CN117157510A - 校正装置、测定器、校正方法以及程序 - Google Patents

校正装置、测定器、校正方法以及程序 Download PDF

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Abstract

将利用具有与目标光谱灵敏度近似的光谱灵敏度的1个以上的传感器(x)、(y)、(z)和光谱仪(3)接收被测定光(6)并根据传感器的输出来求出被测定光的特性的测定器(100)的传感器(x)、(y)、(z)的光谱灵敏度相对于目标光谱灵敏度的光谱灵敏度误差所引起的传感器输出的误差，根据目标光谱灵敏度、预先测定并保存的所述传感器的光谱灵敏度以及由光谱仪(3)测定的被测定光的光谱分布进行推测并校正。

Description

校正装置、测定器、校正方法以及程序
技术领域
本发明涉及校正在对显示器等的放射光的亮度、色度等进行测定的滤光片型的测定器中使用的传感器的光谱灵敏度误差所引起的输出的误差的校正装置、测定器、校正方法以及程序。
背景技术
在对显示器等的放射光的亮度、色度等进行测定的测定器中有光谱型和滤光片型，均求出被测定光的三刺激值并变换为亮度、色度等。
光谱型的测定器通过用由衍射光栅、高灵敏度传感器阵列等构成的光谱仪测定的被测定光的光谱分布与理论上的等色函数的积和而得到三刺激值。该光谱型在原理上光谱灵敏度精度优良，但存在测定时间长、昂贵且尺寸大这样的缺点。
另一方面，还被称为刺激值直读型的滤光片型的测定器利用具有与等色函数近似的光谱灵敏度(spectral sensitivity)的传感器接收被测定光，直接得到与三刺激值相关的输出。该滤光片型的测定器在测定速度上超过光谱型的测定器，在尺寸、成本方面也具有优势，但以滤光片的光谱透射率和光电二极管的光谱灵敏度来制作的传感器光谱灵敏度的精度不够，存在应用领域受到限制这样的缺点。
在亮度计的主要的应用领域之一中，有用于评价显示器的图像质量的测定，但伴随近年来的显示器图像质量的提高，在大量的测定中要求波长间距1nm、半值宽度1～5nm的与高精度光谱型同样的光谱灵敏度精度。
另外，在显示器的质量评价中，伴随大量的色光的色彩测定。例如，在伽玛测定(EOTF测定)中，关于B(蓝)、G(绿)、R(红)、W(白)这4色，进行至少25个阶段的测定。伴随显示器的性能提高，每1台的测定数进一步增加，还要求缩短测定时间。
因此，从以往就尝试改善测定速度优良的滤光片型的测定器的传感器光谱灵敏度的精度。
在现有技术中，大多采用通过使用多个校准基准光来求出的校准矩阵而减轻由光谱灵敏度误差引起的误差的矩阵校准法。这个方法在能够用校准基准光来合成被测定光的情况(加法混色成立的情况)下是有效的。
例如，在专利文献1中公开了如下技术：使用将显示器的基色光(B、G、R这3个光)作为校准基准光来求出的三刺激值的校准矩阵，提高用该基色光(primary light)的加法混色来合成的任意的被测定光的三刺激值的精度。
在利用这个技术来校准基色光的光谱分布不同的各种类型的显示器的情况下，需要针对每个类型实测基色光的三刺激值并得到校准矩阵，花费工夫。
在专利文献2、3中，公开了如下技术：对等色函数和预先测定的滤光片型色彩亮度计的传感器光谱灵敏度组合预先求出的各类型的显示器的基色光的光谱分布，并利用数值运算来推测三刺激值，从而不需要针对每个类型实测色彩值的作业。
另外，在专利文献4中提出了如下技术：通过在滤光片型二维测色计中用滤光片型和光谱测定器这两方来测定测定区域的特定位置，并将根据两者的三刺激值求出的校正系数应用于全部测定区域，从而提高二维测色的精度。
现有技术文献
专利文献1：日本特开平06-323910号公报
专利文献2：日本特开2012-215570号公报
专利文献3：日本特愿2019-39795号
专利文献4：日本特开平6-201472号公报
发明内容
然而，专利文献1～3的技术是基本上使用了校准基准光的色彩值的矩阵校准，仅在能够用校准基准光来合成被测定光的情况(加法混色成立的情况)下得到高精度，由于传感器光谱灵敏度误差，在抑制依赖于被测定光的光谱分布的色彩值误差的方面存在界限。
而且，在如OLED(Organic Light Emitting Diode：有机发光二极管)那样放射光的光谱分布的温度依赖性大的显示器中，由于由低亮度和高亮度下的自身发热量之差引起的元件温度差而光谱分布发生变化，所以存在如下问题：加法混色不成立，矩阵校准也未充分发挥功能。
另外，在专利文献4的技术中，为了实现光谱亮度计水平的精度，内置的光谱型测定器需要光谱亮度计水平的精度，所以专利文献4的技术存在只能在成本和测定时间的方面受限的应用中采纳这样的问题。
本发明是鉴于这样的技术背景而完成的，其目的在于提供一种校正装置、测定器、校正方法以及程序，不依赖于矩阵校准，而根据光谱灵敏度误差和被测定光的光谱分布来校正由滤光片型测定器的传感器的光谱灵敏度误差引起的输出的误差，从而能够用滤光片型测定器高精度并且高速地测定任意的被测定光。
上述目的通过以下的手段来达到。
(1)一种校正装置，其中，
将利用具有与目标光谱灵敏度近似的光谱灵敏度的1个以上的传感器以及光谱仪接收被测定光并根据所述传感器的输出来求出所述被测定光的特性的测定器的所述传感器的光谱灵敏度相对于目标光谱灵敏度的光谱灵敏度误差所引起的传感器输出的误差，根据所述目标光谱灵敏度、预先测定并保存的所述传感器的光谱灵敏度以及由所述光谱仪测定的被测定光的光谱分布进行推测并校正。
(2)根据前项1记载的校正装置，其中，
所述光谱仪的波长间距和半值宽度是4nm以上。
(3)根据前项1或者2记载的校正装置，其中，
所述光谱仪的容许重复误差是测定器的容许重复误差的10倍以上。
(4)根据前项1～3中的任意一项记载的校正装置，其中，
通过en(λ)＝s'n(λ)-sn(λ)来求出1个以上的传感器中的任意的传感器n的光谱灵敏度s'n(λ)相对于目标光谱灵敏度sn(λ)的光谱灵敏度误差en(λ)，
作为由所述光谱仪测定的被测定光I的光谱分布I'(λ)，通过[数学式1]来推测由所述光谱灵敏度误差en(λ)引起的所述传感器n的输出误差En，
[数学式1]
En＝∫I′(λ)en(λ)dλ
根据由所述光谱仪测定的被测定光I的光谱分布I'(λ)和所述传感器n的光谱灵敏度s'n(λ)，通过[数学式2]来推测模拟传感器输出S'n，sim，
[数学式2]
S′n，sim＝fI′(λ)s′n(λ)dλ
通过Rerr.n＝En/S'n，sim来计算由所述传感器n测定被测定光I时的输出误差率Rerr.n，
通过S'n，corr＝S'n×(1-Rerr.n)将所述传感器输出S'n校正为校正传感器输出S'n，corr。
(5)根据前项1～4中的任意一项记载的校正装置，其中，
在被测定光由1个以上的单色光或者极窄频带光构成的情况下，
根据由所述光谱仪测定的被测定光的光谱分布内的所述单色光或者极窄频带光各自的窄频带频谱，求出该单色光或者极窄频带光各自的波长和强度，
对所述目标光谱灵敏度和传感器光谱灵敏度进行波长插值而求出所述波长下的目标光谱灵敏度和传感器光谱灵敏度，
根据所述波长下的目标光谱灵敏度和传感器光谱灵敏度以及所述强度，推测由所述光谱灵敏度误差引起的所述传感器输出的误差。
(6)根据引用前项4的前项5记载的校正装置，其中，
将包含所述窄频带频谱的波长域设为R，将R内的测定波长设为通过以下的式子来求出单色光或者极窄频带光的波长λc和强度A，
[数学式3]
[数学式4]
对所述光谱灵敏度误差en(λ)进行插值而求出所述波长λc下的光谱灵敏度误差en(λc)，通过En＝A·en(λc)来推测传感器输出误差En，
通过S'n，sim＝A·s'n(λc)来推测模拟传感器输出S'n，sim。
(7)根据前项5或者6记载的校正装置，其中，
所述校正装置具备检测单元，该检测单元检测出被测定光由1个以上的单色光或者极窄频带光构成。
(8)根据前项1～7中的任意一项记载的校正装置，其中，
所述测定器是所述目标光谱灵敏度为标准可见度且对测定对象的亮度或者照度进行测定的亮度计或者照度计。
(9)根据前项1～7中的任意一项记载的校正装置，其中，
所述测定器是所述目标光谱灵敏度为等色函数且对测定对象的色彩特性进行测定的色彩亮度计或者色彩照度计。
(10)一种测定器，具备前项1～9中的任意一项记载的校正装置，其中，
所述测定器利用具有与目标光谱灵敏度近似的光谱灵敏度的1个以上的传感器以及光谱仪接收被测定光，并根据所述传感器的输出来求出所述被测定光的特性。
(11)一种校正方法，其中，
校正装置将利用具有与目标光谱灵敏度近似的光谱灵敏度的1个以上的传感器以及光谱仪接收被测定光并根据所述传感器的输出来求出所述被测定光的特性的测定器的所述传感器的光谱灵敏度相对于目标光谱灵敏度的光谱灵敏度误差所引起的传感器输出的误差，根据所述目标光谱灵敏度、预先测定并保存的所述传感器的光谱灵敏度以及由所述光谱仪测定的被测定光的光谱分布进行推测并校正。
(12)根据前项11记载的校正方法，其中，
所述光谱仪的波长间距和半值宽度是4nm以上。
(13)根据前项11或者12记载的校正方法，其中，
所述光谱仪的容许重复误差是测定器的容许重复误差的10倍以上。
(14)根据前项11～13中的任意一项记载的校正方法，其中，
通过en(λ)＝s'n(λ)-sn(λ)来求出1个以上的传感器中的任意的传感器n的光谱灵敏度s'n(λ)相对于目标光谱灵敏度sn(λ)的光谱灵敏度误差en(λ)，
将由所述光谱仪测定的被测定光I的光谱分布设为I'(λ)，通过[数学式5]来推测由所述光谱灵敏度误差en(λ)引起的所述传感器n的输出误差En，
[数学式5]
En＝∫I′(λ)en(λ)dλ
根据由所述光谱仪测定的被测定光I的光谱分布I'(λ)和所述传感器n的光谱灵敏度s'n(λ)，通过[数学式6]来推测模拟传感器输出S'n，sim，
[数学式6]
S’n，sim＝∫I′(λ)s′n(λ)dλ
通过Rerr，n＝En/S'n，sim来计算由所述传感器n测定被测定光I时的输出误差率Rerr，n，
通过S'n，corr＝S'n×(1-Rerr，n)将所述传感器输出S'n校正为校正传感器输出S'n，corr。
(15)根据前项11～14中的任意一项记载的校正方法，其中，
在被测定光由1个以上的单色光或者极窄频带光构成的情况下，
根据由所述光谱仪测定的被测定光的光谱分布内的所述单色光或者极窄频带光各自的窄频带频谱，求出该单色光或者极窄频带光各自的波长和强度，
对所述目标光谱灵敏度和传感器光谱灵敏度进行波长插值而求出所述波长下的目标光谱灵敏度和传感器光谱灵敏度，
根据所述波长下的目标光谱灵敏度和传感器光谱灵敏度以及所述强度，推测由所述光谱灵敏度误差引起的所述传感器输出的误差。
(16)根据引用前项14的前项15记载的校正方法，其中，
将包含所述窄频带频谱的波长域设为R，将R内的测定波长设为通过以下的式子来求出单色光或者极窄频带光的波长λc和强度A，
[数学式7]
[数学式8]
对所述光谱灵敏度误差en(λ)进行插值而求出所述波长λc下的光谱灵敏度误差en(λc)，通过En＝A·en(λc)来推测传感器输出误差En，
通过S'n，sim＝A·s'n(λc)来推测模拟传感器输出。
(17)根据前项15或者16记载的校正方法，其中，
具备检测出被测定光由1个以上的单色光或者极窄频带光构成的检测手段。
(18)根据前项11～17中的任意一项记载的校正方法，其中，
所述测定器是所述目标光谱灵敏度为标准可见度且对测定对象的亮度或者照度进行测定的亮度计或者照度计。
(19)根据前项11～17中的任意一项记载的校正方法，其中，
所述测定器是所述目标光谱灵敏度为等色函数且对测定对象的色彩特性进行测定的色彩亮度计或者色彩照度计。
(20)一种程序，用于使计算机执行前项11～19中的任意一项记载的校正方法。
(21)一种测定器，是利用具有与目标光谱灵敏度近似的光谱灵敏度的1个以上的传感器以及光谱仪接收被测定光并根据所述传感器的输出来求出所述被测定光的特性的测定器，其中，
根据由所述光谱仪测定的被测定光的光谱分布、所述目标光谱灵敏度以及预先测定的所述传感器光谱灵敏度，推测并校正由所述传感器的光谱灵敏度相对于目标光谱灵敏度的光谱灵敏度误差引起的所述传感器的输出的误差。
(22)根据前项21记载的测定器，其中，
所述光谱仪的波长间距和半值宽度是4nm以上。
(23)根据前项21或者22记载的测定器，其中，
所述光谱仪的容许重复误差是测定器的容许重复误差的10倍以上。
根据前项(1)以及(11)记载的发明，将滤光片型测定器的传感器的光谱灵敏度相对于目标光谱灵敏度的光谱灵敏度误差所引起的传感器输出的误差，不依赖于矩阵校准，而根据目标光谱灵敏度、预先测定并保存的所述传感器光谱灵敏度以及由光谱仪测定的被测定光的光谱分布进行推测并校正，所以即使无法用校准基准光的加法混色来合成被测定光，也能够利用滤光片型测定器实现高精度的测定。而且，无需使用高精度的光谱仪而能够实现高速的测定。
根据前项(2)以及(12)记载的发明，光谱仪的波长间距和半值宽度是4nm以上，所以不需要高精度的光谱仪，能够降低光谱仪的成本进而降低测定器的成本，并且实现高速的测定。
根据前项(3)以及(13)记载的发明，光谱仪的容许重复误差是测定器的容许重复误差的10倍以上，所以不需要高精度的光谱仪，能够降低光谱仪的成本进而降低测定器的成本，并且实现高速的测定。
根据前项(4)以及(14)记载的发明，能够可靠地推测并校正由滤光片型测定器的传感器的光谱灵敏度相对于目标光谱灵敏度的光谱灵敏度误差引起的传感器输出的误差。
根据前项(5)以及(15)记载的发明，即使在被测定光由1个以上的单色光或者极窄频带光构成的情况下，也能够推测并校正由传感器的光谱灵敏度误差引起的输出的误差。
根据前项(6)以及(16)记载的发明，即使在被测定光由1个以上的单色光或者极窄频带光构成的情况下，也能够可靠地推测并校正由传感器的光谱灵敏度误差引起的输出的误差。
根据前项(7)以及(17)记载的发明，能够检测出被测定光由1个以上的单色光或者极窄频带光构成。
根据前项(8)以及(18)记载的发明，在目标光谱灵敏度为标准可见度且对测定对象的亮度或者照度进行测定的亮度计或者照度计中，能够推测并校正由传感器的光谱灵敏度相对于目标光谱灵敏度的光谱灵敏度误差引起的传感器输出的误差。
根据前项(9)以及(19)记载的发明，在目标光谱灵敏度为等色函数且对测定对象的色彩特性进行测定的色彩亮度计或者色彩照度计中，能够推测并校正由传感器的光谱灵敏度相对于目标光谱灵敏度的光谱灵敏度误差引起的传感器输出的误差。
根据前项(10)记载的发明，能够在测定器内推测并校正由传感器的光谱灵敏度相对于目标光谱灵敏度的光谱灵敏度误差引起的传感器输出的误差。
根据前项(20)记载的发明，能够使计算机执行如下处理：将滤光片型测定器的传感器的光谱灵敏度相对于目标光谱灵敏度的光谱灵敏度误差所引起的传感器输出的误差，根据目标光谱灵敏度、预先测定并保存的所述传感器光谱灵敏度以及由光谱仪测定的被测定光的光谱分布进行推测并校正。
根据前项(21)～(23)记载的发明，能够利用并非高精度且成本上廉价的光谱仪，高速地测定在用于对具有与目标光谱灵敏度近似的光谱灵敏度的1个以上的传感器光谱灵敏度相对于目标光谱灵敏度的光谱灵敏度误差所引起的传感器输出的误差进行推测并校正的运算中使用的光谱分布。
附图说明
图1是本发明的一个实施方式所涉及的滤光片型测定器的概略结构图。
图2是示出3种传感器的光谱灵敏度s'x(λ)、s'y(λ)、s'z(λ)、等色函数sx(λ)、sy(λ)、sz(λ)、以及光谱灵敏度误差ex(λ)、ey(λ)、ez(λ)的关系的曲线图。
图3是示出由图1的滤光片型测定器执行的校正过程的流程图。
图4是将光谱灵敏度误差小的传感器组a和光谱灵敏度误差大的传感器组b以及c这3种传感器的光谱灵敏度s'x(λ)、s'y(λ)、s'z(λ)和光谱灵敏度误差ex(λ)、ey(λ)、ez(λ)与等色函数sx(λ)、sy(λ)、sz(λ)一起示出的曲线图。
图5是示出使用图4的传感器组b进行了模拟测定的LCD(Liquid CrystalDisplay：液晶显示器)的基色光的校正前后的三刺激值的误差的曲线图。
图6是示出使用图4的传感器组c进行了模拟测定的LCD的基色光的校正前后的三刺激值的误差的曲线图。
图7是示出使用图4的传感器组b进行了模拟测定的OLED(Organic LightEmitting Diode：有机发光二极管)的基色光的校正前后的三刺激值的误差的曲线图。
图8是示出使用图4的传感器组c进行了模拟测定的OLED的基色光的校正前后的三刺激值的误差的曲线图。
图9是示出代表性的LCD的基色光和白色光的光谱分布的曲线图。
图10是示出代表性的OLED的基色光和白色光的光谱分布的曲线图。
图11是示出代表性的LD(Laser Display：激光显示器)放射光的光谱分布的曲线图。
图12是示出针对代表性的LD放射光的光谱分布的波长间距和半值宽度为4nm的光谱仪的输出的曲线图。
图13是本发明的其他实施方式所涉及的滤光片型测定器的概略结构图。
图14是本发明的又一实施方式所涉及的滤光片型测定器的概略结构图，(A)是侧面图，(B)是从右方观察图A的图。
图15是示出本发明的又一实施方式的图，是将光谱仪设为与滤光片型测定器独立的光谱亮度计的情况的概略结构图。
图16是示出本发明的又一实施方式的图，是滤光片型测定器、作为光谱仪的光谱测定器以及作为校正装置的个人计算机(PC)分别独立的情况的结构图。
图17是示出本发明的又一实施方式的图，是将校正装置设为与滤光片型测定器独立的PC的情况的概略结构图。
具体实施方式
以下，根据附图，说明本发明的实施方式。
图1是作为本发明的一个实施方式所涉及的滤光片型测定器100的一个例子的滤光片型色彩亮度计的概略结构图。在本实施方式中，在滤光片型色彩亮度计中内置有校正装置。
图1所示的滤光片型测定器100具备透镜系统1、4分支光纤束2、3个带滤光片的传感器n(n＝x、y、z)、光谱仪3以及运算控制部4等，从作为测定对象的被测定光源5放射的被测定光6(被测定光I)经由透镜系统1入射到4分支光纤束2的入射端。在以下的说明中，将3个带滤光片的传感器n还称为传感器x、y、z。
4分支光纤束2从长度方向的中间部被4分支，将从入射端入射的光分配给4个分支部21。在4分支光纤束2的3个分支部21的射出端分别配置有具有光谱灵敏度s'x(λ)、s'y(λ)、s'z(λ)的上述传感器x、y、z，由带滤光片的传感器x、y、z接收从各分支部21的射出端射出的光。来自剩下的1个分支部21的射出端的光入射到光谱仪3。
光谱仪3将入射光分光为各波长，用传感器阵列的各像素，针对每个波长接收分光后的光。
运算控制部4还作为如下的校正装置发挥功能，该校正装置对测定器的整体进行控制，并且推测并校正由3种传感器x、y、z各自的光谱灵敏度相对于目标光谱灵敏度的光谱灵敏度误差引起的输出误差。通过由运算控制部4依照校正程序进行动作，由此如以下所示那样进行输出误差的推测、校正。
即，从3种传感器x、y、z得到传感器输出S'x、S'y、S'z，并且得到从由光谱仪3得到的传感器阵列的像素信号pi(i：像素编号)变换得到的光谱分布I'(λ)。接下来，根据预先测定并保存的传感器光谱灵敏度s'x(λ)、s'y(λ)、s'z(λ)、以及预先作为数据提供并保存的作为目标光谱灵敏度的等色函数sx(λ)、sy(λ)、sz(λ)，通过以下说明的校正算法，将传感器输出S'x、S'y、S'z变换为校正三刺激值S'x，corr、S'y，corr、S'z，corr。此外，预先保存的传感器光谱灵敏度s'x(λ)、s'y(λ)、s'z(λ)、等色函数sx(λ)、sy(λ)、sz(λ)的保存目的地既可以是滤光片型测定器100内的未图示的存储部，也可以是外部存储装置。在保存于外部存储装置的情况下，根据需要从外部存储装置取得传感器光谱灵敏度s'x(λ)、s'y(λ)、s'z(λ)、等色函数sx(λ)、sy(λ)、sz(λ)即可。
[1]校正算法1
该校正算法1是用于进行校正的基本的算法。
(1)利用模拟测定进行的校正系数的制作
根据由光谱仪3测定的被测定光6(被测定光I)的光谱分布I'(λ)、以及所保存的传感器x、y、z的光谱灵敏度s'x(λ)、s'y(λ)、s'z(λ)，用(式1)～(式3)来计算模拟传感器输出S'x，sim、S'y，sim、S'z，sim。
[数学式9]
S’x，sim＝∫I′(λ)s′x(λ)dλ (式1)
S’y，sim＝∫I′(λ)s′y(λ)dλ (式2)
S′z，sim＝∫I′(λ)s′z(λ)dλ (式3)
根据所保存的等色函数sx(λ)、sy(λ)、sz(λ)、以及所保存的传感器x、y、z的光谱灵敏度s′x(λ)、s′y(λ)、s′z(λ)，用(式4)～(式6)来计算光谱灵敏度误差ex(λ)、ey(λ)、ez(λ)。也可以预先运算并保存该光谱灵敏度误差ex(λ)、ey(λ)、ez(λ)。
ex(λ)＝s′x(λ)-sx(λ) (式4)
ey(λ)＝s′y(λ)-sy(λ) (式5)
ez(λ)＝s′z(λ)-sz(λ) (式6)
在图2的曲线图中，示出等色函数sx(λ)、sy(λ)、sz(λ)、各传感器x、y、z的光谱灵敏度s′x(λ)、s′y(λ)、s′z(λ)、以及光谱灵敏度误差ex(λ)、ey(λ)、ez(λ)的例子。
接下来，根据由光谱仪3测定的被测定光6的光谱分布I′(λ)、以及用(式4)～(式6)计算出的光谱灵敏度误差ex(λ)、ey(λ)、ez(λ)，用(式7)～(式9)来求出传感器x、y、z的输出误差Ex、Ey、Ez。
[数学式10]
Ex＝∫I′(λ)ex(λ)dλ (式7)
Ey＝∫I′(λ)ey(λ)dλ (式8)
Ez＝jI′(λ)ez(λ)dλ (式9)
接下来，根据用(式7)～(式9)计算出的传感器x、y、z的输出误差Ex、Ey、Ez、以及用(式1)～(式3)计算出的模拟传感器输出S′x，sim、S′y，sim、S′z，sim，用(式10)～(式12)求出输出误差率(每单位输出的传感器输出误差)Rerr，x、Rerr，y、Rerr，z。
Rerr，x＝Ex/S′x，sim (式10)
Rerr，y＝Ey/S'y，sim (式11)
Rerr，z＝Ez/S'z，sim (式12)
(2)传感器输出的校正
将由3种传感器x、y、z测定的传感器输出S'x、S'y、S'z，利用(式13)～(式15)变换为校正传感器输出S'x，corr、S'y，corr、S'z，corr。通过公知的运算处理，将校正传感器输出变换为校正三刺激值，并从滤光片型测定器100输出。
S'x，corr＝S'x×(1-Rerr，x) (式13)
S'y，corr＝S'y×(1-Rerr，y) (式14)
S'z，corr＝S'z×(1-Rerr，z) (式15)
如(式1)～(式9)所示，输出误差率Rerr，x、Rerr，y、Rerr，z的精度依赖于等色函数sx(λ)、sy(λ)、sz(λ)、光谱灵敏度s'x(λ)、s'y(λ)、s'z(λ)以及光谱分布I'(λ)的精度。
等色函数sx(λ)、sy(λ)、sz(λ)由于是理论值所以没有误差，关于在制造时测定的传感器的光谱灵敏度s'x(λ)、s'y(λ)、s'z(λ)，能够安排必要的设备(照射型单色仪等)和时间来得到必要的精度，所以实质上依赖于光谱分布I'(λ)的精度。但是，输出误差率比1充分小(Rerr，x、Rerr，y、Rerr，z<<1)，所以光谱分布I'(λ)的误差对校正传感器输出S'x，corr、S'y，corr、S'z，corr的影响是有限的，因此对校正三刺激值的影响是有限的。
(3)光谱仪3要求的精度(具体例)
如上所述，由光谱仪3测定的被测定光6的光谱分布I'(λ)仅用于推测应校正的误差，所以光谱分布I'(λ)的误差限于校正量的误差，即使有测定重复误差、绝对值误差，对校正三刺激值的影响也是有限的。
具体而言，在由滤光片型传感器100的输出的光谱灵敏度误差引起的误差为5％时，即使在所推测的校正量中有20％的误差，校正三刺激值的误差也限于0.05(5％)×0.2(20％)＝0.01(1％)。
(4)光谱仪3要求的重复精度
在将测定器的容许重复误差设为Erep，ttl、并将输出误差率(由光谱灵敏度误差引起的传感器输出误差相对传感器输出的比例)的最大值设为Rerr，max时，在可忽略其他误差要因的情况下，光谱仪3的重复误差Erep，spe满足Erep，spe<Erep，ttl/Rerr，max即可。
具体而言，在Erep，ttl＝1％、Rerr，max＝5％时，Erep，spe被容许至20％。
滤光片型的输出误差率的最大值Rerr，max一般为10％以下，所以关于光谱仪3的重复误差Erep，spe，容许测定器的容许重复误差Erep，ttl的至少10倍(1/0.1)。
在光谱分布中能够容许大的重复误差，所以能够缩短利用光谱仪3测定光谱分布的时间。可以是刺激值输出的容许重复误差的至少10倍这意味着，原理上可以是如光谱亮度计那样根据光谱分布求出三刺激值的情况的1/102以下的测定时间。
另外，在光谱分布I'(λ)中能够容许大的重复误差，所以能够降低光谱仪3的光学亮度(NA)、灵敏度，作为结果能够降低成本、减小尺寸。
(5)校正过程
在图3的流程图中，示出由图1的滤光片型测定器100执行的校正过程。
利用3个传感器x、y、z和光谱仪3同时开始测定被测定光6，得到传感器输出S'n(n＝x、y、z)和像素输出pi(步骤#1以及步骤#2)。
在两个测定结束后，运算控制部4将像素输出pi变换为光谱分布I'(λ)(步骤#3)。而且，通过(式1)～(式12)，根据光谱分布I'(λ)和光谱灵敏度误差en(λ)推测传感器输出误差En，求出输出误差率Rerr，n(步骤#4)。
接下来，通过(式13)～(式15)对传感器输出S'n应用输出误差率Rerr，n而求出校正传感器输出S'n，corr，并变换为校正三刺激值而输出(步骤#5)。
在传感器x、y、z和光谱仪3各自中求出测定器的容许重复误差Erep，ttl时，步骤#2中的光谱仪3的测定时间Tspe变得比步骤#1中的传感器x、y、z的测定时间Tfil相当长(典型地是相对0.05s为2s)，但在光谱仪3中容许大的重复误差的本实施方式中，能够将测定时间缩短至T'spe≈Tfil，使全部测定时间Erep，ttl成为滤光片型色彩亮度计水平(步骤#3～#5的运算时间可忽略，所以成为全部测定时间Tttl≈T'spe≈Tfil)。
具体而言，如果输出误差率Rerr，n(n＝x、y、z)最大为5％，则在利用光谱仪3得到的光谱分布I'(λ)中容许的重复误差Erep，spe扩大到测定器的容许重复误差Erep，ttl的20倍(1/0.05)。
另一方面，如果将光谱仪3的测定时间T'spe≈2s缩短至与Tfil相同的0.05s，则光谱分布I'(λ)的重复误差成为√(2/0.05)＝6.3倍，但与容许重复误差Erep，spe的扩大率(20倍)相比变得充分小，不会成为问题。
在该情况下，在光谱仪3的容许重复误差Erep，spe中仍有3倍(20倍/6.3倍)以上的富余，所以能够将其与光谱仪3的光学亮度(NA)、灵敏度进行对换，实现光谱仪3的尺寸减小、成本降低。
(6)光谱仪3的波长间距和半值宽度
本实施方式所涉及的校正的精度依赖于光谱分布I'(λ)的精度，因此依赖于测定I'(λ)的光谱仪3的波长间距和半值宽度，以下通过LCD和OLED的模拟测定来确认它们的影响。
图4(a)、图4(b)、图4(c)是将光谱灵敏度误差小的传感器组a和光谱灵敏度误差大的传感器组b以及c的传感器x、y、z的光谱灵敏度s'x(λ)、s'y(λ)、s'z(λ)和光谱灵敏度误差ex(λ)、ey(λ)、ez(λ)与等色函数sx(λ)、sy(λ)、sz(λ)一起示出的曲线图。在图4(a)、图4(b)、图4(c)中，左侧纵轴表示光谱灵敏度s'x(λ)、s'y(λ)、s'z(λ)和等色函数sx(λ)、sy(λ)、sz(λ)的值，右侧纵轴表示光谱灵敏度误差ex(λ)、ey(λ)、ez(λ)的值。
在图5和图6中，示出使用传感器组b和传感器组c按照(式1)～(式12)的式子进行了模拟测定的LCD的基色光B、G、R(在图9中示出光谱分布)的三刺激值的校正前后的误差(绝对值)|ΔX|、|ΔY|、|ΔZ|。在图7和图8中，示出同样地进行了模拟测定的OLED的基色光(在图10中示出光谱分布)的三刺激值的校正前后的误差(绝对值)。各误差的3个条形图从左起依次为B、G、R的值。
利用具有二等边三角形形状的狭缝函数、以及表1所示的波长间距和半值宽度的6种光谱仪3，测定了在模拟测定中的校正中使用的光谱分布。
[表1]
波长间距 半值宽度 显示值 横轴上的记载
4nm 4nm 校正后的误差(绝对值)|ΔX|，|ΔY|，|ΔZ| ΔX/4，4，ΔY/4，4，ΔZ/4，4
4nm 8nm ΔX/4，8，ΔY/4，8，ΔZ/4，8
4nm 12nm ΔX/4，12，ΔY/4，12，ΔZ/4，12
8nm 8nm ΔX/8，8，ΔY/8，8，ΔZ/8，8
8nm 12nm ΔX/8，12，ΔY/8，12，ΔZ/8，12
12nm 12nm ΔX/12，12，ΔY/12，12，ΔZ/12，12
校正前的误差(绝对值)|ΔXuc|，|ΔYuc|，|ΔZuc| ΔXuc，ΔYuc，ΔZuc
如图5～图8所示，在光谱仪3的波长间距和半值宽度为4～12nm时，在LCD和OLED中，校正后的误差|ΔX|、|ΔY|、|ΔZ|都从校正前的误差|ΔXuc|、|ΔYuc|、|ΔZuc|得到改善。特别是在4～8nm下校正效果显著，能够使光谱灵敏度精度成为光谱放射亮度计水平，使向光谱仪3的各像素的入射光量成为波长间距、半值宽度都为1nm的情况的大致42～82倍。
即，在本实施方式中能够容许大的光谱分布误差，所以增大光谱仪3的波长间距和半值宽度，向各像素的入射光量增加，从而能够进一步缩短测定时间。另外，还能够将光量增加与光谱仪3的光学亮度(NA)、灵敏度进行对换，实现成本降低、尺寸减小。
[2]校正算法2
该校正算法是用于激光显示器(LD：Laser Display)的放射光的校正算法。
光谱仪3的有限的半值宽度在具有如图9或图10所示的宽的光谱分布的LCD或OLED的放射光中不会成为大的误差要因，但由于将图11所示的LD的放射光(激光)的线频谱改变为图12所示的窄频带频谱，所以带来无法忽略的误差。即，对于利用激光得到的实际的传感器输出S'x、S'y、S'z，仅激光波长λL下的光谱灵敏度s'x(λL)、s'y(λL)、s'z(λL)作出贡献，但对于使用图12的光谱分布I'(λ)而用(式1)～(式3)进行了模拟测定的模拟传感器输出S'x，sim、S'y，sim、S'z，sim，激光波长λL周边的波长下的光谱灵敏度也作出贡献而成为误差。
同样地，对于实际的传感器输出误差，也是仅λL下的光谱灵敏度误差ex(λL)、ey(λL)、ez(λL)作出贡献，但对于使用图12的I'(λ)而用(式7)～(式9)来推测的传感器输出误差Ex、Ey、Ez，激光波长λL周边的波长下的光谱灵敏度误差作出贡献而成为误差(半值宽度越大则误差变得越大)。
为了避免这个问题，在校正算法2中，将校正算法1的(式1)～(式9)的工序置换为以下的工序。
(1)基本的工序(被测定光由1个LD放射光构成的情况)
首先，将利用光谱仪3得到的LD放射光的光谱分布I'(λ)的、包含所述窄频带频谱的波长域设为R(参照图12)，用由(式16)的式子提供的波长域R的重心波长λc来近似激光波长，用由(式17)的式子提供的积分强度A来近似激光强度。在(式16)以及(式17)的式子中、表示R内的全部测定波长。关于波长域R，例如能够以光谱分布I'(λ)中的峰值波长为中心而设为光谱仪3的半值宽度度W的4倍(±2w)的范围。
[数学式11]
[数学式12]
对所保存的传感器x、y、z的光谱灵敏度s'x(λ)、s'y(λ)、s'z(λ)进行插值来求出重心波长λc下的传感器光谱灵敏度s'x(λc)、s'y(λc)、s'z(λc)，用(式18)来推测模拟传感器输出S'x，sim、S'y，sim、S'z，sim。
[数学式13]
对所保存的光谱灵敏度误差ex(λ)、ey(λ)、ez(λ)进行插值来求出重心波长λc下的光谱灵敏度误差ex(λc)、ey(λc)、ez(λc)，用(式19)来推测传感器输出误差Ex、Ey、Ez。
[数学式14]
在(式18)、(式19)中没有重心波长λc以外的波长分量，对于模拟传感器输出S'x，sim、S'y，sim、S'z，sim和传感器输出误差Ex、Ey、Ez都没有λc以外的波长分量的贡献。在本实施方式中，激光的光谱分布(具体而言是重心波长λc和强度A)的误差对校正传感器输出的影响也非常小。
(2)实用的工序(被测定光由B、G、R的LD放射光构成的情况)
在如图11那样被测定光包含LD的3个基色光Ib、Ig、Ir时，所测定的光谱分布I'(λ)如图12那样具有各基色光的窄频带频谱。依照上述来求出各窄频带频谱的重心波长λb、λg、λr和积分强度Ab、Ag、Ar，对传感器的光谱灵敏度s'x(λ)、s'y(λ)、s'z(λ)进行插值来求出重心波长λp、λg、λr下的传感器光谱灵敏度s'x(λb)、s'y(λg)、s'z(λr)、……、s'z(λb)、s'z(λg)、s'z(λr)，用(式20)来推测模拟传感器输出S'x，sim、S'y，sim、S'z，sim。
[数学式15]
对光谱灵敏度误差ex(λ)、ey(λ)、ez(λ)进行插值来求出重心波长λb、λg、λr下的光谱灵敏度误差ex(λb)、ex(λg)、ex(λr)、……、ez(λb)、ez(λg)、ez(λr)，用(式21)来推测传感器输出误差Ex、Ey、Ez。
[数学式16]
(3)LD放射光(极窄频带光)的判别
上述工序不仅能够应用于激光，而且还能够应用于极窄频带光，在这些以外的被测定光中使用(式1)～(式9)。关于被测定光是否为激光或极窄频带光，既能够由操作者判别，也能够由运算控制部根据光谱分布I'(λ)自动判别。例如，(式22)的式子所示的指标T(Δ)是I'(λ)和使I'(λ)移位Δnm波长得到的I'(λ+Δ)的相关与I'(λ)的自相关之比，在例如Δ＝16nm时，在图12的光谱分布中是T(16)＝0.00，但在图9(LCD)以及图10(OLED)的光谱分布中成为T(16)＝0.80以及0.72。运算控制部4在T小于阈值(例如0.1)时判断为是激光或极窄频带光。
[数学式17]
图13是本发明的其他实施方式所涉及的滤光片型测定器100的概略结构图。在本实施方式中，在将被测定光6分配给3个传感器x、y、z和光谱仪3的分配手段这点上与图1所示的滤光片型测定器不同。
图13的滤光片型测定器100具备：来自被测定光源5的被测定光6经由由多个透镜构成的透镜系统1入射的光导管22、以及与光导管22的射出端面连接的4根树脂光纤23。在4根树脂光纤23之中，在3根树脂光纤23的射出端分别配置有传感器x、y、z，在1根树脂光纤23的射出端配置有光谱仪3。并且，将入射到光导管22的光束在射出端面分配给4根树脂光纤23，由各传感器x、y、z接收分配给3根树脂光纤23的光束，由光谱仪3接收分配给1根树脂光纤23的光束。
图14是本发明的又一实施方式所涉及的滤光片型测定器100的概略结构图，(A)是侧面图，(B)是从右方观察(A)的图。
在本实施方式中，利用圆顶型的扩散板7使来自被测定光源5的被测定光6扩散，由在中央的透镜8的周围配置的3个传感器x、y、z接收扩散光，并且由光谱仪3接收利用透镜8来收敛的扩散光。
图15是示出本发明的又一实施方式的图。在图1、图13以及图14的滤光片型测定器100中，在滤光片型测定器100中内置有3个传感器x、y、z、光谱仪3以及作为校正装置发挥功能的运算控制部4，但在图15的滤光片型测定器100中，内置有3个传感器x、y、z和运算控制部4，并连接有作为光谱仪3的独立的光谱亮度计31等。在本实施方式中，由与3个传感器x、y、z独立的光谱亮度计31测定被测定光6，将它们的输出输入到运算控制部4，推测并校正3个传感器x、y、z的输出的误差。
另外，也可以如图16所示，作为传感器x、y、z的滤光片型色彩亮度计等、作为光谱仪3的光谱亮度计31等、以及作为校正装置的个人计算机(PC)41等是分别独立的。在本实施方式中，PC41经由网络等来接收滤光片型色彩亮度计100的各传感器x、y、z的输出和光谱亮度计31的输出，推测并校正滤光片型测定器100的各传感器x、y、z的输出的误差。
另外，也可以如图17所示，使3个传感器x、y、z和光谱仪3内置于滤光片型测定器100，并且由外部的PC41等构成校正装置，外部的PC41经由网络等来接收滤光片型测定器内的各传感器x、y、z的输出和光谱仪3的输出，校正传感器输出。
如上所述，在本实施方式的技术中，即使光谱仪3并非是高精度，也能够使用波长间距和半值宽度为4nm以上优选为4～8nm、且容许重复误差为测定器的容许重复误差的10倍以上的廉价的光谱仪，高速并且高精度地进行校正。
在以上的实施方式中，说明了具备3个传感器x、y、z的滤光片型测定器100，但传感器不限定于3个。例如，在色彩计中一般为等色函数x、y、z的3种传感器，但也可以是具有将s'x(λ)分为短波长侧和长波长侧的2种传感器的合计4种传感器的色彩计、具有与标准可见度V(λ)近似的1种传感器的亮度计，总之具有1个以上的传感器的测定器即可。
如以上说明那样，在本实施方式中，根据目标光谱灵敏度sx(λ)、sy(λ)、sz(λ)、预先测定并保存的传感器光谱灵敏度s'x(λ)、s'y(λ)、s'z(λ)、以及由光谱仪3测定的被测定光的光谱分布I'(λ)，推测并校正由滤光片型测定器100的传感器x、y、z的光谱灵敏度s'x(λ)、s'y(λ)、s'z(λ)相对于目标光谱灵敏度sx(λ)、sy(λ)、sz(λ)的光谱灵敏度误差引起的传感器输出的误差。与矩阵校准不同，即便是无法用校准基准光来合成的被测定光，也能够进行高精度的测定。而且，无需使用高精度的光谱仪，而能够实现高速测定。
本申请主张在2021年4月12日申请的日本专利申请的日本特愿2021-067207号的优先权，其公开内容原样地构成本申请的一部分。
产业上的可利用性
本发明能够作为校正在对显示器等的放射光的亮度、色度等进行测定的滤光片型的测定器中使用的传感器的光谱灵敏度误差所引起的输出的误差的校正装置来利用。
符号的说明
1：透镜系统；2：4分支光纤束；3：光谱仪；4：运算控制部；5：测定对象；6：被测定光I；7：扩散板；8：中央透镜；21：分支部；22：光导管；23：树脂光纤；31：光谱亮度计；41：校正装置(个人计算机)；100：滤光片型测定器。

Claims (23)

1.一种校正装置，其中，
将利用具有与目标光谱灵敏度近似的光谱灵敏度的1个以上的传感器以及光谱仪接收被测定光并根据所述传感器的输出来求出所述被测定光的特性的测定器的所述传感器的光谱灵敏度相对于目标光谱灵敏度的光谱灵敏度误差所引起的传感器输出的误差，根据所述目标光谱灵敏度、预先测定并保存的所述传感器的光谱灵敏度以及由所述光谱仪测定的被测定光的光谱分布进行推测并校正。
2.根据权利要求1所述的校正装置，其中，
所述光谱仪的波长间距和半值宽度是4nm以上。
3.根据权利要求1或者2所述的校正装置，其中，
所述光谱仪的容许重复误差是测定器的容许重复误差的10倍以上。
4.根据权利要求1～3中的任意一项所述的校正装置，其中，
通过en(λ)＝s'n(λ)-sn(λ)来求出1个以上的传感器中的任意的传感器n的光谱灵敏度s'n(λ)相对于目标光谱灵敏度sn(λ)的光谱灵敏度误差en(λ)，
作为由所述光谱仪测定的被测定光I的光谱分布I'(λ)，通过[数学式18]来推测由所述光谱灵敏度误差en(λ)引起的所述传感器n的输出误差En，
[数学式18]
En＝∫I′(λ)en(λ)dλ
根据所述被测定光I的光谱分布I'(λ)和所述传感器n的光谱灵敏度s'n(λ)，通过[数学式19]来推测模拟传感器输出S'n，sim，
[数学式19]
S’n，sim＝∫I′(λ)s′n(λ)dλ
通过Rerr.n＝En/S'n，sim来计算由所述传感器n测定被测定光I时的输出误差率Rerr.n，
通过S'n，corr＝S'n×(1-Rerr.n)将所述传感器输出S'n校正为校正传感器输出S'n，corr。
5.根据权利要求1～4中的任意一项所述的校正装置，其中，
在被测定光由1个以上的单色光或者极窄频带光构成的情况下，
根据由所述光谱仪测定的被测定光的光谱分布内的所述单色光或者极窄频带光各自的窄频带频谱，求出该单色光或者极窄频带光各自的波长和强度，
对所述目标光谱灵敏度和传感器光谱灵敏度进行波长插值而求出所述波长下的目标光谱灵敏度和传感器光谱灵敏度，
根据所述波长下的目标光谱灵敏度和传感器光谱灵敏度以及所述强度，推测由所述光谱灵敏度误差引起的所述传感器输出的误差。
6.根据引用权利要求4的权利要求5所述的校正装置，其中，
将包含所述窄频带频谱的波长域设为R，将R内的测定波长设为通过以下的式子来求出单色光或者极窄频带光的波长λc和强度A，
[数学式20]
[数学式21]
对所述光谱灵敏度误差en(λ)进行插值而求出所述波长λc下的光谱灵敏度误差en(λc)，通过En＝A·en(λc)来推测传感器输出误差En，
通过S'n，sim＝A·s'n(λc)来推测模拟传感器输出S'n，sim。
7.根据权利要求5或者6所述的校正装置，其中，
所述校正装置具备检测单元，该检测单元检测出被测定光由1个以上的单色光或者极窄频带光构成。
8.根据权利要求1～7中的任意一项所述的校正装置，其中，
所述测定器是所述目标光谱灵敏度为标准可见度且对测定对象的亮度或者照度进行测定的亮度计或者照度计。
9.根据权利要求1～7中的任意一项所述的校正装置，其中，
所述测定器是所述目标光谱灵敏度为等色函数且对测定对象的色彩特性进行测定的色彩亮度计或者色彩照度计。
10.一种测定器，具备权利要求1～9中的任意一项所述的校正装置，其中，
所述测定器利用具有与目标光谱灵敏度近似的光谱灵敏度的1个以上的传感器以及光谱仪接收被测定光，并根据所述传感器的输出来求出所述被测定光的特性。
11.一种校正方法，其中，
校正装置将利用具有与目标光谱灵敏度近似的光谱灵敏度的1个以上的传感器以及光谱仪接收被测定光并根据所述传感器的输出来求出所述被测定光的特性的测定器的所述传感器的光谱灵敏度相对于目标光谱灵敏度的光谱灵敏度误差所引起的传感器输出的误差，根据所述目标光谱灵敏度、预先测定并保存的所述传感器的光谱灵敏度以及由所述光谱仪测定的被测定光的光谱分布进行推测并校正。
12.根据权利要求11所述的校正方法，其中，
所述光谱仪的波长间距和半值宽度是4nm以上。
13.根据权利要求11或者12所述的校正方法，其中，
所述光谱仪的容许重复误差是测定器的容许重复误差的10倍以上。
14.根据权利要求11～13中的任意一项所述的校正方法，其中，
通过en(λ)＝s'n(λ)-sn(λ)来求出1个以上的传感器中的任意的传感器n的光谱灵敏度s'n(λ)相对于目标光谱灵敏度sn(λ)的光谱灵敏度误差en(λ)，
将由所述光谱仪测定的被测定光I的光谱分布设为I'(λ)，通过[数学式22]来推测由所述光谱灵敏度误差en(λ)引起的所述传感器n的输出误差En，
[数学式22]
En＝∫I′(λ)en(λ)dλ
根据由所述光谱仪测定的被测定光I的光谱分布I'(λ)和所述传感器n的光谱灵敏度s'n(λ)，通过[数学式23]来推测模拟传感器输出S'n，sim，
[数学式23]
S’n，sim＝∫I′(λ)s′n(λ)dλ
通过Rerr，n＝En/S'n，sim来计算由所述传感器n测定被测定光I时的输出误差率Rerr，n，
通过S'n，corr＝S'n×(1-Rerr，n)将所述传感器输出S'n校正为校正传感器输出S'n，corr。
15.根据权利要求11～14中的任意一项所述的校正方法，其中，
在被测定光由1个以上的单色光或者极窄频带光构成的情况下，
根据由所述光谱仪测定的被测定光的光谱分布内的所述单色光或者极窄频带光各自的窄频带频谱，求出该单色光或者极窄频带光各自的波长和强度，
对所述目标光谱灵敏度和传感器光谱灵敏度进行波长插值而求出所述波长下的目标光谱灵敏度和传感器光谱灵敏度，
根据所述波长下的目标光谱灵敏度和传感器光谱灵敏度以及所述强度，推测由所述光谱灵敏度误差引起的所述传感器输出的误差。
16.根据引用权利要求14的权利要求15所述的校正方法，其中，
将包含所述窄频带频谱的波长域设为R，将R内的测定波长设为通过以下的式子来求出单色光或者极窄频带光的波长λc和强度A，
[数学式24]
[数学式25]
对所述光谱灵敏度误差en(λ)进行插值而求出所述波长λc下的光谱灵敏度误差en(λc)，通过En＝A·en(λc)来推测传感器输出误差En，
通过S'n，sim＝A·s'n(λc)来推测模拟传感器输出。
17.根据权利要求15或者16所述的校正方法，其中，
具备检测出被测定光由1个以上的单色光或者极窄频带光构成的检测手段。
18.根据权利要求11～17中的任意一项所述的校正方法，其中，
所述测定器是所述目标光谱灵敏度为标准可见度且对测定对象的亮度或者照度进行测定的亮度计或者照度计。
19.根据权利要求11～17中的任意一项所述的校正方法，其中，
所述测定器是所述目标光谱灵敏度为等色函数且对测定对象的色彩特性进行测定的色彩亮度计或者色彩照度计。
20.一种程序，用于使计算机执行权利要求11～19中的任意一项所述的校正方法。
21.一种测定器，是利用具有与目标光谱灵敏度近似的光谱灵敏度的1个以上的传感器以及光谱仪接收被测定光并根据所述传感器的输出来求出所述被测定光的特性的测定器，其中，
根据由所述光谱仪测定的被测定光的光谱分布、所述目标光谱灵敏度以及预先测定的所述传感器光谱灵敏度，推测并校正由所述传感器的光谱灵敏度相对于目标光谱灵敏度的光谱灵敏度误差引起的所述传感器的输出的误差。
22.根据权利要求21所述的测定器，其中，
所述光谱仪的波长间距和半值宽度是4nm以上。
23.根据权利要求21或者22所述的测定器，其中，
所述光谱仪的容许重复误差是测定器的容许重复误差的10倍以上。
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