TWI452260B - 倒角深度檢測裝置 - Google Patents

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TWI452260B
TWI452260B TW101129743A TW101129743A TWI452260B TW I452260 B TWI452260 B TW I452260B TW 101129743 A TW101129743 A TW 101129743A TW 101129743 A TW101129743 A TW 101129743A TW I452260 B TWI452260 B TW I452260B
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Bing-Jun Zhang
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Hon Hai Prec Ind Co Ltd
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
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Description

倒角深度檢測裝置
本發明涉及一種倒角深度檢測裝置。
一般利用卡尺或投影儀檢測孔之倒角深度，然卡尺無法正確定位於倒角之斜面，導致檢測結果不準確。投影儀受空間限制，於狹小之空間內無法進行檢測。
鑒於以上，有必要提供一種方便、準確之倒角深度檢測裝置。
一種倒角深度檢測裝置，用以檢測一工件之一穿孔之倒角之深度，該倒角深度檢測裝置包括置於工件上之一承載台、一插件及一量塊，該承載台之前側設有能夠擋止於該倒角之底端之一定位柱，該插件豎向滑動地穿設於該承載台並抵接該倒角之斜面，該量塊可相對該插件滑動地置於該承載台，該量塊之底面開設有貫穿該量塊之朝向該插件之面且相互連通之一第一凹陷及位於第一凹陷之上方之前部之一第二凹陷，第二凹陷之頂面到第一凹陷之頂面之距離等於該倒角之深度之規格尺寸之公差值，該插件位於第二凹陷內，工件之倒角之深度值合格；該插件位於第一及第二凹陷外，則該工件之倒角之深度值小於最小合格值；該插件位於第一凹陷內，則該工件之倒角之深度值大於最大合格值。
相較習知技術，該倒角深度檢測裝置透過插件抵接該倒角之斜面，再向插件滑動該量塊，即可檢測倒角之深度是否合格，非常方便。
請參照圖1，本發明倒角深度檢測裝置用以檢測一工件20上之一穿孔22之倒角24之深度。該倒角24之底端（前端）形成一豎直之平面（如圖3至圖5所示）。該倒角深度檢測裝置包括一定位塊12、一插件14、一量塊16及一銷軸18。
該定位塊12概呈方形，包括一承載台121及自該承載台121之底面之前端向下凸設之一方形之定位柱120。該承載台121於該定位柱120之後側開設沿豎直方向貫穿該承載台121之頂面及底面之一收容孔122及沿水平方向貫穿該承載台121之左右兩側並與該收容孔122連通之一豎向之長圓形之滑槽124。
該插件14之前側向下延伸形成一方板形之延伸部142。該插件14鄰近頂端開設沿水平方向貫穿該插件14之左右兩側之一固定孔144。
該量塊16概呈方形，並於底面向上凹陷形成貫穿該量塊16之底部之兩側及前端面之一第一凹陷160。該第一凹陷160之頂面之前部向上凹陷形成貫穿該量塊16之兩側及前端面之一第二凹陷162。該第二凹陷162之頂面到該第一凹陷160之頂面之間之垂直距離等於該倒角24之深度之規格尺寸之公差值。
請參照圖2，組裝時，該插件14自上而下地穿設於該定位塊12之收容孔122。該銷軸18穿過該定位塊12之滑槽124及該插件14之固定孔144。其中銷軸18可於滑槽124內上下滑動，銷軸18與滑槽124之固定孔144過盈配合。該插件14之延伸部142伸出該定位塊12之收容孔122並貼靠於該定位柱120之後側。該量塊16置於該定位塊12之頂面，並位於該插件14之後側。該量塊16之第一及第二凹陷160及162朝向該插件14。
請參照圖3至圖5，使用時，將該定位塊12置於該工件20之頂面，該定位塊12之定位柱120插入該工件20之穿孔22。定位柱120之後側擋止於該倒角24之前端之平面，該平面與定位柱120之後側及延伸部142或插件14之前側共面。該插件14之延伸部142之底端自然地抵接該倒角24之斜面。
當倒角24之深度為最小合格值時，插件14之頂端與該第二凹陷162之頂面共面；當倒角24之深度為最大合格值時，插件14之頂端與該第一凹陷160之頂面共面。
檢測時，向該插件14滑動該量塊16。請參閱圖3，若該插件14之頂端位於第二凹陷162，則該倒角24之深度合格。請參閱圖5，若該插件14之頂端位於第一凹陷160內，則該倒角24之深度大於最大合格值。請參閱圖4，若該插件14之頂端擋止於該量塊16之前端面，即位於第一及第二凹陷160及162外，則該倒角24之深度小於最小合格值。
綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
12．．．定位塊
14．．．插件
16．．．量塊
18．．．銷軸
20．．．工件
22．．．穿孔
24．．．倒角
120．．．定位柱
121．．．承載台
122．．．收容孔
124．．．滑槽
142．．．延伸部
144．．．固定孔
160．．．第一凹陷
162．．．第二凹陷
圖1係本發明倒角深度檢測裝置之較佳實施方式與一工件之立體分解圖。
圖2係圖1之立體組裝圖。
圖3至圖5係圖2於不同之使用狀態下沿III-III線之剖視圖。
14．．．插件
16．．．量塊
18．．．銷軸
20．．．工件
22．．．穿孔
24．．．倒角
120．．．定位柱
121．．．承載台
142．．．延伸部
160．．．第一凹陷
162．．．第二凹陷

Claims (7)

  1. 一種倒角深度檢測裝置，用以檢測一工件之一穿孔之倒角之深度，該倒角深度檢測裝置包括置於工件上之一承載台、一插件及一量塊，該承載台之前側設有能夠擋止於該倒角之底端之一定位柱，該插件豎向滑動地穿設於該承載台並抵接該倒角之斜面，該量塊可相對該插件滑動地置於該承載台，該量塊之底面開設有貫穿該量塊之朝向該插件之面且相互連通之一第一凹陷及位於第一凹陷之上方之前部之一第二凹陷，第二凹陷之頂面到第一凹陷之頂面之距離等於該倒角之深度之規格尺寸之公差值，該插件位於第二凹陷內，工件之倒角之深度值合格；該插件位於第一及第二凹陷外，則該工件之倒角之深度值小於最小合格值；該插件位於第一凹陷內，則該工件之倒角之深度值大於最大合格值。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之倒角深度檢測裝置，還包括一銷軸，該承載台開設有貫穿承載台之頂面及底面之用以收容該插件之收容孔及貫穿該承載台之兩側並連通該收容孔之一豎向之滑槽，該銷軸可豎向滑動地穿過該滑槽且過盈配合地穿過該插件。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之倒角深度檢測裝置，其中該滑槽呈長圓形。
  4. 如申請專利範圍第2項所述之倒角深度檢測裝置，其中該倒角之斜面之前端形成一豎直之平面，該定位柱呈方形，該平面與該定位柱之後側位於同一豎直面上，該插件穿出該收容孔抵接該定位柱之後側。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之倒角深度檢測裝置，其中該插件之前側向下延伸形成抵接該倒角之斜面之一延伸部。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之倒角深度檢測裝置，其中該延伸部之前側貼設於該定位柱之後側。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之倒角深度檢測裝置，其中當該倒角之深度為最大合格值時，該插件之頂端與第一凹陷之頂面共面；當該倒角之深度為最小合格值時，該插件之頂端與第二凹陷之頂面共面。
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