TWI410619B - 平面度檢驗平台 - Google Patents

Description

平面度檢驗平台

本發明涉及一種平面度檢驗平台，尤其是涉及一種接觸式平面度檢驗平台。

目前，業界針對電子元器件平面度檢驗通常採取兩種方法：一種係接觸式檢驗；另一種係非接觸式檢驗。接觸式檢驗係指採用將產品平放於平台上，讓產品處於自由狀態，然後將標準塊(根據產品平面度規格選擇相應的標準塊0.08mm、0.10mm或0.12mm等規格)與平台工作面充分接觸，沿產品邊緣平推標準塊，若產品被推動或者標準塊前端不可以插入被測產品與平台工作面之間，則判定產品平面度符合要求，若標準塊前端可以插入被測產品與平台工作面之間，則判定產品平面度不符合要求。

在接觸式檢驗中，對於檢驗具有定位腳針或定位柱等結構之產品平面度時，閃邊係其重要課題之一，即於檢驗平台上設置一結構來容置定位腳針或定位柱等，使得被檢驗產品能夠很好地平放在檢驗平台之工作面上。

請參閱圖1所示，習知平面度檢驗平台100係一平板體，其具有一工作面11。該工作面11具有較高之平面度且其上凹設二孔13及一凹槽15。該凹槽15鄰接所述二孔13開設，且具有一定深度及寬度。檢驗一電子元器件時，以檢驗圖2及3所示之一連接器40之端子面41之平面度為例加以說明。該連接器40具有二定位腳針43、一導引部45及一底面47。該定位腳針43用於將連接器40固定於電路板上。該導引部45起到導引連接器插接之作用，其中， 定位腳針43、導引部45與底面47不在一個平面上，而端子面41與底面47在同一個平面上。檢驗時，待檢驗連接器40之底面47放置於平面度檢驗平台100之工作面11上，使其定位腳針43相對應地容置於孔13內，導引部45處於平面度檢驗平台100之凹槽15內，如此，端子面41貼合於工作面11上。最後，採用標準塊檢驗該連接器40之端子面41之平面度。

惟，所述檢驗平台100結構較複雜，不易加工，在實際平面度檢驗過程中，檢驗人員需花較長時間將連接器與檢驗平台對位平放，增加了檢驗人員之勞動強度且檢驗效率較低，且該檢驗平台100通用性不強，一般只能檢驗某一類產品。

有鑒於以上缺陷，有必要提供一種能夠有效提高檢驗效率且通用性較高之結構簡單之平面度檢驗平台。

一種平面度檢驗平台，用於檢驗一待檢驗產品之平面之平面度，該待檢驗產品包括至少一突起部，該平面度檢驗平台包括一工作面，該工作面開設至少一凹槽，待檢驗產品之至少一突起部可移動地容置於相對應之該至少一凹槽內。

相較習知技術，所述平面度檢驗平台，設置至少一凹槽來代替習知檢驗平台之孔結構來相對應地容置被檢驗產品之至少一突起部，使得被檢驗產品更加容易且高效地平放於檢驗平台上，很好地解決了接觸式平面度檢驗過程中之閃邊問題，並且平面度檢驗平台結構簡單，便於加工，且其通用性較強。

(習知)

100‧‧‧平面度檢驗平台

11‧‧‧工作面

13‧‧‧孔

15‧‧‧凹槽

40‧‧‧連接器

41‧‧‧端子面

43‧‧‧定位腳針

45‧‧‧導引邊

47‧‧‧底面

(本發明)

200‧‧‧平面度檢驗平台

21‧‧‧工作面

23‧‧‧凹槽

50‧‧‧連接器

51‧‧‧端子面

53‧‧‧定位腳針

55‧‧‧導引邊

57‧‧‧底面

300‧‧‧平面度檢驗平台

31‧‧‧工作面

33‧‧‧凹槽

圖1係習知平面度檢驗平台之立體示意圖； 圖2係一被檢驗連接器之立體示意圖；圖3係利用圖1所示之平面度檢驗平台檢驗圖2所示之連接器之使用狀態示意圖；圖4係本發明平面度檢驗平台第一較佳實施例之結構示意圖；圖5係一被檢驗連接器之立體示意圖：圖6係利用本發明平面度檢驗平台第一較佳實施例檢驗圖5所示之連接器之使用狀態示意圖；圖7係本發明平面度檢驗平台第二較佳實施例之結構示意圖；圖8係利用本發明平面度檢驗平台第二較佳實施例檢驗圖5所示之連接器之使用狀態示意圖。

請參閱圖4所示本發明平面度檢驗平台第一較佳實施例，該平面度檢驗平台200以檢驗一產品如一連接器之端子面之平面度為例加以說明。

請參閱圖5所示，連接器50具有若干端子(圖未標)、二突起部53、一導引部55及一底面57。該若干端子具有若干端子面51。該突起部53可以是定位腳針或定位柱，其用於將連接器50固定於電路板上。該導引部55起到導引連接器插接之作用，其中，突起部53、導引部55與底面57不在一個平面上，而各個端子面51與底面57在同一個平面上。

請一併參閱圖6，該平面度檢驗平台200係一平板體，由耐磨、耐腐蝕之材料製成，如SKD11號模具鋼等。該平面度檢驗平台200包括一工作面21，該工作面21具有較高之平面度，一般應比被檢驗產品之平面度小一個數量級。工作面21上鄰接平面度檢驗平台200一側開設一凹槽23，該凹槽23之深 度及寬度與該連接器50之突起部53之高度及寬度大致相當，使得連接器50之突起部53可移動地容置於其內。

使用平面度檢驗平台200檢驗該連接器50之端子面51之平面度時，包括以下步驟：提供一平面度檢驗平台200，該平面度檢驗平台200具有一工作面21，該工作面21設有一凹槽23；將待檢驗連接器50之底面57放置於平面度檢驗平台200之工作面21上，使其突起部53容置於凹槽23內，導引部55處於平面度檢驗平台200之工作面21之外，以便端子面51貼合於工作面21上；採用標準塊檢驗該連接器50之端子面51之平面度。

本實施例之平面度檢驗平台200可應用於檢驗具有不同規格突起部之待檢驗產品，只要待檢驗產品之突起部之高度及寬度小於平面度檢驗平台200之凹槽23之深度及寬度即可。

請參閱圖7所示本發明平面度檢驗平台第二較佳實施例，該平面度檢驗平台300同樣以檢驗連接器50之端子面51之平面度為例加以說明。

請一併參閱圖8，該平面度檢驗平台300係一平板體，由耐磨、耐腐蝕之材料製成，如SKD11號模具鋼等。該平面度檢驗平台300包括一工作面31，該工作面31具有較高之平面度，一般應比被檢驗產品之平面度小一個數量級。工作面31上鄰接平面度檢驗平台300一側開設二間隔設置之凹槽33。該二凹槽33之縱向位於同一直線上且相距一距離L。該距離L應該大於連接器50之二突起部53之間的距離(圖未標)。該二凹槽33之深度及寬度與該連接器50之二突起部53之高度及寬度大致相當，且該二凹槽33具有一定之長度，使得連接器50之二突起部53分別可移動地容置於相對應之二凹槽33內 。

使用平面度檢驗平台300檢驗連接器50之端子面51之平面度時，其包括以下步驟：提供平面度檢驗平台300，該平面度檢驗平台300具有一工作面31，該工作面31設有一凹槽33；將待檢驗連接器50之底面57放置於平面度檢驗平台300之工作面31上，使待檢驗連接器50之二突起部53相對應地容置於二凹槽33內，導引部55處於平面度檢驗平台300之工作面31之外，以便端子面51貼合於工作面31上；採用標準塊檢驗該連接器50之端子面51之平面度。

本實施例之平面度檢驗平台300亦可應用於檢驗具有不同規格突起部之待檢驗產品，只要待檢驗產品之二突起部之高度及寬度小於平面度檢驗平台200之二凹槽23之深度及寬度且待檢驗產品之二突起部之間之距離大於二凹槽23之間之距離L即可。

可以理解，上述較佳實施例中的平面度檢驗平台亦可以檢驗不具有突起部之一般類產品之平面度。

綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施例，本發明之範圍並不以上述實施例為限，舉凡熟習本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。

200‧‧‧平面度檢驗平台

21‧‧‧工作面

23‧‧‧凹槽

51‧‧‧端子面

53‧‧‧突起部

Claims (22)

1. 一種平面度檢驗平台，用於檢驗一待檢驗產品平面之平面度，該待檢驗產品包括至少一突起部，該平面度檢驗平台包括一工作面，其改良在於：該工作面用於與所述待檢驗產品平面貼合，該工作面上開設至少一凹槽，待檢驗產品之至少一突起部可移動地容置於相對應之該至少一凹槽內。
2. 如申請專利範圍第1項所述之平面度檢驗平台，其中所述至少一凹槽包括二凹槽，每一凹槽相對應地容置一突起部於其內。
3. 如申請專利範圍第2項所述之平面度檢驗平台，其中所述凹槽之間之距離小於所述突起部之間之距離。
4. 如申請專利範圍第1項所述之平面度檢驗平台，其中所述凹槽之深度及寬度與待檢驗產品之突起部之高度及寬度相當。
5. 如申請專利範圍第1項所述之平面度檢驗平台，其中所述凹槽之深度及寬度大於待檢驗產品之突起部之高度及寬度。
6. 如申請專利範圍第1項所述之平面度檢驗平台，其中所述平面度檢驗平台係一平板體。
7. 如申請專利範圍第1項所述之平面度檢驗平台，其中所述工作面之平面度高於待檢驗產品之平面之平面度。
8. 如申請專利範圍第1項所述之平面度檢驗平台，其中所述平面度檢驗平台之材料係SKD11號模具鋼。
9. 如申請專利範圍第1項所述之平面度檢驗平台，其中所述凹槽設於工作面之邊緣。
10. 一種平面度檢驗平台，用於檢驗一待檢驗產品平面之平面度，該待檢驗 產品包括突起部，該平面度檢驗平台包括一工作面，其改良在於：該工作面用於與所述待檢驗產品平面貼合，該工作面靠一側邊緣處開設一貫通該工作面之凹槽，該凹槽用於容置該突起部。
11. 如申請專利範圍第10項所述之平面度檢驗平台，其中所述凹槽之深度及寬度與待檢驗產品之突起部之高度及寬度相當。
12. 如申請專利範圍第10項所述之平面度檢驗平台，其中所述凹槽之深度及寬度大於待檢驗產品之突起部之高度及寬度。
13. 如申請專利範圍第10項所述之平面度檢驗平台，其中所述平面度檢驗平台係一平板體。
14. 如申請專利範圍第10項所述之平面度檢驗平台，其中所述工作面之平面度高於待檢驗產品平面之平面度。
15. 如申請專利範圍第10項所述之平面度檢驗平台，其中所述平面度檢驗平台之材料係SKD11號模具鋼。
16. 一種平面度檢驗平台，用於檢驗一待檢驗產品平面之平面度，該待檢驗產品包括二突起部，該平面度檢驗平台包括一工作面，其改良在於：該工作面用於與所述待檢驗產品平面貼合，該工作面靠一側邊緣處開設二間隔設置之凹槽，該二凹槽之縱向位於同一直線上，該突起部可移動地容置於對應之凹槽內。
17. 如申請專利範圍第16項所述之平面度檢驗平台，其中所述凹槽之間之距離小於所述突起部之間之距離。
18. 如申請專利範圍第16項所述之平面度檢驗平台，其中所述凹槽之深度及寬度與待檢驗產品之突起部之高度及寬度相當。
19. 如申請專利範圍第16項所述之平面度檢驗平台，其中所述凹槽之深度及寬度大於待檢驗產品之突起部之高度及寬度。
20. 如申請專利範圍第16項所述之平面度檢驗平台，其中所述平面度檢驗平 台係一平板體。
21. 如申請專利範圍第16項所述之平面度檢驗平台，其中所述工作面之平面度高於待檢驗產品平面之平面度。
22. 如申請專利範圍第16項所述之平面度檢驗平台，其中所述平面度檢驗平台之材料係SKD11號模具鋼。