TWI407108B - 阻抗測試裝置 - Google Patents

Description

阻抗測試裝置

本發明涉及一種阻抗測試裝置，尤其涉及一種可自動進行複數點阻抗測試之阻抗測試裝置。

於電子元器件製造領域中，各電子元器件於裝配使用之前，為使其具備導電、遮罩等功能，一般都必須對所述電子元器件進行阻抗測試，以確認該電子元器件之阻抗值是否於客戶要求之規格內。通常，客戶會於電子元器件之藍圖上標注出複數阻抗測量點之測試位置，並標示某個測試點為公共點，要求檢測其餘阻抗測試點與公共點之間之阻抗值。

於整個測試過程中，檢測人員需利用萬用表或阻抗儀手動測試所述電子元件之公共點與其餘各阻抗測試點之間之阻抗值，每測試完一次所述電子元件之公共點與其餘各阻抗測試點之間之阻抗值，就需要從所述萬用表或阻抗儀上讀取並手動記錄該測得之阻抗資料。接下來，重複上述操作，直至將所有資料測試完。最後，需要將記錄之測試資料導入到電腦內進行分析，以確定所述電子元件是否符合客戶要求。整個測試過程繁瑣、且測試誤差比較大，測試效率低。

有鑒於此，有必要提供一種測試過程簡單、誤差小，且可有效提高測試效率之阻抗測試裝置。

一種阻抗測試裝置，用於對待測試工件進行阻抗測試，所述阻抗測試包括 一測試平台、一驅動裝置、複數測試探針、一資訊處理裝置、一顯示器、一萬用表、一繼電器模組、複數控制按鈕；所述測試平台包括一底座及一探針安裝架，所述底座用於放置所述待測試工件，所述探針安裝架可調節地裝設於該底座上方位置處；所述驅動裝置裝設於所述底座上，並與所述探針安裝架固接以驅動所述探針安裝架相對放置於底座上之待測試工件移動；所述複數測試探針裝設於所述探針安裝架上，並與所述繼電器模組電性連接；所述資訊處理裝置裝設於所述底座內，其包括一中央處理器，該中央處理器與所述複數控制按鈕、驅動裝置、顯示器、繼電器模組及萬用表電性連接，用於接收指令並驅動所述驅動裝置、萬用表及繼電器模組工作，並對測得之結果進行比較分析；所述控制按鈕用於向阻抗測試裝置輸入相關指令，所述顯示器用於顯示相關輸入指令及測試結果，所述繼電器模組用於控制所述測試探針並驅動所述萬用表進行阻抗測試。

相較於習知技術，本發明所述阻抗測試裝置可一次性自動對待測試工件上之複數個阻抗測試點進行阻抗測試，同時對測試結果進行分析，並將每次測得之阻抗值進行存儲，從而有效提高了阻抗測試效率及測試品質。

100‧‧‧阻抗測試裝置

10‧‧‧測試平台

11‧‧‧底座

1132‧‧‧安裝孔

1135‧‧‧連接通孔

1137‧‧‧導滑塊

115‧‧‧操作面板

1151‧‧‧卡安裝孔

117‧‧‧防護板

118‧‧‧容置空間

13‧‧‧頂板

132‧‧‧條形滑槽

15‧‧‧工件安裝治具

151‧‧‧主體部

153‧‧‧滑塊

155‧‧‧工件安裝部

158‧‧‧推杆

17‧‧‧監測裝置

19‧‧‧探針安裝架

191‧‧‧連接端

1915‧‧‧固定塊

193‧‧‧探針安裝端

1932‧‧‧探針安裝通孔

1935‧‧‧連接通孔

20‧‧‧驅動裝置

21‧‧‧安裝板

212‧‧‧通孔

23‧‧‧汽缸

231‧‧‧缸體

233‧‧‧進氣管安裝端

235‧‧‧出氣管安裝端

237‧‧‧活塞

25‧‧‧導接板

251‧‧‧安裝通孔

26‧‧‧電磁閥

261‧‧‧氣源輸入端

263‧‧‧進氣管連接端

265‧‧‧出氣管連接端

27‧‧‧進氣管

28‧‧‧出氣管

30‧‧‧測試探針

33‧‧‧導線

40‧‧‧資訊處理裝置

41‧‧‧中央處理器

42‧‧‧驅動裝置連接端口

45‧‧‧顯示器接口

46‧‧‧萬用表連接端口

47‧‧‧繼電器控制端口

48‧‧‧存儲卡卡座

49‧‧‧輸入控制端口

50‧‧‧顯示器

60‧‧‧萬用表

70‧‧‧繼電器模組

80‧‧‧存儲卡

90‧‧‧輸入控制按鈕

200‧‧‧待測試工件

圖1為本發明阻抗測試裝置之硬體架構示意圖；圖2為圖1所示阻抗測試裝置一較佳實施例之立體分解示意圖；圖3為本發明所示阻抗測試裝置之立體組裝示意圖；圖4為本發明阻抗測試裝置工作時，待測試工件放置於其定位裝置上之立體示意圖；圖5為本發明阻抗測試裝置工作時，探針與待測試工件接觸時之立體示意圖。

請參閱圖1，所示為本發明阻抗測試裝置100之硬體架構示意圖。所述阻抗測試裝置100用於對一待測試工件200(見圖4)進行阻抗測試，以檢測其阻抗值是否於規定之範圍內。所述阻抗測試裝置100包括一測試平台10、一驅動裝置20、複數測試探針30、一資訊處理裝置40、一顯示器50、一萬用表60、一繼電器模組70、一存儲卡80及複數控制按鈕90。

請一併參閱圖2及圖3，所述測試平台10用於裝夾、定位所述待測試工件200，該測試平台10包括一底座11、二卡持塊13、一工件安裝治具15、一監測裝置17及一探針安裝架19。所述底座11大致呈矩形箱體狀，其包括一頂板113、一操作面板115及一防護板117。所述頂板113大致呈矩形平板狀，其上大致中部位置處貫通開設有一大致矩形之安裝孔1132及一連接通孔1135。所述頂板113上靠近其一側緣位置處沿垂直於頂板113方向相對固設有二圓柱形導滑塊1137。所述操作面板115大致呈矩形板狀，其沿垂直於所述頂板113方向裝設於所述底座11之一側面上。所述操作面板115上貫通開設有一條形存儲卡安裝孔1151及裝設有所述複數控制按鈕90與所述顯示器50。所述防護板117大致呈“U”形板狀，其固定裝設於所述頂板113上靠近其一側之周緣位置處，並與所述頂板113共同圍成一容置空間118。所述二導滑塊1137容置於所述容置空間118內。

所述卡持塊13橫截面大致呈L形，其一側緣位置處貫通開設有一條形滑槽132。所述二卡持塊13沿垂直於所述操作面板115方向相對間隔地固定裝設於所述底座11之頂板113上，並位於所述安裝孔1132之二側。所述二卡持塊13與所述底座11之頂板113共同圍成一大致“凸”形之裝設空間(圖未標示)，以用於裝設所述工件安裝治具15。所述工件安裝治具15橫截面大致呈“凸”形塊狀，其包括一主體部151、二由所述主體部151二側相對延 伸之滑塊153、一工件安裝部155及一推杆158。所述二滑塊153之末端部分別設有一安裝孔1532，用於將所述工件安裝治具153可滑動地裝設於所述卡持塊13上，以防止其與卡持塊13脫離。所述工件安裝部155大致呈矩形凹腔狀，其凹設於所述主體部151上，用於裝設待測試工件200。所述推杆158大致呈圓柱形杆狀，其固接於所述主體部151上。所述工件安裝治具15藉由其二側之滑塊153對應可滑動地配合裝設於所述固定裝設於所述頂板13上之二卡持塊之間。

所述監測裝置17為一光纖傳感器，其裝設於所述安裝孔1132上並電性連接於所述資訊處理裝置40上，以用於阻抗測試過程中檢測所述待測試工件200是否準確定位或監測所述待測試工件200上方是否被遮蔽、阻礙。所述探針安裝架19大致呈“T”形板狀，其包括一連接端191及一探針安裝端193。所述連接端191之二端對應於所述二導滑塊1137各設有一導滑通孔1912，以使得所述探針安裝架19可滑動地裝設於所述二導滑塊1137上。所述連接端191之大致中部位置處凸設有一固定塊1915，以將所述探針安裝架19固定裝設於所述驅動裝置20上。所述探針安裝端193貫通開設有用於裝設所述複數探針30之複數探針安裝通孔1932及一連接通孔1935。

所述驅動裝置20裝設於所述測試平台10之底座11之頂板113之上方，並容置於所述容置空間118內。所述驅動裝置20與所述探針安裝架19之連接端191固接，以驅動所述探針安裝架19沿所述導滑塊1137上下滑移，從而帶動所述探針30上下滑移。於本實施例中，所述驅動裝置20包括一安裝板21、一汽缸23、一導接板25、一電磁閥26、一進氣管27及一出氣管28。所述安裝板21大致呈矩形平板狀，其固定裝設於所述防護板117上，並罩設於容置空間118及二導滑塊1137上方。所述安裝板21上貫通開設有一通孔212。所述汽缸23大致呈圓柱體狀，其包括一缸體231、一進氣管安裝端233、一 出氣管安裝端235及一可滑動地裝設於缸體231內之活塞237。所述導接板25大致呈矩形板狀，其中部位置處貫通開設有一安裝通孔251，該導接板25固定裝設於所述汽缸23之出氣管安裝端235上，並固定裝設於所述二導滑塊1137上。所述電磁閥26固定裝設於所述測試平台10之底座11之防護板117上，用以實現對所述汽缸23之控制。所述電磁閥26包括一與外界氣源連接之氣源輸入端261、一進氣管連接端263及一出氣管連接端265。所述進氣管27及出氣管28之二端分別固定連接於所述電磁閥26之進氣管連接端263、出氣管連接端265及汽缸23之進氣管安裝端233、出氣管安裝端235上。

所述複數測試探針30對應地裝設於所述探針安裝架19之複數探針安裝通孔1932內，並從該探針安裝架19之另一側伸出，其另一端藉由導線33與所述繼電器模組70電性連接。

所述資訊處理裝置40為一積體電路板，其裝設於所述底座11內。所述資訊處理裝置40包括一中央處理器41、一驅動裝置連接端口42、一顯示器接口45、一萬用表連接端口46、一繼電器控制端口47、一存儲卡卡座48及一輸入控制端口49。所述驅動裝置連接端口42、顯示器接口45、萬用表連接端口46、繼電器控制端口47、存儲卡卡座48及輸入控制端口49均與所述中央處理器41電性連接，並分別對應地與驅動裝置20、顯示器50、萬用表60、繼電器模組70、存儲卡80及輸入控制按鈕200電性連接。使用時，可藉由所述輸入控制按鈕90輸入相關控制資訊，例如：開啟/關閉所述阻抗測試裝置100、對所述阻抗測試裝置100進行參數設置等。所述中央處理器41接收到藉由所述輸入控制按鈕90輸入之相關控制指令後，可驅動所述驅動裝置20、萬用表60及繼電器模組70工作，並將測得之結果進行比較分析，顯示於所述顯示器50上及將測試結果存儲於存儲卡80上。

所述萬用表60裝設於所述底座11內，其電性連接於所述資訊處理裝置40之萬用表連接端口46上，並與所述繼電器模組70電性連接。

所述繼電器模組70裝設於所述測試平台10之底座11內，其電性連接於所述資訊處理裝置40之繼電器控制端口47上，並與所述萬用表60及所述複數測試探針30電性連接。

所述存儲卡80可拆卸地裝設於所述操作面板115之存儲卡安裝孔1151內，並容置、電性連接於所述資訊處理裝置40之存儲卡卡座48內。

請參閱圖3，組裝所述阻抗測試裝置100時，先將所述二卡持塊13相對固定裝設於所述底座11之頂板113上，並位於所述安裝通孔1132及連接通孔1135之二側，以使得所述二卡持塊13與頂板113共同圍成一橫截面大致“凸”形之裝設空間。接下來，將所述工件安裝治具15可滑動地裝設於所述底座11之頂板113與該二卡持塊13圍成之“凸”形裝設空間內；同時，採用二螺釘或銷釘分別穿過所述工件安裝治具15二側之滑塊153上之安裝孔1532，從而使得所述工件安裝治具15可沿所述卡持塊13上之條形滑槽132限定之路徑來回滑動。再接下來，將所述監測裝置17固定裝設於所述頂板113之安裝孔1132內並電性連接於所述資訊處理裝置40上。將所述探針安裝架19之連接端191二端之導滑通孔1912對準所述底座11之頂板113上之二導滑塊1137，以使得所述探針安裝架19之探針安裝端193朝向工件安裝治具15方向可滑動地裝設於該二導滑塊1137上。將所述複數測試探針30對應地裝設於探針安裝架19之探針安裝端193之複數探針安裝通孔1932，並從該探針安裝端193之另一側伸出；該測試探針30之導線33端穿過所述探針安裝架19上之連接通孔1935及底座11之頂板113上之連接通孔1135進入到底座11內。

再接下來，組裝所述驅動裝置20，將所述汽缸23之出氣管235端之活塞237 穿過所述導接板25之安裝通孔151，並固定裝設於所述探針安裝架19之連接端191上之固定塊1915上；同時，將所述導接板25之二端對應固接於所述頂板113之二道滑塊1137之末端上。再接下來，將所述汽缸23之進氣管231端穿過所述安裝板21之通孔212，並將該安裝板21固定裝設於所述底座11之防護板117上方。將所述電磁閥26裝設於所述防護板117之一側板上，同時將進氣管27之二端分別裝設於所述電磁閥26之進氣管連接端263及汽缸23之進氣管安裝端233上；將所述出氣管28之二端分別裝設於所述電磁閥26之出氣管連接端265及汽缸23之出氣管安裝端235。

最後，將所述資訊處理裝置40、萬用表60及繼電器模組70裝設於所述底座11內，該資訊處理裝置40之驅動裝置連接端口42、顯示器接口45、萬用表連接端口46、繼電器控制端口47、存儲卡卡座48及輸入控制端口49分別對應地與所述驅動裝置20、顯示器50、萬用表60、繼電器模組70、存儲卡80及輸入控制按鈕90電性連接。將所述測試探針30之導線33端電性連接於所述繼電器模組70上，即完成所述阻抗測試裝置100之組裝。

請一併參閱圖4及圖5，利用所述阻抗測試裝置100對待測試工件200進行阻抗測試時，先開啟所述阻抗測試裝置100，並將所述存儲卡80插設於所述操作面板115之存儲卡安裝孔1151中。接下來，將所述待測試工件200放置於所述工件安裝治具15之工件安裝部155上，推動所述推杆158使所述工件安裝治具15沿所述二卡持塊13之條形滑槽132朝向探針安裝架19方向滑移直至其剛好位於所述探針安裝架19之正下方。所述監測裝置17檢測所述待測試工件200是否準確定位或監測所述待測試工件200上方是否被遮蔽、阻礙。再接下來，驅動所述驅動裝置20，使其帶動探針安裝架19向下移動，所述裝設於探針安裝架19上之複數測試探針30分別對應地抵持於所述待測試工件200之各阻抗測試點上。所述待測試工件200之各阻抗測試點藉由各測 試探針30與萬用表60、繼電器模組70及資訊處理裝置40共同形成複數測試回路。所述資訊處理裝置40對所述萬用表60進行清零處理後，對待測試工件200之各阻抗測試點進行阻抗測試，並對每次測得之阻抗值進行分析，將分析結果顯示於所述顯示器50上。於測試過程中，所述繼電器模組70自動依次切換、通斷所述待測試工件200之各阻抗測試點與萬用表60形成之測試回路，從而實現對各阻抗測試點地阻抗測試。每次測得之各阻抗值被自動存儲於所述存儲卡80中。測試完成後，關閉所述阻抗測試裝置100，即完成所述待測試工件200之阻抗測試工作，可將所述存儲於存儲卡80中之測試資料導入到電腦中進行相關編輯分析。

可以理解，所述監測裝置亦可以為一光感應開關，當所述待測試工件200定位好後，自動驅動所述驅動裝置20帶動所述探針安裝架19向下移動，以使裝設於其上之測試探針30對應地抵持於待測試工件200之各阻抗測試點上，以進行阻抗測試。

可以理解，所述驅動裝置20亦不限於本實施例中之汽缸驅動方式，其亦可以採用步進電機驅動或其他方式進行驅動。

綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施例，本發明之範圍並不以上述實施例為限，舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。

100‧‧‧阻抗測試裝置

10‧‧‧測試平台

11‧‧‧底座

113‧‧‧頂板

115‧‧‧操作面板

1151‧‧‧存儲卡安裝孔

117‧‧‧防護板

13‧‧‧卡持塊

15‧‧‧工件安裝治具

19‧‧‧探針安裝架

20‧‧‧驅動裝置

21‧‧‧安裝板

23‧‧‧汽缸

25‧‧‧連接板

26‧‧‧電磁閥

27‧‧‧進氣管

28‧‧‧出氣管

30‧‧‧測試探針

33‧‧‧導線

50‧‧‧顯示器

90‧‧‧控制按鈕

Claims (10)

1. 一種阻抗測試裝置，用於對待測試工件進行阻抗測試，其改良在於：所述阻抗測試包括一測試平台、一驅動裝置、複數測試探針、一資訊處理裝置、一顯示器、一萬用表、一繼電器模組、複數控制按鈕；所述測試平台包括一底座、二卡持塊、一工件安裝治具及一探針安裝架，所述二卡持塊間隔地固定裝設於所述底座上，所述工件安裝治具可滑動地裝設於所述二卡持塊之間，所述底座用於放置所述待測試工件，所述探針安裝架可調節地裝設於該底座上方位置處；所述驅動裝置裝設於所述底座上，並與所述探針安裝架固接以驅動所述探針安裝架相對放置於底座上之待測試工件移動；所述複數測試探針裝設於所述探針安裝架上，並與所述繼電器模組電性連接；所述資訊處理裝置裝設於所述底座內，其包括一中央處理器，該中央處理器與所述複數控制按鈕、驅動裝置、顯示器、繼電器模組及萬用表電性連接，用於接收指令並驅動所述驅動裝置、萬用表及繼電器模組工作，並對測得之結果進行比較分析；所述控制按鈕用於向阻抗測試裝置輸入相關指令，所述顯示器用於顯示相關輸入指令及測試結果，所述繼電器模組用於控制所述測試探針並驅動所述萬用表進行阻抗測試。
2. 如申請專利範圍第1項所述之阻抗測試裝置，其中所述資訊處理裝置還包括一驅動裝置連接端口、一顯示器接口、一萬用表連接端口、一繼電器控制端口及一輸入控制端口，該驅動裝置連接端口、顯示器接口、萬用表連接端口、繼電器控制端口及輸入控制端口均與所述中央處理器電性連接，並分別對應地與驅動裝置、顯示器、萬用表、繼電器模組及輸入控制按鈕電性連接。
3. 如申請專利範圍第2項所述之阻抗測試裝置，其中所述底座呈箱體狀，其包括一頂板、一操作面板及一防護板，所述頂板上靠近其一側緣位置處相對設有二導滑塊，以使所述探針安裝架可滑動地裝設於所述導滑塊上；所述複數控制按鈕及顯示器裝設於所述操作面板上，所述防護板固定裝設於頂板上靠近其一側之周緣位置處，並與頂板共同圍成一容置空間，所述驅動裝置及導滑塊容置於該容置空間內。
4. 如申請專利範圍第3項所述之阻抗測試裝置，其中所述二卡持塊橫截面呈L形，其相對間隔地固定裝設於頂板上，並與頂板共同圍成一裝設空間。
5. 如申請專利範圍第4項所述之阻抗測試裝置，其中所述卡持塊上靠近其一側緣位置處設有一條形滑槽，所述工件安裝治具包括一主體部、二由所述主體部二側相對延伸之滑塊，所述二滑塊上分別設有一安裝孔，用以將工件安裝治具可滑動地裝設於所述卡持塊上，並於該滑塊之條形滑槽內滑動以防止其與卡持塊脫離。
6. 如申請專利範圍第5項所述之阻抗測試裝置，其中所述工件安裝治具還包括一工件安裝部及一推杆，所述工件安裝部呈矩形凹腔狀，其凹設於所述主體部上，用於裝設待測試工件；所述推杆固接於所述主體部上。
7. 如申請專利範圍第3項所述之阻抗測試裝置，其中所述探針安裝架包括一連接端及一探針安裝端，該連接端之二端對應於所述二導滑塊各設有一導滑通孔，以使探針安裝架可滑動地裝設於該二導滑塊上；所述連接端中部位置處凸設有一固定塊，以將所述探針安裝架固定裝設於所述驅動裝置上。
8. 如申請專利範圍第7項所述之阻抗測試裝置，其中所述探針安裝端貫通開設有複數探針安裝通孔，所述複數探針對應地裝設於所述探針安裝架之複數探針安裝通孔內。
9. 如申請專利範圍第4項所述之阻抗測試裝置，其中所述頂板上中部位置處 貫通開設有一安裝孔，該安裝孔位於所述二卡持塊之間；所述測試平台還包括一監測裝置，其固定裝設於所述安裝孔中，並電性連接於所述資訊處理裝置上，以用於檢測待測試工件是否準確定位。
10. 如申請專利範圍第1項所述之阻抗測試裝置，其中所述阻抗測試裝置還包括一存儲卡，所述資訊處理裝置還包括一存儲卡卡座，該存儲卡卡座與中央處理器電性連接；所述操作面板上對應於所述存儲卡卡座位置處設有一條形之存儲卡安裝孔，以使得所述存儲卡藉由該存儲卡安裝孔與所述存儲卡卡座電性連接。