TWI412785B - 讀取裝置 - Google Patents

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TWI412785B
TWI412785B TW099110930A TW99110930A TWI412785B TW I412785 B TWI412785 B TW I412785B TW 099110930 A TW099110930 A TW 099110930A TW 99110930 A TW99110930 A TW 99110930A TW I412785 B TWI412785 B TW I412785B
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Yehwei Yu
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Univ Nat Chiao Tung
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Description

讀取裝置
本發明是有關於一種讀取裝置，且特別是有關於一種同軸全像儲存媒體之讀取裝置。
全像儲存技術發展至今，歷史上經過了一波又一波的研究熱潮。然而，雖然眾多研究者投入無數的心血，但始終無法將全像儲存技術發展成可商品化的技術。
同軸全像儲存系統之特色為參考光與訊號光沿著同一光軸向前傳遞，並經由同一個物鏡聚焦在碟片上進行干涉寫入，此系統因具有架構簡單、能夠與傳統光學儲存媒體相容、參考光與訊號光之光程差較短、對於雷射同調長度的要求較低、較佳的位移選擇性、較佳的波長容忍度、較佳的傾斜容忍度、高儲存容量及高傳輸率等特色，被認為是下一代重要的儲存技術之一。
然而，當碟片產生熱變形時，介質折射率會改變，光柵也會隨之變形，使得繞射訊號變弱，點擴散函數(Point Spread Function；PSF)也會變差。這些問題直到目前為止都沒有有效的解決方法。
本發明之一技術態樣在於提供一種同軸全像儲存媒體之讀取裝置，其可克服熱變形所造成的問題。
根據本發明一實施方式，一種讀取裝置包含空間光調製器(Spatial Light Modulator；SLM)、變焦鏡組(Zoom Lens)、物鏡、影像擷取裝置與調整模組。空間光調製器用以提供讀取光。變焦鏡組配置於讀取光的光路中，使得讀取光通過變焦鏡組後，形成一實像。物鏡用以將實像聚焦於同軸全像儲存媒體，進而產生繞射訊號。影像擷取裝置用以擷取繞射訊號。調整模組用以根據繞射訊號的品質，調整變焦鏡組之影像放大倍率。
為了克服折射率改變時所造成的離焦效應，在本發明一或多個實施方式中，上述之讀取裝置尚包含一移動裝置。在讀取時，移動裝置可移動同軸全像儲存媒體，使得物鏡之等效後焦面仍然位於同軸全像儲存媒體的反射層上。
在本發明一或多個實施方式中，上述之變焦鏡組為一等焦面變焦鏡組(Parfocal lens)。
根據本發明另一實施方式，一種讀取裝置包含空間光調製器(Spatial Light Modulator；SLM)、變焦鏡組(Zoom Lens)、物鏡、溫度計與控制器。空間光調製器(Spatial Light Modulator；SLM)用以提供讀取光。變焦鏡組(Zoom Lens)配置於讀取光的光路中，使得讀取光通過變焦鏡組後，形成一實像。物鏡用以將實像聚焦於同軸全像儲存媒體。溫度計用以偵測同軸全像儲存媒體的溫度。控制器用以根據同軸全像儲存媒體的溫度，選擇變焦鏡組之影像放大倍率。
為了最佳化讀取的品質，上述之讀取裝置可包含寫入裝置、影像擷取裝置與調整模組。寫入裝置用以在提供讀取光前，先將伺服訊號寫入同軸全像儲存媒體的中央。影像擷取裝置用以擷取伺服訊號所產生之繞射訊號。調整模組用以根據繞射訊號的品質，調整變焦鏡組之影像放大倍率。
同樣地，為了克服折射率改變時所造成的離焦效應，在本發明一或多個實施方式中，上述之讀取裝置尚包含一移動裝置。在讀取時，移動裝置可移動同軸全像儲存媒體，使得物鏡之等效後焦面仍然位於同軸全像儲存媒體的反射層上。
根據本發明再一實施方式，一種讀取裝置包含徑向相位調製器、物鏡與影像擷取裝置。徑向相位調製器用以以徑向上相位不變的方式，調製讀取光的相位。此徑向相位調製器包含複數個隨機排列之0相位調製部與π相位調製部。物鏡用以將調製後之讀取光聚焦至同軸全像儲存媒體，進而產生繞射訊號。影像擷取裝置用以擷取繞射訊號。
在本發明一或多個實施方式中，徑向相位調製器為一徑向透鏡陣列。
在本發明一或多個實施方式中，徑向相位調製器為一空間相位調製器。
在本發明一或多個實施方式中，徑向相位調製器為一相位光罩。
以下將以圖式揭露本發明之複數個實施方式，為明確說明起見，許多實務上的細節將在以下敘述中一併說明。然而，應瞭解到，這些實務上的細節不應用以限制本發明。也就是說，在本發明部分實施方式中，這些實務上的細節是非必要的。此外，為簡化圖式起見，一些習知慣用的結構與元件在圖式中將以簡單示意的方式繪示之。
第1圖繪示依照本發明一實施方式之同軸全像儲存媒體100於寫入時的剖面示意圖。如圖所示，本實施方式之同軸全像儲存媒體100包含反射層110與紀錄層120。紀錄層120位於反射層110上。
在寫入時，使用者可藉由空間光調製器(Spatial Light Modulator；SLM)調製訊號光200與參考光300，並透過透鏡400聚焦至反射層110上。此時，訊號光200與參考光300會相互干涉，並將干涉條紋記錄在紀錄層120中。
如第1圖所繪示，由於反射層110的作用，紀錄層120中將存在兩種光柵，一種是穿透式光柵500，另一種則是反射式光柵600。具體而言，穿透式光柵500包含入射訊號光210與入射參考光310所建立的光柵，以及反射訊號光220與反射參考光320所建立的光柵。另一方面，反射式光柵600則包含入射訊號光210與反射參考光320所建立的光柵，以及反射訊號光220與入射參考光310所建立的光柵。這兩種光柵展現兩種截然不同的特性。
第2圖繪示第1圖之穿透式光柵500於寫入時的等效模型示意圖。於寫入時，空間光調製器所產生之訊號光200與參考光300被一併成像於透鏡400之前焦面(透鏡400的焦長f)，訊號光200與參考光300將沿著同一光軸傳遞，並經由透鏡400聚焦於同軸全像儲存媒體100，使得訊號光200與參考光300產生干涉條紋，紀錄於同軸全像儲存媒體100中。
第3圖繪示第1圖之穿透式光柵500於讀取時的等效模型示意圖。於讀取時，空間光調製器所產生之光場分佈與參考光300相同之讀取光350被成像於透鏡400之前焦面(透鏡400的焦長f)，使得讀取光350通過透鏡400後聚焦於同軸全像儲存媒體100。讀取光350通過同軸全像儲存媒體100後將產生繞射訊號250，此繞射訊號250經由透鏡400後將成像於透鏡400的前焦面(透鏡400的焦長f)，形成與訊號光200相同之光場分布。使用者可利用影像擷取裝置來擷取此繞射訊號250，以讀取同軸全像儲存媒體100中所儲存的資料(亦即，訊號光200與參考光300所產生之干涉條紋)。
第4圖繪示第1圖之反射式光柵600於寫入時的等效模型示意圖。於寫入時，訊號光200與參考光300將沿著同一光軸但反向射入同軸全像儲存媒體100，並在同軸全像儲存媒體100中產生干涉條紋。
第5圖繪示第1圖之反射式光柵600於讀取時的等效模型示意圖。於讀取時，空間光調製器會將光場分佈與參考光300相同之讀取光350成像於透鏡400之前焦面(透鏡400的焦長f)，使得讀取光350通過透鏡400後聚焦於同軸全像儲存媒體100。讀取光350通過同軸全像儲存媒體100後將產生繞射訊號250，此繞射訊號250反向經由透鏡400後將成像於透鏡400的前焦面(透鏡400的焦長f)，形成與訊號光200相同之光場分布。同樣地，使用者可利用影像擷取裝置來擷取此繞射訊號250，以讀取同軸全像儲存媒體100中所儲存的資料(亦即，訊號光200與參考光300所產生之干涉條紋)。
雖然上述模型看似可行，但熱變形的問題卻遲遲無法獲得解決。當同軸全像儲存媒體100產生熱變形時，介質折射率會改變，光柵(包含穿透式光柵500與反射式光柵600)也會隨之變形，使得繞射訊號250變弱，點擴散函數(Point Spread Function；PSF)也會變差。
雖然許多研發團隊認為熱變形問題必須借助可調波長雷射與抗熱變形材料來解決，但目前都沒有有效地解決這個問題。有鑑於此，發明人經苦心研究後，推導出同軸全像儲存系統的近軸近似解，並根據這個推導結果，提出熱變形問題的解決方案。
假設折射率改變時所造成的離焦效應已經由位移同軸全像儲存媒體100進行補償，(具體而言，在寫入及讀取時，同軸全像儲存媒體100將隨著折射率改變而移動，使得透鏡400之等效後焦面仍然位於同軸全像儲存媒體100的反射層110上)，本案發明人所推出的近軸近似解如下式所示：
其中各參數的定義如下：
(1)　熱變形後紀錄層120之介質折射率變成Mn 倍，透鏡400的等效焦距變為f/Mf ，則近軸條件下Mf =1/Mn ；
(2)　令光在紀錄層120之介質中的波長為Mλ λ，並定義讀取光350之波長為Mp λ，則Mλ =Mp /Mn 。
(3)　令1/Mx 、1/My 及1/Mz 為寫入之光柵分別在x、y、z三個方向上之熱變形率，設熱變形前之光柵分布為G0 (u,v,Δz)，則熱變形後之光柵分佈G(u,v,Δz)為G0 (Mx u,My v,Mz Δz)；
(4)　λ代表波長；
(5)　k代表波數(wave number)；
(6)　f代表透鏡400之焦長；
(7) Δz代表同軸全像儲存媒體100的中心偏離透鏡400後焦面的距離；
(8) u與v為同軸全像儲存媒體100之側向座標；
(9) Ui 為空間光調製器上所產生之輸入波前；
(10) Uf 為Ui 的傅式轉換(Fourier transform)；
(11) Us 、Ur 與Up 分別代表透鏡400前焦面上之訊號光200、參考光300與讀取光350的光場分布；以及
(12)　L為同軸全像儲存媒體100之厚度的兩倍。
以上的近軸近似解看似複雜，卻述說著極為清晰的系統物理特性，分述如下：
(1)代表變形的繞射訊號250。變形後的繞射訊號250在ξ方向上線性縮小倍，在η方向上線性縮小倍。
(2)由
可知，在高斯成像點(ξ,η)=(ξ1 ,η1 )上，若讓
則可以繞射出訊號光Us 。
由於
及
其中，α L 為紀錄層120之線膨脹係數，α n 為紀錄層120之折射率隨溫度的變化量。
因此，我們得到若能夠讓讀取時的影像放大率為寫入時之1+α L ΔT 倍，則可以滿足
因此，本案發明人基於以上發現提出一種解決熱變形問題的技術方案。
第6圖繪示依照本發明一實施方式之讀取裝置的示意圖。如圖所示，一種讀取裝置包含空間光調製器(Spatial Light Modulator；SLM) 710、變焦鏡組(Zoom Lens)720、物鏡730、影像擷取裝置740與調整模組750。空間光調製器710用以提供讀取光。變焦鏡組720配置於讀取光的光路中，使得讀取光通過變焦鏡組720後，形成一實像。物鏡730用以將實像聚焦於同軸全像儲存媒體100，進而產生繞射訊號。影像擷取裝置740用以擷取繞射訊號。調整模組750用以根據繞射訊號的品質，調整變焦鏡組720之影像放大倍率。
為了客觀正確地判斷繞射訊號的品質，在本發明一或多個實施方式中，上述之讀取裝置更可包含一寫入裝置。此寫入裝置可在提供讀取光前，先將伺服訊號寫入同軸全像儲存媒體100的中央。如此一來，在讀取時，影像擷取裝置740即可擷取伺服訊號所產生之繞射訊號，而調整模組750則可根據此繞射訊號來調整變焦鏡組720之影像放大倍率。
上述之寫入裝置在實務上可以是第6圖之空間光調製器710，其詳細作動已載明於第2圖、第4圖及相關文字敘述中，在此不再重複贅述。
第7圖繪示第6圖之空間光調製器710在寫入伺服訊號800時的正視圖。由於變焦鏡組720在變焦時，繞射訊號會隨著放大縮小，因此越靠近訊號頁712邊緣之繞射訊號位移量越大，而訊號頁712中央的繞射訊號則不會隨著變焦而位移。有鑑於此，在第7圖中，伺服訊號800可位於訊號頁712的中央。如此一來，在後續調整時，調整模組750將可根據訊號頁712中央之繞射訊號的品質來調整變焦鏡組720，而不會受到繞射訊號放大縮小的影響。
第8a-9c圖繪示依照本發明多個實施方式之伺服訊號800的示意圖。如圖所示，2×2之伺服訊號800的畫素分布可如第8a圖及第9a圖所示。此外，為了避免外圍的繞射訊號影響到中間的伺服訊號，4×4之伺服訊號800的外圍可為全暗，如第8b圖及第9b圖所示。或者，4×4之伺服訊號800的畫素分布可如第8c圖及第9c圖所示。應瞭解到，上述之伺服訊號800僅為例示，並非用以限制本發明，在本發明其他實施方式中，伺服訊號亦可為上述伺服訊號的各種旋轉，例如：90°或180°。
具體而言，上述之調整模組750在調整時，可視為以繞射訊號的品質為值函數(Cost Function)的最佳化問題(Optimization problem)，其最佳化的解(Optimal Solution)為能夠讓繞射訊號品質最大化的影像放大倍率。應瞭解到，上述之「繞射訊號的品質」可以是繞射訊號的對比度、訊雜比或上述兩者的任意組合。
第10圖繪示依照本發明一實施方式之調整變焦鏡組720的流程圖。在第10圖中，調整模組750可先讓變焦鏡組720之影像放大倍率往放大的方向改變，當變焦鏡組720之影像放大倍率為1.00倍時，得到繞射訊號之對比度及/或訊雜比為a(0)(步驟910)，而變焦鏡組720之影像放大倍率為1.01倍時，得到繞射訊號之對比度及/或訊雜比為a(1)(步驟920)，若(步驟930)，則持續放大變焦鏡組720之影像放大倍率，例如：至1.02倍，此時得到對比度及/或訊雜比為a(2)(步驟940)。若c(2)=a(2)-a(1)<0(步驟950)，則1.01倍為最佳的影像放大倍率(步驟960)。若，則持續放大變焦鏡組720之影像放大倍率，以此類推，直到c(i)=a(i)-a(i-1)<0為止(步驟970)。
另一方面，若c(1)=a(1)-a(0)<0(步驟930)，調整模組750會將變焦鏡組720之影像放大倍率往縮小的方向改變，繼續重複前述步驟，即可獲得最佳的影像放大倍率。
回到第6圖，為了加快讀取的速度，本實施方式之讀取裝置可包含溫度計770及控制器780。在讀取時，溫度計770可偵測同軸全像儲存媒體100的溫度。控制器780可根據同軸全像儲存媒體100的溫度，選擇變焦鏡組720之影像放大倍率。在本實施方式中，控制器780可初步將變焦鏡組720之影像放大倍率定為：
Ω=1+α L ΔT
其中，Ω為控制器780所選擇之影像放大倍率，α L 為同軸全像儲存媒體100之線膨脹係數，ΔT 為同軸全像儲存媒體100於讀取及寫入時的溫度差。
接著，調整模組750可依據繞射訊號的品質，調整變焦鏡組720之影像放大倍率。第11圖繪示依照本發明另一實施方式之調整變焦鏡組720的流程圖。第11圖與第10圖的差異在於：在第10圖中，變焦鏡組720之影像放大倍率的初始值為1.00倍。在第11圖中，變焦鏡組720之影像放大倍率的初始值為Ω倍。其餘各步驟均相同，在此不再重複贅述之。
應瞭解到，控制器780與調整模組750除了可同時存在外，亦可個別單獨決定變焦鏡組720之影像放大倍率。舉例來說，在本發明一或多個實施方式中，控制器780可直接以Ω倍作為變焦鏡組720之影像放大倍率，而不需要再經過調整模組750進行最佳化處理(Optimize)。
為了克服折射率改變時所造成的離焦效應，在本發明一或多個實施方式中，上述之讀取裝置尚包含一移動裝置760。在讀取時，移動裝置760可移動同軸全像儲存媒體100，使得物鏡730之等效後焦面仍然位於同軸全像儲存媒體100的反射層110上。上述之移動裝置760可為線性滑軌、導螺桿或其他各式移動機構。
為了固定變焦鏡組720之前焦面與後焦面的位置，在本發明一或多個實施方式中，變焦鏡組720可為一等焦面變焦鏡組(Parfocal lens)。如此一來，當變焦鏡組720變焦時，變焦鏡組720之前焦面與後焦面的位置當可維持不變。
此外，讀取裝置也可以以徑向上相位不變的方式，調製一讀取光的相位，使得讀取光不論如何放大縮小，其光場分佈均與寫入時的參考光相同。亦即，讀取光不論如何放大縮小，均滿足。以下將以第12圖為例，具體說明此一技術內容。
第12圖繪示依照本發明另一實施方式之讀取裝置的示意圖。如圖所示，一種讀取裝置包含徑向相位調製器725、物鏡730與影像擷取裝置740。徑向相位調製器725用以以徑向上相位不變的方式，調製讀取光的相位。物鏡730用以將調製後之讀取光聚焦至同軸全像儲存媒體100，進而產生繞射訊號。影像擷取裝置740用以擷取繞射訊號。
第13圖繪示依照第12圖之徑向相位調製器725的示意圖。如圖所示，為了產生較均勻的光強分佈，本實施方式之徑向相位調製器725包含複數個隨機排列之0相位調製部724(未加網點者)與π相位調製部726(加網點者)。上述之0相位調製部724與π相位調製部726的總數可為120個，每13個為一周期，依序可為：0相位調製部724、0相位調製部724、π相位調製部726、π相位調製部726、0相位調製部724、π相位調製部726、0相位調製部724、π相位調製部726、0相位調製部724、π相位調製部726、0相位調製部724、π相位調製部726、π相位調製部726，其中為滿足相位調製部的總數為120個，最後一個周期可不為完整的13個相位調製部，而僅為3個相位調製部。
在本發明一或多個實施方式中，上述之徑向相位調製器725可為一徑向透鏡陣列(如第14圖所繪示)，該徑向透鏡陣列共有120個柱狀透鏡，每一柱狀透鏡的焦距可為1.8 mm。此外，在本發明其他實施方式中，徑向相位調製器亦可透過空間相位調製器或相位光罩來實現。
同樣地，為了克服折射率改變時所造成的離焦效應，在本發明一或多個實施方式中，上述之讀取裝置尚包含一移動裝置760。在讀取時，移動裝置760可移動同軸全像儲存媒體100，使得物鏡730之等效後焦面仍然位於同軸全像儲存媒體100的反射層110上。上述之移動裝置760可為線性滑軌、導螺桿或其他各式移動機構。
雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100‧‧‧同軸全像儲存媒體
110‧‧‧反射層
120‧‧‧紀錄層
200‧‧‧訊號光
210‧‧‧入射訊號光
220‧‧‧反射訊號光
250‧‧‧繞射訊號
300‧‧‧參考光
310‧‧‧入射參考光
320‧‧‧反射參考光
350‧‧‧讀取光
400‧‧‧透鏡
500‧‧‧穿透式光柵
600‧‧‧反射式光柵
710‧‧‧空間光調製器
712‧‧‧訊號頁
720‧‧‧變焦鏡組
724‧‧‧0相位調製部
725‧‧‧徑向相位調製器
726‧‧‧π相位調製部
730‧‧‧物鏡
740‧‧‧影像擷取裝置
750‧‧‧調整模組
760‧‧‧移動裝置
770‧‧‧溫度計
780‧‧‧控制器
800‧‧‧伺服訊號
910~970‧‧‧步驟
f‧‧‧透鏡的焦長
第1圖繪示依照本發明一實施方式之同軸全像儲存媒體於寫入時的剖面示意圖。
第2圖繪示第1圖之穿透式光柵於寫入時的等效模型示意圖。
第3圖繪示第1圖之穿透式光柵於讀取時的等效模型示意圖。
第4圖繪示第1圖之反射式光柵於寫入時的等效模型示意圖。
第5圖繪示第1圖之反射式光柵於讀取時的等效模型示意圖。
第6圖繪示依照本發明一實施方式之讀取裝置的示意圖。
第7圖繪示第6圖之空間光調製器在寫入伺服訊號時的正視圖。
第8a-9c圖繪示依照本發明多個實施方式之伺服訊號的示意圖。
第10圖繪示依照本發明一實施方式之調整變焦鏡組的流程圖。
第11圖繪示依照本發明另一實施方式之調整變焦鏡組的流程圖。
第12圖繪示依照本發明另一實施方式之讀取裝置的示意圖。
第13圖繪示依照第12圖之徑向相位調製器的示意圖。
第14圖依照本發明一實施方式之徑向相位調製器的立體圖。
100．．．同軸全像儲存媒體
710．．．空間光調製器
720．．．變焦鏡組
730．．．物鏡
740．．．影像擷取裝置
750．．．調整模組
760．．．移動裝置
770．．．溫度計
780．．．控制器

Claims (10)

  1. 一種讀取裝置，包含：一空間光調製器(Spatial Light Modulator；SLM)，用以提供一讀取光；一變焦鏡組(Zoom Lens)，配置於該讀取光的光路中，使得該讀取光通過該變焦鏡組後，形成一實像；一物鏡，用以將該實像聚焦於一同軸全像儲存媒體，進而產生一繞射訊號；一影像擷取裝置，用以擷取該繞射訊號；以及一調整模組，連接該影像擷取裝置與該變焦鏡組，用以接收該繞射訊號，並根據該繞射訊號的對比度、訊雜比或上述之任意組合，調整該變焦鏡組之影像放大倍率。
  2. 如請求項1所述之讀取裝置，更包含：一移動裝置，用以移動該同軸全像儲存媒體，使得該物鏡之等效後焦面位於該同軸全像儲存媒體的反射層上。
  3. 如請求項1所述之讀取裝置，其中該變焦鏡組為一等焦面變焦鏡組(Parfocal lens)。
  4. 一種讀取裝置，包含：一空間光調製器(Spatial Light Modulator；SLM)，用以提供一讀取光；一變焦鏡組(Zoom Lens)，配置於該讀取光的光路中， 使得該讀取光通過該變焦鏡組後，形成一實像；一物鏡，用以將該實像聚焦於一同軸全像儲存媒體，進而產生一繞射訊號；一溫度計，用以偵測該同軸全像儲存媒體的溫度；一控制器，連接該溫度計與該變焦鏡組，用以接收該溫度計所偵測之該同軸全像儲存媒體的溫度，並根據該溫度計所偵測之該同軸全像儲存媒體的溫度，選擇該變焦鏡組之影像放大倍率，使得該變焦鏡組之影像放大倍率滿足：Ω=1+α L △T 其中，Ω為該控制器所選擇之該變焦鏡組之影像放大倍率，α L 為該同軸全像儲存媒體之線膨脹係數，△T 為該同軸全像儲存媒體於讀取及寫入時的溫度差；以及一影像擷取裝置，用以擷取該繞射訊號。
  5. 如請求項4所述之讀取裝置，更包含：一寫入裝置，用以在提供該讀取光前，先將一伺服訊號寫入該同軸全像儲存媒體的中央，使得當該實像聚焦於該同軸全像儲存媒體時，該讀取光將照射位於該同軸全像儲存媒體之中央的該伺服訊號，並進而產生該繞射訊號；以及一調整模組，連接該影像擷取裝置與該變焦鏡組，用以根據該繞射訊號的對比度、訊雜比或上述之任意組合，調整該變焦鏡組之影像放大倍率。
  6. 如請求項4所述之讀取裝置，更包含：一移動裝置，用以移動該同軸全像儲存媒體，使得該物鏡之等效後焦面位於該同軸全像儲存媒體的反射層上。
  7. 一種讀取裝置，包含：一徑向相位調製器，用以以徑向上相位不變的方式，調製一讀取光的相位，其中該徑向相位調製器包含複數個隨機排列之0相位調製部與π相位調製部；一物鏡，用以將調製後之該讀取光聚焦至一同軸全像儲存媒體，進而產生一繞射訊號；以及一影像擷取裝置，用以擷取該繞射訊號。
  8. 如請求項7所述之讀取裝置，其中該徑向相位調製器為一徑向透鏡陣列。
  9. 如請求項7所述之讀取裝置，其中該徑向相位調製器為一空間相位調製器。
  10. 如請求項7所述之讀取裝置，其中該徑向相位調製器為一相位光罩。
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