TWI413757B - 檢測裝置 - Google Patents

Description

檢測裝置

本發明係關於一種檢測裝置，尤指一種檢測物件變形之檢測裝置。

隨著工業發展，為講求生產效率，發明各種合適的裝置以方便快速地檢測產品，已成為必然之發展趨勢。其中，習知檢測待測物件(例如：一電路板)之裝置，為一凹槽形成於一座體上，凹槽的長度及寬度等同於電路板之長度及寬度。因此，檢測者藉由將電路板擺入凹槽，以檢測電路板是否有裁切不準確以及毛邊過大的缺點，進一步地避免於組裝製造過程中，發生尺寸不合的問題。然而，目前採取人工擺放進入凹槽之方式，檢測者必須花費時間仔細地將電路板與凹槽前後左右對位以擺入。再者，於檢測完畢後，由於電路板符合凹槽的尺寸，檢測者必須將座體倒翻，以拿取電路板。再者，可能因為將電路板置入時，其長度或寬度微大於凹槽，而因為檢測者檢測時的施力按壓，而使電路板硬卡進凹槽，此時更必須使用工具將電路板取出，而降低工作效率。

爰是，本發明人有感上述缺失之可改善，乃特潛心研究並配合學理之運用，終於提出一種設計合理且有效改善上述缺失之本發明。

本發明之主要目的，在於提供一種檢測裝置，該檢測裝置具有二側壁以設置相對應之二溝槽，二該溝槽之間距可調整至略大於一電路板之標準規格，若該電路板順利滑 過二該溝槽即為該電路板之尺寸達到標準規格，檢測成功。

為了達成上述之目的，本發明提供一種檢測裝置，用以檢測一電路板，該檢測裝置包含一第一側壁、一第二側壁及一連接件，該連接件固接該第一側壁及該第二側壁。該第一側壁的一側面設有一第一溝槽。該第二側壁的一側面設有一第二溝槽。該第一溝槽與該第二溝槽相對且相互平行設置，一第一開口端及一第二開口端分別位於該第一溝槽及該第二溝槽之相對二端，且該第一開口端及該第二開口端具有相同的寬度。該電路板自該第一開口端置入，以檢視該電路板是否通過該第一溝槽及該第二溝槽後自該第二開口端離開。其中，若該電路板之尺寸達到標準規格，則電路板可藉由經過該第一溝槽及該第二溝槽，且自該第二開口端離開。

於一實施例中，該連接件為一座體，且該第一側壁及該第二側壁相互平行地豎設於該座體上。

於一實施例中，該座體更包含多個對位孔設置於該座體之一上表面，且該第一側壁具有多個凸柱，用以置入部分所述多個對位孔。

於一實施例中，該第二側壁具有多個凸柱，用以置入部分所述多個對位孔。

於一實施例中，該檢測裝置更包含一底座，該底座具有一樞軸，且該底座藉由該樞軸與該座體樞接。

於一實施例中，所述的座體更包含一凹部，鄰設於該第二開口端。

於一實施例中，所述的座體更包含一連通孔，鄰設於該 第二開口端。

於一實施例中，該第一側壁具有一內側壁以設置該第一溝槽，且該第一側壁的內側壁係為一粗糙表面或一刮除面。

於一實施例中，該第二側壁具有一內側壁以設置該第二溝槽，且該第二側壁的內側壁係為一粗糙表面或一刮除面。

於一實施例中，該第一開口端相對於該座體具有一第一高度，該第二開口端相對於該座體具有一第二高度，且該第一高度高於該第二高度。

本發明具有以下有益的效果：本發明之檢測裝置藉由設置於二側壁的二平行溝槽，並且二溝槽之間之寬度係相應於電路板之標準規格進行設定。因此，檢測者可藉由觀察電路板能否順利通過溝槽，以判斷是否符合標準規格。

為使能更進一步瞭解本發明的特徵及技術內容，請參閱以下有關本發明的詳細說明與附圖，然而所附圖式僅提供參考與說明用，並非用來對本發明加以限制者。

請參閱第一圖，係為本發明檢測裝置1第一實施例之立體示意圖，係揭露了一種檢測裝置1，用以檢測一待測物件9(例如：一電路板)，或較佳為其他長方體之元件之檢測。檢測裝置1包含一第一側壁11、一第二側壁12及一連接件。於本實施例中，連接件係為一連桿或一座體131，較佳為一座體131，故以下敘述皆以座體131作一說明，而非侷限於座體131。其中，第一側壁11及第二側壁12的相對應側面各自設有一第一溝槽110及一第二溝槽120，第一溝 槽110及第二溝槽120係相對且相互平行設置，且第一側壁11及第二側壁12相互平行地豎設於座體131上。再者，一第一開口端136a及一第二開口端136b係分別位於第一溝槽110及第二溝槽120之相對二端。其中，待測物件9具有一第一寬度W1，第一溝槽110及第二溝槽120之間具有一相同的第二寬度W2，且第二寬度W2設定略大於為待測物件9之標準規格。因此，當待測物件9自第一開口端136a置入，若待測物件9達到標準規格，則待測物件9可經由第一溝槽110及第二溝槽120，自第二開口端136b離開。

請繼續參考第一圖，其中，第一開口端136a相對於座體131具有一第一高度H1，第二開口端136b相對於座體131具有一第二高度H2，且第一高度H1高於第二高度H2。藉由第一開口端136a及第二開口端136b之高度差，使第一溝槽110及第二溝槽120與座體131之間形成有一角度。因此，當測試者釋放待測物件9後，待測物件9用以藉由其重量之分力，沿傾斜之第一溝槽110及第二溝槽120自由滑落。若待測物件9於製造過程中並未受到不當的變形擠壓，仍為預訂標準規格，則待測物件9可順利通過第一溝槽110及第二溝槽120。此時，順利通過檢測之待測物件9，其寬度W1略微小於寬度W2，藉此以容許待測物件9之第一寬度W1相較於標準尺寸存在些微誤差。反之，若無法順利通過第一溝槽110及第二溝槽120，則表示待測物件9於製造過程中受到變形擠壓，其尺寸已不符需求，必須淘汰。

請參閱第二圖，係為本發明檢測裝置1第二實施例之 立體示意圖。於本實施例中，座體131更包含多個對位孔133設置於座體131之一上表面132，較佳為成行排列。再者，第二側壁12具有多個凸柱123，相應於多個對位孔133形成，且第二側壁12用以藉由多個凸柱123置入多個對位孔133，以固定至座體131。藉此，使用者可視待測物件9之寬度W1，而決定第二側壁12要插入之對位孔133，以調整第一溝槽110及第二溝槽120至一適當的寬度。進一步而言，第一側壁11亦具有多個凸柱123，可插入相對應對位孔133之位置，如第二圖中所繪示之第一側壁11即為凸柱123與對位孔133組合後之示意圖。

須加以說明的是，上述調整第一溝槽110及第二溝槽120調整寬度之手段並不侷限以對位孔133的方式調整，其他如寬度調整機構等方式亦可為之。

請參閱第三圖，係為本發明檢測裝置1第三實施例之立體示意圖。於本實施例中，檢測裝置1更包含一底座17及一樞軸171，座體131藉由樞軸171與底座17樞接。再者，樞軸171可為一多段式心軸件，藉此，使用者得以調整座體131與底座17形成之一夾角，使第一溝槽110及第二溝槽120之一傾斜度得以變化，使待測物件9藉其重力加速度快速滑下。

請參閱第四圖，係為本發明檢測裝置1第四實施例之立體示意圖。於本實施例中，本發明之座體131更包含一凹部175，鄰設於第二開口端136b。凹部175具有一寬度W3，相等於或略大於第一溝槽110及第二溝槽120之間之寬度W2，當待測物件9離開第二開口端136b時，由於慣性力之作用，待測物件9仍會滑行一小段距離，此時凹部 175適可發揮阻攔及容納之功能。進一步而言，如第五圖所示，更可使用一連通孔176以取代凹部175之設置，而在連通孔176下方增加設置一收集器(圖未示)，以方便集合所有通過檢測之待測物件9。

詳細而言，第一側壁11具有一內側壁以設置第一溝槽110，第二側壁12具有一內側壁以設置第二溝槽120設置於第二側壁12的內側壁。於上述各實施例中，內側壁可以為粗糙表面或刮除面，以利去除待測物件9之毛邊。再者，於第一側壁11及第二側壁12更分別界定有一容置部(圖未示)，分別與第一溝槽110及第二溝槽120空間連通，使被粗糙表面或刮除面所刮除的毛邊或毛屑，得以容置集中於容置部，以維持檢測裝置1及環境的清潔。

綜上所述，本發明所提供之檢測裝置，係利用設置於二側壁的二相對且相互平行之溝槽，將待測物件置入溝槽中，使檢測者可藉由查看待測物件順利通過之予否，即可得知待測物件是否產生變形，藉此以提高檢測效率。

惟以上所述僅為本發明之較佳實施例，非意欲侷限本發明的專利保護範圍，故舉凡運用本發明說明書及圖式內容所為的等效變化，均同理皆包含於本發明的權利保護範圍內，合予陳明。

1‧‧‧檢測裝置

11‧‧‧第一側壁

110‧‧‧第一溝槽

12‧‧‧第二側壁

120‧‧‧第二溝槽

123‧‧‧凸柱

131‧‧‧座體

132‧‧‧上表面

133‧‧‧對位孔

136a‧‧‧第一開口端

136b‧‧‧第二開口端

17‧‧‧底座

171‧‧‧樞軸

175‧‧‧凹部

176‧‧‧連通孔

9‧‧‧待測物件

H1‧‧‧第一開口端與座體之距離

H2‧‧‧第二開口端與座體之距離

W1‧‧‧待測物件之寛度

W2‧‧‧第一溝槽與第二溝槽之間之寛度

W3‧‧‧凹部之寛度、連通孔之寬度

第一圖為本發明檢測裝置第一實施例之立體示意圖；第二圖為本發明檢測裝置第二實施例之立體示意圖；第三圖為本發明檢測裝置第三實施例之立體示意圖；第四圖為本發明檢測裝置第四實施例之立體示意圖；以及第五圖為本發明檢測裝置第五實施例之立體示意圖。

1‧‧‧檢測裝置

11‧‧‧第一側壁

110‧‧‧第一溝槽

12‧‧‧第二側壁

120‧‧‧第二溝槽

131‧‧‧座體

136a‧‧‧第一開口端

136b‧‧‧第二開口端

175‧‧‧凹部

9‧‧‧待測物件

W1‧‧‧待測物件之第一寛度

W2‧‧‧二溝槽間之第二寛度

W3‧‧‧凹部之第三寛度

Claims (10)

1. 一種檢測裝置，用以檢測一電路板，該檢測裝置包含：一第一側壁，其一側面設有一第一溝槽；一第二側壁，其一側面設有一第二溝槽；以及一連接件，固接該第一側壁及該第二側壁；其中，該第一溝槽與該第二溝槽相對且相互平行地設置，一第一開口端及一第二開口端分別位於該第一溝槽及該第二溝槽之相對二端，且該第一開口端及該第二開口端具有相同的寬度，使該電路板自該第一開口端置入，以檢視該電路板是否通過該第一溝槽及該第二溝槽後自該第二開口端離開。
2. 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，其中該連接件為一座體，且該第一側壁及該第二側壁相互平行地豎設於該座體上。
3. 如申請專利範圍第2項所述之檢測裝置，其中該座體更包含多個對位孔設置於該座體之一上表面，且該第一側壁具有多個凸柱，用以置入部分所述多個對位孔。
4. 如申請專利範圍第3項所述之檢測裝置，其中該第二側壁具有多個凸柱，用以置入部分所述多個對位孔。
5. 如申請專利範圍第2項所述之檢測裝置，更包含一底座，該底座具有一樞軸，且該底座藉由該樞軸與該座體樞接。
6. 如申請專利範圍第2項所述之檢測裝置，其中該座體更包含一凹部，鄰設於該第二開口端。
7. 如申請專利範圍第2項所述之檢測裝置，其中該座體更包含一連通孔，鄰設於該第二開口端。
8. 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，其中該第一側壁具 有一內側壁以設置該第一溝槽，且該第一側壁的內側壁係為一粗糙表面或一刮除面。
9. 如申請專利範圍第8項所述之檢測裝置，其中該第二側壁具有一內側壁以設置該第二溝槽，且該第二側壁的內側壁係為一粗糙表面或一刮除面。
10. 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，其中該第一開口端相對於該座體具有一第一高度，該第二開口端相對於該座體具有一第二高度，且該第一高度高於該第二高度。