TWI411769B

TWI411769B - Metering device

Info

Publication number: TWI411769B
Application number: TW98127865A
Authority: TW
Inventors: Shinji Shimizu; Toshihiko Karasaki; Koji Yamamoto; Kazuya Kiyoi; Yoshiroh Nagai; Katsutoshi Tsurutani
Original assignee: Konica Minolta Sensing Inc
Priority date: 2008-08-22
Filing date: 2009-08-19
Publication date: 2013-10-11
Also published as: JP5375826B2; CN102124310A; WO2010021258A1; TW201020529A; CN102124310B; JPWO2010021258A1

Description

測光測色裝置

本發明係關於測光測色裝置，特別是關於具有複數之探針部，能夠以色度計或分光測色計，同時測定多點的測光測色裝置。

從前，在把測定探針連接於裝置本體來使用的測光測色裝置，在測定前以連接的測定探針測定基準測定光，由此測定值算出校正資料而記錄於裝置本體，測定時使用此校正資料算出色彩值(例如參照專利文獻1(D1))。

一般而言，刺激值直接讀取型的探針部，具有構成為具備濾光部與感測部的3個光學感測器，這些各個之分光回應度，是根據濾光部的分光透過率以及感測部的分光回應度而決定的。此分光回應度，與所謂CIE1931所規定的等色函數完全相同的場合，使用前述刺激值直接讀取型的探針部所求得的色度與亮度，不含絕對值誤差。然而，通常，無法使刺激值直接讀取式的色彩計之分光回應度完全一致於前述等色函數，這些之差成為絕對值誤差的原因。

因此，為了減低此絕對值誤差，藉由使用更高精度的分光型測定器校正刺激值直接讀取型的測定器的手法被採用(例如參照專利文獻2(D2))。藉由此手法，例如於工廠出貨時或定期檢點時，藉由使用分光型測定器等絕對值誤差比較小的測定器來進行測光測色裝置的校正。

另一方面，分光型之測定器，具備具有繞射晶格等之分散元件，與被配設為陣列狀的複數光電變換元件之多色儀(polychrometer，繞射晶格分光器)，這樣的分光型測定器，與刺激值直接讀取型之測光測色裝置相比，可以進行更高精度的測定，但相反的亦有受光感度很低的場合。因此，這樣的分光型測定器，在測定例如低亮度的顯示裝置的場合，亦有成為不利的情形。

在如前述之從前技術，校正時對測色計連接個人電腦及分光型測定器，進行各個測定而轉送資料，接著，有必要進行校正係數的演算或設定，作業非常繁雜。

此外，因應於測定對象光的亮度分區分使用分光型測定器與刺激值直接讀取型測定器的場合，或使用此2種類之測定器同時進行評價的場合等，必須要2台測定器，測定器的連接、設定以及測定作業也很繁雜。

[先行技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]日本專利特開平3-44511號公報

[專利文獻2]日本專利特開平9-49765號公報

本發明係有鑑於前述情形而為之發明，其目的在於提供於具有複數探針部的測光測色裝置，可以容易進行刺激值直接讀取型的探針部的校正，進而因應於測定對象物，可以選擇性地或者同時執行刺激值直接讀取型的探針部與分光型的探針部之測定的測光測色裝置。

相關於本發明的測光測色裝置，具備：複數之探針部、控制前述複數探針部的測定動作同時前述複數之探針部係被構成為可裝拆的1個或者複數個本體部；前述複數探針部包含分光型的探針部及刺激值直接讀取型的探針部。亦即，如此般構成的測光測色裝置，可以根據分光型探針部的測定結果而容易校正刺激值直接讀取型的探針部，藉由本體部的控制，可以因應於測定對象物，而使刺激值直接讀取型的探針部與分光型的探針部選擇性地或是同時進行測定的執行。

本發明之前述以及其他之目的、特徵及優點，應可藉由以下之詳細記載以及附圖而清楚說明。

以下，根據圖面說明相關於本發明之一實施型態。又，於各圖賦予相同符號的構成，顯示其為同一構成，而適當省卻其說明。此外，於本說明書，在總稱的場合顯示省略下標之參照符號，指出個別構成的場合則顯示附加下標的參照符號。

首先，針對測色計的校正，進行概略說明。圖18係顯示可多點測定的測色計的電氣構成之方塊圖。圖19係模式顯示刺激值直接讀取型的探針部之光學感測部的構成。圖20係顯示刺激值直接讀取型的測定器的分光回應度之圖。圖21係供說明圖18所示的測色計之刺激值直接讀取型的探針部的校正方法之方塊圖。

圖18所示之測色計1，具有複數之刺激值直接讀取型(濾光型)之探針部p1,p2,...,pn，這些被構成為中介著纜線11,12,...,1n，被連接至對這些複數之探針p共通的本體部2。接著，對顯示器等之被測定光源m，使各探針部p分別朝向正對於被測定光源m之複數測定部位m1,m2,...,mn而藉由這些各探針部p同時測定亮度值與測色值。

前述刺激值直接讀取型之探針部p具備光學感測部3、訊號擴大部4、及界面部5。此光學感測部3，如圖19所示，被構成為具備物鏡3b、濾光部3c與感測部3d。由前述被測定光源m發出的光3a，通過物鏡3b而由濾光部3c被聚光於感測部3d。於濾光部3c，3個光學濾波器3cx,3cy,3cz於圓周方向依序被配置，接著，於感測部3d也有3個感測器3dx,3dy,3dz於圓周方向依序被配置，藉由這些感測部3d之感測器3dx,3dy,3dz之各個與濾光部3c之光學濾波器3cx,3cy,3cz之各個之組合，光學感測部3，係以具有近似於前述CIE1931所規定的等色函數x(λ),y(λ),z(λ)的分光回應度(參照圖20之虛線)的方式被設計。各感測器3dx,3dy,3dz之輸出，在以訊號擴大部4擴大後，通過界面部5往本體部2輸出。本體部2，在界面部6受訊到由此光學感測部3輸入的訊號，藉由類比/數位變換部(A/D部)7數位化。

此處所得到之各感測器3dx,3dy,3dz之輸出所對應的個數位值X，Y，Z，係以被測定光源m的分光放射亮度為S(λ)，使感測器3dx,3dy,3dz之各分光回應度為x'(λ),y'(λ),z'(λ)的場合，藉由式(1-1)至式(1-3)表示。

X=∫S(λ)‧x'(λ)dλ　…(1-1)

Y=∫S(λ)‧y'(λ)dλ　…(1-2)

Z=∫S(λ)‧z'(λ)dλ　…(1-3)

此處，λ為波長，其波長範圍為可見光的波長範圍。接著，使用所得到的數位值X,Y,Z，控制部8，藉由進行根據式(2-1)至式(2-3)之演算可以算出色度x,y以及亮度Lv。

x=X/(X+Y+Z)...　(2-1)

y=Y/(X+Y+Z)...　(2-2)

Lv=Y　...(2-3)

前述之測定與演算，回應於來自操作部9的操作針對複數之探針部p依序進行，其算出結果被收容於記憶體10，藉由來自前述操作部9的操作，控制部9選擇性地或統合整理顯示於顯示部11。

此處，一般而言，刺激值直接讀取型的探針部p之各個的分光回應度，係藉由前述濾光部3c之分光透過率，與感測部3d之分光回應度之合成而被決定的。此分光回應度，如果與前述CIE1931所規定的等色函數完全相同的話，使用刺激值直接讀取型的探針部所p求得的色度與亮度，不產生絕對值誤差。然而，如圖20所示，很難設計成使刺激值直接讀取式的色彩計1之分光回應度(實線)完全一致於等色函數(虛線)，因此，這些之差成為絕對值誤差的原因。

因此，為了減低此誤差，藉由使用更高精度的分光型測定器校正刺激值直接讀取型的測定器的手法被採用。藉由此手法，於工廠出貨時或定期檢點時，藉由使用分光型測定器等絕對值誤差比較小的測定器來進行校正。以下，針對對具備圖21所示之刺激值直接讀取型的探針部p1～pn與本體部2之測定器1，藉由利用分光型之測定器12進行校正的場合之資料處理的流程進行說明。分光型的測定器12，直接連結於進行校正的個人電腦(PC)13，測定器1之本體部2，透過該界面部14而連接於前述個人電腦13。同一之前述被測定光源m，藉由分光型之測定器12與各刺激值直接讀取型之探針部p而分別被測定，使各測定值分別為(X0,Y0,Z0)、(X1,Y1,Z1)，個人電腦13取入這些之各個測定值(X0,Y0,Z0)、(X1,Y1,Z1)。

接著，個人電腦13為了使誤差很大的測定值(X1,Y1,Z1)配合於誤差小的測定值(X0,Y0,Z0)，把校正係數AX,AY,AZ藉由式(3-1)至(3-3)之演算而算出，收容於本體部2之記憶體10。

AX=X0/X1　...(3-1)

AY=Y0/Y1　...(3-2)

AZ=Z0/Z1　...(3-3)

以後，刺激值直接讀取型之探針部p之測定值，係對校正前之值(X1,Y1,Z1)，藉以下之式(4-1)至(4-3)所示，分別乘以校正係數(AX,AY,AZ)後之校正值(X2,Y2,Z2)被輸出至例如顯示部11等。

X2=X1×AX　...　(4-1)

Y2=Y1×AY　...　(4-2)

Z2=Z1×AZ　...　(4-3)

以下，接續著這樣的具備刺激值直接讀取型的探針部p之測色計1的校正守法，針對實施型態進行說明。

[實施型態1]

圖1係顯示相關於本發明的第1實施型態之測色計的電氣構成之方塊圖。圖2係模式顯示圖1所示之測色計之分光型探針部之光學感測部的構成。圖3係於圖1所示的測色計，控制測定動作及校正動作之控制部的功能方塊圖。

於圖1，測色計21具備複數之探針部P(P1,P2,...,Pn)，及對這些複數探針部P共通的本體部22。接著，應該注目的，是在此測色計21，這些複數之探針部P之一部分(在圖1所示之例為探針部Pn)為分光型之探針，其餘探針部P(在圖1所示之例為探針部P1～Pn-1)為刺激值直接讀取型(濾光型)之探針。這些探針部P，透過可由纜線L1,L2,...,Ln裝拆的連接器Q1,Q2,...,Qn，被連接於前述本體部22的界面部28。接著，在此測色計21，對顯示器等之被測定光源M，使各探針部P分別朝向正對於被測定光源M之複數測定部位M1,M2,...,Mn-1而同時測定亮度值與測色值。

前述刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1之光學感測部3，例如圖19所示，被構成為具備物鏡3b、濾光部3c、感測部3d，如前所述地被構成。另一方面，分光型探針部Pn，如圖2所示，被構成為具備：物鏡23b、照明透鏡23c、繞射晶格23d、聚光透鏡23e、CCD線狀感測器23f。由前述被測定光源M發出的光23a，通過物鏡23b而被聚光，進而通過照明透鏡23c成為平行光往繞射晶格23d照射。在繞射晶格23d反射的反射光，透過聚光透鏡23e被聚光於CCD線狀感測器23f上。此處，以繞射晶格23d反射之反射光的反射角，依存於波長而有不同，因此在CCD線狀感測器23f上的成像位置，隨著波長而不同。亦即，前述CCD線狀感測器23f的畫素輸出，變成分別比例於波長分解的光強度亦即比例於分光能量。例如，以接受到藉繞射晶格23d分光的可見光波長範圍380～780nm(幅度為400nm)之光的方式，在CCD線狀感測器23f上配置41個畫素的場合，藉由此CCD線狀感測器23f可得10nm間距的分光資料。

前述CCD線狀感測器23f之各畫素輸出，以訊號擴大部24分別擴大。此處，應該注意的是此擴大後的各畫素輸出，以類比/數位變換部(A/D部)25由類比訊號變換為數位訊號，在控制部26，根據此數位訊號之各畫素輸出，算出被測定光源M的分光放射亮度S'(λ)後，被變換為預定的訊號形式，由界面部27往前述本體部22輸出。表示測定結果之前述分光放射亮度S'(λ)之訊號，被附加表示前述光學感測部23的種類(分光型)之訊號。或者是，表示此光學感測部23的種類(分光型)的訊號，在打開電源時或連接往連接器時只被傳送1次的方式來構成測色計21亦可。控制部26，回應於來自本體部22的測定指示而進行測定動作。記憶體33，收容著例如以儀表來測定，算出前述分光放射亮度S'(λ)時之校正係數等。

此外，對應於此，在刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1，來自前述光學感測部3的感測部3d的各感測器3dx,3dy,3dz之分光輸出訊號，以訊號擴大部4分別擴大後，以根據前述式(1-1)至式(1-3)成為數位值X,Y,,Z的方式藉類比/數位變換部25'變換為數位訊號被輸入至控制部26'。在控制部26'，由這些數位值X,Y,Z依照前述式(2-1)至式(2-3)算出色度x,y以及亮度Lv，被變換為前述預定的訊號形式，由界面部27往前述本體部22輸出。表示測定結果之前述色度x,y及亮度Lv之訊號，被附加表示前述光學感測部3的種類(刺激值直接讀取型)之訊號。或者是，表示此光學感測部3的種類(刺激值直接讀取型)的訊號，在打開電源時或連接往連接器時只被傳送1次的方式來構成測色計21亦可。

接著，本體部22，被構成為具備：與各探針部P之界面部27進行通訊的界面部28，控制測定及校正動作的控制部29、顯示測定結果的顯示部30、記憶測定結果等之記憶體31、與進行輸入操作的操作部32。此處，在分光型之探針部Pn的控制部26所求得的分光放射亮度S'(λ)，作為測定值直接使用，同時在校正模式，被使用供求出前述刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1之控制部26'算出色度x,y及亮度Lv時使用的前述校正係數AX,AY,AZ。

此校正係數AX,AY,AZ之演算，如以下所述地進行。首先，等色函數為x(λ),y(λ),z(λ)的場合，控制部29，藉由進行式(5-1)至式(5-3)的演算，與前述刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1同樣，可以算出數位值之測定值X,Y,Z。

X=ΣS'(λ)‧x(λ)Δλ..._　(5-1)

Y=ΣS'(λ)‧y(λ)Δλ...　(5-2)

Z=ΣS'(λ)‧z(λ)Δλ...　(5-3)

此處，λ為波長，其波長間隔為CCD線狀感測器23f的波長分解能，接著波長範圍為可見光的波長範圍。

接著，與前述刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1同樣，藉由使用式(2-1)至式(2-3)，算出色度x,y以及亮度Lv。

另一方面，在出貨調整時，分光放射分佈係測定已知(S(λ))的光源，該時之前述分光型探針部Pn的分光測定值為S"(λ)的場合，校正係數A(λ)以下式(6)求出，與該分光型探針部Pn之識別資訊一起被收容於前述之記憶體33。

A(λ)=S(λ)/S"(λ)　...(6)

亦即，對任意之被測定光源M所得到的分光測定值S"'(λ)，分光測定值S"'(λ)藉由以下之式(7)補正，而正確的分光測定值S'(λ)被輸入至本體部22。

S'(λ)=A(λ)×S'''(λ)　...(7)

對於如此得到的根據分光型之探針部Pn的正確分光測定值S'(λ)，控制部29成為使刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1的測定值以分光型之探針Pn的測定值來校正的校正模式時，透過界面部27,28取得刺激值直接讀取型探針部P1～Pn-1之該物的測定值X1,Y1,Z1，另一方面，從前述分光測定值S'(λ)藉由式(5-1)至(5-3)求出測定值X,Y,Z，將其結果作為前述測定值X0,Y0,Z0，藉由使用式(3-1)至式(3-3)而得到刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1之前述校正係數(AX,AY,AZ)。控制部29，把此獲得的校正係數(AX,AY,AZ)，透過界面部28,27而藉由控制部26'設定(收容)於記憶體33。

藉此，成為在刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1之誤差原因的光學感測部23的分光回應度與等色函數之差，可以幾乎不發生。亦即，在如此構成的測色計21，可以進行在複數之刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1誤差很小的測定。

這樣的控制部29，例如圖3所示，功能上被構成為具備：探針判別部29a、測定探針選擇部29b、操作開關檢測部29c、測定(計時)控制部29d、資料輸入部(讀入A/D測定值)29e、記憶體控制部(轉送部、讀出)29f、演算部29g、亮度判定部29h、(使用者)校正控制部29i、與顯示控制部29j。

探針判別部29a，由與探針部P之控制部26,26'之通訊資料來判別被安裝於連接器Q的探針部P的種類(刺激值直接讀取型(P1～Pn-1)或者分光型(Pn))。測定探針選擇部29b，在後述之探針切換測定時，由亮度判定部29h等的判定結果，選擇適合的探針部P。操作開關檢測部29c檢測測定按鈕、模式選擇開關、顯示切換開關等之操作部32之各部的狀態。測定(計時)控制部29d，控制根據判別的探針部P的測定(計時)。例如，測定開始，係回應於前述測定按鈕(SW)的打開(ON)訊號而進行的。資料輸入部29e，係進行使由探針部P送出的測定值在本體部22側讀入的控制(A/D測定值讀入控制)。記憶體控制部29f，係把讀入的測定值轉送至記憶體31，同時適當地讀出被記憶於記憶體31的測定值或校正值。

演算部29g，算出測定值與預定的基準值之差。此差，係使用者在白平衡調整時使用。亮度判定部29h，係如前述那樣進行探針切換測定時，把被測定光源M的亮度與閾值比較。校正控制部29i，在實行前述校正模式時，使用分光型的探針部Pn的測定值，算出刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1的校正係數AX,AY,AZ，保存於記憶體33。前述顯示控制部29j，進行把測定演算值、測定模式、裝置的狀態(測定中、等待中等)顯示於顯示部30的控制。

圖4係供說明圖3所示之控制部所進行之測定動作及校正動作之流程圖。於圖4，本體部22的電源打開時，執行步驟S1，探針判別部29a，判別被安裝於連接器Q的探針部P的種類，在沒有被安裝刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1的場合執行步驟S2，判斷是否安裝了分光型探針部Pn，任一探針部P均未被安裝的場合，回到前述步驟S1繼續等待，在步驟S2僅安裝分光型探針部Pn的場合執行步驟S3，被設定為僅有分光型的探針部Pn的測定模式。另一方面，在前述步驟S1被安裝著刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1的場合，也進而在步驟S12判斷是否被安裝分光型的探針部Pn，未被安裝的場合，亦即只有安裝刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1的場合執行步驟S13，被設定為僅該刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1的測定模式。

在分光型的探針部Pn之測定模式，藉由步驟S4的操作開關檢測部29c保持等待直到檢測出操作部32的測定按鈕(SW)的操作為止，被操作時，在步驟S5，測定(計時)控制部29d，於判別的分光型探針部Pn進行測定，測定結果(分光測定值S'(λ))由資料輸入部29e透過記憶體控制部(轉送部、讀出)29f而被輸入，在步驟S7顯示控制部29j使顯示於顯示部30同時在步驟S8被收容於記憶體31。在步驟S9，分光型的探針部Pn被複數安裝的場合，針對其全部判斷是否進行測定，殘留有未測定的探針部P的場合回到前述步驟S4反覆測定，結束全部的測定的場合在步驟S10，判斷電源開關是否被關掉，在電源關掉的場合結束測定動作，未被關掉電源的場合回到前述步驟S1繼續測定動作。在刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1之測定模式，也進行與前述步驟4～S9同樣之步驟S14～S19的處理，接著，執行步驟S10。

對此，由前述步驟S1至步驟S12的處理，刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1與分光型之探針部Pn之雙方被安裝著的場合，被執行步驟S21，操作開關檢測部29c，判斷是否以操作部32的模式選擇開關選擇校正模式，在被選擇的場合執行步驟S22。在步驟S22，首先測定(計時)控制部29d，於刺激值直接讀取型探針部P1～Pn-1進行測定，取入其測定結果，其次在步驟S23於分光型探針部Pn進行測定，取入其測定結果。在步驟S24，校正控制部29i，使用2種類之探針部P1～Pn-1、Pn之測定值，如前所述，算出刺激值直接讀取型探針部P1～Pn-1之校正值，使保存於刺激值直接讀取型之探針部P1～Pn-1。在步驟S26，刺激值直接讀取型探針部P1～Pn-1被複數安裝著的場合，針對其全部判斷是否已得到校正係數AX,AY,AZ，殘留未校正的探針部的場合回到前述步驟S22反覆進行測定(此場合，關於分光型探針部Pn之測定步驟S23亦可跳過)，結束所有的校正的場合執行步驟S27。

在步驟S27，在操作開關檢測部29c，等待至操作部32的測定按鈕(SW)被操作為止，被操作時，在步驟S28，測定(計時)控制部29d，首先以刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1之任一進行預備測定，由其測定結果，在步驟S29，演算部29g演算亮度Lv，在步驟S30，於前述亮度判定部29h，比較該亮度Lv與前述閾值，閾值以上的場合移至前述步驟S3以分光型之探針部Pn進行測定，不滿閾值的場合移至前述步驟S13而以刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1進行測定。

圖5係顯示刺激值直接讀取型測定器與分光型的測定器之分光回應度之圖。圖5之橫軸為亮度，其縱軸為誤差。圖6係供說明探針部的切換測定動作之用的方塊圖。圖7係供說明於圖6所示的構成之測色計，對於進行顯示器的白平衡調整之輸入訊號位準變化之亮度變化之圖，顯示調整前的狀態。圖9係前述白平衡調整的調整中之顯示器顯示畫面及探針配置之圖。圖9係供說明對前述白平衡調整之輸入訊號位準變化之亮度變化之圖，顯示調整中的狀態。圖10係供說明對前述白平衡調整之輸入訊號位準變化之亮度變化之圖，顯示調整後的狀態。圖7、圖9以及圖10之各橫軸，係輸入訊號，這些之各縱軸為亮度。

此處，側光裝置，如圖19與圖2所示，由光學感測部3,23的光學構成的不同，可以分類為刺激值直接讀取型的測定器與分光型的測定器。一般而言，前者的光學系很簡單，能量損失很少，於圖5參照符號α1所示，係高感度、測定誤差大、且機器間的測定值差也很大。相對於此，後者，如圖5之參照符號α2所示，測定誤差很小且機器間的測定值差也很小，但是光學系複雜所以感度低。此外，在測定高亮度光源的場合，即使光學感度低的分光型測定器也可以充分確保(測定值的)反覆性，隨著光源亮度降低，反覆誤差會成為問題。然而，光學感度低的分光型測定器之反覆誤差很大的亮度範圍內，刺激值直接讀取型的測定器其光學感度還很高，所以在實用上仍可以確保往不會成為問題的程度之小的反覆誤差。

因此，例如圖6所示，使分光型探針部Pn與刺激值直接讀取型的探針部P1接近配置(在被測定光源M上之亮度、色度成為相同的區域設置兩探針P1,Pn)的方式來構成測色計21亦可。在這樣的測色計21，如圖5所示被設定特定的亮度閾值Lc，將此亮度閾值Lc收容於本體部22的記憶體31，在其閾值Lc以上的場合以分光型的探針部Pn進行測定，不滿閾值Lc的場合以刺激值直接讀取型的探針部P1進行測定。藉由如此般分別使用分光型探針部Pn與刺激值直接讀取型的探針部P1，如圖6所示的構成之測色計21，可以區分刺激值直接讀取型與分光型之性能長短，而能夠以1台裝置實現在全亮度範圍使誤差最小之測定。前述亮度閾值Lc，例如圖5所示，係被設定於刺激值直接讀取型的探針部P1之誤差特性α1與分光型的探針部Pn之誤差特性α2之交點的亮度值。

以下，如圖6所示，作為倂用分光型探針部Pn與刺激值直接讀取型探針部P1之測定例，針對顯示器的白平衡調整進行說明。白平衡調整，係以Red,Green,Blue為相同訊號輸入的場合，由高亮度至低亮度為止使色度成為一定的方式，在顯示器側調整輸入訊號與發光量之關係。作為調整參數，有對輸入訊號使發光量一律上移之抵銷(offset)調整之抵銷調整參數，與增減對輸入訊號的發光量的比率(斜率)的驅動(drive)調整之驅動調整參數。

例如，調整前，前述Red,Green,Blue之輸入訊號與發光量之關係，如圖7所示彼此相異。對這樣的顯示器，倂用前述抵銷調整與驅動調整的調整過程，如以下所述。在作業開始前等進行最初的顯示器調整之前，首先，於畫面全體顯示高亮度的白色圖案，以接近配置的兩探針部P1,Pn分別進行測定，保存各測定值。使用兩測定值，依照前述式(3-1)至式(3-3)算出並保存對刺激值直接讀取型的探針部P1之校正係數AX,AY,AZ。從此以後，直到作業結束為止，於刺激值直接讀取型的探針部P1的測定值X1,Y1,Z1，作為被乘上此校正係數AX,AY,AZ者，依照式(4-1)至式(4-3)算出測定值X2,Y2,Z2。

其次，如圖8所示，刺激值直接讀取型探針部P1側之畫面被提供比較小的輸入訊號L1，由該刺激值直接讀取型探針部P1之輸出，如圖9所示，以此輸入訊號L1與Red,Green,Blue之各亮度互為相等的方式被設定抵銷調整參數，進行抵銷調整。接著，如前述圖8所示，分光型探針部Pn側之畫面被提供比較大的輸入訊號L2，在此輸入訊號L2也與Red,Green,Blue之各亮度互為相等的方式被設定驅動調整參數，進行驅動調整。結果，如圖10所示，在高亮度到低亮度為止之全區域，可以調整成為輸入訊號相等的話，色度就成為一定。亦即，為了進行這樣的調整，必須要如前所述由低亮度區域至高亮度區域都可進行誤差很少的測定。如此，能以最佳的精度執行白平衡。

接著，說明測定顯示器之串訊量的場合。所謂串訊，係僅使顯示器的某個區域發光的場合，受到其影響而使非發光區域也發光的現象。串訊量，例如以發光區域與非發光區域之比來定義。測定串訊的場合之顯示圖案，一般如圖11所示，在顯示區域之中，使中央為發光區域，其他為非發光區域。串訊，因為顯示器的電極等的關係，容易發生在發光區域的左右方向及上下方向。

因此，如圖11所示於中央配置分光型的探針部Pn，其他的4點配置刺激值直接讀取型之探針部P1～P4。其次，於畫面全體顯示高亮度的白色圖案，以所有的探針部P1～P4,Pn進行測定，保存測定值。探針部Pn之測定值，使用探針部P1～P4之測定值，依照前述式(3-1)至式(3-3)分別算出並保存對刺激值直接讀取型的探針部P1～P4之校正係數AX,AY,AZ。從此以後，刺激值直接讀取型的探針部P1～P4的測定值X1,Y1,Z1，被乘上此校正係數AX,AY,AZ，成為依照前述式(4-1)至式(4-3)之測定值X2,Y2,Z2。此後，如圖11所示僅畫面中央顯示白色，算出根據分光型探針部Pn之中央部的測定值，與刺激值直接讀取型的探針部P1～P4之其他4點的測定值之比，此算出結果成為串訊之值。

藉由如此般構成，藉由以分光型探針部Pn測定高亮度區域的同時，以刺激值直接讀取型探針部P1～P4測定低亮度區域，高精度地測定顯示器的串訊。此外，探針部P1～P4,Pn只要設置一次即可，不會發生在探針部只有1個的測色計的場合之該探針部的移動，如此構成的測色計21可以高速且簡便地進行測定。

如以上所述，第1實施型態之測色計21，被構成為具有複數之探針部P1～Pn，各探針部P1～Pn具備共通的本體部22，其係可以同時測定多點的測色計，前述複數之探針部P1～Pn之中，大部分(P1～Pn-1)係以刺激值直接讀取型來構成，另一方面，一部份(Pn)係以分光型來構成。因此，該本體部22，以高精度之分光型探針部Pn進行之測定結果可以使用於多數之刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1的校正而進行自動校正，第1實施型態之測色計21，不需使用個人電腦等外部裝置，也不需要測定資料的轉送等使用者作業，可以極為容易地進行校正。此外，於本體部22，被設定特定的亮度閾值Lc，本體部22，在該亮度閾值Lc以上的場合，以前述高精度分光型的探針部Pn進行測定，在未滿亮度閾值Lc的場合，改以光學系很簡單，能量損失很少之高感度的刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1進行測定。

此外，在第1實施型態之測色計21，前述各探針部P1～Pn-1,Pn被構成為具備：光學感測部3,23、擴大來自前述光學感測部3,23的輸出之擴大器4,24、把來自前述擴大器4,24的輸出進行類比/數位變換之類比/數位變換部25',25、把來自前述類比/數位變換部25',25的輸出變換為預定的訊號形式而往前述本體部22輸出，同時回應於來自前述本體部22的測定指示進行測定動作的控制部26',26、記憶校正係數AX,AY,AZ,A之記憶體33、與中介於前述控制部26',26與本體部22之間的界面部27。因此，即使在前述刺激值直接讀取型與分光型兩種感測器在測定方法上不同，也只要規定訊號形式，把代表感測部3,23的種類之訊號在電源打開時等時候適當地送訊往本體部22，也可以對本體部22之連接器Q任意地裝拆任一形式之探針部P1～Pn-1,Pn。亦即，作為基本構成，如前所述使多數(P1～Pn-1)為刺激值直接讀取型同時期一部份(Pn)為分光型，或者是使所有都是刺激值直接讀取型，或全部為分光型，或大部分為分光型而同時其一部份為刺激值直接讀取型等任意之組合都為可能。亦即，校正結束後使所有為刺激值直接讀取型，在亮度高的場合使所有都為分光型，或在亮度低的場合使全部為刺激值直接讀取型等，可以進行多樣化之測定。

[實施型態2]

圖12係顯示相關於本發明的第2實施型態之測色計51的電氣構成之方塊圖。圖13係供說明於第2型態，組合複數互異的分光回應度之感測器構成具有所期待的分光回應度的感測器的方法之圖。圖14係供說明於第2型態，組合複數互異的分光回應度之感測器構成具有所期待的分光回應度的感測器的方法之圖。於圖12、此測色計51，類似於前述之測色計21，對應的部分被賦予相同參照符號，而省略其說明。在前述之測色計21，相對於在1台本體部22安裝複數台探針部P，應注意的是，在此測色計51，複數個探針部P1,P2,...,Pn分別被連接於個別對應的本體部S1,S2,...,Sn上而構成1個單元，該複數台之單元相互連接，進而其中之1台成為主控(master)機，其餘為伺服(slave)機，而進行校正及測定。於前述主控機上最好是有被連接著分光型探針部Pn的本體部Sn，此本體部Sn，於校正模式，把其測定結果配訊至其餘的本體部S1,S2,...,Sn-1。如此構成的場合，本體部S間的網路構成如果可能的話，使該本體部S因應需要而增設，可以擴張探針部P的數目。

在前述說明，分光型探針部Pn之光學感測部23，如圖2所示，成為繞射晶格23d使用CCD線狀感測器23f的所謂分光測色計的構成，構造上類似於前述圖19所示之刺激值直接讀取型的探針部P1～Pn-1之光學感測部3的構成，具有具4種類以上的分光回應度的測光功能的亦即4個以上的濾光部及對應的感測部，包含不把加算感測器的一部份輸出等各感測器的輸出予以直接輸出，而有必要進行演算而輸出者。

例如，使用圖13及圖14來說明使用具有3個分光回應度的感測器，來實現具有相等於1個等色函數，例如y(λ)的分光回應度的測定之例。測定器，係分別具有圖13之參照符號β1～β3所示的分光回應度的3個感測器。此外，等色函數y(λ)等於以參照符號β0所示之分光回應度。此處，把3個感測器輸出之單純和(亦即，各感測器的擴大率為1)作為訊號來取出，成為以前述參照符號β1～β3所示的分光回應度之和之參照符號β4所示的分光回應度。在此場合，與以參照符號β0所示之等色函數y(λ)並不一致。

此處，對前述參照符號β1～β3所示的3個分光回應度，分別乘上0.3,1.0,1.7時，其分光回應度，如圖14之參照符號β'1～β'3所示地分別變化，取和時如參照符號β'4所示，等於以β0所示之等色函數y(λ)。如此進行，對複數之感測器輸出乘以任意的係數，取出訊號和，可以構成具有所期望的分光回應度的感測器。一般而言，合算這樣的複數感測器的輸出而作成的分光回應度，很難與既定的等色函數完全一致，但與刺激值直接讀取型測定器的分光回應度比較的話，可以形成誤差更小的分光回應度。

[實施型態3]

圖15及圖16係顯示相關於本發明的第3實施型態之測色計21a,51a的電氣構成之方塊圖。這些測色計21a,51a，分別類似於前述之測色計21,51，對應的部分被賦予相同參照符號，而省略其說明。應該注意的是，在這些測色計21a,51a各纜線L1～Ln內，設有各探針部共通連接的計時訊號線L1a,L2a,...,Lna，由本體部22a：S1a～Sna之界面部28a,52a起對各探針部P1a～Pna之界面部27a送出測定開始以及結束之計時訊號。

亦即，由控制部29以軟體控制測定開始與結束的計時的場合，要完全使各探針部P1a～Pna同步進行測定是困難的，相對地使用此專用的計時訊號線L1a,L2a～Lna以硬體獲得同步，可以使各探針部P1a～Pna完全同步而進行測定。

[實施型態4]

圖17係顯示相關於本發明的第4實施型態之測色計的校正動作之流程圖。於本實施型態，可以使用前述測色計21之構成，本體部22的控制部29之動作與前述圖4不同。此圖17，係在任意之探針部間進行校正者，也包含在刺激值直接讀取型探針部P1～Pn-1彼此間進行校正的場合。但是，不以刺激值直接讀取型探針部P1～Pn-1之測定結果，來進行分光型探針部Pn的校正。

於圖17，在步驟S51判斷是否被安裝複數之探針部P，未被安裝的場合執行通常的測定模式，被安裝複數探針部P的場合，進而在步驟S52判斷是否被選擇探針間校正模式，未被選擇的場合執行通常的測定模式，被選擇的場合執行步驟S53以後之校正動作。前述通常測定模式，在圖4之步驟S1以後的處理，在S1,S2,S12判斷被安裝的探針部P的種類，而移至S3以後或者S13以後之測定處理，但在步驟S1,S12雙方之探針部P1～Pn-1,Pn被檢測出之後，不移至步驟S22～S26之校正模式，而直接移至步驟S27之測定。

在步驟S53以成為參照(基準)側的探針部P進行測定，由控制部26,26'，取得測定值(分光亮度值S'(λ)以及測定值X,Y,Z)。在步驟S54以成為校正側的探針部進行測定，由控制部26'，直接取得類比/數位變換值(測定值X1,Y1,Z1)。接著在步驟S55，由前述測定值X,Y,Z求出以前述式(2-1)至式(2-3)以逆變換求得之值X',Y',Z'，與由前述類比/數位變換值(測定值X1,Y1,Z1)求出前述校正係數(AX,AY,AZ)。該校正係數(AX,AY,AZ)，在步驟S56被設定於記憶體33後，移至通常的測定模式。

如此，可以在任意之探針部間進行校正。

又，關於本件發明，亦可將分光型探針部及刺激值直接讀取型之探針部的輸出以設置於本體部側之類比/數位器進行數位變換。

本說明書，雖如前述揭示種種型態之技術，但其中的主要技術整理如下。

相關於一態樣之測光測色裝置，係具備複數探針部，及對前述複數探針部共通的本體部之測光測色裝置，前述複數探針部之中的一部份，係具備分光型的第1光學感測部之分光型之第1探針部，同時其餘係具備刺激值直接讀取型的第2光學感測部的刺激值直接讀取型之第2探針部，前述第1及第2探針部之各個，具備中介於與前述本體部之間的界面部，及因應於來自前述本體部的測定指示進行測定動作之控制部，前述本體部，具備對前述複數探針部之各個，中介著前述界面部，送出前述測定指示的本體控制部。接著相關於另一態樣之測光測色裝置，係具備複數探針部，及個別分別對應於前述複數探針部，相互連動之複數本體部之測光測色裝置，前述複數探針部之中的一部份，係具備分光型的第1光學感測部之分光型之第1探針部，同時其餘係具備刺激值直接讀取型的第2光學感測部的刺激值直接讀取型之第2探針部，前述第1及第2探針部之各個，具備中介於與對應的前述本體部之間的界面部，及因應於來自對應的前述本體部的測定指示而進行測定動作之控制部，前述複數之本體部之各個，具備本體界面部，及對對應的前述探針部，中介著前述界面部，送出前述測定指示的本體控制部。

如此般構成的測光測色裝置，例如被實現為色度計或分光測色計等，被構成為具有複數之探針部，各探針部具備共通的本體部，此外被構成為具備複數之探針部，與個別對應於其而相互連動之本體部，可以同時測定多點之測光測色裝置。接著，前述複數探針部，被構成為主要以刺激值直接讀取型來構成，同時一部份以分光型構成。又，光學系以外，前述刺激值直接讀取型之探針部，係具備RGB之各色濾光器及受光感測器者，分光型探針部，除了如繞射晶格或CCD線狀感測器之類的分光測色計的構成以外，具備具有4種類以上之分光回應度的測光功能之，亦即具備4以上之色濾光器及感測器，包含不能把加算感測器的一部份輸出等之各感測器的輸出直接輸出，有必要進行演算而輸出者。

藉由如此般複數探針部的一部份包含分光型的探針，本體部可以把高精度之該分光型探針之測定結果使用於刺激值直接讀取型的探針部的校正，可以容易進行校正。此外，本體部，設定特定的亮度閾值，在該閾值以上的場合，能夠以前述高精度分光型的探針部進行測定，在未滿閾值的場合，能夠改以光學系很簡單，能量損失很少之高感度的刺激值直接讀取型的探針部進行測定。

此外，作為其他另一態樣，於前述之測光測色裝置，前述各探針部，被構成為具備：把前述光學感測器的輸出進行類比/數位變換之訊號變換器，及把來自前述訊號變換器的輸出變換於預定的訊號形式而往前述本體部輸出，同時回應於來自前述本體部的測定指示進行測定動作之控制部，及中介於前述控制部與本體部之間的界面部。

根據此構成，即使在前述刺激值直接讀取型與分光型的測定方法不同，也可以預先規定訊號形式，對本體部之連接器，可以任意裝拆任一形式之探針部，作為基本構成，可以如前所述大部分為刺激值直接讀取型而一部份為分光型，亦可全為刺激值直接讀取型或分光型，或者大部分為分光型一部份為刺激值直接讀取型等任意之組合。

亦即，如此般構成的測光測色裝置，校正結束後使用所有為刺激值直接讀取型，在亮度高的場合使用所有的分光型，或在亮度低的場合使用全部的刺激值直接讀取型等，可以進行多樣化之測定。

此外，在另一態樣，於前述測光測色裝置，前述第1及第2探針部之各個之各控制部，把表示前述光學感測部的種類之識別訊號，輸出往對應之前述本體部，前述本體控制部，由中介著前述界面部而受訊的前述識別訊號檢測出光學感測部的種類，因應於檢測出的種類而控制校正動作或者測定動作。

根據此構成，以前述刺激值直接讀取型與分光型，往本體部送出代表光學感測部的種類之識別訊號，使該本體部之本體控制部，可以自動認識其為哪一形式的探針部，而因應於被連接的探針部控制測定動作。

此外，在另一態樣，於前述測光測色裝置，較佳者為前述本體控制部，在由前述識別訊號檢測出分光型的探針部的場合，可以選擇使用該測定值執行刺激值直接讀取型的探針部的校正之校正模式。此外，在另一態樣，於前述測光測色裝置，較佳者為前述本體控制部，在由前述識別訊號檢測出複數之刺激值直接讀取型的探針部的場合，可以選擇使用該刺激值直接讀取型的探針部之任一之測定值，，執行其餘的校正之校正模式。此外，在另一態樣，於前述測光測色裝置，較佳者為前述本體控制部，在由前述識別訊號檢測出分光型的探針部的場合，可以選擇使根據刺激值直接讀取型的探針部之測定，與根據該分光型的探針部的測定，因應於測定對象光的測光測色資訊而切換的模式。

此外，在另一態樣，於前述測光測色裝置，前述第1及第2探針部之分別的界面部與前述本體界面部，係中介著送訊出前述光學感測部的輸出訊號的訊號線與同步訊號線而連接的。此外，在另一態樣，於前述測光測色裝置，前述第1及第2探針部之分別的界面部，與對應的前述本體界面部，係中介著送訊出前述光學感測部的輸出訊號的訊號線與同步訊號線而連接的。

根據這些構成，藉由使用專用的同步訊號線以硬體方式獲得同步，可以使各探針部完全同步而進行測定。

此外，在另一態樣，於前述測光測色裝置，把開始測定之用的測定按鈕(SW)設於前述第1及前述第2探針部，本體控制部等待測定直到檢測出前述測定按鈕的操作。

根據此構成，當前述第1探針部或前述第2探針部的測定按鈕(SW)被操作時，本體控制部對測定按鈕被操作之探針或全部之探針部送出測定指示，藉以執行校正動作或測定動作。藉此，操作者可以在操作中的探針部的位置下達測定開始的指示。

此申請案係以2008年8月22日申請之日本專利申請案特願2008-214093為基礎，其內容包含於本申請案。

為了表現本發明，於前述參照圖面同時透過實施型態適切且充分地說明了本發明，但熟悉該項技藝者當然可以容易改變及/或改良前述實施型態。亦即，熟悉該向技藝者實施的變更型態或改良型態，只要不脫離申請專利範圍所記載的請求項的權利範圍的程度，該變更型態或該改良型態應被解釋為包括在該請求項的權利範圍。

[產業上利用可能性]

根據本發明，可以提供可安裝複數探針之測光測色裝置。

3．．．光學感測部

3b．．．物鏡

3c．．．濾光部

3d．．．感測部

3dx,3dy,3dz．．．感測器

21．．．測色計

22．．．本體部

23a．．．光

23b．．．物鏡

23c．．．照明透鏡

23d．．．繞射晶格

23e．．．聚光透鏡

23f．．．CCD線狀感測器

24．．．訊號擴大部

25,25'．．．類比/數位變換部(A/D部)

26,26'．．．控制部

27,28．．．界面部

29．．．控制部

30．．．顯示部

31．．．記憶體

32．．．操作部

33．．．記憶體

AX,AY,AZ．．．校正係數

L1,L2,...,Ln．．．纜線

P(P1,P2,...,Pn)．．．探針部

Q1,Q2,...,Qn．．．連接器

M‧‧‧被測定光源

M1,M2,...,Mn-1‧‧‧測定部位

S'(λ)‧‧‧分光放射亮度

x,y‧‧‧色度

Lv‧‧‧亮度

圖1係顯示相關於本發明的第1實施型態之測色計的電氣構成之方塊圖。

圖2係模式顯示圖1所示之測色計之分光型探針部之光學感測部的構成。

圖3係於圖1所示的測色計，控制測定動作及校正動作之控制部的功能方塊圖。

圖4係供說明圖3所示之控制部所進行之測定動作及校正動作之流程圖。

圖5係顯示刺激值直接讀取型測定器與分光型的測定器之分光回應度之圖。

圖6係供說明探針部的切換測定動作之用的方塊圖。

圖7係供說明於圖6所示的構成之測色計，對於進行顯示器的白平衡調整之輸入訊號位準變化之亮度變化之圖，顯示調整前的狀態。

圖9係前述白平衡調整的調整中之顯示器顯示畫面及探針配置之圖。

圖9係供說明對前述白平衡調整之輸入訊號位準變化之亮度變化之圖，顯示調整中的狀態。

圖10係供說明對前述白平衡調整之輸入訊號位準變化之亮度變化之圖，顯示調整後的狀態。

圖11係測定顯示器的串訊(cross-talk)量的場合之顯示畫面及探針配置之圖。

圖12係顯示相關於本發明的第2實施型態之測色計的電氣構成之方塊圖。

圖13係供說明於第2型態，組合複數互異的分光回應度之感測器構成具有所期待的分光回應度的感測器的方法之圖。

圖14係供說明於第2型態，組合複數互異的分光回應度之感測器構成具有所期待的分光回應度的感測器的方法之圖。

圖15係顯示相關於本發明的第3實施型態之測色計的電氣構成之方塊圖。

圖16係顯示相關於本發明的第3實施型態之測色計的電氣構成之方塊圖。

圖17係顯示相關於本發明的第4實施型態之測色計的動作之流程圖。

圖18係顯示可多點測定的測色計的電氣構成之方塊圖。

圖19係模式顯示刺激值直接讀取型的探針部之光學感測部的構成。

圖20係顯示刺激值直接讀取型的測定器的分光回應度之圖。

圖21係供說明圖18所示的測色計之刺激值直接讀取型的探針部的校正方法之方塊圖。

3．．．光學感測部

4．．．訊號擴大部