びこれと異なる少なくとも1つのさらなる冗長データ・ブロックが前記送受信ステーション(1)によってオリジナル・データ・ブロック(9)から生成され、前記第一のデータ・ブロックがエラー送信された場合、前記送受信装置(2)によってさらなる冗長データ・ブロックが要求され、
前記送受信ステーション(1)によって第一のデータ・ブロックを送信するステップと、
前記送受信装置(2)によって前記第一のデータ・ブロックを受信するステップと、
デコーディング・ブロック(8)において前記受信された第一のデータ・ブロックを復号するステップと、
前記第一のデータ・ブロックの送信エラーをチェックするステップと、
前記第一のデータ・ブロックの送信データにエラーがあると決定される場合、エラー修正のためにさらなる冗長データ・ブロックを要求するステップと、
前記送受信ステーション(1)において前記要求を受け取るステップと、
を含み、
冗長データ・ブロックの代わりに前記第一のデータ・ブロックを再送信し、かつ
正確にまたは不正確に送信または再送信されたデータ・ブロックの数に関する情報に基づいて前記誤り率を決定する、
ことを特徴とする、
誤り率決定方法。 - 前記第一のデータ・ブロック及び前記さらなる冗長データ・ブロックが異なるパンクチャ処理スキームによる畳み込みコーディングによって生成されることを特徴とする、請求項1に記載の誤り率決定方法。
- 前記第一のデータ・ブロックの生成に使用される前記パンクチャ処理スキームが決定されることを特徴とする、請求項2に記載の誤り率決定方法。
- 前記異なる冗長データ・ブロックが前記送受信ステーション(1)のメモリ(14)に記憶され、かつ前記さらなるデータ・ブロックが要求される場合に前記第一のデータ・ブロックに割り当てられるメモリ・ロケーション(15.1)に記憶される前記第一のデータ・ブロックが送信されることを特徴とする、請求項1から3のいずれか一項に記載の誤り率決定方法。
- 前記第一のデータ・ブロックが前記送受信ステーションのメモリ(14)において前記異なる冗長データ・ブロックの代わりにそのそれぞれのメモリ・ロケーション(15.2,15.3)にも記憶され、かつさらなるデータ・ブロックが要求される場合に前記それぞれのメモリ・ロケーション(15.2、15.3)に記憶される前記データ・ブロックが送信されることを特徴とする、請求項1から3のいずれか一項に記載の誤り率決定方法。
- 前記エラー修正なしに決定された誤り率を増加的冗長性によるエラー修正を含む誤り率と比較するためにさらなるデータ・ブロックが要求される場合さらなる冗長データ・ブロックが付加的に前記送受信ステーション(1)によって送信されることを特徴とする、請求項1から3のいずれか一項に記載の誤り率決定方法。
- 送受信ステーション(1)から送受信装置(2)にデータが伝送される際の誤り率を決定するための測定装置であって、
前記送受信ステーション(1)がオリジナル・データ・ブロック(9)から第一のデータ・ブロック及びこれと異なる少なくとも1つのさらなる冗長データ・ブロックを生成するためのコーディング・ブロック(3)と、送信されるデータ・ブロックを選択するための選択デバイス(16)とを備え、
前記第一のデータ・ブロックがエラー送信されたために前記送受信装置(2)によって前記送受信ステーション(1)に対して通信されるさらなる冗長データ・ブロックの要求に応答して冗長データ・ブロックの代わりに前記第一のデータ・ブロックが前記送受信ステーション(1)によって再送信され、前記誤り率は正確にまたは不正確に送信または再送信されたデータ・ブロックの数に関する情報に基づいて決定されることを特徴とする、
誤り率決定用測定装置。 - いくつかのメモリ・ロケーション(15.1、15.2、15.3)を含むメモリ(14)がデータ・ブロックの記憶のために前記コーディング・ブロックに配備されることを特徴とする、請求項7に記載の誤り率決定用測定装置。
- それぞれのデータ・ブロックの生成のために異なるパンクチャ処理スキームが使用され、かつ前記第一のデータ・ブロックの生成のために使用されるパンクチャ処理スキームを選択することができることを特徴とする、請求項8に記載の誤り率決定用測定装置。
- 前記送受信装置(2)からの要求と関係なく前記選択デバイスによって前記第一のデータ・ブロックが記憶されている前記メモリ(14)から前記第一のデータ・ブロックを選択することができることを特徴とする、請求項7から9のいずれか一項に記載の誤り率決定用測定装置。
- 前記第一のデータ・ブロックがメモリ(14)において前記さらなる冗長データ・ブロックの代わりにそのそれぞれのメモリ・ロケーション(15.2、15.3)に記憶されることを特徴とする、請求項7または8に記載の誤り率決定用測定装置。
- エラー修正なしで決定された誤り率を増加的冗長性によるエラー修正を含む誤り率と比較するために前記送受信装置(1)によって要求される場合さらなる冗長データ・ブロックが前記選択デバイス(16)によって選択されることを特徴とする、請求項7または8に記載の誤り率決定用測定装置。
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